JP5203019B2 - 信頼性の高い初期化データを提供するフラッシュメモリ装置及びその初期化方法 - Google Patents
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- 238000011423 initialization method Methods 0.000 title claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 30
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/20—Initialising; Data preset; Chip identification
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
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Description
この実施の形態において、前記初期化動作時に、前記初期化データは、第1データとして、そして前記空いているセル領域のデータは、第2データとしてそれぞれ読み出されて、前記状態検出器に提供される。
この実施の形態において、前記初期化データのビット「1」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には「1」と、奇数領域には、「0」とそれぞれプログラムされる。
この実施の形態において、前記初期化データのビット「0」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には「0」と、奇数領域には「1」とそれぞれプログラムされる。
この実施の形態において、前記状態検出器は、前記第1データをデコードして前記初期化データのビット値を復元する。
この実施の形態において、前記状態検出器のパス又はフェイルを指示する状態信号に応答して、前記初期化データ領域を再読み出しするように前記ページバッファを制御する制御ロジックをさらに備える。
この実施の形態において、前記状態検出器は、前記第1データの各ビット値のうち、少数ビットの数が規定された数以上である場合に、前記第1データをフェイル(Fail)と決定する。
この実施の形態において、前記状態検出器は、前記第2データのビット数をカウントし、偶数入出力単位に対応する「1」のビット数と奇数入出力単位に対応する「0」のビット数とをそれぞれカウントして、同一であるか、又はそれぞれのビット数が特定ビット数以上である場合に、第2データをパス(Pass)と決定する。
この実施の形態において、前記空いているセル領域は、消去状態である。
この実施の形態において、前記状態検出器は、前記第2データから決定されるビット値が前記初期化データレジスタに格納されることを遮断する。
この実施の形態において、前記状態検出器は、前記第2データから決定されるビット値が前記初期化データレジスタへ格納されることを許容する。
この実施の形態において、複数の前記第2データから決定されて前記初期化データレジスタに格納されるビットは、一つの初期化データ単位を構成し、前記初期化データ単位の中には、無効な初期化データであることを指示するビット値が含まれる。
この実施の形態において、前記初期化データのビット「1」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には、「1」と、奇数領域には、「0」とそれぞれプログラムされる。
この実施の形態において、前記初期化データのビット「0」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には、「0」と、奇数領域には、「1」とそれぞれプログラムされる。
この実施の形態において、前記(b)ステップにおいて、前記入出力単位に対応するデータのうち、前記奇数入出力単位に対応するビットを反転するステップをさらに含む。
この実施の形態において、前記空いている領域に対応するメモリセルは、消去状態に対応するしきい電圧状態を有する。
この実施の形態において、前記(c)ステップにおいて、前記空いている領域に対応するデータからデコードされた1ビットの前記レジスタへの格納は遮断される。
この実施の形態において、前記空いている領域に対応するメモリセルは、特定データパターンにプログラムされる。
この実施の形態において、前記(c)ステップにおいて、前記空いている領域に対応するデータからデコードされた複数のビットは、前記レジスタに格納されるが、前記複数のビットには、初期化データとしての使用を遮断するように設定されるビットを含む。
以上の構成及び方法によると、高い信頼性を有する初期化データを読み出して、メモリ装置及びメモリシステムの信頼性を高めることができる。
120 ページバッファ及びデコーダ
130 状態検出器
140 初期化データレジスタ
150 初期化制御部
160 パワーアップ検出器
210 フラッシュメモリ
220 メモリコントローラ
221 SRAM
222 プロセシングユニット
223 ホストインタフェース
224 エラー訂正コードブロック
225 メモリインタフェース
Claims (27)
- 初期化データが格納される初期化データ領域を含むセルアレイと、
エラー検出時に、前記初期化データ領域のうち、空いているセル領域に対応する読み出しデータをパスと判定する状態検出器と、を備え、
前記エラー検出時に、前記初期化データは、第1データとして、そして前記空いているセル領域のデータは、第2データとしてそれぞれ読み出されて、前記状態検出器に提供され、
前記初期化データ領域は、複数の入出力ラインの各々に対応する複数の領域を有し、前記複数の領域の各々には、前記初期化データが拡張されてプログラムされることを特徴とするフラッシュメモリ装置。 - 前記初期化データのビット「1」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には「1」と、奇数領域には「0」と、それぞれプログラムされることを特徴とする請求項1に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記初期化データのビット「0」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には「0」と、奇数領域には「1」と、それぞれプログラムされることを特徴とする請求項2に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記状態検出器は、前記第1データをデコードして前記初期化データのビット値を復元することを特徴とする請求項3に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記エラー検出時に、前記初期化データ領域に含まれるメモリセルを感知してデータをラッチするページバッファと、
前記ページバッファに格納されたデータを入出力単位で対応する前記第1データとして前記状態検出器に伝達する列選択回路と、
前記状態検出器によってデコードされた初期化データのビット値を格納する初期化データレジスタと、をさらに備えることを特徴とする請求項4に記載のフラッシュメモリ装置。 - 前記状態検出器のパス又はフェイルを指示する状態信号に応答して、前記初期化データ領域を再読み出しするように前記ページバッファを制御する制御ロジックをさらに備えることを特徴とする請求項5に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記列選択回路から伝達される前記第1データ又は前記第2データの奇数入出力単位で対応するビットを反転して、前記状態検出器に提供する選択反転回路をさらに備えることを特徴とする請求項5に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記状態検出器は、前記第1データの各ビット値のうち、少数ビットの数が規定された数以上である場合に、前記第1データをフェイル(Fail)と決定することを特徴とする請求項7に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記状態検出器は、前記第2データのビット数をカウントし、偶数入出力単位で対応する「1」のビット数と奇数入出力単位に対応する「0」のビット数とをそれぞれカウントして、同一であるか、又はそれぞれのビット数が特定ビット数以上である場合に、第2データをパス(Pass)と決定することを特徴とする請求項8に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記状態検出器は、前記第1データの各ビット値のうち、複数ビットを前記初期化データの1ビット値として決定することを特徴とする請求項9に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記空いているセル領域は、消去状態であることを特徴とする請求項10に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記状態検出器は、前記第2データから決定されるビット値が前記初期化データレジスタに格納されることを遮断することを特徴とする請求項11に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記空いているセル領域は、特定データパターンにプログラムされることを特徴とする請求項10に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記状態検出器は、前記第2データから決定されるビット値が前記初期化データレジスタへ格納されることを許容することを特徴とする請求項13に記載のフラッシュメモリ装置。
- 複数の前記第2データから決定されて前記初期化データレジスタに格納されるビットは、一つの初期化データ単位を構成し、前記初期化データ単位の中には、無効な初期化データであることを指示するビット値が含まれることを特徴とする請求項14に記載のフラッシュメモリ装置。
- セルアレイの初期化データ領域に初期化データがプログラムされるフラッシュメモリ装置の初期化方法であって、
(a)前記初期化データ領域を読み出すステップと、
(b)前記読み出されたデータのうち、入出力単位で対応するビット数のデータを伝達し、エラーが含まれているか否かを検出し、前記初期化データ領域のうち、空いている領域に対応するデータをパスと判断するように設定する状態検出ステップと、
(c)前記状態検出ステップでパスと決定されたデータから前記初期化データの1ビットをデコードしてレジスタに格納するステップと、を含むことを特徴とする初期化方法。 - 前記初期化データのビットの各々は、入出力単位の各々に対応する複数の領域の各々に少なくとも1ビットずつ拡張されてプログラムされることを特徴とする請求項16に記載の初期化方法。
- 前記初期化データのビット「1」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には、「1」と、奇数領域には、「0」とそれぞれプログラムされることを特徴とする請求項17に記載の初期化方法。
- 前記初期化データのビット「0」は、前記複数の領域のうち、偶数領域には、「0」と、奇数領域には、「1」とそれぞれプログラムされることを特徴とする請求項18に記載の初期化方法。
- 前記(b)ステップにおいて、前記入出力単位に対応するデータのうち、前記奇数入出力単位で対応するビットを反転するステップをさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の初期化方法。
- 前記空いている領域に対応するメモリセルは、消去状態に対応するしきい電圧状態を有することを特徴とする請求項20に記載の初期化方法。
- 前記(b)ステップにおいて、前記空いている領域に対応するデータは、偶数入出力単位に対応する「1」のビット数と奇数入出力単位に対応する「0」のビット数のそれぞれをカウントし、前記カウントされた「1」のビット数と前記「0」のビット数との合計が所定のビット数以上である場合にパス(Pass)と決定されることを特徴とする請求項21に記載の初期化方法。
- 前記(c)ステップにおいて、前記空いている領域に対応するデータからデコードされた1ビットの前記レジスタへの格納は遮断されることを特徴とする請求項22に記載の初期化方法。
- 前記空いている領域に対応するメモリセルは、特定データパターンにプログラムされることを特徴とする請求項20に記載の初期化方法。
- 前記(b)ステップにおいて、前記空いている領域に対応するデータは、偶数入出力単位に対応する「1」のビット数と、奇数入出力単位に対応する「0」のビット数それぞれをカウントし、前記カウントされた「1」のビット数と前記「0」のビット数との合計が所定のビット数以上である場合にパス(Pass)と決定されることを特徴とする請求項24に記載の初期化方法。
- 前記(c)ステップにおいて、前記空いている領域に対応するデータからデコードされた複数のビットは、前記レジスタに格納され、前記複数のビットには、初期化データとしての使用を遮断するように設定されるビットを含むことを特徴とする請求項25に記載の初期化方法。
- フラッシュメモリ装置と、
前記フラッシュメモリ装置を制御するためのメモリコントローラと、を備え、前記フラッシュメモリ装置は、請求項1に記載のフラッシュメモリ装置であることを特徴とするメモリシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2007-0037058 | 2007-04-16 | ||
KR1020070037058A KR100909358B1 (ko) | 2007-04-16 | 2007-04-16 | 신뢰성 높은 초기화 데이터를 제공하는 플래시 메모리 장치및 그것의 초기화 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008269769A JP2008269769A (ja) | 2008-11-06 |
JP5203019B2 true JP5203019B2 (ja) | 2013-06-05 |
Family
ID=39853563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008103877A Active JP5203019B2 (ja) | 2007-04-16 | 2008-04-11 | 信頼性の高い初期化データを提供するフラッシュメモリ装置及びその初期化方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7965557B2 (ja) |
JP (1) | JP5203019B2 (ja) |
KR (1) | KR100909358B1 (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100898673B1 (ko) * | 2007-08-08 | 2009-05-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래시 메모리 소자 및 그 동작 방법 |
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TWI370969B (en) | 2008-07-09 | 2012-08-21 | Phison Electronics Corp | Data accessing method, and storage system and controller using the same |
KR101065552B1 (ko) * | 2009-07-06 | 2011-09-19 | 박원일 | 마이크로 cctv 감시 장치에서의 메모리 카드에 영상 저장 방법 |
US8856482B2 (en) | 2011-03-11 | 2014-10-07 | Micron Technology, Inc. | Systems, devices, memory controllers, and methods for memory initialization |
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-
2007
- 2007-04-16 KR KR1020070037058A patent/KR100909358B1/ko active IP Right Grant
-
2008
- 2008-04-03 US US12/061,849 patent/US7965557B2/en active Active
- 2008-04-11 JP JP2008103877A patent/JP5203019B2/ja active Active
-
2011
- 2011-05-12 US US13/105,969 patent/US8395943B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080253191A1 (en) | 2008-10-16 |
JP2008269769A (ja) | 2008-11-06 |
US8395943B2 (en) | 2013-03-12 |
US20110211393A1 (en) | 2011-09-01 |
KR20080093295A (ko) | 2008-10-21 |
US7965557B2 (en) | 2011-06-21 |
KR100909358B1 (ko) | 2009-07-24 |
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