JP5089396B2 - 試験装置、ピンエレクトロニクスカード、電気機器、及びスイッチ - Google Patents
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Description
特願2005−297823 出願日 2005年10月12日
Claims (21)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスと信号の授受を行うピンエレクトロニクス部と、
前記ピンエレクトロニクス部を介して、前記被試験デバイスに試験パターンを入力するパターン発生部と、
前記ピンエレクトロニクス部を介して、前記被試験デバイスの出力信号を受け取り、前記出力信号に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記ピンエレクトロニクス部は、
前記被試験デバイスと信号の授受を行う内部回路と、
前記内部回路を、前記被試験デバイスと接続する第1伝送線路と、
前記被試験デバイスの非試験時に、前記第1伝送線路を接地電位に接続し、前記被試験デバイスの試験時に、前記第1伝送線路を接地電位から切り離す第1スイッチと
を有する試験装置。 - 前記第1スイッチは、前記ピンエレクトロニクス部に電源電力が供給された場合にオフ状態となり、前記ピンエレクトロニクス部に前記電源電力が供給されない場合にオン状態となるスイッチである
請求項1に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、前記ピンエレクトロニクス部に前記電源電力が供給されている状態において、前記被試験デバイスが前記ピンエレクトロニクス部から取り外される場合に、前記第1スイッチをオン状態に制御するスイッチ制御部を更に有する
請求項2に記載の試験装置。 - 前記第1スイッチは、
前記第1伝送線路と接続される第1固定接点と、
前記接地電位と接続される第2固定接点と、
前記第1固定接点と前記第2固定接点とを接続するか否かを切り替えるカンチレバーと、
前記第1固定接点及び前記第2固定接点の周囲に、前記第1固定接点及び前記第2固定接点と略平行に設けられ、接地電位が与えられる接地部と
を有し、
前記接地部は、前記第1固定接点及び前記第2固定接点と略平行な端辺から、前記第1固定接点に向かって突出して設けられた突出部を有する
請求項2に記載の試験装置。 - 前記第1スイッチは、前記第1固定接点、前記第2固定接点、前記カンチレバー、及び前記接地部を内部に密閉し、放電ガスが内部に充填されるパッケージ部を更に有する
請求項4に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、前記第1伝送線路において、前記第1スイッチと、前記内部回路との間に設けられ、前記被試験デバイスと、前記内部回路とを接続するか否かを切り替える第2スイッチを更に有する
請求項3に記載の試験装置。 - 前記第2スイッチは、前記ピンエレクトロニクス部に電源電力が供給された場合にオフ状態となり、前記ピンエレクトロニクス部に前記電源電力が供給されない場合にオン状態となるスイッチである
請求項6に記載の試験装置。 - 前記スイッチ制御部は、前記被試験デバイスの試験時に、前記第2スイッチをオン状態に制御し、前記被試験デバイスの非試験時に、前記第2スイッチをオフ状態に制御する
請求項7に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、前記第1伝送線路と、直流電源とを接続する第2伝送線路を更に有し、
前記第2スイッチは、前記第1伝送線路及び前記第2伝送線路の接続点と、前記内部回路との間における前記第1伝送線路に設けられる
請求項8に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、前記第2伝送線路に設けられ、前記第1伝送線路と、前記直流電源とを接続するか否かを切り替える第3スイッチを更に有する
請求項9に記載の試験装置。 - 前記第3スイッチは、前記ピンエレクトロニクス部に電源電力が供給された場合にオフ状態となり、前記ピンエレクトロニクス部に前記電源電力が供給されない場合にオン状態となるスイッチである
請求項10に記載の試験装置。 - 前記スイッチ制御部は、
前記被試験デバイスの機能試験時に、前記第2スイッチをオン状態に制御し、前記第3スイッチをオフ状態に制御し、
前記被試験デバイスの直流試験時に、前記第2スイッチをオフ状態に制御し、前記第3スイッチをオン状態に制御し、
前記内部回路のキャリブレーション時に、前記第2スイッチ及び前記第3スイッチをオン状態に制御する
請求項11に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、
所定の信号を出力する基準ドライバと、
前記基準ドライバの信号出力端に、信号入力端が接続された基準コンパレータと、
前記第1スイッチに、前記接地電位又は前記基準ドライバの前記信号出力端のいずれを接続するかを切り替える第4スイッチと
を更に有する請求項1に記載の試験装置。 - 前記第1伝送線路及び前記被試験デバイスを接続するケーブル部と、
前記被試験デバイスの非試験時において、キャリブレーションを行うキャリブレーション部と
を更に備え、
前記キャリブレーション部は、
前記第4スイッチに、前記第1スイッチと前記基準コンパレータとを接続させるスイッチ制御部と、
前記基準ドライバに、所定の基準信号を出力させるドライバ制御部と、
前記基準コンパレータが検出する、前記基準ドライバが出力する前記基準信号と、前記ケーブル部のデバイス側端における反射信号との合成波形に基づいて、前記ケーブル部における信号遅延量を測定する測定部と、
前記信号遅延量に基づいて、前記内部回路をキャリブレーションする設定部と
を有する
請求項13に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、
外部の測定装置と接続される接続ポートと、
前記第1スイッチに、前記接地電位又は前記接続ポートのいずれを接続するかを切り替える第4スイッチと
を更に有する請求項1に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、それぞれが前記内部回路、前記第1伝送線路、前記第1スイッチ、前記基準ドライバ、前記基準コンパレータ、及び前記第4スイッチを有する複数の入出力回路を有し、
前記測定部は、それぞれの前記入出力回路毎に、前記ケーブル部における前記信号遅延量を測定し、
前記設定部は、それぞれの前記信号遅延量の差に基づいて、それぞれの前記内部回路をキャリブレーションする
請求項14に記載の試験装置。 - 前記ピンエレクトロニクス部は、それぞれが前記内部回路、前記第1伝送線路、及び前記第1スイッチを有する複数の入出力回路を有し、
前記キャリブレーション部は、
前記基準ドライバの前記信号出力端を、いずれの前記入出力回路の前記第1スイッチに接続するかを切り替える切替部を更に有する
請求項14に記載の試験装置。 - 被試験デバイスを試験する試験装置において、前記被試験デバイスと信号の授受を行うピンエレクトロニクスカードであって、
前記被試験デバイスと信号の授受を行う内部回路と、
前記内部回路を、前記被試験デバイスと接続する第1伝送線路と、
前記被試験デバイスの非試験時に、前記第1伝送線路を接地電位に接続し、前記被試験デバイスの試験時に、前記第1伝送線路を接地電位から切り離す第1スイッチと
を備えるピンエレクトロニクスカード。 - 電気機器であって、
内部回路と、
外部と電気的に接続される端子と、
前記内部回路と前記端子とを接続する伝送線路と、
前記電気機器に電源電力が供給されているか否かに応じてオンオフが切り替わり、前記電気機器に電源電力が供給されていない場合に、前記伝送線路を接地電位に接続し、前記電気機器に電源電力が供給されている場合に、前記伝送線路を前記接地電位から切り離すノーマリオンのスイッチと
を備え、
前記スイッチは、
2つの導電体を電気的に接続するか否かを切り替えるスイッチであって、
前記導電体の一方に接続される第1固定接点と、
前記第1固定接点と分離して設けられ、前記導電体の他方に接続される第2固定接点と、
前記第1固定接点と前記第2固定接点とを接続するか否かを切り替えるカンチレバーと、
前記第1固定接点及び前記第2固定接点の周囲に、前記第1固定接点及び前記第2固定接点と略平行に設けられ、接地電位が与えられる接地部と
を備え、
前記接地部は、前記第1固定接点及び前記固定接点と略平行な端辺から、前記第1固定接点に向かって突出して設けられた突出部を有する電気機器。 - 2つの導電体を電気的に接続するか否かを切り替えるスイッチであって、
前記導電体の一方に接続される第1固定接点と、
前記第1固定接点と分離して設けられ、前記導電体の他方に接続される第2固定接点と、
前記第1固定接点と前記第2固定接点とを接続するか否かを切り替えるカンチレバーと、
前記第1固定接点及び前記第2固定接点の周囲に、前記第1固定接点及び前記第2固定接点と略平行に設けられ、接地電位が与えられる接地部と
を備え、
前記接地部は、前記第1固定接点及び前記固定接点と略平行な端辺から、前記第1固定接点に向かって突出して設けられた突出部を有するスイッチ。 - 前記第1固定接点、前記第2固定接点、前記カンチレバー、及び前記接地部を内部に密閉し、放電ガスが内部に充填されるパッケージ部を更に備える
請求項20に記載のスイッチ。
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