JP5248058B2 - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5248058B2 JP5248058B2 JP2007199027A JP2007199027A JP5248058B2 JP 5248058 B2 JP5248058 B2 JP 5248058B2 JP 2007199027 A JP2007199027 A JP 2007199027A JP 2007199027 A JP2007199027 A JP 2007199027A JP 5248058 B2 JP5248058 B2 JP 5248058B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- processing
- alcohol
- tank
- space
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 234
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 184
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 115
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 104
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 80
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 66
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 57
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 30
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 description 33
- 230000008569 process Effects 0.000 description 27
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 25
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 17
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 12
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 11
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 11
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 11
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 11
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 4
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000008155 medical solution Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 101100493711 Caenorhabditis elegans bath-41 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 125000003158 alcohol group Chemical group 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Natural products C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/08—Cleaning involving contact with liquid the liquid having chemical or dissolving effect
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B5/00—Cleaning by methods involving the use of air flow or gas flow
Description
また、純水を処理槽に供給する第1供給機構と、アルコールを処理槽に供給する第2供給機構と、フッ素系溶媒の液体を処理槽に供給する第3供給機構とをさらに備えることにより、洗浄処理から乾燥処理までの処理を1つの処理槽で実行できる。したがって、最終的な乾燥処理が完了するまで、基板を搬送する必要がなく、基板表面に未だ純水が存在する状況で基板を搬送する必要がないので、純水が酸素存在下で乾燥することを抑制でき、ウォーターマーク等の乾燥不良を抑制できる。
また、処理槽において基板に対して純水による処理を行った後、アルコールによる処理を行う。したがって、基板表面に未だ多くの純水が存在する状況で基板を酸素存在下の雰囲気中に曝すことがないので、ウォーターマーク等の乾燥不良を抑制できる。
また、第3供給機構はアルコールが貯留されている状態の処理槽内にフッ素系溶媒の液体を供給することによってアルコールとフッ素系溶媒の液体とを置換する。これにより、アルコールによる処理からフッ素系溶媒の液体による処理に移行する間に基板が処理槽内において酸素等を含む雰囲気に曝されることがない。したがって、基板表面に未だ純水が存在する状況で基板を酸素存在下の雰囲気中に曝すことがなく、ウォーターマーク等の乾燥不良を抑制できる。
図1は、第1の実施の形態における基板処理装置1を示す図である。基板処理装置1は、搬送ロボット10、第1処理部2、第2処理部3、第3処理部4および制御部8を備えている。なお、図1において図示を簡略化しているが、基板処理装置1において、各構成は制御部8と接続されており、制御部8からの制御信号に基づいて動作する。
第1の実施の形態では、純水やアルコールによる処理を行う槽(処理槽31)と、フッ素系溶媒の液体による処理を行う槽(処理槽41)とが異なる槽として設けられていた。しかし、これらの処理は同一の槽で実行されてもよい。
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく様々な変形が可能である。
10 搬送ロボット(搬送機構)
31 処理槽(第2処理槽)
36,60 純水供給部(第1供給機構)
37,61 アルコール供給部(第2供給機構)
40 チャンバ
41,41a 処理槽
42 リフタ(保持機構)
46 開閉機構
48 第1ガス供給部
62 フッ素系溶媒供給部(第3供給機構)
8 制御部
9 基板
Claims (4)
- 基板を処理する基板処理装置において、
純水、アルコール、およびフッ素系溶媒の液体を貯留する処理槽と、
前記処理槽を収容するチャンバと、
前記チャンバ内において基板を保持した状態で、基板が前記処理槽内に配置される第1位置と前記処理槽の上方に配置される第2位置との間を移動する保持機構と、
純水を前記処理槽に供給する第1供給機構と、
アルコールを前記処理槽に供給する第2供給機構と、
フッ素系溶媒の液体を前記処理槽に供給する第3供給機構と、
前記第1位置において、フッ素系溶媒の液体で処理された基板を保持した前記保持機構を前記第1位置から前記第2位置へ移動させて前記保持機構に保持された基板にフッ素系溶媒のガスを供給するガス供給手段と、
を備え、
前記第2供給機構は、純水が貯留されている状態の前記処理槽内にアルコールを供給し、
前記第3供給機構は、アルコールが貯留されている状態の前記処理槽内にフッ素系溶媒の液体を供給することを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置において、
前記チャンバ内において、前記処理槽を収容する第1空間を、前記第2位置に移動した前記保持機構を収容する第2空間に対して開閉する開閉機構と、
基板を保持した前記保持機構が前記第1位置に移動した場合および基板を保持した前記保持機構が前記第2位置に移動した場合には前記第1空間と前記第2空間とを遮断するように前記開閉機構を制御し、基板を保持した前記保持機構が前記第1位置と前記第2位置との間で移動する場合には前記第1空間と前記第2空間とを連通するように前記開閉機構を制御する開閉制御手段と、
をさらに備えることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1または2に記載の基板処理装置において、
前記アルコールは、イソプロピルアルコール、エタノールまたはメタノールを含むことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1ないし3のいずれか一つに記載の基板処理装置において、
前記フッ素系溶媒は、ハイドロフルオロエーテルまたはハイドロフルオロカーボンを含むことを特徴とする基板処理装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007199027A JP5248058B2 (ja) | 2006-09-26 | 2007-07-31 | 基板処理装置 |
TW096133920A TWI345808B (en) | 2006-09-26 | 2007-09-11 | Substrate processing apparatus |
KR1020070094029A KR100922664B1 (ko) | 2006-09-26 | 2007-09-17 | 기판처리장치 |
US11/857,659 US20080072931A1 (en) | 2006-09-26 | 2007-09-19 | Substrate processing apparatus and method |
CN2007101543560A CN101154564B (zh) | 2006-09-26 | 2007-09-26 | 基板处理装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006260195 | 2006-09-26 | ||
JP2006260195 | 2006-09-26 | ||
JP2007199027A JP5248058B2 (ja) | 2006-09-26 | 2007-07-31 | 基板処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008109086A JP2008109086A (ja) | 2008-05-08 |
JP5248058B2 true JP5248058B2 (ja) | 2013-07-31 |
Family
ID=39223616
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007199027A Active JP5248058B2 (ja) | 2006-09-26 | 2007-07-31 | 基板処理装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080072931A1 (ja) |
JP (1) | JP5248058B2 (ja) |
KR (1) | KR100922664B1 (ja) |
CN (1) | CN101154564B (ja) |
TW (1) | TWI345808B (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4884180B2 (ja) * | 2006-11-21 | 2012-02-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
KR100935975B1 (ko) * | 2007-03-27 | 2010-01-08 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리장치 |
JP5234985B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2013-07-10 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
CN101780460B (zh) * | 2010-03-19 | 2015-04-29 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 硅片清洗水槽和清洗方法 |
JP5454407B2 (ja) * | 2010-07-23 | 2014-03-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置及び液処理方法 |
JP5497607B2 (ja) * | 2010-10-01 | 2014-05-21 | ファインマシーンカタオカ株式会社 | カプセル型の洗浄機 |
CN103426722A (zh) * | 2012-05-23 | 2013-12-04 | 联华电子股份有限公司 | 基板的处理方法 |
EP2868398A1 (en) * | 2013-10-29 | 2015-05-06 | Cliris SA | Device and Method for Ultrasonic Cleaning |
JP6342343B2 (ja) | 2014-03-13 | 2018-06-13 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
CN105161399B (zh) * | 2015-08-06 | 2018-07-17 | 浙江德西瑞新能源科技股份有限公司 | 彩色多晶太阳能电池片的处理方法及其处理装置 |
CN105161400B (zh) * | 2015-08-06 | 2018-07-17 | 浙江德西瑞新能源科技股份有限公司 | 多晶四阻栅电池片的处理方法及其处理装置 |
CN113924642A (zh) * | 2019-08-29 | 2022-01-11 | 东京毅力科创株式会社 | 基板处理装置和基板处理方法 |
CN112582501A (zh) * | 2020-12-14 | 2021-03-30 | 张家港博佑光电科技有限公司 | 一种硅太阳能电池rena多晶制绒加工方法 |
CN114721231B (zh) * | 2022-04-17 | 2023-04-11 | 江苏晟驰微电子有限公司 | 一种用于光刻版清洗的工装夹具 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5772784A (en) * | 1994-11-14 | 1998-06-30 | Yieldup International | Ultra-low particle semiconductor cleaner |
JP3333830B2 (ja) * | 1995-07-27 | 2002-10-15 | 株式会社タクマ | 基板のリンス及び乾燥の方法及び装置 |
US6413355B1 (en) * | 1996-09-27 | 2002-07-02 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for and method of cleaning objects to be processed |
US6045624A (en) * | 1996-09-27 | 2000-04-04 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for and method of cleaning objects to be processed |
US6050275A (en) * | 1996-09-27 | 2000-04-18 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for and method of cleaning objects to be processed |
JP3916717B2 (ja) * | 1997-01-14 | 2007-05-23 | 三井・デュポンフロロケミカル株式会社 | 洗浄方法 |
JP3171807B2 (ja) * | 1997-01-24 | 2001-06-04 | 東京エレクトロン株式会社 | 洗浄装置及び洗浄方法 |
JP3756321B2 (ja) | 1998-05-28 | 2006-03-15 | 富士通ヴィエルエスアイ株式会社 | 基板処理装置および方法 |
JP2001144065A (ja) * | 1999-11-16 | 2001-05-25 | Tokyo Electron Ltd | 洗浄・乾燥処理方法および装置 |
JP2002252201A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP4219799B2 (ja) * | 2003-02-26 | 2009-02-04 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
JP2005175037A (ja) | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2005191472A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | 半導体装置の製造方法 |
CN100573826C (zh) * | 2004-04-02 | 2009-12-23 | 东京毅力科创株式会社 | 基板处理装置、基板处理方法、记录介质以及软件 |
-
2007
- 2007-07-31 JP JP2007199027A patent/JP5248058B2/ja active Active
- 2007-09-11 TW TW096133920A patent/TWI345808B/zh active
- 2007-09-17 KR KR1020070094029A patent/KR100922664B1/ko active IP Right Grant
- 2007-09-19 US US11/857,659 patent/US20080072931A1/en not_active Abandoned
- 2007-09-26 CN CN2007101543560A patent/CN101154564B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100922664B1 (ko) | 2009-10-19 |
CN101154564A (zh) | 2008-04-02 |
KR20080028284A (ko) | 2008-03-31 |
CN101154564B (zh) | 2013-01-30 |
TW200834695A (en) | 2008-08-16 |
JP2008109086A (ja) | 2008-05-08 |
TWI345808B (en) | 2011-07-21 |
US20080072931A1 (en) | 2008-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5248058B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP5173500B2 (ja) | 処理液供給装置およびそれを備えた基板処理装置 | |
TWI690979B (zh) | 基板處理裝置、基板處理裝置的洗淨方法 | |
KR101124049B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법과 컴퓨터 판독 가능한기억 매체 | |
JP6472726B2 (ja) | 基板液処理装置、基板液処理方法及び記憶媒体 | |
KR20020046140A (ko) | 기판처리장치 | |
JP4903992B2 (ja) | 半導体基板の洗浄及び乾燥システム及びそれを利用した洗浄及び乾燥方法 | |
JP6456792B2 (ja) | 基板液処理装置、基板液処理方法及び記憶媒体 | |
US20060130880A1 (en) | Substrate treating apparatus and method | |
JP2002050600A (ja) | 基板処理方法及び基板処理装置 | |
JP2017117938A (ja) | 基板液処理装置および基板液処理方法 | |
JP2010056208A (ja) | 基板洗浄装置 | |
JP2006278628A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2022049394A (ja) | 処理液供給装置、基板処理装置および処理液供給方法 | |
JP2004172574A (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JP2007042912A (ja) | 基板洗浄装置および基板洗浄方法 | |
JP4014573B2 (ja) | 洗浄処理装置 | |
JPS62198126A (ja) | 処理装置 | |
WO2023282064A1 (ja) | 基板処理システム、及び基板処理方法 | |
KR100817969B1 (ko) | 기판처리장치 및 기판처리방법 | |
KR100891067B1 (ko) | 웨트 스테이션 장치 | |
JP3804933B2 (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JP2008047668A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2006278393A (ja) | 半導体ウェハ洗浄装置及び半導体装置の製造方法 | |
KR101394088B1 (ko) | 반도체 세정장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100528 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110128 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111206 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120828 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121022 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130402 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130410 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5248058 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160419 Year of fee payment: 3 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |