JP4803974B2 - 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム - Google Patents
共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP4803974B2 JP4803974B2 JP2004182552A JP2004182552A JP4803974B2 JP 4803974 B2 JP4803974 B2 JP 4803974B2 JP 2004182552 A JP2004182552 A JP 2004182552A JP 2004182552 A JP2004182552 A JP 2004182552A JP 4803974 B2 JP4803974 B2 JP 4803974B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dimensional
- cross
- image
- sectional
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
これらの共焦点レーザ顕微鏡に関し、特許文献1には、共焦点レーザ顕微鏡において、生きた標本の立体観察を行うために、標本の走査を高速に行い、効率的に画像を取得する方法が提案されている。また、特許文献2には、最適な観察条件を整えるのに調整を要する多光子励起レーザ顕微鏡において、光学部材の配置により容易に条件設定を可能にしたものが提案されている。また、特許文献3には、検出光学系の他に走査光学系を配置し、観察位置とは独立に光刺激を発現する方法が提案されている。
同図に示すように、本装置は、レーザ光を照射するレーザ光源1と、レーザ光源1から照射されたレーザ光の波長と強度を調整するレーザ制御部2と、ダイクロイックミラー3と、レーザ光を二次元(XY方向)に偏向走査するものであって2つの光学スキャナ4a,4bを有する光学スキャナ部4と、リレーレンズ5と、反射ミラー6と、結像レンズ7と、対物レンズ8と、光軸方向(Z方向)に移動可能なものであって立体標本9が載置されるステージ10と、レンズ11と、対物レンズ8の焦点位置と共役な位置に設けられたピンホール12と、このピンホール12を通過した光を電気信号に変換する光電変換部13と、本装置全体の動作を制御するコントロールユニット14と、表示部15を有する。
同図において、本ユニット14は、光学スキャナ4a,4bを駆動する第1の走査光学系駆動ユニット14aと、レーザ制御部2を制御する第1のレーザ出力制御ユニット14bと、ステージ10を移動制御するZ軸制御ユニット14cと、ユーザからの各種入力を受け付けるマンマシンインターフェース14dと、制御プログラムが格納されているプログラムメモリ14jと、このプログラムメモリ14jから制御プログラムを読み出し実行することにより、光電変換部13により得られた電気信号のA/D変換等を含む本装置全体の動作を制御するCPU14eと、CPU14eによりA/D変換された電気信号を光学的断面画像として格納するメモリ14fと、表示部15に画像を表示する際にメモリ14fに格納された光学的断面画像に対し所定の画像処理を行う画像処理回路14gを有する。
本装置では、ステージ10を光軸方向に移動させながら、立体標本9の光学的断面画像を連続的に取り込むことにより、立体標本9の三次元像を構築することが可能である。このときの三次元像の構築は、次のようにして行われる。
まず、Z位置(断面位置)に対応する値を示すkを0とし(S1)、設定されている画像取得開始位置へステージ10を移動させる(S2)。これにより、焦点位置が原点位置に設定される。
続いて、マンマシンインターフェース14dを介して行われるユーザの指示に応じて、励起光を照射する断面の間隔(Z間隔)を指定し、この断面の間隔とS8で指定された三次元領域とを基に、励起光を照射する立体標本9の複数の断面位置を決定する(S9)。尚、本実施例では、このS9で、等間隔の複数の断面位置が決定されるものとする。
図4は、S1乃至7の処理によって得られた、光学的断面画像と、その光学的断面画像から構築された立体標本9の三次元像の一例を示している。
図5の例では、ユーザの指示に応じて、三次元領域18が指定された例を示している。
同図の例では、ユーザの指示に応じて断面の間隔が指定され、等間隔の5つの断面位置A,B,C,D,E(但し、ここでは、表示部15上の断面位置として示している)が決定され、各断面位置における、三次元領域18の断面領域19a,19b,19c,19d,19eが得られた例を示している。
同図において、三次元領域20は、S8で指定された三次元領域の一部を示し、実線に示す断面21a,21bは、何れもS3で取得された光学的断面画像の断面位置と一致する断面を示している。
Z3=Z1+(Z2−Z1)/(z2−z1)*(z3−z1)
これにより、ユーザにより指示された点に対応するステージ10のZ位置を求めることができ、断面位置を決定することができる。
同図において、図1に示した構成との違いは、更に、レーザ光を照射するレーザ光源26と、レーザ光源26から照射されたレーザ光の波長と強度を調整するレーザ制御部27と、レーザ光源26からのレーザ光を二次元(XY方向)に偏向走査するものであって2つの光学スキャナ28a,28bを有する光学スキャナ部28と、リレーレンズ29と、ダイクロイックミラー30とを備えた点と、これに伴い、コントロールユニット14の内部構成が多少異なる点である。その他の構成は、図1に示したものと同じである。
本実施例に係る装置では、レーザ光源26から出射されたレーザ光は、コントロールユニット14により制御されるレーザ制御部27によって所望の波長とレーザ強度とに調整された後、同じくコントロールユニット14により制御される光学スキャナ部28へ導かれ、任意の方向に偏向走査される。そして、偏向走査されたレーザ光は、リレーレンズ29を透過した後、ダイクロイックミラー30によって、走査光学系Aからの光と合成され、結像レンズ7,対物レンズ8を透過して、立体標本9上の焦点面22に照射される。
同図において、図2に示した構成との違いは、更に、光学スキャナ28a,28bを駆動する第2の走査光学系駆動ユニット14hと、レーザ制御部27を制御する第2のレーザ出力制御ユニット14iとを有した点である。これにより、光学スキャナ部28とレーザ制御部26とを駆動制御して、レーザ光源26からのレーザ光を所望の位置に照射することができるようになっている。また、必要に応じて、第1の走査光学系Aと第2の走査光学系Cとを、それぞれ独立に、或いは、同期をとりながら、制御することができるようになっている。その他の構成については、図2に示したものと同じである。
2 レーザ制御部
3 ダイクロイックミラー
4 光学スキャナ部
5 リレーレンズ
6 反射ミラー
7 結像レンズ
8 対物レンズ
9 立体標本
10 ステージ
11 レンズ
12 ピンホール
13 光電変換部
14 コントロールユニット
15 表示部
16 光学的断面画像
17 三次元像
18 三次元領域
19 断面領域
20 三次元領域
21 断面
22 焦点面
26 レーザ光源
27 レーザ制御部
28 光学スキャナ部
29 リレーレンズ
30 ダイクロイックミラー
Claims (6)
- 立体標本の光学的断面画像を取得する画像取得手段と、
該画像取得手段により取得された光学的断面画像から三次元像を構築する三次元像構築手段と、
該三次元像構築手段により構築された三次元像中の所望の三次元領域を指定する指定手段と、
該指定手段により指定された三次元領域に基づき励起光又は刺激光を照射するための断面領域を取得する領域取得手段と、
を有し、
前記領域取得手段は、前記三次元領域に基づき、前記画像取得手段により取得された光学的断面画像から求めた断面領域、又は及び、前記画像取得手段により取得された光学的断面画像から補間により求めた断面領域を、前記励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得し、
前記領域取得手段により取得された断面領域に対応する前記立体標本の領域に前記励起光又は刺激光を照射する、
ことを特徴とする共焦点観察システム。 - 前記三次元像構築手段により構築された三次元像を表示する表示手段、
を更に有し、
前記指定手段は、前記表示手段により表示された三次元像中の所望の三次元領域を指定する、
ことを特徴とする請求項1記載の共焦点観察システム。 - 前記励起光又は刺激光は、多光子励起現象により前記立体標本を励起するためのパルスレーザ光である、
ことを特徴とする請求項1又は2記載の共焦点観察システム。 - 当該システムは、前記立体標本の光学的断面画像を取得するための第1の光学系と、前記励起光又は刺激光を照射するための第2の光学系とを、独立に有する、
ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項記載の共焦点観察システム。 - 立体標本の光学的断面画像を取得し、
該取得した光学的断面画像から三次元像を構築し、
該構築した三次元像中の所望の三次元領域を指定し、
該指定した三次元領域に基づき、前記光学的断面画像から求めた断面領域、又は及び、前記光学的断面画像から補間により求めた断面領域を、励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得し、
該取得した断面領域に対応する前記立体標本の領域に前記励起光又は刺激光を照射する、
ことを特徴とする共焦点観察システムの光照射方法。 - 共焦点観察システムのコンピュータに、
立体標本の光学的断面画像を取得する機能と、
該取得した光学的断面画像から三次元像を構築する機能と、
該構築した三次元像中の所望の三次元領域を指定する機能と、
該指定した三次元領域に基づき、前記光学的断面画像から求めた断面領域、又は及び、前記光学的断面画像から補間により求めた断面領域を、励起光又は刺激光を照射するための断面領域として取得する機能と、
該取得した断面領域に対応する前記立体標本の領域に前記励起光又は刺激光を照射する機能と、
を実現させるための光照射プログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004182552A JP4803974B2 (ja) | 2004-06-21 | 2004-06-21 | 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム |
US11/153,635 US7355702B2 (en) | 2004-06-21 | 2005-06-15 | Confocal observation system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004182552A JP4803974B2 (ja) | 2004-06-21 | 2004-06-21 | 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006003805A JP2006003805A (ja) | 2006-01-05 |
JP4803974B2 true JP4803974B2 (ja) | 2011-10-26 |
Family
ID=35772220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004182552A Expired - Fee Related JP4803974B2 (ja) | 2004-06-21 | 2004-06-21 | 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4803974B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4605447B2 (ja) * | 2004-09-17 | 2011-01-05 | 横河電機株式会社 | 3次元共焦点顕微鏡システム |
JP4939855B2 (ja) * | 2006-06-29 | 2012-05-30 | オリンパス株式会社 | 照明装置およびレーザ走査型顕微鏡 |
WO2011030844A1 (ja) | 2009-09-11 | 2011-03-17 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置および制御方法 |
JP6802636B2 (ja) * | 2016-03-25 | 2020-12-16 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システムおよび標本観察方法 |
JP6716383B2 (ja) * | 2016-07-29 | 2020-07-01 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、情報提示方法、プログラム |
DE102018127076A1 (de) * | 2018-10-30 | 2020-04-30 | Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. | Mikroskopsystem zur Abbildung eines Probenbereichs und entsprechendes Verfahren |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3217412B2 (ja) * | 1991-12-13 | 2001-10-09 | オリンパス光学工業株式会社 | 試料観察方法及びその装置 |
JP3917731B2 (ja) * | 1996-11-21 | 2007-05-23 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
JP4309523B2 (ja) * | 1999-09-10 | 2009-08-05 | 株式会社キーエンス | 三次元測定共焦点顕微鏡 |
JP2003052642A (ja) * | 2001-08-13 | 2003-02-25 | Shiseido Co Ltd | 皮膚の表皮−真皮界面の検出装置 |
JP4020638B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2007-12-12 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡システム |
JP4632634B2 (ja) * | 2002-03-27 | 2011-02-16 | オリンパス株式会社 | 共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法 |
-
2004
- 2004-06-21 JP JP2004182552A patent/JP4803974B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006003805A (ja) | 2006-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7355702B2 (en) | Confocal observation system | |
US10181190B2 (en) | Microscope and microscope image acquisition method | |
JP4759425B2 (ja) | 多光子励起型観察装置 | |
JPH10206742A (ja) | レーザ走査顕微鏡 | |
JP2005284136A (ja) | 観察装置および観察装置の焦点合わせ方法 | |
JP2005128086A (ja) | 走査型顕微鏡システム | |
JP5132052B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡の条件設定装置及び走査型レーザ顕微鏡システム | |
JP4414722B2 (ja) | レーザー顕微鏡 | |
US7838818B2 (en) | Light-stimulus illumination apparatus which scans light-stimulus laser light in a direction intersecting an optical axis | |
JP4700299B2 (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
EP1855141A1 (en) | Laser-scanning microscope and microscope observation method | |
JP4020638B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡システム | |
JP4803974B2 (ja) | 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム | |
JP6832093B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2010286565A (ja) | 蛍光観察装置 | |
JP2005202087A (ja) | 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、及びプログラム | |
JP5021233B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP4716686B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP4855139B2 (ja) | 顕微鏡装置および細胞観察方法 | |
JP4605447B2 (ja) | 3次元共焦点顕微鏡システム | |
JP5771371B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP2010266709A (ja) | レーザ走査顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム | |
JP4350365B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP6161424B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2005345764A (ja) | 走査型光学装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070605 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100913 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101109 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110802 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110809 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4803974 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140819 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |