JP5133323B2 - 真空処理装置、グラフ線表示方法 - Google Patents
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Description
真空処理技術によって同一品種の製品を量産する場合、同一規格の処理対象物に同じ真空処理を行うが、品質にバラツキが発生する。
品質のバラツキが生じた原因を確認する場合や、バラツキが不良品を発生させないように製造工程を管理する場合、動作中の真空処理装置の状態を測定し、測定結果をロット間で比較、検証することが行われている。
しかしながら、真空処理装置内の測定対象の機器が増加し、また、測定する項目である物理量の種類も増え、大量の測定値をグラフ化して比較することが困難になっている。
また、本発明は、前記データ分析プログラムは、前記測定値から複数の前記第一次グラフ線を生成して前記表示装置に表示し、一つの前記第一次グラフ線の前記測定値の一つをその前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻とし、他の前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻を求め、表示した前記第一次グラフ線から前記第二次グラフ線を生成して前記表示装置に表示する真空処理装置である。
また、本発明は、前記データ分析プログラムは、表示した前記第二次グラフ線のうち、選択された前記第二次グラフ線を、前記表示装置上で、前記X軸と平行に移動させる真空処理装置である。
また、本発明は、前記データ分析プログラムは、移動した前記第二次グラフ線の前記測定値に対応する前記X軸上換算時刻を、移動した前記第二次グラフ線の前記X軸上の移動量を換算した時間修正する真空処理装置である。
また、本発明は、真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、前記真空処理部が出力した複数の測定値を、測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、前記測定値を演算する演算装置と、前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有する真空処理装置の、前記記憶装置に記憶された前記測定値のグラフ線を前記表示装置に表示するグラフ線表示方法であって、前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻の位置として、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X軸上の位置を求め、前記測定値の大きさからY軸上の位置を求め、前記測定時刻が連続している複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とから第一次グラフ線を生成して前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、表示した前記第一次グラフ線の前記測定時刻の一つを抽出始点時刻とし、前記第一次グラフ線の前記測定値のうち、前記測定時刻が前記抽出始点時刻以降の前記測定値を抽出し、前記抽出始点時刻を前記基準時刻として、抽出した前記測定値と前記測定時刻から、前記X−Y座標上に第二次グラフ線を表示するグラフ線表示方法において、前記真空処理を行う処理装置を動作させる動作信号と、動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が制御装置から出力され、前記制御信号は、前記動作を開始する動作開始時刻と前記動作を停止する動作停止時刻と共に前記記憶装置に記憶され、前記記憶装置に記憶された前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の、前記基準時刻からの時間である時間軸上換算時刻を求め、前記表示装置上では、前記X軸と離間した位置に、前記X軸と平行に時間軸を表示し、前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、前記表示装置上には、前記時間軸上で、前記動作信号と前記停止信号を示す高さが異なる横線分を有するタイミングチャートで前記制御信号を表示し、所望の前記動作開始時刻又は前記動作停止時刻を前記抽出始点時刻として指定でき、前記タイミングチャートの、前記抽出始点時刻よりも遅い時刻の前記動作開始時刻又は前記動作停止時刻を抽出終点時刻として指定して、前記抽出始点時刻と前記抽出終点時刻の間の前記測定時刻に対応した前記測定値を抽出して前記第二次グラフ線を生成するグラフ線表示方法である。
また、本発明は、前記データ分析プログラムは、前記測定値から複数の前記第一次グラフ線を生成して前記表示装置に表示し、一つの前記第一次グラフ線の前記測定値の一つをその前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻とし、他の前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻を求め、表示した前記第一次グラフ線から前記第二次グラフ線を生成して前記表示装置に表示するグラフ線表示方法である。
また、本発明は、表示した前記第二次グラフ線のうち所望のものを選択させ、選択された前記第二次グラフ線は、前記表示装置上で、前記X軸と平行に移動させるグラフ線表示方法である。
また、本発明は、移動した前記第二次グラフ線の前記測定値に対応する前記X軸上換算時刻を、移動した前記第二次グラフ線の前記X軸上の移動量修正するグラフ線表示方法である。
制御信号に基づいて抽出することができるので、比較するグラフデータの作業の時刻を一致させやすい。
また、抽出した測定値によるグラフ線の所望のものを移動できるので、ピーク位置などを同じX座標に位置させて正確にグラフ線を重ね合わせて分析することができる。
真空処理部20は、真空槽11を有している。
真空槽11の内部には、処理対象物である基板の真空処理を行う処理機器群23が配置されている。
真空槽11の外部には周辺機器群24と制御部21とが配置されている。
周辺機器群24は、複数の周辺機器を有しており、ここでは周辺機器には、真空排気系36と、ガス導入系37と、ヒータ用電源38と、蒸着用電源39とが含まれている。
ヒータ32は供給された電力で発熱し、保持装置31を昇温させて真空雰囲気中で基板15を加熱する。EBガン33は供給された電力で蒸着源34に電子ビームを照射し、蒸着源34内に配置された蒸着材料を加熱し、真空槽11内の真空雰囲気中に蒸着材料の蒸気を放出させる。
この蒸気は真空雰囲気や反応ガス雰囲気中で基板15に到達し、その成膜面に薄膜を形成する。
周辺機器群24では、周辺機器群24に含まれる周辺機器が測定した真空槽11内の圧力、基板15の温度、ガス導入量、ヒータ32へ流れた電流量、EBガン33に供給した電力等の測定値が生成されており、測定値は、測定値と測定値の発生時刻とが対応されて、周辺機器群24から制御部21に入力されている。
コンピュータ40は、演算装置42と、記憶装置43と、表示装置44とを有しており、入力された測定値は、測定時刻と共に記憶装置43に記憶される。
所定枚数の基板は連続して処理する基板ごとにロット番号が付与されており、測定値のロット番号が分かるように、測定値を記憶装置43に記憶させる。ファイル名称には、ロット番号やロット名称等、ロットを区別できる表示が含まれており、また、一つのロット内でも、異なる真空処理は区別できるように、真空処理番号等の真空処理が区別できる表示もふくまれており、従って、測定値は、そのファイル名称から、ロットと真空処理に対応付けされていることになる。
測定値が生成されたロット番号や真空処理番号等のロットと真空処理は、測定値のファイル名称によって区別できる。
また、読み込む測定値が生成されたときの真空処理を制御していた制御信号も、読み込む。開始時刻と停止時刻は、例えば、測定時刻中に含まれる時刻にすることができる。制御信号のロットや真空処理との対応関係は、制御信号のファイルの名称で分かるものとする。
画面100には、読み込みを行った測定値と、その測定値に対応する制御信号を特定するために、測定値特定欄110と、制御信号特定欄120とが設けられており、測定値の変化と、制御信号の変化を対応して視認できるように、測定値のグラフ線を表示するグラフ表示領域130と、制御信号を表示するタイミングチャート表示領域140とに区分けされている。タイミングチャート表示領域140では、動作信号と停止信号を区別でき、開始時刻と停止時刻の位置が分かるように制御信号が表示される。
また、測定値特定欄110には、読み込みを行った測定値のうち、グラフ表示をする測定値を指示するための表示指示列114が設けられている。
各列111〜114のチェックボックス等の表示内容は、表示内容と測定値の名称151との対応が見やすいように、表示内容と名称151は同一高さに表示されている。
メジャー指示列123で指示されたメジャー線と制御信号のグラフ線(折線)との交点は、交点の制御信号が動作信号であるか停止信号であるかの信号状態を、ハイを示す数値かローを示す数値を制御信号の信号値として画面100に表示する。交点が動作信号であるか停止信号であるかの信号状態は、記号や図形など、他の方法で示しても良い。
測定値特定欄110と制御信号特定欄120のチェックボックス153〜156、163、164を使用し、チェックを記載して読み込んだ測定値のうちの表示する測定値を選択する。
タイミングチャート表示領域140には、読み込んだ測定値に対応した制御信号から折線142が作製され、時間軸141と一緒に表示されている。時間軸141は、画面100上でX−Y座標131のX軸の真下に位置し、X軸と平行である。
異なる時刻である基準時刻が真空処理毎に設定されており、本例でも、読み込んだ一種類の測定値に対応された測定時刻を、その測定値が測定された真空処理の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、測定値と対応付けてメモリや記憶装置43に記憶する。
ここでは、読み込まれる測定値の真空処理を行った制御信号に含まれる最初の開始時刻を基準時刻として設定しており、動作信号と停止信号の組の設定された個数分、画面100上に第一次グラフ線132と折線142とが表示されるようになっている。
従って、Y軸とX軸の交点の値とY軸の単位長さ当たりの時間により、各測定値の選択されたY軸上の位置であるY座標は、測定値の値から求められている。
このように、読み込んだ測定値のX座標とY座標が求められ、測定値の座標が示す点を線分で結んで一本のグラフ化する。最小二乗法等の曲線を生成する方法でグラフ化することもできる。
開始時刻と停止時刻は、測定値と同じ基準時刻を基準とし、基準時刻からの時間軸141上の時間である時間軸上換算時刻に換算されている。
制御信号に含まれる動作信号と停止信号は、時間軸141と平行で、高さが異なる横線分で表示されており、開始時刻を換算した時間軸上時刻では、一つの停止信号の終点と次の動作信号の始点との間と、一つの動作信号の終点と、次の停止信号の始点とが、垂直な縦線分で結ばれて形成された折線142によって制御信号が表示されている。
縦線分は、開始時刻と停止時刻を換算した時間軸上時刻に位置している。
各測定値に対する制御信号中には複数の開始時刻が含まれており、それらの開始時刻のうち、最初の開始時刻が基準時刻とされている。
第一次グラフ線132中のこれらの凹凸の一部を選択し、拡大して他の測定値と比較するために、第一次グラフ線132の一部を特定し、その部分を構成する測定値を抽出する。重要な部分を抽出すると、抽出した部分の比較によって真空処理の相違を明らかにすることができる。
ここでは、制御信号に対応して記憶された複数の開始時刻と停止時刻のうち、基準時刻から並べたときの基準時刻の順番を指定して始点とし、始点からの経過時間によって終点を指定するようになっている。
第一次グラフ線132から、第一次グラフ線132の一部である凸状部分133を抽出するために、5個目の立上り148が始点として指定され、始点からの時間として入力した範囲の終点までが抽出される。
X軸の単位長さ当たりの時間も再設定され、抽出された測定値に対応する再計算のX軸上換算時刻によって、抽出された測定値のX軸上の位置であるX座標が求められる。
時間軸141の基準時刻も始点となった測定値の測定時刻にされ、時間軸141の単位長さ当たりの時間はX軸と同じ単位長さ当たりの時間に変更されている。
異なる真空処理毎に測定値の一部を抽出し、抽出された測定値を真空処理間で比較する場合は、複数の真空処理毎に多量の測定値を読み込み、各真空処理間には同じ基準で始点と終点を設定し、複数の真空処理毎に測定値の一部を抽出し、図5に示すように、複数(ここでは二個)の第二次グラフ線134a、134bが同一のX−Y座標131上に表示される。
ここでは表示された折線144a、144bは、表示された第二次グラフ線134a、134bに対応しており、複数の折線144a、144bの制御信号のうち、一の制御信号では、動作信号の立上りである開始時刻を基準時刻にして測定値を抽出しているが、他の制御信号では、制御信号に含まれるノイズ147の立上りが基準時刻とされて測定値が抽出されてしまっている。従って、それらの制御信号に対応する第二次グラフ線134a、134bは画面100上で重なり合っていない。
メジャー線と補助メジャー線をそれぞれ表示させる場合は、メジャー指示列113、123のチェックボックス153、163にマークを付ける。
また、本例では、タイミングチャート表示領域140には、第一、第二のメジャー線101、102が位置するX軸上換算時刻と同時刻の時間軸上に、第一、第二の補助メジャー線103、104がそれぞれ時間軸と垂直に表示されるようになっている。
第一、第二のメジャー線101、102を移動させる場合、移動先のX軸上換算時刻は測定値と対応される時刻である必要があり、移動のために入力されたX軸上換算時刻や、マウスで指示された移動先のX軸上換算時刻に、グラフ線が表示されている測定値中に対応された測定値が無い場合は、グラフ線が表示された測定値中で、移動先とされたX軸上換算時刻に最も近く、測定値と対応付けられているX軸上換算時刻が移動先となり、第一、第二のメジャー線101、102は、その時刻に移動される。
逆に、第一、第二の補助メジャー線103、104を移動させることにより、移動された第一、第二の補助メジャー線103、104の時間軸上換算時刻と同時刻のX軸上換算時刻に第一、第二ののメジャー線101、102をそれぞれ移動させることができる。
従って、重なり合っていない二個の第二次グラフ線134a、134bのピークの時間差は、第一、第二のメジャー線101、102の間の時間差として画面100に表示されており、移動させた後の画面100に表示される時間差がゼロになるようにすればピークが同じX軸上換算時刻に配置されることになるから、一方の第二次グラフ線134a又は134bを選択し、重なり合うように符号を付して表示された時間差を入力することができる。
移動された第二次グラフ線134a又は134bの測定値に対応するX軸上換算時刻は、移動した時間の分修正される。
第一又は第二のメジャー線101、102や第二次グラフ線134a、134bが移動した後は、画面100には移動後の第一、第二の時刻や第一、第二の測定値、それらの差が表示される。
11……真空槽
15……処理対象物
20……真空処理部
21……制御部
23……処理機器群
24……周辺機器群
31〜34……処理機器
36〜39……周辺機器
40……コンピュータ
42……演算装置
43……記憶装置
44……表示装置
131……X−Y座標
132……第一次グラフ線
134、134a、134b……第二次グラフ線
141……時間軸
144a、144b……折線
Claims (8)
- 真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、
前記真空処理部が出力した複数の測定値を、測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、
前記測定値を演算する演算装置と、
前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有する真空処理装置であって、
前記記憶装置には、データ分析プログラムが記憶され、
前記データ分析プログラムは、
前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、
X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻の位置として、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X軸上の位置を求め、前記測定値の大きさからY軸上の位置を求め、前記測定時刻が連続している複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とから第一次グラフ線を生成して前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、
表示した前記第一次グラフ線の前記測定時刻の一つを抽出始点時刻とし、
前記第一次グラフ線の前記測定値のうち、前記測定時刻が前記抽出始点時刻以降の前記測定値を抽出し、
前記抽出始点時刻を前記基準時刻として、抽出した前記測定値と前記測定時刻から、前記X−Y座標上に第二次グラフ線を表示するように構成され、
前記真空処理を行う処理装置を動作させる動作信号と、動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が制御装置から出力され、
前記制御信号は、前記動作を開始する動作開始時刻と前記動作を停止する動作停止時刻と共に前記記憶装置に記憶され、
前記データ分析プログラムは、
前記記憶装置に記憶された前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の、前記基準時刻からの時間である時間軸上換算時刻を求め、
前記表示装置上では、前記X軸と離間した位置に、前記X軸と平行に時間軸を表示し、
前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、
前記表示装置上には、前記時間軸上で、前記動作信号と前記停止信号を示す高さが異なる横線分を有するタイミングチャートで前記制御信号を表示し、
所望の前記動作開始時刻又は前記動作停止時刻を前記抽出始点時刻として指定できるようにし、
前記タイミングチャートの、前記抽出始点時刻よりも遅い時刻の前記動作開始時刻又は前記動作停止時刻を抽出終点時刻として指定して、前記抽出始点時刻と前記抽出終点時刻の間の前記測定時刻に対応した前記測定値を抽出して前記第二次グラフ線を生成する真空処理装置。 - 前記データ分析プログラムは、前記測定値から複数の前記第一次グラフ線を生成して前記表示装置に表示し、
一つの前記第一次グラフ線の前記測定値の一つをその前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻とし、他の前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻を求め、表示した前記第一次グラフ線から前記第二次グラフ線を生成して前記表示装置に表示する請求項1記載の真空処理装置。 - 前記データ分析プログラムは、
表示した前記第二次グラフ線のうち、選択された前記第二次グラフ線を、前記表示装置上で、前記X軸と平行に移動させる請求項2記載の真空処理装置。 - 前記データ分析プログラムは、
移動した前記第二次グラフ線の前記測定値に対応する前記X軸上換算時刻を、移動した前記第二次グラフ線の前記X軸上の移動量を換算した時間修正する請求項3記載の真空処理装置。 - 真空槽内に配置された処理対象物を真空処理する真空処理部と、
前記真空処理部が出力した複数の測定値を、測定時刻と共に前記真空処理と対応付けて記憶する記憶装置と、
前記測定値を演算する演算装置と、
前記演算装置の演算結果を表示する表示装置とを有する真空処理装置の、前記記憶装置に記憶された前記測定値のグラフ線を前記表示装置に表示するグラフ線表示方法であって、
前記記憶装置内に記憶された複数の前記測定値から、グラフ線を表示する測定値が選択されると、選択された前記測定値の前記測定時刻を、所定の基準時刻からの時間であるX軸上換算時刻に換算し、
X−Y座標のX軸上の所定位置を前記基準時刻の位置として、前記X軸上換算時刻から前記測定値の前記X軸上の位置を求め、前記測定値の大きさからY軸上の位置を求め、前記測定時刻が連続している複数の前記測定値の前記X軸上の位置と前記Y軸上の位置とから第一次グラフ線を生成して前記X−Y座標と共に前記表示装置に表示し、
表示した前記第一次グラフ線の前記測定時刻の一つを抽出始点時刻とし、
前記第一次グラフ線の前記測定値のうち、前記測定時刻が前記抽出始点時刻以降の前記測定値を抽出し、
前記抽出始点時刻を前記基準時刻として、抽出した前記測定値と前記測定時刻から、前記X−Y座標上に第二次グラフ線を表示するグラフ線表示方法において、
前記真空処理を行う処理装置を動作させる動作信号と、動作を停止させる停止信号とが含まれる制御信号が制御装置から出力され、
前記制御信号は、前記動作を開始する動作開始時刻と前記動作を停止する動作停止時刻と共に前記記憶装置に記憶され、
前記記憶装置に記憶された前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の、前記基準時刻からの時間である時間軸上換算時刻を求め、
前記表示装置上では、前記X軸と離間した位置に、前記X軸と平行に時間軸を表示し、
前記Y軸と平行な一直線が前記X軸と前記時間軸とに交叉した交点がそれぞれ示す前記X軸上換算時刻と前記時間軸上換算時刻は同じ時刻になるようにして前記動作開始時刻と前記動作停止時刻の前記時間軸上の位置を求め、
前記表示装置上には、前記時間軸上で、前記動作信号と前記停止信号を示す高さが異なる横線分を有するタイミングチャートで前記制御信号を表示し、
所望の前記動作開始時刻又は前記動作停止時刻を前記抽出始点時刻として指定でき、
前記タイミングチャートの、前記抽出始点時刻よりも遅い時刻の前記動作開始時刻又は前記動作停止時刻を抽出終点時刻として指定して、前記抽出始点時刻と前記抽出終点時刻の間の前記測定時刻に対応した前記測定値を抽出して前記第二次グラフ線を生成するグラフ線表示方法。
- 前記データ分析プログラムは、前記測定値から複数の前記第一次グラフ線を生成して前記表示装置に表示し、
一つの前記第一次グラフ線の前記測定値の一つをその前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻とし、他の前記第一次グラフ線の前記抽出始点時刻を求め、表示した前記第一次グラフ線から前記第二次グラフ線を生成して前記表示装置に表示する請求項5記載のグラフ線表示方法。 - 表示した前記第二次グラフ線のうち所望のものを選択させ、選択された前記第二次グラフ線は、前記表示装置上で、前記X軸と平行に移動させる請求項6記載のグラフ線表示方法。
- 移動した前記第二次グラフ線の前記測定値に対応する前記X軸上換算時刻を、移動した前記第二次グラフ線の前記X軸上の移動量修正する請求項7記載のグラフ線表示方法。
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