JP5183814B1 - スイッチ装置および試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1端子および第2端子の間に設けられたメインスイッチと、メインスイッチをオンとする場合に、メインスイッチを流れる電流の方向によらず同一のゲートソース電圧をメインスイッチに供給するスイッチ制御部とを備え、スイッチ制御部は、メインスイッチをオンとする場合に、第1端子および第2端子の少なくとも一方からの電圧を基準とするゲートソース電圧をメインスイッチのゲートに供給するスイッチ装置を提供する。
【選択図】図1
Description
特許文献1 特開平6−244694
Claims (8)
- 第1端子および第2端子の間に設けられたメインスイッチと、
前記第1端子、前記第2端子、および前記メインスイッチのゲートに接続され、前記メインスイッチをオンとする場合に、前記第1端子の電圧および前記第2端子の電圧のうち、大きい方または小さい方の電圧を前記メインスイッチのゲートに供給して、前記メインスイッチを流れる電流の方向によらず同一のゲートソース電圧を前記メインスイッチに供給するスイッチ制御部と、
を備えるスイッチ装置。 - 前記スイッチ制御部は、前記メインスイッチをオンとする場合に、前記第1端子および前記第2端子の少なくとも一方からの電圧を基準とする前記ゲートソース電圧を前記メインスイッチのゲートに供給する請求項1に記載のスイッチ装置。
- 第1端子および第2端子の間に設けられたメインスイッチと、
前記メインスイッチをオンとする場合に、前記第1端子の電圧および前記第2端子の電圧の間の中間電圧を前記メインスイッチのゲートに供給して、前記メインスイッチを流れる電流の方向によらず同一のゲートソース電圧を前記メインスイッチに供給するスイッチ制御部と、
を備えるスイッチ装置。 - 前記スイッチ制御部は、
前記第1端子および前記第2端子の電圧を入力して前記ゲートソース電圧を生成するゲートソース電圧生成部と、
前記メインスイッチをオンとする場合に、前記ゲートソース電圧生成部に対して前記第1端子および前記第2端子の電圧を入力し、前記メインスイッチをオフとする場合に、前記ゲートソース電圧生成部に対する前記第1端子および前記第2端子の電圧の入力を遮断するオン制御部と、
を有する請求項1から3のいずれか一項に記載のスイッチ装置。 - 前記スイッチ制御部は、
前記第1端子および前記第2端子の電圧を入力して前記ゲートソース電圧を生成するゲートソース電圧生成部と、
前記メインスイッチをオンとする場合に、前記ゲートソース電圧生成部が出力した前記ゲートソース電圧を前記メインスイッチに供給し、前記メインスイッチをオフとする場合に、前記メインスイッチに対する前記ゲートソース電圧の供給を遮断するオン制御部と、
を有する請求項1から3のいずれか一項に記載のスイッチ装置。 - 前記スイッチ制御部は、前記メインスイッチをオフとする場合に、前記メインスイッチをオフとするオフ電圧を前記メインスイッチのゲートに供給するオフ制御部を有する請求項1から5のいずれか一項に記載のスイッチ装置。
- 前記メインスイッチは、GaN半導体スイッチである請求項1から6のいずれか一項に記載のスイッチ装置。
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスとの間で信号を伝送して前記被試験デバイスを試験する試験部と、
前記試験部と前記被試験デバイスとの間を電気的に接続または切断する、請求項1から7のいずれか一項に記載のスイッチ装置と、
を備える試験装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015076709A (ja) * | 2013-10-08 | 2015-04-20 | 株式会社アドバンテスト | スイッチ装置および試験装置 |
JP2018050289A (ja) * | 2016-09-16 | 2018-03-29 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | スイッチ装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6306962B2 (ja) * | 2014-07-16 | 2018-04-04 | 株式会社アドバンテスト | 半導体スイッチおよびそれを用いた試験装置 |
US9240780B1 (en) * | 2014-07-21 | 2016-01-19 | Continental Automotive Systems, Inc. | Preventing voltage pulse propagation in a disabled capacitive feedback slew-controlled switch |
JP6823454B2 (ja) | 2016-12-28 | 2021-02-03 | 株式会社アドバンテスト | デバイス測定用治具 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04273716A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-29 | Ricoh Co Ltd | アナログスイッチ |
WO2004114508A1 (ja) * | 2003-06-23 | 2004-12-29 | Sanken Electric Co., Ltd. | 交流スイッチ |
WO2007043482A1 (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-19 | Advantest Corporation | 試験装置、ピンエレクトロニクスカード、電気機器、及びスイッチ |
JP2009124667A (ja) * | 2007-01-25 | 2009-06-04 | Panasonic Corp | 双方向スイッチ及びその駆動方法 |
JP2009159222A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Sanken Electric Co Ltd | スイッチ装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06244694A (ja) | 1993-02-16 | 1994-09-02 | Yokogawa Electric Corp | 半導体スイッチ装置 |
KR100226227B1 (ko) | 1997-03-18 | 1999-10-15 | 윤덕용 | 자려발진형 델타변조 d급 음향증폭기 |
JP3571034B2 (ja) * | 2002-06-18 | 2004-09-29 | 独立行政法人 科学技術振興機構 | 磁気抵抗ランダムアクセスメモリー装置 |
JP2009027081A (ja) * | 2007-07-23 | 2009-02-05 | Hitachi Cable Ltd | 半導体集積回路装置及びこれを用いた半導体スイッチ装置 |
KR101493868B1 (ko) * | 2008-07-10 | 2015-02-17 | 삼성전자주식회사 | 자기 메모리 소자의 구동 방법 |
US8179154B2 (en) * | 2008-10-30 | 2012-05-15 | Advantest Corporation | Device, test apparatus and test method |
JP5108915B2 (ja) * | 2010-05-19 | 2012-12-26 | 株式会社日本自動車部品総合研究所 | 乗員検知装置 |
JP5603674B2 (ja) * | 2010-06-24 | 2014-10-08 | 株式会社アドバンテスト | スイッチ装置および試験装置 |
US20140361790A1 (en) * | 2013-06-11 | 2014-12-11 | Advantest Corporation | Drive circuit, switch apparatus, and test apparatus |
-
2012
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-
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04273716A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-29 | Ricoh Co Ltd | アナログスイッチ |
WO2004114508A1 (ja) * | 2003-06-23 | 2004-12-29 | Sanken Electric Co., Ltd. | 交流スイッチ |
WO2007043482A1 (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-19 | Advantest Corporation | 試験装置、ピンエレクトロニクスカード、電気機器、及びスイッチ |
JP2009124667A (ja) * | 2007-01-25 | 2009-06-04 | Panasonic Corp | 双方向スイッチ及びその駆動方法 |
JP2009159222A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Sanken Electric Co Ltd | スイッチ装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015076709A (ja) * | 2013-10-08 | 2015-04-20 | 株式会社アドバンテスト | スイッチ装置および試験装置 |
JP2018050289A (ja) * | 2016-09-16 | 2018-03-29 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | スイッチ装置 |
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