JP4803974B2 - 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム - Google Patents

共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム Download PDF

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Description

本発明は共焦点観察システムに関し、さらに詳しくは走査光学系を有する顕微鏡や内視鏡に代表される共焦点観察システムに関する。
共焦点顕微鏡は、検出光学系において標本と共役な位置にピンホールを設けることにより、標本中の焦点面のみの情報を検出することができる顕微鏡である。標本における焦点面の情報は光学的な断面像となり、この断面像を連続的に取得することにより、標本の三次元構造を構築することも可能である。
このような共焦点顕微鏡において、走査型の共焦点レーザ顕微鏡は、光源からのレーザ光を走査光学系及び対物レンズを介して標本のX軸・Y軸方向に走査しながら照射し、標本からの蛍光または反射光を再び対物レンズ及び走査光学系を介して検出器に取り込むことにより、標本の二次元輝度情報を得る顕微鏡である。この二次元輝度情報と走査光学系の走査位置情報とを対応させ、輝点の二次元分布を表示することにより、標本の蛍光像或いは反射像を観察することも可能である。
尚、レーザ光源としてパルスレーザ光を発するもの等を用いて多光子吸収を発生させるようにすれば、標本の焦点面のみの励起により、ピンホールを設けないでも、標本の焦点面のみの情報を得ることが可能である。
また、画像を取得するための光学系の他に走査光学系を備えるようにすれば、光刺激のためのレーザ光の照射と画像取得とを独立に制御することが可能である。
これらの共焦点レーザ顕微鏡に関し、特許文献1には、共焦点レーザ顕微鏡において、生きた標本の立体観察を行うために、標本の走査を高速に行い、効率的に画像を取得する方法が提案されている。また、特許文献2には、最適な観察条件を整えるのに調整を要する多光子励起レーザ顕微鏡において、光学部材の配置により容易に条件設定を可能にしたものが提案されている。また、特許文献3には、検出光学系の他に走査光学系を配置し、観察位置とは独立に光刺激を発現する方法が提案されている。
これらの従来の技術を利用することにより、生きた標本の三次元像(立体像)を高速に構築することが可能である。また、標本の観察や光刺激にパルスレーザ光等を用いることによって、多光子励起により標本の焦点面のみを励起させることも可能である。
特開2003−195714号公報 特開平11−326755号公報 特開平10−206742号公報
しかしながら、従来において、構築された標本の三次元像中の任意の三次元領域を指定し、その三次元領域に対応する標本中の領域に励起光又は刺激光を照射して、光刺激やフォトブリーチを行う手法については何ら提案されていない。
本発明は、上記実情に鑑み、標本の三次元像中の任意の三次元領域を指定することにより、光刺激やフォトブリーチを、標本中の対応する領域に正確に行うことができ、立体構造を有する標本の光刺激後の挙動解析を正確に行うことができる、共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の第1の態様に係る共焦点観察システムは、立体標本の光学的断面画像を取得する画像取得手段と、該画像取得手段により取得された光学的断面画像から三次元像を構築する三次元像構築手段と、該三次元像構築手段により構築された三次元像中の所望の三次元領域を指定する指定手段と、該指定手段により指定された三次元領域に基づき励起光又は刺激光を照射するための断面領域を取得する領域取得手段と、を有し、前記領域取得手段は、前記三次元領域に基づき、前記画像取得手段により取得された光学的断面画像から求めた断面領域、又は及び、前記画像取得手段により取得された光学的断面画像から補間により求めた断面領域を、前記励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得し、前記領域取得手段により取得された断面領域に対応する前記立体標本の領域に前記励起光又は刺激光を照射する、構成である。
本構成によれば、画像取得手段により立体標本の光学的断面画像が取得され、三次元像構築手段によって画像取得手段により取得された光学的断面画像から三次元像が構築され、指定手段によって三次元像構築手段により構築された三次元像中の所望の三次元領域が指定され、領域取得手段によって指定手段により指定された三次元領域に基づき励起光又は刺激光を照射するための断面領域が取得され、領域取得手段により取得された断面領域に対応する立体標本の領域に励起光又は刺激光が照射される。また、領域取得手段により、三次元領域に基づき、画像取得手段により取得された光学的断面画像から求められた断面領域、又は及び、画像取得手段により取得された光学的断面画像から補間により求められた断面領域が、励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得される。
本発明の第2の態様に係る共焦点観察システムは、前述の第1の態様において、前記三次元像構築手段により構築された三次元像を表示する表示手段、を更に有し、前記指定手段は、前記表示手段により表示された三次元像中の所望の三次元領域を指定する、構成である。
本構成によれば、表示手段により、三次元像構築手段により構築された三次元像が表示され、指定手段により、表示手段により表示された三次元像中の所望の三次元領域が指定される。
本発明の第3の態様に係る共焦点観察システムは、前述の第1又は2の態様において、前記励起光又は刺激光は、多光子励起現象により前記立体標本を励起するためのパルスレーザ光である、構成である。
本発明の第4の態様に係る共焦点観察システムは、前述の第1乃至3の何れか一の態様において、当該システムは、前記立体標本の光学的断面画像を取得するための第1の光学系と、前記励起光又は刺激光を照射するための第2の光学系とを、独立に有する、構成である。
また、本発明は、その他、光照射方法及び光照射プログラムとして構成することも可能である。
本発明によれば、標本の三次元像中の任意の三次元領域を指定することにより、光刺激やフォトブリーチを、標本中の対応する領域に正確に行うことができる。また、立体構造を有する標本の光刺激後の挙動解析を正確に行うことができる。
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の実施例1に係る共焦点観察システムである共焦点レーザ顕微鏡装置の構成図である。
同図に示すように、本装置は、レーザ光を照射するレーザ光源1と、レーザ光源1から照射されたレーザ光の波長と強度を調整するレーザ制御部2と、ダイクロイックミラー3と、レーザ光を二次元(XY方向)に偏向走査するものであって2つの光学スキャナ4a,4bを有する光学スキャナ部4と、リレーレンズ5と、反射ミラー6と、結像レンズ7と、対物レンズ8と、光軸方向(Z方向)に移動可能なものであって立体標本9が載置されるステージ10と、レンズ11と、対物レンズ8の焦点位置と共役な位置に設けられたピンホール12と、このピンホール12を通過した光を電気信号に変換する光電変換部13と、本装置全体の動作を制御するコントロールユニット14と、表示部15を有する。
尚、本装置において、レーザ光源1,レーザ制御部2,ダイクロイックミラー3,光スキャナ部4,リレーレンズ5,及び反射ミラー6からなる光学系を走査光学系Aといい、レンズ11とピンホール12からなる光学系を検出光学系Bという。
本装置では、レーザ光源1から出射されたレーザ光は、コントロールユニット14により制御されるレーザ制御部2によって任意の波長とレーザ強度に調整された後、ダイクロイックミラー3により反射され、同じくコントロールユニット14により制御される光学スキャナ部4へ導かれ、任意の方向に偏向走査される。偏向走査されたレーザ光は、リレーレンズ5を透過した後、反射ミラー6により反射され、結像レンズ7と対物レンズ8を介して、コントロールユニット14の制御により光軸方向に移動可能なステージ10上に載置された立体標本9に到達する。従って、光学スキャナ部4がレーザ光を二次元に偏向走査することにより、立体標本9の焦点面22上にレーザ光が二次元走査される。尚、焦点面22は、対物レンズ8の焦点位置を含む平面であって光軸方向に垂直な平面である。
一方、このようにして立体標本9に到達したレーザ光により生じた、焦点面22からの蛍光又は反射光は、前述のレーザ光と同じ光路を逆向きに、対物レンズ8、結像レンズ7、反射ミラー6、リレーレンズ5、及び光学スキャナ部4を通過する。そして、ダイクロイックミラー3により、その光学スキャナ部4を通過した光のうち、波長選択された光だけが光学検出系Bに到達する。検出光学系Bでは、その波長選択された光が、レンズ11を透過して、ピンホール12により、そのレンズ11を透過した光のうち立体標本9の焦点面22上の光のみが選択され、光電変換部13に到達する。
図2は、走査光学系Aを駆動し検出光学系Bからの信号を画像として表示する等の制御を行うコントロールユニット14の構成を示すブロック図である。
同図において、本ユニット14は、光学スキャナ4a,4bを駆動する第1の走査光学系駆動ユニット14aと、レーザ制御部2を制御する第1のレーザ出力制御ユニット14bと、ステージ10を移動制御するZ軸制御ユニット14cと、ユーザからの各種入力を受け付けるマンマシンインターフェース14dと、制御プログラムが格納されているプログラムメモリ14jと、このプログラムメモリ14jから制御プログラムを読み出し実行することにより、光電変換部13により得られた電気信号のA/D変換等を含む本装置全体の動作を制御するCPU14eと、CPU14eによりA/D変換された電気信号を光学的断面画像として格納するメモリ14fと、表示部15に画像を表示する際にメモリ14fに格納された光学的断面画像に対し所定の画像処理を行う画像処理回路14gを有する。
次に、この共焦点レーザ顕微鏡装置の動作として、立体標本9中の任意の三次元領域に励起光を照射する際に行われる動作について説明する。
本装置では、ステージ10を光軸方向に移動させながら、立体標本9の光学的断面画像を連続的に取り込むことにより、立体標本9の三次元像を構築することが可能である。このときの三次元像の構築は、次のようにして行われる。
まず、Z=0とする基準位置において光学的断面画像を取得し、その後、ステージ10を駆動しZ方向の位置(以下「Z位置」という)を変化させながら、連続的に立体標本9の光学的断面画像を取り込み、Z位置の情報と共に、取り込んだ光学的断面画像をメモリ14に保存する。そして、このようにしてメモリ14に保存した光学的断面画像を、対応するZ位置情報を基に、表示部15上でz軸方向に沿って重ね合わせ、それぞれの光学的断面画像をz軸方向に所定の条件に従って厚みを持たせることによって、立体的な画像を構成することができる。
図3は、この共焦点レーザ顕微鏡装置の動作に係る処理フローを示す図である。尚、同図において、S1乃至7は、前述の三次元像の構築に係る処理を示している。
まず、Z位置(断面位置)に対応する値を示すkを0とし(S1)、設定されている画像取得開始位置へステージ10を移動させる(S2)。これにより、焦点位置が原点位置に設定される。
続いて、光スキャナ部4が二次元走査を行い、光学的断面画像である共焦点画像(k)を取得し、このときのZ位置の情報と共に、メモリ14に保存する(S3)。尚、共焦点画像(k)とは、kに対応するZ位置における光学的断面画像を表している。
続いて、k=k+1とし(S4)、ステージ10を所定量ΔZだけ移動させ(S5)、続いて、ステージ10のZ位置が、設定されている画像取得終了位置であるか否かを判定する(S6)。ここで、その判定結果がNoの場合には、S3へ戻る。これにより、ステージ10のZ位置が画像取得終了位置になるまで、前述のS3乃至5の処理が繰り返し行われる。
一方、S6の判定結果がYesの場合には、続いて、メモリ14に保存された光学的断面画像を、対応するZ位置情報を基に、表示部15上のz軸方向に沿って重ね合わせて立体標本9の三次元像を構築し(S7)、その三次元像を表示部15に表示する。
続いて、マンマシンインターフェース14dを介して行われるユーザの指示に応じて、表示部15に表示されている三次元像中の任意の三次元領域を指定する(S8)。
続いて、マンマシンインターフェース14dを介して行われるユーザの指示に応じて、励起光を照射する断面の間隔(Z間隔)を指定し、この断面の間隔とS8で指定された三次元領域とを基に、励起光を照射する立体標本9の複数の断面位置を決定する(S9)。尚、本実施例では、このS9で、等間隔の複数の断面位置が決定されるものとする。
続いて、その決定した複数の断面位置の中にS3で取得された光学的断面画像の断面位置と一致するものがある場合には、その一致する断面位置の光学的断面画像から、S8で指定された三次元領域の断面領域であってその一致する断面位置に対応する断面領域を求め、また、その決定した複数の断面位置の中にS3で取得された光学的断面画像の断面位置と一致しないものがある場合には、S8で指定された三次元領域の断面領域であってその一致しない断面位置に対応する断面領域を、S3で取得された光学的断面画像から補間により算出する(S10)。尚、この補間により算出した断面領域を仮想断面領域という。
続いて、S9にて決定した複数の断面位置のうちの一つの断面位置に焦点面22が合うようにステージ10を移動させ(S11)、その断面位置に係る、S10で求めた断面領域に対応する領域、或いはS10で補間により算出した仮想断面領域に対応する領域に、光刺激やフォトブリーチを行うための励起光として、レーザ光を照射する(S12)。
続いて、S9にて決定した複数の断面位置のうち、全ての断面位置においてレーザ光を照射したか否かを判定し(S13)、その判定結果がNoの場合には、S11へ戻って、レーザ光を照射していない断面位置のうちの一つの断面位置について再びS11乃至12の処理を繰り返す。一方、S13の判定結果がYesの場合には、全ての断面位置においてレーザ光の照射が終了したこととなり、本フローが終了する。
図4,図5,図6は、本フローが実行されたときの具体例を示す図である。
図4は、S1乃至7の処理によって得られた、光学的断面画像と、その光学的断面画像から構築された立体標本9の三次元像の一例を示している。
同図の例では、4つの光学的断面画像16a,16b,16c,16dが得られ、その4つの光学的断面画像16から、立体標本9の三次元像17が構築された例を示している。
図5は、図4に示した三次元像17において、S8の処理によって指定された三次元領域の一例を示している。
図5の例では、ユーザの指示に応じて、三次元領域18が指定された例を示している。
図6は、図5に示した三次元領域18において、S9の処理によって決定された断面位置と、S10の処理によって得られた断面領域及び仮想断面領域を示している。
同図の例では、ユーザの指示に応じて断面の間隔が指定され、等間隔の5つの断面位置A,B,C,D,E(但し、ここでは、表示部15上の断面位置として示している)が決定され、各断面位置における、三次元領域18の断面領域19a,19b,19c,19d,19eが得られた例を示している。
尚、断面位置Aは光学的断面画像16bの断面位置と一致するものであり、断面位置Eは光学的断面画像16cの断面位置と一致するものである。従って、断面領域19aは光学的断面画像16bから求められ、断面領域19eは光学的断面画像16cから求められる。一方、断面位置B,C,Dは、何れも光学的断面画像16の断面位置と一致するものではないので、断面領域19b,19c,19dは、当該断面領域を挟む光学的断面画像16b,16cから補間によって算出される。
このようにして断面位置A,B,C,D,Eにおける断面領域19a,19b,19c,19d,19eが求められると、S11乃至13の処理が行われ、その各断面領域19に対応する領域の全てに、レーザ光が照射される。
以上、本実施例によれば、ユーザの指示に応じて立体標本9の三次元像中の任意の三次元領域を指定することにより、光刺激やフォトブリーチを、立体標本9中の対応する領域に正確に行うことができ、立体標本9の光刺激後の挙動解析を正確に行うことができる。また、立体標本9の三次元像を構築する際に取得する光学的断面画像の総数を少なくするようにすれば、その取得の際に立体標本に照射されるレーザ光の総光量を少なくすることができるので、余計な光刺激やフォトブリーチを極力避けることができる。
尚、本実施例において、共焦点レーザ顕微鏡装置は、ステージ10を光軸方向に移動させることにより焦点面22を移動させる構成としたが、対物レンズ8を光軸方向に移動させることにより焦点面22を移動させる構成とすることも可能である。
また、本実施例において、図3のS9では、ユーザの指示に応じて励起光を照射する断面の間隔を指定するものであったが、これを本装置が自動的に指定するようにすることも可能である。
また、S9では、ユーザの指示に応じて励起光を照射する断面の間隔を指定し断面位置を決定するものであったが、これに代えて、ユーザが三次元領域中の任意の点を指示することによって断面位置を決定するようにすることも可能である。
図7は、S9において、ユーザが三次元領域中の任意の点を指示することによって断面位置を決定するようにした場合の一例を示す図である。
同図において、三次元領域20は、S8で指定された三次元領域の一部を示し、実線に示す断面21a,21bは、何れもS3で取得された光学的断面画像の断面位置と一致する断面を示している。
このとき、ユーザにより三次元領域20中の所望の点(同図の×で示す点)が指示され、その指示された点がS3で取得された光学的断面画像の断面位置と一致しない場合には、その指示された点を含む断面に対応する断面位置は、次のようにして求められる。
但し、ここでは、断面21aの表示部15上のz座標をz1とし、そのz1に対応するステージ10のZ位置をZ1とする。また、断面21bの表示部15上のz座標をz2とし、そのz2に対応するステージ10のZ位置をZ2とする。また、ユーザにより指示された点を含む断面(点線に示した断面)の表示部15上のz座標をz3とし、そのz3に対応するステージ10のZ位置をZ3とする。
このとき、求める断面位置となるZ3は次式により求まる。
Z3=Z1+(Z2−Z1)/(z2−z1)*(z3−z1)
これにより、ユーザにより指示された点に対応するステージ10のZ位置を求めることができ、断面位置を決定することができる。
また、本実施例において、光源1として、多光子励起現象により蛍光を発するように立体標本9を励起するためのパルスレーザ光を発するものを用いるようにすることも可能である。多光子励起現象は、レーザ光が集中する焦点面でのみ生じる現象であるから、光刺激やフォトブリーチのために、焦点面にのみ励起光を照射させることが可能となる。また、パルスレーザ光により励起を行う際には、連続発振のレーザ光を用いる場合よりも長波長のレーザ光を用いることができるので、通常のレーザ光では到達できないような、より深い位置に、励起現象を生じさせることが可能となり、例えば組織や軸索の発達した神経細胞のような焦点方向に大きい標本に対しての観察や光刺激・フォトブリーチの実施に有効である。また、多光子励起による励起現象は、エネルギー密度が非常に大きくなる焦点面でのみしか生じないため、所望の部位のみに光刺激やフォトブリーチを生じさせることができる。
図8は、本発明の実施例2に係る共焦点観察システムである共焦点レーザ顕微鏡装置の構成図である。
同図において、図1に示した構成との違いは、更に、レーザ光を照射するレーザ光源26と、レーザ光源26から照射されたレーザ光の波長と強度を調整するレーザ制御部27と、レーザ光源26からのレーザ光を二次元(XY方向)に偏向走査するものであって2つの光学スキャナ28a,28bを有する光学スキャナ部28と、リレーレンズ29と、ダイクロイックミラー30とを備えた点と、これに伴い、コントロールユニット14の内部構成が多少異なる点である。その他の構成は、図1に示したものと同じである。
尚、本装置において、レーザ光源26,レーザ制御部27,光スキャナ部28,及びリレーレンズ29からなる光学系を走査光学系Cという。
本実施例に係る装置では、レーザ光源26から出射されたレーザ光は、コントロールユニット14により制御されるレーザ制御部27によって所望の波長とレーザ強度とに調整された後、同じくコントロールユニット14により制御される光学スキャナ部28へ導かれ、任意の方向に偏向走査される。そして、偏向走査されたレーザ光は、リレーレンズ29を透過した後、ダイクロイックミラー30によって、走査光学系Aからの光と合成され、結像レンズ7,対物レンズ8を透過して、立体標本9上の焦点面22に照射される。
図9は、本実施例に係るコントロールユニット14の構成を示すブロック図である。
同図において、図2に示した構成との違いは、更に、光学スキャナ28a,28bを駆動する第2の走査光学系駆動ユニット14hと、レーザ制御部27を制御する第2のレーザ出力制御ユニット14iとを有した点である。これにより、光学スキャナ部28とレーザ制御部26とを駆動制御して、レーザ光源26からのレーザ光を所望の位置に照射することができるようになっている。また、必要に応じて、第1の走査光学系Aと第2の走査光学系Cとを、それぞれ独立に、或いは、同期をとりながら、制御することができるようになっている。その他の構成については、図2に示したものと同じである。
本実施例に係る共焦点レーザ顕微鏡装置の動作は、立体標本9への励起光の照射を走査光学系Aではなく走査光学系Cを用いて行うようにしたことを除き、実施例1に係る装置の動作と同じである。すなわち、本装置では、光学的断面画像の取得の際には走査光学系Aが用いられ、立体標本9への励起光の照射の際には走査光学系Cが用いられる。但し、本装置において、走査光学系Cによるレーザ光の照射位置は、走査光学系Aによるレーザ光の照射位置と予め対応付けされている。
以上、本実施例によれば、更に、立体標本9への励起光の照射と光学的断面画像の取得とを独立して行うことが可能であることから、光刺激やフォトブリーチを行ってから立体標本に発現する現象を、リアルタイムに正確に計測することが可能となる。
以上、本発明について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良及び変更を行っても良いのはもちろんである。
例えば、実施例1及び2では、画像を取得する手段として走査光学系を有する走査型の共焦点レーザ顕微鏡装置を用いて説明したが、画像を取得するという手段に限り、ディスクスキャン方式の共焦点顕微鏡を用いることも可能である。
また、実施例1及び2では、本発明に係る共焦点観察システムを共焦点レーザ顕微鏡装置に適用したが、これを画像を取得するためのスキャナ部を要する内視鏡システムに適用することも可能である。
実施例1に係る共焦点観察システムである共焦点レーザ顕微鏡装置の構成図である。 実施例1に係るコントロールユニットの構成を示すブロック図である。 実施例1に係る共焦点レーザ顕微鏡装置の動作に係る処理フローを示す図である。 実施例1に係る処理フローが実行されたときの具体例を示す図である。 実施例1に係る処理フローが実行されたときの具体例を示す図である。 実施例1に係る処理フローが実行されたときの具体例を示す図である。 ユーザが三次元領域中の任意の点を指示することによって断面位置を決定するようにした場合の一例を示す図である。 実施例2に係る共焦点観察システムである共焦点レーザ顕微鏡装置の構成図である。 実施例2に係るコントロールユニットの構成を示すブロック図である。
符号の説明
1 レーザ光源
2 レーザ制御部
3 ダイクロイックミラー
4 光学スキャナ部
5 リレーレンズ
6 反射ミラー
7 結像レンズ
8 対物レンズ
9 立体標本
10 ステージ
11 レンズ
12 ピンホール
13 光電変換部
14 コントロールユニット
15 表示部
16 光学的断面画像
17 三次元像
18 三次元領域
19 断面領域
20 三次元領域
21 断面
22 焦点面
26 レーザ光源
27 レーザ制御部
28 光学スキャナ部
29 リレーレンズ
30 ダイクロイックミラー

Claims (6)

  1. 立体標本の光学的断面画像を取得する画像取得手段と、
    該画像取得手段により取得された光学的断面画像から三次元像を構築する三次元像構築手段と、
    該三次元像構築手段により構築された三次元像中の所望の三次元領域を指定する指定手段と、
    該指定手段により指定された三次元領域に基づき励起光又は刺激光を照射するための断面領域を取得する領域取得手段と、
    を有し、
    前記領域取得手段は、前記三次元領域に基づき、前記画像取得手段により取得された光学的断面画像から求めた断面領域、又は及び、前記画像取得手段により取得された光学的断面画像から補間により求めた断面領域を、前記励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得し、
    前記領域取得手段により取得された断面領域に対応する前記立体標本の領域に前記励起光又は刺激光を照射する、
    ことを特徴とする共焦点観察システム。
  2. 前記三次元像構築手段により構築された三次元像を表示する表示手段、
    を更に有し、
    前記指定手段は、前記表示手段により表示された三次元像中の所望の三次元領域を指定する、
    ことを特徴とする請求項1記載の共焦点観察システム。
  3. 前記励起光又は刺激光は、多光子励起現象により前記立体標本を励起するためのパルスレーザ光である、
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の共焦点観察システム。
  4. 当該システムは、前記立体標本の光学的断面画像を取得するための第1の光学系と、前記励起光又は刺激光を照射するための第2の光学系とを、独立に有する、
    ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項記載の共焦点観察システム。
  5. 立体標本の光学的断面画像を取得し、
    該取得した光学的断面画像から三次元像を構築し、
    該構築した三次元像中の所望の三次元領域を指定し、
    該指定した三次元領域に基づき、前記光学的断面画像から求めた断面領域、又は及び、前記光学的断面画像から補間により求めた断面領域を、励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得し、
    該取得した断面領域に対応する前記立体標本の領域に前記励起光又は刺激光を照射する、
    ことを特徴とする共焦点観察システムの光照射方法。
  6. 共焦点観察システムのコンピュータに、
    立体標本の光学的断面画像を取得する機能と、
    該取得した光学的断面画像から三次元像を構築する機能と、
    該構築した三次元像中の所望の三次元領域を指定する機能と、
    該指定した三次元領域に基づき、前記光学的断面画像から求めた断面領域、又は及び、前記光学的断面画像から補間により求めた断面領域を、励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得する機能と、
    該取得した断面領域に対応する前記立体標本の領域に前記励起光又は刺激光を照射する機能と、
    を実現させるための光照射プログラム。
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