JP5631386B2 - 高アスペクト比誘電体エッチングのための方法及び装置 - Google Patents
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Description
上記の実施形態では、LF RF源366、スイッチ362、及びスイッチ362との間の接続は、上部電極及び下部電極の両方に電気的に接続されたバイアス電力システムを形成し、該バイアス電力システムは、少なくとも500ボルトのバイアスを上部電極及び下部電極の両方に供給することができ、上部電極に対するバイアスは、二次電子を発生させ、下部電極に対するバイアスは、生成されたプラズマシースを二次電子によって断続的に崩壊させるためにパルス化される。このようなシステムのその他の実施形態も、可能である。例えば、図6は、第1の低周波数RFバイアス源670を上部電極304に接続され且つ第2の低周波数RFバイアス源666を下部電極308に接続されたバイアス電力システムを伴うプラズマ処理チャンバ300の別の実施形態を例示している。第1の低周波数RFバイアス源670には、第1の低周波数RFバイアス源670からの信号をパルス化するために、第1のパルス源674が接続される。第2の低周波数RFバイアス源666には、第2の低周波数RFバイアス源666からの信号をパルス化するために、第2のパルス源662が接続される。この実施形態では、第1のLF RFバイアス源670からの信号が、パルス化される。好ましくは、このようなパルス化が、上部電極と下部電極との間に交互バイアスを発生させるが、その他のパルス方式も使用可能である。別の実施形態では、バイアスの切り替えはなされないが、上部電極バイアスのパルス化が、下部電極バイアスのパルス化と等しい周波数を有しており、これらのバイアスは、完全に同時ではない。
本発明の一例では、誘電体層は、酸化ケイ素をベースにしてよく、この場合、誘電体層は、主として酸化ケイ素で形成され、そのなかに、その他の種類の物質が少量で混ぜられている。より好ましくは、誘電体層は、有機ケイ酸塩ガラスなどの低k誘電体である。別の実施形態では、誘電体層は、有機誘電体層である。
Claims (19)
- 誘電体層に高アスペクト比特徴をエッチングするための装置であって、
プラズマ処理チャンバであって、
プラズマ処理チャンバエンクロージャを形成するチャンバ壁と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャに電力を供給するための下部電極であって、その上に基板を支持する下部電極と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャに電力を供給するための上部電極であって、前記下部電極から上方に隔てられた上部電極と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャ内へガスを供給するためのガス入口と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャからガスを排出するためのガス出口と、
を含むプラズマ処理チャンバと、
前記上部電極又は前記下部電極の少なくとも一方に電気的に接続された高周波数無線周波数(RF)電源と、
前記上部電極及び前記下部電極の両方に電気的に接続されたバイアス電力システムであって、少なくとも500ボルトの大きさのバイアスを前記上部電極及び前記下部電極に供給することができ、前記上部電極に対するバイアスは、二次電子を発生させ、前記下部電極に対するバイアスは、生成されたプラズマシースを二次電子によって断続的に崩壊させるためにパルス化される、バイアス電力システムと、
前記ガス入口と流体接続しており、誘電体エッチングガス源を含むガス源と、
前記ガス源、前記高周波数RF電源、及び前記バイアス電力システムに可制御式に接続されたコントローラと
を備える装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記バイアス電力システムは、
バイアス電源と、
前記バイアス電源を前記上部電極及び前記下部電極に交互に接続するためのスイッチと、
を含む装置。 - 請求項2に記載の装置であって、
前記バイアス電源は、低周波数RF電源である装置。 - 請求項3に記載の装置であって、
前記コントローラは、
プロセッサと、
コンピュータ可読媒体であって、
前記誘電体エッチングガス源から前記プラズマ処理チャンバ内へ誘電体エッチングガスを供給するためのコンピュータ可読コードと、
前記エッチングガスをエッチングプラズマに形成するために前記高周波数RF電源から電力を供給するためのコンピュータ可読コードと、
前記バイアス電源を前記上部電極及び前記下部電極に交互に接続するために前記スイッチを切り替えるためのコンピュータ可読コードと、
を含むコンピュータ可読媒体と、
を含む装置。 - 請求項4に記載の装置であって、
前記スイッチを切り替えるためのコンピュータ可読コードは、10Hzから100kHzまでの間の周波数で切り替えを実施する装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記コントローラは、
プロセッサと、
コンピュータ可読媒体であって、
前記誘電体エッチングガス源から前記プラズマ処理チャンバ内へ誘電体エッチングガスを供給するためのコンピュータ可読コードと、
前記エッチングガスをエッチングプラズマに形成するために前記高周波数RF電源から電力を供給するためのコンピュータ可読コードと、
前記下部電極に対するバイアスをパルス化するためのコンピュータ可読コードと、
を含むコンピュータ可読媒体と、
を含む装置。 - 請求項6に記載の装置であって、
前記下部電極にパルスバイアス電力を供給するためのコンピュータ可読コードは、10Hzから100kHzまでの間の周波数で前記パルスバイアス電力を供給する装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記上部電極に対するバイアスは、前記下部電極に対するパルスバイアス電力の周波数と等しい周波数でパルス化される装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記バイアス電力システムは、
前記上部電極に電気的に接続された第1のバイアス源と、
前記第1のバイアス源に電気的に接続された第1のパルス源と、
前記下部電極に電気的に接続された第2のバイアス源と、
前記第2のバイアス源に電気的に接続された第2のパルス源と、
を含む装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記上部電極及び前記下部電極は、平行平板電極である装置。 - 誘電体層に高アスペクト比特徴をエッチングするための装置であって、
プラズマ処理チャンバであって、
プラズマ処理チャンバエンクロージャを形成するチャンバ壁と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャに電力を供給するための下部電極であって、その上に基板を支持する下部電極と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャに電力を供給するための上部電極であって、前記下部電極から上方に隔たれた上部電極と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャ内へガスを供給するためのガス入口と、
前記プラズマ処理チャンバエンクロージャからガスを排出するためのガス出口と、
を含むプラズマ処理チャンバと、
前記上部電極又は前記下部電極の少なくとも一方に電気的に接続された高周波数無線周波数(RF)電源と、
前記上部電極及び前記下部電極の両方に電気的に接続されたバイアス電力システムであって、
低周波数RF源と、
前記上部電極と前記下部電極との間で交互に切り替えるために前記低周波数RF源と前記上部電極及び前記下部電極との間に電気的に接続されたスイッチと、
を含むバイアス電力システムと、
前記ガス入口と流体接続しており、誘電体エッチングガス源を含むガス源と、
前記ガス源、前記高周波数RF電源、及び前記バイアス電力システムに可制御式に接続されたコントローラと、
を備える装置。 - 請求項11に記載の装置であって、
前記コントローラは、
プロセッサと、
コンピュータ可読媒体であって、
前記誘電体エッチングガス源から前記プラズマ処理チャンバ内へ誘電体エッチングガスを供給するためのコンピュータ可読コードと、
前記エッチングガスをエッチングプラズマに形成するために前記高周波数RF電源から電力を供給するためのコンピュータ可読コードと、
前記バイアス電源を前記上部電極及び前記下部電極に交互に接続するために前記スイッチを切り替えるためのコンピュータ可読コードと、
を含むコンピュータ可読媒体と、
を含む装置。 - 請求項11に記載の装置であって、
前記スイッチを切り替えるためのコンピュータ可読コードは、10Hzから100kHzまでの間の周波数で切り替えを実施する装置。 - 請求項11に記載の装置であて、
前記上部電極及び前記下部電極は、平行平板電極である装置。 - プラズマ処理チャンバ内において基板の上の誘電体層に高アスペクト比特徴をエッチングするための方法であって、
上部電極及び下部電極を伴う前記プラズマ処理チャンバ内に前記基板を配することであって、前記基板は、前記下部電極の上に配され、前記上部電極は、前記下部電極及び前記基板から上方に隔たれている、ことと、
前記プラズマ処理チャンバ内にエッチングガスを供給することと、
前記プラズマ処理チャンバ内において、前記上部電極と前記下部電極との間にプラズマを形成することと、
二次電子を発生させるために、少なくとも500ボルトのバイアスを前記上部電極に供給することと、
前記誘電体層をエッチングするために、少なくとも500ボルトのパルスバイアスを前記下部電極に供給することと、
を備える方法。 - 請求項15に記載の方法であって、
前記上部電極にバイアスを供給することは、前記上部電極と前記下部電極との間でバイアスが交互されるように前記上部電極に対するバイアスをパルス化することを含む方法。 - 請求項16に記載の方法であって、
前記上部電極にバイアスを供給することは、更に、前記上部電極に低周波数RF電力を供給することを含み、前記下部電極にバイアスを供給することは、前記下部電極に低周波数RF電力を供給することを含む方法。 - 請求項15に記載の方法であって、
前記上部電極にバイアスを供給すること及び前記下部電極にバイアスを供給することは、前記上部電極と前記下部電極との間でバイアスを切り替えることを含む方法。 - 請求項18に記載の方法であって、
前記切り替えは、10Hzから100kHzまでの間の周波数で実施される方法。
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