JP5325874B2 - I−iii−vi2ナノ粒子の製造方法及び多結晶光吸収層薄膜の製造方法 - Google Patents

I−iii−vi2ナノ粒子の製造方法及び多結晶光吸収層薄膜の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5325874B2
JP5325874B2 JP2010502953A JP2010502953A JP5325874B2 JP 5325874 B2 JP5325874 B2 JP 5325874B2 JP 2010502953 A JP2010502953 A JP 2010502953A JP 2010502953 A JP2010502953 A JP 2010502953A JP 5325874 B2 JP5325874 B2 JP 5325874B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
iii
nanoparticles
group
compound
raw material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010502953A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010526007A (ja
Inventor
ダク―ヤン ジュン,
ジェ オク ハン,
ジュヨン チャン,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sungkyunkwan University Research and Business Foundation
Original Assignee
Sungkyunkwan University Research and Business Foundation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sungkyunkwan University Research and Business Foundation filed Critical Sungkyunkwan University Research and Business Foundation
Publication of JP2010526007A publication Critical patent/JP2010526007A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5325874B2 publication Critical patent/JP5325874B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82BNANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
    • B82B3/00Manufacture or treatment of nanostructures by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G15/00Compounds of gallium, indium or thallium
    • C01G15/006Compounds containing, besides gallium, indium, or thallium, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J19/00Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
    • B01J19/08Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B17/00Sulfur; Compounds thereof
    • C01B17/20Methods for preparing sulfides or polysulfides, in general
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B19/00Selenium; Tellurium; Compounds thereof
    • C01B19/002Compounds containing, besides selenium or tellurium, more than one other element, with -O- and -OH not being considered as anions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B19/00Selenium; Tellurium; Compounds thereof
    • C01B19/007Tellurides or selenides of metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G15/00Compounds of gallium, indium or thallium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G3/00Compounds of copper
    • C01G3/006Compounds containing, besides copper, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1204Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/46Sulfur-, selenium- or tellurium-containing compounds
    • C30B29/48AIIBVI compounds wherein A is Zn, Cd or Hg, and B is S, Se or Te
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/60Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape characterised by shape
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B30/00Production of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the action of electric or magnetic fields, wave energy or other specific physical conditions
    • C30B30/06Production of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the action of electric or magnetic fields, wave energy or other specific physical conditions using mechanical vibrations
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B7/00Single-crystal growth from solutions using solvents which are liquid at normal temperature, e.g. aqueous solutions
    • C30B7/08Single-crystal growth from solutions using solvents which are liquid at normal temperature, e.g. aqueous solutions by cooling of the solution
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02568Chalcogenide semiconducting materials not being oxides, e.g. ternary compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02587Structure
    • H01L21/0259Microstructure
    • H01L21/02601Nanoparticles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02623Liquid deposition
    • H01L21/02628Liquid deposition using solutions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/70Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/70Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data
    • C01P2002/72Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data by d-values or two theta-values, e.g. as X-ray diagram
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/80Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70
    • C01P2002/82Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70 by IR- or Raman-data
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/80Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70
    • C01P2002/85Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70 by XPS, EDX or EDAX data
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/01Particle morphology depicted by an image
    • C01P2004/03Particle morphology depicted by an image obtained by SEM
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/01Particle morphology depicted by an image
    • C01P2004/04Particle morphology depicted by an image obtained by TEM, STEM, STM or AFM
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/60Particles characterised by their size
    • C01P2004/62Submicrometer sized, i.e. from 0.1-1 micrometer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/60Particles characterised by their size
    • C01P2004/64Nanometer sized, i.e. from 1-100 nanometer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/70Nanostructure
    • Y10S977/773Nanoparticle, i.e. structure having three dimensions of 100 nm or less
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/70Nanostructure
    • Y10S977/813Of specified inorganic semiconductor composition, e.g. periodic table group IV-VI compositions

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Manufacture Of Metal Powder And Suspensions Thereof (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

本発明はI-III-VIナノ粒子の製造方法及び多結晶光吸収層薄膜の製造方法に関し、超音波を用いて化合物半導体であるI-III-VIナノ粒子を合成し、これを用いて太陽電池用多結晶光吸収層薄膜を製造する方法に関する。
CuInSeに代表されるI-III-VI族カルコパイライト(chalcopyrite)系化合物半導体は、直接遷移型エネルギーバンドギャップ(band gap)を有しており、光吸収系数が非常に高く、数マイクロメートルの薄膜でも高効率の太陽電池の製造が可能であり、優れた電気光学的安全性を有しており、太陽電池の光吸収層の材料として非常に理想的な化合物である。特に、Cu(In、Ga)Se太陽電池は薄膜型太陽電池のうち、エネルギー効率(NREL、>19%)が最も高く、既存のシリコン基盤の太陽電池に比べて価格競争力が高いことから、既存の高価な結晶質シリコン太陽電池に取って代わることのできる薄膜型太陽電池として浮上している。しかしながら、このようなカルコパイライト系化合物は、多元化合物(multinary compound)であるため、製造工程が非常に難しい。従って、カルコパイライト系化合物に基づく太陽電池が化石燃料と競争するためには、工程の改善を通じた持続的な生産コストの下落が課題となっている。
CuInSe化合物は、太陽電池の理想的なバンドギャップ(1.4eV)に若干満たない1.04eVのエネルギーバンドギャップを有しているため、これに基づく太陽電池の短絡電流(Jσχ、short-circuit current)は比較的に高いが、開放電圧(Voχ、open-circuit voltage)は相対的に低い方である。従って、開放電圧を高めるためにインジウム(In)の一部をガリウム(Ga)に置換したり、セレニウム(Se)の一部を硫黄(S)に置換することもあるが、構成成分によって、CuInSe(CIS)、CuGaSe(CGS)、Cu(In、Ga)Se(CIGS)、CuInS、CuGaS、Cu(in、Ga)S、CuIn(Se、S)(CISS)、CuGa(Se、S)(CGSS)及びCu(In、Ga)(Se、S)(CIGSS)で表し、包括的にCIS系太陽電池と表現する。CIS系太陽電池は、一般にガラスを基板として5個の単位薄膜である背面電極、光吸収層、バッファ層、前面透明電極、反射防止膜を順次形成させて作る。単位薄膜別では多様な種類の材料と組成、製造方法では各種物理的、化学的薄膜製造方法が使用され得る。
CIS系太陽電池の光吸収層は、一般に同時蒸着(co-evaporation)法、スパッタリング(Sputtering)法など真空技術を用いた物理蒸着方式で製造される。同時蒸着法は、真空チャンバ内に設置された小さな電気炉の内部に各元素(Cu、In、Ga、Se)を入れ、これを加熱して基板に真空蒸着させて薄膜を製作する技術であって、米国の国立再生エネルギー研究所(NREL)でこの方法を用いて19.5%のエネルギー変換効率を示すCIGS太陽電池を製作した。しかしながら、この方法は高真空技術を用いるため、初期の投資費用が多くかかり、大面積化が難しい。また、進攻装置内部の汚染が深刻であり、持続的に再現性のある薄膜を製作し難い。スパッタリング法は、比較的に装置が簡単であり、容易に金属又は絶縁体を蒸着できることから、幅広く活用されている技術である。シェルソーラー(Shell Solar)では銅とガリウム合金ターゲットとインジウムターゲットを順次スパッタリングして銅-ガリウム-インジウム合金薄膜を製作した後、セレン化水素(HSe)ガス雰囲気で熱処理してCIGS薄膜を製作している。この方法は同時蒸着法に比べて相対的に製造が容易であると長所はあるが、これも真空技術を用いるため、大面積化には限界があり、初期の投資費用が多くかかるという短所がある。
同時蒸着法とスパッタリング法は、太陽電池の大面積生産を相対的に難しくし、製造コストを高めて太陽電池の価格競争力を低下させる主因となっている。このような問題に対する1つの代案として、真空技術を用いた物理蒸着法ではなく、ナノ粒子をスプレー、スクリーンプリンティング、インクジェットプリンティング、ドクターブレード及びスピンキャスティングなどの方法で基板に蒸着した後、熱処理を通じて太陽電池の光吸収層を製造するナノ粉末工程法に対する研究が進められている。図1は、ナノ粉末工程法を用いた光吸収層の製造過程を概略的に示す図であり、ナノ粉末工程法によれば、図1に示すように、ナノ粒子101を製造して基板103上に塗布し、ナノ粒子を熱処理して多結晶薄膜102を形成する過程を通じて光吸収層薄膜を製造する。
ナノ工程法で太陽電池の光吸収層を製造するためには、まず該当元素を含むナノ粒子前駆体の合成が先行しなければならない。前駆体物質は、化学組成によって大きくCIS、CIGSナノ粒子とCu-In-O、Cu-In-Ga-Oなどの二元又は三元化合物の酸化物ナノ粒子とに分けられる。
下記の特許文献1は、超音波噴霧技法(ultrasonic nebulizer)で三元化合物の酸化物(e.g. CuIn1.50.5、CuIn、CuO-In)をマイクロメートル以下の大きさで合成し、これを溶液又はペースト状にして薄膜を形成した後、還元雰囲気で熱処理してCIS薄膜を形成する技術を報告したが、粒子の平均大きさが数百ナノで比較的に大きい方であるので、熱処理温度を下げられないという点が短所として指摘される。類似する方法として、下記の特許文献2では水溶液から銅水酸化物(Cu-hydroxide)とインジウム水酸化物(In-hydroxide)を沈殿させて加熱する方法でCu、Inの酸化物を合成し、これを基板に蒸着して薄膜を形成した後、還元雰囲気で熱処理すれば、CIS薄膜を製造できると報告している。しかしながら、これも粒子の大きさがナノミリメートルではなく、マイクロメートルの範ちゅうであり、熱処理温度は550℃前後である。また、酸化物を前駆体として用いるため、酸化物から酸素を除去した後、セレニウムを供給する追加の工程が必要である。
下記の特許文献3によれば、CuI、InI、GaIを溶かしたピリジン溶媒とNaSeを溶かしたメタノール溶媒を低温で反応させてCIGSコロイドを得た後、これをスプレー(spray)などの方法で基板に蒸着させて熱処理すれば、CIGS薄膜が得られると報告している。しかしながら、この方法は溶媒の脱酸素及び脱水分のための前処理が必要であり、全ての過程が不活性雰囲気で行われなければならないという短所がある。一方、下記の非特許文献1はエチレンジアミン(ethylenediamine)とジエチルアミン(diethylamine)溶媒にCuCl、InCl、Se粉末を原料として入れ、溶媒熱法(Solvothermal route)で反応させると、ナノ粒子のCIS化合物を合成できると報告した。しかしながら、溶媒として強塩基性の有毒なアミン化合物(amine compound)を用いるため、前駆体の製造及び分離が難しく、一日以上の長い反応時間、180℃以上の高温を要求する反応であるという点が短所として指摘される。
米国特許公告番号6,268,014号 ヨーロッパ特許公告番号EP 0 978 882 A2号 米国特許登録番号6,126,740号
Yitai Quianら、Adv. Mater. 11(17)、1456-1459(1999)
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、均一な大きさのI-III-VIナノ粒子前駆体をより環境に優しく、かつ容易な方法で合成し、これを基板に蒸着させて薄膜を形成した後、熱処理して所望する組成の太陽電池用光吸収層をより簡便に製造できる方法を提供することにある。
前記技術的課題を達成するために、本発明は、(a1)I族原料、III族原料及びVI族原料を溶媒と共に混合して混合溶液を製造する段階と、(a2)前記混合溶液を超音波処理する段階と、(a3)前記超音波処理された混合溶液から溶媒を分離する段階と、(a4)前記(a3)段階から得られた結果物を乾燥させてナノ粒子を得る段階とを含むことを特徴とするI-III-VIナノ粒子の製造方法を提供する。
また、本発明は、(S1)前記本発明に係るナノ粒子の製造方法を用いてI-III-VIナノ粒子を製造する段階と、(S2)前記ナノ粒子を基板に蒸着する段階と、(S3)前記基板に蒸着されたナノ粒子をセレニウム(Se)、硫黄(S)、非活性気体又はこれらの混合気体雰囲気で熱処理して多結晶I-III-VI薄膜を形成する段階とを含むことを特徴とする多結晶光吸収層薄膜の製造方法を提供する。
本発明によれば、超音波を用いた破砕分散を通じて均一な大きさのI-III-VIナノ粒子前駆体を合成し、薄膜を製造した後、熱処理工程などを通じて容易に所望する組成の多結晶光吸収層薄膜を得ることができるという効果を奏する。また、本発明によれば、既存の酸素除去工程が不要であるため、従来の製造工程を簡素化でき、製造コストを大幅に低減できるものと期待される。更に、大量生産が可能であり、製造時に用いられる溶剤は化学的に安定的かつ人体に無害であり、製造工程において再使用が可能な点で環境に優しい方法であるため、産業上、その利用が大きく期待される。
ナノ粉末工程法を用いた光吸収層の製造過程を概略的に示す図である。 本発明の多結晶光吸収層薄膜の製造方法による製造工程図である。 実施例で用いられた超音波処理処置の概略図である。 実施例1によって製造されたCuInSeナノ粒子の走査電子顕微鏡測定写真である。 実施例1によって製造されたCuInSeナノ粒子のEDS測定写真である。 実施例1によって製造されたCuInSeナノ粒子のX‐線回折分析グラフである。 実施例2〜5によって製造されたCuInSeナノ粒子のX‐線回折分析グラフである。 実施例6によって製造されたCu(In、Ga)Seナノ粒子の走査電子顕微鏡測定写真である。 実施例6によって製造されたCu(In、Ga)Seナノ粒子のEDS測定写真である。 実施例6によって製造されたCu(In、Ga)Seナノ粒子のX‐線回折分析グラフである。 実施例6によって製造されたCu(In、Ga)Seナノ粒子の透過電子顕微鏡測定写真である。 実施例6によって製造されたCu(In、Ga)Seナノ粒子のCu、In、Ga及びSeに対する分布マッピング(X-Ray Mapping)写真である。 実施例7によって製造されたCuInSナノ粒子の走査電子顕微鏡測定写真である。 実施例7によって製造されたCuInSナノ粒子のEDS測定写真である。 実施例7によって製造されたCuInSナノ粒子のX‐線回折分析グラフである。 実施例7によって製造されたCuInSナノ粒子のラマン分析グラフである。 本発明の実施例8によって製造されたCu(In、Ga)Sナノ粒子の走査電子顕微鏡測定写真である。 本発明の実施例8によって製造されたCu(In、Ga)Sナノ粒子のEDS測定写真である。 本発明の実施例8によって製造されたCu(In、Ga)Sナノ粒子のX‐線回折分析グラフである。 本発明の実施例8によって製造されたCu(In、Ga)Sナノ粒子のラマン分析グラフである。 実施例9の熱処理前にナノ粒子薄膜の走査電子顕微鏡で測定した前面写真である。 熱処理後の多結晶CuInSe薄膜とCu(In、Ga)Se薄膜のX‐線回折分析グラフである。 走査電子顕微鏡で測定した多結晶CuInSe薄膜の前面写真である。 走査電子顕微鏡で測定した多結晶CuInSe薄膜の側面写真である。
前記のような技術的課題を解決するために、鋭意研究を重ねていた本発明者らは、各原料物質を混合して所定の条件で超音波処理する場合、CuInSe、Cu(In、Ga)Se、CuGaSe、CuInS、Cu(In、Ga)S、CuGaS、CuIn(Se、S)、CuGa(Se、S)及びCu(In、Ga)(Se、S)ナノ粒子の製造が可能であり、これを用いて薄膜を製造し、セレニウム(Se)、硫黄(S)、非活性気体又はこれらの混合気体雰囲気で熱処理を施す場合、多様な種類の多結晶CIS系薄膜をより簡単に製造できるという点を見出し、本発明を完成するに至った。
図2に示すように、本発明の多結晶光吸収層薄膜の製造方法は、(S1)超音波を用いてI-III-VIナノ粒子を製造する段階と、(S2)前記ナノ粒子を基板に蒸着する段階と、(S3)前記基板に蒸着されたナノ粒子をセレニウム(Se)、硫黄(S)、非活性気体又はこれらの混合気体雰囲気で熱処理して多結晶I-III-VI薄膜を形成する段階とを含む。
超音波を用いてI-III-VIナノ粒子を製造する段階は、具体的に、(a1)I族原料、III族原料及びVI族原料を溶媒と共に混合して混合溶液を製造する段階と、(a2)前記混合溶液を超音波処理する段階と、(a3)前記超音波処理された混合溶液から溶媒を分離する段階と、(a4)前記(a3)段階から得られた結果物を乾燥させてナノ粒子を得る段階とを含んでなることができる。このような過程を通じて、CuInSe、CuGaSe、Cu(In、Ga)Se、CuInS、CuGaS、Cu(In、Ga)S、CuIn(Se、S)、CuGa(Se、S)及びCu(In、Ga)(Se、S)ナノ粒子が得られる。
混合溶液の製造のために用いられる溶媒は、反応特性を改善するために水又はアルコール系有機溶剤に窒素系錯化剤(N-chelants)が添加され、選択的にイオン性液体が添加され得る。
アルコール系有機溶剤及び水は溶液内で不活性組成物として作用するため、ナノ粒子を合成した後、再活用が可能である。また、高い沸点のため、高い温度の反応でも溶液が損失することなく、有用に使用され得る。アルコール系有機溶剤として、例えば、メタノール(methanol)、エタノール(ethanol)、プロパノール(propanol)、イソプロパノール(isopropanol)、ブタノール(butanol)、イソブタノール(isobutanol)、3-メチル-3-メトキシブタノール(3-methyl-3-methoxy butanol)、トリデシルアルコール(tridecyl alcohol)、ペンタノール(pentanol)、エチレングリコール(ethylene glycol)、プロピレングリコール(propylene glycol)、ジエチレングリコール(diethylene glycol)、トリエチレングリコール(triethylene glycol)、ポリエチレングリコール(polyethylene glycol)、ジプロピレングリコール(dipropylene glycol)、へキシレングリコール(hexylene glycol)、ブチレングリコール(butylene glycol)、スクロース(sucrose)、ソルビトール(sorbitol)及びグリセリン(glycerin)などの2価、3価又は多価脂肪族アルコールなどを使用できる。
窒素系錯化剤は、溶液内で錯化剤(complexing agent)としての機能をする窒素化合物で原料と錯イオンを形成することで、反応を促進する役割をする。窒素系錯化剤としては、例えば、ジエチルアミン(dimethyl amine)、トリエチルアミン(triethylamine)、ジエチレンジアミン(diethylene diamine)、ジエチレントリアミン(diethylene triamine)、トルエンジアミン(toluene diamine)、m-フェニレンジアミン(m-phenylenediamine)、ジフェニルメタンジアミン(diphenyl methane diamine)、ヘキサメチレンジアミン(hexamethylene diamine)、トリエチレンテトラミン(triethylene tetramine)、テトラエチレンペンタミン(tetraethylenepentamine)、ヘキサメチレンテトラミン(hexamethylenete tramine)、4,4-ジアミノジフェニルメタン(4,4-diaminodiphenyl methane)、ヒドラジン(hydrazine)、ヒドラジド(hydrazide)、チオアセトアミド(thioacetamide)、ウレア(urea)、チオ尿素(thiourea)などが使用され得る。大部分の窒素化合物が強塩基であり、毒性が強くて使用が容易でないため、溶液内でナノ粒子を合成するのに必要な濃度範囲内で最少の量で添加することが好ましい。
イオン性液体は補助錯化剤(auxiliary chelants)として添加され、錯化剤によって選択的に用いられる。イオン性液体は、添加された窒素系錯化剤の効果が反応を進行させるのに不十分な場合、錯化剤により形成された金属錯イオンを安定化させ、反応を促進する機能をする。溶媒に添加されるイオン性液体は、脂溶性又は水溶性であってもよく、アルキルアンモニウム(alkyl amonium)、アルキルピリジニウム(N-alkyl pyridinium)、アルキルピリダジニウム(N-alkyl pyridazinium)、アルキルピリミジニウム(N-alkyl pyrimidinium)、アルキルピラジニウム(N-alkyl pyrazinium)、アルキルイミダゾリウム(N,N-alkyl imidazolium)、アルキルピラゾリウム(N-alkyl pyrazolium)、アルキルチアゾリウム(N-alkyl thiazolium)、アルキルオキサゾリウム(N-alkyl oxazolium)、アルキルトリアゾリウム(N-alkyl triazolium)、アルキルホスホニウム(N-alkyl phosphonium)及びアルキルピロリジニウム(N-alkyl pyrolidinium)又はこれらの誘導体のようなカチオンと、ヘキサフルオロアンチモネート(hexafluoroantimonate、SbF-)、ヘキサフルオロホスフェート(hexafluorophosphate、PF-)、テトラフルオロボラート(tetrafluoroborate、BF-)、ビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミド(bis(trifluoromethylsulfonyl)amide、(CFSO)N-)、トリフルオロメタンスルホネート(trifluoromethanesulfonate、CFSO-)、アセテート(acetate、OAc-)、又は硝酸(nitrate、NO-)などのアニオンを含んでなる。
I-III-VIナノ粒子の製造時、I族原料としては銅又は銅化合物が、III族原料としてはインジウム、インジウム化合物、ガリウム又はガリウム化合物が、VI族原料としてはセレニウム、セレニウム化合物、硫黄又は硫黄化合物が利用され得る。選択される原料によって、Cu(In Ga1- )(Se 1- )(0<x<1、0<y<1)、CuIn Ga1- Se(0<x<1)、CuIn Ga1- (0<x<1)、CuIn(Se 1- )(0<y<1)、CuGa(Se 1- )(0<y<1)、CuGaSe、CuGaS、CuInSe、CuInSナノ粒子を製造できる。
前記銅化合物としてはCuO、CuO、CuOH、Cu(OH)、Cu(CHCOO)、Cu(CHCOO)、CuF、CuCl、CuCl、CuBr、CuBr、CuI、Cu(ClO)、Cu(NO)、CuSO、CuSe、Cu2− Se(0<x<2)、CuSe又はこれらの水化物が、前記インジウム化合物としてはIn、In(OH)、In(CHCOO)、InF、InCl、InCl、CInBr、InBr、InI、InI、In(ClO)、In(NO)、In(SO)、InSe、InGaSe又はこれらの水化物が、前記ガリウム化合物としてはGa、Ga(OH)、Ga(CHCOO)、GaF、GaCl、GaCl、GaBr、GaBr、GaI、GaI、Ga(ClO)、Ga(NO)、Ga(SO)、GaSe、InGaSe又はこれらの水化物が、前記セレニウム化合物としてはSe、HSe、NaSe、KSe、CaSe、(CH)Se、CuSe、Cu2− Se(0<x<2)、CuSe、InSe又はこれらの水化物が、前記硫黄化合物としてはチオアセトアミド(thioacetamide)、チオ尿素(thiourea)、チオアセト酸(thioacetic acid)、アルキルチオール(alkyl thiol)又は硫化ナトリウム(Sodium sulfide)が利用され得る。
本発明において超音波処理は、-13〜200℃の温度で1時間以上行うことが好ましい。温度が低いか、反応時間が短ければ、反応が起こらなかったり、付加生成物と共に得られるおそれがある。処理温度及び処理時間が前記上限を超えるのは工程効率を考慮する時、好ましくない。超音波処理の後、溶媒は分離して再活用でき、溶媒の分離は濾過器、遠心分離器などを用いた分離方法を使用できる。
本発明によって製造されたナノ粒子は超音波の合成時に反応に添加されるCu、In、Ga、Se及びS原料化合物の割合を調節することで、Cu、In、Se及びSの化学量論比(stoichiometric ratio)を決定できる。例えば、CuIn0.7Ga0.3Seナノ粒子を合成するためには、Cu、In、Ga、Se原料化合物をそれぞれ1.0:0.7:0.3:2.0のモル比で混合して反応に添加することが好ましい。
得られたナノ粒子はインキ(ink)又はペースト(paste)状にしてスプレー、スクリーンプリンティング、インクジェットプリンティング、ドクターブレード及びスピンキャスティングなどの方法で基板に蒸着する。ナノ粒子が蒸着された基板はセレニウム(Se)、硫黄(S)、非活性気体やこれらの混合気体の雰囲気で熱処理して多結晶光吸収層薄膜で製造できる。このとき、熱処理温度は350〜550℃にすることが好ましい。
以下、好適な実施例を挙げて本発明を更に具体的に説明するが、本発明の実施例は多様に変形されることができ、本発明の範囲が好適な実施例によって限定されるものではない。
本発明によってCuInSeナノ粒子前駆体を製造するために、Tiホーン(horn)203が備えられた超音波発生装置201、反応器202、恒温槽204、及び加熱器205からなる棒状形超音波処理装置器を設置した。設置された実験装置の概略図を図3に示した。
本発明で用いた超音波装置はSONICS & MATERIALS社製(モデル名VCX750)の棒状形超音波発生装置101であって、周波数は20kHzであり、出力は200Wに固定して反応を進めた。温度を一定に維持するために恒温槽104を使用した。
実施例1(CuInSe ナノ粒子の製造)
1:1:2のモル比でCu(CHCOO)、In(CHCOO)及びSe粉末を反応器102に入れた。トリエチレンテトラミン、1-ブチル-3-メチルイミダゾリウムトリフルオロメタンスルホネート及びアルコール系有機溶剤で反応器を満たし、100℃で4時間超音波処理した後、自然冷却させた。生成物は遠心分離して溶媒を分離し、蒸留水とエタノールで数回繰り返して洗浄した後、80℃の常圧雰囲気で4時間乾燥させた。
得られたCuInSeナノ粒子の組成に対する定性分析と粒度分布を調べるために、EDS(Energy Dispersive Spectroscopy)と走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope、SEM)を測定してその結果を図4と図5に示した。最終的に得られた生成物がCu:In:Seの組成比が0.96:1.00:2.04である粒径100nm〜150nmの粒子からなっていることが確認できる。得られた生成物の相を確認するために粉末用X‐線回折分析(X-ray Diffraction、XRD)が用いられ、その分析結果を図6に示した。生成物のX‐線回折パターンは正方晶系であるCIS上の主ピーク112、204/220、312/116に対応した。これは、得られたCISナノ粒子が正方晶系の結晶構造を有するということを裏付ける。
実施例2(溶媒の最初の再活用)
実施例1から遠心分離して分離された溶媒を再使用してCuInSeナノ粒子を合成した。まず、Cu(CHCOO)、In(CHCOO)及びSe粉末を1:1:2のモル比で反応器に入れた。実施例1から得られた溶媒で反応器を満たし、超音波処理した後、自然冷却させた。生成物は遠心分離して溶媒を分離し、蒸留水とアルコールで数回繰り返して洗浄した後、80℃の常圧雰囲気で4時間乾燥させた。得られたナノ粒子の粉末X‐線回折分析グラフを図7(a)に示した。
実施例3(溶媒の2度目の再活用)
実施例2から遠心分離して分離された溶媒を再使用してCuInSeナノ粒子を合成した。Cu、In、Se原材料を反応器に入れ、実施例3から得られた溶媒で反応器を満たした後、超音波を溶液に印加した。その後の段階は実施例2と同一に進めてナノ粒子粉末を製造した。得られたナノ粒子の粉末X‐線回折分析グラフを図7(b)に示した。
実施例4(溶媒の3度目の再活用)
実施例3から遠心分離して分離された溶媒を再使用してCuInSeナノ粒子を合成した。Cu、In、Se原材料を反応器に入れ、実施例3から得られた溶媒で反応器を満たした後、超音波を溶液に印加した。その後の段階は実施例2と同一に進めてナノ粒子粉末を製造した。得られたナノ粒子の粉末X‐線回折分析グラフを図7(c)に示した。
実施例5(溶媒の4度目の再活用)
実施例4から遠心分離して分離された溶媒を再使用してCuInSeナノ粒子を合成した。Cu、In、Se原材料を反応器に入れ、実施例3から得られた溶媒で反応器を満たした後、超音波を溶液に印加した。その後の段階は実施例2と同一に進めてナノ粒子粉末を製造した。得られたナノ粒子の粉末X‐線回折分析グラフを図7(d)に示した。
図7は、実施例1で分離された溶媒を継続的に再使用して合成したCISナノ粒子に対するそれぞれのX‐線回折結果であって、共通して(典型的なCIS正方晶系結晶構造の112方向に沿って配向されていることを示す)2θ=26.6°でのピークを観察できる。これはナノ粒子の合成に一度用いられた溶媒が追加の供給なしに継続的にナノ粒子の合成に再使用され得ることを示す結果であって、本発明が非常に経済的で、かつ環境に優しい工程であることを示す。
実施例6(Cu(In、Ga)Se ナノ粒子の製造)
CuCl、In(CHCOO)、Ga(NO)及びSe粉末を1.0:0.7:0.3:2.0のモル比で窒素系錯化剤とアルコール系有機溶剤が入った反応器で混合し、80℃で4時間超音波処理した後、自然冷却させた。最終生成物は遠心分離器を用いて溶媒と分離し、蒸留水とアルコール系溶媒で2回以上繰り返し洗浄して副産物を全て除去した後、80℃の常圧雰囲気で4時間乾燥させた。
得られた生成物の組成に対する定性分析、粒度分布及び最終生成物の相を確認するために、EDS、走査電子顕微鏡、粉末用X‐線回折分析を測定し、その結果をそれぞれ図8、図9、及び図10に示した。これらは最終的に得られた生成物がCu:In:Ga:Seの成分比が0.96:0.62:0.33:2.09からなる粒径約37nmの微細な粒子が互いに塊になっていることを示す。生成物のX‐線回折パターンは正方晶系であるCIGS上の主ピーク112、204/220、312/116に対応した。
図11は、得られた生成物の透過電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope、TEM)写真であり、最終生成物が0.20nmと0.32nmの格子間隔(lattice spacing)を有するものと測定された。これは、生成物のX‐線回折パターン(図8)の112、204/220方向とも一致する結果である。
図12は、得られた生成物の成分別分布マッピング(X-Ray Mapping)を測定した結果である。Cu、In、Ga、Se元素が均一に分布していることを示す。これは、生成物が各元素の物理的な混合物ではなく、CIGS化合物からなっていることを裏付ける。
実施例7(CuInS ナノ粒子の製造)
CuCl、InClとチオアセトアミドを1:1:2のモル比でアルコール系有機溶剤と混合した。混合された溶液は100℃で4時間超音波処理した後、自然冷却させた。生成物は遠心分離器を用いて溶媒と分離し、蒸留水とエタノールで数回繰り返して洗浄して副産物を除去した後、80℃の常圧雰囲気で乾燥させた。
得られた生成物の組成に対する定性分析と粒度分布を調べるために、各元素の特性転移エネルギーを、EDSと走査電子顕微鏡を測定してその結果を図13と図14に示した。これを通じて最終的に得られた生成物がCu:In:Sの組成比が1.03:1.00:1.97である粒径20nm〜60nmの粒子で構成されていることが分かる。得られた生成物の相を確認するために、粉末用X‐線回折分析とラマン分光器(Raman Spectroscopy)が用いられ、その分析結果が図15と図16に示されている。図15から分かるように、2theta=27.9°近傍でCuInSに該当する112ピークを観察できる。他の主要ピークもCuInSの020、024/220、116/312、040方向に該当することが分かる。生成物のラマン分光測定結果を示す図16は290cm-1で単一ピークのみを示すが、これは化学量論比が合うCuInSの格子振動のA modeに該当する。
実施例8(Cu(In、Ga)S ナノ粒子の製造)
CuCl、In(CHCOO)、Ga粉末及びSe粉末を1.0:0.7:0.3:2.0のモル比で反応器に入れ、アルコール系有機溶剤と混合した。混合された溶液は100℃で4時間超音波処理した後、自然冷却させた。生成物は遠心分離器を用いて溶媒と分離し、蒸留水とアルコールで数回繰り返して洗浄して副産物を除去した後、80℃の常圧雰囲気で乾燥させた。
得られた生成物の組成に対する定性分析、粒度分布及び最終生成物の相を確認するために、EDS、走査電子顕微鏡、粉末用X‐線回折分析及びラマン分光を測定し、その結果をそれぞれ図17、図18、図19及び図20に示した。SEMとEDS結果は最終生成物がCu:In:Ga:Sの成分比が1.09:0.65:0.37:1.89からなる粒径約60nm以下の微細な粒子で構成されていることを示す。ラマン分光測定結果、290cm-1での単一ピークのみが観察された。X‐線回折分析は最終生成物の112ピーク(28.28°)が実施例1で得られたCuInS(27.94°)より高い回折角を有していることを示す。一般に、CuInS、CuInSeなどの化合物にIn元素より小さいGa元素が一部添加されると、より高い回折角でピークが観察される。最終生成物としては、CuIn0.65Ga0.35ナノ粒子が合成された。
実施例9(多結晶光吸収層薄膜の製造)
ナノ粒子前駆体が蒸着された基板を熱処理を通じて多結晶CIS系薄膜として製造するために、まず実施例7、8で得られたナノ粒子を水、アルコールなどの溶液に分散させ、ドクターブレード及びスピンキャスティングなどの方法で基板に蒸着した。図21は、ドクターブレード方法によりCuInSナノ粒子が蒸着された基板を撮影した走査電子顕微鏡写真である。ナノ粒子薄膜はそれぞれSe気体雰囲気の下で所定の温度で所定時間加熱した。CuInSナノ粒子薄膜は500℃で20分間、CuIn0.65Ga0.35ナノ粒子薄膜は450℃で15分間加熱した後、自然冷却させた。
熱処理したナノ粒子薄膜のX‐線回折分析測定結果を図22に示した。CuInSナノ粒子薄膜は熱処理の後、Se気体により多結晶CuInSe(CIS)薄膜となった。CuIn0.65Ga0.35ナノ粒子薄膜は熱処理後、主要X‐線回折分析ピークがCuIn0.7Ga0.3Se化合物とCuIn0.5Ga0.5Se化合物の有する回折角の間で観察された。従って、CuIn0.65Ga0.35薄膜がSe気体により多結晶CuIn0.65Ga0.35(CIGS)薄膜に変換されたことが確認できる。
図23と図24は、本発明によって製造されたCuInSナノ粒子薄膜を熱処理して製造したCuInSe薄膜の走査電子顕微鏡の前面写真と側面写真である。加熱による熱とSe気体によりCuInSナノ粒子薄膜から0.9μm〜2.0μmの粒径を有する、厚さ約3.0μmの多結晶CuInSe薄膜が製造されたことが分かる。
なお、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、本発明に係る技術的思想の範囲から逸脱しない範囲内で様々な変更が可能であり、それらも本発明の技術的範囲に属する。
101 CuInξGa1‐ξナノ粒子前駆体
102 Cu(InξGa1‐ξ)(Seψ1‐ψ)多結晶
103 基板
201 超音波発生装置
202 反応器
203 Tiホーン(horn)
204 恒温槽
205 加熱器

Claims (23)

  1. 太陽電池の多結晶光吸収層薄膜用I-III-VIナノ粒子の製造方法であって、
    (a1)I族原料、III族原料及びVI族原料を窒素系錯化剤及び水又はアルコール系有機溶剤を含む溶媒と共に混合して混合溶液を製造する段階と、
    (a2)前記混合溶液を超音波処理する段階と、
    (a3)前記超音波処理された混合溶液から溶媒を分離する段階と、
    (a4)前記(a3)段階から得られた結果物を乾燥させてナノ粒子を得る段階と
    を含むことを特徴とするI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  2. 前記溶媒は、イオン性液体を更に含むことを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  3. 前記窒素系錯化剤は、
    ジエチルアミン(diethyl amine)、トリエチルアミン(triethylamine)、ジエチレンジアミン(diethylene diamine)、ジエチレントリアミン(diethylene triamine)、トルエンジアミン(toluene diamine)、m-フェニレンジアミン(m-phenylenediamine)、ジフェニルメタンジアミン(diphenylmethane diamine)、ヘキサメチレンジアミン(hexamethylene diamine)、トリエチレンテトラミン(triethylene tetramine)、テトラエチレンペンタミン(tetraethylenepentamine)、ヘキサメチレンテトラミン(hexamethylene tetramine)、4,4-ジアミノジフェニルメタン(4,4-diaminodiphenyl methane)を含むアミン化合物とヒドラジン(hydrazine)、ヒドラジド(hydrazide)、チオアセトアミド(thioacetamide)、ウレア(urea)及びチオ尿素(thiourea)からなる群より選択された1種又は2種以上を含むことを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  4. 前記アルコール系有機溶剤は、
    メタノール(methanol)、エタノール(ethanol)、プロパノール(propanol)、イソプロパノール(isopropanol)、ブタノール(butanol)、イソブタノール(isobutanol)、3-メチル-3-メトキシブタノール(3-methyl-3-methoxy butanol)、トリデシルアルコール(tridecyl alcohol)、ペンタノール(pentanol)、エチレングリコール(ethylene glycol)、プロピレングリコール(propylene glycol)、ジエチレングリコール(diethylene glycol)、トリエチレングリコール(triethylene glycol)、ポリエチレングリコール(polyethylene glycol)、ジプロピレングリコール(dipropylene glycol)、へキシレングリコール(hexylene glycol)、ブチレングリコール(butylene glycol)、スクロース(sucrose)、ソルビトール(sorbitol)及びグリセリン(glycerin)からなる群より選択された1種又は2種以上を含むことを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  5. 前記イオン性液体は、
    アルキルアンモニウム(alkyl amonium)、アルキルピリジニウム(N-alkyl pyridinium)、アルキルピリダジニウム(N-alkyl pyridazinium)、アルキルピリミジニウム(N-alkyl pyrimidinium)、アルキルピラジニウム(N-alkyl pyrazinium)、アルキルイミダゾリウム(N,N-alkyl imidazolium)、アルキルピラゾリウム(N-alkyl pyrazolium)、アルキルチアゾリウム(N-alkyl thiazolium)、アルキルオキサゾリウム(N-alkyl oxazolium)、アルキルトリアゾリウム(N-alkyl triazolium)、アルキルホスホニウム(N-alkyl phosphonium)及びアルキルピロリジニウム(N-alkyl pyrolidinium)からなる群より選択される化合物又は前記化合物の誘導体のカチオン、ヘキサフルオロアンチモネート(hexafluoroantimonate、SbF _)、ヘキサフルオロホスフェート(hexafluorophosphate、PF-)、テトラフルオロボラート(tetrafluoroborate、BF-)、ビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミド(bis(trifluoromethylsulfonyl)amide、(CFSO)N-)、トリフルオロメタンスルホネート(trifluoromethanesulfonate、CFSO-)、アセテート(acetate、OAc-)及び硝酸(nitrate、NO-)からなる群より選択されるアニオンを含むことを特徴とする請求項2に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  6. 前記(a2)段階で超音波処理温度は-13〜200℃であることを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  7. 前記(a2)段階で超音波処理は1〜24時間行われることを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  8. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はインジウム、インジウム化合物、ガリウム又はガリウム化合物であり、
    前記VI族原料はセレニウム、セレニウム化合物、硫黄又は硫黄化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子として、Cu(InGa1‐x)(Se1‐y)(0<x<1、0<y<1)ナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  9. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はインジウム、インジウム化合物、ガリウム又はガリウム化合物であり、
    前記VI族原料はセレニウム又はセレニウム化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子として、CuInGa1‐xSe(0<x<1)ナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  10. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はインジウム、インジウム化合物、ガリウム及びガリウム化合物であり、
    前記VI族原料は硫黄又は硫黄化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子として、CuInGa1‐x(0<x<1)ナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  11. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はインジウム又はインジウム化合物であり、
    前記VI族原料はセレニウム、セレニウム化合物、硫黄又は硫黄化合物であり、
    前記I-III-VI2ナノ粒子として、CuIn(Se1‐y)(0<y<1)ナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  12. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はガリウム又はガリウム化合物であり、
    前記VI族原料はセレニウム、セレニウム化合物、硫黄又は硫黄化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子として、CuGa(Se1‐y)(0<y<1)ナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  13. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はガリウム又はガリウム化合物であり、
    前記VI族原料はセレニウム又はセレニウム化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子として、CuGaSeナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  14. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はガリウム又はガリウム化合物であり、
    前記VI族原料は硫黄又は硫黄化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子として、CuGaSナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  15. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はインジウム又はインジウム化合物であり、
    前記VI族原料はセレニウム又はセレニウム化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子としてCuInSeナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  16. 前記I族原料は銅又は銅化合物であり、
    前記III族原料はインジウム又はインジウム化合物であり、
    前記VI族原料は硫黄又は硫黄化合物であり、
    前記I-III-VIナノ粒子としてCuInSナノ粒子を製造することを特徴とする請求項1に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  17. 前記銅化合物は、
    CuO、CuO、CuOH、Cu(OH)、Cu(CHCOO)、Cu(CHCOO)、CuF、CuCl、CuCl、CuBr、CuBr、CuI、Cu(ClO)、Cu(NO)、CuSO、CuSe、Cu2−xSe(0<x<2)、CuSe及びこれらの水化物からなる群より選択された1種又は2種以上を含むことを特徴とする請求項8〜16の何れか一項に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  18. 前記インジウム化合物は、
    In、In(OH)、In(CHCOO)、InF、InCl、InCl、CInBr、InBr、InI、InI、In(ClO)、In(NO)、In(SO)、InSe、InGaSe及びこれらの水化物からなる群より選択された1種又は2種以上を含むことを特徴とする請求項8〜11、15及び16の何れか一項に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  19. 前記ガリウム化合物は、
    Ga、Ga(OH)、Ga(CHCOO)、GaF、GaCl、GaCl、GaBr、GaBr、GaI、GaI、Ga(ClO)、Ga(NO)、Ga(SO)、GaSe、InGaSe及びこれらの水化物からなる群より選択された1種又は2種以上を含むことを特徴とする請求項8〜10及び12〜14の何れか一項に記載のI-III-VI2ナノ粒子の製造方法。
  20. 前記セレニウム化合物は、
    Se、HSe、NaSe、KSe、CaSe、(CH)Se、CuSe、Cu2−xSe(0<x<2)、CuSe、InSe及びこれらの水化物からなる群より選択された1種又は2種以上を含むことを特徴とする請求項8、9、11〜13及び15の何れか一項に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  21. 前記硫黄化合物は、
    チオアセトアミド(thioacetamide)、チオ尿素(thiourea)、チオアセト酸(thioacetic acid)、アルキルチオール(alky thiol)及び硫化ナトリウム(Sodium sulfide)からなる群より選択された1種又は2種以上を含むことを特徴とする請求項8、10〜12、14及び16の何れか一項に記載のI-III-VIナノ粒子の製造方法。
  22. (S1)請求項1〜16の中から選択された何れか一項によるナノ粒子の製造方法を用いてI-III-VIナノ粒子を製造する段階と、
    (S2)前記ナノ粒子を基板に蒸着する段階と、
    (S3)前記基板に蒸着されたナノ粒子をセレニウム(Se)、硫黄(S)、非活性気体又はこれらの混合気体雰囲気で熱処理して多結晶I-III-VI薄膜を形成する段階と
    を含むことを特徴とする太陽電池の多結晶光吸収層薄膜の製造方法。
  23. 前記(S3)段階で熱処理温度は350〜600℃であることを特徴とする請求項22に記載の太陽電池の多結晶光吸収層薄膜の製造方法。
JP2010502953A 2007-11-14 2008-06-17 I−iii−vi2ナノ粒子の製造方法及び多結晶光吸収層薄膜の製造方法 Expired - Fee Related JP5325874B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2007-0116189 2007-11-14
KR20070116189 2007-11-14
KR10-2008-0055227 2008-06-12
KR1020080055227A KR101030780B1 (ko) 2007-11-14 2008-06-12 Ⅰ-ⅲ-ⅵ2 나노입자의 제조방법 및 다결정 광흡수층박막의 제조방법
PCT/KR2008/003421 WO2009064056A1 (en) 2007-11-14 2008-06-17 Synthesis of i-iii-vi2 nanoparticles and fabrication of polycrystalline absorber layers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010526007A JP2010526007A (ja) 2010-07-29
JP5325874B2 true JP5325874B2 (ja) 2013-10-23

Family

ID=40858582

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010502953A Expired - Fee Related JP5325874B2 (ja) 2007-11-14 2008-06-17 I−iii−vi2ナノ粒子の製造方法及び多結晶光吸収層薄膜の製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7955586B2 (ja)
EP (1) EP2134644A4 (ja)
JP (1) JP5325874B2 (ja)
KR (2) KR101030780B1 (ja)
WO (1) WO2009064056A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7467023B2 (ja) 2016-09-16 2024-04-15 セラニーズ・インターナショナル・コーポレーション 繊維材料の包装のための方法

Families Citing this family (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101144807B1 (ko) * 2007-09-18 2012-05-11 엘지전자 주식회사 태양전지 박막조성용 잉크와 그 제조방법, 이를 이용한cigs 박막형 태양전지, 및 그 제조 방법
CN101471394A (zh) * 2007-12-29 2009-07-01 中国科学院上海硅酸盐研究所 铜铟镓硫硒薄膜太阳电池光吸收层的制备方法
US9646828B2 (en) 2008-04-02 2017-05-09 Sunlight Photonics Inc. Reacted particle deposition (RPD) method for forming a compound semi-conductor thin-film
KR101311384B1 (ko) * 2008-10-30 2013-09-25 에스케이이노베이션 주식회사 태양광 흡수층의 제조를 위한 무기박막의 제조 방법
JP2010132521A (ja) * 2008-11-10 2010-06-17 Dowa Holdings Co Ltd カルコゲン化合物粉
EP2379458A4 (en) * 2009-01-21 2015-02-11 Purdue Research Foundation SELENIZATION OF A LAYER OF PRECURSORS CONTAINING NANOPARTICLES OF HIDES2
TWI382095B (zh) * 2009-03-04 2013-01-11 Jun Wen Chung 多元金屬硫族元素化合物之製造方法
JP5356150B2 (ja) * 2009-06-12 2013-12-04 Dowaホールディングス株式会社 カルコゲン化合物粉及びカルコゲン化合物ペースト及びそれらの製造方法
US9150741B2 (en) * 2009-07-28 2015-10-06 Chi-Jie Wang Producing method of ink composition for forming absorption layer of thin film cells
US8721930B2 (en) 2009-08-04 2014-05-13 Precursor Energetics, Inc. Polymeric precursors for AIGS silver-containing photovoltaics
US8585936B2 (en) 2009-08-04 2013-11-19 Precursor Energetics, Inc. Methods for photovoltaic absorbers with controlled group 11 stoichiometry
CN102471359A (zh) * 2009-08-04 2012-05-23 普瑞凯瑟安质提克斯公司 用于cis及cigs光伏装置的聚合前体
JP2013501054A (ja) * 2009-08-04 2013-01-10 プリカーサー エナジェティクス, インコーポレイテッド Caigasアルミニウム含有光起電性装置用のポリマー前駆体
US8309179B2 (en) * 2009-09-28 2012-11-13 Rohm And Haas Electronics Materials Llc Selenium/group 1b ink and methods of making and using same
WO2011047198A1 (en) 2009-10-14 2011-04-21 The Regents Of The University Of California Nanocomposite and method of making thereof
JP5782672B2 (ja) * 2009-11-06 2015-09-24 凸版印刷株式会社 化合物半導体薄膜作製用インク、そのインクを用いて得た化合物半導体薄膜、その化合物半導体薄膜を備える太陽電池、及びその太陽電池の製造方法
KR101110214B1 (ko) * 2009-11-19 2012-03-13 한국세라믹기술원 태양전지용 광전변환막의 제조방법
KR101271753B1 (ko) * 2009-11-20 2013-06-05 한국전자통신연구원 박막형 광 흡수층의 제조 방법, 이를 이용한 박막 태양전지 제조 방법 및 박막 태양전지
KR20110060139A (ko) * 2009-11-30 2011-06-08 삼성전자주식회사 태양 전지 제조 방법
US8709917B2 (en) * 2010-05-18 2014-04-29 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Selenium/group 3A ink and methods of making and using same
US8119506B2 (en) * 2010-05-18 2012-02-21 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Group 6a/group 3a ink and methods of making and using same
KR20110128580A (ko) 2010-05-24 2011-11-30 삼성전자주식회사 태양 전지 제조 방법
EP2617064A4 (en) 2010-09-15 2014-07-09 Precursor Energetics Inc METHOD AND DEVICES FOR DEPOSITION FOR PHOTOVOLTAIC ELEMENTS
JP2012066982A (ja) * 2010-09-27 2012-04-05 Murata Mfg Co Ltd 化合物半導体粒子の製造方法
US8282995B2 (en) 2010-09-30 2012-10-09 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Selenium/group 1b/group 3a ink and methods of making and using same
JP2012076976A (ja) * 2010-10-06 2012-04-19 National Institute For Materials Science 硫化物及びセレン化物粉体の合成方法
WO2012077242A1 (ja) * 2010-12-07 2012-06-14 Dowaホールディングス株式会社 カルコゲン化合物粉、カルコゲン化合物ペースト、カルコゲン化合物粉の製造方法、カルコゲン化合物ペーストの製造方法およびカルコゲン化合物薄膜の製造方法
JPWO2012077243A1 (ja) * 2010-12-07 2014-05-19 Dowaホールディングス株式会社 カルコゲン化合物粉及びカルコゲン化合物ペースト及びそれらの製造方法
US8252265B2 (en) * 2011-01-20 2012-08-28 Nanowin Technology Co., Ltd. Method for making a chalcopyrite-type compound
US8329137B2 (en) * 2011-01-20 2012-12-11 Nanowin Technology Co., Ltd. Method for making a chalcopyrite-type compound
CN102649543A (zh) * 2011-02-23 2012-08-29 威奈联合科技股份有限公司 黄铜矿型化合物的制造方法
CN102649542A (zh) * 2011-02-23 2012-08-29 威奈联合科技股份有限公司 黄铜矿型化合物的制造方法
KR101246338B1 (ko) * 2011-03-04 2013-03-21 서울대학교산학협력단 셀레늄화구리인듐 나노입자 및 그의 제조 방법
KR20120131535A (ko) * 2011-05-25 2012-12-05 한국에너지기술연구원 CIGS/CIS 나노입자의 셀렌화에 의한 치밀한 CIGSe/CISe 박막 제조방법
KR20120131536A (ko) * 2011-05-25 2012-12-05 한국에너지기술연구원 고밀도를 갖는 cis계 박막 제조방법
TWI456779B (zh) * 2011-12-28 2014-10-11 Ind Tech Res Inst 光吸收層之改質方法
KR101367760B1 (ko) * 2012-02-02 2014-02-28 한국에너지기술연구원 저온의 녹는점을 갖는 플럭스를 이용한 태양전지용 ci(g)s계 박막의 제조방법 및 그 제조방법에 의해 제조된 ci(g)s계 박막
WO2013122165A1 (ja) * 2012-02-16 2013-08-22 京セラ株式会社 化合物粒子、化合物粒子の製造方法、半導体層の製造方法および光電変換装置の製造方法
EP2647595A2 (en) * 2012-04-03 2013-10-09 Neo Solar Power Corp. Ink composition, chalcogenide semiconductor film, photovoltaic device and methods for forming the same
US9075226B2 (en) 2012-04-06 2015-07-07 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Multi-state IMOD with RGB absorbers
KR101369167B1 (ko) * 2012-07-25 2014-03-14 한국에너지기술연구원 이성분계 나노입자를 포함하는 슬러리의 숙성 단계가 도입된 ci(g)s계 박막의 제조방법 및 그 방법에 의해 제조된 ci(g)s계 박막
KR101388451B1 (ko) * 2012-08-10 2014-04-24 한국에너지기술연구원 탄소층이 감소한 ci(g)s계 박막의 제조방법, 이에 의해 제조된 박막 및 이를 포함하는 태양전지
WO2014028542A1 (en) * 2012-08-13 2014-02-20 Heliovolt Corporation Nanostructured cigs absorber surface for enhanced light trapping
KR101404803B1 (ko) * 2012-11-13 2014-06-13 재단법인대구경북과학기술원 박막 태양전지의 광흡수층 제조 방법 및 이를 이용한 박막 태양전지
KR101432903B1 (ko) * 2012-11-30 2014-08-22 경북대학교 산학협력단 이원계 분말을 이용한 cιs 박막 태양전지 제조 방법
KR101465324B1 (ko) * 2013-04-04 2014-11-28 성균관대학교산학협력단 초음파를 이용한 구리-갈륨 2원계 나노입자의 제조방법 및 이를 이용한 구리-인듐-갈륨 3원계 나노입자의 제조방법
US20140366946A1 (en) * 2013-06-17 2014-12-18 Heliovolt Corporation Multi-layer compound precursor with CuSe thermal conversion to Cu2-xSe for two-stage CIGS solar cell absorber synthesis
CN103343323B (zh) * 2013-07-03 2015-12-23 深圳先进技术研究院 铜铟镓硒薄膜制备方法
JP2015020932A (ja) * 2013-07-19 2015-02-02 株式会社太陽電池総合研究所 カルコパイライトナノ粒子の製造方法
KR101638470B1 (ko) * 2013-07-19 2016-07-11 주식회사 엘지화학 금속 나노 입자를 포함하는 광흡수층 제조용 잉크 조성물 및 이를 사용한 박막의 제조 방법
US9790425B2 (en) * 2014-04-18 2017-10-17 Los Alamos National Security, Llc Synthesis of quantum dots
KR101581331B1 (ko) * 2014-06-11 2015-12-31 한국과학기술원 초음파를 이용한 마이크로-나노 크기를 가지는 금속 또는 금속산화물의 제조방법 및 그에 의해 제조된 금속 또는 금속 산화물
KR101723033B1 (ko) * 2014-11-03 2017-04-04 주식회사 엘지화학 태양전지의 광흡수층 제조용 전구체 및 이의 제조방법
KR101638380B1 (ko) * 2015-02-11 2016-07-11 영남대학교 산학협력단 이원화합물 나노입자의 합성방법, 이를 이용한 이원화합물 나노 잉크 및 이를 이용한 cis 박막 태양전지의 제조방법
US20160380140A1 (en) 2015-06-26 2016-12-29 Los Alamos National Security, Llc Colorless luminescent solar concentrators using colloidal semiconductor nanocrystals
JP2018137371A (ja) * 2017-02-22 2018-08-30 日本放送協会 塗布型半導体前駆体溶液、塗布型酸化物半導体、薄膜トランジスタおよびその製造方法
CN109285900B (zh) * 2018-10-31 2020-06-05 东北林业大学 二维Ga1-xInxSe合金及其制备方法及在制备光电探测中的应用
CN110451574B (zh) * 2019-08-30 2021-03-26 东北大学 黄铜矿纳-微米晶体球状聚集体的合成方法
CN111233029B (zh) * 2020-03-11 2022-02-08 鄂尔多斯应用技术学院 一种Cr掺杂In2S3的中间带材料及其制备方法
CN112147192B (zh) * 2020-08-24 2023-01-17 济南大学 一种金石墨烯和钯氧硫铟化铜检测胰岛素的电化学传感器的制备方法
KR20230066903A (ko) * 2021-11-08 2023-05-16 서울대학교산학협력단 나노입자 및 그 형성 방법

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6126740A (en) 1995-09-29 2000-10-03 Midwest Research Institute Solution synthesis of mixed-metal chalcogenide nanoparticles and spray deposition of precursor films
US6268014B1 (en) * 1997-10-02 2001-07-31 Chris Eberspacher Method for forming solar cell materials from particulars
US6127202A (en) * 1998-07-02 2000-10-03 International Solar Electronic Technology, Inc. Oxide-based method of making compound semiconductor films and making related electronic devices
CN1142099C (zh) * 2000-08-29 2004-03-17 中国科学技术大学 纳米金属硫属化合物的超声化学合成制备方法
JP2003001096A (ja) * 2001-06-22 2003-01-07 Fuji Photo Film Co Ltd 超音波を用いる金属カルコゲナイドコロイド粒子の合成法および該粒子含有光記録媒体
US7663057B2 (en) 2004-02-19 2010-02-16 Nanosolar, Inc. Solution-based fabrication of photovoltaic cell
KR100588604B1 (ko) * 2005-05-04 2006-06-14 한국에너지기술연구원 태양전지 광흡수층용 Cu(InGa)Se₂나노분말제조방법
EP1877342A4 (en) * 2005-05-06 2010-12-29 Transfert Plus Sec PROCESSES FOR PREPARING CHALCOPYRITE COMPOUNDS AND OTHER INORGANIC COMPOUNDS
US20080112878A1 (en) * 2006-11-09 2008-05-15 Honeywell International Inc. Alloy casting apparatuses and chalcogenide compound synthesis methods

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7467023B2 (ja) 2016-09-16 2024-04-15 セラニーズ・インターナショナル・コーポレーション 繊維材料の包装のための方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR101030780B1 (ko) 2011-04-27
KR20110028609A (ko) 2011-03-21
EP2134644A1 (en) 2009-12-23
JP2010526007A (ja) 2010-07-29
US20100120192A1 (en) 2010-05-13
WO2009064056A1 (en) 2009-05-22
KR20090049979A (ko) 2009-05-19
EP2134644A4 (en) 2015-03-04
US7955586B2 (en) 2011-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5325874B2 (ja) I−iii−vi2ナノ粒子の製造方法及び多結晶光吸収層薄膜の製造方法
JP5541782B2 (ja) 多元金属系硫黄化合物及びその製造方法
KR101129194B1 (ko) 고밀도를 갖는 태양전지용 cis계 화합물 박막의 제조방법 및 상기 cis계 화합물 박막을 이용한 박막 태양전지의 제조방법
JP6688832B2 (ja) アンチモンがドープされたナノ粒子
Wei et al. Solvothermal synthesis of Cu2ZnSnS4 nanocrystalline thin films for application of solar cells
JP6302546B2 (ja) 高いクラックフリー限界を有するcigsナノ粒子インキ調製物
Amiri et al. Sonochemical method for preparation of copper indium sulfide nanoparticles and their application for solar cell
Li et al. Environmentally friendly solution route to kesterite Cu 2 ZnSn (S, Se) 4 thin films for solar cell applications
Vahidshad et al. Synthesis of CuFeS2 nanoparticles by one-pot facile method
Das et al. Synthesis of quaternary chalcogenide CZTS nanoparticles by a hydrothermal route
Prabhakar et al. Ultrasonic spray pyrolysis of CZTS solar cell absorber layers and characterization studies
Patel et al. Recent Developments in Cu2 (CZTS) Preparation, Optimization and its Application in Solar Cell Development and Photocatalytic Applications
WO2013180137A1 (ja) 化合物半導体薄膜の作製方法およびその化合物半導体薄膜を備える太陽電池
US9105798B2 (en) Preparation of CIGS absorber layers using coated semiconductor nanoparticle and nanowire networks
KR101064521B1 (ko) Cigs계 미세입자 및 이의 제조 방법
KR101137434B1 (ko) 급속열처리 공정을 사용한 cis계 화합물 박막의 제조방법 및 상기 cis계 화합물 박막을 이용한 박막 태양전지의 제조방법
Liu et al. Synthesis and characteristics of Cu (In, Ga) Se2 thin films from nanoparticles by solvothermal method and selenisation process
TWI675890B (zh) 具有高無裂縫限度之cigs奈米粒子墨水調配物
EP3024036B1 (en) Manufacturing method for ci(g)s nanoparticles for manufacturing light-absorbing layer, and ci(g)s nanoparticles manufactured using same
Frenia et al. Development of Low-cost PV Devices by Using Nanocrystal Ink of Light-absorbing CIGS Semiconductor Layer
Li et al. Electrodeposition Process and Performance of CuIn (Se x S 1− x) 2 Film for Absorption Layer of Thin-Film Solar Cells
Engberg et al. Comparison of potassium-functionalized Cu 2 ZnSnS 4 nanoparticles annealed in different reactive sulfide atmospheres
Zeng Formation of Cu₂ZnSnS₄ Thin Films via Reactive Sintering of Binary Metal-Sulfide Nanoparticles Using Intense Pulsed Light
Badkoobehhezaveh et al. Electrophoretic deposition of Cu2ZnSn (S0. 5Se0. 5) 4 films using solvothermal synthesized nanoparticles
Salavati-Niasari et al. Using Simple Microwave Approach for Synthesize of CuInS2 Nanostructures and Investigation of their Performance in Solar Cells

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120412

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120425

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120725

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130403

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130613

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130710

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130722

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5325874

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees