JP2000333665A - 製造条件決定支援システム、製造条件設定システム並びに製麦工程管理システム - Google Patents

製造条件決定支援システム、製造条件設定システム並びに製麦工程管理システム

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JP2000333665A
JP2000333665A JP14397699A JP14397699A JP2000333665A JP 2000333665 A JP2000333665 A JP 2000333665A JP 14397699 A JP14397699 A JP 14397699A JP 14397699 A JP14397699 A JP 14397699A JP 2000333665 A JP2000333665 A JP 2000333665A
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Hiroshi Itagaki
洋 板垣
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 同一工程における複数の数値項目の値に影響
を及ぼすような共通の変数を製造条件として有する製造
工程における、製造条件決定支援が可能な製造条件決定
支援システムを提供すること。 【解決手段】 過去に製造した製品の共通の変数及び制
御対象数値項目の履歴をデータベースに記録し、このデ
ータベースから必要なデータを抽出し、製造工程の1つ
以上の期間について、共通の変数の値と選択された複数
の制御対象数値項目の値との関係を表す、共通の変数を
同じ軸にプロットした複数のグラフを工程の期間毎に作
成し、かつこの複数のグラフを期間毎に縦に並べて表示
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は異なる原料から均一
な特性を有する最終製品を製造するための製造工程にお
いて、製造条件の最適な設定値の決定を支援する製造条
件決定支援システムに関し、特に、製麦工程における温
度のように、ある項目の値を制御するために変動させる
と他の項目の値も変化するような設定値を有するような
製造工程に適した製造条件決定支援システムに関する。
【0002】本発明はまた、上述のシステムで決定した
設定値を、製造工程を構成する装置に設定する機能を有
する製造条件設定システムに関する。
【0003】
【従来の技術】ビール製造のための麦芽を製造する製麦
工程は、麦芽原料となる麦を水に浸漬し(浸麦工程)、
麦を発芽させ、麦の持つ酵素の活性化と、細胞壁、タン
パク質、澱粉の分解を行う工程(発芽工程)、発芽した
麦を貯蔵保管ができるまで麦の水分を低下させ、麦芽特
有の色と香り付けを行う工程(焙燥工程)とから構成さ
れる。この製麦工程において、浸麦、発芽中の水分、温
度及び焙燥条件を調整することにより、ビールの醸造工
程で必要とされる麦芽の品質をコントロールしている。
しかしながら、このビール醸造に使用される麦は、多数
の品種があり、その品種ごとに成分は異なっている。ま
た同一品種の麦であっても、麦が生産された産地または
年度によってもその成分が異なっている。このような成
分が異なる麦をそれぞれの麦にあった製造処方で麦芽を
製造することにより、最終製品である麦芽品質を一定の
目標品質内に調整している。このような製麦工程で使用
される麦の品種ごとの製麦処方はこれまでの製造履歴か
ら作成している。
【0004】これまで、この製麦処方は、製麦条件及び
麦芽の品質分析値を人手により収集・蓄積・解析してい
たため、任意の分析項目を自由に抽出し解析を行った
り、解析結果を工程ヘフィードバックするには時間を要
していた。特に、仕掛かり途中の麦芽の製造条件と麦芽
品質データを分析し、その後の処方を変更することは困
難であった。
【0005】一方、加工処理履歴と実績データを処理し
て最適な処方を得る方法及び装置として、特開平4‐6
9915には、製造設備がこれまでの生産品に対してど
のような加工処理を行い、その結果どうなったかを自動
的に記録、もしくは人手により収集し、蓄積しておき、
将来過去と同じ生産品を製造する際、過去のデータから
品種、工程、条件で検索し、時系列的に図式化して表す
ことにより、初期設定値を効率よく決定する手法が記載
されている。
【0006】また、特開平4‐319765には、製造
装置の処理データを過去の処理データから検索して得ら
れたデータと関連づけしてデータベースに登録し、最適
レシピ策定手段により、前後の工程を考慮してレシピ管
理データベースを分析して歩留まり予測及び他の製造装
置のレシピとの相関をシミュレーションして最適な製造
装置のレシピを策定する製造装置のレシピ自動設定方法
が記載されている。
【0007】さらに、特公平6‐16475には、物品
が通過してきた各工程で加工装置がどのような処理を
し、その処理がどの程度正確に行われたか等を自動的又
は人によりデータ収集し、これを蓄積及びシミュレーシ
ョンすることにより、現在製造中の半導体チップ等の物
品に対する、次工程以降における製造条件の最適値を過
去の統計的データ及びシミュレーションによる論理予測
データから求め、設定する半導体製造設備における条件
設定方法がそれぞれ開示されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
公知技術はいずれも、ある1つの工程のある1つの条件
について過去のデータを時系列に従って表示したり、前
後の工程との関係を考慮して設定値を決定する方法に関
するものであって、ある条件を変化させることによる、
同一工程中の他の条件がどのように変動するかについて
は何ら考慮されていない上、他の条件に対する影響を知
る手段も用意されていない。
【0009】製麦工程のような、管理すべき対象となる
数値項目(制御対象数値項目)が複数あり、しかもそれ
らが共通の変数を有する場合には、ある数値項目の値を
調整するために共通変数の値を変化させると、他の数値
項目の値も変動する。そのため、このような製造工程に
おける製造条件設定(変数値の設定)を支援する方法に
は、複数の数値項目に共通の変数を変化させた場合に、
各数値項目の値がどのように変化するかを考慮しながら
共通変数の値を決定できるような仕組みが必要である。
しかしながら、従来知られていた技術においては、この
ような仕組みを備えたものは存在していなかった。
【0010】本発明の目的は、同一工程における複数の
数値項目の値に影響を及ぼすような共通の変数を製造条
件として有する製造工程における製造条件決定支援が可
能な製造条件決定支援システムを提供することにある。
【0011】また、本発明の別の目的は、上述の製造条
件決定支援システムによって決定した設定値を、この設
定値に関係する製造設備に設定することが可能な製造条
件設定システムを提供することにある。
【0012】さらに本発明の別の目的は、本発明による
製造条件決定支援システム又は製造条件設定システムを
用いた製麦工程管理システムを提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明の要旨
は、共通の変数を有する複数の制御対象数値項目を有す
る製品の製造条件の決定を支援する製造条件決定支援シ
ステムであって、過去に製造した製品の共通の変数及び
制御対象数値項目の履歴を記録したデータベース手段
と、データベース手段から必要なデータを抽出し、製造
工程の1つ以上の期間について、共通の変数の値と選択
された複数の制御対象数値項目の値との関係を表す、共
通の変数を同じ軸にプロットした複数のグラフを期間毎
に作成し、かつこの複数のグラフを期間毎に縦に並べて
表示するデータ編集手段とを有することを特徴とする製
造条件決定支援システムに存する。
【0014】また、本発明の別の要旨は、共通の変数を
有する複数の制御対象数値項目を有する製品の製造条件
の設定を行う製造条件設定システムであって、複数の制
御対象数値項目に関するデータを収集又は入力するデー
タ入力手段と、過去に製造した製品の共通の変数及び制
御対象数値項目の履歴を記録したデータベース手段と、
データ入力手段からのデータを所定の条件によりデータ
ベース手段に登録するデータ登録手段と、データベース
手段から必要なデータを抽出し、製造工程の1つ以上の
期間について、共通の変数の値と選択された複数の制御
対象数値項目の値との関係を表す、共通の変数を同じ軸
にプロットした複数のグラフを期間毎に作成し、かつこ
の複数のグラフを期間毎に縦に並べて表示するデータ編
集手段と、共通の変数に対する設定値を指示する設定値
指示手段と、この設定値指示手段によって指示された設
定値を、共通の変数を制御するのに必要な外部機器に対
して設定する設定手段とを有することを特徴とする製造
条件設定システムに存する。
【0015】また、本発明の別の要旨は、上述の製造条
件設定支援システム又は、製造条件設定システムを用い
た製麦工程管理システムに存する。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて図面を参照して説明する。 (ハードウェア構成)図1は、本発明による製造条件設
定システムの構成例を示すブロック図である。本実施形
態では、製麦工程を管理する製麦工程管理システムの条
件設定に関する構成として、本発明の製造条件設定シス
テムを用いた場合を例にして説明する。
【0017】製造条件設定システムは、制御装置1と、
それに接続された表示装置2、入力装置3、製造工程に
おいて設定する共通の変数毎にその値を記録、蓄積する
製造条件データベース(DB)4及び制御対象数値項目
として製造に用いる材料に関係したデータを記録、蓄積
する品質データベース(DB)5とから構成されてい
る。また、制御装置1はさらに、データ収集部11、条
件設定部12及び制御部13を有している。
【0018】制御装置1は例えば外部機器との接続イン
タフェースを有する汎用のコンピュータ装置により実現
でき、また製造条件DB4及び品質DB5はそれぞれハ
ードディスクドライブや光(磁気)ディスクなどの記憶
装置により実現できる。
【0019】本発明の特徴となるデータの解析、表示方
法を説明する前に、本システムの基本的な動作を説明す
る。データ収集部11は、製造設備の所定の工程におけ
る所定の条件を測定する各種センサなどに接続され、継
続的又は定期的にデータを取得し、そのデータを制御部
13へ出力する。制御部13は、キーボード、マウス、
バーコードリーダー等の入力デバイスの1つ又は組み合
わせから構成される入力装置3からの入力データ及び/
又はデータ収集部11から受信したデータをその内容に
応じて製造条件DB4又は品質DB5に振り分け、蓄積
する。
【0020】一方、制御部13は、入力装置3からの指
示により、あるいは時間など所定の条件により、製造条
件DB4及び品質DB5に蓄積したデータを解析して所
定の情報を表示装置2に表示する。そして、入力装置3
を介してユーザから与えられる指示に従って表示内容を
変化させ、条件の設定指示があった場合には条件設定部
12を介して設定対象となる製造装置の制御部に対して
パラメータなどの設定を行う。パラメータの設定は制御
部13により行っても、ユーザが直接製造装置の制御パ
ネル等から入力しても良い。
【0021】(データ解析、表示処理)次に、本発明の
特徴であるデータ解析及び表示処理について説明する。
本実施形態は製麦工程の「発芽工程」において、製造条
件DB4に温度データを、品質DB5に原料である麦の
ロット番号、麦芽のエキス分、フライアビリティ(麦芽
の破砕度)、ジアスターゼ力(DP)、麦汁粘度、コー
ルバッハ数(KI)等、通常の麦芽の品質分析時に使用
される分析項目のデータを入力するものとする。
【0022】製麦の各工程において計測または分析され
た温度データはデータ収集部11から、麦芽品質データ
は、入力装置3から入力され、温度データは製造条件D
B4に、麦芽品質データは品質DB5に麦芽の製造ロッ
トごとにそれぞれ保存・蓄積される。
【0023】製造条件DB4及び品質DB5に記憶され
たデータは、制御部13によって加工され、表示装置2
に表示される。例えば、品質DB5である特定の麦品種
で製造したロットを抽出し、製造条件DB4からそのロ
ットに対応した温度データを読み出し、時間による変化
を表示する。図2は、ある品種の麦を用いたロットにつ
いて、発芽初期から発芽終期までの温度履歴をグラフ化
して、表示した例を示す。
【0024】同様に、図3は、品質DB5に蓄積された
麦芽品質データを、入力項目である麦芽のフライアビリ
ティ(麦芽の軟弱度)FRIに着目し、ロット毎の変動
をグラフ化して表示した例を示す。もちろん、同様の表
示を他の項目について行うことも可能である。
【0025】あるいは、2つのデータベースのデータを
同時に用いて、その解析結果をグラフ化することもでき
る。図5は、ある品種をキーとして、製造条件DB4か
らは温度データを、品質DB5からは各種項目の値をそ
れぞれ抽出し、対応付けして作成した相関図を表示した
例を示す。すなわち、過去ある品種の麦を用いて製造し
た際の、ある時点又は期間(この場合は発芽中期)にお
ける平均温度によって、最終的に得られた麦芽の「エキ
ス」「DP(ジアスターゼカ)」「FRI(フライアビ
リティ)」「麦汁粘度」の分析項目について、どのよう
な値になったかをグラフ化し、かつ共通の尺度である温
度を横軸にし、スケールを統一して並べて表示した場合
を示す。
【0026】このように、本発明のシステムによれば、
記録・蓄積したデータを任意の観点から構成し、表示す
ることが可能であるが、特に図5に示すように、共通の
変数を用いて複数の項目について同時に表示することに
より、ある項目について条件を変化させて値を制御しよ
うとした場合、その条件変化が他の項目に与える影響を
一目で理解することができる。
【0027】図5の例は製麦工程のある1つの期間につ
いて着目したものであるが、この表示をさらに時系列的
に並べて表示することによって、さらに工程全体を見渡
しながら条件設定を行うことが可能になる。
【0028】図4は、ある麦品種について発芽工程2日
目の水分条件及び、発芽初期、高温期、中期、終期での
温度条件によって、各種管理項目の値がどのように変化
するかを同一画面内に表示した場合の例を示す。具体的
には、工程ごとの製造条件として「2日目水分」「発芽
初期平均温度」「発芽高温期平均温度」「発芽高温期最
高温度」「発芽中期平均温度」「発芽終期平均温度」
「発芽終期最高温度」を、麦芽分析項目として「2日目
発芽率」「2日目水分」「エキス」「DP(ジアスター
ゼカ)」「FRI(フライアビリティ)」「麦汁粘度」
「KI(コールバッハ数)」「色度」「収得率」をそれ
ぞれ表示した場合を示している。なお、図4において
は、製図の便宜上各グラフの軸に記載される目盛りは省
略してある。
【0029】また、図5及び図4に示されるように、各
製造工程における最適値の設定を容易にするために指示
軸Aを表示する。この指示軸は製造条件ごとに作成さ
れ、図4に記載の例では、2日目水分〜発芽最終最高温
度までの7条件についてAl〜A7の補助指示軸が表示
される。各条件における製麦処方の最適値を求める時に
は、マウス等の入力装置3を用いてこの指示軸を例えば
表示装置の画面上で左右に移動させることにより、最適
値(この場合は最適温度)を選択することができる。
【0030】すなわち、図5を用いて説明すると、指示
軸Aは21.6℃に設定されており、この補助指示軸に
沿って、各分析項目の回帰曲線との交点の値を見ること
により、発芽中期平均温度が21.6℃であった場合の
最終製品麦芽の「エキス」「DP」「FRI」「麦汁粘
度」の値をシュミレーションすることができる。また、
この指示軸Aは自由に左右に移動させることができ、こ
の補助指示軸Aを移動させることにより、発芽中期平均
温度の温度条件を変更した場合の最終製品麦芽の「エキ
ス」「DP」「FRI」「麦汁粘度」の値の変化をシュ
ミレーションすることができる。
【0031】図5においては、「発芽中期平均温度」に
対する「エキス」「DP」「FRI」「麦汁粘度」の結
果について説明を行ったが、図4に記載したすべての条
件及び指示軸Al〜A7においても同様の処理を行うこ
とができることはもちろん、品質DB5及び製造条件D
B4に記録・蓄積するデータ項目に応じて任意の解析を
行うことができる。
【0032】シミュレーションの結果得られた最適条件
は、例えば表示装置上に表示されたグラフィカルユーザ
インタフェース(図示せず)を介して、直ちに製造設備
の条件として設定するように指示を行っても良いし、あ
るいは条件を設定する時間を指定し、その時間になった
ら条件を設定するようにしても良い。いずれにせよ、制
御部13は条件設定指示を受けると、条件設定部12を
介して、制御の対象となる製造装置に対してリモートで
条件を設定する。製造装置側がリモートによる条件設定
を受け付けない場合や、手動による設定を希望する場合
には、ユーザが最適条件を直接製造装置に入力すること
により設定すればよい。
【0033】なお、データをグラフ化して表示する際に
は、図5及び図4に示すように、各グラフの大きさのば
らつきは小さい方が好ましい。縦軸となる分析項目の値
の幅は項目により異なるため、制御部13は、同時に表
示する項目数(及び工程数)と表示画面の大きさなどを
考慮して、縮尺を適当に調節して表示を行う。また、横
軸にプロットする数値範囲は、予め指定しておいても良
いし、表示対象となるデータの範囲から自動的に調節す
るようにしても良い。
【0034】
【他の実施形態】なお、上述の実施形態においては、製
造条件DB4に記録する製造条件として、温度を用いた
場合を説明したが、言うまでもなく他の任意の条件を同
時に記録しても良い。同様に、品質DB5に記録する分
析項目についても数、種類とも任意である。
【0035】また、製麦工程に限らず、ある分析項目の
値を制御するための製造条件であって、その条件を変動
させた場合に同工程の他の分析項目の値に影響を及ぼす
ような製造条件を有する製造工程であれば、本発明のシ
ステムによる顕著な効果を享受することが可能である。
【0036】また、説明の便宜上データを蓄積するデー
タベースを別個の物として記載したが、製造条件DB4
及び品質DB5に対応するテーブルを有する1つのデー
タベースであってもよい。
【0037】また、上述の実施形態においてはデータ収
集部11や条件設定部12を有するシステムを例にして
説明したが、これらは必ずしも必要はなく、過去のデー
タが蓄積されたデータベースと、このデータベースから
所定の条件でデータを抽出、解析する手段と、その結果
を表示する手段が最低限あれば本発明の効果を得ること
ができる。すなわち、上述の実施形態において、データ
収集・入力機能、条件設定機能を有さない構成を製造条
件決定支援システムとして構成することができる。その
場合には、入力装置から入力された所定の条件によって
製造条件DB4及び品質DB5のデータを元に上述の表
示動作を行うことになる。決定した設定値はユーザが関
係する装置に手入力すればよい。
【0038】また、上述の実施形態においては、1つの
グラフで1つの分析項目を表す場合を説明したが、見づ
らくならない範囲であれば、1つのグラフに複数の分析
項目のデータを表示しても良い。
【0039】また、上述の実施形態においては、製麦工
程の「発芽工程」を例として図4及び図5を記載した
が、製麦工程における「浸麦工程」及び「焙燥工程」に
ついても本発明によるシステムを適用することができ
る。具体的には、工程中に浸漬(水張り)と空浸(水切
り)が複数回繰り返して行われる「浸麦工程」について
適用する場合には、この複数回の浸漬及び空浸ごとの
「浸麦時間」「浸麦温度」「浸麦水溶存酸素濃度」を製
造条件としてグラフをプロット、表示すればよい。その
際、それぞれの条件について図4に示した分析項目に加
えて「浸麦度」や「スピッツェン率(発芽率)」を表示
することもできる。
【0040】
【発明の効果】上述したように、本発明の製造条件設定
システムによれば、蓄積された品質データベース、製造
条件データベースを任意の原料品種に対して、任意の分
析項目について解析し、その結果を視覚的に確認でき
る。また、同じ工程期間における複数の分析項目につい
ての同じ大きさのグラフを、共通の変数を同じ軸にプロ
ットして作成し、更に縦に並べて表示することにより、
共通の変数を変化させた場合に、各分析構目がどのよう
に変動するかを一目で理解することができる。特に製麦
工程のように、種類は同じであってもその品質が一定で
ない材料を用い、かつ複数の分析項目が共通の変数を有
するような製造工程において、均一な最終製品を得るの
にきわめて有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る製造条件設定システム
の構成例を示すブロック図である。
【図2】製造工程データ解析図の表示例を示す図であ
る。
【図3】本発明の実施例で用いた麦芽品質データ解析図
である。
【図4】本発明の製造条件設定システムにおける、分析
項目の表示例を示す図である。
【図5】本発明の製造条件設定システムにおける、分析
項目の表示例を示す図である。
【符号の説明】
1 制御装置 2 表示装置 3 入力装置 4 製造条件データベース 5 品質データベース 11 データ収集部 12 条件設定部 13 制御部

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 共通の変数を有する複数の制御対象数値
    項目を有する製品の製造条件の決定を支援する製造条件
    決定支援システムであって、 過去に製造した前記製品の前記共通の変数及び前記制御
    対象数値項目の履歴を記録したデータベース手段と、 前記データベース手段から必要なデータを抽出し、製造
    工程の1つ以上の期間について、前記共通の変数の値と
    選択された複数の前記制御対象数値項目の値との関係を
    表す、前記共通の変数を同じ軸にプロットした複数のグ
    ラフを前記期間毎に作成し、かつこの複数のグラフを前
    記期間毎に縦に並べて表示するデータ編集手段とを有す
    ることを特徴とする製造条件決定支援システム。
  2. 【請求項2】 前記同じ軸にプロットされる前記共通の
    変数の範囲が前記期間毎に前記複数のグラフで共通して
    いることを特徴とする請求項1記載の製造条件決定支援
    システム。
  3. 【請求項3】 前記データ編集手段が、前記複数のグラ
    フの全てを縦断し、水平方向に移動可能なガイド線を前
    記複数のグラフに重畳して表示することを特徴とする請
    求項1又は請求項2に記載の製造条件決定支援システ
    ム。
  4. 【請求項4】 前記期間毎の前記複数のグラフの数が、
    前記選択された複数の前記制御対象数値項目の数と等し
    いことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに
    記載の製造条件決定支援システム。
  5. 【請求項5】 共通の変数を有する複数の制御対象数値
    項目を有する製品の製造条件の設定を行う製造条件設定
    システムであって、 前記複数の制御対象数値項目に関するデータを収集又は
    入力するデータ入力手段と、 過去に製造した前記製品の前記共通の変数及び前記制御
    対象数値項目の履歴を記録したデータベース手段と、 前記データ入力手段からのデータを所定の条件により前
    記データベース手段に登録するデータ登録手段と、 前記データベース手段から必要なデータを抽出し、製造
    工程の1つ以上の期間について、前記共通の変数の値と
    選択された複数の前記制御対象数値項目の値との関係を
    表す、前記共通の変数を同じ軸にプロットした複数のグ
    ラフを前記期間毎に作成し、かつこの複数のグラフを前
    記期間毎に縦に並べて表示するデータ編集手段と、 前記共通の変数に対する設定値を指示する設定値指示手
    段と、 この設定値指示手段によって指示された前記設定値を、
    前記共通の変数を制御するのに必要な外部機器に対して
    設定する設定手段とを有することを特徴とする製造条件
    設定システム。
  6. 【請求項6】 前記同じ軸にプロットされる前記共通の
    変数の範囲が前記期間毎に前記複数のグラフで共通して
    いることを特徴とする請求項5記載の製造条件設定シス
    テム。
  7. 【請求項7】 前記データ編集手段が、前記複数のグラ
    フの全てを縦断し、水平方向に移動可能なガイド線を前
    記複数のグラフに重畳して表示することを特徴とする請
    求項5又は請求項6に記載の製造条件設定システム。
  8. 【請求項8】 前記設定値指示手段が、前記ガイド線を
    用いて前記設定値を指示することを特徴とする請求項5
    乃至請求項7のいずれかに記載の製造条件設定システ
    ム。
  9. 【請求項9】 前記期間毎の前記複数のグラフの数が、
    前記選択された複数の前記制御対象数値項目の数と等し
    いことを特徴とする請求項5乃至請求項8のいずれかに
    記載の製造条件設定システム。
  10. 【請求項10】 請求項1乃至請求項4のいずれかに記
    載の製造条件設定支援システム又は、請求項5乃至請求
    項9のいずれかに記載の製造条件設定システムを用いた
    製麦工程管理システム。
  11. 【請求項11】 前記共通の変数が温度であることを特
    徴とする請求項10記載の製麦工程管理システム。
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