JP6284372B2 - 走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 - Google Patents
走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6284372B2 JP6284372B2 JP2014008573A JP2014008573A JP6284372B2 JP 6284372 B2 JP6284372 B2 JP 6284372B2 JP 2014008573 A JP2014008573 A JP 2014008573A JP 2014008573 A JP2014008573 A JP 2014008573A JP 6284372 B2 JP6284372 B2 JP 6284372B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spot
- light
- detection
- laser
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0064—Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0072—Optical details of the image generation details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
- G01N2021/6419—Excitation at two or more wavelengths
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
本発明は、光源から発せられたレーザ光を標本上で走査させる走査部と、該走査部により走査されたレーザ光を前記標本に照射する一方、該標本からの戻り光を集光する対物レンズと、該対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な複数の検出素子を有する検出部と、該検出部のON状態の各前記検出素子から出力される光強度信号を比較し、前記戻り光の強度が最も強くなる検出素子に前記戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと判断して、前記検出部に入射する前記戻り光のスポットの中心位置を算出する算出部と、該算出部により算出された前記スポットの中心位置と前記検出部におけるON状態の選択範囲の中心の前記検出素子とが合致するように、ON状態に切り替える前記検出素子の選択範囲を調整する制御部とを備える走査型レーザ顕微鏡を提供する。
戻り光はスポットの中央付近ほど強度が強い傾向がある。したがって、強度が最も強い戻り光を検出した検出素子に戻り光のスポットが配置されているとみなすことで、戻り光のスポットの中心位置を容易に算出することができる。
本発明は、光源から発せられたレーザ光を走査部により走査させて対物レンズにより標本上に照射し、前記対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に2次元的に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な検出器アレイの複数の微小検出素子により前記標本からの戻り光を検出し、前記検出器アレイのON状態の各前記微小検出素子の出力を比較して、戻り光の強度が最も強くなる前記微小検出素子に戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと決定し、前記検出器アレイのON状態に切り替える前記微小検出素子の選択範囲を調整して、前記スポットの中心位置と前記検出器アレイにおけるON状態の前記選択範囲の中心の前記微小検出素子とを一致させ、前記走査部による前記レーザ光の走査に従い、異なる検出タイミングで異なるON状態の前記微小検出素子により検出された同一の前記標本位置からの戻り光の光強度信号どうしを合算して前記標本の超解像画像を生成する超解像画像生成方法を提供する。
上記発明においては、前記検出器アレイが、奇数×奇数の前記検出素子を有することとしてもよい。
上記発明においては、前記対物レンズまたは前記レーザ光の波長を変更した場合に前記戻り光のスポットの中心位置を算出することとしてもよい。
このように構成することで、戻り光のスポットと複数の検出素子との位置関係がずれた場合であっても、制御部により、戻り光のスポットと検出部の各検出素子とを自動的に位置合わせすることができる。
このように構成することで、戻り光のスポットと複数の検出素子との位置関係がずれた場合であっても、制御部により、戻り光のスポットと検出部の各検出素子とを自動的に位置合わせすることができる。
このように構成することで、制御部により平行平面ガラスの角度を変更するだけで、検出部に入射する戻り光のスポットを移動させて、戻り光のスポットの中心位置と検出部の中心位置とを容易に合致させることができる。
このように構成することで、いずれか1つの検出素子を中心に各検出素子を2次元的に配置することにより、戻り光のスポットの中心を検出部の中央に配された1つの検出素子に一致させることができる。これにより、戻り光の輝度に相当するより高精度な光強度信号を得ることができる。
対物レンズやレーザ光の波長を変更すると、戻り光のスポットと各検出素子との位置関係がずれる場合があるが、このように構成することで、対物レンズやレーザ光の波長を変更した場合に算出部により戻り光のスポットの中心位置を自動的に算出して、制御部により戻り光のスポットの位置と検出部の各検出素子の位置とを合致させることができる。したがって、変更後の対物レンズやレーザ光の波長により、所期の超解像効果を有する画像を簡易かつ精度よく生成することができる。
本発明の第1実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100は、図1に示すように、レーザ光を発生するレーザユニット10と、レーザユニット10から発せられたレーザ光を導光するシングルモードファイバ11と、シングルモードファイバ11により導光されたレーザ光を平行光に整形するコリメートレンズ13と、平行光に整形されたレーザ光を反射可能な3つの励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cと、励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cのいずれかにより反射されたレーザ光を偏向するガルバノスキャナ(走査部)17と、偏向されたレーザ光をリレーする瞳投影レンズ19と、リレーされたレーザ光を反射する反射ミラー21と、反射ミラー21により反射されたレーザ光を集光して像を結像させる結像レンズ23と、結像レンズ23により集光されたレーザ光を標本Sに照射する一方、標本Sにおいて発生する蛍光を集光する対物レンズ25とを備えている。
共焦点レンズ27は、励起ダイクロイックミラー15A,15B,15Cからの蛍光を集光して結像し、アレイ型検出器29に蛍光のコンフォーカルスポット(スポット)を投影するようになっている。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100により標本Sを観察するには、まず、アレイ型検出器29に入射する蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29の各微小検出素子30との位置関係を調整する。この場合、標本Sに蛍光標識を付与し、制御部33により音響光学素子9およびアレイ型検出器29を作動させる。
次に、本発明の第2実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡200は、図6に示すように、ガラス板からなるビーム偏向板(平行平面ガラス)37を備え、ビーム偏向板37の制御により、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29とを相対移動させる点で第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
次に、本発明の第3実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡300は、図7に示すように、共焦点レンズ27によって集光された蛍光の光束を制限する共焦点ピンホール39と、共焦点ピンホール39を通過した蛍光を集光して結像し、アレイ型検出器29に蛍光のコンフォーカルスポットを再投影する再投影レンズ41とを備える点で第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態においては、第2実施形態と同様に、ビーム偏向板37を用いて、蛍光のコンフォーカルスポットとアレイ型検出器29とを相対移動させることとしてもよい。
1B HeNe−Gレーザ装置(光源)
1C HeNe−Rレーザ装置(光源)
17 ガルバノスキャナ(走査部)
25 対物レンズ
29 アレイ型検出器(検出部)
30 微小検出素子(検出素子)
31 超解像演算部(算出部)
33 制御部
37 ビーム偏向板(平行平面ガラス)
100,200,300 走査型レーザ顕微鏡
S 標本
Claims (6)
- 光源から発せられたレーザ光を標本上で走査させる走査部と、
該走査部により走査されたレーザ光を前記標本に照射する一方、該標本からの戻り光を集光する対物レンズと、
該対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な複数の検出素子を有する検出部と、
該検出部のON状態の各前記検出素子から出力される光強度信号を比較し、前記戻り光の強度が最も強くなる検出素子に前記戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと判断して、前記検出部に入射する前記戻り光のスポットの中心位置を算出する算出部と、
該算出部により算出された前記スポットの中心位置と前記検出部におけるON状態の選択範囲の中心の前記検出素子とが合致するように、ON状態に切り替える前記検出素子の選択範囲を調整する制御部とを備える走査型レーザ顕微鏡。 - 前記検出部が、奇数×奇数の前記検出素子を有する請求項1に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 前記算出部が、前記対物レンズまたはレーザ光の波長を変更した場合に前記戻り光のスポットの中心位置を算出する請求項1または請求項2に記載の走査型レーザ顕微鏡。
- 光源から発せられたレーザ光を走査部により走査させて対物レンズにより標本上に照射し、
前記対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に2次元的に配列されたON/OFFを個々に切り替え可能な検出器アレイの複数の微小検出素子により前記標本からの戻り光を検出し、
前記検出器アレイのON状態の各前記微小検出素子の出力を比較して、戻り光の強度が最も強くなる前記微小検出素子に戻り光のスポットの中心位置が配置されているものと決定し、
前記検出器アレイのON状態に切り替える前記微小検出素子の選択範囲を調整して、前記スポットの中心位置と前記検出器アレイにおけるON状態の前記選択範囲の中心の前記微小検出素子とを一致させ、
前記走査部による前記レーザ光の走査に従い、異なる検出タイミングで異なるON状態の前記微小検出素子により検出された同一の前記標本位置からの戻り光の光強度信号どうしを合算して前記標本の超解像画像を生成する超解像画像生成方法。 - 前記検出器アレイが、奇数×奇数の前記検出素子を有する請求項4に記載の超解像画像生成方法。
- 前記対物レンズまたは前記レーザ光の波長を変更した場合に前記戻り光のスポットの中心位置を算出する請求項4または請求項5に記載の超解像画像生成方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014008573A JP6284372B2 (ja) | 2014-01-21 | 2014-01-21 | 走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 |
| US14/560,963 US9696532B2 (en) | 2014-01-21 | 2014-12-04 | Scanning laser microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014008573A JP6284372B2 (ja) | 2014-01-21 | 2014-01-21 | 走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015138091A JP2015138091A (ja) | 2015-07-30 |
| JP6284372B2 true JP6284372B2 (ja) | 2018-02-28 |
Family
ID=53544631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014008573A Active JP6284372B2 (ja) | 2014-01-21 | 2014-01-21 | 走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9696532B2 (ja) |
| JP (1) | JP6284372B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3538941B1 (en) | 2016-11-10 | 2025-04-23 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | Rapid high-resolution imaging methods for large samples |
| WO2023157098A1 (ja) * | 2022-02-15 | 2023-08-24 | 株式会社ニコン | 顕微鏡、画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
| CN120275349B (zh) * | 2025-04-02 | 2026-01-27 | 深圳大学 | 一种基于像素重定位的超分辨荧光寿命显微成像方法及系统 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53110553A (en) * | 1977-03-08 | 1978-09-27 | Sony Corp | Measurement apparatus of gradients of curved faces |
| US6051835A (en) * | 1998-01-07 | 2000-04-18 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Spectral imaging apparatus and methodology |
| JPH11237554A (ja) * | 1998-02-23 | 1999-08-31 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
| EP1121582A4 (en) * | 1998-08-21 | 2002-10-23 | Surromed Inc | NEW OPTICAL ARCHITECTURES FOR LASER SCANNING MICROVOLUMENCYTOMETERS |
| DE102004034960A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Korrektur-Vorrichtung für eine optische Anordnung und konfokales Mikroskop mit einer solchen Vorrichtung |
| JP2009014838A (ja) * | 2007-07-02 | 2009-01-22 | Nikon Corp | 走査型共焦点顕微鏡 |
| WO2009085218A1 (en) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | President And Fellows Of Harvard College | Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions |
| JP2010066479A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Olympus Corp | 光学ユニット調整装置及び光学ユニット調整方法 |
| JP2010102332A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-05-06 | Nikon Corp | 光活性化限局顕微鏡及び光活性化限局観察方法 |
| US8445867B2 (en) * | 2010-02-23 | 2013-05-21 | Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Photobleaching and intermittency localization microscopy |
| CA2824447C (en) * | 2010-12-24 | 2018-03-20 | Huron Technologies International Inc. | Pathology slide scanner |
| US8866063B2 (en) * | 2011-03-31 | 2014-10-21 | The Regents Of The University Of California | Lens-free wide-field super-resolution imaging device |
| US20130015370A1 (en) * | 2011-07-15 | 2013-01-17 | Huron Technologies International In | Confocal fluorescence slide scanner with parallel detection |
| EP2737356A1 (en) * | 2011-07-25 | 2014-06-04 | Mad City Labs, Inc. | Active-feedback positional drift correction in a microscope image using a fiduciary element held on a nanopositioning stage |
| JP2015505979A (ja) * | 2011-11-23 | 2015-02-26 | プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ | 高い空間的および/または時間的精度での撮像のためのシステムおよび方法 |
| CN104661704B (zh) * | 2012-07-18 | 2017-04-12 | 普林斯顿大学托管委员会 | 多量级光谱纳米显微镜 |
| EP2898312B1 (en) * | 2012-09-24 | 2021-03-24 | Global Life Sciences Solutions USA LLC | Methods for resolving positions in fluorescence stochastic microscopy using three-dimensional structured illumination. |
| EP2713195B1 (en) * | 2012-09-28 | 2017-04-12 | Universität Heidelberg | High resolution microscopy by means of structured illumination at large working distances |
| WO2014200648A2 (en) * | 2013-06-14 | 2014-12-18 | Kla-Tencor Corporation | System and method for determining the position of defects on objects, coordinate measuring unit and computer program for coordinate measuring unit |
| US9494777B2 (en) * | 2013-08-22 | 2016-11-15 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junio | Multi-foci laser scanning microscope and use of same for analyzing samples |
-
2014
- 2014-01-21 JP JP2014008573A patent/JP6284372B2/ja active Active
- 2014-12-04 US US14/560,963 patent/US9696532B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US9696532B2 (en) | 2017-07-04 |
| JP2015138091A (ja) | 2015-07-30 |
| US20150205086A1 (en) | 2015-07-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103339547B (zh) | 扫描显微镜和用于物体的光显微成像的方法 | |
| JP5340799B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
| JP5259154B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡 | |
| JP6996048B2 (ja) | 広視野高分解能顕微鏡 | |
| US7598502B2 (en) | Confocal laser scanning microscope | |
| CN110178069A (zh) | 显微镜设备、方法和系统 | |
| US8542438B2 (en) | Laser scanning microscope having a microelement array | |
| JP7003056B2 (ja) | 試料を結像する顕微鏡および方法 | |
| JP2007506955A (ja) | エバネッセント波照明を備えた走査顕微鏡 | |
| JP2005121796A (ja) | レーザー顕微鏡 | |
| JP2012019748A (ja) | 細胞観察装置および観察方法 | |
| JP6284372B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 | |
| US20230324661A1 (en) | Light-field microscopy image capturing method and light-field microscope | |
| JP4922628B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡 | |
| JP5734758B2 (ja) | レーザー顕微鏡 | |
| JP4722464B2 (ja) | 全反射蛍光照明装置 | |
| US20150253556A1 (en) | Confocal Incident-Light Scanning Microsope For Multipoint Scanning | |
| US10816472B2 (en) | Image acquisition device and image acquisition method | |
| JP4867354B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
| JP2002090628A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
| JP2008275791A (ja) | 走査型共焦点顕微鏡 | |
| US20060050375A1 (en) | Confocal microscope | |
| JP4793626B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
| JP2008241791A (ja) | 光ピンセット装置 | |
| CN114577762B (zh) | 一种基于数字微反射镜的数字共聚焦成像系统及方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161027 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170814 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170912 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20171107 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171220 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180116 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180130 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6284372 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |