JP6284372B2 - 走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 - Google Patents

走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 Download PDF

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Description

本発明は、走査型レーザ顕微鏡に関するものである。
ヒトゲノムの解読以降、癌などの疾患機序や心臓・脳神経といった各臓器の発生/分化機序など、細胞単位の生物学的な挙動が分子レベルで解明されるようになっている。そして、顕微鏡を用いて細胞などの生体サンプルを観察する場合には、タンパクやDNA/RNAなど、生体分子1個レベルの挙動を観測することが求められている。このため、光学分解能を上回る超解像観察の重要性が増々高まっている。
従来、複数の検出素子からなるCCDやPMTアレイのような検出器を用いて回折限界を上回る解像度(超解像)の画像を取得する技術が知られている(例えば、非特許文献1参照。)。非特許文献1に記載の技術は、2次元検出器アレイを対物レンズの焦点位置と共役な位置に配置し、スキャナにより標本上で走査させたレーザ光のスポットからの戻り光のスポットを複数の検出素子により細分化して検出するようになっている。そして、レーザ光の走査に従い異なる検出タイミングで異なる検出素子により検出される同一の標本位置からの戻り光の光強度信号どうしを合算した画素値をスキャナの走査位置に対応づけて配列することで、標本の超解像の画像を生成するようになっている。
"Image Scanning Microscopy"Physical Review Letters 104,198101(2010)http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.104.198101
しかしながら、非特許文献1に記載の技術により超解像効果を得るには、2次元検出器アレイに入射させる戻り光のスポットの位置と各検出素子の位置とを合致させる必要があり、戻り光のスポットの位置と各検出素子との位置関係がずれてしまうと、画像形成を正しく行うことができないという不都合がある。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、所期の超解像効果を有する画像を簡易かつ精度よく生成することができる走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、光源から発せられたレーザ光を標本上で走査させる走査部と、該走査部により走査されたレーザ光を前記標本に照射する一方、該標本からの戻り光を集光する対物レンズと、該対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な複数の検出素子を有する検出部と、該検出部のON状態の各前記検出素子から出力される光強度信号を比較し、前記戻り光の強度が最も強くなる検出素子に前記戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと判断して、前記検出部に入射する前記戻り光のスポットの中心位置を算出する算出部と、該算出部により算出された前記スポットの中心位置と前記検出部におけるON状態の選択範囲の中心の前記検出素子とが合致するように、ON状態に切り替える前記検出素子の選択範囲を調整する制御部とを備える走査型レーザ顕微鏡を提供する。
本発明によれば、光源から発せられたレーザ光が走査部により走査されて対物レンズにより標本に照射され、標本におけるレーザ光のスポットから戻る戻り光が対物レンズにより集光されて検出部に入射し、複数の検出素子により戻り光のスポットが細分化されて検出される。したがって、レーザ光の走査に従い異なる検出タイミングで異なる検出素子により検出される同一の標本位置からの戻り光の光強度信号どうしを合算した画素値を走査部の走査位置に対応づけて配列することで、標本の超解像の画像を生成することができる。
そして、本態様によれば、算出部により戻り光のスポットの中心位置が算出されるので、戻り光のスポットの中心位置が検出部の中心位置に一致するように戻り光のスポットと検出部とを相対移動させれば、戻り光のスポットと検出部の各検出素子とを容易に位置合わせすることができる。これにより、仮に戻り光のスポットと各検出素子との位置関係がずれた場合であっても、戻り光のスポットの位置と各検出素子の位置とを容易に合致させて、所期の超解像効果を有する画像を簡易かつ精度よく生成することができる。
上記発明においては、前記算出部が、前記検出素子の出力を比較し、前記戻り光の強度が最も強くなる検出素子に前記戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと判断する
戻り光はスポットの中央付近ほど強度が強い傾向がある。したがって、強度が最も強い戻り光を検出した検出素子に戻り光のスポットが配置されているとみなすことで、戻り光のスポットの中心位置を容易に算出することができる。
本発明は、光源から発せられたレーザ光を走査部により走査させて対物レンズにより標本上に照射し、前記対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に2次元的に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な検出器アレイの複数の微小検出素子により前記標本からの戻り光を検出し、前記検出器アレイのON状態の各前記微小検出素子の出力を比較して、戻り光の強度が最も強くなる前記微小検出素子に戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと決定し、前記検出器アレイのON状態に切り替える前記微小検出素子の選択範囲を調整して、前記スポットの中心位置と前記検出器アレイにおけるON状態の前記選択範囲の中心の前記微小検出素子とを一致させ、前記走査部による前記レーザ光の走査に従い、異なる検出タイミングで異なるON状態の前記微小検出素子により検出された同一の前記標本位置からの戻り光の光強度信号どうしを合算して前記標本の超解像画像を生成する超解像画像生成方法を提供する。
上記発明においては、前記検出器アレイが、奇数×奇数の前記検出素子を有することとしてもよい。
上記発明においては、前記対物レンズまたは前記レーザ光の波長を変更した場合に前記戻り光のスポットの中心位置を算出することとしてもよい。
上記発明においては、前記算出部により算出された前記スポットの中心位置と前記検出部の中心位置とが合致するように、前記検出部または前記検出素子の選択範囲を移動させる制御部を備えることとしてもよい。
このように構成することで、戻り光のスポットと複数の検出素子との位置関係がずれた場合であっても、制御部により、戻り光のスポットと検出部の各検出素子とを自動的に位置合わせすることができる。
上記発明においては、前記算出部により算出された前記スポットの中心位置と前記検出部の中心位置とが合致するように、前記検出部における前記戻り光のスポットの入射位置を移動させる制御部を備えることとしてもよい。
このように構成することで、戻り光のスポットと複数の検出素子との位置関係がずれた場合であっても、制御部により、戻り光のスポットと検出部の各検出素子とを自動的に位置合わせすることができる。
上記発明においては、前記検出部に入射する前記戻り光のスポットを角度に応じて移動可能な平行平面ガラスを備え、前記制御部が、前記平行平面ガラスの角度を変更することとしてもよい。
このように構成することで、制御部により平行平面ガラスの角度を変更するだけで、検出部に入射する戻り光のスポットを移動させて、戻り光のスポットの中心位置と検出部の中心位置とを容易に合致させることができる。
上記発明においては、前記検出部が、奇数×奇数の前記検出素子を有することとしてもよい。
このように構成することで、いずれか1つの検出素子を中心に各検出素子を2次元的に配置することにより、戻り光のスポットの中心を検出部の中央に配された1つの検出素子に一致させることができる。これにより、戻り光の輝度に相当するより高精度な光強度信号を得ることができる。
上記発明においては、前記算出部が、前記対物レンズまたはレーザ光の波長を変更した場合に前記戻り光のスポットの中心位置を算出することとしてもよい。
対物レンズやレーザ光の波長を変更すると、戻り光のスポットと各検出素子との位置関係がずれる場合があるが、このように構成することで、対物レンズやレーザ光の波長を変更した場合に算出部により戻り光のスポットの中心位置を自動的に算出して、制御部により戻り光のスポットの位置と検出部の各検出素子の位置とを合致させることができる。したがって、変更後の対物レンズやレーザ光の波長により、所期の超解像効果を有する画像を簡易かつ精度よく生成することができる。
本発明によれば、所期の超解像効果を有する画像を簡易かつ精度よく生成することができるという効果を奏する。
本発明の第1実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡を示す概略構成図である。 図1のアレイ型検出器を示す概略図である。 図1のアレイ型検出器と電動ステージを示す概略図である。 蛍光のスポットの位置と微小検出素子の位置とがずれた状態を示す図である。 蛍光のスポットの位置と微小検出素子の位置とを合致させた状態を示す図である。 本発明の第2実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡のビーム偏向板を示す図である。 本発明の第3実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡の共焦点ピンホールを示す図である。 本発明の第3実施形態の変形例に係る走査型レーザ顕微鏡の絞りを示す図である。
〔第1実施形態〕
本発明の第1実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100は、図1に示すように、レーザ光を発生するレーザユニット10と、レーザユニット10から発せられたレーザ光を導光するシングルモードファイバ11と、シングルモードファイバ11により導光されたレーザ光を平行光に整形するコリメートレンズ13と、平行光に整形されたレーザ光を反射可能な3つの励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cと、励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cのいずれかにより反射されたレーザ光を偏向するガルバノスキャナ(走査部)17と、偏向されたレーザ光をリレーする瞳投影レンズ19と、リレーされたレーザ光を反射する反射ミラー21と、反射ミラー21により反射されたレーザ光を集光して像を結像させる結像レンズ23と、結像レンズ23により集光されたレーザ光を標本Sに照射する一方、標本Sにおいて発生する蛍光を集光する対物レンズ25とを備えている。
また、走査型レーザ顕微鏡100には、対物レンズ25により集光されてレーザ光の光を戻り、ガルバノスキャナ17によりデスキャンされて光路上の励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cを透過した蛍光を集光する共焦点レンズ27と、共焦点レンズ27により集光された蛍光を検出するアレイ型検出器(検出部)29と、アレイ型検出器29により取得された光強度信号を演算処理する超解像演算部(算出部)31と、音響光学素子9、ガルバノスキャナ17およびアレイ型検出器29を制御する制御部33とが備えられている。
レーザユニット10は、蛍光色素で染色した標本Sに対してその励起波長の各レーザ光を出力することができるようになっている。このレーザユニット10は、例えば、励起波長488nmのレーザ光を発振するArレーザ装置(光源)1Aと、励起波長543nmのレーザを発振するHeNe−Gレーザ装置(光源)1Bと、励起波長633nmのレーザ光を発振するHeNe−Rレーザ装置(光源)1Cとを備えている。
また、レーザユニット10には、Arレーザ装置1Aから発せられたレーザ光を反射する反射ミラー3と、波長488nmと波長543nmの2つの波長のレーザ光を合成するダイクロイックミラー5と、波長488nmと波長543nmと波長633nmの3つの波長のレーザ光を合成するダイクロイックミラー7と、各波長488nm、543nm、633nmのうち任意の波長のレーザ光を選択する音響光学素子(AOTF)9とが備えられている。
3つの励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cは、コリメートレンズ13を透過したレーザ光の光路上に選択的に挿脱可能に配置されている。これら励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cは、それぞれコリメートレンズ13からのレーザ光を反射する一方、標本Sからの蛍光を透過する特性を有している。
具体的には、励起ダイクロイックミラー15Aは、各励起波長488nm,543nm,633nmのレーザ光を反射し、これらのレーザ光により励起された標本Sからの蛍光を透過させるようになっている。励起ダイクロイックミラー15Bは、励起波長488nmのレーザ光を反射し、励起波長488nmよりも長い波長の光を透過させるようになっている。励起ダイクロイックミラー15Cは、励起波長543nmのレーザ光を反射し、励起波長543nmよりも長い波長の光を透過させるようになっている。
これらの励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cは、観察する標本Sの種類により使い分けられる。例えば、励起波長633nmのレーザ光のみを用いて蛍光観察するときや複数の励起波長を用いて多重蛍光観察するときは、励起ダイクロイックミラー15Aを使用する。また、励起波長488nmのレーザ光のみを用いて蛍光観察するときは、励起ダイクロイックミラー15Bを使用する。また、励起波長543nmのレーザ光のみを用いて蛍光観察するときは、励起ダイクロイックミラー15Cを使用する。これにより、蛍光の取り込み効率を向上することができる。
ガルバノスキャナ17は、互いに直交する揺動軸回りに揺動可能な一対のXガルバノミラー(走査部材)17AおよびYガルバノミラー(走査部材)17Bを備えている。Xガルバノミラー17Aはレーザ光を水平方向に走査し、Yガルバノミラー17Bはレーザ光を垂直方向に走査するようになっている。
これらXYガルバノミラー17A,17Bは、励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cによるレーザ光の反射光路上に配置されており、励起波長488nm、543nm、633nmの各レーザ光を標本S上で2次元的に(X方向およびY方向)に走査することができるようになっている。
共焦点レンズ27は、励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cからの蛍光を集光して結像し、アレイ型検出器29に蛍光のコンフォーカルスポット(スポット)を投影するようになっている。
アレイ型検出器29としては、例えば、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサやCCDイメージセンサを用いることができる。このアレイ型検出器29は、図2に示すように、例えば2次元的に配列された7×7個の奇数の微小検出素子(検出素子)30を有している。
これら微小検出素子30は、対物レンズ25の焦点位置と光学的に共役な位置に配置されている。また、各微小検出素子30は、入射した蛍光のコンフォーカルスポットを細分化して検出し、検出した蛍光を光電変換して標本Sの画像情報としての光強度信号を出力するようになっている。
このアレイ型検出器29は、図3に示すような電動ステージ35により支持されており、電動ステージ35によりX方向およびY方向に位置をずらすことができるようになっている。電動ステージ35は、例えば、図示しないモータまたはピエゾ素子により駆動するようになっている。
超解像演算部31は、アレイ型検出器29の各微小検出素子30から出力される光強度信号に基づいて、アレイ型検出器29に入射する蛍光のコンフォーカルスポットの強度分布を計測し、強度分布のピーク位置、すなわちコンフォーカルスポットの中心位置を算出するようになっている。例えば、超解像演算部31は、各微小検出素子30の光強度信号を比較し、蛍光の強度が最も強くなる微小検出素子30に蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置が配置されていると判断するようになっている。
制御部33は、レーザユニット10からArレーザ装置1A、HeNe−Gレーザ装置1BまたはHeNe−Rレーザ装置1Cを作動させ、音響光学素子9によりその波長のレーザ光を選択的に射出させるようになっている。また、制御部33は、XYガルバノミラー17A,17Bを走査駆動し、XYガルバノミラー17A,17Bの行きの揺動動作中にレーザ光を走査させるようになっている。
また、制御部33は、微小検出素子30のON/OFFを個々に切り替えて、ONする範囲を選択するようになっている。また、制御部33は、電動ステージ35をXY駆動することにより、蛍光のコンフォーカルスポットの位置に対してアレイ型検出器29の位置をX方向およびY方向にずらすようになっている。そして、制御部33は、超解像演算部31により算出された蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置に従って、蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置とアレイ型検出器29の中心位置とが合致するようにアレイ型検出器29のX方向およびY方向の位置を調整するようになっている。
さらに、制御部33は、ガルバノスキャナ17によるレーザ光の走査に従い、異なる検出タイミングで異なる微小検出素子30により検出される同一の標本位置からの蛍光の光強度信号どうしを合算するようになっている。そして、制御部33は、合算した画素値をガルバノスキャナ17の走査位置に対応づけて配列することにより標本Sの画像を生成するようになっている。
このように構成された走査型レーザ顕微鏡100の作用について説明する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100により標本Sを観察するには、まず、アレイ型検出器29に入射する蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29の各微小検出素子30との位置関係を調整する。この場合、標本Sに蛍光標識を付与し、制御部33により音響光学素子9およびアレイ型検出器29を作動させる。
例えば、制御部33により、レーザユニット10の音響光学素子9に対してArレーザ装置1Aを選択する指令を出力し、Arレーザ装置1Aから出力される励起波長488nmのレーザ光を音響光学素子9により選択してレーザユニット10から射出させる。
レーザユニット10から射出された励起波長488nmのレーザ光は、シングルモードファイバ11により伝送されてコリメートレンズ13に導光され、コリメートレンズ13により平行光に整形されて励起ダイクロイックミラー15により反射される。励起ダイクロイックミラー15により反射されたレーザ光は、ガルバノスキャナ17を介して瞳投影レンズ19を透過し、反射ミラー21で反射されて結像レンズ23、対物レンズ25を介して標本S上に光スポットとして結像される。
レーザ光の光スポットが結像することにより蛍光標識が励起されて例えば中心波長520nmの蛍光が発生すると、その蛍光は対物レンズ25により集光されてレーザ光の光路を戻る。そして、蛍光は、結像レンズ23、反射ミラー21、瞳投影レンズ19、ガルバノスキャナ17A,17Bを介して励起ダイクロイックミラー15Aを透過し、共焦点レンズ27より集光されてアレイ型検出器29に入射する。
アレイ型検出器29においては、共焦点レンズ27により投影された蛍光のコンフォーカルスポットが複数の微小検出素子30により細分化されて検出され、微小検出素子30ごとに検出した蛍光が光電変換されて画像情報としての光強度信号が出力される。
各微小検出素子30から出力された光強度信号は、制御部33を介して超解像演算部31に送られ、超解像演算部31により互いに比較される。そして、超解像演算部31により、蛍光の強度が最も強くなる微小検出素子30が検出され、その微小検出素子30の位置により蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置が算出される。
次いで、例えば、図4に示すように、超解像演算部31により算出された蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置がアレイ型検出器29の中央に配された微小検出素子30からずれている場合は、制御部33により、蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置とアレイ型検出器29の中央の微小検出素子30の位置とが合致するように電動ステージ35がXY駆動される。
電動ステージ35の駆動により、図5に示すように、アレイ型検出器29のX方向およびY方向の位置が調整されて蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置がアレイ型検出器29の中央の微小検出素子30に移動する。これにより、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29の各微小検出素子30とが位置合わせされる。
蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29の各微小検出素子30との位置合わせが終了したら、レーザ光を走査させて標本Sの画像を生成する。この場合、制御部33によりガルバノスキャナ17を作動させ、レーザユニット10から発せられたレーザ光をガルバノスキャナ17により偏向して標本S上で2次元的に走査させる。
ガルバノスキャナ17の作動により、標本S上に結像される光スポットは、Xガルバノミラー17Aによって水平方向に走査され、次にYガルバノミラー17Bによって垂直方向に1画素分走査され、再びXガルバノミラー17Aによって水平方向に走査されることが繰り返される。
次いで、レーザ光が走査されることにより標本Sにおいて発生してアレイ型検出器29に入射する蛍光のコンフォーカルスポットを複数の微小検出素子30により細分化して検出する。これにより、レーザ光の走査に従い、異なる検出タイミングで異なる微小検出素子30によって同一の標本位置からの蛍光が検出される。
次いで、制御部33により、レーザ光の走査に従って異なる検出タイミングで異なる微小検出素子30によって検出された同一の標本位置からの蛍光の光強度信号どうしが合算され、その画素値がガルバノスキャナ17の走査位置に対応づけて配列される。この結果、仮想的に共焦点ピンホールを絞った状態になり解像度を向上した画像を生成することができる。これにより、ユーザは、標本Sの超解像の画像に基づいて標本Sを精度よく観察することができる。
以上説明したように、本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100によれば、アレイ型検出器29に入射する蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置がアレイ型検出器29の中心位置に一致するようにアレイ型検出器29のXY方向の位置を調整することで、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29の各微小検出素子30とを容易に位置合わせすることができる。これにより、仮に蛍光のコンフォーカルスポットと各微小検出素子30との位置関係がずれた場合であっても、蛍光のコンフォーカルスポットの位置と各微小検出素子30の位置とを容易に合致させて、所期の超解像効果を有する画像を簡易かつ精度よく生成することができる。
また、アレイ型検出器29が奇数の複数の微小検出素子30を有することで、いずれか1つの微小検出素子30を中心に各微小検出素子30を2次元的に配置し、蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置をアレイ型検出器29の中央に配された1つの微小検出素子30の位置に一致させることができる。これにより、蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置が複数の微小検出素子30の位置に跨る場合と比較して、高精度な光強度信号を得ることができる。
本実施形態においては、例えば、励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cや対物レンズ25等の光学素子、あるいはレーザユニット10から発生させるレーザ光の波長等を変更すると、超解像演算部31が蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置を算出し、制御部33により蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置に基づいてアレイ型検出器29のXY方向の位置を調整することが望ましい。
励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cや対物レンズ25あるいはレーザ光の波長を変更すると、蛍光のコンフォーカルスポットと各微小検出素子30との位置関係がずれる場合があるが、このようにすることで、対物レンズ25等やレーザ光の波長を変更した場合に超解像演算部31により蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置を自動的に算出して、制御部33により蛍光のコンフォーカルスポットの位置と各微小検出素子30の位置とを合致させることができる。したがって、変更後の対物レンズ25等やレーザ光の波長により、所期の超解像効果を有する画像を簡易かつ精度よく生成することができる。
本実施形態においては、アレイ型検出器29のX方向およびY方向の位置を調整することとしたが、これに代えて、例えば、制御部33により、ONする微小検出素子30の選択範囲を調整することとしてもよい。この場合、超解像演算部31により算出された蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置が選択範囲の中央の微小検出素子30の位置に合致するように、制御部33によりONする微小検出素子30の選択範囲を調整することとすればよい。
また、本実施形態においては、超解像演算部31が、蛍光の強度が最も強くなる微小検出素子30に蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置が配置されていると判断することとしたが、例えば、超解像演算部31が、蛍光のコンフォーカルスポットにおける強度分布の加重平均を算出し、該当する微小検出素子30に蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置が配置されていると判断することとしてもよい。
また、超解像演算部31が蛍光のコンフォーカルスポットの強度分布をあらかじめ記憶しておき、各微小検出素子30の強度分布と照合して蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置を算出することとしてもよい。このようにすることで、蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置を微小検出素子単位よりも細かく推定して、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29の各微小検出素子30とをより高精度に位置合わせすることができる。
〔第2実施形態〕
次に、本発明の第2実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡200は、図6に示すように、ガラス板からなるビーム偏向板(平行平面ガラス)37を備え、ビーム偏向板37の制御により、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29とを相対移動させる点で第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
ビーム偏向板37は、互いに板厚方向に平行に間隔を空けて配された均一な一定の厚さを有する一対のガラス板により構成されており、共焦点レンズ27とアレイ型検出器29との間の光路上に配置されている。
このビーム偏向板37は、例えば、図示しないモータにより、X軸回りおよびY軸回りに角度を変更することができるようになっている。また、ビーム偏向板37は、蛍光の入射角度を変えることにより、透過させる蛍光を入射角度に応じて平行移動させることができるようになっている。
制御部33は、ビーム偏向板37をX軸回りおよびY軸回りに角度を変更して蛍光の入射角度を変えることにより、アレイ型検出器29に入射させる蛍光のコンフォーカルスポットの位置をX方向およびY方向にずらすようになっている。そして、制御部33は、超解像演算部31により算出された蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置に従って、蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置とアレイ型検出器29の中心位置とが合致するようにビーム偏向板37のX軸回りおよびY軸回りの角度を調整するようになっている。
このような構成によれば、アレイ型検出器29に入射する蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置がアレイ型検出器29の中央に配された微小検出素子30からずれている場合は、制御部33により、超解像演算部31によって算出された蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置とアレイ型検出器29の中央の微小検出素子30の位置とが合致するようにビーム偏向板37のモータが駆動される。
これにより、ビーム偏向板37のX軸回りおよびY軸回りの角度が調整されて蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置がアレイ型検出器29の中央の微小検出素子30に移動し、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29の各微小検出素子30とが位置合わせされる。
したがって、本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡200によれば、制御部33によりビーム偏向板37の角度を変更するだけで、アレイ型検出器29に入射する蛍光のコンフォーカルスポットを移動させて、蛍光のコンフォーカルスポットの中心位置とアレイ型検出器29の中心位置とを容易に合致させることができる。
本実施形態においては、ビーム偏向板37を収差補正しておくことが望ましい。このようにすることで、ビーム偏向板37の非球面収差によって蛍光の形状が僅かに変化する場合であっても、その影響を回避することができる。
〔第3実施形態〕
次に、本発明の第3実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡300は、図7に示すように、共焦点レンズ27によって集光された蛍光の光束を制限する共焦点ピンホール39と、共焦点ピンホール39を通過した蛍光を集光して結像し、アレイ型検出器29に蛍光のコンフォーカルスポットを再投影する再投影レンズ41とを備える点で第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
共焦点ピンホール39は、標本Sの観察面と共役な位置に配置されている。また、共焦点ピンホール39は、共焦点レンズ27により焦点位置に投影される蛍光のコンフォーカルスポットよりも若干大きい開口を有しており、標本Sにおけるレーザ光の焦点面外からの迷光のような光は遮断することができるようになっている。
このように構成された走査型レーザ顕微鏡300によれば、共焦点レンズ27より集光された蛍光は、共焦点ピンホール39を通過した後、再投影レンズ41により集光されてアレイ型検出器29に入射する。これにより、標本Sにおけるレーザ光の焦点面外からの光を遮断して、アレイ型検出器29に再投影された標本Sにおけるレーザ光の焦点面から発生した蛍光のみを各微小検出素子30により検出して標本Sの画像を生成することができる。
本実施形態においては、第2実施形態と同様に、ビーム偏向板37を用いて、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29とを相対移動させることとしてもよい。
また、本実施形態においては、図示しないターレット等により、開口径が異なる複数の共焦点ピンホール39を蛍光の光路上に選択的に配置することができるようにしてもよい。このようにすることで、対物レンズ25やレーザ光の波長の切り替えに合わせて光路に配置する共焦点ピンホール39を変更し、結像条件を最適化することができる。
また、本実施形態は共焦点ピンホール39を採用することとしたが、これに代えて、例えば、図8に示すように、共焦点レンズ27により焦点位置に投影される蛍光のコンフォーカルスポットよりも若干大きい開口を有し、標本Sにおけるレーザ光の焦点面外からの迷光のような光は遮断する絞り43を採用することとしてもよい。
この場合、絞り43は、アレイ型検出器29の直前の光路上に配置することとすればよい。このようにすることで、絞り43により、共焦点ピンホール39を用いた場合と同様の効果を奏することができる。本実施形態は、絞り43とアレイ型検出器29のサイズに差がある場合に有効である。
本変形例においては、絞り43は、開口径が調節可能であることが好ましい。このようにすることで、対物レンズ25やレーザ光の波長の切り替えに合わせて絞り43の開口径を変更し、結像条件を最適化することができる。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本発明を上記の各実施形態に適用したものに限定されることなく、これらの実施形態を適宜組み合わせた実施形態に適用してもよく、特に限定されるものではない。
また、上記各実施形態においては、検出部として、CMOSイメージセンサやCCDイメージセンサのようなアレイ型検出器29を例示して説明したが、これに代えて、例えば、浜松ホトニクス(株)製のH8711(4×4の検出素子)やH7546(8×8の検出素子)のような複数の検出素子を有するマルチアノードPMT(光電子増倍管)を採用することとしてもよい。検出部が3×3個以上の検出素子を有する場合は、蛍光を検出させる検出素子が円形に近い配置となるようにONする検出素子を選択することが望ましい。
1A Arレーザ装置(光源)
1B HeNe−Gレーザ装置(光源)
1C HeNe−Rレーザ装置(光源)
17 ガルバノスキャナ(走査部)
25 対物レンズ
29 アレイ型検出器(検出部)
30 微小検出素子(検出素子)
31 超解像演算部(算出部)
33 制御部
37 ビーム偏向板(平行平面ガラス)
100,200,300 走査型レーザ顕微鏡
S 標本

Claims (6)

  1. 光源から発せられたレーザ光を標本上で走査させる走査部と、
    該走査部により走査されたレーザ光を前記標本に照射する一方、該標本からの戻り光を集光する対物レンズと、
    該対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な複数の検出素子を有する検出部と、
    該検出部のON状態の各前記検出素子から出力される光強度信号を比較し、前記戻り光の強度が最も強くなる検出素子に前記戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと判断して、前記検出部に入射する前記戻り光のスポットの中心位置を算出する算出部と
    該算出部により算出された前記スポットの中心位置と前記検出部におけるON状態の選択範囲の中心の前記検出素子とが合致するように、ON状態に切り替える前記検出素子の選択範囲を調整する制御部とを備える走査型レーザ顕微鏡。
  2. 前記検出部が、奇数×奇数の前記検出素子を有する請求項1に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  3. 前記算出部が、前記対物レンズまたはレーザ光の波長を変更した場合に前記戻り光のスポットの中心位置を算出する請求項1または請求項2に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  4. 光源から発せられたレーザ光を走査部により走査させて対物レンズにより標本上に照射し、
    前記対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に2次元的に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な検出器アレイの複数の微小検出素子により前記標本からの戻り光を検出し、
    前記検出器アレイのON状態の各前記微小検出素子の出力を比較して、戻り光の強度が最も強くなる前記微小検出素子に戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと決定し、
    前記検出器アレイのON状態に切り替える前記微小検出素子の選択範囲を調整して、前記スポットの中心位置と前記検出器アレイにおけるON状態の前記選択範囲の中心の前記微小検出素子とを一致させ、
    前記走査部による前記レーザ光の走査に従い、異なる検出タイミングで異なるON状態の前記微小検出素子により検出された同一の前記標本位置からの戻り光の光強度信号どうしを合算して前記標本の超解像画像を生成する超解像画像生成方法。
  5. 前記検出器アレイが、奇数×奇数の前記検出素子を有する請求項4に記載の超解像画像生成方法。
  6. 前記対物レンズまたは前記レーザ光の波長を変更した場合に前記戻り光のスポットの中心位置を算出する請求項4または請求項5に記載の超解像画像生成方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3538941B1 (en) 2016-11-10 2025-04-23 The Trustees of Columbia University in the City of New York Rapid high-resolution imaging methods for large samples
WO2023157098A1 (ja) * 2022-02-15 2023-08-24 株式会社ニコン 顕微鏡、画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
CN120275349B (zh) * 2025-04-02 2026-01-27 深圳大学 一种基于像素重定位的超分辨荧光寿命显微成像方法及系统

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53110553A (en) * 1977-03-08 1978-09-27 Sony Corp Measurement apparatus of gradients of curved faces
US6051835A (en) * 1998-01-07 2000-04-18 Bio-Rad Laboratories, Inc. Spectral imaging apparatus and methodology
JPH11237554A (ja) * 1998-02-23 1999-08-31 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡
EP1121582A4 (en) * 1998-08-21 2002-10-23 Surromed Inc NEW OPTICAL ARCHITECTURES FOR LASER SCANNING MICROVOLUMENCYTOMETERS
DE102004034960A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Korrektur-Vorrichtung für eine optische Anordnung und konfokales Mikroskop mit einer solchen Vorrichtung
JP2009014838A (ja) * 2007-07-02 2009-01-22 Nikon Corp 走査型共焦点顕微鏡
WO2009085218A1 (en) * 2007-12-21 2009-07-09 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
JP2010066479A (ja) * 2008-09-10 2010-03-25 Olympus Corp 光学ユニット調整装置及び光学ユニット調整方法
JP2010102332A (ja) * 2008-09-29 2010-05-06 Nikon Corp 光活性化限局顕微鏡及び光活性化限局観察方法
US8445867B2 (en) * 2010-02-23 2013-05-21 Board Of Trustees Of The University Of Illinois Photobleaching and intermittency localization microscopy
CA2824447C (en) * 2010-12-24 2018-03-20 Huron Technologies International Inc. Pathology slide scanner
US8866063B2 (en) * 2011-03-31 2014-10-21 The Regents Of The University Of California Lens-free wide-field super-resolution imaging device
US20130015370A1 (en) * 2011-07-15 2013-01-17 Huron Technologies International In Confocal fluorescence slide scanner with parallel detection
EP2737356A1 (en) * 2011-07-25 2014-06-04 Mad City Labs, Inc. Active-feedback positional drift correction in a microscope image using a fiduciary element held on a nanopositioning stage
JP2015505979A (ja) * 2011-11-23 2015-02-26 プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ 高い空間的および/または時間的精度での撮像のためのシステムおよび方法
CN104661704B (zh) * 2012-07-18 2017-04-12 普林斯顿大学托管委员会 多量级光谱纳米显微镜
EP2898312B1 (en) * 2012-09-24 2021-03-24 Global Life Sciences Solutions USA LLC Methods for resolving positions in fluorescence stochastic microscopy using three-dimensional structured illumination.
EP2713195B1 (en) * 2012-09-28 2017-04-12 Universität Heidelberg High resolution microscopy by means of structured illumination at large working distances
WO2014200648A2 (en) * 2013-06-14 2014-12-18 Kla-Tencor Corporation System and method for determining the position of defects on objects, coordinate measuring unit and computer program for coordinate measuring unit
US9494777B2 (en) * 2013-08-22 2016-11-15 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junio Multi-foci laser scanning microscope and use of same for analyzing samples

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