JP4957723B2 - 多層セラミック基板およびその製造方法ならびに電子部品 - Google Patents

多層セラミック基板およびその製造方法ならびに電子部品 Download PDF

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Description

この発明は、多層セラミック基板およびその製造方法ならびに多層セラミック基板を備える電子部品に関するもので、特に、多層セラミック基板の強度を向上させるための改良に関するものである。
この発明にとって興味ある多層セラミック基板が、たとえば特開平6−29664号公報(特許文献1)に記載されている。特許文献1には、ガラスと残部が結晶質とからなる低温焼成多層セラミック基板であって、その最外層の熱膨張係数を内層の熱膨張係数より小さくし、かつ表裏の最外層の厚みの合計を内層の厚みより小さくしたものが記載されている。このような構成を採用することにより、焼成後の冷却過程において、表裏の最外層に圧縮応力が生じるため、多層セラミック基板の抗折強度が向上するとされている。
しかしながら、上述した特許文献1に記載の多層セラミック基板には、次のような解決されるべき課題がある。
まず、最外層と内層との間での熱膨張係数の差を単に大きくするだけでは、最外層と内層との境界部での応力が大きくなり、境界部において剥がれ(デラミネーション)やボイドなどの欠陥が発生する場合がある。特許文献1では、熱膨張係数の差が0.4ppmK−1である実施例と0.6ppmK−1である実施例とが示されている。これら実施例が有する組成と熱膨張係数の差の組み合わせによれば、確かに、特許文献1において主張されている効果が得られる。しかし、特許文献1には、熱膨張係数の差の制約については特に記載されていない。
そのため、この特許文献1に記載の構成を採用しながらも、熱膨張係数の差が大きくなると、確かに、最外層と内層との境界部での応力が大きくなるが、この境界部での接合力が十分でなければ、応力に十分耐えられずに、境界部で剥がれやボイドなどの欠陥が発生する場合がある。
また、多層セラミック基板は、反り量が少ない方が、基板表面への部品実装や、親基板への実装などの工程を、高い信頼性をもって進める上で好ましい。また、基板表面への部品実装や樹脂コーティングなどを施した場合には、はんだまたは接着剤あるいはコーティング樹脂の収縮により引っ張られて多層セラミック基板が反るという問題に遭遇することがある。しかしながら、特許文献1に記載の実施例で示された最外層と内層との間での熱膨張係数の差では、このような差を設けない場合と比較して、反り量に関しては、有意差は見られない。
特開平6−29664号公報
そこで、この発明の目的は、上述したような問題を解決し、強度がより高められ、かつ反りが抑制された、多層セラミック基板を提供しようとすることである。
この発明の他の目的は、上述した多層セラミック基板を製造するための好ましい方法を提供しようとすることである。
この発明のさらに他の目的は、上述した多層セラミック基板を備える電子部品を提供しようとすることである。
この発明は、表層部と内層部とからなる積層構造を有する、多層セラミック基板にまず向けられるものであって、上述した技術的課題を解決するため、表層部の熱膨張係数は、内層部の熱膨張係数より小さく、かつ、内層部の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上であり、表層部を構成する材料と内層部を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上であることを特徴としている。
表層部の熱膨張係数は、内層部の熱膨張係数との差が4.3ppmK−1以下であることが好ましい。
表層部を構成する材料は、SiOおよびMO(ただし、MOは、CaO、MgO、SrOおよびBaOから選ばれた少なくとも1種)を含むガラスを含み、SiO:MO=23:7〜17:13であり、内層部を構成する材料は、SiOおよびMOを含むガラスを含み、SiO:MO=19:11〜11:19であることが好ましい。
上述の場合、表層部を構成する材料に含まれるガラスに含まれるSiOは34〜73重量%であり、内層部を構成する材料に含まれるガラスに含まれるSiOは22〜60重量%であることがより好ましい。
また、表層部を構成する材料に含まれるガラスは、34〜73重量%のSiOと、14〜41重量%のMOと、0〜30重量%のBと、0〜30重量%のAlとを含み、内層部を構成する材料に含まれるガラスは、22〜60重量%のSiOと、22〜60重量%のMOと、0〜20重量%のBと、0〜30重量%のAlとを含むことがより好ましい。
また、表層部を構成する材料は、フィラーとしてのAlを30〜60重量%含み、内層部を構成する材料は、フィラーとしてのAlを40〜70重量%含むことがより好ましい。
この発明は、また、上述のような多層セラミック基板を製造する方法にも向けられる。
この発明に係る多層セラミック基板の製造方法では、まず、表層用セラミックグリーンシート、内層用セラミックグリーンシート、ならびに、表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートが焼結する温度では焼結しない無機材料を含む、拘束用セラミックグリーンシートがそれぞれ用意される。
次いで、少なくとも1つの内層用セラミックグリーンシートを積層方向に挟むように、それぞれ、少なくとも1つの表層用セラミックグリーンシートを配置し、さらに、その外側に少なくとも1つの拘束用セラミックグリーンシートを配置することによって、複合積層体を作製する工程が実施される。
次に、複合積層体は、表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートが焼結するが、拘束用セラミックグリーンシートが焼結しない温度で焼成される。これによって、表層用セラミックグリーンシートに由来する表層部の熱膨張係数が、内層用セラミックグリーンシートに由来する内層部の熱膨張係数より小さく、かつ、内層部の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上であり、表層部を構成する材料と内層部を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上である、焼成後の複合積層体が得られる。
次いで、焼成後の複合積層体に備える、拘束用セラミックグリーンシートに由来する部分が複合積層体から除去される。
この発明は、さらに、前述したような多層セラミック基板を備える電子部品にも向けられる。
この発明に係る多層セラミック基板によれば、表層部の熱膨張係数が内層部の熱膨張係数より小さいので、特許文献1の場合と同様、焼成後の冷却過程で表層部に圧縮応力が発生し、その結果、多層セラミック基板の抗折強度を高めることができる。
また、この発明に係る多層セラミック基板によれば、表層部の熱膨張係数と内層部の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上であるので、反りを抑制することができる。これは、熱膨張係数の差を1.0ppmK−1以上と大きくすることにより、多層セラミック基板を反らせるように作用する面内方向の応力が、熱膨張係数の差に起因して表裏面の面内方向に作用する応力に比べて相対的に小さくなる結果、反りが矯正されるためであると推測される。
さらに、この発明に係る多層セラミック基板によれば、表層部を構成する材料と内層部を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上であるので、表層部と内層部との間で十分な接合力を得ることができる。したがって、前述したように、表層部と内層部との熱膨張係数の差が1.0ppmK−1以上と大きくなっても、剥がれ(デラミネーション)やボイドなどの欠陥を抑制することができる。
この発明に係る多層セラミック基板において、表層部と内層部との熱膨張係数の差が4.3ppmK−1以下であると、熱膨張係数の差が起因する剥がれやボイドなどの欠陥をより確実に抑制することができる。
この発明に係る多層セラミック基板の製造方法によれば、焼成時において、拘束用セラミックグリーンシートを両主面上に配置した複合積層体を焼成するようにしているので、表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートの焼成時における各主面方向での収縮を抑制することができる。そのため、多層セラミック基板の不所望な変形を抑制し、寸法精度を高めることができるばかりでなく、焼成時において、表層部と内層部との間で剥がれをより生じにくくすることができる。
この発明の一実施形態による多層セラミック基板1を備える電子部品2を示す正面図であり、多層セラミック基板1について断面図で示している。 図1に示した多層セラミック基板1の製造の途中で作製される複合積層体21を示す断面図である。
符号の説明
1 多層セラミック基板
2 電子部品
3 内層部
4 表層部
6 内層部セラミック層
7,8 表層部セラミック層
21 複合積層体
22 内層用セラミックグリーンシート
23,24 表層用セラミックグリーンシート
25,26 拘束用セラミックグリーンシート
図1は、この発明の一実施形態による多層セラミック基板1を備える電子部品2を示す正面図であり、多層セラミック基板1については断面図で示している。
多層セラミック基板1は、内層部3ならびに内層部3を積層方向に挟むように位置する第1および第2の表層部4および5とからなる積層構造を有している。内層部3は、少なくとも1つの内層部セラミック層6をもって構成され、第1および第2の表層部4および5は、それぞれ、少なくとも1つの表層部セラミック層7および8をもって構成されている。
多層セラミック基板1は、配線導体を備えている。配線導体は、たとえばコンデンサまたはインダクタのような受動素子を構成したり、あるいは素子間の電気的接続のような接続配線を行なったりするためのもので、典型的には、図示したように、いくつかの導体膜9〜11ならびにいくつかのビアホール導体12をもって構成される。
導体膜9は、多層セラミック基板1の内部に形成される。導体膜10および11は、それぞれ、多層セラミック基板1の一方主面上および他方主面上に形成される。ビアホール導体12は、導体膜9〜11のいずれかと電気的に接続されかつセラミック層6〜8のいずれか特定のものを厚み方向に貫通するように設けられる。
多層セラミック基板1の一方主面上には、外部導体膜10に電気的に接続された状態で、チップ部品13および14が搭載される。これによって、多層セラミック基板1を備える電子部品2が構成される。多層セラミック基板1の他方主面上に形成された外部導体膜11は、当該電子部品2を図示しないマザーボード上に実装する際の電気的接続手段として用いられる。
このような電子部品2に備える多層セラミック基板1において、表層部4および5の熱膨張係数は、内層部3の熱膨張係数より小さく、かつ、内層部3の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上である。また、表層部4および5を構成する材料と内層部3を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上である。
このような特徴的構成が採用されることにより、多層セラミック基板1に高い抗折強度を与えることができるとともに、多層セラミック基板1の反りを効果的に抑制でき、さらには、表層部4および5と内層部3との界面において剥がれやボイドなどの欠陥を生じにくくすることができる。
特に、反りについては、この発明に従って、表層部4および5において面内方向の圧縮応力を作用させておく方法を採った場合、表層部4および5の熱膨張係数と内層部3の熱膨張係数との差を1.0ppmK−1以上とすることにより、多層セラミック基板1の反りを大きく低減できることがわかった。すなわち、反り量と熱膨張係数差との関係は、熱膨張係数差が1.0ppmK−1未満のところでは、反り量はほぼ一定の値をとり、1.0ppmK−1付近で、反り量が大きく変化してほぼ零に近くなり、1.0ppmK−1以上では、ほぼ一定であることがわかった。これは、多層セラミック基板1を反らせるように作用する面内方向の応力が、熱膨張係数差に起因して表裏面の面内方向に作用する応力に比べて相対的に小さくなる結果、反りが矯正されるためであると推測される。
また、多層セラミック基板1の表面に部品実装や樹脂コーティングなどを施した場合には、はんだや接着剤、あるいはコーティング樹脂の収縮により引っ張られて多層セラミック基板1が反るという問題がある。この問題に対しても、表層部4および5において面内方向の圧縮応力を作用させておく方法を採った場合、表層部4および5の熱膨張係数と内層部3の熱膨張係数との差を1.0ppmK−1以上とすることにより、多層セラミック基板1の反りを大きく低減できることがわかった。すなわち、反り量と熱膨張係数差との関係は、熱膨張係数差が1.0ppmK−1未満のところでは、反り量は熱膨張係数差の増加とともに減少し、1.0ppmK−1以上では、ほぼ一定であることがわかった。これについても、多層セラミック基板1を反らせるように作用する面内方向の応力が、熱膨張係数差に起因して表裏面の面内方向に作用する応力に比べて相対的に小さくなる結果、反りが矯正されるためであると推測される。
なお、表層部4および5の熱膨張係数は、内層部3の熱膨張係数との差が4.3ppmK−1以下とされることが好ましい。これによって、熱膨張係数の差に起因する、表層部4および5と内層部3との境界部でのデラミネーションやボイドなどの欠陥をより確実に生じにくくすることができる。
表層部4および5を構成する材料は、SiOおよびMO(ただし、MOは、CaO、MgO、SrOおよびBaOから選ばれた少なくとも1種)を含むガラスを含み、SiO:MO=23:7〜17:13であり、内層部3を構成する材料は、SiOおよびMOを含むガラスを含み、SiO:MO=19:11〜11:19であることが好ましい。
より好ましくは、表層部4および5を構成する材料に含まれるガラスに含まれるSiOは34〜73重量%であり、内層部3を構成する材料に含まれるガラスに含まれるSiOは22〜60重量%である。
上述したような好ましい組成およびその含有量は、ホウケイ酸ガラス系の材料を用いて、表層部4および5と内層部3との熱膨張係数の差を1.0ppmK−1以上設け、共通する成分の重量比率を75重量%以上とするのに適している。
ガラス中に含まれるSiO成分は、熱膨張係数を下げることに寄与し、MO成分は、熱膨張係数を上げることに寄与する。
また、焼成過程でガラスから適量の結晶が析出する方が、機械強度特性の点で有利となるため、ガラス組成は析出結晶組成に近い方が良い。たとえば、SiO−MO−Al−B系のガラスの場合、MAlSiやMSiOの結晶が析出しやすいため、この結晶組成に近くなるように、SiOとMOとの比率を調整するのが好ましい。よって、表層部4および5のガラス組成は、熱膨張係数を下げるため、SiOとMOとの比率は2に近い方が良く、内層部3のガラス組成は、熱膨張係数を上げるためSiOとMOとの比率は1に近い方が良い。
内層部3のガラス組成は、表層部4および5に比べて、MO比率が高くなり、焼成後のめっき処理で浸食を受けやすいが、表面部に露出していないため、致命的なダメージは受けにくい構造になっている。
熱膨張係数の差をより大きくするため、表層部4および5において、ガラス中のSiOを多くしすぎると、焼成時のガラス粘度が十分下がらなくなるため、焼結不良が起きる。MOを多くしすぎると、熱膨張係数の差を十分に取れなくなる。
また、熱膨張係数の差をより大きくするため、内層部3においてガラス中のMOを多くしすぎると、耐湿性が低下するため、絶縁不良が起きる。SiOを多くしすぎると、熱膨張係数の差を十分取れなくなる。
以上のようなことから、ガラス中のSiOとMOとの比率を、表層部4および5と内層部3とにおいてそれぞれ前述したような範囲に選ぶことが好ましい。
表層部4および5を構成する材料に含まれるガラスは、34〜73重量%のSiOと、14〜41重量%のMOと、0〜30重量%のBと、0〜30重量%のAlとを含み、内層部3を構成する材料に含まれるガラスは、22〜60重量%のSiOと、22〜60重量%のMOと、0〜20重量%のBと、0〜30重量%のAlとを含むことがより好ましい。その理由は次のとおりである。
は、焼成時に焼結が円滑に進行するよう、ガラスに適度な粘度を与える。Bが多すぎると、粘度が下がりすぎるため、過焼成となり、表面に気孔が生じて絶縁不良になる。他方、Bが少なすぎると、粘度が高く、焼結不良となる。
Alは、表層部4および5の場合、析出結晶を構成する成分となる。このAlが多すぎても、少なすぎても、結晶析出が起こりにくくなる。
また、Alにより、ガラスの化学的安定性が向上するため、MOが相対的に多い内層部3では、めっき耐性および耐湿性が向上する。熱膨張係数に対しては、AlはSiOとMOとの中間的な寄与をするので、これが多すぎると、熱膨張係数の差が取れなくなる。
表層部4および5を構成する材料は、フィラーとしてのAlを30〜60重量%含み、内層部3を構成する材料は、フィラーとしてのAlを40〜70重量%含むことがより好ましい。その理由は次のとおりである。
Alフィラーは、機械的強度を向上させるのに寄与する。Alフィラーが少なすぎると、十分な強度が得られなくなる。特に、引っ張り応力が働く内層部3では、機械的強度が十分にないと、内層部3から破壊するため、圧縮応力により表層部4および5を強化した効果が十分に得られなくなる。このため、内層部3では、表層部4および5より多くAlフィラーを含み、強度を上げておくことで、より大きな熱膨張係数の差にも耐えるようになり、さらに表層部4および5の強化の効果が得られるようになる。
Alフィラーは、熱膨張係数に対しては、表層部4および5中のガラスと内層部3中のガラスとの中間的な寄与をするので、Alフィラーが多すぎると、熱膨張係数の差が取れなくなる。
なお、フィラーとして、Alのほか、たとえばZrO等の他のセラミックを用いてもよい。
多層セラミック基板1において、表層部4および5の各々の厚みは5〜150μmであることが好ましい。その理由は次のとおりである。
表層部4および5と内層部3との界面において熱膨張係数の差による応力が働く。より詳細には、表層部4および5側では圧縮応力が働き、この圧縮応力は、界面からの距離が大きくなるに従い小さくなる。他方、内層部3側には引っ張り応力が働き、この引っ張り応力は、界面からの距離が大きくなるに従い小さくなる。これは、距離に従い、応力が緩和されることによる。この距離が150μmを超えると、表面には圧縮応力がほぼ作用しなくなり、その効果がほとんど見られなくなるため、表層部4および5の各々の厚みは150μm以下であることが好ましい。
他方、表層部4および5の各々の厚みが5μm未満になると、引っ張り応力が働いているために強度低下した内層部3が表面から5μm未満の表面近傍領域に存在することになる。このため、表面近傍の内層部3から破壊が起こりやすくなり、表層部4および5に圧縮応力を形成することによって強化した効果が見られなくなり、したがって、表層部4および5の各々の厚みは5μm以上であることが好ましい。
上述のような多層セラミック基板1は、好ましくは、次のようにして製造される。
図2は、多層セラミック基板1の製造の途中で作製される複合積層体21を示す断面図である。複合積層体21は、多層セラミック基板1における内層部セラミック層6となるべき内層用セラミックグリーンシート22と、表層部セラミック層7および8とそれぞれなるべき表層用セラミックグリーンシート23および24とを備えるとともに、拘束用セラミックグリーンシート25および26を備えている。また、内層用セラミックグリーンシート22ならびに表層用セラミックグリーンシート23および24に関連して、多層セラミック基板1に備える配線導体としての導体膜9〜11ならびにビアホール導体12が設けられている。
このような複合積層体21を作製するため、内層用セラミックグリーンシート22、表層用セラミックグリーンシート23および24ならびに拘束用セラミックグリーンシート25および26がそれぞれ用意される。表層用セラミックグリーンシート23および24の焼結体の熱膨張係数は、内層セラミックグリーンシート22の焼結体の熱膨張係数より小さく、かつ、内層セラミックグリーンシート22の焼結体の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上となり、表層用セラミックグリーンシート23および24の焼結体を構成する材料と内層セラミックグリーンシート22の焼結体を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上となるように、これらグリーンシート22〜24の各組成が選ばれる。また、拘束用セラミックグリーンシート25および26は、表層用セラミックグリーンシート23および24ならびに内層用セラミックグリーンシート22が焼結する温度では焼結しない無機材料を含む組成とされる。
次に、少なくとも1つの内層用セラミックグリーンシート22を積層方向に挟むように、それぞれ、表層用セラミックグリーンシート23および24を配置し、さらに、その外側に拘束用セラミックグリーンシート25および26をそれぞれ配置することによって、図2に示すような複合積層体21が作製される。
次に、複合積層体21は、表層用セラミックグリーンシート23および24ならびに内層用セラミックグリーンシート22が焼結するが、拘束用セラミックグリーンシート25および26が焼結しない温度で焼成される。その結果、表層用セラミックグリーンシート23および24に由来する表層部4および5(図1参照)の熱膨張係数が、内層セラミックグリーンシート22に由来する内層部3(図1参照)の熱膨張係数より小さく、かつ、内層部3の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上であり、表層部4および5を構成する材料と内層部3を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上である、焼成後の複合積層体21が得られる。
次に、焼成後の複合積層体21において、拘束用セラミックグリーンシート25および26に由来する部分が除去される。これによって、多層セラミック基板1が得られる。
なお、多層セラミック基板1を製造するにあたり、上述のような拘束用セラミックグリーンシート25および26を用いるのではなく、これら拘束用セラミックグリーンシートが無い状態の積層体を焼成するようにしてもよい。
次に、この発明による効果を確認するために実施した実験例について説明する。
[実験例1]
まず、各試料に係る表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートをそれぞれ作製した。
表1に、表層用セラミックグリーンシートに含まれるフィラーとしてのセラミック粉末(この実験例ではAl粉末を使用)の含有量ならびにガラス粉末の組成および含有量が示され、表2に、内層用セラミックグリーンシートに含まれるフィラーとしてのセラミック粉末(Al粉末)の含有量ならびにガラス粉末の組成および含有量が示されている。
Figure 0004957723
Figure 0004957723
表1および表2において、セラミック粉末の含有量を示す数値は、セラミック粉末とガラス粉末との合計を100重量部としたときの重量比を示す。したがって、ガラス粉末の含有量は、セラミック粉末の残部となる。また、ガラス粉末の各成分の含有量を示す数値は「重量%」を単位とするものである。また、「SiO:MO」は、ガラス粉末に含まれるSiOとMO(ただし、MOは、CaO、MgO、SrOおよびBaOから選ばれた少なくとも1種であるが、この実験例では、CaOおよびMgOの少なくとも一方)の比率を示すものであるが、比率を示す数値の合計が30となるように計算している。
表1に示した試料1〜20の各々に係る表層用セラミックグリーンシートおよび表2に示した試料1〜20の各々に係る内層用セラミックグリーンシートを得るために、上述のようなセラミック粉末とガラス粉末と有機溶剤とを混合し、さらに、セラミック粉末およびガラス粉末の合計100重量部に対して、10重量部のブチラール系バインダと1重量部の可塑剤とを加えて、所定の条件にて湿式混合して、スラリーを得た。次いで、得られたスラリーを、ドクターブレード法によりシート状に成形し、各々厚み50μmの表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートをそれぞれ得た。
他方、アルミナ粉末と有機溶剤とを混合し、さらに、アルミナ粉末100重量部に対して、10重量部のブチラール系バインダと1重量部の可塑剤と1重量部の球状セルロースとを加えて、所定の条件にて湿式混合して、スラリーを得た。次いで、得られたスラリーを、ドクターブレード法によりシート状に成形し、厚み50μmの拘束用セラミックグリーンシートを得た。
次に、上記の表層用セラミックグリーンシート、内層用セラミックグリーンシートおよび拘束用セラミックグリーンシートの各々を100mm角の大きさにカットした後、拘束用セラミックグリーンシート1枚、表層用セラミックグリーンシート1枚、内層用セラミックグリーンシート5枚、表層用セラミックグリーンシート1枚、拘束用セラミックグリーンシート1枚の順で積層して複合積層体を作製し、これをプレス機にてプレスした後、870℃の温度で10分間保持する条件で焼成した。次いで、焼成後の複合積層体の表面に粉状に付着している拘束用セラミックグリーンシートに由来する未焼結部分を、超音波洗浄機を用いて除去し、評価用の積層焼結体を得た。
Figure 0004957723
表3には、評価用の積層焼結体における表層部を構成する材料と内層部を構成する材料との間で、共通する成分の重量比率が、表1および表2に示した各成分の含有量から算出されて示されている。
次に、上記の評価用の積層焼結体について、表3に示すように、「熱膨張係数」、「デラミネーション」、「抗折強度」および「反り」の各項目について評価した。
「熱膨張係数」には、「表層部(α1)」および「内層部(α2)」の各々についての測定結果が示されているとともに、「α2−α1」の算出結果も示されている。
「デラミネーション」は、評価用の積層焼結体の断面の顕微鏡観察にて評価したもので、100個の試料について、デラミネーションが1個以上の試料で認められれば「×」と表示し、デラミネーションが認められた試料が0個の場合には「○」と表示した。
「抗折強度」は、3点曲げ法によって測定したもので、「表層部」および「内層部」の各々について測定した結果とともに、積層焼結体全体の抗折強度については、−55℃〜125℃の温度変化を100回及ぼすヒートサイクルの前後それぞれにおいて抗折強度を測定し、ヒートサイクル前のものを「基板(HC前)」の欄に示し、ヒートサイクル後のものを「基板(HC後)」の欄に示した。
「反り」については、得られた積層焼結体の反りをそのまま測定し、これを「A」の欄に示した。また、積層焼結体の一方主面上に、チップ部品の表面実装に用いる接着用樹脂を塗布し、これを加熱硬化させた後に反りを測定し、これを「B」の欄に示した。
表3に示した試料1〜20のうち、試料7〜18および20が、この発明の範囲内のもので、表層部の熱膨張係数(α1)が、内層部の熱膨張係数(α2)より小さく、かつ、内層部の熱膨張係数との差(α2−α1)が1.0ppmK−1以上であり、表層部と内層部とで共通成分の重量比率が75重量%以上であるという条件を満たしている。これら試料7〜18および20によれば、デラミネーションがなく、抗折強度が高く、反りの少ない多層セラミック基板を得ることができる。
試料1〜4では、α2−α1が1.0ppmK−1未満であるため、多層セラミック基板に反りが生じた。
試料5では、表層部と内層部とで共通成分が重量比率の75重量%未満であり、共通成分が著しく少ないため、多層セラミック基板にデラミネーションが発生した。
試料6および19では、表層部と内層部とで共通成分が重量比率の75重量%未満であるため、表層部と内層部との境界部の接合力が不十分となり、ヒートサイクル後の抗折強度が低下した。
[実験例2]
まず、表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートをそれぞれ作製した。
表4に、表層用セラミックグリーンシートに含まれるセラミック原料粉末の組成および含有量が示され、表5に、内層用セラミックグリーンシートに含まれるセラミック原料粉末の組成および含有量が示されている。
Figure 0004957723
Figure 0004957723
試料21〜31の各々に係る表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートを得るため、上述のようなセラミック原料粉末と水とを十分混合し、乾燥後、900℃の温度で60分間熱処理し、熱処理後、有機溶剤を加え、さらに、セラミック原料粉末100重量部に対して、10重量部のブチラール系バインダと1重量部の可塑剤とを加えて、所定の条件にて湿式混合して、スラリーを得た。次いで、得られたスラリーをドクターブレード法によりシート状に成形し、各々厚み50μmの表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートをそれぞれ得た。
次に、上記の表層用セラミックグリーンシートおよび内層用セラミックグリーンシートの各々を100mm角の大きさにカットした後、表層用セラミックグリーンシート1枚、内層用セラミックグリーンシート5枚、表層用セラミックグリーンシート1枚の順で積層して複合積層体を作製し、これをプレス機にてプレスした後、980℃の温度で60分間保持する条件で焼成し、評価用の積層焼結体を得た。
上記の評価用の積層焼結体について、実験例1の場合と同様の評価を行なった。その結果が表6に示されている。
Figure 0004957723
表6において、試料21〜31のうち、試料27〜31がこの発明の範囲内のもので、表層部の熱膨張係数(α1)が、内層部の熱膨張係数(α2)より小さく、かつ、内層部の熱膨張係数との差(α2−α1)が1.0ppmK−1以上であり、表層部と内層部とで共通成分の重量比率が75重量%以上であるという条件を満たしている。これら試料27〜31によれば、デラミネーションがなく、抗折強度が高く、反りの少ない多層セラミック基板を得ることができる。
試料21〜24では、α2−α1が1.0ppmK−1未満であるため、多層セラミック基板に反りが生じた。
試料25では、表層部と内層部とで共通成分が重量比率の75重量%未満であり、共通成分が著しく少ないため、多層セラミック基板にデラミネーションが発生した。
試料26では、表層部と内層部とで共通成分の重量比率が75重量%未満であるため、ヒートサイクル後の抗折強度が低下した。

Claims (8)

  1. 表層部と内層部とからなる積層構造を有する、多層セラミック基板であって、
    前記表層部の熱膨張係数は、前記内層部の熱膨張係数より小さく、かつ、前記内層部の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上であり、
    前記表層部を構成する材料と前記内層部を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上である、
    多層セラミック基板。
  2. 前記表層部の熱膨張係数は、前記内層部の熱膨張係数との差が4.3ppmK−1以下である、請求項1に記載の多層セラミック基板。
  3. 前記表層部を構成する材料は、SiOおよびMO(ただし、MOは、CaO、MgO、SrOおよびBaOから選ばれた少なくとも1種)を含むガラスを含み、SiO:MO=23:7〜17:13であり、
    前記内層部を構成する材料は、SiOおよびMOを含むガラスを含み、SiO:MO=19:11〜11:19である、
    請求項1に記載の多層セラミック基板。
  4. 前記表層部を構成する材料に含まれるガラスに含まれるSiOは34〜73重量%であり、
    前記内層部を構成する材料に含まれるガラスに含まれるSiOは22〜60重量%である、
    請求項3に記載の多層セラミック基板。
  5. 前記表層部を構成する材料に含まれるガラスは、34〜73重量%のSiOと、14〜41重量%のMOと、0〜30重量%のBと、0〜30重量%のAlとを含み、
    前記内層部を構成する材料に含まれるガラスは、22〜60重量%のSiOと、22〜60重量%のMOと、0〜20重量%のBと、0〜30重量%のAlとを含む、
    請求項3に記載の多層セラミック基板。
  6. 前記表層部を構成する材料は、フィラーとしてのAlを30〜60重量%含み、
    前記内層部を構成する材料は、フィラーとしてのAlを40〜70重量%含む、
    請求項3に記載の多層セラミック基板。
  7. 表層用セラミックグリーンシートを用意する工程と、
    内層用セラミックグリーンシートを用意する工程と、
    前記表層用セラミックグリーンシートおよび前記内層用セラミックグリーンシートが焼結する温度では焼結しない無機材料を含む、拘束用セラミックグリーンシートを用意する工程と、
    少なくとも1つの前記内層用セラミックグリーンシートを積層方向に挟むように、それぞれ、少なくとも1つの前記表層用セラミックグリーンシートを配置し、さらに、その外側に少なくとも1つの前記拘束用セラミックグリーンシートを配置することによって、複合積層体を作製する工程と、
    前記複合積層体を、前記表層用セラミックグリーンシートおよび前記内層用セラミックグリーンシートが焼結するが、前記拘束用セラミックグリーンシートが焼結しない温度で焼成し、それによって、前記表層用セラミックグリーンシートに由来する表層部の熱膨張係数が、前記内層用セラミックグリーンシートに由来する内層部の熱膨張係数より小さく、かつ、前記内層部の熱膨張係数との差が1.0ppmK−1以上であり、前記表層部を構成する材料と前記内層部を構成する材料との間で共通する成分の重量比率が75重量%以上である、焼成後の前記複合積層体を得る工程と、
    次いで、焼成後の前記複合積層体に備える、前記拘束用セラミックグリーンシートに由来する部分を前記複合積層体から除去する工程と
    を備える、多層セラミック基板の製造方法。
  8. 請求項1ないし6のいずれかに記載の多層セラミック基板を備える、電子部品。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014073604A1 (ja) * 2012-11-07 2014-05-15 旭硝子株式会社 ガラスセラミックス基板およびこの基板を用いた携帯型電子機器用筐体

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104589738A (zh) * 2008-05-15 2015-05-06 株式会社村田制作所 多层陶瓷基板及其制造方法
JP5481854B2 (ja) 2008-12-16 2014-04-23 Tdk株式会社 電子部品
TWI467706B (zh) 2009-04-09 2015-01-01 Ind Tech Res Inst 陶瓷基板及其製造方法
CN101928156B (zh) * 2009-06-23 2012-11-21 财团法人工业技术研究院 陶瓷基板及其制造方法
JP5543883B2 (ja) * 2010-09-24 2014-07-09 太陽誘電株式会社 コモンモードノイズフィルタ
KR101550591B1 (ko) * 2011-09-07 2015-09-07 티디케이가부시기가이샤 적층형 코일 부품
CN103843467B (zh) * 2011-09-30 2016-11-23 京瓷株式会社 布线基板、部件内置基板以及安装结构体
JP5928847B2 (ja) * 2011-12-27 2016-06-01 株式会社村田製作所 多層セラミック基板およびそれを用いた電子部品
DE102013103028A1 (de) * 2013-03-25 2014-09-25 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Sinterkörper mit mehreren Werkstoffen und Druckmessgerät mit einem solchen Sinterkörper
CN105051888B (zh) * 2013-03-27 2018-01-23 株式会社村田制作所 绝缘性陶瓷糊料、陶瓷电子器件及其制造方法
JP6214930B2 (ja) * 2013-05-31 2017-10-18 スナップトラック・インコーポレーテッド 多層配線基板
FR3042647B1 (fr) * 2015-10-20 2017-12-01 Soitec Silicon On Insulator Structure composite et procede de fabrication associe
WO2017094335A1 (ja) * 2015-11-30 2017-06-08 株式会社村田製作所 多層セラミック基板及び電子部品
WO2017122381A1 (ja) * 2016-01-13 2017-07-20 株式会社村田製作所 積層体及び電子部品
WO2017199710A1 (ja) * 2016-05-17 2017-11-23 株式会社村田製作所 多層セラミック基板及び電子装置
CN110024498B (zh) 2016-12-08 2021-12-31 株式会社村田制作所 多层陶瓷基板以及电子装置
CN111231438A (zh) * 2018-11-28 2020-06-05 华为技术有限公司 透明基板及其制备方法、电子设备
JP7406919B2 (ja) * 2019-03-11 2023-12-28 株式会社村田製作所 積層コイル部品
CN112441839B (zh) * 2019-08-27 2022-04-15 Oppo广东移动通信有限公司 陶瓷后盖及其制作方法、壳体及移动终端
JP7412242B2 (ja) * 2020-03-27 2024-01-12 日本碍子株式会社 積層構造体および半導体製造装置部材

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63109050A (ja) * 1986-10-28 1988-05-13 太陽誘電株式会社 セラミツク基板
JPH04364945A (ja) * 1991-06-12 1992-12-17 Inax Corp 高強度多結晶焼結セラミックス積層体
JPH11322446A (ja) * 1998-05-18 1999-11-24 Ngk Insulators Ltd セラミックス成形体の焼成収縮を制御する方法
JP2001111223A (ja) * 1999-10-08 2001-04-20 Murata Mfg Co Ltd 多層セラミック基板およびその製造方法
WO2006059556A1 (ja) * 2004-12-02 2006-06-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. 電子部品及びその製造方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62287658A (ja) * 1986-06-06 1987-12-14 Hitachi Ltd セラミックス多層回路板
JPH05178659A (ja) 1991-12-27 1993-07-20 Kyocera Corp 絶縁体磁器組成物
JPH0629664A (ja) * 1992-07-10 1994-02-04 Nippon Cement Co Ltd 多層セラミックス配線基板
JP3038425B2 (ja) 1994-03-25 2000-05-08 住友大阪セメント株式会社 積層セラミックス薄板の製造方法
US5955938A (en) * 1995-03-09 1999-09-21 Sumitomo Metal (Smi) Electronics Devices, Inc. RuO2 resistor paste, substrate and overcoat system
JPH09237972A (ja) 1996-02-29 1997-09-09 Kyocera Corp 多層配線基板
US6228196B1 (en) * 1998-06-05 2001-05-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of producing a multi-layer ceramic substrate
JP3327214B2 (ja) * 1998-07-21 2002-09-24 株式会社村田製作所 多層セラミック基板の製造方法
JP2000340716A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Kyocera Corp 配線基板
US6447888B2 (en) * 2000-01-31 2002-09-10 Kyocera Corporation Ceramic wiring board
JP3591437B2 (ja) * 2000-09-07 2004-11-17 株式会社村田製作所 多層セラミック基板およびその製造方法ならびに電子装置
JP4748435B2 (ja) * 2001-08-21 2011-08-17 日本電気硝子株式会社 積層ガラスセラミック材料及び積層ガラスセラミック焼結体
US20050194085A1 (en) * 2004-03-02 2005-09-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for producing ceramic multilayer substrate
JP2005286311A (ja) * 2004-03-02 2005-10-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd セラミック多層基板の製造方法
JP4876493B2 (ja) 2005-09-07 2012-02-15 株式会社村田製作所 多層セラミック基板および電子部品
JP4994052B2 (ja) * 2006-03-28 2012-08-08 京セラ株式会社 基板およびこれを用いた回路基板

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63109050A (ja) * 1986-10-28 1988-05-13 太陽誘電株式会社 セラミツク基板
JPH04364945A (ja) * 1991-06-12 1992-12-17 Inax Corp 高強度多結晶焼結セラミックス積層体
JPH11322446A (ja) * 1998-05-18 1999-11-24 Ngk Insulators Ltd セラミックス成形体の焼成収縮を制御する方法
JP2001111223A (ja) * 1999-10-08 2001-04-20 Murata Mfg Co Ltd 多層セラミック基板およびその製造方法
WO2006059556A1 (ja) * 2004-12-02 2006-06-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. 電子部品及びその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014073604A1 (ja) * 2012-11-07 2014-05-15 旭硝子株式会社 ガラスセラミックス基板およびこの基板を用いた携帯型電子機器用筐体
JPWO2014073604A1 (ja) * 2012-11-07 2016-09-08 旭硝子株式会社 ガラスセラミックス基板およびこの基板を用いた携帯型電子機器用筐体
US9718726B2 (en) 2012-11-07 2017-08-01 Asahi Glass Company, Limited Glass ceramic substrate and portable electronic device housing using the substrate

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Publication number Publication date
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