JP4933733B2 - 信号伝送システム、信号出力回路基板、信号受信回路基板、信号出力方法、及び信号受信方法 - Google Patents

Description

本発明は、信号伝送システム、信号出力回路基板、信号受信回路基板、信号出力方法、及び信号受信方法に関する。特に本発明は、信号を伝送する信号伝送システム、信号を外部へ送出する信号出力回路基板及び信号出力方法、並びに信号を外部から受信する信号受信回路基板及び信号受信方法に関する。

一般に、ケーブルや基盤上の信号配線等の伝送線路を用いて高速な信号を伝送する場合、伝送線路の周波数特性によって、低周波信号に比べて高周波信号がより大きく減衰する。このことは、半導体デバイスの試験装置や計測システム等において大きな問題となっている。そこで、従来、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させるピーキング回路を信号の伝送線路上に設けることにより、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差異を軽減するという方法が用いられている。
現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。

しかしながら、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させるべく用いられるピーキング回路のインピーダンスは、伝送される信号の周波数が高くなるに従って変化するので、伝送線路においてインピーダンスの整合を取ることは困難である。

近年、半導体デバイスの試験装置や計測システム等の信号伝送システムにおいて、より高い周波数の信号を伝送する必要性が高まっている。しかし、前述したような、ピーキング回路が伝送線路に設けられている信号伝送システムにおいては、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差は軽減されるものの、周波数が高くなるに従ってインピーダンスの不整合が顕著になることにより、信号の損失が増大し、大きな問題となっている。

そこで本発明は、上記の課題を解決することができる信号伝送システム、信号出力回路基板、信号受信回路基板、信号出力方法、及び信号受信方法を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、信号伝送システムであって、信号を出力するドライバと、信号を伝送する伝送線路と、伝送線路中に直列に挿入され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる挿入型減衰器と、伝送線路と基準電位との間に接続され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる付加型減衰器とを備え、ドライバ、挿入型減衰器、および付加型減衰器によって作られる合成インピーダンスは、伝送線路のインピーダンスに等しい。

当該信号伝送システムは、基準電位として、信号の中心レベルを任意に可変できる基準電位供給部を更に備えてもよい。挿入型減衰器は、伝送線路上におけるドライバの近傍に設けられ、付加型減衰器は、ドライバと挿入型減衰器との間に設けられていてもよい。当該信号伝送システムは、伝送線路を伝送された信号を受信する受信部を更に備え、挿入型減衰器は、伝送線路上における受信部の近傍に設けられ、付加型減衰器は、受信部と挿入型減衰器との間に設けられていてもよい。当該信号伝送システムは、基準電位として、受信部における終端電圧を任意に可変できる基準電位供給部を更に備えてもよい。

当該信号伝送システムは、伝送線路を伝送された信号を受信する受信部を更に備え、挿入型減衰器は、伝送線路上における受信部の近傍に更に設けられ、付加型減衰器は、受信部と挿入型減衰器との間に更に設けられていてもよい。ドライバは、半導体デバイスを試験する試験装置における、試験信号を駆動するピンカードに設けられており、受信部は、半導体デバイスに接触する接触端子が設けられたパフォーマンスボードに設けられていてもよい。受信部は、半導体デバイスであってもよい。

当該信号伝送システムは、伝送線路において、挿入型減衰器をバイパスさせるバイパススイッチを更に備えてもよい。低周波信号の減衰が異なる複数の挿入型減衰器が並列に設けられており、当該信号伝送システムは、複数の挿入型減衰器の中の、一部の挿入型減衰器を選択する挿入型減衰器選択スイッチを更に備えてもよい。当該信号伝送システムは、伝送線路から付加型減衰器を切り離す切り離しスイッチを更に備えてもよい。低周波信号の減衰が異なる複数の付加型減衰器が直列に設けられており、当該信号伝送システムは、複数の付加型減衰器の中の、一部の付加型減衰器を選択し、他の付加型減衰器をバイパスする付加型減衰器選択スイッチを更に備えてもよい。

また、本発明の第２の形態においては、信号を外部へ送出する信号出力回路基板であって、信号を出力するドライバと、信号を外部へ送出するコネクタと、ドライバとコネクタとの間に直列に挿入され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる挿入型減衰器と、挿入型減衰器をバイパスさせるバイパススイッチと、信号を受け取る信号受信回路基板がコネクタを介して当該信号出力回路基板に接続された場合に、ドライバから信号受信回路基板までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定部と、減衰レベルが基準値よりも小さかった場合にバイパススイッチを導通状態にするスイッチ制御部とを備える。

ドライバとコネクタとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の挿入型減衰器が並列に設けられており、当該信号出力回路基板は、複数の挿入型減衰器の中の、一部の挿入型減衰器を選択する挿入型減衰器選択スイッチを更に備え、スイッチ制御部は、測定部によって測定された減衰レベルに基づいて、挿入型減衰器選択スイッチに、複数の挿入型減衰器の中の、一部の挿入型減衰器を選択させてもよい。

また、本発明の第３の形態においては、信号を外部から受信する信号受信回路基板であって、信号を外部から受け取るコネクタと、信号を、コネクタを介して受信するレシーバと、コネクタからレシーバへ信号を伝送する信号配線と、信号配線と基準電位とを接続し、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる付加型減衰器と、付加型減衰器を切り離す切り離しスイッチと、信号を送出する信号出力回路基板が、コネクタを介して当該信号受信回路基板に接続された場合に、信号出力回路基板からレシーバまでの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定部と、減衰レベルが基準値よりも小さかった場合に、切り離しスイッチによって付加型減衰器を切り離すスイッチ制御部とを備える。

コネクタとレシーバとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の付加型減衰器が直列に設けられており、当該信号受信回路基板は、複数の付加型減衰器の中の、一部の付加型減衰器を選択し、他の付加型減衰器をバイパスする付加型減衰器選択スイッチを更に備え、スイッチ制御部は、測定部によって測定された減衰レベルに基づいて、付加型減衰器選択スイッチに、複数の付加型減衰器の中の、一部の付加型減衰器を選択させてもよい。

また、本発明の第４の形態においては、信号を外部へ送出する信号出力回路基板を用いる信号出力方法であって、ドライバが、信号を出力する出力ステップと、コネクタが、信号を外部へ送出する送出ステップと、ドライバとコネクタとの間に直列に挿入された挿入型減衰器が、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる減衰ステップと、バイパススイッチが、挿入型減衰器をバイパスさせるバイパスステップと、信号を受け取る信号受信回路基板がコネクタを介して信号出力回路基板に接続された場合に、ドライバから信号受信回路基板までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定ステップと、減衰レベルが基準値よりも小さかった場合にバイパススイッチを導通状態にするスイッチ制御ステップとを備える。

信号出力回路基板において、ドライバとコネクタとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の挿入型減衰器が並列に設けられており、当該信号出力方法は、挿入型減衰器選択スイッチが、複数の挿入型減衰器の中の、一部の挿入型減衰器を選択する選択ステップを更に備え、スイッチ制御ステップは、測定ステップにおいて測定された減衰レベルに基づいて、挿入型減衰器選択スイッチに、複数の挿入型減衰器の中の、一部の挿入型減衰器を選択させてもよい。

また、本発明の第５の形態においては、信号を外部から受信する信号受信回路基板を用いる信号受信方法であって、コネクタが、信号を外部から受け取る受け取りステップと、レシーバが、信号を、コネクタを介して受信する受信ステップと、信号配線が、コネクタからレシーバへ信号を伝送する伝送ステップと、信号配線と基準電位とを接続する付加型減衰器が、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる減衰ステップと、切り離しスイッチが、付加型減衰器を切り離す切り離しステップと、信号を送出する信号出力回路基板が、コネクタを介して信号受信回路基板に接続された場合に、信号出力回路基板からレシーバまでの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定ステップと、減衰レベルが基準値よりも小さかった場合に、切り離しスイッチによって付加型減衰器を切り離すスイッチ制御ステップとを備える。

信号受信回路基板において、コネクタとレシーバとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の付加型減衰器が直列に設けられており、当該信号受信方法は、付加型減衰器選択スイッチが、複数の付加型減衰器の中の、一部の付加型減衰器を選択し、他の付加型減衰器をバイパスする選択ステップを更に備え、スイッチ制御ステップは、測定ステップにおいて測定された減衰レベルに基づいて、付加型減衰器選択スイッチに、複数の付加型減衰器の中の、一部の付加型減衰器を選択させてもよい。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本発明によれば、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を軽減しながらも、伝送線路におけるインピーダンスの整合を取ることができる。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本発明の第１の実施形態に係る信号伝送システム１０の構成の一例を示すブロック図である。信号伝送システム１０は、半導体デバイスを試験する試験装置において、ＤＵＴ（Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ：被試験デバイス）１５６に供給する試験信号を伝送する。信号伝送システム１０は、ＤＵＴ１５６が有する複数の端子のそれぞれに対して設けられたピンカード１００、並びにピンカード１００に伝送線路１４０及び伝送線路１４２を介して接続するパフォーマンスボード１５０を備える。伝送線路１４０及び伝送線路１４２は、例えば、ピンカード１００及びパフォーマンスボード１５０を接続するケーブルと、ピンカード１００及びパフォーマンスボード１５０のそれぞれにおける基板上の信号配線との少なくとも一方を含んでいてよい。

本発明の第１の実施形態に係る信号伝送システム１０は、信号を伝送する伝送線路１４０及び伝送線路１４２が長い場合や、高い周波数の信号を伝送する場合など、高周波信号が低周波信号よりも大きく減衰する場合において、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を軽減すると共に、伝送線路１４０及び伝送線路１４２においてインピーダンスの整合を取ることにより、伝送する信号の損失を補正することを目的とする。

ピンカード１００は、波形成形部１０２、ドライバ１０４、付加型減衰器１０６、挿入型減衰器１０８、挿入型減衰器１１０、付加型減衰器１１２、コンパレータ１１４、及び論理比較部１１６を有し、ＤＵＴ１５６に供給する試験信号を駆動すると共に、ＤＵＴ１５６が試験信号に対応して出力する出力信号を期待値と比較する。波形成形部１０２は、ＤＵＴ１５６に供給する試験信号の波形を成形してドライバ１０４に出力する。ドライバ１０４は、波形成形部１０２から受け取った試験信号を、伝送線路１４０を介してパフォーマンスボード１５０に出力する。付加型減衰器１０６は、伝送線路１４０と基準電位との間に接続され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、高周波信号及び低周波信号とは、試験信号における高周波成分及び低周波成分であってもよい。また、付加型減衰器１０６は、ドライバ１０４と挿入型減衰器１０８との間に設けられていてよい。なお、付加型減衰器１０６は、伝送される試験信号の周波数によって、異なるインピーダンスを示す。具体的には、付加型減衰器１０６は、試験信号の周波数が高くなる程、より高いインピーダンスを示す。挿入型減衰器１０８は、伝送線路１４０中に直列に挿入され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、挿入型減衰器１０８は、伝送線路１４０上におけるドライバ１０４の近傍に設けられていてよい。なお、挿入型減衰器１０８は、伝送される試験信号の周波数によって、異なるインピーダンスを示す。具体的には、挿入型減衰器１０８は、付加型減衰器１０６とは異なり、試験信号の周波数が高くなる程、より低いインピーダンスを示す。

パフォーマンスボード１５０は、挿入型減衰器１５２、付加型減衰器１５４、ＤＵＴ１５６、付加型減衰器１５８、及び挿入型減衰器１６０を有する。また、パフォーマンスボード１５０には、ＤＵＴ１５６に接触する接触端子が設けられており、パフォーマンスボード１５０は、ドライバ１０４が出力した試験信号を受信し、受信した信号を、当該接触端子を介してＤＵＴ１５６に供給する。更に、パフォーマンスボード１５０は、ＤＵＴ１５６が出力した出力信号を、当該接触端子を介して受け取り、受け取った信号をコンパレータ１１４に送信する。なお、ＤＵＴ１５６は、本発明における受信部の一例である。挿入型減衰器１５２は、伝送線路１４０中に直列に挿入され、高周波信号を低周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、挿入型減衰器１５２は、伝送線路１４０上における受信部１５６の近傍に設けられていてよい。なお、挿入型減衰器１５２は、試験信号の周波数が高くなる程、より低いインピーダンスを示す。付加型減衰器１５４は、伝送線路１４０と基準電位との間に接続され、高周波信号を低周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、付加型減衰器１５４は、受信部１５６と挿入型減衰器１５２との間に設けられていてよい。なお、付加型減衰器１５４は、挿入型減衰器１５２とは異なり、試験信号の周波数が高くなる程、より高いインピーダンスを示す。受信部１５６は、ドライバ１０４により出力され、伝送線路１４０を伝送された試験信号を受信する。そして、受信部１５６は、パフォーマンスボード１５０に設けられた接触端子を介して、ＤＵＴ１５６に試験信号を供給する。

以上に説明した信号伝送システム１０において、ドライバ１０４、付加型減衰器１０６、及び挿入型減衰器１０８によって作られる合成インピーダンスは、伝送線路１４０のインピーダンス、例えば５０Ωに等しい、また、挿入型減衰器１５２、付加型減衰器１５４、及びＤＵＴ１５６によって作られる合成インピーダンスは、伝送線路１４０のインピーダンスに等しい。

以上においては、ＤＵＴ１５６に供給される試験信号が伝送される場合について説明したが、次に、ＤＵＴ１５６の出力信号が伝送される場合について説明する。ＤＵＴ１５６は、試験信号に対応して発生した出力信号を、伝送線路１４２を介してコンパレータ１１４に出力する。付加型減衰器１５８は、伝送線路１４２と基準電位との間に接続され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、付加型減衰器１５８は、ＤＵＴ１５６と挿入型減衰器１６０との間に設けられていてよい。なお、付加型減衰器１５８は、出力信号の周波数が高くなる程、より高いインピーダンスを示す。挿入型減衰器１６０は、伝送線路１４２中に直列に挿入され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、挿入型減衰器１６０は、伝送線路１４２上におけるＤＵＴ１５６の近傍に設けられていてよい。なお、挿入型減衰器１６０は、付加型減衰器１５８とは異なり、出力信号の周波数が高くなる程、より低いインピーダンスを示す。

挿入型減衰器１１０は、伝送線路１４２中に直列に挿入され、高周波信号を低周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、挿入型減衰器１１０は、伝送線路１４２上におけるコンパレータ１１４の近傍に設けられていてよい。なお、挿入型減衰器１１０は、出力信号の周波数が高くなる程、より低いインピーダンスを示す。付加型減衰器１１２は、伝送線路１４２と基準電位との間に接続され、高周波信号を低周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、付加型減衰器１１２は、コンパレータ１１４と挿入型減衰器１１０との間に設けられていてよい。なお、付加型減衰器１１２は、挿入型減衰器１１０とは異なり、出力信号の周波数が高くなる程、より高いインピーダンスを示す。コンパレータ１１４は、ＤＵＴ１５６により出力され、伝送線路１４２を伝送された出力信号を受信する。そして、コンパレータ１１４は、受信した出力信号を基準電圧と比較し、比較結果を論理比較部１１６に出力する。論理比較部１１６は、コンパレータ１１４から受け取った、出力信号と基準電圧との比較結果が、予め定められた基準値と一致している場合に、ＤＵＴ１５６を良品と判定する。

以上に説明した信号伝送システム１０において、ＤＵＴ１５６、付加型減衰器１５８、及び挿入型減衰器１６０によって作られる合成インピーダンスは、伝送線路１４２のインピーダンスに等しい。また、挿入型減衰器１１０、付加型減衰器１１２、及びコンパレータ１１４によって作られる合成インピーダンスは、伝送線路１４２のインピーダンスに等しい。

本発明の第１の実施形態に係る信号伝送システム１０によれば、周波数が高くなるに従ってインピーダンスが減少する挿入型減衰器と、周波数が高くなるに従ってインピーダンスが増加する付加型減衰器とを、同一の伝送線路に設けることにより、伝送線路が長い場合や、高い周波数の信号を伝送する場合において、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を軽減すると共に、伝送線路１４０及び伝送線路１４２においてインピーダンスの整合を取ることができる。例えば、本図に示したように、半導体デバイスを試験する試験装置において、高い周波数の信号を用いて半導体デバイスを試験する場合に、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を軽減すると共に、信号伝送におけるインピーダンスの整合を取ることにより、品質の高い試験信号を半導体デバイスに供給したり、品質の高い出力信号に基づいて半導体デバイスの良否を判定したりすることができる。

また、ドライバ１０４、付加型減衰器１０６、及び挿入型減衰器１０８のそれぞれを互いに近傍に設けることにより、それぞれの間における信号の損失を低減することができる。また、挿入型減衰器１５２、付加型減衰器１５４、及びＤＵＴ１５６のそれぞれ、ＤＵＴ１５６、付加型減衰器１５８、及び挿入型減衰器１６０のそれぞれ、並びに、挿入型減衰器１１０、付加型減衰器１１２、及びコンパレータ１１４のそれぞれにおいても同様に、互いに近傍に設けることにより、それぞれの間における信号の損失を低減することができる。これにより、伝送線路１４０及び伝送線路１４２におけるインピーダンスを、高い精度で整合させることができる。

なお、信号伝送システム１０の構成は、本図に示した構成に限定されず、本図に示した構成に多様な変更を加えてもよい。例えば、信号伝送システム１０は、付加型減衰器１０６及び挿入型減衰器１０８の組と、挿入型減衰器１５２及び付加型減衰器１５４の組と、付加型減衰器１５８及び挿入型減衰器１６０の組と、挿入型減衰器１１０及び付加型減衰器１１２の組とのうち、少なくとも一部の組を備えていなくともよい。つまり、信号伝送システム１０は、試験信号を伝送する伝送線路１４０及び出力信号を伝送する伝送線路１４２のそれぞれにおいて、ピンカード１００及びパフォーマンスボード１５０の少なくとも一方に、挿入型減衰器及び付加型減衰器の組を備えていなくともよい。但し、ピンカード１００及びパフォーマンスボード１５０のそれぞれに挿入型減衰器及び付加型減衰器の組を備えている場合は、何れか一方のみに挿入型減衰器及び付加型減衰器の組を備えている場合に比べて、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を、より軽減することができる。

また、本図においては、挿入型減衰器及び付加型減衰器の組のそれぞれにおける、挿入型減衰器及び付加型減衰器の配置について、それぞれの付加型減衰器を、ドライバ１０４、ＤＵＴ１５６、またはコンパレータ１１４のより近傍に設けるとして説明した。これにより、伝送線路１４０及び伝送線路１４２における信号の反射を低減することができる。しかし、挿入型減衰器及び付加型減衰器の配置は、本図に示した配置とは逆であってもよい。具体的には、挿入型減衰器１０８は、ドライバ１０４と付加型減衰器１０６との間に設けられていてもよい。但し、この場合においても、ドライバ１０４、付加型減衰器１０６、及び挿入型減衰器１０８のそれぞれは、互いに近傍に設けられていることが好ましい。同様にして、挿入型減衰器１５２及び付加型減衰器１５４の組と、付加型減衰器１５８及び挿入型減衰器１６０の組と、挿入型減衰器１１０及び付加型減衰器１１２の組とのそれぞれにおいても同様に、本図に示した配置とは逆の配置でピンカード１００またはパフォーマンスボード１５０に設けられていてよい。

図２は、本発明の第１の実施形態における第１の変形例に係る信号伝送システム１５の構成の一例を示すブロック図である。信号伝送システム１５は、ピンカード１３０、並びにピンカード１３０に伝送線路１４０及び伝送線路１４２を介して接続するパフォーマンスボード１８０を備える。なお、本図に示した部材のうち、図１に示した信号伝送システム１０が備える部材と同一の符号を付した部材は、図１に示した信号伝送システム１０が備える対応する部材と略同一の機能及び構成を有するので、説明を省略する。

ピンカード１３０は、図１に示したピンカード１００が有する部材に加えて、付加型減衰器１０６が接続される基準電位として、試験信号の中心レベルを任意に可変できる基準電位供給部１２０を更に有する。また、ピンカード１３０は、付加型減衰器１１２が接続される基準電位として、コンパレータ１１４における終端電圧を任意に可変できる基準電位供給部１２２を更に有する。これにより、付加型減衰器１０６、挿入型減衰器１０８、挿入型減衰器１１０、及び付加型減衰器１１２を用いる場合であっても、伝送する信号のＤＣレベルを容易に制御することができる。

一方、パフォーマンスボード１８０は、図１に示したパフォーマンスボード１５０が有する部材に加えて、付加型減衰器１５４が接続される基準電位として、ＤＵＴ１５６における終端電圧を任意に可変できる基準電位供給部１７０を更に有する。また、パフォーマンスボード１８０は、付加型減衰器１５８が接続される基準電位として、出力信号の中心レベルを任意に可変できる基準電位供給部１７２を更に有する。これにより、挿入型減衰器１５２、付加型減衰器１５４、付加型減衰器１５８、及び挿入型減衰器１６０を用いる場合であっても、伝送する信号のＤＣレベルを容易に制御することができる。

図３は、本発明の第１の実施形態における第２の変形例に係る信号伝送システム２０の構成の一例を示すブロック図である。信号伝送システム２０は、半導体デバイスを試験する試験装置において、ＤＵＴ２６４に供給する試験信号を伝送する。信号伝送システム２０は、ＤＵＴ２６４が有する複数の端子のそれぞれに対して設けられたピンカード２００、並びにピンカード２００に伝送線路２４０及び伝送線路２４２を介して接続するパフォーマンスボード２５０を備える。信号伝送システム２０は、図１に示した信号伝送システム１０とは異なり、ピンカード２００及びパフォーマンスボード２５０のそれぞれにおいて、複数の挿入型減衰器及び複数の付加型減衰器を備えており、伝送する信号の周波数等に応じて、任意の挿入型減衰器及び付加型減衰器を組み合わせて用いることにより、高い精度で信号の損失を補正する。なお、伝送線路２４０及び伝送線路２４２は、例えば、ピンカード２００及びパフォーマンスボード２５０を接続するケーブルと、ピンカード２００及びパフォーマンスボード２５０のそれぞれにおける基板上の信号配線との少なくとも一方を含んでいてよい。

ピンカード２００は、波形成形部２０２、ドライバ２０４、切り離しスイッチ２０６、複数の付加型減衰器（２０８ａ、２０８ｂ、・・・２０８ｃ。以降２０８と表記）、付加型減衰器選択スイッチ２１０、挿入型減衰器選択スイッチ２１２、複数の挿入型減衰器（２１４ａ、２１４ｂ、・・・２１４ｃ。以降２１４と表記）、バイパススイッチ２１６、挿入型減衰器選択スイッチ２１８、複数の挿入型減衰器（２２０ａ、２２０ｂ、・・・２２０ｃ。以降２２０と表記）、バイパススイッチ２２２、切り離しスイッチ２２４、複数の付加型減衰器（２２６ａ、２２６ｂ、・・・２２６ｃ。以降２２６と表記）、付加型減衰器選択スイッチ２２８、コンパレータ２３０、及び論理比較部２３２を有する。波形成形部２０２は、ＤＵＴ２６４に供給する試験信号の波形を成形してドライバ２０４に出力する。ドライバ２０４は、波形成形部２０２から受け取った試験信号を、伝送線路２４０を介してパフォーマンスボード２５０に出力する。切り離しスイッチ２０６は、伝送線路２４０からすべての付加型減衰器２０８を切り離すか否かを切り替える。複数の付加型減衰器２０８は、伝送線路２４０と基準電位との間に直列に設けられている。なお、それぞれの付加型減衰器２０８は、図１に示した付加型減衰器１０６と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの付加型減衰器２０８において、低周波信号の減衰は異なる。ここで、減衰とは、例えば、減衰レベルや減衰の帯域であってよい。つまり、それぞれの付加型減衰器２０８において、減衰の時定数が異なっていてよい。付加型減衰器選択スイッチ２１０は、複数の付加型減衰器２０８の中の、一部の付加型減衰器２０８を選択する。具体的には、付加型減衰器選択スイッチ２１０は、当該一部の付加型減衰器２０８を除く、他の付加型減衰器２０８をバイパスする。

挿入型減衰器選択スイッチ２１２は、複数の挿入型減衰器２１４の中の、一部の挿入型減衰器２１４を選択する。具体的には、挿入型減衰器選択スイッチ２１２は、当該一部の挿入型減衰器２１４を除く、他の挿入型減衰器２１４に通じる伝送路を開放する。複数の挿入型減衰器２１４のそれぞれは、伝送線路２４０中に並列に設けられている。なお、それぞれの挿入型減衰器２１４は、図１に示した挿入型減衰器１０８と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの挿入型減衰器２１４において、低周波信号の減衰は異なる。バイパススイッチ２１６は、伝送線路２４０において、すべての挿入型減衰器２１４をバイパスさせるか否かを切り替える。

パフォーマンスボード２５０は、挿入型減衰器選択スイッチ２５２、複数の挿入型減衰器（２５４ａ、２５４ｂ、・・・２５４ｃ。以降２５４と表記）、バイパススイッチ２５６、切り離しスイッチ２５８、複数の付加型減衰器（２６０ａ、２６０ｂ、・・・２６０ｃ。以降２６０と表記）、付加型減衰器選択スイッチ２６２、ＤＵＴ２６４、切り離しスイッチ２６６、複数の付加型減衰器（２６８ａ、２６８ｂ、・・・２６８ｃ。以降２６８と表記）、付加型減衰器選択スイッチ２７０、挿入型減衰器選択スイッチ２７２、複数の挿入型減衰器（２７４ａ、２７４ｂ、・・・２７４ｃ。以降２７４と表記）、及びバイパススイッチ２７６を有する。なお、ＤＵＴ２６４は、本発明における受信部の一例である。挿入型減衰器選択スイッチ２５２は、複数の挿入型減衰器２５４の中の、一部の挿入型減衰器２５４を選択する。具体的には、挿入型減衰器選択スイッチ２５２は、当該一部の挿入型減衰器２５４を除く、他の挿入型減衰器２５４に通じる伝送路を開放する。複数の挿入型減衰器２５４のそれぞれは、伝送線路２４０中に並列に設けられている。なお、それぞれの挿入型減衰器２５４は、図１に示した挿入型減衰器１５２と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの挿入型減衰器２５４において、低周波信号の減衰は異なる。バイパススイッチ２５６は、伝送線路２４０において、すべての挿入型減衰器２５４をバイパスさせるか否かを切り替える。

切り離しスイッチ２５８は、伝送線路２４０からすべての付加型減衰器２６０を切り離すか否かを切り替える。複数の付加型減衰器２６０は、伝送線路２４０と基準電位との間に直列に設けられている。なお、それぞれの付加型減衰器２６０は、図１に示した付加型減衰器１５４と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの付加型減衰器２６０において、低周波信号の減衰は異なる。付加型減衰器選択スイッチ２６２は、複数の付加型減衰器２６０の中の、一部の付加型減衰器２６０を選択する。具体的には、付加型減衰器選択スイッチ２６２は、当該一部の付加型減衰器２６０を除く、他の付加型減衰器２６０をバイパスする。受信部２６４は、ドライバ２０４により出力され、伝送線路２４０を伝送された試験信号を受信する。そして、受信部２６４は、パフォーマンスボード２５０に設けられた接触端子を介して、ＤＵＴ２６４に試験信号を供給する。

以上に説明した信号伝送システム２０において、ピンカード２００に設けられた切り離しスイッチ２０６、付加型減衰器選択スイッチ２１０、挿入型減衰器選択スイッチ２１２、及びバイパススイッチ２１６、並びにパフォーマンスボード２５０に設けられた挿入型減衰器選択スイッチ２５２、バイパススイッチ２５６、切り離しスイッチ２５８、及び付加型減衰器選択スイッチ２６２のそれぞれは、外部から制御可能に設けられている。そして、信号伝送システム２０において、前述したスイッチのそれぞれは、ドライバ２０４と、ピンカード２００に設けられた複数の付加型減衰器２０８のうち、付加型減衰器選択スイッチ２１０によって選択された付加型減衰器２０８と、ピンカード２００に設けられた複数の挿入型減衰器２１４のうち、挿入型減衰器選択スイッチ２１２によって選択された挿入型減衰器２１４とによって作られる合成インピーダンスが、伝送線路２４０のインピーダンスに等しくなるべく制御される。また、信号伝送システム２０において、前述したスイッチのそれぞれは、パフォーマンスボード２５０に設けられた複数の挿入型減衰器２５４のうち、挿入型減衰器選択スイッチ２５２によって選択された挿入型減衰器２５４と、パフォーマンスボード２５０に設けられた複数の付加型減衰器２６０のうち、付加型減衰器選択スイッチ２６２によって選択された付加型減衰器２６０と、ＤＵＴ２６４とによって作られる合成インピーダンスが、伝送線路２４０のインピーダンスに等しくなるべく制御される。ここで、試験装置またはその利用者は、伝送線路２４０における減衰レベルやインピーダンス等の周波数特性の測定結果や、ピンカード２００やパフォーマンスボード２５０等において既に判明している周波数特性に基づいて、前述したスイッチのそれぞれを制御してよい。

以上においては、ＤＵＴ２６４に供給される試験信号が伝送される場合について説明したが、次に、ＤＵＴ２６４の出力信号が伝送される場合について説明する。ＤＵＴ２６４は、試験信号に対応して発生した出力信号を、伝送線路２４２を介してコンパレータ２３０に出力する。切り離しスイッチ２６６は、伝送線路２４２からすべての付加型減衰器２６８を切り離すか否かを切り替える。複数の付加型減衰器２６８は、伝送線路２４２と基準電位との間に直列に設けられている。なお、それぞれの付加型減衰器２６８は、図１に示した付加型減衰器１５８と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの付加型減衰器２６８において、低周波信号の減衰は異なる。付加型減衰器選択スイッチ２７０は、複数の付加型減衰器２６８の中の、一部の付加型減衰器２６８を選択する。具体的には、付加型減衰器選択スイッチ２７０は、当該一部の付加型減衰器２６８を除く、他の付加型減衰器２６８をバイパスする。

挿入型減衰器選択スイッチ２７２は、複数の挿入型減衰器２７４の中の、一部の挿入型減衰器２７４を選択する。具体的には、挿入型減衰器選択スイッチ２７２は、当該一部の挿入型減衰器２７４を除く、他の挿入型減衰器２７４に通じる伝送路を開放する。複数の挿入型減衰器２７４のそれぞれは、伝送線路２４２中に並列に設けられている。なお、それぞれの挿入型減衰器２７４は、図１に示した挿入型減衰器１６０と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの挿入型減衰器２７４において、低周波信号の減衰は異なる。バイパススイッチ２７６は、伝送線路２４２において、すべての挿入型減衰器２７４をバイパスさせるか否かを切り替える。

挿入型減衰器選択スイッチ２１８は、複数の挿入型減衰器２２０の中の、一部の挿入型減衰器２２０を選択する。具体的には、挿入型減衰器選択スイッチ２１８は、当該一部の挿入型減衰器２２０を除く、他の挿入型減衰器２２０に通じる伝送路を開放する。複数の挿入型減衰器２２０のそれぞれは、伝送線路２４２中に並列に設けられている。なお、それぞれの挿入型減衰器２２０は、図１に示した挿入型減衰器１１０と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの挿入型減衰器２２０において、低周波信号の減衰は異なる。バイパススイッチ２２２は、伝送線路２４２において、すべての挿入型減衰器２２０をバイパスさせるか否かを切り替える。

切り離しスイッチ２２４は、伝送線路２４２からすべての付加型減衰器２２６を切り離すか否かを切り替える。複数の付加型減衰器２２６は、伝送線路２４２と基準電位との間に直列に設けられている。なお、それぞれの付加型減衰器２２６は、図１に示した付加型減衰器１１２と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの付加型減衰器２２６において、低周波信号の減衰は異なる。付加型減衰器選択スイッチ２２８は、複数の付加型減衰器２２６の中の、一部の付加型減衰器２２６を選択する。具体的には、付加型減衰器選択スイッチ２２８は、当該一部の付加型減衰器２２６を除く、他の付加型減衰器２２６をバイパスする。コンパレータ２３０は、ＤＵＴ２６４により出力され、伝送線路２４２を伝送された出力信号を受信する。そして、コンパレータ２３０は、受信した出力信号を基準電圧と比較し、比較結果を論理比較部２３２に出力する。論理比較部２３２は、コンパレータ２３０から受け取った、出力信号と基準電圧との比較結果が、予め定められた基準値と一致している場合に、ＤＵＴ２６４を良品と判定する。

以上に説明した信号伝送システム２０において、パフォーマンスボード２５０に設けられた切り離しスイッチ２６６、付加型減衰器選択スイッチ２７０、挿入型減衰器選択スイッチ２７２、及びバイパススイッチ２７６、並びにピンカード２００に設けられた挿入型減衰器選択スイッチ２１８、バイパススイッチ２２２、切り離しスイッチ２２４、及び付加型減衰器選択スイッチ２２８のそれぞれは、外部から制御可能に設けられている。そして、信号伝送システム２０において、前述したスイッチのそれぞれは、ＤＵＴ２６４と、パフォーマンスボード２５０に設けられた複数の付加型減衰器２６８のうち、付加型減衰器選択スイッチ２７０によって選択された付加型減衰器２６８と、パフォーマンスボード２５０に設けられた複数の挿入型減衰器２７４のうち、挿入型減衰器選択スイッチ２７２によって選択された挿入型減衰器２７４とによって作られる合成インピーダンスが、伝送線路２４２のインピーダンスに等しくなるべく制御される。また、信号伝送システム２０において、前述したスイッチのそれぞれは、ピンカード２００に設けられた複数の挿入型減衰器２２０のうち、挿入型減衰器選択スイッチ２１８によって選択された挿入型減衰器２２０と、ピンカード２００に設けられた複数の付加型減衰器２２６のうち、付加型減衰器選択スイッチ２２８によって選択された付加型減衰器２２６と、コンパレータ２３０とによって作られる合成インピーダンスが、伝送線路２４２のインピーダンスに等しくなるべく制御される。ここで、試験装置またはその利用者は、伝送線路２４２における減衰レベルやインピーダンス等の周波数特性の測定結果や、ピンカード２００やパフォーマンスボード２５０等において既に判明している周波数特性に基づいて、前述したスイッチのそれぞれを制御してよい。

本発明の第１の実施形態における第２の変形例に係る信号伝送システム２０によれば、ピンカード２００に設けられたバイパススイッチ２１６を導通させることにより、すべての挿入型減衰器２１４をバイパスさせることができる。このため、伝送線路２４０における信号の減衰レベルやインピーダンスが低い場合には、バイパススイッチ２１６を導通状態にして、すべての挿入型減衰器２１４をバイパスすることにより、信号レベルを低下させることなく、信号を伝送することができる。また、同様に、伝送線路２４０における信号の減衰レベルやインピーダンスが低い場合には、ピンカード２００に設けられた切り離しスイッチ２０６を開放して、すべての付加型減衰器２０８を伝送線路２４０から切り離すことにより、信号レベルを低下させることなく、信号を伝送することができる。なお、バイパススイッチ２２２や、バイパススイッチ２５６、或いはバイパススイッチ２７６を導通させたり、または切り離しスイッチ２２４や、切り離しスイッチ２５８、或いは切り離しスイッチ２６６を開放したりすることによっても、上記と同様の効果を奏することができる。

近年、半導体デバイスの試験装置においては、多様なメーカーによってピンカードやパフォーマンスボード等のユニットを製造可能とするべく、当該ユニットのインターフェイスを規格化したオープンアーキテクチャが望まれている。しかしながら、試験装置においては、１０ピコ秒等のオーダーで遅延時間が制御された、極めて高速かつ正確な信号が伝送される必要がある。このため、オープンアーキテクチャに基づいたユニットのそれぞれが、互いに異なるメーカーによって製造された場合、ユニット間でインピーダンスを十分に整合させることは非常に困難である。また、試験信号等の信号を伝送する場合において、高周波信号と低周波信号とのそれぞれにおける減衰レベルは十分な精度で一致している必要があるが、多様なメーカーによって製造されたユニットを組み合わせて用いる場合には、減衰レベルを十分な精度で一致させることは困難である。以上のような問題は、伝送する信号の周波数が高くなるに従って、より大きな問題となっている。

しかし、本発明の第１の実施形態における第２の変形例に係る信号伝送システム２０によれば、ピンカード２００とパフォーマンスボード２５０とが、互いに異なるメーカーによって製造されている場合であっても、それぞれに設けられた挿入型減衰器選択スイッチ及び付加型減衰器選択スイッチを、伝送する信号の周波数や、伝送線路の周波数特性等に基づいて制御することにより、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を軽減すると共に、伝送線路２４０においてインピーダンスの整合を取ることができる。

なお、信号伝送システム２０の構成は、本図に示した構成に限定されず、本図に示した構成に多様な変更を加えてもよい。例えば、信号伝送システム２０は、複数の付加型減衰器２０８及び複数の挿入型減衰器２１４の組と、複数の挿入型減衰器２５４及び複数の付加型減衰器２６０の組と、複数の付加型減衰器２６８及び複数の付加型減衰器２７６の組と、複数の挿入型減衰器２２０及び複数の付加型減衰器２２６の組とのうち、少なくとも一部の組を備えていなくともよい。つまり、信号伝送システム２０は、試験信号を伝送する伝送線路２４０及び出力信号を伝送する伝送線路２４２のそれぞれにおいて、ピンカード２００及びパフォーマンスボード２５０の少なくとも一方に、挿入型減衰器及び付加型減衰器の組を備えていなくともよい。

また、本図に示した複数の挿入型減衰器及び複数の付加型減衰器の組のそれぞれにおける、複数の挿入型減衰器及び複数の付加型減衰器の配置は、本図に示した配置とは逆であってもよい。具体的には、複数の挿入型減衰器２１４は、ドライバ２０４と複数の付加型減衰器２０８との間に設けられていてもよい。但し、この場合においても、ドライバ２０４、複数の付加型減衰器２０８、及び複数の挿入型減衰器２１４のそれぞれは、互いに近傍に設けられていることが好ましい。同様にして、複数の挿入型減衰器２５４及び複数の付加型減衰器２６０の組と、複数の付加型減衰器２６８及び複数の挿入型減衰器２７４の組と、複数の挿入型減衰器２２０及び複数の付加型減衰器２２６の組とのそれぞれにおいても同様に、本図に示した配置とは逆の配置でピンカード２００またはパフォーマンスボード２５０に設けられていてよい。

図４は、本発明の第２の実施形態に係る信号伝送システム３０の構成の一例を示すブロック図である。信号伝送システム３０は、信号を外部に出力する信号出力回路基板３００、及びケーブル等によって信号出力回路基板３００に接続された、信号を外部から受信する信号受信回路基板３５０を備え、信号出力回路基板３００から信号受信回路基板３５０へ信号を伝送する。ここで、信号出力回路基板３００及び信号受信回路基板３５０のそれぞれが、信号伝送システム３０が備える複数のスロットのうち、何れのスロットに挿入されるかによって、信号出力回路基板３００から信号受信回路基板３５０に至る信号の伝送線路の長さが変化し、それに伴い、伝送線路における信号の減衰レベルも変化する。

本発明の第２の実施形態に係る信号伝送システム３０は、信号を伝送する伝送線路の長さ等の、高周波信号の減衰レベルを左右する要因が変化する場合であっても、常に、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さい、品質の高い信号を伝送することを目的とする。

信号出力回路基板３００は、ドライバ３０２、挿入型減衰器３０４、バイパススイッチ３０６、コネクタ３０８、測定部３１０、及びスイッチ制御部３１２を有する。ドライバ３０２は、伝送すべき信号を信号発生源等から受け取って出力する。挿入型減衰器３０４は、ドライバ３０２とコネクタ３０８との間に直列に挿入され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、高周波信号及び低周波信号とは、信号における高周波成分及び低周波成分であってもよい。バイパススイッチ３０６は、挿入型減衰器３０４をバイパスするか否かを切り替える。コネクタ３０８は、ドライバ３０２が出力した信号を、信号出力回路基板３００の外部、本例においては信号受信回路基板３５０へ送出する。

測定部３１０は、ドライバ３０２が出力した信号を受け取る信号受信回路基板３５０がコネクタ３０８を介して信号出力回路基板３００に接続された場合に、ドライバ３０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路における、高周波信号及び低周波信号の減衰レベルを測定する。例えば、測定部３１０は、ドライバ３０２から信号受信回路基板３５０に至る伝送路において、ドライバ３０２の出力端子の近傍と、信号受信回路基板３５０の近傍とにおける信号のレベルを測定することにより、伝送路における高周波信号及び低周波信号の減衰レベルを測定してよい。また、例えば、測定部３１０は、ドライバ３０２に入力される信号のレベルや、信号受信回路基板３５０の内部における信号のレベル、または信号受信回路基板３５０により受信された後で、信号受信回路基板３５０から出力された信号のレベル等を測定することにより、伝送路における高周波信号及び低周波信号の減衰レベルを測定してもよい。なお、測定部３１０による減衰レベルの測定は、信号伝送システム３０における信号伝送の前工程において行われてよく、通常の信号伝送時においては、測定部３１０は、ドライバ３０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路から切り離されていてよい。

スイッチ制御部３１２は、測定部３１０による、ドライバ３０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路における高周波信号及び低周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、バイパススイッチ３０６の導通状態を制御する。具体的には、スイッチ制御部３１２は、測定部３１０により測定された減衰レベルが予め定められた基準値よりも小さかった場合に、バイパススイッチ３０６を導通状態にする。ここで、予め定められた基準値とは、信号受信回路基板３５０により信号が受信された場合における高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さいと判定される場合の、高周波信号及び低周波信号の減衰レベルの最大値であってよく、信号伝送システム３０の利用者等によって予め定められていてよい。

信号受信回路基板３５０は、コネクタ３５２、及びレシーバ３５４を有する。コネクタ３５２は、受信すべき信号を、信号受信回路基板３５０の外部、本例においては信号出力回路基板３００から受け取り、レシーバ３５４に出力する。レシーバ３５４は、コネクタ３５２を介して、信号出力回路基板３００が出力した信号を受信する。

本発明の第２の実施形態に係る信号伝送システム３０によれば、測定部３１０による高周波信号及び低周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、挿入型減衰器３０４をバイパスさせるか否かを制御する。そして、減衰レベルが大きい場合には、挿入型減衰器３０４を用いて高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を補正する。一方、減衰レベルが小さい場合には、挿入型減衰器３０４を介さずに信号を伝送することにより、信号レベルを低下させることなく、信号を伝送することができる。これにより、信号の伝送路の長さ等といった、高周波信号の減衰レベルを左右する要因が、信号出力回路基板３００や信号受信回路基板３５０が設置される環境等によって変化する場合であっても、常に、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さい、品質の高い信号を伝送することができる。

なお、信号伝送システム３０の構成は、本図に示した構成に限定されず、本図に示した構成に多様な変更を加えてもよい。例えば、測定部３１０は、信号出力回路基板３００の外部に設けられていてもよい。この場合であっても、以上に説明した場合と同様に、測定部３１０による測定結果に基づいて、バイパススイッチ３０６を制御することができることは明らかである。また、挿入型減衰器３０４、バイパススイッチ３０６、測定部３１０、及びスイッチ制御部３１２は、信号出力回路基板３００に代えて、信号受信回路基板３５０に設けられていてもよい。この場合、挿入型減衰器３０４及びバイパススイッチ３０６は、コネクタ３５２とレシーバ３５４との間に設けられていてよい。そして、信号受信回路基板３５０において、測定部３１０による、信号出力回路基板３００からレシーバ３５４までの伝送路における高周波信号及び低周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、挿入型減衰器３０４をバイパスさせるか否かが制御される。

図５は、本発明の第２の実施形態の変形例に係る信号伝送システム４０の構成の一例を示すブロック図である。信号伝送システム４０は、信号を外部に出力する信号出力回路基板４００、及びケーブル等によって信号出力回路基板４００に接続された、信号を外部から受信する信号受信回路基板３５０を備え、信号出力回路基板４００から信号受信回路基板３５０へ信号を伝送する。信号伝送システム４０は、図４に示した信号伝送システム３０とは異なり、信号出力回路基板４００において、複数の挿入型減衰器を備えており、伝送する信号の周波数等に応じて、任意の挿入型減衰器を組み合わせて用いることにより、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差をより軽減する。なお、本図に示した信号受信回路基板３５０は、図４に示した信号受信回路基板３５０と略同一の構成及び機能を有するので、相違点を除き、説明を省略する。

信号出力回路基板４００は、ドライバ４０２、挿入型減衰器選択スイッチ４０４、複数の挿入型減衰器（４０６ａ、４０６ｂ、・・・４０６ｃ。以降４０６と表記）、コネクタ４１０、測定部４１２、及びスイッチ制御部４１４を有する。ドライバ４０２は、伝送すべき信号を信号発生源等から受け取って出力する。挿入型減衰器選択スイッチ４０４は、複数の挿入型減衰器４０６の中の、一部の挿入型減衰器４０６を選択する。具体的には、挿入型減衰器選択スイッチ４０４は、当該一部の挿入型減衰器４０６を除く、他の挿入型減衰器４０６に通じる伝送路を開放する。複数の挿入型減衰器４０６のそれぞれは、ドライバ４０２とコネクタ４１０との間に並列に設けられている。なお、それぞれの挿入型減衰器４０６は、図４に示した挿入型減衰器３０４と略同一の構成及び機能を有する。但し、それぞれの挿入型減衰器４０６において、低周波信号の減衰は異なる。ここで、減衰とは、例えば、減衰レベルや減衰の帯域であってよい。つまり、それぞれの挿入型減衰器４０６において、減衰の時定数が異なっていてよい。バイパススイッチ４０８は、すべての挿入型減衰器４０６をバイパスするか否かを切り替える。コネクタ４１０は、ドライバ４０２が出力した信号を、信号出力回路基板４００の外部、本例においては信号受信回路基板３５０へ送出する。

測定部４１２は、ドライバ４０２が出力した信号を受け取る信号受信回路基板３５０がコネクタ４１０を介して信号出力回路基板４００に接続された場合に、ドライバ４０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する。例えば、測定部４１２は、ドライバ４０２から信号受信回路基板３５０に至る伝送路において、ドライバ４０２の出力端子の近傍と、信号受信回路基板３５０の近傍とにおける信号のレベルを測定することにより、伝送路における高周波信号の減衰レベルを測定してよい。なお、測定部４１２による減衰レベルの測定は、信号伝送システム４０における信号伝送の前工程において行われてよく、通常の信号伝送時においては、測定部４１２は、ドライバ４０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路から切り離されていてよい。

スイッチ制御部４１４は、測定部４１２による、ドライバ４０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路における高周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、バイパススイッチ４０８の導通状態、及び挿入型減衰器選択スイッチ４０４を制御する。具体的には、スイッチ制御部４１４は、測定部４１２により測定された減衰レベルが予め定められた基準値よりも小さかった場合に、バイパススイッチ４０８を導通状態にする。また、スイッチ制御部４１４は、測定部４１２により測定された減衰レベルに基づいて、挿入型減衰器選択スイッチ４０４に、複数の挿入型減衰器４０６の中の、一部の挿入型減衰器４０６を選択させる。ここで、スイッチ制御部４１４は、信号出力回路基板４００及び信号受信回路基板３５０における信号配線や、信号出力回路基板４００及び信号受信回路基板３５０を接続するケーブル等を含む伝送線路による信号の減衰レベルと、選択された挿入型減衰器４０６による信号の減衰レベルとを合計した場合に、低周波信号と高周波信号とにおける減衰レベルの差が十分に小さくなるような組合せで、挿入型減衰器選択スイッチ４０４に挿入型減衰器４０６を選択させる。

本発明の第２の実施形態の変形例に係る信号伝送システム４０によれば、低周波信号の減衰レベルが異なる複数の挿入型減衰器４０６の中の、一部の挿入型減衰器４０６を選択して、出力すべき信号を減衰させることにより、低周波信号を所望のレベルだけ減衰させる処理を、高い精度で行うことができる。従って、信号の伝送路の長さ等といった、高周波信号の減衰レベルを左右する要因が、信号出力回路基板４００や信号受信回路基板３５０が設置される環境等によって変化する場合であっても、常に、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さい、品質の高い信号を伝送することができる。

なお、信号伝送システム４０の構成は、本図に示した構成に限定されず、本図に示した構成に多様な変更を加えてもよい。例えば、測定部４１２は、信号出力回路基板４００の外部に設けられていてもよい。この場合であっても、以上に説明した場合と同様に、測定部４１２による測定結果に基づいて、バイパススイッチ４０８及び挿入型減衰器選択スイッチ４０４を制御することができることは明らかである。また、挿入型減衰器選択スイッチ４０４、複数の挿入型減衰器４０６、バイパススイッチ４０８、測定部４１２、及びスイッチ制御部４１４は、信号出力回路基板４００に代えて、信号受信回路基板３５０に設けられていてもよい。この場合、挿入型減衰器選択スイッチ４０４、複数の挿入型減衰器４０６、及びバイパススイッチ４０８は、コネクタ３５２とレシーバ３５４との間に設けられていてよい。そして、信号受信回路基板３５０において、測定部４１２による、信号出力回路基板４００からレシーバ３５４までの伝送路における高周波信号及び低周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、バイパススイッチ４０８及び挿入型減衰器選択スイッチ４０４が制御される。

図６は、本発明の第２の実施形態の変形例に係る信号伝送システム４０における処理の流れの一例を示すフローチャートである。まず、測定部４１２が、ドライバ４０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する（Ｓ１０００）。続いて、スイッチ制御部４１４は、測定部４１２により測定された減衰レベルが予め定められた基準値よりも小さいか否かを判定する（Ｓ１０１０）。ここで、測定された減衰レベルが、予め定められた基準値より小さいと判定した場合（Ｓ１０１０：Ｙｅｓ）、スイッチ制御部４１４は、バイパススイッチ４０８を導通状態にして、すべての挿入型減衰器４０６をバイパスさせる（Ｓ１０２０）。一方、測定された減衰レベルが、予め定められた基準値より小さくないと判定した場合（Ｓ１０１０：Ｎｏ）、スイッチ制御部４１４は、挿入型減衰器選択スイッチ４０４に、複数の挿入型減衰器４０６の中の、一部の挿入型減衰器４０６を選択させて、選択した挿入型減衰器４０６に通じる伝送路を導通させる（Ｓ１０３０）。そして、ドライバ４０２は、コネクタ４１０を介して、信号受信回路基板３５０へ信号を出力する（Ｓ１０４０）。

図７は、本発明の第３の実施形態に係る信号伝送システム５０の構成の一例を示すブロック図である。信号伝送システム５０は、信号を外部に出力する信号出力回路基板５００、及びケーブル等によって信号出力回路基板５００に接続された、信号を外部から受信する信号受信回路基板５５０を備え、信号出力回路基板５００から信号受信回路基板５５０へ信号を伝送する。ここで、信号出力回路基板５００及び信号受信回路基板５５０のそれぞれが、信号伝送システム５０が備える複数のスロットのうち、何れのスロットに挿入されるかによって、信号出力回路基板５００から信号受信回路基板５５０に至る信号の伝送線路の長さが変化し、それに伴い、伝送線路における信号の減衰レベルも変化する。

本発明の第３の実施形態に係る信号伝送システム５０は、信号を伝送する伝送線路の長さ等の、高周波信号の減衰レベルを左右する要因が変化する場合であっても、常に、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さい、品質の高い信号を伝送することを目的とする。

信号出力回路基板５００は、ドライバ５０２、コネクタ５０４を有する。ドライバ５０２は、伝送すべき信号を信号発生源等から受け取ってコネクタ５０４に出力する。コネクタ５０４は、ドライバ５０２が出力した信号を、信号出力回路基板５００の外部、本例においては信号受信回路基板５５０へ送出する。

信号受信回路基板５５０は、コネクタ５５２、信号配線５５４、切り離しスイッチ５５６、付加型減衰器５５８、レシーバ５６０、測定部５６２、及びスイッチ制御部５６４を有する。コネクタ５５２は、信号受信回路基板５５０の外部、本例においては信号出力回路基板５００から信号を受け取る。信号配線５５４は、コネクタ５５２からレシーバ５６０へ信号を伝送する。ここで、信号配線５５４は、信号出力回路基板５００から信号受信回路基板５５０に至る信号の伝送線路の一部である。切り離しスイッチ５５６は、付加型減衰器５５８を信号配線５５４から切り離すか否かを切り替える。付加型減衰器５５８は、コネクタ５５２からレシーバ５６０に至る信号配線５５４と基準電位とを接続し、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる。ここで、高周波信号及び低周波信号とは、信号における高周波成分及び低周波成分であってもよい。レシーバ５６０は、コネクタ５５２を介して、信号出力回路基板５００が出力した信号を受信する。

測定部５６２は、伝送すべき信号を送出する信号出力回路基板５００が、コネクタ５５２を介して信号受信回路基板５５０に接続された場合に、信号出力回路基板５００からレシーバ５６０までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する。例えば、測定部５６２は、信号出力回路基板５００からレシーバ５６０に至る伝送路において、信号出力回路基板５００の近傍と、レシーバ５６０の入力端子の近傍とにおける信号のレベルを測定することにより、伝送路における高周波信号の減衰レベルを測定してよい。また、例えば、測定部５６２は、信号出力回路基板５００に入力される信号のレベルや、信号出力回路基板５００の内部における信号のレベル、またはレシーバ５６０により受信された後で、レシーバ５６０から出力された信号のレベル等を測定することにより、伝送路における高周波信号の減衰レベルを測定してもよい。なお、測定部５６２による減衰レベルの測定は、信号伝送システム５０における信号伝送の前工程において行われてよく、通常の信号伝送時においては、測定部５６２は、信号出力回路基板５００からレシーバ５６０までの伝送路から切り離されていてよい。

スイッチ制御部５６４は、測定部５６２による、信号出力回路基板５００からレシーバ５６０までの伝送路における高周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、切り離しスイッチ５５６の導通状態を制御する。具体的には、スイッチ制御部５６４は、測定部５６２により測定された減衰レベルが予め定められた基準値よりも小さかった場合に、切り離しスイッチ５５６によって付加型減衰器５５８を信号配線５５４から切り離す。ここで、予め定められた基準値とは、レシーバ５６０により信号が受信された場合における高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さいと判定される場合の、高周波信号の減衰レベルの最大値であってよく、信号伝送システム５０の利用者等によって予め定められていてよい。

本発明の第３の実施形態に係る信号伝送システム５０によれば、測定部５６２による高周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、付加型減衰器５５８を切り離すか否かを制御する。そして、減衰レベルが大きい場合には、付加型減衰器５５８を用いて高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差を補正する。一方、減衰レベルが小さい場合には、付加型減衰器５５８を用いないことにより、信号レベルを低下させることなく、信号を伝送することができる。これにより、信号の伝送路の長さ等といった、高周波信号の減衰レベルを左右する要因が、信号出力回路基板５００や信号受信回路基板５５０が設置される環境等によって変化する場合であっても、常に、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さい、品質の高い信号を伝送することができる。

なお、信号伝送システム５０の構成は、本図に示した構成に限定されず、本図に示した構成に多様な変更を加えてもよい。例えば、測定部５６２は、信号受信回路基板５５０の外部に設けられていてもよい。この場合であっても、以上に説明した場合と同様に、測定部５６２による測定結果に基づいて、切り離しスイッチ５５６を制御することができることは明らかである。また、切り離しスイッチ５５６、付加型減衰器５５８、測定部５６２、及びスイッチ制御部５６４は、信号受信回路基板５５０に代えて、信号出力回路基板５００に設けられていてもよい。この場合、切り離しスイッチ５５６及び付加型減衰器５５８は、ドライバ５０２とコネクタ５０４との間に設けられていてよい。そして、信号出力回路基板５００において、測定部５６２による、ドライバ５０２から信号受信回路基板３５０までの伝送路における高周波信号及び低周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、付加型減衰器５５８を切り離すか否かが制御される。

図８は、本発明の第３の実施形態の変形例に係る信号伝送システム６０の構成の一例を示すブロック図である。信号伝送システム６０は、信号を外部に出力する信号出力回路基板５００、及びケーブル等によって信号出力回路基板５００に接続された、信号を外部から受信する信号受信回路基板６５０を備え、信号出力回路基板５００から信号受信回路基板６５０へ信号を伝送する。信号伝送システム６０は、図７に示した信号伝送システム５０とは異なり、信号受信回路基板６５０において、複数の付加型減衰器を備えており、伝送する信号の周波数等に応じて、任意の付加型減衰器を組み合わせて用いることにより、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差をより軽減する。なお、本図に示した信号出力回路基板５００は、図７に示した信号出力回路基板５００と略同一の構成及び機能を有するので、相違点を除き、説明を省略する。

信号受信回路基板６５０は、コネクタ６５２、信号配線６５４、切り離しスイッチ６５６、複数の付加型減衰器（６５８ａ、６５８ｂ、・・・６５８ｃ。以降６５８と表記）、付加型減衰器選択スイッチ６６０、レシーバ６６２、測定部６６４、及びスイッチ制御部６６６を有する。コネクタ６５２は、信号受信回路基板６５０の外部、本例においては信号出力回路基板５００から信号を受け取る。信号配線６５４は、コネクタ６５２からレシーバ６６２へ信号を伝送する。ここで、信号配線６５４は、信号出力回路基板５００から信号受信回路基板６５０に至る信号の伝送線路の一部である。切り離しスイッチ６５６は、すべての付加型減衰器６５８を信号配線６５４から切り離すか否かを切り替える。複数の付加型減衰器６５８のそれぞれは、コネクタ６５２とレシーバ６６２との間に、直列に設けられている。なお、それぞれの付加型減衰器６５８は、図７に示した付加型減衰器５５８と略同一の機能及び構成を有する。但し、それぞれの付加型減衰器６５８において、低周波信号の減衰は異なる。ここで、減衰とは、例えば、減衰レベルや減衰の帯域であってよい。つまり、それぞれの付加型減衰器６５８において、減衰の時定数が異なっていてよい。付加型減衰器選択スイッチ６６０は、複数の付加型減衰器６５８の中の、一部の付加型減衰器６５８を選択する。具体的には、付加型減衰器選択スイッチ６６０は、当該一部の付加型減衰器６５８を除く、他の付加型減衰器６５８をバイパスさせる。レシーバ６６２は、コネクタ６５２を介して、信号出力回路基板５００が出力した信号を受信する。

測定部６６４は、伝送すべき信号を送出する信号出力回路基板５００が、コネクタ６５２を介して信号受信回路基板６５０に接続された場合に、信号出力回路基板５００からレシーバ６６２までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する。例えば、測定部６６４は、信号出力回路基板５００からレシーバ６６２に至る伝送路において、信号出力回路基板５００の近傍と、レシーバ６６２の入力端子の近傍とにおける信号のレベルを測定することにより、伝送路における高周波信号の減衰レベルを測定してよい。なお、測定部６６４による減衰レベルの測定は、信号伝送システム６０における信号伝送の前工程において行われてよく、通常の信号伝送時においては、測定部６６４は、信号出力回路基板５００からレシーバ６６２までの伝送路から切り離されていてよい。

スイッチ制御部６６６は、測定部６６４による、信号出力回路基板５００からレシーバ６６２までの伝送路における高周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、切り離しスイッチ６５６の導通状態、及び付加型減衰器選択スイッチ６６０を制御する。具体的には、スイッチ制御部６６６は、測定部６６４により測定された減衰レベルが予め定められた基準値よりも小さかった場合に、切り離しスイッチ６５６によってすべての付加型減衰器６５８を信号配線６５４から切り離す。また、スイッチ制御部６６６は、測定部６６４により測定された減衰レベルに基づいて、付加型減衰器選択スイッチ６６０に、複数の付加型減衰器６５８の中の、一部の付加型減衰器６５８を選択させる。ここで、スイッチ制御部６６６は、信号出力回路基板５００及び信号受信回路基板６５０における信号配線や、信号出力回路基板５００及び信号受信回路基板６５０を接続するケーブル等を含む伝送線路による信号の減衰レベルと、選択された付加型減衰器６５８による信号の減衰レベルとを合計した場合に、低周波信号と高周波信号とにおける減衰レベルの差が十分に小さくなるような組合せで、付加型減衰器選択スイッチ６６０に付加型減衰器６５８を選択させる。

本発明の第３の実施形態の変形例に係る信号伝送システム６０によれば、低周波信号の減衰レベルが異なる複数の付加型減衰器６５８の中の、一部の付加型減衰器６５８を選択して、受信した信号を減衰させることにより、低周波信号を所望のレベルだけ減衰させる処理を、高い精度で行うことができる。従って、信号の伝送路の長さ等といった、高周波信号の減衰レベルを左右する要因が、信号出力回路基板５００や信号受信回路基板６５０が設置される環境等によって変化する場合であっても、常に、高周波信号と低周波信号との減衰レベルの差が十分に小さい、品質の高い信号を伝送することができる。

なお、信号伝送システム６０の構成は、本図に示した構成に限定されず、本図に示した構成に多様な変更を加えてもよい。例えば、測定部６６４は、信号受信回路基板６５０の外部に設けられていてもよい。この場合であっても、以上に説明した場合と同様に、測定部６６４による測定結果に基づいて、切り離しスイッチ６５６及び付加型減衰器選択スイッチ６６０を制御することができることは明らかである。また、切り離しスイッチ６５６、複数の付加型減衰器６５８、付加型減衰器選択スイッチ６６０、測定部６６４、及びスイッチ制御部６６６は、信号受信回路基板６５０に代えて、信号出力回路基板５００に設けられていてもよい。この場合、切り離しスイッチ６５６、複数の付加型減衰器６５８、及び付加型減衰器選択スイッチ６６０は、ドライバ５０２とコネクタ５０４との間に設けられていてよい。そして、信号出力回路基板５００において、測定部６６４による、ドライバ５０２から信号受信回路基板６５０までの伝送路における高周波信号及び低周波信号の減衰レベルの測定結果に基づいて、切り離しスイッチ６５６及び付加型減衰器選択スイッチ６６０が制御される。

図９は、本発明の第３の実施形態の変形例に係る信号伝送システム６０における処理の流れの一例を示すフローチャートである。まず、測定部６６４は、信号出力回路基板５００からレシーバ６６２までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する（Ｓ１１００）。続いて、スイッチ制御部６６６は、測定部６６４により測定された減衰レベルが予め定められた基準値よりも小さいか否かを判定する（Ｓ１１１０）。ここで、測定された減衰レベルが、予め定められた基準値より小さいと判定した場合（Ｓ１１１０：Ｙｅｓ）、スイッチ制御部６６６は、切り離しスイッチ６５６を開放して、すべての付加型減衰器６５８を信号配線６５４から切り離す（Ｓ１１２０）。一方、測定された減衰レベルが、予め定められた基準値より小さくないと判定した場合（Ｓ１１１０：Ｎｏ）、スイッチ制御部６６６は、付加型減衰器選択スイッチ６６０に、複数の付加型減衰器６５８の中の、一部の付加型減衰器６５８を選択させ、選択した一部の付加型減衰器６５８を除く、他の付加型減衰器６５８をバイパスさせる（Ｓ１１３０）。そして、レシーバ６６２は、コネクタ６５２を介して、信号出力回路基板５００から出力された信号を受信する（Ｓ１１４０）。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

本発明の第１の実施形態に係る信号伝送システム１０の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第１の実施形態における第１の変形例に係る信号伝送システム１５の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第１の実施形態における第２の変形例に係る信号伝送システム２０の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第２の実施形態に係る信号伝送システム３０の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第２の実施形態の変形例に係る信号伝送システム４０の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第２の実施形態の変形例に係る信号伝送システム４０における処理の流れの一例を示すフローチャートである。 本発明の第３の実施形態に係る信号伝送システム５０の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第３の実施形態の変形例に係る信号伝送システム６０の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第３の実施形態の変形例に係る信号伝送システム６０における処理の流れの一例を示すフローチャートである。

符号の説明

１０ 信号伝送システム、２０ 信号伝送システム、３０ 信号伝送システム、４０ 信号伝送システム、５０ 信号伝送システム、６０ 信号伝送システム、１００ ピンカード、１０２ 波形成形部、１０４ ドライバ、１０６ 付加型減衰器、１０８ 挿入型減衰器、１１０ 挿入型減衰器、１１２ 付加型減衰器、１１４ コンパレータ、１１６ 論理比較部、１２０ 基準電位供給部、１２２ 基準電位供給部、１４０ 伝送線路、１４２ 伝送線路、１５０ パフォーマンスボード、１５２ 挿入型減衰器、１５４ 付加型減衰器、１５６ ＤＵＴ、１５８ 付加型減衰器、１６０ 挿入型減衰器、１７０ 基準電位供給部、１７２ 基準電位供給部、２００ ピンカード、２０２ 波形成形部、２０４ ドライバ、２０６ 切り離しスイッチ、２０８ａ〜ｃ 付加型減衰器、２１０ 付加型減衰器選択スイッチ、２１２ 挿入型減衰器選択スイッチ、２１４ａ〜ｃ 挿入型減衰器、２１６ バイパススイッチ、２１８ 挿入型減衰器選択スイッチ、２２０ａ〜ｃ 挿入型減衰器、２２２ バイパススイッチ、２２４ 切り離しスイッチ、２２６ａ〜ｃ 付加型減衰器、２２８ 付加型減衰器選択スイッチ、２３０ コンパレータ、２３２ 論理比較部、２４０ 伝送線路、２４２ 伝送線路、２５０ パフォーマンスボード、２５２ 挿入型減衰器選択スイッチ、２５４ａ〜ｃ 付加型減衰器、２５６ バイパススイッチ、２５８ 切り離しスイッチ、２６０ａ〜ｃ 挿入型減衰器、２６２ 付加型減衰器選択スイッチ、２６４ ＤＵＴ、２６６ 切り離しスイッチ、２６８ａ〜ｃ 付加型減衰器、２７０ 付加型減衰器選択スイッチ、２７２ 挿入型減衰器選択スイッチ、２７４ａ〜ｃ 挿入型減衰器、２７６ バイパススイッチ、３００ 信号出力回路基板、３０２ ドライバ、３０４ 挿入型減衰器、３０６ バイパススイッチ、３０８ コネクタ、３１０ 測定部、３１２ スイッチ制御部、３５０ 信号受信回路基板、３５２ コネクタ、３５４ レシーバ、４００ 信号出力回路基板、４０２ ドライバ、４０４ 挿入型減衰器選択スイッチ、４０６ａ〜ｃ 挿入型減衰器、４０８ バイパススイッチ、４１０ コネクタ、４１２ 測定部、４１４ スイッチ制御部、５００ 信号出力回路基板、５０２ ドライバ、５０４ コネクタ、５５０ 信号受信回路基板、５５２ コネクタ、５５４ 信号配線、５５６ 切り離しスイッチ、５５８ 付加型減衰器、５６０ レシーバ、５６２ 測定部、５６４ スイッチ制御部、６５０ 信号受信回路基板、６５２ コネクタ、６５４ 信号配線、６５６ 切り離しスイッチ、６５８ａ〜ｃ 付加型減衰器、６６０ 付加型減衰器選択スイッチ、６６２ レシーバ、６６４ 測定部、６６６ スイッチ制御部

Claims (8)

1. 信号を外部へ送出する信号出力回路基板であって、
   前記信号を出力するドライバと、
   前記信号を外部へ送出するコネクタと、
   前記ドライバと前記コネクタとの間に直列に挿入され、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる挿入型減衰器と、
   前記挿入型減衰器をバイパスさせるバイパススイッチと、
   前記信号を受け取る信号受信回路基板が前記コネクタを介して当該信号出力回路基板に接続された場合に、前記ドライバから前記信号受信回路基板までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定部と、
   前記減衰レベルが基準値よりも小さかった場合に前記バイパススイッチを導通状態にするスイッチ制御部と
   を備える信号出力回路基板。
2. 前記ドライバと前記コネクタとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の前記挿入型減衰器が並列に設けられており、
   当該信号出力回路基板は、
   前記複数の挿入型減衰器の中の、一部の前記挿入型減衰器を選択する挿入型減衰器選択スイッチを更に備え、
   前記スイッチ制御部は、前記測定部によって測定された減衰レベルに基づいて、前記挿入型減衰器選択スイッチに、前記複数の挿入型減衰器の中の、一部の前記挿入型減衰器を選択させる
   請求項１に記載の信号出力回路基板。
3. 信号を外部から受信する信号受信回路基板であって、
   前記信号を外部から受け取るコネクタと、
   前記信号を、前記コネクタを介して受信するレシーバと、
   前記コネクタから前記レシーバへ前記信号を伝送する信号配線と、
   前記信号配線と基準電位とを接続し、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる付加型減衰器と、
   前記付加型減衰器を切り離す切り離しスイッチと、
   前記信号を送出する信号出力回路基板が、前記コネクタを介して当該信号受信回路基板に接続された場合に、前記信号出力回路基板から前記レシーバまでの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定部と、
   前記減衰レベルが基準値よりも小さかった場合に、前記切り離しスイッチによって前記付加型減衰器を切り離すスイッチ制御部と
   を備える信号受信回路基板。
4. 前記コネクタと前記レシーバとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の前記付加型減衰器が直列に設けられており、
   当該信号受信回路基板は、
   前記複数の付加型減衰器の中の、一部の前記付加型減衰器を選択し、他の前記付加型減衰器をバイパスする付加型減衰器選択スイッチを更に備え、
   前記スイッチ制御部は、前記測定部によって測定された減衰レベルに基づいて、前記付加型減衰器選択スイッチに、前記複数の付加型減衰器の中の、一部の前記付加型減衰器を選択させる
   請求項３に記載の信号受信回路基板。
5. 信号を外部へ送出する信号出力回路基板を用いる信号出力方法であって、
   ドライバが、前記信号を出力する出力ステップと、
   コネクタが、前記信号を外部へ送出する送出ステップと、
   前記ドライバと前記コネクタとの間に直列に挿入された挿入型減衰器が、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる減衰ステップと、
   バイパススイッチが、前記挿入型減衰器をバイパスさせるバイパスステップと、
   前記信号を受け取る信号受信回路基板が前記コネクタを介して前記信号出力回路基板に接続された場合に、前記ドライバから前記信号受信回路基板までの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定ステップと、
   前記減衰レベルが基準値よりも小さかった場合に前記バイパススイッチを導通状態にするスイッチ制御ステップと
   を備える信号出力方法。
6. 前記信号出力回路基板において、前記ドライバと前記コネクタとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の前記挿入型減衰器が並列に設けられており、
   当該信号出力方法は、
   挿入型減衰器選択スイッチが、前記複数の挿入型減衰器の中の、一部の前記挿入型減衰器を選択する選択ステップを更に備え、
   前記スイッチ制御ステップは、前記測定ステップにおいて測定された減衰レベルに基づいて、前記挿入型減衰器選択スイッチに、前記複数の挿入型減衰器の中の、一部の前記挿入型減衰器を選択させる
   請求項５に記載の信号出力方法。
7. 信号を外部から受信する信号受信回路基板を用いる信号受信方法であって、
   コネクタが、前記信号を外部から受け取る受け取りステップと、
   レシーバが、前記信号を、前記コネクタを介して受信する受信ステップと、
   信号配線が、前記コネクタから前記レシーバへ前記信号を伝送する伝送ステップと、
   前記信号配線と基準電位とを接続する付加型減衰器が、低周波信号を高周波信号よりも大きく減衰させる減衰ステップと、
   切り離しスイッチが、前記付加型減衰器を切り離す切り離しステップと、
   前記信号を送出する信号出力回路基板が、前記コネクタを介して前記信号受信回路基板に接続された場合に、前記信号出力回路基板から前記レシーバまでの伝送路における、高周波信号の減衰レベルを測定する測定ステップと、
   前記減衰レベルが基準値よりも小さかった場合に、前記切り離しスイッチによって前記付加型減衰器を切り離すスイッチ制御ステップと
   を備える信号受信方法。
8. 前記信号受信回路基板において、前記コネクタと前記レシーバとの間に、低周波信号の減衰が異なる複数の前記付加型減衰器が直列に設けられており、
   当該信号受信方法は、
   付加型減衰器選択スイッチが、前記複数の付加型減衰器の中の、一部の前記付加型減衰器を選択し、他の前記付加型減衰器をバイパスする選択ステップを更に備え、
   前記スイッチ制御ステップは、前記測定ステップにおいて測定された減衰レベルに基づいて、前記付加型減衰器選択スイッチに、前記複数の付加型減衰器の中の、一部の前記付加型減衰器を選択させる
   請求項７に記載の信号受信方法。

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