JP5058625B2

JP5058625B2 - レーザ顕微鏡

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Description

本発明は、レーザ顕微鏡に関するものである。

従来、観察用のレーザ光を導く観察用光路とは別に、光刺激用のレーザ光を導く光刺激用光路とを備えるレーザ顕微鏡が知られている（例えば、特許文献１参照。）。
このレーザ顕微鏡においては、標本における観察断面とは異なる断面を光刺激するために、光刺激用のレーザ光の標本上における集光位置を可変にすることができる。

特開平１０−２０６７４２号公報

しかしながら、光刺激用のレーザ光の集光位置の変更を光路中に配置されているレンズの移動により行う場合に、駆動系の誤差により、レンズの中心位置がずれたりレンズが傾いたりすることがある。このような場合には、レーザ光の光軸がずれて所望の位置に精度よく光刺激を与えることができず、所望の観察結果を得ることができないという不都合がある。
また、光刺激を行うスポット径の大きさを調整しようとする場合にも、光刺激用レーザ光の光路に配置したレンズを移動させることがあり、この場合にも同様の不都合が発生する。

本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、光軸ずれを発生させることなく光刺激用のレーザ光の合焦位置またはスポット径の変更を可能にし、標本における所望の位置または範囲に精度よく光刺激を与えることができるレーザ顕微鏡を提供することを目的としている。

上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、観察用のレーザ光を導く観察用光路と、光刺激用のレーザ光を導く光刺激用光路と、これらの光路を合成する光路合成部と、該光路合成部により合成された前記観察用のレーザ光および前記光刺激用のレーザ光を標本に照射する対物レンズとを備えるとともに、前記観察用光路または前記光刺激用光路の少なくともいずれかに、前記レーザ光の合焦位置を光軸方向に変更する合焦位置変更部と、該合焦位置変更部と前記光路合成部との間における光軸のずれ量を検出する光軸ずれ検出部と、前記合焦位置の変更に伴って前記光軸ずれ検出部により検出された光軸のずれ量に基づいて、前記光刺激用のレーザ光の照射位置が前記観察用のレーザ光の照射位置に合致するように、前記レーザ光の光軸を調節するアライメント部とを備えるレーザ顕微鏡を提供する。

本発明によれば、観察用光路を介して導かれた観察用のレーザ光と、光刺激用の光路を介して導かれた光刺激用のレーザ光とが光路合成部により合成され、標本に照射される。光刺激用光路に設けられた合焦位置変更部の作動により光刺激用のレーザ光の合焦位置を変更し、その変更に伴って合焦位置変更部と光路合成部との間における光軸ずれが発生した場合に、光軸ずれ検出部の作動によりそのずれ量が検出される。この場合には、アライメント部の作動により検出されたずれ量に基づいて光軸位置が調節されてずれ量が修復されるので、光刺激用のレーザ光に光軸ずれを生じさせることなく、合焦位置を変更することができる。すなわち、光刺激用のレーザ光の合焦位置を光軸方向に移動させても、それによって合焦位置が光軸に交差する方向に変動しないので、標本の所望の位置に光刺激を与えつつ、観察用のレーザ光による観察を行うことができる。

また、本発明は、観察用のレーザ光を導く観察用光路と、光刺激用のレーザ光を導く光刺激用光路と、これらの光路を合成する光路合成部と、該光路合成部により合成された前記観察用のレーザ光および前記光刺激用のレーザ光を標本に照射する対物レンズとを備えるとともに、前記観察用光路または前記光刺激用光路の少なくともいずれかに、前記標本に照射される前記レーザ光のスポット径を変更するスポット径変更部と、該スポット径変更部と前記光路合成部との間における光軸のずれ量を検出する光軸ずれ検出部と、前記スポット径の変更に伴って前記光軸ずれ検出部により検出された光軸のずれ量に基づいて、前記光刺激用のレーザ光の照射位置が前記観察用のレーザ光の照射位置に合致するように、前記レーザ光の光軸を調節するアライメント部とを備えるレーザ顕微鏡を提供する。

本発明によれば、光刺激用光路に設けられたスポット径変更部の作動により光刺激用のレーザ光のスポット径を変更し、その変更に伴ってスポット径変更部と光路合成部との間における光軸ずれが発生した場合に、光軸ずれ検出部の作動によりそのずれ量が検出される。この場合には、アライメント部の作動により検出されたずれ量に基づいて光軸位置が調節されてずれ量が修復されるので、光刺激用のレーザ光に光軸ずれを生じさせることなく、スポット径を変更することができる。すなわち、光刺激用のレーザ光のスポット径を縮小または拡大させても、それによってレーザ光の照射範囲が光軸に交差する方向にシフトしないので、標本の所望の範囲に光刺激を与えつつ、観察用のレーザ光による観察を行うことができる。

また、本発明は、観察用のレーザ光を導く観察用光路と、光刺激用のレーザ光を導く光刺激用光路と、これらの光路を合成する光路合成部と、該光路合成部により合成された前記観察用のレーザ光および前記光刺激用のレーザ光を標本に照射する対物レンズとを備えるとともに、前記観察用光路または前記光刺激用光路の少なくともいずれかに、前記レーザ光の合焦位置を光軸方向に変更する合焦位置変更部と、前記標本に照射される前記レーザ光のスポット径を変更するスポット径変更部と、前記合焦位置変更部および前記スポット径変更部と、前記光路合成部との間における光軸のずれ量を検出する光軸ずれ検出部と、前記合焦位置の変更および前記スポット径の変更に伴って前記光軸ずれ検出部により検出された光軸のずれ量に基づいて、前記光刺激用のレーザ光の照射位置が前記観察用のレーザ光の照射位置に合致するように、前記レーザ光の光軸を調節するアライメント部とを備えるレーザ顕微鏡を提供する。

本発明によれば、アライメント部の作動により検出されたずれ量に基づいて光軸位置が調節されてずれ量が修復されるので、光刺激用のレーザ光に光軸ずれを生じさせることなく、合焦位置およびスポット径を変更することができる。すなわち、光刺激用のレーザ光のスポット径を縮小または拡大させ、かつ、合焦位置を光軸方向に移動させても、それによってレーザ光の照射範囲が光軸に交差する方向にシフトしないので、標本の所望の位置および範囲に光刺激を与えつつ、観察用のレーザ光による観察を行うことができる。

上記発明においては、前記アライメント部が、前記光軸ずれ検出部の前段に配置され、レーザ光の光軸のシフト量および傾き量を調節することとしてもよい。
このようにすることで、合焦位置調節およびスポット径調節に伴う光軸のシフトおよび傾きをアライメント部により補正し、標本の所望の位置に精度よく光刺激を与えることができる。

また、上記発明においては、前記観察用光路および光刺激用光路に、レーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源から出射されたレーザ光を２次元的に走査するスキャナとがそれぞれ設けられていることとしてもよい。
このようにすることで、各光路に設けられたレーザ光から異なる種類のレーザ光を出射させ、別個のスキャナにより走査範囲および照射位置をそれぞれ独立して調節することができる。

また、上記発明においては、前記レーザ光源が、波長を変更可能な超短パルスレーザ光源であることとしてもよい。
このようにすることで、超短パルスレーザ光源から出射されるレーザ光の波長の変更に伴って発生する光軸の変動も光軸ずれ検出部により検出し、アライメント部により補正することができる。

また、上記発明においては、前記合焦位置変更部が、波面変換素子からなることとしてもよい。
このようにすることで、波面変換素子の作動によりレーザ光の波面が変換され、刺激用のレーザ光の合焦位置を光軸方向に移動させることができる。

また、上記発明においては、前記アライメント部が、前記スキャナによる走査範囲を変更することとしてもよい。
このようにすることで、レーザ光を標本に対して２次元的に走査するスキャナを利用して、光軸ずれを簡易に補正することが可能となる。

本発明によれば、光軸ずれを発生させることなく光刺激用のレーザ光の合焦位置またはスポット径の変更を可能にし、標本における所望の位置または範囲に精度よく光刺激を与えることができるという効果を奏する。

本発明の一実施形態に係るレーザ顕微鏡１について、図１を参照して以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡１は、図１に示されるように、標本Ａを観察するためのレーザ光を出射する観察用光学系２と、標本Ａに光刺激を与えるためのレーザ光を出射する光刺激用光学系３と、これら光学系２，３からのレーザ光を合波するダイクロイックミラー（光路合成部）４と、該ダイクロイックミラー４により合波されたレーザ光を標本Ａに照射する一方、標本Ａから戻る光を集光する対物レンズ５と、該対物レンズ５により集光された光を検出する光検出器６と、これらを制御する制御部７と、検出された光を表示する表示部８と、操作者が操作を入力する入力部９とを備えている。

観察用光学系２は、超短パルスレーザ光のようなレーザ光Ｌ_１を出射するレーザ光源１０と、該レーザ光源１０から出射されたレーザ光Ｌ_１を２次元的に走査するスキャナ１１とを備えている。また、観察用光学系２には、レーザ光源１０とスキャナ１１との間に配置され、レーザ光源１０から出射されたレーザ光Ｌ_１のスポット径を調節するスポット径変更部１２と、対物レンズ５の前方における焦点位置を調節する集光位置変更部（合焦位置変更部）１３と、レーザ光Ｌ_１の光軸のシフトおよび傾きを調節する光軸調整部（アライメント部）１４と、レーザ光Ｌ_１の光軸ずれを検出する光軸ずれ検出部１５とが設けられている。

前記スポット径変更部１２は、例えば、ビームエキスパンダにより構成されている。
ビームエキスパンダは、対物レンズ５の瞳に入射するレーザ光のビーム径を変化させることで標本Ａに照射されるレーザ光のスポット径を調節するようになっている。
また、前記集光位置変更部１３は、光軸に沿う方向に移動可能な１以上のレンズにより構成されている。なお、集光位置変更部１３は波面変換素子により構成されていてもよい。
また、前記光軸調整部１４は、それぞれ２軸回りに揺動可能な２枚の平面ミラーを備えるビームシフタにより構成されている。

光軸ずれ検出部１５は、観察用光学系２の観察用光路に配置され、レーザ光Ｌ_１の一部を分岐する第１のビームスプリッタ１６と、該第１のビームスプリッタ１６により分岐されたレーザ光Ｌ_１を、さらに２つに分岐する第２のビームスプリッタ１７と、該第２のビームスプリッタ１７により分岐されたレーザ光Ｌ_１をそれぞれ検出する２つのフォトディテクタ１８，１９とを備えている。

２つのフォトディテクタ１８，１９は、それぞれ、入射されるレーザ光Ｌ_１のスポット位置を検出するようになっている。また、２つのフォトディテクタ１８，１９は、第２のビームスプリッタ１７からの距離を異ならせて配置されている。これにより、２つのフォトディテクタ１８，１９によるレーザ光Ｌ_１のスポット位置の差に基づいて、観察用のレーザ光Ｌ_１の傾きを検出することができるようになっている。

前記光刺激用光学系３も、超短パルスレーザ光のようなレーザ光Ｌ_２を出射するレーザ光源２０と、該レーザ光源２０から出射されたレーザ光Ｌ_２のスポットの位置を２次元的に移動させるスキャナ２１とを備えている。また、光刺激用光学系３にも、レーザ光源２０とスキャナ２１との間に配置され、レーザ光源２０から出射されたレーザ光Ｌ_２のスポット径を調節するスポット径変更部２２と、対物レンズ５の前方における焦点位置を調節する集光位置変更部（合焦位置変更部）２３と、レーザ光Ｌ_２の光軸のシフトおよび傾きを調節する光軸調整部２４と、レーザ光Ｌ_２の光軸ずれを検出する光軸ずれ検出部２５とが設けられている。

光刺激用光学系におけるスポット径変更部、合焦位置変更部および光軸調整部は、観察用光学系におけるそれと同様のものである。また、光軸ずれ検出部２５は、光刺激用光学系３の光刺激用光路に配置され、レーザ光Ｌ_２の一部を分岐する第１のビームスプリッタ２６と、該第１のビームスプリッタ２６により分岐されたレーザ光Ｌ_２を、さらに２つに分岐する第２のビームスプリッタ２７と、該第２のビームスプリッタ２７により分岐されたレーザ光Ｌ_２の位置をそれぞれ検出する２つのフォトディテクタ２８，２９とを備えている。

前記制御部７は、入力部９から入力された操作者の操作、例えば、スポット径の変更の操作入力、あるいは集光位置の変更の操作入力を受けて、スポット径変更部１２，２２または集光位置変更部１３，２３に対し、変更指令を出力するようになっている。また、制御部７は、光軸ずれ検出部１５，２５の作動により検出された光軸のシフトおよび傾きに基づいて、光軸調整部１４，２４を調節するようになっている。図中、符号３０はダイクロイックミラーである。

このように構成された本実施形態に係るレーザ顕微鏡１の作用について、以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡１を用いて標本Ａを観察するには、観察用光学系２の作動により、レーザ光源１０から出射されたレーザ光Ｌ_１が、スキャナ１１の作動により２次元的に走査され、対物レンズ５を介して、標本Ａに照射される。レーザ光Ｌ_１が照射されると、その集光位置において標本Ａ内に存在している蛍光物質が励起されて多光子蛍光が発生する。発生した多光子蛍光は、対物レンズ５により集光され光検出器６により検出される。

検出された多光子蛍光は、その強度がスキャナ１１による走査位置と対応づけた形態で記憶されていくことにより、制御部７により多光子蛍光画像が作成される。そして、得られた多光子蛍光画像が表示部８により表示され、これによって操作者が標本Ａの多光子蛍光観察を行うことができる。

また、本実施形態に係るレーザ顕微鏡１によれば、光刺激用光学系３の作動により、レーザ光源２０から出射されたレーザ光Ｌ_２が、スキャナ２１によってそのスポット位置を２次元的に調節され、対物レンズ５を介して標本Ａに照射される。これにより、標本Ａにおける特定位置に光刺激を与えつつ、同時に観察用光学系２を用いて標本Ａの蛍光観察を行うことができる。

操作者が、観察用あるいは光刺激用のレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２のスポット径を変更し、あるいは、対物レンズ５の先端側における集光位置を変更したい場合には、入力部９を介してその操作を入力する。
スポット径の変更操作が入力されたときには、制御部７は、その入力に応じてスポット径変更部１２，２２に対し指令信号を出力する。また、集光位置の変更操作が入力されたときには、制御部７は、その入力に応じて集光位置変更部１３，２３に対し指令信号を出力する。

スポット径変更部１２，２２は、例えば、ビームエキスパンダにより構成されているので、ビームエキスパンダを構成しているレンズの形状誤差やレンズ移動機構の機械的誤差等により、スポット径の変化に応じて、レーザ光Ｌ_１，Ｌ_２の光軸が、該光軸に交差する方向にシフトし、あるいは、その傾きが変動することが考えられる。また、集光位置変更部１３，２３も、光軸方向に移動する１枚以上のレンズにより構成されているので、レンズの形状誤差やレンズ移動機構の機械的誤差等により、集光位置の変化に応じて、レーザ光Ｌ_１，Ｌ_２の光軸がシフトあるいは傾斜する。

本実施形態に係るレーザ顕微鏡１によれば、光軸ずれ検出部１５，２５が設けられているので、レーザ光源１０，２０から出射されたレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２の一部が第１のビームスプリッタ１６，２６により分岐され、さらに第２のビームスプリッタ１７，２７により２つに分岐されて、それぞれフォトディテクタ１８，１９；２８，２９により検出される。２つのフォトディテクタ１８，１９；２８，２９のいずれかにおけるレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２のスポットの検出位置に基づいて、レーザ光Ｌ_１，Ｌ_２のシフト量が検出される。また、第２のビームスプリッタ１７，２７から２つのフォトディテクタ１８，１９；２８，２９までの距離が異ならされているので、２つのフォトディテクタ１８，１９；２８，２９のスポットの検出位置の相違に基づいてレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２の傾きが検出される。

これら２つのフォトディテクタ１８，１９；２８，２９によりレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２の光軸におけるシフトが検出された場合には、制御部７は、光軸調整部１４，２４に対して、検出されたシフトの方向とは逆方向に光軸をシフトさせる指令信号を出力し、光軸調整部１４，２４の作動により、シフトが補正される。また、レーザ光Ｌ_１．Ｌ_２の光軸における傾きが検出された場合には、制御部７は、光軸調整部１４，２４に対して、検出された傾きとは逆方向に光軸を傾ける指令信号を出力し、光軸調整部１４，２４の作動により、傾きが補正される。

このように、本実施形態に係るレーザ顕微鏡１によれば、観察用光学系２から出射された観察用のレーザ光Ｌ_１を標本Ａ上で２次元的に走査して、標本Ａの多光子蛍光観察を行いながら、光刺激用光学系３から出射された光刺激用のレーザ光Ｌ_２で光刺激を行う光軸方向の位置あるいはスポット径を変更する場合に、集光位置やスポット径を変更しても光軸ずれが発生しないように補正できる。したがって、複数の光刺激観察範囲に対して精度よく設定された所望の位置に正確に光刺激を与えて、標本Ａの多光子蛍光観察を行うことができる。

また、本実施形態に係るレーザ顕微鏡１によれば、観察用のレーザ光Ｌ_１の照射により取得した標本画像に基づいて光刺激位置を指定する場合に、常に画像上で指定した位置に正しく光刺激を行うことができる。

なお、本実施形態においては、観察用光学系２および光刺激用光学系３のいずれにも光軸ずれ検出部１５，２５および光軸調整部１４，２４を設けることとしたが、光軸調整部１４，２４は、いずれかの光学系、例えば、光刺激用光学系３のみに設けることとしてもよい。
この場合、制御部７は両光学系の光軸ずれ検出部１５，２５で検出された光軸ずれ量に基づいて、光刺激用のレーザ光Ｌ_２の照射位置が観察用のレーザ光Ｌ_１の照射位置に合致するように光軸調整部２４を制御する。このようにしても、観察用のレーザ光Ｌ_１の照射により取得した画像に基づいて光刺激位置を指定する場合には、常に画像上で指定した位置に正しく光刺激を行うことができる。

また、本実施形態においては、観察用光学系２および光刺激用光学系３のいずれにもスキャナ１１，２１を設け、標本Ａの所定の位置に光刺激を与えながら、同時に多光子蛍光画像を取得することを独立して行えることとしたが、これに代えて、図２に示されるように、観察用光学系２と光刺激用光学系３とで、スキャナ３１を共通に使用することとしてもよい。図中、符号３２はミラー、符号３３はダイクロイックミラーである。
この場合には、両者を独立して行うことができないので、時分割で多光子蛍光観察と光刺激とを行うことにすればよい。

また、本実施形態においては、スキャナ１１，２１とは別に光軸調整部１４，２４を設けることとしたが、これに代えて、光軸ずれ検出部１５，２５による検出結果に応じて、スキャナ１１，２１により光軸のシフトあるいは傾きの補正を行うことにしてもよい。このようにすることで、光軸ずれの補正をより高速に行うことができる。

また、レーザ光原１０，２０として、超短パルスレーザ光Ｌ_１．Ｌ_２を出射するものを採用したが、これに代えて、通常の連続レーザ光を出射するものを採用してもよい。その場合、蛍光は、スキャナ１１とビームスプリッタ１６との間にダイクロイックミラー（図示略）を配置して分岐し、共焦点ピンホール（図示略）を介して光検出器６により検出することとすればよい。
また、本実施形態において、レーザ光源１０，２０から出射する超短パルスレーザ光の波長を変更することによっても光軸ずれが発生するので、制御部７は、波長変更時の光軸ずれの補正を行うこともできる。

本発明の一実施形態に係るレーザ顕微鏡の全体構成を示すブロック図である。図１のレーザ顕微鏡の変形例を示す図である。

符号の説明

Ａ標本
Ｌ_１，Ｌ_２レーザ光
１レーザ顕微鏡
４ダイクロイックミラー（光路合成部）
１０，２０レーザ光源
１１，２１スキャナ
１２，２２スポット径変更部
１３，２３集光位置変更部（合焦位置変更部）
１４，２４光軸調整部（アライメント部）
１５，２５光軸ずれ検出部

Claims

観察用のレーザ光を導く観察用光路と、
光刺激用のレーザ光を導く光刺激用光路と、
これらの光路を合成する光路合成部と、
該光路合成部により合成された前記観察用のレーザ光および前記光刺激用のレーザ光を標本に照射する対物レンズとを備えるとともに、
前記観察用光路または前記光刺激用光路の少なくともいずれかに、
前記レーザ光の合焦位置を光軸方向に変更する合焦位置変更部と、
該合焦位置変更部と前記光路合成部との間における光軸のずれ量を検出する光軸ずれ検出部と、
前記合焦位置の変更に伴って前記光軸ずれ検出部により検出された光軸のずれ量に基づいて、前記光刺激用のレーザ光の照射位置が前記観察用のレーザ光の照射位置に合致するように、前記レーザ光の光軸を調節するアライメント部とを備えるレーザ顕微鏡。
観察用のレーザ光を導く観察用光路と、
光刺激用のレーザ光を導く光刺激用光路と、
これらの光路を合成する光路合成部と、
該光路合成部により合成された前記観察用のレーザ光および前記光刺激用のレーザ光を標本に照射する対物レンズとを備えるとともに、
前記観察用光路または前記光刺激用光路の少なくともいずれかに、
前記標本に照射される前記レーザ光のスポット径を変更するスポット径変更部と、
該スポット径変更部と前記光路合成部との間における光軸のずれ量を検出する光軸ずれ検出部と、
前記スポット径の変更に伴って前記光軸ずれ検出部により検出された光軸のずれ量に基づいて、前記光刺激用のレーザ光の照射位置が前記観察用のレーザ光の照射位置に合致するように、前記レーザ光の光軸を調節するアライメント部とを備えるレーザ顕微鏡。
観察用のレーザ光を導く観察用光路と、
光刺激用のレーザ光を導く光刺激用光路と、
これらの光路を合成する光路合成部と、
該光路合成部により合成された前記観察用のレーザ光および前記光刺激用のレーザ光を標本に照射する対物レンズとを備えるとともに、
前記観察用光路または前記光刺激用光路の少なくともいずれかに、
前記レーザ光の合焦位置を光軸方向に変更する合焦位置変更部と、
前記標本に照射される前記レーザ光のスポット径を変更するスポット径変更部と、
前記合焦位置変更部および前記スポット径変更部と、前記光路合成部との間における光軸のずれ量を検出する光軸ずれ検出部と、
前記合焦位置の変更および前記スポット径の変更に伴って前記光軸ずれ検出部により検出された光軸のずれ量に基づいて、前記光刺激用のレーザ光の照射位置が前記観察用のレーザ光の照射位置に合致するように、前記レーザ光の光軸を調節するアライメント部とを備えるレーザ顕微鏡。
前記アライメント部が、前記光軸ずれ検出部の前段に配置され、レーザ光の光軸のシフト量および傾き量を調節する請求項１から請求項３のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
前記観察用光路および光刺激用光路に、レーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源から出射されたレーザ光を２次元的に走査するスキャナとがそれぞれ設けられている請求項１から請求項３のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
前記レーザ光源が、波長を変更可能な超短パルスレーザ光源である請求項５に記載のレーザ顕微鏡。
前記合焦位置変更部が、波面変換素子からなる請求項１から請求項３のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
前記アライメント部が、前記スキャナによる走査範囲を変更する請求項５に記載のレーザ顕微鏡。
前記光刺激用光路に設けられたスキャナは、前記観察用光路に設けられたスキャナが前記観察用のレーザ光を標本上で走査することにより取得された標本画像に基づいて指定された光刺激位置に光刺激用のレーザ光を照射する請求項５に記載のレーザ顕微鏡。
前記レーザ光のスポット径または前記合焦位置の少なくとも一方の変更操作を入力する入力部と、
該入力部に入力された前記変更操作に応じて、前記スポット径変更部または前記合焦位置変更部に対し指令信号を出力するとともに、前記レーザ光のスポット径または合焦位置が変更されたときに、前記光軸ずれ検出部により光軸のずれ量を検出して前記アライメント部により光軸を調節させる制御部とを備える請求項３に記載のレーザ顕微鏡。
前記アライメント部が、前記光刺激用光路のみに備えられ、
前記光軸ずれ検出部が、前記観察用光路と前記光刺激用光路との両方に備えられ、
前記アライメント部が、前記観察用光路の光軸ずれ検出部と前記光刺激用光路の光軸ずれ検出部とのそれぞれで検出された光軸のずれ量に基づいて、前記光刺激用のレーザ光の照射位置が前記観察用のレーザ光の照射位置に合致するように、前記レーザ光の光軸を調節する請求項１から請求項３のいずれかまたは請求項９に記載のレーザ顕微鏡。
前記観察用光路及び前記光刺激用光路のそれぞれに、
前記合焦位置変更部と、
前記スポット径変更部と、
前記光軸ずれ検出部と、
前記アライメント部とを備え、
前記制御部は、前記変更操作が前記入力部に入力されたときに、前記観察用光路と前記光刺激用光路とにそれぞれ設けられた前記光軸ずれ検出部と前記アライメント部とによって、それぞれの光軸を調節させる請求項１０に記載のレーザ顕微鏡。
前記観察用光路および前記光刺激用光路のどちらか一方に、レーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源から出射されたレーザ光を２次元的に走査するスキャナとが設けられている請求項１から請求項３のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
前記アライメント部が、前記光軸ずれ検出部で検出された光軸のずれ量を相殺するように前記スキャナによる走査範囲を変更する請求項１３に記載のレーザ顕微鏡。