JP4874012B2 - レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 - Google Patents
レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4874012B2 JP4874012B2 JP2006174465A JP2006174465A JP4874012B2 JP 4874012 B2 JP4874012 B2 JP 4874012B2 JP 2006174465 A JP2006174465 A JP 2006174465A JP 2006174465 A JP2006174465 A JP 2006174465A JP 4874012 B2 JP4874012 B2 JP 4874012B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- condensing position
- laser
- laser light
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる走査型レーザ顕微鏡の概略構成を示している。図1において、符号10は光源としてのレーザ光源を示す。このレーザ光源10は、後述する標本20の蛍光色素を励起する波長のレーザ光を発生するものである。レーザ光源10からのレーザ光の光路上には、コリメート光学系11が配置されている。コリメート光学系11は、レーザ光源10が発したレーザ光を完全な平行光にするとともに、そのビーム径を変更するものである。
第1の実施の形態では、制御部26によりフォトマル25からの電気信号が最大、つまり共焦点ピンホール24を通る光量が最大になるように、第1の形状可変ミラー15及び第2の形状可変ミラー21の表面形状を制御するようにしたが、例えば、上述した第1のステップと第2のステップで取得された第1の形状可変ミラー15と第2の形状可変ミラー21のそれぞれの表面形状の情報をデータベース化して制御部26に記憶しておき、その後、このデータベースの情報に基づいて第1の形状可変ミラー15と第2の形状可変ミラー21の表面形状を制御するようにしてもよい。この場合、データベースに記憶される内容は、例えば、対物レンズ19の焦点位置、標本20の種類、標本20から発せられる蛍光波長域とともに、これらに対し最適状態に制御された第1の形状可変ミラー15と第2の形状可変ミラー21の表面形状の情報である。
次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。図3は、本発明の第2の実施の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には、同符号を付している。
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。図4は、この第3の実施の形態にかかる走査型レーザ顕微鏡の概略構成を示す図である。第1の実施の形態と同一の構成部分には同一符号を付して示している。
11 コリメート光学系
12 ハーフミラー
13 ダイクロイックミラー
14 反射ミラー
15 形状可変ミラー
16 走査光学ユニット
17 瞳投影レンズ
18 中間結像レンズ
19 対物レンズ
20 標本
21 形状可変ミラー
22 結像レンズ
23,23a,23b 吸収フィルタ
24 共焦点ピンホール
25,25a,25b フォトマル
26 制御部
26a データベース
27 コリメータレンズ
28 ダイクロイックミラー
30 多波長レーザ光原
31 波長選択手段
102 ターレット
Claims (17)
- レーザ光を発生する光源と、
前記レーザ光を標本上に集光させる対物レンズと、
前記レーザ光を前記標本上で2次元走査する光走査手段と、
前記レーザ光の光路に設けられ、前記レーザ光の前記標本上の第1集光位置を前記対物レンズの光軸方向に移動させる第1の集光位置制御手段と、
前記レーザ光とは波長が異なる光であって前記第1集光位置から発せられる観察光および前記第1集光位置からの反射光の少なくとも一方を前記レーザ光の光路から分岐させる分岐素子と、
前記第1集光位置からの光を共焦点検出する共焦点ピンホールを有する共焦点検出手段と、
前記分岐素子と前記共焦点ピンホールとの間の光路に設けられ、前記共焦点検出手段に対して集光される前記観察光の第2集光位置を前記共焦点ピンホールに一致させる第2の集光位置制御手段と、
前記共焦点検出手段が検出する光を選択する光選択手段と、
を備えたことを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。 - 前記分岐素子は、前記光源と前記第1の集光位置制御手段との間の光路に設けられ、前記光源から出射した前記レーザ光を前記第1の集光位置制御手段に導くと共に、前記第1集光位置から前記第1の集光位置制御手段を経由して入射した光を、前記光路から分岐させて前記第2の集光位置制御手段へ向かう光路に導くことを特徴とする請求項1に記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記第1集光位置からの光のうち該第1集光位置からの反射光に対し前記共焦点ピンホールを通る光量が最大になるように前記第1の集光位置制御手段に前記第1集光位置を移動させる制御を行うとともに、前記第1集光位置からの光のうち前記観察光に対し前記共焦点ピンホールを通る光量が最大になるように前記第2の集光位置制御手段に前記第2集光位置を移動させる制御を行う制御手段を備えたことを特徴とする請求項1または2に記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記光選択手段は、前記第1集光位置からの反射光を選択するハーフミラーと、前記観察光として所定波長のみの光を選択するダイクロイックミラーとを切換可能に備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記第1及び第2の集光位置制御手段の少なくとも一方は、印加電圧に応じて反射面を変形する波面変調器からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記制御手段は、前記波面変調器の反射面形状を記憶したデータベースを備え、該データベースから読み出した前記反射面形状に基づいて前記波面変調器を制御することを特徴とする請求項5に記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記制御手段は、前記第1の集光位置制御手段による前記第1集光位置の移動に連動して前記共焦点ピンホールの径を変更する制御を行うことを特徴とする請求項3〜6のいずれか一つに記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記光選択手段は、さらに、特性の異なる複数の波長選択フィルタを有し、
前記制御手段は、前記第2の集光位置制御手段による前記第2集光位置の移動に連動して、複数の前記波長選択フィルタのうち前記標本に適した特性の波長選択フィルタを光路上に配置する制御を行うことを特徴とする請求項3〜7のいずれか一つに記載のレーザ走査型顕微鏡。 - 複数波長を含んだ多波長レーザ光を発生する光源と、
前記多波長レーザ光の中から1以上の波長のレーザ光を抽出する波長抽出手段と、
前記レーザ光を標本上に集光させる対物レンズと、
前記レーザ光を前記標本上で2次元走査する光走査手段と、
前記レーザ光の光路に設けられ、前記レーザ光の前記標本上の集光位置を前記対物レンズの光軸方向に移動させ、基準波長の前記レーザ光の前記集光位置に対する各波長の前記レーザ光の前記集光位置の前記光軸方向のずれを解消する第1の集光位置制御手段と、
前記レーザ光とは波長が異なる光であって前記集光位置から発せられる観察光を前記レーザ光の光路から分岐させる分岐素子と、
前記集光位置からの光を共焦点検出する共焦点ピンホールを有する共焦点検出手段と、
前記共焦点検出手段が検出する光を選択する光選択手段と、
前記波長抽出手段に複数の波長の前記レーザ光を波長ごとに順次抽出させるとともに、この抽出した前記レーザ光の波長に応じて、前記第1の集光位置制御手段に前記集光位置の前記光軸方向のずれを解消させる制御を行う制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記光走査手段が前記レーザ光を1ライン走査するごとに、前記波長抽出手段が抽出する前記レーザ光の波長を切り換える制御を行い、
前記第1の集光位置制御手段は、印加電圧に応じて反射面を変形する波面変調器からなることを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。 - 前記分岐素子と前記共焦点ピンホールとの間の光路に設けられ、前記共焦点検出手段に対して集光される前記観察光の検出集光位置を前記共焦点ピンホールに一致させる第2の集光位置制御手段を備えたことを特徴とする請求項9に記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 複数波長を含んだ多波長レーザ光を発生する光源と、
前記多波長レーザ光の中から1以上の波長のレーザ光を抽出する波長抽出手段と、
前記レーザ光を標本上に集光させる対物レンズと、
前記レーザ光を前記標本上で2次元走査する光走査手段と、
前記レーザ光の光路に設けられ、前記レーザ光の前記標本上の集光位置を前記対物レンズの光軸方向に移動させ、基準波長の前記レーザ光の前記集光位置に対する各波長の前記レーザ光の前記集光位置の前記光軸方向のずれを解消する第1の集光位置制御手段と、
前記レーザ光とは波長が異なる光であって前記集光位置から発せられる観察光を前記レーザ光の光路から分岐させる分岐素子と、
前記集光位置からの光を共焦点検出する共焦点ピンホールを有する共焦点検出手段と、
前記共焦点検出手段が検出する光を選択する光選択手段と、
前記分岐素子と前記共焦点ピンホールとの間の光路に設けられ、前記共焦点検出手段に対して集光される前記観察光の検出集光位置を前記共焦点ピンホールに一致させる第2の集光位置制御手段と、
を備えたことを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。 - 前記分岐素子は、前記光源と前記第1の集光位置制御手段との間の光路に設けられ、前記光源から出射した前記レーザ光を前記第1の集光位置制御手段に導くと共に、前記集光位置から前記第1の集光位置制御手段を経由して入射した光を、前記光路から分岐させて前記第2の集光位置制御手段へ向かう光路に導くことを特徴とする請求項10又は11に記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記第1の集光位置制御手段は、印加電圧に応じて反射面を変形する波面変調器からなることを特徴とする請求項11に記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記第2の集光位置制御手段は、印加電圧に応じて反射面を変形する波面変調器からなることを特徴とする請求項10〜12のいずれか一つに記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記波面変調器の反射面形状を記憶したデータベースを有し、該データベースから読み出した前記反射面形状に基づいて前記波面変調器を制御する制御手段を備えたことを特徴とする請求項9、13、及び14のいずれか一つに記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 前記データベースは、前記レーザ光の波長および集光位置に応じた複数の反射面形状を記憶することを特徴とする請求項6または15に記載のレーザ走査型顕微鏡。
- 光源が発したレーザ光を対物レンズを介して標本上に集光させるレーザ光照射ステップと、
前記レーザ光の前記標本上の第1集光位置を2次元走査させるとともに、該第1集光位置からの光を共焦点ピンホールを介して共焦点検出する共焦点検出ステップと、
前記第1集光位置からの光のうち該第1集光位置で反射した前記レーザ光に対し、前記共焦点ピンホールを通過する光量が最大となるように前記第1集光位置を前記対物レンズの光軸方向に移動させる第1集光位置移動ステップと、
前記第1集光位置からの光のうち前記レーザ光とは波長が異なる光であって該第1集光位置から発せられる観察光に対し、前記共焦点ピンホールを通過する光量が最大となるように、前記共焦点検出ステップによって集光される前記観察光の第2集光位置を該観察光の光路方向に移動させる第2集光位置移動ステップと、
を含むことを特徴とするレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006174465A JP4874012B2 (ja) | 2005-07-11 | 2006-06-23 | レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005202004 | 2005-07-11 | ||
JP2005202004 | 2005-07-11 | ||
JP2006174465A JP4874012B2 (ja) | 2005-07-11 | 2006-06-23 | レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007047754A JP2007047754A (ja) | 2007-02-22 |
JP4874012B2 true JP4874012B2 (ja) | 2012-02-08 |
Family
ID=37850582
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006174465A Expired - Fee Related JP4874012B2 (ja) | 2005-07-11 | 2006-06-23 | レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4874012B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4928351B2 (ja) * | 2007-05-25 | 2012-05-09 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
JP6116142B2 (ja) * | 2012-06-21 | 2017-04-19 | オリンパス株式会社 | 走査型共焦点レーザ顕微鏡 |
JP6196825B2 (ja) * | 2013-07-09 | 2017-09-13 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、及び、試料の屈折率測定方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11183806A (ja) * | 1997-12-18 | 1999-07-09 | Nikon Corp | コンフォーカル顕微鏡 |
JP2002148521A (ja) * | 2000-11-14 | 2002-05-22 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
JP2002277746A (ja) * | 2001-03-22 | 2002-09-25 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法 |
JP4391806B2 (ja) * | 2003-11-27 | 2009-12-24 | オリンパス株式会社 | 光学顕微鏡 |
JP4468684B2 (ja) * | 2003-12-05 | 2010-05-26 | オリンパス株式会社 | 走査型共焦点顕微鏡装置 |
-
2006
- 2006-06-23 JP JP2006174465A patent/JP4874012B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007047754A (ja) | 2007-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1744194B1 (en) | Laser scanning microscope and image acquiring method of laser scanning microscope | |
EP2316048B1 (en) | Optical arrangement for oblique plane microscopy | |
US9030734B2 (en) | Scanning microscope, and method for light microscopy imaging of a specimen | |
EP2317363B2 (en) | Microscope connecting unit and microscope system | |
EP1857853B1 (en) | Illuminating device | |
US7554664B2 (en) | Laser scanning microscope | |
JP5006694B2 (ja) | 照明装置 | |
US10514533B2 (en) | Method for creating a microscope image, microscopy device, and deflecting device | |
US7480046B2 (en) | Scanning microscope with evanescent wave illumination | |
JP4820759B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
US6924490B2 (en) | Microscope system | |
JP6178656B2 (ja) | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 | |
US20170192217A1 (en) | Optical-axis-direction scanning microscope apparatus | |
JP5058625B2 (ja) | レーザ顕微鏡 | |
JP4818634B2 (ja) | 走査型蛍光観察装置 | |
JP5495740B2 (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
JP4874012B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 | |
US20090296209A1 (en) | Microscope | |
JP6127818B2 (ja) | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 | |
JP4792230B2 (ja) | 蛍光顕微鏡装置 | |
JP2008026643A (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP4869562B2 (ja) | 走査型共焦点顕微鏡 | |
US11366301B2 (en) | Method and apparatus for imaging samples by means of manipulated excitation radiation | |
JP2018194634A (ja) | ライトフィールド顕微鏡 | |
JP4700334B2 (ja) | 全反射蛍光顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080723 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110426 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110610 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110802 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110930 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111115 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111122 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4874012 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |