JP5132884B2 - シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置 - Google Patents

シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置 Download PDF

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Description

本発明は、シフトレジスタ回路に関するものであり、特に、例えば画像表示装置の走査線駆動回路などに使用される、同一導電型の電界効果トランジスタのみにより構成されるシフトレジスタ回路に関するものである。
液晶表示装置等の画像表示装置(以下「表示装置」)では、複数の画素が行列状に配列された表示パネルの画素行(画素ライン)ごとにゲート線(走査線)が設けられ、表示信号の1水平期間で一巡する周期でそのゲート線を順次選択して駆動することにより表示画像の更新が行なわれる。そのように画素ラインすなわちゲート線を順次選択して駆動するためのゲート線駆動回路(走査線駆動回路)としては、表示信号の1フレーム期間で一巡するシフト動作を行なうシフトレジスタを用いることができる。
ゲート線駆動回路に使用されるシフトレジスタは、表示装置の製造プロセスにおける工程数を少なくするために、同一導電型の電界効果トランジスタのみで構成されることが望ましい。このため、N型またはP型の電界効果トランジスタのみで構成されたシフトレジスタおよびそれを搭載する表示装置が種々提案されている(例えば特許文献1,2)。電界効果トランジスタとしては、MOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタや薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)などが用いられる。
特開2004−246358号公報 特開2004−103226号公報
例えば特許文献1の図7に代表されるシフトレジスタ回路は、その出力段に、出力端子(特許文献1における第1ゲート電圧信号端子GOUT)とクロック端子(第1パワークロックCKV)との間に接続する第1トランジスタ(プルアップ用MOSトランジスタQ1)と、出力端子と基準電圧端子(ゲートオフ電圧端子VOFF)との間に接続する第2トランジスタ(プルダウンMOSトランジスタQ2)とを備えている。シフトレジスタ回路の出力信号は、第1トランジスタがオン、第2トランジスタがオフとなった状態で、クロック端子に入力されるクロック信号が出力端子に伝達されることによって出力される。
特に、ゲート線駆動回路を構成するシフトレジスタ回路は、その出力信号を用いてゲート線を高速に充電して活性化させる必要があるため、第1トランジスタに高い駆動能力(電流を流す能力)が要求される。よって、出力端子すなわち第1トランジスタのソースがH(High)レベルになる間も、第1トランジスタのゲート・ソース間電圧は大きく保たれることが望ましい。そのため特許文献1のシフトレジスタ回路には、第1トランジスタのゲート・ソース間に昇圧容量(キャパシタC)が設けられており、出力端子がHレベルになったときに、第1トランジスタのゲートも昇圧されるよう構成されている。
その昇圧の程度が大きい程、第1トランジスタのゲート・ソース間電圧が大きくなるため第1トランジスタの駆動能力は大きくなる。逆に言えば、シフトレジスタ回路がゲート線を高速に充電できるようにするためには、第1トランジスタがより大きく昇圧される必要がある。
本発明は上記の課題を解決するためのものであり、シフトレジスタ回路の駆動能力の向上を図ることを目的とする。
本発明の第1の局面としてのシフトレジスタ回路は、クロック端子に入力されるクロック信号を出力端子に供給する第1トランジスタと、前記出力端子を放電する第2トランジスタとを備え、前記第1トランジスタの制御電極が接続するノードを第1ノードとし、前記第2トランジスタの制御電極が接続するノードを第2ノードとし、その制御電極が所定の分離回路を介して前記第1ノードに接続し、前記第2ノードと電源端子との間に接続した第3トランジスタをさらに備え、前記第3トランジスタの制御電極が接続するノードを第3ノードとし、入力端子に入力される入力信号に応じて前記第1ノードを充電する第4トランジスタをさらに備え、前記分離回路は、前記入力信号に応じて前記第3ノードを充電する第5トランジスタを含み、前記分離回路は、前記第1ノードの電位の絶対値が前記第3ノードの電位の絶対値よりも大きくなるときに、前記第3ノードと前記第1ノードとの間を電気的に分離するものである。

本発明の第1の局面に係るシフトレジスタ回路によれば、第1ノードの昇圧時に第1ノードと第3ノードとの間が電気的に分離されるので、第1ノードの昇圧時における当該第1ノードの寄生容量に第3トランジスタの寄生容量(ゲート容量)が寄与しなくなり、第1ノードの寄生容量が低減される。第1ノードの寄生容量が小さくなると第1ノードの昇圧量は大きくなり、その結果、昇圧時における第1トランジスタの駆動能力が大きくなる。従って、当該単位シフトレジスタ回路はゲート線を高速に充電することができるようになる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。なお、説明が重複して冗長になるのを避けるため、各図において同一または相当する機能を有する要素には同一符号を付してある。
<実施の形態1>
図1は、本発明係る表示装置の構成を示す概略ブロック図であり、表示装置の代表例として液晶表示装置10の全体構成を示している。
液晶表示装置10は、液晶アレイ部20と、ゲート線駆動回路(走査線駆動回路)30と、ソースドライバ40とを備える。後の説明により明らかになるが、本発明の実施の形態に係るシフトレジスタは、ゲート線駆動回路30に搭載される。
液晶アレイ部20は、行列状に配設された複数の画素25を含む。画素の行(以下「画素ライン」とも称する)の各々にはそれぞれゲート線GL1,GL2・・・(総称「ゲート線GL」)が配設され、また、画素の列(以下「画素列」とも称する)の各々にはそれぞれデータ線DL1,DL2・・・(総称「データ線DL」)がそれぞれ設けられる。図1には、第1行の第1列および第2列の画素25、並びにこれに対応するゲート線GL1およびデータ線DL1,DL2が代表的に示されている。
各画素25は、対応するデータ線DLと画素ノードNpとの間に設けられる画素スィッチ素子26と、画素ノードNpおよび共通電極ノードNCの間に並列に接続されるキャパシタ27および液晶表示素子28とを有している。画素ノードNpと共通電極ノードNCとの間の電圧差に応じて、液晶表示素子28中の液晶の配向性が変化し、これに応答して液晶表示素子28の表示輝度が変化する。これにより、データ線DLおよび画素スイッチ素子26を介して画素ノードNpへ伝達される表示電圧によって、各画素の輝度をコントロールすることが可能となる。即ち、最大輝度に対応する電圧差と最小輝度に対応する電圧差との間の中間的な電圧差を、画素ノードNpと共通電極ノードNCとの間に印加することによって、中間的な輝度を得ることができる。従って、上記表示電圧を段階的に設定することにより、階調的な輝度を得ることが可能となる。
ゲート線駆動回路30は、所定の走査周期に基づき、ゲート線GLを順に選択して駆動する。画素スイッチ素子26のゲート電極は、それぞれ対応するゲート線GLと接続される。特定のゲート線GLが選択されている間は、それに接続する各画素において、画素スイッチ素子26が導通状態になり画素ノードNpが対応するデータ線DLと接続される。そして、画素ノードNpへ伝達された表示電圧がキャパシタ27によって保持される。一般的に、画素スイッチ素子26は、液晶表示素子28と同一の絶縁体基板(ガラス基板、樹脂基板等)上に形成されるTFTで構成される。
ソースドライバ40は、Nビットのデジタル信号である表示信号SIGによって段階的に設定される表示電圧を、データ線DLへ出力するためのものである。ここでは一例として、表示信号SIGは6ビットの信号であり、表示信号ビットDB0〜DB5から構成されるものとする。6ビットの表示信号SIGに基づくと、各画素において、26=64段階の階調表示が可能となる。さらに、R(Red)、G(Green)およびB(Blue)の3つの画素により1つのカラー表示単位を形成すれば、約26万色のカラー表示が可能となる。
また、図1に示すように、ソースドライバ40は、シフトレジスタ50と、データラッチ回路52,54と、階調電圧生成回路60と、デコード回路70と、アナログアンプ80とから構成されている。
表示信号SIGにおいては、各々の画素25の表示輝度に対応する表示信号ビットDB0〜DB5がシリアルに生成される。すなわち、各タイミングにおける表示信号ビットDB0〜DB5は、液晶アレイ部20中のいずれか1つの画素25における表示輝度を示している。
シフトレジスタ50は、表示信号SIGの設定が切換わる周期に同期したタイミングで、データラッチ回路52に対して、表示信号ビットDB0〜DB5の取込を指示する。データラッチ回路52は、シリアルに生成される表示信号SIGを順に取り込み、1つの画素ライン分の表示信号SIGを保持する。
データラッチ回路54に入力されるラッチ信号LTは、データラッチ回路52に1つの画素ライン分の表示信号SIGが取込まれるタイミングで活性化する。データラッチ回路54はそれに応答して、そのときデータラッチ回路52に保持されている1つの画素ライン分の表示信号SIGを取り込む。
階調電圧生成回路60は、高電圧VDHおよび低電圧VDLの間に直列に接続された63個の分圧抵抗で構成され、64段階の階調電圧V1〜V64をそれぞれ生成する。
デコード回路70は、データラッチ回路54に保持されている表示信号SIGをデコードし、当該デコード結果に基づいて各デコード出力ノードNd1,Nd2・・・(総称「デコード出力ノードNd」)に出力する電圧を、階調電圧V1〜V64のうちから選択して出力する。
その結果、デコード出力ノードNdには、データラッチ回路54に保持された1つの画素ライン分の表示信号SIGに対応した表示電圧(階調電圧V1〜V64のうちの1つ)が同時に(パラレルに)出力される。なお、図1においては、第1列目および第2列目のデータ線DL1,DL2に対応するデコード出力ノードNd1,Nd2が代表的に示されている。
アナログアンプ80は、デコード回路70からデコード出力ノードNd1,Nd2・・・に出力された各表示電圧に対応したアナログ電圧を、それぞれデータ線DL1,DL2・・・に出力する。
ソースドライバ40が、所定の走査周期に基づいて、一連の表示信号SIGに対応する表示電圧を1画素ライン分ずつデータ線DLへ繰返し出力し、ゲート線駆動回路30がその走査周期に同期してゲート線GL1,GL2・・・を順に駆動することにより、液晶アレイ部20に表示信号SIGに基づいた画像の表示が成される。
なお、図1には、ゲート線駆動回路30およびソースドライバ40が液晶アレイ部20と一体的に形成された液晶表示装置10の構成を例示したが、ゲート線駆動回路30およびソースドライバ40については、液晶アレイ部20の外部回路として設けることも可能である。
図2は、ゲート線駆動回路30の構成を示す図である。このゲート線駆動回路30は、縦続接続(カスケード接続)した複数のシフトレジスタ回路SR1,SR2,SR3,SR4・・・で構成されるシフトレジスタから成っている(説明の便宜上、縦続接続するシフトレジスタ回路SR1,SR2・・・の各々を「単位シフトレジスタ回路」と称することとし、これらを「単位シフトレジスタ回路SR」と総称する)。各単位シフトレジスタ回路SRは、1つの画素ラインすなわち1つのゲート線GLごとに設けられる。
また図2に示すクロック発生器31は、各々位相が異なる3相のクロック信号CLK1,CLK2,CLK3をゲート線駆動回路30の単位シフトレジスタ回路SRに入力するものであり、このクロック信号CLK1,CLK2,CLK3は、表示装置の走査周期に同期したタイミングで順番に活性化するよう制御されている。
各単位シフトレジスタ回路SRは、入力端子IN、出力端子OUT、第1および第2クロック端子A,Bを有している。図2のように、各単位シフトレジスタ回路SRのクロック端子A,Bには、クロック発生器31が出力するクロック信号CLK1,CLK2,CLK3のうちの2つが供給される。単位シフトレジスタ回路SRの出力端子OUTには、それぞれゲート線GLが接続する。また、第1段目(第1ステージ)の単位シフトレジスタ回路SR1の入力端子INには、画像信号の各フレーム期間の先頭に対応するスタートパルスが入力信号として入力され、第2段以降の単位シフトレジスタ回路SRの入力端子INには、その前段の出力端子OUTに出力される出力信号が、入力信号として入力される。各単位シフトレジスタ回路SRの出力信号は、水平(又は垂直)走査パルスとしてゲート線GLへと出力される。
この構成のゲート線駆動回路30によれば、各単位シフトレジスタ回路SRは、クロック信号CLK1,CLK2,CLK3に同期して、前段から入力される入力信号(前段の出力信号)をシフトさせながら、対応するゲート線GL並びに自身の次段の単位シフトレジスタ回路SRへと出力する(単位シフトレジスタ回路SRの動作の詳細は後述する)。その結果、一連の単位シフトレジスタ回路SRは、所定の走査周期に基づいたタイミングでゲート線GLを順に活性化させる、いわゆるゲート線駆動ユニットとして機能する。
ここで、本発明の説明を容易にするために従来の単位シフトレジスタについて説明する。図3は、従来の単位シフトレジスタ回路SRの構成を示す回路図である。なおゲート線駆動回路30においては、縦続接続された各単位シフトレジスタ回路SRの構成は実質的にどれも同じであるので、以下では1つの単位シフトレジスタ回路SRの構成についてのみ代表的に説明する。また、この単位シフトレジスタ回路SRを構成するトランジスタは、全て同一導電型の電界効果トランジスタであるが、本実施の形態においては全てN型TFTであるものとする。
図3の如く、従来の単位シフトレジスタ回路SRは、図2で示した入力端子IN、出力端子OUT、第1クロック端子Aおよび第2クロック端子Bの他に、低電位側電源電位VSSが供給される第1電源端子s1、高電位側電源電位VDD1,VDD2がそれぞれ供給される第2電源端子s2および第3電源端子s3を有している。高電位側電源電位VDD1,VDD2は、互いに同一レベルであってもよい。以下の説明では、低電位側電源電位VSSが回路の基準電位となるが、実使用では画素に書込まれるデータの電圧を基準にして基準電位が設定され、例えば高電位側電源電位VDD1、VDD2は17V、低電位側電源電位VSSは−12Vなどと設定される。
単位シフトレジスタ回路SRの出力段は、出力端子OUTと第1クロック端子Aとの間に接続するトランジスタQ1(第1トランジスタ)と、出力端子OUTと第1電源端子s1との間に接続するトランジスタQ2(第2トランジスタ)とにより構成されている。以下、単位シフトレジスタ回路SRの出力段を構成するトランジスタQ1のゲートノードをノードN1(第1ノード)、トランジスタQ2のゲートノードをノードN2(第2ノード)と定義する。
トランジスタQ1のゲート・ソース間(即ち出力端子OUTとノードN1との間)には昇圧容量Cが設けられている。またノードN1と第2電源端子s2との間にはトランジスタQ3が接続しており、そのゲートは入力端子INに接続している。ノードN1と第1電源端子s1との間には、トランジスタQ4並びにトランジスタQ5が接続する。トランジスタQ4のゲートは第2クロック端子Bに接続し、トランジスタQ5のゲートはノードN2に接続する。ノードN2と第3電源端子s3との間には、ダイオード接続されたトランジスタQ6が接続し、ノードN2と第1電源端子s1との間にはトランジスタQ7が接続する。トランジスタQ7のゲートはノードN1に接続する。
トランジスタQ7はトランジスタQ6よりも駆動能力(電流を流す能力)が十分大きく設定されている。即ち、トランジスタQ7のオン抵抗はトランジスタQ6のオン抵抗よりも小さい。よって、トランジスタQ7のゲート電位が上昇するとノードN2の電位は下降し、トランジスタQ7のゲート電位が下降するとノードN2の電位は上昇する。即ちトランジスタQ6およびトランジスタQ7は、両者のオン抵抗値の比によってその動作が規定されるレシオ型インバータを構成している。当該インバータは、出力端子OUTをプルダウンさせるためにトランジスタQ2を駆動する「プルダウン駆動回路」を構成している。
図3の単位シフトレジスタ回路SRの具体的な動作を説明する。ゲート線駆動回路30を構成する各単位シフトレジスタ回路SRの動作は実質的にどれも同じであるので、1つの単位シフトレジスタ回路SRの動作を代表的に説明する。簡単のため、当該単位シフトレジスタ回路SRの第1クロック端子Aにクロック信号CLK1が入力され、第2クロック端子Bにクロック信号CLK3が入力されるものとして説明を行う(例えば図2における、単位シフトレジスタ回路SR1,SR4などがこれに該当する)。また、当該単位シフトレジスタ回路SRが出力端子OUTに出力する出力信号をGn、その前段の単位シフトレジスタ回路SRの出力信号をGn-1と定義する。
まず初期状態として、ノードN1がL(Low)レベル(VSS)、ノードN2がH(High)レベル(VDD2−Vth(Vth:トランジスタのしきい値電圧))であると仮定する(以下、この状態を「リセット状態」と称す)。また、第1クロック端子A(クロック信号CLK1)、第2クロック端子B(クロック信号CLK3)、入力端子IN(前段の出力信号Gn-1)は何れもLレベルであるとする。リセット状態では、トランジスタQ1がオフ(遮断状態)、トランジスタQ2がオン(導通状態)であるので、第1クロック端子A(クロック信号CLK1)のレベルに関係なく、出力端子OUT(出力信号Gn)はLレベルに保たれる。即ち、この単位シフトレジスタ回路SRが接続するゲート線は非選択状態にある。
その状態から、前段の単位シフトレジスタ回路SRの出力信号Gn-1がHレベルになると、それが当該単位シフトレジスタ回路SRの入力端子INに入力されトランジスタQ3がオンになる。このときノードN2はレベルなのでトランジスタQ5もオンしているが、トランジスタQ3はトランジスタQ5よりも駆動能力が十分大きく設定されており、トランジスタQ3のオン抵抗はトランジスタQ5のオン抵抗に比べ十分低いため、ノードN1のレベルは上昇する。
それによりトランジスタQ7が導通し始めノードN2のレベルは下降する。そうなるとトランジスタQ5の抵抗が高くなり、ノードN1のレベルが急速に上昇してトランジスタQ7を充分にオンにする。その結果ノードN2はLレベル(VSS)になり、トランジスタQ5がオフになってノードN1がHレベル(VDD1−Vth)になる。このようにノードN1がHレベル、ノードN2がLレベルの状態(以下、この状態を「セット状態」称す)では、トランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフになる。なお、前段の出力信号Gn-1がLレベルに戻ってトランジスタQ3がオフしても、ノードN1はフローティング状態になるのでこのセット状態はその後も維持される。
セット状態では、トランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフであるので、第1クロック端子Aのクロック信号CLK1がHレベルになると、出力端子OUTのレベルが上昇する。このとき昇圧容量CおよびトランジスタQ1のゲート・チャネル間容量(ゲート容量)による容量結合により、ノードN1のレベルは特定の電圧(以下「昇圧量ΔV」)だけ昇圧される。そのため出力端子OUTのレベルが上昇してもトランジスタQ1のゲート・ソース間電圧はしきい値電圧(Vth)よりも大きく保たれ、当該トランジスタQ1は低インピーダンスを維持する。従って、出力信号Gnのレベルは第1クロック端子Aのレベルに追随して変化する。特に、トランジスタQ1のゲート・ソース間電圧が充分大きい場合トランジスタQ1は非飽和動作するので、しきい値電圧分の損失はなく出力端子OUTはクロック信号CLK1と同レベルになる。よって、第1クロック端子Aに入力されるクロック信号CLK1がHレベルの間は、出力信号GnもHレベルになってゲート線の選択状態になる。その後、クロック信号CLK1がLレベルに戻ると出力信号GnもLレベルになってゲート線の非選択状態に戻る。
その後、第2クロック端子Bのクロック信号CLK3がHレベルになると、トランジスタQ4がオンになるためノードN1がLレベルになり、それに伴ってトランジスタQ7がオフになるためノードN2はHレベルになる。即ち、トランジスタQ1がオフ、トランジスタQ2がオンのリセット状態に戻る。
以上の動作をまとめると、単位シフトレジスタ回路SRにおいては、入力端子INに信号(スタートパルス)が入力されない間はリセット状態にあり、その間ノードN2がHレベル(VDD2−Vth)に保たれることで、出力端子OUT(ゲート線)は低インピーダンスのLレベル(VSS)に維持される。そして入力端子INに信号が入力されると、ノードN2がLレベル(VSS)になると共にノードN1がHレベル(VDD1−Vth)に充電されてセット状態になる。セット状態では第1クロック端子Aの信号(クロック信号CLK1)がHレベルになるとノードN1の電位が昇圧量ΔVだけ高くなり、第1クロック端子AがHレベルである間、出力端子OUTがHレベルになってゲート線を活性化する(このためノードN1は「昇圧ノード」と称されることもある)。その後第2クロック端子Bに信号(クロック信号CLK3)が入力されると、ノードN1がLレベル(VSS)、ノードN2がHレベル(VDD2−Vth)に戻って、元のリセット状態になる(このためノードN2は「リセットノード」と称されることもある)。
そのように動作する複数の単位シフトレジスタ回路SRを図2のように縦続接続し、ゲート線駆動回路30を構成すると、第1段目の単位シフトレジスタ回路SR1の入力端子INに入力された入力信号(スタートパルス)は、図4に示すタイミング図のように、クロック信号CLK1,CLK2,CLK3に同期したタイミングでシフトされながら、単位シフトレジスタ回路SR2,SR3・・・と順番に伝達される。それによって、ゲート線駆動回路30は、所定の走査周期でゲート線GL1,GL2,GL3・・・を順に駆動することができる。
上の例では、複数の単位シフトレジスタ回路SRが3相クロックに基づいて動作する例を示したが、2相クロック信号を使用して動作させることも可能である。図5はその場合におけるゲート線駆動回路30の構成を示す図である。
この場合も、ゲート線駆動回路30は、縦続接続した複数の単位シフトレジスタ回路SRにより構成される。即ち、各単位シフトレジスタ回路SRの入力端子INには、その前段の単位シフトレジスタ回路SRの出力端子OUTが接続する。但し、第1段目の単位シフトレジスタ回路SRの入力端子INには、スタートパルスが入力信号として入力される。
この場合におけるクロック発生器31は、互いに逆相の2相クロックであるクロック信号CLK,/CLKを出力するものである。それぞれの単位シフトレジスタ回路SRの第1クロック端子Aには、隣接する単位シフトレジスタ回路SRに互いに逆相のクロック信号が入力されるよう、そのクロック信号CLK,/CLKの片方が入力される。また図5に示すように、各単位シフトレジスタ回路SRの第2クロック端子Bには、その後段(この例では次段)の単位シフトレジスタ回路SRの出力端子OUTが接続される。
図5のように構成されたゲート線駆動回路30における単位シフトレジスタ回路SRの動作を説明する。ここでも、1つの単位シフトレジスタ回路SRの動作を代表的に説明する。簡単のため、単位シフトレジスタ回路SRの第1クロック端子Aにクロック信号CLKが入力されるものとして説明を行う(例えば、図5における単位シフトレジスタ回路SR1,SR3などがこれに該当する)。また、当該単位シフトレジスタ回路SRの出力信号をGn、その前段および次段の単位シフトレジスタ回路SRの出力信号をそれぞれGn-1およびGn+1と定義する。
まず初期状態として、ノードN1がLレベル(VSS)、ノードN2がHレベル(VDD2−Vth)のリセット状態を仮定する。また、第1クロック端子A(クロック信号CLK)、第2クロック端子B(次段の出力信号Gn+1)、入力端子IN(前段の出力信号Gn-1)は何れもLレベルであるとする。
その状態から、前段の出力信号Gn-1がHレベルになると、それが当該単位シフトレジスタ回路SRの入力端子INに入力されトランジスタQ3がオンになり、ノードN1のレベルは上昇する。それによりトランジスタQ7が導通し始め、ノードN2のレベルは下降する。そうなるとトランジスタQ5の抵抗が高くなり、ノードN1のレベルが急速に上昇してトランジスタQ7を充分にオンにする。その結果ノードN2はLレベル(VSS)になり、トランジスタQ5がオフになってノードN1がHレベル(VDD1−Vth)になる。その結果、トランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフとなるセット状態になる。
そして、クロック信号CLKがHレベルになり出力端子OUTのレベルが上昇すると、昇圧容量CおよびトランジスタQ1のゲート・チャネル間容量による容量結合によりノードN1のレベルは特定の電圧(昇圧量ΔV)だけ昇圧される。従って、出力信号Gnのレベルは第1クロック端子Aのレベルに追随して変化し、クロック信号CLKがHレベルである間は出力信号GnもHレベルになる。その後、クロック信号CLKがLレベルに戻ると出力信号GnもLレベルに戻る。
出力信号Gnが次段の単位シフトレジスタ回路SRに伝達された後、次段の出力信号Gn+1がHレベルになると、それが第2クロック端子Bに入力されてトランジスタQ4がオンになりノードN1がLレベルになる。それに伴ってトランジスタQ7がオフになるのでノードN2はHレベルになる。即ち、当該単位シフトレジスタ回路SRはリセット状態に戻り、トランジスタQ1がオフ、トランジスタQ2がオンになる。
このように、ゲート線駆動回路30が図5のように構成されている場合においても、それぞれの単位シフトレジスタ回路SRの動作は、第2クロック端子Bに入力される信号が後段の出力信号 n+1 であることを除けば図2の場合とほぼ同じである。
以上の動作を、図5のように縦続接続された単位シフトレジスタ回路SR1,SR2,・・・が順に行う。それによって、第1段目の単位シフトレジスタ回路SR1の入力端子INに入力された入力信号(スタートパルス)が、クロック信号CLK,/CLKに同期してシフトされながら、単位シフトレジスタ回路SR2,SR3,・・・と順番に伝達される。その結果、ゲート線駆動回路30は図6に示すタイミング図の如く、クロック信号CLK,/CLKに同期して、ゲート線GL1,GL2,GL3,・・・を順に駆動することができる。
但し、図5の構成では、各単位シフトレジスタ回路SRは、第2クロック端子Bに次段の単位シフトレジスタ回路SRの出力信号Gn+1が入力されるので、次段の単位シフトレジスタ回路SRが少なくとも一度動作した後でなければリセット状態(すなわち上記の初期状態)にならない。各単位シフトレジスタ回路SRは、リセット状態を経なければ図6に示したような通常動作を行うことができない。従って図5の構成の場合には、通常動作に先立って、ダミーの入力信号を単位シフトレジスタ回路SRの第1段目から最終段まで伝達させるダミー動作を行わせる必要がある。あるいは、各単位シフトレジスタ回路SRのノードN2と第3電源端子s3(高電位側電源)との間にリセット用のトランジスタを別途設け、通常動作の前に強制的にノードN2を充電するリセット動作を行なってもよい。但し、その場合はリセット用の信号ラインが別途必要になる。
ここで、上記の昇圧量ΔVについて説明する。先に述べたように、シフトレジスタ回路がゲート線を高速に充電できるようにするためには、昇圧量ΔVをより大きくする必要がある。図3に示す回路において、第1クロック端子Aに入力されるクロック信号の振幅をAc、昇圧容量Cの容量値をC0、トランジスタQ1のゲート容量をC1、ノードN1の寄生容量(トランジスタQ1のゲート容量を除く)をCpとすると、昇圧量ΔVは、
ΔV=Ac×(C0+C1)/(C0+C1+Cp) ・・・(1)
として求められる。図3の回路の場合、寄生容量CpはトランジスタQ7のゲート容量C7と、ノードN1となる配線に付随する容量(配線容量)CLとの和に相当する。式(1)から分かるように、Cpの値を小さくできれば、昇圧量ΔVを大きくすることができる。
先に述べたように、ゲート線駆動回路30を構成する単位シフトレジスタ回路SRは、出力信号Gnによってゲート線を高速に充電して活性化させる必要があるため、トランジスタQ1には大きな駆動能力が要求される。また昇圧量ΔVを大きくすることができれば、トランジスタQ1の駆動能力を大きくすることができ、ゲート線をより高速に充電することが可能になる。以下、これを実現可能な本発明に係るシフトレジスタ回路について説明する。
図7は、実施の形態1に係る単位シフトレジスタ回路SRの構成を示す回路図である。同図のように、当該単位シフトレジスタ回路SRの出力段も、出力端子OUTと第1クロック端子Aとの間に接続するトランジスタQ1(第1トランジスタ)と、出力端子OUTと第1電源端子s1との間に接続するトランジスタQ2(第2トランジスタ)とにより構成されている。また、トランジスタQ1のゲート・ソース間すなわちノードN1と出力端子OUTとの間には昇圧容量Cが設けられている。ノードN1と第2電源端子s2との間には、ゲートが入力端子INに接続するトランジスタQ3が接続しており、ノードN1と第1電源端子s1との間には、ゲートが第2クロック端子Bに接続するトランジスタQ4と、ゲートがノードN2に接続したトランジスタQ5とが接続している。ノードN2と第3電源端子s3との間にはダイオード接続されたトランジスタQ6が接続し、ノードN2と第1電源端子s1との間にはトランジスタQ7が接続する。以上の構成は図3に示した従来の単位シフトレジスタ回路SRと同様である。
但し本実施の形態においては、トランジスタQ7のゲート(制御電極)とノードN1とは直接接続するのではなく、トランジスタQ8およびトランジスタQ9とから成る分離回路を介して接続している。即ち、本実施の形態におけるトランジスタQ7は、分離回路を介してノードN1に接続するトランジスタ(第3トランジスタ)である。ここで、トランジスタQ7のゲートノードをノードN3(第3ノード)と定義する。
トランジスタQ8は、ノードN1とノードN3との間に接続しており、ゲートとドレイン(ノードN3)が接続されている。即ちトランジスタQ8はダイオード接続されており、ノードN3からノードN1への向きを導通方向とする一方向性のスイッチング素子として機能する(即ちノードN3側がアノード、ノードN1側がカソードとなる)。トランジスタQ9はノードN3と入力端子INとの間に接続しており、そのゲートは入力端子INに接続している。従って図7の回路では、入力端子INがHレベルになると、トランジスタQ3がオンしてノードN1が充電されるだけでなく、それと同時にトランジスタQ9もオンしてノードN3が充電される。つまりトランジスタQ9は、ノードN1の充電時にノードN3を充電する充電素子として機能する。
以下、本実施の形態に係る単位シフトレジスタ回路SRの動作を説明する。ここでは当該単位シフトレジスタ回路SRが図5のように接続してゲート線駆動回路30を構成している場合の動作を示す。ここでも、ゲート線駆動回路30を構成する複数の単位シフトレジスタ回路SRのうちの1つの動作を代表的に説明する。また、単位シフトレジスタ回路SRの第1クロック端子Aにはクロック信号CLKが入力されているものと仮定し、当該単位シフトレジスタ回路SRの出力信号をGn、その前段および次段の単位シフトレジスタ回路SRの出力信号をそれぞれGn-1およびGn+1と定義する。
まず初期状態として、ノードN1がLレベル(VSS)、ノードN2がHレベル(VDD2−Vth)のリセット状態を仮定する。また、第1クロック端子A(クロック信号CLK)、第2クロック端子B(次段の出力信号Gn+1)、入力端子IN(前段の出力信号Gn-1)は何れもLレベルであるとする。
その状態から、前段の単位シフトレジスタ回路SRの出力信号Gn-1がHレベルになると、トランジスタQ3およびトランジスタQ9がオンになる。このときノードN2はLレベルなのでトランジスタQ5もオンしているが、トランジスタQ3はトランジスタQ5よりも駆動能力が十分大きく設定されており、トランジスタQ3のオン抵抗はトランジスタQ5のオン抵抗に比べ十分低いため、ノードN1のレベルは上昇する。
トランジスタQ8はノードN3からノードN1への方向が導通方向になるようにダイオード接続されているため、ノードN3へは、ノードN1からの電荷供給はされないが、トランジスタQ9から電荷が供給される。それによりノードN3の電位が上昇すると、トランジスタQ7が導通し始め、ノードN2のレベルは下降する。そうなるとトランジスタQ5の抵抗が高くなり、ノードN1のレベルが急速に上昇する。応じてノードN3のレベルもさらに上昇してHレベルになり、トランジスタQ7を充分にオンにする。
その結果ノードN2はLレベル(VSS)になり、トランジスタQ5がオフになってノードN1がHレベル(VDD1−Vth)になる。即ち、トランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフのセット状態となる。なお、前段の出力信号Gn-1がLレベルに戻っても、ノードN1およびノードN3はフローティング状態であるので、このセット状態はその後も維持される。
そして、第1クロック端子Aのクロック信号CLKがHレベルになると、出力端子OUTのレベルが上昇する。このとき昇圧容量CおよびトランジスタQ1のゲート・チャネル間容量による容量結合によりノードN1のレベルが昇圧量ΔVだけ昇圧される。ノードN1が昇圧されると、出力信号Gnのレベルは第1クロック端子Aのレベルに追随して変化し、クロック信号CLKがHレベルである間は出力信号GnもHレベルになってゲート線を活性化する。またその後クロック信号CLKがLレベルに戻ると出力信号GnもLレベルに戻る。
ここで本実施の形態の単位シフトレジスタ回路SRでは、ノードN1からノードN3へは非導通であるので、ノードN1が昇圧されてノードN3より電位が高くなったときにはノードN1とノードN3との間が電気的に分離された状態となる。その結果、ノードN1の昇圧時における当該ノードN1の寄生容量CpにトランジスタQ7のゲート容量C7が寄与しなくなり、寄生容量Cpが低減される。式(1)から分かるように、寄生容量Cpが小さくなると昇圧量ΔVは大きくなり、その結果ノードN1昇圧時におけるトランジスタQ1の駆動能力が大きくなる。よって、当該単位シフトレジスタ回路SRはゲート線を高速に充電することができる。従って、当該単位シフトレジスタ回路SRにより構成されたゲート線駆動回路30の動作の高速化を図ることができ、液晶表示装置10の高解像度化に寄与できる。
その後、次段の出力信号Gn+1により第2クロック端子BがHレベルになるとトランジスタQ4はオンになり、ノードN1はLレベルになる。ノードN3からノードN1へは導通方向であるので、ノードN1がノードN3より電位が低くなると、ノードN3の電荷はトランジスタQ8を通してノードN1側へと放電されるので、ノードN3のレベルはノードN1と共に下降する。この下降後のノードN3のレベルはトランジスタQ8のしきい値電圧(Vth)であり、トランジスタQ7は弱反転領域で動作するが、流れる電流が少ないため、トランジスタQ6およびトランジスタQ7で構成されるインバータ(プルダウン駆動回路)の出力であるノードN2はHレベルとなる。即ち、トランジスタQ1がオフ、トランジスタQ2がオンのリセット状態に戻る。
なお、それ以降は前段の出力信号Gn-1がHレベルになるまでノードN3には電荷は供給されないので、ノードN3のレベルはトランジスタQ8のリーク電流により時間とともにVthから低下し、トランジスタQ7を流れる電流はさらに小さくなる。そうなるとトランジスタQ6およびトランジスタQ7で構成されるインバータはより反転しにくい安定した状態になる。
このように本実施の形態に係る単位シフトレジスタ回路SRは、図3に示した従来の回路と同様の動作を行うことが可能である。また先に述べたように、ノードN1の昇圧時における当該ノードN1の寄生容量CpにトランジスタQ7のゲート容量C7が寄与しないため、寄生容量Cpが低減される。従って、ノードN1昇圧時におけるトランジスタQ1の駆動能力が大きくなり、ゲート線を高速に充電することができる。
ところで先に述べたように、昇圧量ΔVを決定する因子であるノードN1の寄生容量Cpには、ノードN1の配線容量CLも寄与している。従って、ノードN1の配線容量CLをより小さくすることができれば、昇圧量ΔVをさらに大きくすることが可能になる。配線容量CLは、ノードN1となる配線の長さに依存するためその長さを短くするとよい。即ち、単位シフトレジスタ回路SRを構成する各素子をレイアウトする際に、トランジスタQ1および昇圧容量CとトランジスタQ8(即ち分離回路)とをできるだけ近接させて配置すると、ノードN1の配線容量CLを小さくできる。また本実施の形態に係る単位シフトレジスタ回路SRでは、ノードN1の昇圧時にノードN3がノードN1から電気的に分離されるので、ノードN3の配線容量は昇圧量ΔVに影響を与えない。従ってノードN3となる配線が多少長くなっても、それによって昇圧量ΔVが小さくなることはない。よって配線のレイアウトの際には、トランジスタQ1のゲートとトランジスタQ8のソースとの間の配線長、および、昇圧容量CとトランジスタQ8のソースとの配線長の少なくとも片方(望ましくは両方)を、トランジスタQ7のゲートとトランジスタQ8のドレインとの間の配線長よりも短くなるようにするとよい。
また、従来の単位シフトレジスタ回路SR(図3)では、ノードN1の配線容量CLを小さくするためには、トランジスタQ1および昇圧容量CとトランジスタQ7との間をできるだけ近接させて配置する必要があった。しかしトランジスタQ7は、トランジスタQ6と共にレシオ型インバータを構成しており、トランジスタQ6よりも充分大きな駆動能力が必要であるため、そのサイズ(ゲート幅)が一定以上大きくなければならない。よってトランジスタQ7のレイアウトには制限が多く、トランジスタQ7をトランジスタQ1および昇圧容量Cに近づけてレイアウトすることが困難であった。
それに対し、本実施の形態の単位シフトレジスタ回路SRでは、ノードN1の配線容量CLを小さくするためには、トランジスタQ1および昇圧容量CとトランジスタQ8(分離回路)とを近接させて配置すればよい。トランジスタQ8は、ノードN3に充電された電荷を放電するダイオードとして動作しさえすればよいので、駆動能力は比較的小さくてよく、サイズも小さくてよい。よってトランジスタQ8はレイアウトの自由度が高い。従って、本発明によれば、トランジスタQ8をトランジスタQ1および昇圧容量Cに近接させて配置することを容易に行え、ノードN1の配線容量CLを容易に小さくすることができるという効果も得られる。

以上の説明では、本発明に係る単位シフトレジスタ回路SRを図5のように接続した場合の動作を示したが、図2のように接続した場合においても適用可能である。
<実施の形態2>
図8は、本発明の実施の形態2に係る単位シフトレジスタ回路SRの構成を示す回路図である。本実施の形態では、トランジスタQ3のドレインを電源ではなく入力端子INに接続させる。それにより電源供給のための配線の占有面積を削減できる。但し、入力端子INにはその前段の出力端子OUTが接続するため、各単位シフトレジスタ回路SRの出力段への負荷が大きくなるので、回路動作の速度が劣化する場合もあることに留意すべきである。
<実施の形態3>
TFTを含む電界効果トランジスタは、ゲートにしきい値電圧以上の電圧が印加されたときに、ゲート絶縁膜を介したゲート電極の直下に形成される導電性チャネルによりドレイン・ソース間が電気的に接続されることにより導通する素子である。従って、導通状態の電界効果トランジスタは、ゲートとチャネルを両電極とし、ゲート絶縁膜を誘電体層とする容量素子(ゲート容量)としても機能することができる。
図9は実施の形態3に係る単位シフトレジスタ回路SRの構成を示す回路図である。実施の形態1ではトランジスタQ1のドレイン・ソース間に昇圧容量Cを設けていたが、本実施の形態ではそれをトランジスタQ1のゲート容量に置き換えている。その場合、図9の回路図の如く昇圧容量Cは不要になる。
通常、半導体集積回路内に形成される容量素子の誘電体層となる絶縁膜の厚さは、トランジスタのゲート絶縁膜の厚さと同じになるので、容量素子をトランジスタのゲート容量に置き換える場合には、その容量素子と同一面積のトランジスタで代替することができる。即ち、図9においてトランジスタQ1のゲート幅を相当分広くすることで、実施の形態1に係る図7の回路と同等の昇圧動作を実現できる。またトランジスタQ1のゲート幅を広くすることによりその駆動能力が高くなるので、結果として出力信号の立上りおよび立下り速度が速くなり、動作の高速化を図ることができるという利点もある。
<実施の形態4>
図10は、実施の形態4に係る単位シフトレジスタ回路SRの構成を示す回路図である。当該単位シフトレジスタ回路SRでは、実施の形態図1に係る図7の回路に対して、ノードN3と第1電源端子s1(低電位側電源電位VSS)との間にトランジスタQ10を接続したものである。トランジスタQ10のゲートは第2クロック端子Bに接続している。
上記のように、図7の回路においては、第2クロック端子BがHレベルになることでノードN1のレベルが下降し、それに伴ってノードN3のレベルが下降した直後では、ノードN3はトランジスタQ8のしきい値電圧(Vth)のレベルになるのであって、低電位側電源電位VSSまでは降下しない。その場合であっても、トランジスタQ7を流れる電流は少ないため通常は、動作への支障はない。しかし、トランジスタのしきい値電圧にばらつきがあり、トランジスタQ8のしきい値電圧が高い場合や、トランジスタQ7のしきい値電圧が低い場合には、トランジスタQ7が充分にオフせずに単位シフトレジスタ回路SRの誤動作を招く恐れがある。
それに対し本実施の形態に係る図10の単位シフトレジスタ回路SRでは、第2クロック端子BがHレベルになると、トランジスタQ10がオンするため、ノードN3のレベルを低電位側電源電位VSSにまで下降する。即ち、トランジスタQ6およびトランジスタQ7で構成されるインバータ(プルダウン駆動回路)の入力を確実にLレベルにできる。従って、トランジスタのしきい値電圧にばらつきがあった場合においても、トランジスタQ7を確実にオフさせることができる。よって、トランジスタのしきい値電圧のばらつきに起因する単位シフトレジスタ回路SRの誤動作を防止することができ、動作の信頼性が向上する。
なお、図示は省略するが、本実施の形態においても実施の形態2のようにトランジスタQ3のドレインを入力端子INに接続してもよい。また、実施の形態3のようにトランジスタQ1の面積を大きくし、昇圧容量CをトランジスタQ1のゲート容量に置き換えた構成としてもよい。
<実施の形態5>
図11は、例えば上記特許文献2の図14に開示されている従来の単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。この単位シフトレジスタ回路SRは、トランジスタQ6およびトランジスタQ7から成るレシオ型インバータ(プルダウン駆動回路)の出力が直接ノードN2に印加されるのではなく、トランジスタQ11およびトランジスタQ12から成るバッファを介して印加されるように構成されている。
この場合ノードN1の寄生容量Cpは、トランジスタQ7のゲート容量C7と、トランジスタQ12のゲート容量C12と、ノードN1となる配線に付随する容量(配線容量)CLとの和に相当する。即ち、図3の回路と比較すると、図11の回路ではトランジスタQ12のゲート容量C12の分だけノードN1の寄生容量Cpが大きくなり、式(1)から得られる昇圧量ΔVは小さくなる。
本実施の形態では、図11のようにプルダウン駆動回路の出力がバッファを介してノードN2に印加されるタイプの単位シフトレジスタ回路SRに対して本発明を適用する。その回路図を図12に示す。バッファを構成するトランジスタQ12のゲートはノードN3に接続される。即ち本実施の形態に係る単位シフトレジスタ回路SRは、分離回路を介してノードN1に接続するトランジスタ(第3トランジスタ)を、トランジスタQ7およびトランジスタQ12の2つ有している。
上記のように、本発明に係る単位シフトレジスタ回路SRにおいては、ノードN1の昇圧時にはノードN3がノードN1から電気的に分離されるので、ノードN3に接続したトランジスタQ7およびトランジスタQ2のゲート容量が、共にノードN1の寄生容量Cpに寄与しない。つまり図12の回路におけるノードN1の寄生容量Cpは、実施の形態1(図7)と同様になる。よって昇圧量ΔVが大きくなり、ノードN1昇圧時におけるトランジスタQ1の駆動能力が大きくなる。従って、当該単位シフトレジスタ回路SRはゲート線を高速に充電することができるようになる。
さらに、図12の回路に実施の形態5を適用し、図13の如くノードN3と第1電源端子s1(低電位側電源電位VSS)との間に、ゲートが第2クロック端子Bに接続したトランジスタQ10を設けてもよい。それにより実施の形態5と同様に、第2クロック端子Bの信号に基づいてトランジスタQ7を確実にオフさせることができ、トランジスタのしきい値電圧のばらつきに起因する単位シフトレジスタ回路SR誤動作を防止でき、動作信頼性が向上する。
なお、図示は省略するが、本実施の形態においても実施の形態2のようにトランジスタQ3のドレインを入力端子INに接続してもよい。また、実施の形態3のようにトランジスタQ1の面積を大きくして昇圧容量CをトランジスタQ1のゲート容量に置き換えた構成としてもよい。
本発明の実施の形態に係る表示装置の構成を示す概略ブロック図である。 単位シフトレジスタ回路を用いたゲート線駆動回路の構成例を示すブロック図である。 従来の単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。 ゲート線駆動回路の動作を示すタイミング図である。 単位シフトレジスタ回路を用いたゲート線駆動回路の構成例を示すブロック図である。 ゲート線駆動回路の動作を示すタイミング図である。 実施の形態1に係る単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。 実施の形態2に係る単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。 実施の形態3に係る単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。 実施の形態4に係る単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。 従来の単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。 実施の形態5に係る単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。 実施の形態5に係る単位シフトレジスタ回路の構成を示す回路図である。
符号の説明
30 ゲート線駆動回路、SR 単位シフトレジスタ回路、Q1〜Q12 トランジスタ、C 昇圧容量、N1〜N3 ノード、A 第1クロック端子、B 第2クロック端子、IN 入力端子、OUT 出力端子、s1〜s8 電源端子。

Claims (7)

  1. クロック端子に入力されるクロック信号を出力端子に供給する第1トランジスタと、
    前記出力端子を放電する第2トランジスタとを備え、
    前記第1トランジスタの制御電極が接続するノードを第1ノードとし、
    前記第2トランジスタの制御電極が接続するノードを第2ノードとし、
    その制御電極が所定の分離回路を介して前記第1ノードに接続し、前記第2ノードと電源端子との間に接続した第3トランジスタをさらに備え、
    前記第3トランジスタの制御電極が接続するノードを第3ノードとし、
    入力端子に入力される入力信号に応じて前記第1ノードを充電する第4トランジスタをさらに備え、
    前記分離回路は、
    前記入力信号に応じて前記第3ノードを充電する第5トランジスタを含み
    前記分離回路は、
    前記第1ノードの電位の絶対値が前記第3ノードの電位の絶対値よりも大きくなるときに、前記第3ノードと前記第1ノードとの間を電気的に分離する
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  2. 請求項1記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記分離回路は、
    前記第3ノードから前記第1ノードへの放電は許し、前記第1ノードから前記第3ノードへの充電は阻止する一方向性のスイッチング素子をさらに含む
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  3. 請求項1または請求項2のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第1トランジスタの制御電極と前記分離回路とを接続する配線の長さは、前記分離回路と前記第3トランジスタとを接続する配線の長さよりも短い
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  4. 請求項1から請求項3のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第1ノードと前記出力端子との間に接続する容量素子をさらに備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  5. 請求項4記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記容量素子と前記分離回路とを接続する配線の長さは、前記分離回路と前記第3トランジスタとを接続する配線の長さよりも短い
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  6. 請求項1から請求項5のいずれか記載のシフトレジスタ回路が複数個縦続接続して成るシフトレジスタ回路。
  7. 請求項6記載のシフトレジスタ回路をゲート線駆動回路とする画像表示装置。
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