JP4860231B2 - メモリシステム、半導体メモリ装置、及びこのシステムと装置の出力データストローブ信号発生方法 - Google Patents
メモリシステム、半導体メモリ装置、及びこのシステムと装置の出力データストローブ信号発生方法 Download PDFInfo
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Description
10−1:ダミーリード命令検出器
10−2:リード命令検出器
10−3:モード設定命令検出器
12:モード設定部
14:プリアンブルサイクルカウンタ
14−1:カウンタイネーブル信号発生器
14−2、14−2’:プリアンブルサイクルカウンタ
14−3:レジスタ
16:DQS信号発生器
22:バースト長さ遅延器
34、34’:比較器
100:メモリ制御部
200:半導体メモリ装置
Claims (5)
- 出力データストローブ信号ラインが共通に接続されている少なくとも二つの半導体メモリ装置と、
前記少なくとも二つの半導体メモリ装置を制御するメモリ制御部とを備えて、
前記メモリ制御部が前記少なくとも二つの半導体メモリ装置に命令信号及びチップ選択信号を印加し、前記少なくとも二つの半導体メモリ装置が出力データストローブ信号を出力し、
前記半導体メモリ装置のそれぞれは、
前記命令信号及び前記チップ選択信号に応答して、一の前記半導体メモリ装置へのリード命令及び他の前記半導体メモリ装置へのリード命令であるダミーリード命令を検出し、前記ダミーリード命令と前記リード命令との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数として算出されたプリアンブルサイクル数に基づいて少なくとも一つのプリアンブル信号を発生することを特徴とするメモリシステム。 - 前記少なくとも二つの半導体メモリ装置に印加される前記チップ選択信号は、それぞれの半導体メモリ装置に対応するチップ選択信号であることを特徴とする請求項1記載のメモリシステム。
- 出力データストローブ信号ラインが複数の半導体メモリ装置で共通に接続されているメモリシステムが備える前記半導体メモリ装置であって、
命令信号及びチップ選択信号をデコーディングして一の前記半導体メモリ装置へのリード信号、他の前記半導体メモリ装置へのリード信号であるダミーリード信号、及びモード設定信号を発生する命令語デコーダと、
前記モード設定信号に応答してバースト長さ信号及びCASレイテンシー信号を設定するモード設定部と、
前記リード信号と前記ダミーリード信号との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数として算出されたプリアンブルサイクル数に基づいてプリアンブルサイクル信号を発生するプリアンブルサイクルカウンタを備えることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 出力データストローブ信号ラインが複数の半導体メモリ装置で共通に接続されているメモリシステムにおける出力データストローブ信号発生方法であって、
半導体メモリ装置のそれぞれで命令信号及びチップ選択信号を印加する段階と、
前記命令信号及び前記チップ選択信号に応答して一の前記半導体メモリ装置へのリード命令及び他の前記半導体メモリ装置へのリード命令であるダミーリード命令を検出する段階と、
前記リード命令と前記ダミーリード命令との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数としてプリアンブルサイクル数を算出する段階と、
前記算出されたプリアンブルサイクル数に基づいて少なくとも一つのプリアンブル信号を発生する段階と、
を備えることを特徴とする出力データストローブ信号発生方法。 - 出力データストローブ信号ラインが複数の半導体メモリ装置で共通に接続されているメモリシステムにおける出力データストローブ信号発生方法であって、
命令信号及びチップ選択信号に応答して一の前記半導体メモリ装置へのリード信号、他の前記半導体メモリ装置へのリード信号であるダミーリード信号、及びモード設定信号を発生する段階と、
前記モード設定信号に応答してバースト長さ信号、CASレイテンシー信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定する段階と、
前記リード信号と前記ダミーリード信号との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数としてプリアンブルサイクル数を算出する段階と、
前記算出されたプリアンブルサイクル数に基づいてプリアンブルサイクル信号を発生する段階を備えることを特徴とする出力データストローブ信号発生方法。
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US20080159454A1 (en) * | 2006-12-27 | 2008-07-03 | National Taiwan University | Network on chip device and on-chip data transmission device |
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US11645155B2 (en) * | 2021-02-22 | 2023-05-09 | Nxp B.V. | Safe-stating a system interconnect within a data processing system |
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KR960003526B1 (ko) * | 1992-10-02 | 1996-03-14 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리장치 |
US6279116B1 (en) * | 1992-10-02 | 2001-08-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Synchronous dynamic random access memory devices that utilize clock masking signals to control internal clock signal generation |
JP3979690B2 (ja) * | 1996-12-27 | 2007-09-19 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置システム及び半導体記憶装置 |
JP3445476B2 (ja) * | 1997-10-02 | 2003-09-08 | 株式会社東芝 | 半導体メモリシステム |
KR100364127B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2003-04-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 칩-세트 |
US6557071B2 (en) * | 1998-06-22 | 2003-04-29 | Intel Corporation | Memory system including a memory controller having a data strobe generator and method for accesing a memory using a data storage |
KR100303775B1 (ko) * | 1998-10-28 | 2001-09-24 | 박종섭 | 디디알 에스디램에서 데이터스트로브신호를 제어하기 위한 방법및 장치 |
KR100333683B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2002-06-20 | 박종섭 | 반도체장치의데이터스트로브신호발생기 |
TW530207B (en) | 2000-09-05 | 2003-05-01 | Samsung Electronics Co Ltd | Semiconductor memory device having altered clock frequency for address and/or command signals, and memory module and system having the same |
JP2002169721A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Hitachi Ltd | 情報処理システム |
JP2002216472A (ja) * | 2001-01-22 | 2002-08-02 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JP2002324398A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置、メモリシステムおよびメモリモジュール |
KR100416796B1 (ko) * | 2001-07-20 | 2004-01-31 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 명령어 디코더 및 디코딩 방법 |
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KR100468776B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 클락 지터의 영향을 감소시킬 수 있는 동기식 반도체메모리장치 |
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