JP5334736B2 - ウェハステープル - Google Patents

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Description

本発明は、ウェハステープルに関する。
刊行物US5323051からすでに、基板ウェハとキャップウェハとの間にシールガラステープが配置されたウェハステープルが公知である。このシールガラステープは少なくとも基板ウェハ上に設けられた構成体を気密に封鎖する。
特開平05−291388号公報には「・・・ウエハを個々のチップにダイシングする・・・あるパターンのフリット・ガラスを結合材として用いて、キャップ・ウエハを半導体基板ウエハに結合し、デバイスが、フリット・ガラス,基板ウエハおよびキャップ・ウエハによって形成される空洞内に気密封止されるようにする。キャップ・ウエハ内の孔のために、電極との電気接続が可能になり、電極はフリット・ガラス・シール全体に伸びていてデバイスと接続する。」ことが記載されている。
特開平07−072169号公報には、「・・・シール材3a、3bとしては、シリコーン接着剤・・・ファイバガラス製スペーサ材」であることが記載され、「・・・センシング領域が幅Wのシール材を挾んで均等に配列された形状となっている。従って、接着されたウエーハを切断して加速度センサを完成した後のシール材3bの幅は、図5(b)に示すように、4つの辺とも均等にW/2」であることが記載されている。
特開平08−015067号公報および特開平08−250751号公報にはセンサ素子をペアで配置することが記載されている。
特開平07−128361号公報には、基板ウェハにソケットを設けることが記載されている。
US5323051 特開平05−291388号公報 特開平07−072169号公報 特開平08−015067号公報 特開平08−250751号公報 特開平07−128361号公報
本発明の課題は、センサ素子の必要な面積を低減することである。
上記課題は本発明により、基板ウェハと、該基板ウェハの上に設けられた少なくとも2つのセンサ素子と、前記基板ウェハに取り付けられたキャップウェハと、空洞部とを有し、
前記キャップウェハは複数の接続テープにより前記基板ウェハと接合されており、
前記空洞部は、複数の接続テープにより外部に対して気密に封鎖されており、
前記センサ素子はそれぞれ前記空洞部に配置されており、
前記各空洞部の外では前記基板ウェハに接点線路が配置されており、
該接点線路は、センサ素子の電気接続を行い、
前記基板ウェハ上で隣接するセンサ素子のペア間では、ちょうど1つの接点孔が前記キャップウェハに設けられており、
該接点孔を通って前記接点線路は前記センサ素子に接近し、
前記基板ウェハ上で隣接する別のセンサ素子のペア間には、ちょうど1つの接続テープが配置されており、
前記1つの接続テープは、前記別のペアのセンサ素子が配置されている前記空洞部を相互に分離する、ことを特徴とする個別化されないウェハステープルにより解決される。
本発明の接続媒体と溝幅の適切な選択によって、ウェハ面積当たりでさらに多くのセンサ素子を設けることができる。このことにより一方ではチップ面積が節約され、他方ではさらに小さなセンサが得られる。このことでさらにそれぞれの適用事例において必要なスペースが低減される。
従属請求項に記載された手段によって独立請求項に記載されたウェハステープルの有利な改善および発展が可能である。
2ステップ・切り出しプロセスでは、センサ素子がまだウェハステープルと一体であっても鋸過程により機械的負荷をかけることができれば、このセンサ素子を電気機能および/または密閉度についてセンサすることができる。このことにより場合により、損傷したセンサを鋸過程で選別することができる。
電気機能および/または密閉度について検査する前に、修復ステップを挿入することができる。この修復ステップは、一方ではチップ収益を高め、他方では損傷したセンサを検出する際の確実性を高める。
センサ素子を基板ウェハに、例えば横方向にずらして対で配置すれば、個々のセンサ素子間にテープ状の2つの接続媒体構成体を有するウェハステープルに対して、ウェハステープル当たりで60%まで多くのセンサを収容することができる。しかもその際に、接続テープに対して必要な孔版構造幅を狭くする必要はない。このことは予想外に簡単であり、安価な手段である。
基板ウェハにソケットを設ければ、キャップウェハを基板ウェハに取り付ける際に接続テープ、例えばシールガラスの接続テープをソケットに配置することができる。このことは一方では接続テープに対して流れ止めが形成され、このことにより接続テープがさらに局所的に固定される点で有利である。さらに他方では空洞部を密閉度について簡単に検査することができる点で有利である。なぜなら、例えば赤外線の光学的漏れ検査の際に、空洞容積が大きくなることによってより多くのガスが空洞部に存在するようになるからである。さらにセンサ素子とキャップウェハとの間に比較的に大きな安全間隔が得られる。センサ素子に接触する導体路は例えばソケットと基板ウェハとの間に配置することができる。このことによりキャップを被せるためにて平坦なソケット面が発生し、これにより空洞部の密閉度が良好に保証される。
安全間隔は、キャップウェハに配置されたブリッジが回転するようにしても大きくすることができる。基板ウェハ上のソケットに対してもキャップウェハ上のブリッジに対するのと同じように安全間隔を大きくすることは有利である。例えば、センサ素子がキャップウェハに静電吸引力または付着力により貼り付いてしまう危険性の点で有利である。ブリッジは付加的にキャップを被せる際に接続媒体(例えば接続媒体としてのシールガラス)に対する流れ止めとして用いる。
センサの製造方法を説明する図である。 隣接するセンサ素子間に2つの接続テープを有する従来技術のウェハステープルの概略図である。 直接隣接するセンサ素子間に1つの接続テープしか有しない本発明のウェハステープルの概略図である。 通常構成およびミラー構成のセンサ素子を示す概略図である。
図1は、センサの製造方法を示す。ここで基板ウェハ1とキャップウェハ3は横断面図で示されている。基板ウェハ1にはセンサ素子2が取り付けられており(図1a)、接点(図示せず)が設けられている。ブリッジ4と接点孔9を有するキャップウェハ3が作製される。ブリッジ4は図1aでは単に断面しか見えないが、このブリッジは図示の断面に沿って、および図示の断面に対して横方向に、センサ素子の配置構成に相応して基板ウェハ上に延在している。これは後で行う方法ステップの後で、個々のセンサ素子2をそれぞれ閉じたラインに沿って、気密に閉鎖された中空空間を形成するため取り囲むためである。キャップウェハに設けられた接点孔9は、基板ウェハ上に選択された接点の構成に相応して配置される。キャップウェハ3を基板ウェハ1に取り付けた後、接点孔9はセンサ素子2が接点にキャップウェハ3を通って接近できることを保証しなければならない。これは例えば、導入可能な測定先端を介してセンサ素子の機能能力を検査するためである。また、後から接点に取り付け可能なボンドワイヤを介してセンサ素子に電気回路を接続するためである。
図1bには、どのようにキャップウェハ3のブリッジ4に接続テープ5を、例えば孔版法で取り付けるかが示されている。この接続テープは例えばシールガラス(ロウガラス)からなる。別のステップで熱供給6によりシールガラス製の接続テープ(シールガラステープ)を乾燥させる(図1c)。図1dは、どのように基板ウェハとキャップウェハとを相互に配向するかが示されている。これによりセンサ素子はシールガラステープの間に来るようになる。時間と共に変化することのできる圧力と温度により、キャップウェハ3と基板ウェハ1はシールガラステープを介して相互に接続される(ボンディング、シーリング;図1e)。その際に、形成された空洞部17にガスを所定の圧力の下で封印することができる。今説明したボンディングステップの後、図1fに示すように、センサ素子の電気機能検査または空洞部の密閉度検査が行われる。そのために、キャップウェハ3を基板ウェハ1に取り付ける前に、接点16が基板ウェハに設けられ、この接点はセンサ素子2を電気的に接触接続する。この接点16を介して検査装置10によりセンサ素子の電気機能が検査される。この電気検査は空洞部の密閉度に関する検査と同時に適用することができる。なぜならセンサ信号は例えば加速度センサ素子の場合、空洞部に封印されたガスの組成または圧力と共に変化するからである。しかし選択的に密閉度を別個に、例えば赤外線の光学的漏れ検査法によって検査することもできる。最後に、ウェハステープルが敷物としてのシート12に取り付けられ、鋸装置11によりセンサ13に分けられる(図1g)。昇降装置14(図1h)によって検査過程で良好と判断されたセンサが選別され、ケーシングまたは図1hに示すようにハイブリッド基板15に位置決めされる。
図2は、幅21のシールガラステープ5が基板ウェハ1のソケット20に配置された従来技術のウェハステープルを示す。各センサ素子2は固有のシールガラステープ5により取り囲まれている。隣接するセンサ素子のシールガラステープ5の間には図示の構成では、広がりを有する中間空間が設けられている。この広がりは溝幅22と2つの間隔23からなる。個別化はすでに説明したように、キャップウェハ3と基板ウェハ1を隣接するシールガラステープの間で切り離すことによって行われる。シールガラステープ5は製造技術的に例えば500μmの幅を有する。この幅は図2に示した場合ではソケット幅に相当する。隣接するシールガラステープ間には、切り出すことができるように十分なスペースが設けられている。ここでは例えば100μmの溝幅22と、2×75μmの間隔23が両側に設けられている。この構成の欠点は大きなチップ面積が必要なことである。一方では2つのシールガラステープが隣接するセンサ素子間に設けられており、他方では切り出しのための特別な自由空間が設けられている。これは溝幅22と間隔23により表される。
図3は、本発明のウェハステープルの実施例を示す。図2のウェハステープルとは異なり、隣接するセンサ素子2間には1つのシールガラステープ5しか配置されていない。相応して、隣接するセンサ素子2間には1つのソケットしか存在しない。このソケットは新たなソケット幅31を有し、この新たなソケット幅は図2のウェハステープルのソケット幅よりもやや広く選択されている。例えば新たなソケット幅31は550μmに選択される。このソケット幅は2つソケット幅33と新たな溝幅32からなり、新たな溝幅32は図2の溝幅22よりやや広く選択されている。幅がやや広いのは、ガラスの切り出しの際に比較的に幅広の鋸板が必要なためである。なぜなら、シリコンに対して使用される薄い鋸刃は、ガラスと共に使用するには不適だからである。
図2の構成に対して、シールガラステープと設けられた溝のための所要面積を低減するために、図3の本発明のウェハステープルでは1つのシールガラステープ5しか隣接するセンサ素子2間に設けられていない。2ステップ・切り出しプロセスにより、図1について説明したウェハステープルの検査可能性を維持することができる。そのためにはまず、キャップウェハ3とシールガラステープ5だけを所定の箇所で切り出し、次に個々のセンサ素子を電気機能ないし空洞部の密閉性に関して検査し、続いて第2の切り出しステップでセンサ素子を個々のセンサに個別化するのである。切り出しは水中で行われる。その際に割れ目が発生し、ここに水が入ることがある。第1の切り出しステップによるシールガラスのこのような損傷は、検査前の修復温度ステップにより修復することができる。鋸板の厚さと第1の切り出しステップの粗さは、シールガラスとキャップウェハを切り出すことができるように選択しなければならない。第2のステップの際には、同じ幅かまたは比較的に薄い鋸刃を使用することができる。全体として、隣接する2つのセンサ素子間のシールガラステープに対する所要の横方向スペースはこの実施例ではチップエッジ当たり約275μmである。
修復温度ステップは、例えば300〜400℃の温度で行われる。正確な温度値は使用されるシールガラスに依存する。この修復温度ステップで、水が毛細管から出て行き、隣接する空洞部への漏れとはならないシールガラスの小さな割れ目が修復される。しかし割れ目が隠れた漏れとなる場合には水の漏れが現れ、検査過程でセンサ素子の電気機能の検査またはその他の漏れ検査法、例えば赤外線の光学的検査法または空洞部外でのガス検出により検知することができる。
シールガラステープを取り付けるための孔版法に対して択一的に、シルクスクリーン法または他の平版印刷法を使用することができる。構造化されていないキャップウェハ、すなわちブリッジ4のないキャップウェハもこの方法で使用することができる。シールガラス(フリットガラスシール)の代わりに、2つのウェハを相互に気密に接続することのできる他の材料、例えば接着剤、熱ペースト、その他のプラスチックまたはロウも使用することができる。ガラス製のキャップウェハを使用することも可能であり、このキャップウェハはアノード側で基板ウェハのソケットにボンディングされる。センサ素子の接触接続に用いる導体路はソケットの下に延在するよう配置できるから、アノード側のボンディングの前にソケットの平坦な表面を電気化学的に研磨することができる。基本的には本発明の方法はセンサ素子に限定されるものではなく、機械的および/または熱的影響から保護すべきいずれの構成に対しても適用することができ、本発明により気密に封鎖することができる。
図4aは、ウェハステープルにセンサ素子2が通常のように配置された構成40を示す。センサ素子2は破線により示されている。なぜならセンサ素子はキャップウェハ3により隠されているからである。接点孔9を通して基板ウェハを見ることができる。各センサ素子2には接点16が配属されている。図4bは、ウェハステープルにおけるセンサ素子のミラー配置構成41を示す
切り出しライン44は例えば図4bのミラー配置構成では水平に、完全に図示された接点孔9の中央を通って延在し、シールガラスの満たされた非接触領域42aに沿って2つの隣接するセンサ素子2の間を図面で右方向に続いている。別の切り出しラインが切り出しライン44に対して垂直に、無接触領域42bの中央を通って延在する。
図4aと図4bに示された構成は、センサ素子が多数設けられたウェハステープルの一部を示すにすぎない。従って図4bでは、3つ示した接点孔9のうちの2つでこれら接点孔の半分しか示されていない。図4aの通常配置構成40では、1つのセンサ素子当たり2つのチップエッジに本発明のシールガラステープ構成を使用することができる。しかし図4bに示したミラー配置構成では1つのセンサチップ当たり3つのチップエッジで本発明のシールガラステープ構成を使用することができる。さらにセンサ素子を所属の接点孔に対して画定することは、図2のソケット幅21に相当する幅を有する幅を有するシールガラステープによって実現される。図4bのミラー配置構成の場合、図2のシールガラステープ構成の基礎となる構成40に対して、1つのウェハステープル当たり60%のチップ面積が節約される。この数字は、図4aの横断面に沿って関与するシールガラステープも含めたセンサ素子の長さが2.3 mmであり、これに対して垂直の、センサ素子と所属の接点孔の必要な長さが2.8 mmであることを前提とした場合に得られる。この構成の場合、必要な面積は6.44 mm2である。これに対して図4bの本発明のシールガラステープによるミラー配置構成では、必要面積がセンサ当たり3.92 mm2に低減される((2.3 mm - 2×0.35 mm)×(2.8 mm-0.35 mm)=3.92 mm2)。
1 基板ウェハ
3 キャップウェハ
4 ブリッジ
5 接続テープ
9 接点孔

Claims (5)

  1. 基板ウェハ(1)と、該基板ウェハの上に設けられた少なくとも2つのセンサ素子(2)と、前記基板ウェハに取り付けられたキャップウェハ(3)と、電気接点(16)と、空洞部(17)とを有し、
    前記キャップウェハ(3)は複数の接続テープ(5)により前記基板ウェハ(1)と接合されており、
    前記空洞部(17)は、複数の接続テープにより外部に対して気密に封鎖されており、
    前記空洞部(17)にはそれぞれ前記センサ素子(2)が配置されており、
    前記電気接点(16)は、前記各空洞部(17)の外で前記基板ウェハに配置されており、
    前記電気接点(16)は、センサ素子の電気接続を行い、
    前記基板ウェハ(1)上で隣接するセンサ素子(2)のペア間では、ちょうど1つの接点孔(9)が前記キャップウェハ(3)に設けられており、
    該接点孔(9)を通って前記電気接点は前記センサ素子に接近し、
    前記基板ウェハ(1)上で隣接する別のセンサ素子(2)のペア間には、ちょうど1つの接続テープ(5)が配置されており、
    前記1つの接続テープ(5)は、前記別のペアのセンサ素子が配置されている前記空洞部(17)を相互に分離する、
    ことを特徴とする個別化されないウェハステープル。
  2. 請求項1記載のウェハステープルにおいて、
    前記センサ素子(2)は、前記基板ウェハ上で相互に横にずれて配置されているウェハステープル。
  3. 請求項1または2記載のウェハステープルにおいて、
    前記キャップウェハ(3)は、隆起部の形態のブリッジ(4)を有し、該ブリッジに前記接続テープ(5)が取り付けられているウェハステープル。
  4. 請求項3記載のウェハステープルにおいて、
    前記ブリッジ(4)は一体的に前記キャップウェハ(3)から切り出されているウェハステープル。
  5. 請求項1から4までのいずれか一項記載のウェハステープルにおいて、
    前記基板ウェハ(1)はソケット(20)を有し、
    前記キャップウェハ(3)の接続テープ(5)は前記ソケット(20)上に配置されているウェハステープル。
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