JP4980675B2 - 稼働状況を提示することができる装置 - Google Patents
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Description
次に、本発明の半導体ウェハ検査装置における稼働状況提示方法について説明する。
ここで、Sts:検査開始からの測長開始までの時間、SST:測長開始時刻、KST:検査開始時刻である。同様に、検査開始から測長終了、検査終了までの時間はそれぞれ式2、式3によって求めることができる。
ここで、Ste:検査開始からの測長終了までの時間、SET:測長終了時刻、KST:検査開始時刻である。
ここで、Kte:検査開始からの検査終了までの時間、KET:検査終了時刻、KST:検査開始時刻である。この計算は、統計処理部224がレシピ実行結果DB213に格納されている情報を取り出して行う。計算結果は画像処理部222に供給される。
ここで、Stus:測長終了の処理時間、SET:測長終了時刻、SST:測長開始時刻である。
同様に、検査終了の処理時間は、以下の式7によって求めることができる。
ここで、Ktue:検査終了の処理時間、KET:検査終了時刻、SET:測長終了時刻である。
ここで、Sop:装置の稼働時間、KEFB:前ロット検査終了から現ロット検査終了までの時間、KSFB:前ロット検査終了から現ロット検査開始までの時間である。装置の稼動時間と不稼動時間を計算することにより、容易に稼働率を統計しグラフ表示することが可能となる。また、図7(c)に示すように、センサから取得したデータを使用せずに、横軸に検査の各処理を、縦軸に経過時間をプロットして重ねて表示方法も可能である。なお、異常および、警告を検出する手法はこれまで説明した手法と同様である。図7と同じデータを使用して、横軸を検査したロットを、縦軸に経過時間をプロットして、経過時間の推移を示すグラフ(図8(a))に、また各処理にかかった時間を合計して円グラフ(図8(b))に表示を変更することも可能とする。なお、図8(b)において、検査開始にかかる時間(801)は、前回のロットが検査終了してからの時間なので装置の不稼動時間を表す。
2 電子線
3 電子レンズ
4 偏光器
5 ウェハ
6 検出器
7 画像処理プロセッサ
9 コンピュータ
10 光学式顕微鏡
11 カセットポート
12 カセット
13 ウェハ搬送機
14 アライナ
15 ロードロック室
16 ウェハホールダ
17 バルブ
18 真空ポンプ
19 バルブ
20 処理室
21 ステージ
210 レシピ
211 画像情報データベース
212 センサ情報データベース
213 レシピ実行ログデータベース
221 データ処理用CPU
222 画像処理部
223 表示部
224 統計処理部
225 データベース管理部
226 入力部
230 モニタ
231 マウスキーボード
235 電子光学制御
236 高電圧制御
237 制御用CPU
241 搬送制御
242 試料位置センサ
243 搬送系位置センサ
251 真空制御
252 バルブ位置センサ
253 圧力センサ
254 真空センサ
801 不稼動時間
Claims (12)
- 処理室と、試料カセットから取り出された試料を、当該処理室に出し入れするためのロードロック室と、当該ロードロック室の圧力を測定する圧力センサと、当該ロードロック室の真空排気処理手順及び処理条件が記述されたレシピを実行する制御装置とを備えた装置であって、
レシピの実行中、前記圧力センサによって測定された圧力値とタイミングデータを記録する記録手段と、
前記記録手段によって記録されたデータから、特定のレシピの複数の実行中に記録されたデータを抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された圧力値のデータを、前記試料のロット単位で開始時刻を合わせて同じスケールで重ね合わせて表示するグラフを作成するグラフ作成手段と、
前記グラフ作成手段において作成されたデータを表示する表示手段とを備えることを特徴とする装置。 - 半導体ウェハ検査装置であることを特徴とする請求項1記載の装置。
- 前記グラフが折れ線グラフであることを特徴とする請求項1記載の装置。
- 前記抽出手段によって抽出された圧力値のデータのばらつきを示す統計値を計算し、この統計値があらかじめ決められたしきい値を超えるか否かを決定する統計手段をさらに備え、
前記グラフ作成手段は、前記統計値が前記しきい値を超えるデータを強調して前記グラフを作成することを特徴とする請求項1記載の装置。 - 前記表示手段は、前記統計値が前記しきい値を超える場合、所定のメッセージを表示することを特徴とする請求項4記載の装置。
- 前記表示手段によって表示される画面上の任意の点をポイントできるポインティング手段をさらに備え、前記表示手段は、前記折れ線グラフにおいて強調されて表示されている部分が前記ポインティング手段によってポイントされると、該部分に関する情報を表示することを特徴とする請求項3記載の装置。
- 処理室と、試料カセットから取り出された試料を、当該処理室に出し入れするためのロードロック室と、当該ロードロック室の圧力を測定する圧力センサと、当該ロードロック室の真空排気処理手順及び処理条件が記述されたレシピを実行する制御装置とを備えた装置であって、
レシピの実行中、前記圧力センサから当該レシピの処理手順の所定のタイミングそれぞれにおいて測定された圧力値のデータを受け、記録する記録手段と、
前記記録手段によって記録されたデータから、特定のレシピの複数の実行中に記録されたデータを抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された圧力値のデータを、前記試料のロット単位で各タイミング同士を合わせて同じスケールで重ね合わせて表示するグラフを作成するグラフ作成手段と、
前記グラフ作成手段において作成されたデータを表示する表示手段とを備えることを特徴とする装置。 - 半導体ウェハ検査装置であることを特徴とする請求項7記載の装置。
- 前記グラフが折れ線グラフであることを特徴とする請求項7記載の装置。
- 前記抽出手段によって抽出された圧力値のデータのばらつきを示す統計値を計算し、この統計値があらかじめ決められたしきい値を超えるか否かを決定する統計手段をさらに備え、
前記グラフ作成手段は、前記統計値が前記しきい値を超えるデータを強調して前記グラフを作成することを特徴とする請求項7記載の装置。 - 前記表示手段は、前記統計値が前記しきい値を超える場合、所定のメッセージを表示することを特徴とする請求項10記載の装置。
- 前記表示手段によって表示される画面上の任意の点をポイントできるポインティング手段をさらに備え、前記表示手段は、前記折れ線グラフにおいて強調されて表示されている部分が前記ポインティング手段によってポイントされると、該部分に関する情報を表示することを特徴とする請求項9記載の装置。
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