JPS62225960A - コンタクトプロ−ブ - Google Patents
コンタクトプロ−ブInfo
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- JPS62225960A JPS62225960A JP61069521A JP6952186A JPS62225960A JP S62225960 A JPS62225960 A JP S62225960A JP 61069521 A JP61069521 A JP 61069521A JP 6952186 A JP6952186 A JP 6952186A JP S62225960 A JPS62225960 A JP S62225960A
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- Japan
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- probe
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- Pending
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- 230000006835 compression Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はプリント配IG基板の検査治具に使用されるコ
ンタクトプローブに関する。
ンタクトプローブに関する。
従来の技術
第6図は上記検査治具の概略を示す。プローブプレート
1には被検査プリント配FA基板2の測定位置に対応す
る位置にコンタクトプローブ3が植設されており、各コ
ンタクトプローブ3の検出信号はそれぞれケーブル4を
介して比較回路5に入力される。比較回路5では、プリ
ン1〜配線基板2を第6図仮想線位置に示すようにコン
タクトプローブ3に押し当てた状態での検出信号と正常
時の各設定信号とを比較して、両者の一致検出によって
「良品」 「不良品」の判定を行うよう構成されている
。
1には被検査プリント配FA基板2の測定位置に対応す
る位置にコンタクトプローブ3が植設されており、各コ
ンタクトプローブ3の検出信号はそれぞれケーブル4を
介して比較回路5に入力される。比較回路5では、プリ
ン1〜配線基板2を第6図仮想線位置に示すようにコン
タクトプローブ3に押し当てた状態での検出信号と正常
時の各設定信号とを比較して、両者の一致検出によって
「良品」 「不良品」の判定を行うよう構成されている
。
第7図(a)(b)はプローブプレー1〜1への従来の
コンタクトプローブ3の植設過程を示ザ。
コンタクトプローブ3の植設過程を示ザ。
先ず、第7図(a)のようにプローブプレート1の上面
〈「)側から測定位置に対応する位置の孔6にコンタク
トプローブ3の基端部を差し込んで鍔部7が上面([)
に当接するまで圧入し、次いでプローブプレー1〜1の
下面([ヨ)側に突出したコンタクトプローブ3の各基
端部にケーブル4の接続作業が行われる。
〈「)側から測定位置に対応する位置の孔6にコンタク
トプローブ3の基端部を差し込んで鍔部7が上面([)
に当接するまで圧入し、次いでプローブプレー1〜1の
下面([ヨ)側に突出したコンタクトプローブ3の各基
端部にケーブル4の接続作業が行われる。
なお、検査治具の筺体内部でのケーブル4の引き回しを
考慮して、最近ではケーブル4の中間部の相互を平板状
に接続したフラットクープルが使用されるため、各コン
タクトプローブ3とケープル4どの接続はコンタクトプ
ローブ3のプローブプレート1への植設完了後の工程で
行われる。
考慮して、最近ではケーブル4の中間部の相互を平板状
に接続したフラットクープルが使用されるため、各コン
タクトプローブ3とケープル4どの接続はコンタクトプ
ローブ3のプローブプレート1への植設完了後の工程で
行われる。
発明が解決しようどする問題点
このような従来の構成では、コンタクドブローブ3はプ
ローブプレート1の上面(「)側からしか植設できない
ため、上記のようにケーブル4としてフラットケーブル
を使用した場合には各ケーブル4の比較回路5側の端部
をプローブプレー1−1のそれぞれの孔6に通して下面
(R)側に引き出すようなことができず、コンタクミル
プローブ3とケーブル4との接続はコンタクトプローブ
3の圧入の後工程で行うことが強いられているため、検
査治具の完成までには長時間を必要とする。
ローブプレート1の上面(「)側からしか植設できない
ため、上記のようにケーブル4としてフラットケーブル
を使用した場合には各ケーブル4の比較回路5側の端部
をプローブプレー1−1のそれぞれの孔6に通して下面
(R)側に引き出すようなことができず、コンタクミル
プローブ3とケーブル4との接続はコンタクトプローブ
3の圧入の後工程で行うことが強いられているため、検
査治具の完成までには長時間を必要とする。
更に、プローブプレート1の上面(F)側からコンタク
トプローブ3を圧入する作業は次の点からも好ましくな
い。つまり、第8図のように作業テーブル17上に被検
査プリント配線基板2とプローブプレート1とを並べ、
被検査プリント配線基板2を見ながら測定個所St 、
82.83に対応する位置のプローブプレート1の孔6
1.62 。
トプローブ3を圧入する作業は次の点からも好ましくな
い。つまり、第8図のように作業テーブル17上に被検
査プリント配線基板2とプローブプレート1とを並べ、
被検査プリント配線基板2を見ながら測定個所St 、
82.83に対応する位置のプローブプレート1の孔6
1.62 。
63に圧入することになるが、測定個所81〜S3の配
列方向が第8図において一点鎖線Aのように右上りに配
列されているのに対して孔61〜63の配列方向は一点
鎖%lBのように右下りになるため、植設作業に熟練す
るまでは測定個所S1゜S3については誤った位置の孔
61’ 、63 ’ にコンタクトプローブ3を植設し
てしまうような事態が発生しやすい。
列方向が第8図において一点鎖線Aのように右上りに配
列されているのに対して孔61〜63の配列方向は一点
鎖%lBのように右下りになるため、植設作業に熟練す
るまでは測定個所S1゜S3については誤った位置の孔
61’ 、63 ’ にコンタクトプローブ3を植設し
てしまうような事態が発生しやすい。
本発明はプローブプレートの下面側から圧入することが
でき、植設に先立って予めケーブルと接続しておいても
検査冶具を組立てることのできるコンタクトプローブを
提供することを目的どする。
でき、植設に先立って予めケーブルと接続しておいても
検査冶具を組立てることのできるコンタクトプローブを
提供することを目的どする。
問題点を解決するための手段
本弁明のコンタクトプローブは、プローブピンの中間部
に外筒を装着し、前記外筒の内周面と前記プローブピン
の外周面との間に前記プローブピン先端を押出し方向に
付勢する圧縮ばねを介装し、前記外筒のプローブピン先
端側の端部外周面に大径部を設け、外筒の前記端部に周
方向を分割する削り溝を形成したことを特徴どする。
に外筒を装着し、前記外筒の内周面と前記プローブピン
の外周面との間に前記プローブピン先端を押出し方向に
付勢する圧縮ばねを介装し、前記外筒のプローブピン先
端側の端部外周面に大径部を設け、外筒の前記端部に周
方向を分割する削り溝を形成したことを特徴どする。
作用
この構成によると、プローブプレートの下面側から押し
込むと、削り溝の作用で外筒の大径部がプローブボード
の孔の内周面で縮径方向に押えられ、大径部がプローブ
プレートの上面側に突出すると、大径部が復帰してプロ
ーブプレートに係合する。
込むと、削り溝の作用で外筒の大径部がプローブボード
の孔の内周面で縮径方向に押えられ、大径部がプローブ
プレートの上面側に突出すると、大径部が復帰してプロ
ーブプレートに係合する。
実施例
以下、本発明の一実施例を第1図〜第5図に基づいて説
明する。
明する。
第1図〜第3図は本発明のコンタクトプローブを示す。
プローブピン8の中間部には外筒9が装着されている。
プローブピン8の中間突起10と外筒9の基端側の絞り
部11との間には圧縮ばね12が介装されており、プロ
ーブピン8の前記中間突起10が外筒9の先端側の絞り
部13に当接して停止するよう付勢されている。前記外
筒9の10−プピン8の先端側には基端部側の径L1よ
りも大きなL2の大径部14が形成されており、大径部
14には第2図のように2ケ所の割り溝15が形成され
ている。
部11との間には圧縮ばね12が介装されており、プロ
ーブピン8の前記中間突起10が外筒9の先端側の絞り
部13に当接して停止するよう付勢されている。前記外
筒9の10−プピン8の先端側には基端部側の径L1よ
りも大きなL2の大径部14が形成されており、大径部
14には第2図のように2ケ所の割り溝15が形成され
ている。
このように構成したため、プローブプレート1への植設
時には、先ず第4図(a)のようにプローブピン8の基
端部を外筒9に対して圧縮ばね12の付勢に抗して下方
に引いた状態にして、プローブピン8の先端16を大径
部14よりも後退させた状態でプローブプレート1の下
面(R>側から孔6に差し込むと、大径部14には割り
満15が形成されているため孔6の内周面で縮径方向に
押さえ付けられて弾性変形して縮径した状態で孔6を通
過し、大径部14がプローブプレート1の上面(F)側
に突出すると、縮径していた前記大径部14は自己の弾
性力で復帰して第4図(C)のようにプローブプレート
1に係合する。この状態でプローブピン8の下方への前
記引っばり力を解除すると、プローブピン8の先端部1
6は圧縮ばね12の付勢力で外筒9の大径部14を通過
した位置に復帰する。
時には、先ず第4図(a)のようにプローブピン8の基
端部を外筒9に対して圧縮ばね12の付勢に抗して下方
に引いた状態にして、プローブピン8の先端16を大径
部14よりも後退させた状態でプローブプレート1の下
面(R>側から孔6に差し込むと、大径部14には割り
満15が形成されているため孔6の内周面で縮径方向に
押さえ付けられて弾性変形して縮径した状態で孔6を通
過し、大径部14がプローブプレート1の上面(F)側
に突出すると、縮径していた前記大径部14は自己の弾
性力で復帰して第4図(C)のようにプローブプレート
1に係合する。この状態でプローブピン8の下方への前
記引っばり力を解除すると、プローブピン8の先端部1
6は圧縮ばね12の付勢力で外筒9の大径部14を通過
した位置に復帰する。
各コンタクトプローブ3はこのようにしてプローブプレ
ート1に係合しているため、プローブプレート1の下面
(R>側からコンタクトプローブ3を装着したにもかか
わらず、プローブプレート1の上面(F)側から被検査
プリント配線基板2をコンタクトプローブ3の先端部に
押圧しても、コンタクトプローブ3が下ブJへ抜は落ち
ることがない。
ート1に係合しているため、プローブプレート1の下面
(R>側からコンタクトプローブ3を装着したにもかか
わらず、プローブプレート1の上面(F)側から被検査
プリント配線基板2をコンタクトプローブ3の先端部に
押圧しても、コンタクトプローブ3が下ブJへ抜は落ち
ることがない。
更に、このようにプローブプレート1の下面(R)側か
らコンタクl−プローブ3を植設できるため、従来では
得られない次のような効果を奏する。
らコンタクl−プローブ3を植設できるため、従来では
得られない次のような効果を奏する。
第1に、ケーブル4としてフラットケーブルを使用する
場合であっても、予めコンタクトプローブ3の基端部に
ケーブルを接続しておいても検査治具を組み立てられる
ため、従来のようなコンタクトプローブ植設後の後工程
を簡略化できる。
場合であっても、予めコンタクトプローブ3の基端部に
ケーブルを接続しておいても検査治具を組み立てられる
ため、従来のようなコンタクトプローブ植設後の後工程
を簡略化できる。
第2に、コンタクミープローブ3の植設作業を第5図の
ように作業テーブル17上に被検査プリント配線基板2
とプローブプレート1とを並べて被検査プリント配線基
板2の測定個所81〜S3を見ながら行う場合、プロー
ブプレート1における測定個所81〜S3に対応する孔
61〜63の配列方向は一点鎖線Cのように一点鎖線へ
と同じ右上りであるため、第8図の場合と比べると作業
に熟練が要求されない。
ように作業テーブル17上に被検査プリント配線基板2
とプローブプレート1とを並べて被検査プリント配線基
板2の測定個所81〜S3を見ながら行う場合、プロー
ブプレート1における測定個所81〜S3に対応する孔
61〜63の配列方向は一点鎖線Cのように一点鎖線へ
と同じ右上りであるため、第8図の場合と比べると作業
に熟練が要求されない。
発明の詳細
な説明のように本発明のコンタクトプローブは、外筒の
プローブピン先端側の端部外周面に大径部を設け、外筒
の前記端部に周方向を分割する割り溝を形成したため、
プローブプレートの孔にプローブピンを先端側から押し
込んで、プローブブレー1〜の孔の内壁面によって前記
大径部に縮径方向の力が作用すると、前記割り溝が形成
されているため大径部が弾性変形して縮径状態となり、
孔を通過すると大径状態に復帰してプローブプレートに
係合するため、プローブプレートの被検査プリント配線
基板の配設側とは反対側の面から植設作業を行うことが
でき、植設作業の作業性を大幅に向上させることができ
る。
プローブピン先端側の端部外周面に大径部を設け、外筒
の前記端部に周方向を分割する割り溝を形成したため、
プローブプレートの孔にプローブピンを先端側から押し
込んで、プローブブレー1〜の孔の内壁面によって前記
大径部に縮径方向の力が作用すると、前記割り溝が形成
されているため大径部が弾性変形して縮径状態となり、
孔を通過すると大径状態に復帰してプローブプレートに
係合するため、プローブプレートの被検査プリント配線
基板の配設側とは反対側の面から植設作業を行うことが
でき、植設作業の作業性を大幅に向上させることができ
る。
更に、上記のように被検査プリント配線基板の配設側と
は反対側の面からプローブプレートに植設できるため、
比較回路との接続用ケーブルにフラットケーブルが使用
される場合においても植設よりも前にコンタクトプロー
ブの基端部にケーブルを接続することができ、検査治具
組み立てにおいて植設後の配線工程を省くことかでき、
予じめケーブルの接続作業を実施しておくことによって
、加ニスピードを大幅に向上させることができるもので
ある。
は反対側の面からプローブプレートに植設できるため、
比較回路との接続用ケーブルにフラットケーブルが使用
される場合においても植設よりも前にコンタクトプロー
ブの基端部にケーブルを接続することができ、検査治具
組み立てにおいて植設後の配線工程を省くことかでき、
予じめケーブルの接続作業を実施しておくことによって
、加ニスピードを大幅に向上させることができるもので
ある。
第1図〜第5図は本発明の一実施例を示し、第1図は本
発明のコンタクトプローブの拡大正面図、第2図は第1
図のx−x’矢視図、第3図は第1図の縦断面図、第4
図は植設過程の説明図、第5図は植設作業時の作業テー
ブル上の平面図、第6図は検査治具の構成図、第7図は
従来のコンタクトプローブの植設過程の説明図、第8図
は第7図の植設作業時の作業テーブル上の平面図である
。 1・・・プローブプレート、2・・・被検査プリント配
線基板、3・・・コンタクトプローブ、8・・・プロー
ブピン、9・・・外筒、12・・・圧縮ばね、14・・
・大径部、15・・・割り溝、16・・・プローブピン
先端、F・・・プローブプレートの上面、R・・・プロ
ーブプレート下面代理人 森 本 i 弘 第1凶 第3図 第4図 第5区 第1図 第7図 、/2 −9−一!− 一一一一ロコー−−一下:ニ
発明のコンタクトプローブの拡大正面図、第2図は第1
図のx−x’矢視図、第3図は第1図の縦断面図、第4
図は植設過程の説明図、第5図は植設作業時の作業テー
ブル上の平面図、第6図は検査治具の構成図、第7図は
従来のコンタクトプローブの植設過程の説明図、第8図
は第7図の植設作業時の作業テーブル上の平面図である
。 1・・・プローブプレート、2・・・被検査プリント配
線基板、3・・・コンタクトプローブ、8・・・プロー
ブピン、9・・・外筒、12・・・圧縮ばね、14・・
・大径部、15・・・割り溝、16・・・プローブピン
先端、F・・・プローブプレートの上面、R・・・プロ
ーブプレート下面代理人 森 本 i 弘 第1凶 第3図 第4図 第5区 第1図 第7図 、/2 −9−一!− 一一一一ロコー−−一下:ニ
Claims (1)
- 1、プローブピンの中間部に外筒を装着し、前記外筒の
内周面と前記プローブピンの外周面との間に前記プロー
ブピン先端を押出し方向に付勢する圧縮ばねを介装し、
前記外筒のプローブピン先端側の端部外周面に大径部を
設け、外筒の前記端部に周方向を分割する割り溝を形成
したコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61069521A JPS62225960A (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | コンタクトプロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61069521A JPS62225960A (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | コンタクトプロ−ブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62225960A true JPS62225960A (ja) | 1987-10-03 |
Family
ID=13405108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61069521A Pending JPS62225960A (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | コンタクトプロ−ブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62225960A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6235103B1 (en) | 1999-02-23 | 2001-05-22 | Cerdec Aktiengesellschaft Keramische Farben | Tantalum (V) nitride pigments, process for the production thereof and use thereof |
US6294009B1 (en) | 1998-12-17 | 2001-09-25 | Dmc2 Degussa Metals Catalysts Cerdec Ag | Tantalum (V) nitride pigment, process for producing it and its use |
CN102981025A (zh) * | 2011-09-05 | 2013-03-20 | 日本电产理德株式会社 | 连接端子及连接夹具 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5819268B2 (ja) * | 1975-07-29 | 1983-04-16 | カブシキガイシヤ コンゴ | ニユウサンキンオモチイタ デンプンシヨクヒンノセイゾウホウホウ |
JPS6066165A (ja) * | 1983-09-21 | 1985-04-16 | Hitachi Denshi Ltd | 回路基板テスタ用ピンボ−ド装置 |
-
1986
- 1986-03-26 JP JP61069521A patent/JPS62225960A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5819268B2 (ja) * | 1975-07-29 | 1983-04-16 | カブシキガイシヤ コンゴ | ニユウサンキンオモチイタ デンプンシヨクヒンノセイゾウホウホウ |
JPS6066165A (ja) * | 1983-09-21 | 1985-04-16 | Hitachi Denshi Ltd | 回路基板テスタ用ピンボ−ド装置 |
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US6235103B1 (en) | 1999-02-23 | 2001-05-22 | Cerdec Aktiengesellschaft Keramische Farben | Tantalum (V) nitride pigments, process for the production thereof and use thereof |
CN102981025A (zh) * | 2011-09-05 | 2013-03-20 | 日本电产理德株式会社 | 连接端子及连接夹具 |
US9069012B2 (en) | 2011-09-05 | 2015-06-30 | Nidec-Read Corporation | Connection terminal and connection jig |
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