JP5021233B2 - レーザ走査型顕微鏡 - Google Patents

レーザ走査型顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP5021233B2
JP5021233B2 JP2006134068A JP2006134068A JP5021233B2 JP 5021233 B2 JP5021233 B2 JP 5021233B2 JP 2006134068 A JP2006134068 A JP 2006134068A JP 2006134068 A JP2006134068 A JP 2006134068A JP 5021233 B2 JP5021233 B2 JP 5021233B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stimulation
laser light
light
line
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006134068A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007304421A (ja
Inventor
敏征 服部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2006134068A priority Critical patent/JP5021233B2/ja
Publication of JP2007304421A publication Critical patent/JP2007304421A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5021233B2 publication Critical patent/JP5021233B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

本発明は、レーザ走査型顕微鏡に関するものである。
従来、試料を観察するための観察用走査光学系と、試料に光刺激を与える刺激用走査光学系とを備えるレーザ走査型顕微鏡が知られている(例えば、特開平10−206742号公報参照。)。
このようなレーザ走査型顕微鏡では、刺激用レーザ光源から発せられた刺激用レーザ光をスキャナによって2次元的に走査し、標本に照射することで、光刺激領域に対して光刺激を与えている。
特開平10−206742号公報
ところで、上述した光刺激は、光刺激領域の全域に対して略同時に与えることが好ましい。しかしながら、上述した従来のレーザ走査型顕微鏡では、刺激用レーザ光を標本上で2次元的に走査させて光刺激を行うことから、光刺激の開始から終了までに時間がかかるという問題があった。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、光刺激領域における光刺激開始から終了までの光刺激実行時間を短縮することのできるレーザ走査型顕微鏡を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
刺激用レーザ光を出射する刺激用レーザ光源と、前記刺激用レーザ光のビーム径を調節するビーム径調節手段と、光軸に対して配置角度を切り替え可能に配置され、前記ビーム径調節手段によってビーム径が調整された刺激用レーザ光を、ビーム径に応じたライン長のライン状の刺激用レーザ光に変換する変換手段と、前記ライン状の刺激用レーザ光を光軸に交差する方向に二次元的に走査可能なスキャナとを備え、前記ライン状の刺激用レーザ光を標本に照射することにより光刺激を行うレーザ走査型顕微鏡を提供する。
このような構成によれば、刺激用レーザ光源から出射された刺激用レーザ光は、ビーム径調節手段によりビーム径が調節され、その後、変換手段により、ビーム径に応じたライン長のライン状の刺激用レーザ光に変換されることとなる。ライン状の刺激用レーザ光は、標本上に照射されることにより、光刺激が行われる。このように、ライン状の刺激用レーザ光を標本に照射させることが可能となるので、点状の刺激用レーザ光を標本上で2次元的に走査させる場合に比べて、光刺激を効率的に行うことが可能となる。
特に、変換手段が配置角度を切り替え可能に設けられているので、変換手段の配置角度を切り替えることにより、光刺激の効率を更に高めることができ、光刺激時間を更に短縮させることができる。
なお、上記ビーム径とは、光軸に直交する面における刺激用レーザ光の断面の直径である。
また、本発明は、刺激用レーザ光を出射する刺激用レーザ光源と、前記刺激用レーザ光のビーム径を調節するビーム径調節手段と、光軸に対して配置角度を切り替え可能に配置され、前記刺激用レーザ光をライン状の刺激用レーザ光に変換する変換手段と、前記ライン状の刺激用レーザ光を光軸に交差する方向に二次元的に走査可能なスキャナとを備え、前記ビーム径調節手段でビーム径を調整された前記ライン状の刺激用レーザ光を標本に照射することにより光刺激を行うレーザ走査型顕微鏡を提供する。
上記レーザ走査型顕微鏡において、前記変換手段をシリンドリカルレンズとしても良い。このように、シリンドリカルレンズを変換手段として採用することにより、簡素な構成によってライン状の刺激用レーザ光を形成することができる。
上記レーザ走査型顕微鏡において、前記ビーム径調節手段が、刺激用レーザ光の光軸上に配置された複数のレンズを備え、更に、前記レンズ間の距離が調整可能とされていてもよい。
このように、ビーム径調節手段が刺激用レーザ光の光路上に配置された複数のレンズによって構成されていることにより、簡素で安価な装置構成とすることができる。更に、これらレンズ間の距離が調整可能にされていることにより、刺激用レーザ光のビーム径を任意に調節することができ、この結果、光刺激レーザ光のライン長を調節することができる。上記ライン長とは、例えば、光軸に直交する面における前記刺激用レーザ光の断面の長手方向の長さである。
上記レーザ走査型顕微鏡において、光刺激を与える光刺激領域の範囲に応じて、前記ビーム径調節手段のレンズ間の距離を調節する制御手段を備えることとしても良い。
このような構成によれば、光刺激領域の範囲に応じて、刺激用レーザ光のビーム径を調節することが可能となる。これにより、刺激用レーザ光のビーム径を光刺激領域の幅などに一致させるように、ビーム径調節手段のレンズ間の距離を調節することにより、刺激用レーザ光のライン長を光刺激領域の一辺と一致させることが可能となる。この結果、光刺激を更に効率的に行うことができる。
上記レーザ走査型顕微鏡において、前記変換手段が前記刺激用レーザ光の光路に対して着脱可能とされていても良い。このように、変換手段が刺激用レーザ光の光路に対して着脱可能に構成されていることにより、ライン状の刺激用レーザ光を標本上で走査させるラインスキャンモードと、点状の刺激用レーザ光、換言すると、スポット光を標本上で2次元的に走査させるポイントスキャンモードとを任意に切り替えて実施することが可能となる。これにより、光刺激領域の形状に応じて、最適なモードにて、光刺激を実施することができる。
また、上記レーザ走査型顕微鏡において、上記変換手段に加えて、前記ビーム径調節手段についても、前記刺激用レーザ光の光路に対して着脱可能とされていてもよい。
さらに、上記レーザ走査型顕微鏡において、観察用レーザー光を走査して前記標本の蛍光画像を取得するための観察用走査光学系と、光刺激を与える光刺激領域を指定するために予め取得した前記蛍光画像を表示する表示部と、前記蛍光画像の各画素位置と前記スキャナの走査位置との対応関係に基づいて、前記表示部に表示された前記蛍光画像上で指定した光刺激領域に前記ライン状の刺激用レーザ光を照射するように前記スキャナを制御する制御手段とを備えることができる。
本発明は、刺激用レーザ光を出射する刺激用レーザ光源と、光軸に対して配置角度を切り替え可能に配置され、前記刺激用レーザ光を所望のライン長のライン状の刺激用レーザ光に変換する変換手段と、前記ライン状の刺激用レーザ光を光軸に交差する方向に二次元的に走査可能なスキャナとを備え、前記ライン状の刺激用レーザ光を標本に照射することにより光刺激を行うレーザ走査型顕微鏡を提供する。
本発明によれば、光刺激領域における光刺激開始から終了までの光刺激実行時間を短縮することができるという効果を奏する。
以下、本発明の一実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡について、図を参照して説明する。本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡は、レーザ走査型共焦点顕微鏡である。
〔第1の実施形態〕
本発明の第1の本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1は、図1に示されるように、観察用レーザ光L1を走査する観察用走査光学系2と、刺激用レーザ光L2を走査する刺激用走査光学系3と、観察用レーザ光L1および刺激用レーザ光L2を合波するダイクロイックミラー4と、合波された観察用レーザ光L1および刺激用レーザ光L2を集光して標本Pに照射する一方、観察用レーザ光L1を標本Pに照射することにより、標本P内の蛍光物質が励起されて発生した蛍光Fを集光する対物レンズ5と、該対物レンズ5により集光された蛍光Fを検出する光検出器6とを備えている。符号7は、結像レンズである。
観察用走査光学系2は、観察用レーザ光L1を出射する観察用レーザ光源8と、観察用レーザ光源8から発せられた観察用レーザ光L1を光軸に交差する方向に2次元的に走査する第1のスキャナ9とを備えている。符号10はリレーレンズ、符号11はミラーである。
また、観察用走査光学系2の観察用レーザ光源8と第1のスキャナ9との間には、標本Pにおいて発生し、対物レンズ5により集光され、結像レンズ7、ダイクロイックミラー4、ミラー11、リレーレンズ10、および第1のスキャナ9を経由して戻る蛍光Fを観察用レーザ光L1から分岐して光検出器6に向かわせるダイクロイックミラー12が備えられている。
第1のスキャナ9は、後述する蛍光画像の左右方向に対応する主走査方向に観察用レーザ光L1を走査する第1のガルバノミラー9aと、蛍光画像の上下方向に対応する副走査方向に観察用レーザ光L1を走査する第2のガルバノミラー9bとを備える、いわゆる近接ガルバノミラーである。これにより、観察用レーザ光L1がラスタスキャン方式で標本P上に2次元的に走査されるようになっている。
刺激用走査光学系3は、刺激用レーザ光L2を出射する刺激用レーザ光源15と、該刺激用レーザ光源15から発せられた刺激用レーザ光L2のビーム径を調節するビーム径調節部(ビーム径調節手段)16と、ビーム径が調節された後の刺激用レーザ光L2をライン状のレーザ光に変換する変換部(変換手段)17と、変換部17によりライン状に変換された刺激用レーザ光L2を光軸に交差する方向に2次元的に走査可能な第2のスキャナ18とを備えている。符号19はリレーレンズである。
上記刺激用走査光学系3において、ビーム径調節部16は、刺激用レーザ光L2の光路上に配置された複数のレンズ16a,16bにより構成されている。これらレンズ16a,16bは、レンズ間距離が調節可能に構成されている。本実施形態では、レンズ16bの位置は固定されており、レンズ16aが光軸方向に移動可能に支持されている。
変換部17は、例えば、シリンドリカルレンズにより構成されている。
第2のスキャナ18は、上述の第1のスキャナ9と同様の構成を備えているが、第1のスキャナ9が主走査方向および副走査方向に観察用レーザ光L1を走査するのに対し、第2のスキャナ18は、主走査方向または副走査方向にのみ刺激用レーザ光L2を走査させる点で異なる。
本実施形態では、後述する蛍光画像の上下方向に対応する副走査方向に刺激用レーザ光L2を走査する第4のガルバノミラー18bの位置を所定の位置で固定し、主走査方向に刺激用レーザ光L2を走査する第3のガルバノミラー18aのみを走査させる。
これにより、上記変換部17によってライン状に変換された刺激用レーザ光L2が標本P上で主走査方向にのみ走査されることとなる。
光検出器6は、測光フィルタ20、レンズ21、共焦点ピンホール22及び光電変換素子23を備えて構成される。光電変換素子23は、A/D変換器(図示せず)を介して制御装置(制御手段)25に接続されている。制御装置25は、第1のスキャナ9による観察用レーザ光L1の標本P上における走査位置情報と、光検出器6により検出された蛍光Fの光強度情報とに基づいて、2次元的な蛍光画像を構築し、ディスプレイ26に表示するようになっている。
また、制御装置25は、ディスプレイ26に表示した蛍光画像の各画素位置と第2のスキャナ18の走査位置とを対応付けて記憶している。これにより、ディスプレイ26に表示した蛍光画像上において、オペレータにより光刺激領域が指定された場合には、その光刺激領域に刺激用レーザ光L2が照射されるように、第2のスキャナ18の第3のガルバノミラー18aを走査するようになっている。これにより、後述するように、標本P上における光刺激領域内において、刺激用レーザ光L2がライン的に走査されることとなる。
また、制御装置25は、刺激用レーザ光L2のビーム径とビーム径調節部16のレンズ16a,16b間の距離とを対応付けて記憶している。この制御装置25は、オペレータによって光刺激領域が指定された場合に、刺激用レーザ光のビーム径が、該光刺激領域の幅W(図3参照)に一致するように、レンズ17aの位置を光軸方向に移動させるようになっている。
このように構成された本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1の作用について以下に説明する。
まず、図2のステップSA1において、本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡1を用いて標本Pを観察する。この場合、制御装置25は、観察用レーザ光源8、第1のスキャナ9を作動させる。これにより、観察用レーザ光源8から出射された観察用レーザ光L1は、第1のスキャナ9によって2次元的に走査され、リレーレンズ10、ミラー11、ダイクロイックミラー4、結像レンズ7、および対物レンズ5を経て、標本Pに照射される。標本Pに観察用レーザ光L1が照射されると、標本P内に存在する蛍光物質が観察用レーザ光L1によって励起され、蛍光Fが発生する。標本Pにおいて発生した蛍光Fは、対物レンズ5、結像レンズ7、ダイクロイックミラー4、ミラー11、リレーレンズ10および第1のスキャナ9を経由して観察用レーザ光L1と同じ経路を戻り、ダイクロイックミラー12によって観察用レーザ光L1と分離されて、光検出器6に導かれる。
光検出器6において、蛍光Fは、測光フィルタ20により特定の波長の光が選択透過され、さらにレンズ21、共焦点ピンホール22により観察面からの光のみが選択されて、光電変換素子23へ入射され、電気信号に変換される。光電変換素子23の出力信号は、A/D変換器(図示せず)へ導かれてディジタル信号に変換され、制御装置25に転送される。制御装置25では、このディジタル信号に基づいて2次元的な蛍光画像が構築され、ディスプレイ26に表示される。これにより、ディスプレイ26には、図3に示すように、観察面における蛍光画像が表示されることとなる。
次に、ディスプレイ26に表示された蛍光画像において、図3に示すように、オペレータにより光刺激領域が指定されると(図2のステップSA2)、制御装置25は指定された光刺激領域の幅Wに基づいてビーム径調節部16におけるレンズ16aの位置を調節する(図2のステップSA3)。具体的には、制御装置25は、刺激用レーザ光L2のビーム径が、指定された光刺激領域の幅Wに一致するように、レンズ16aの位置を調節する。
続いて、制御装置25は、上記光刺激領域の位置に応じて第2のスキャナ19の走査範囲を決定する。具体的には、制御装置25は、光刺激開始時において、対物レンズ5から標本Pに照射されるライン状の刺激用レーザ光L2が、光刺激領域の上辺PL1に一致するように、第4のガルバノミラー18bの位置を固定させる(図2のステップSA4)。
このようにして、光刺激の準備が完了すると、制御装置25は、刺激用レーザ光源8、および第2のスキャナ18における第3のガルバノミラー18aを作動させることによって、光刺激を開始する(図2のステップSA5)。
これにより、刺激用レーザ光源15から刺激用レーザ光L2が出射され、ビーム径調節部16に入射することによって、そのビーム径Dが光刺激領域の幅Wと一致するように調整される。ビーム径Dが調整された刺激用レーザ光L2は、変換部17に入射することで、図4に示すように、ビーム径Dに応じた長さのライン状のレーザ光に変換される。ライン状に変換された刺激用レーザ光L2は、第2のスキャン18における第3のガルバノミラー18aの位置にて集光して第4のガルバノミラー18bに向けて反射され、第4のガルバノミラー18b、リレーレンズ19を経由してダイクロイックミラー4に導かれる。
ダイクロイックミラー4において、刺激用レーザ光L2は、観察用レーザ光L1と合波され、結像レンズ7、対物レンズ5を介して標本Pに照射される。この場合において、刺激用レーザ光L2は、光刺激領域の幅Wと同じ長さのライン状の光として標本Pに照射されることとなる。制御装置25が第2のスキャナ18の第3のガルバノミラー18aを走査することにより、ライン状の刺激用レーザ光L2は標本上Pを主走査方向(図3参照)に走査されることとなる。そして、図3において指定された光刺激領域の全域に対する光刺激が終了すると、制御装置25は、刺激用光学系3の作動を停止させる。
一方、光刺激が行われている間も、制御装置25が観察用光学系2の第1のスキャナ9等を継続的に作動させる。これにより、光刺激前後の蛍光画像が取得され、ディスプレイ26に表示されることとなる。
以上、説明してきたように、本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡によれば、ライン状の刺激用レーザ光L2を標本Pに照射させることが可能となるので、ライン状の刺激用レーザ光L2を一方向にのみ走査させることで、効率的に光刺激を実施することができる。この結果、光刺激が開始されてから終了するまでの光刺激実行時間を短縮することができる。
更に、ビーム径調節部16において、レンズ16a,16b間の距離が調節可能に構成されているので、光刺激領域の範囲に応じて刺激用レーザ光L2のビーム径Dを調節することが可能となる。この結果、刺激用レーザ光L2のライン長を光刺激領域の範囲に合わせて自由に調節することができる。
なお、上述の実施形態においては、図3に示すように、刺激用レーザ光L2のライン長Dを光刺激領域の幅Wに一致するように調整し、このライン状の刺激用レーザ光L2を主走査方向に走査させたが、これに代えて、図5に示すように、刺激用レーザ光L2のライン長Dを光刺激領域の縦方向の長さLに一致するように調整し、このライン状の刺激用レーザ光L2を副走査方向に走査させることとしても良い。
この場合には、変換部17を構成するシリンドリカルレンズ17を図1に示した状態から90度回転させて配置することが必要となるほか、ビーム径調節部16におけるレンズ16a,16b間の距離を光刺激領域の縦方向の長さLに一致するように調節し、更に、第3のガルバノミラー18aを光刺激領域の位置に応じて固定する必要がある。そして、この状態で、第4のガルバノミラー18bを走査すればよい。
また、シリンドリカルレンズ17を光軸に対して軸回転可能に設け、光刺激領域の形状に応じて、配置角度を切り替え(0度または90度)、この切り替えに伴って、ビーム径調節部16および第2のスキャン18の制御についても切り替えることとしても良い。例えば、図3に示すように、光刺激領域の幅Wが長さLよりも長い場合には、シリンドリカルレンズ17を図1に示すように配置した上で、刺激用レーザ光L2のライン長を幅Wに一致させて、この刺激用レーザ光L2を主走査方向に走査させ、一方、図に示すように、光刺激領域の幅Wが長さLよりも短い場合には、シリンドリカルレンズ17を90度軸回転させるとともに、刺激用レーザ光L2のライン長を長さLに一致させて、この刺激用レーザ光L2を副走査方向に走査させる。このように構成することで、光刺激の効率を更に高めることができ、光刺激時間を更に短縮させることができる。
〔第2の実施形態〕
次に、本発明の第2の実施形態について、図を用いて説明する。
本実施形態のレーザ走査型顕微鏡が第1の実施形態と異なる点は、変換部17が刺激用レーザ光L2の光軸から着脱可能に設けられている点である。変換部17が刺激用レーザ光L2の光路から着脱可能に設けられているので、上述したようなライン状の刺激用レーザ光L2を標本Pに照射させる態様のほか、点状、換言すると、スポット状の刺激用レーザ光L2を第2のスキャナ18によって2次元的に走査させることも可能となる。
このようなレーザ走査型顕微鏡にて光刺激を行う場合には、まず、上述した第1の実施形態と同様に、観察用光学系2を作動させて標本Pの蛍光画像を取得し(図7のステップB1)、この蛍光画像上において光刺激領域が指定されると(図7のステップSB2)、オペレータがスキャンモードを選択する(図7のステップSB3)。本実施形態においては、ライン状の刺激用レーザ光L2を標本P上で走査させるラインスキャンモード、あるいは、点状の刺激用レーザ光L2を標本P上で2次元的に走査させるポイントスキャンモードのいずれかを選択することができる。
オペレータによってラインスキャンモードが選択された場合には、上述した第1の実施形態と同様の手順により、ビーム径調節部16のレンズ16aの位置が調整され(図7のステップSB5)、更に、第2のスキャナ18の第4のガルバノミラー18bの位置が調節されて(図7のステップSB6)、光刺激が開始されることとなる(図7のステップSB8)。一方、ステップSB4において、ポイントスキャンモードが選択された場合には、変換部18が刺激用レーザ光L2の光軸から外された後に(図7のステップSB7)、光刺激が開始される。この場合には、第2のスキャナ18における第3及び第4のガルバノミラー18a,18bがともに走査されることにより、点状の刺激用レーザ光L2が標本P上で2次元的に走査されることとなる。
以上、説明してきたように、本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡によれば、変換部17が刺激用レーザ光L2の光路に対して着脱可能に構成されていることにより、ライン状の刺激用レーザ光L2を標本P上で走査させるラインスキャンモードと、点状の刺激用レーザ光L2を標本P上で2次元的に走査させるポイントスキャンモードとを任意に選択することが可能となる。これにより、光刺激領域の形状に応じて、最適なモードを選択することが可能となる。
なお、上述した実施形態では、変換部17のみを刺激用レーザ光L2の光軸に対して着脱可能に構成することとしたが、変換部17に加えて、ビーム径調節部16についても刺激用レーザ光L2の光軸に対して着脱可能に構成することとしても良い。
本発明の第1の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡を示す全体構成図である。 本発明の第1の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の処理手順の一例を示したフローチャートである。 蛍光画像上に指定された光刺激領域の一例を示した図である。 シリンドリカルレンズの作用について説明するための説明図である。 本発明の第1の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の他の走査例を説明する場合に用いられる蛍光画像上に指定された光刺激領域の一例を示した図である。 本発明の第2の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡を示す全体構成図である。 本発明の第2の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の処理手順の一例を示したフローチャートである。
符号の説明
P 標本
F 蛍光
L1 観察用レーザ光
L2 刺激用レーザ光
1 レーザ走査型顕微鏡
2 観察用光学系
3 刺激用光学系
4 ダイクロイックミラー
5 対物レンズ
6 光検出器
8 観察用レーザ光源
9 第1のスキャナ
9a 第1のガルバノミラー
9b 第2のガルバノミラー
15 刺激用レーザ光源
16 ビーム径調節部
17 変換部
18 第2のスキャナ
18a 第3のガルバノミラー
18b 第4のガルバノミラー
25 制御装置
26 ディスプレイ

Claims (9)

  1. 刺激用レーザ光を出射する刺激用レーザ光源と、
    前記刺激用レーザ光のビーム径を調節するビーム径調節手段と、
    光軸に対して配置角度を切り替え可能に配置され、前記ビーム径調節手段によってビーム径が調整された刺激用レーザ光を、ビーム径に応じたライン長のライン状の刺激用レーザ光に変換する変換手段と、
    前記ライン状の刺激用レーザ光を光軸に交差する方向に二次元的に走査可能なスキャナと
    を備え、
    前記ライン状の刺激用レーザ光を標本に照射することにより光刺激を行うレーザ走査型顕微鏡。
  2. 刺激用レーザ光を出射する刺激用レーザ光源と、
    前記刺激用レーザ光のビーム径を調節するビーム径調節手段と、
    光軸に対して配置角度を切り替え可能に配置され、前記刺激用レーザ光をライン状の刺激用レーザ光に変換する変換手段と、
    前記ライン状の刺激用レーザ光を光軸に交差する方向に二次元的に走査可能なスキャナと
    を備え、
    前記ビーム径調節手段でビーム径を調整された前記ライン状の刺激用レーザ光を標本に照射することにより光刺激を行うレーザ走査型顕微鏡。
  3. 前記変換手段がシリンドリカルレンズである請求項1または請求項2に記載のレーザ走査型顕微鏡。
  4. 前記ビーム径調節手段が、レーザ光の光路上に配置された複数のレンズを備え、更に、前記レンズ間の距離が調節可能とされている請求項1から請求項3のいずれかに記載のレーザ走査型顕微鏡。
  5. 光刺激を与える光刺激領域の範囲に応じて、前記ビーム径調節手段のレンズ間の距離を調節する制御手段を備える請求項4に記載のレーザ走査型顕微鏡。
  6. 前記変換手段が前記刺激用レーザ光の光路に対して着脱可能とされている請求項1から請求項5のいずれかに記載のレーザ走査型顕微鏡。
  7. 前記ビーム径調節手段が前記刺激用レーザ光の光路に対して着脱可能とされている請求項6に記載のレーザ走査型顕微鏡。
  8. 観察用レーザ光を走査して前記標本の蛍光画像を取得するための観察用走査光学系と、
    光刺激を与える光刺激領域を指定するために予め取得した前記蛍光画像を表示する表示部と、
    前記蛍光画像の各画素位置と前記スキャナの走査位置との対応関係に基づいて、前記表示部に表示された前記蛍光画像上で指定した光刺激領域に前記ライン状の刺激用レーザ光を照射するように前記スキャナを制御する制御手段とを備える請求項1から請求項7のいずれかに記載のレーザ走査型顕微鏡。
  9. 刺激用レーザ光を出射する刺激用レーザ光源と、
    光軸に対して配置角度を切り替え可能に配置され、前記刺激用レーザ光を所望のライン長のライン状の刺激用レーザ光に変換する変換手段と、
    前記ライン状の刺激用レーザ光を光軸に交差する方向に二次元的に走査可能なスキャナと
    を備え、
    前記ライン状の刺激用レーザ光を標本に照射することにより光刺激を行うレーザ走査型顕微鏡。
JP2006134068A 2006-05-12 2006-05-12 レーザ走査型顕微鏡 Expired - Fee Related JP5021233B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006134068A JP5021233B2 (ja) 2006-05-12 2006-05-12 レーザ走査型顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006134068A JP5021233B2 (ja) 2006-05-12 2006-05-12 レーザ走査型顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007304421A JP2007304421A (ja) 2007-11-22
JP5021233B2 true JP5021233B2 (ja) 2012-09-05

Family

ID=38838388

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006134068A Expired - Fee Related JP5021233B2 (ja) 2006-05-12 2006-05-12 レーザ走査型顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5021233B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5006694B2 (ja) * 2006-05-16 2012-08-22 オリンパス株式会社 照明装置
JP2009288321A (ja) 2008-05-27 2009-12-10 Olympus Corp 顕微鏡
DE102009037366A1 (de) * 2009-08-13 2011-02-17 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere zur Messung von Totalreflexions-Fluoreszenz, und Betriebsverfahren für ein solches
JP5649994B2 (ja) * 2011-01-28 2015-01-07 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP5784790B2 (ja) * 2014-04-28 2015-09-24 オリンパス株式会社 蛍光観察装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3917731B2 (ja) * 1996-11-21 2007-05-23 オリンパス株式会社 レーザ走査顕微鏡
JP3736213B2 (ja) * 1999-07-15 2006-01-18 横河電機株式会社 共焦点光スキャナ
JP4185711B2 (ja) * 2002-06-10 2008-11-26 株式会社キーエンス 複数の光源を備えた顕微鏡
JP4468684B2 (ja) * 2003-12-05 2010-05-26 オリンパス株式会社 走査型共焦点顕微鏡装置
JP4576150B2 (ja) * 2004-04-20 2010-11-04 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡
JP2006067171A (ja) * 2004-08-26 2006-03-09 Ohkura Industry Co カラー撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007304421A (ja) 2007-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2317363B1 (en) Microscope connecting unit and microscope system
JP4873917B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡装置
US7456378B2 (en) Confocal microscope and multiphoton excitation microscope
JP2005284136A (ja) 観察装置および観察装置の焦点合わせ方法
JP4912737B2 (ja) レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法
JP5021233B2 (ja) レーザ走査型顕微鏡
US7838818B2 (en) Light-stimulus illumination apparatus which scans light-stimulus laser light in a direction intersecting an optical axis
EP3326018A1 (en) Systems and methods for three-dimensional imaging
JP2010286566A (ja) レーザ走査型蛍光顕微鏡および蛍光観察方法
JP5307418B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP2011112779A (ja) レーザ走査型顕微鏡
JP5179099B2 (ja) 光刺激用照明装置および顕微鏡装置
JP5058625B2 (ja) レーザ顕微鏡
JP2007140183A (ja) 共焦点走査型顕微鏡装置
JP4593141B2 (ja) 光走査型観察装置
JP4480976B2 (ja) 走査型光学顕微鏡装置及びその制御方法並びにプログラム
JP4803974B2 (ja) 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム
US11366301B2 (en) Method and apparatus for imaging samples by means of manipulated excitation radiation
JP2006003747A (ja) 光走査型観察装置
JP2006267432A (ja) 走査型観察装置
JP4939855B2 (ja) 照明装置およびレーザ走査型顕微鏡
JP2005345764A (ja) 走査型光学装置
JP4914567B2 (ja) 走査型共焦点顕微鏡
JP2009300952A (ja) レーザ顕微鏡
JP2006195076A (ja) 走査型光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090420

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110726

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110926

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120110

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120302

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120529

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120614

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5021233

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees