JP4860231B2 - メモリシステム、半導体メモリ装置、及びこのシステムと装置の出力データストローブ信号発生方法 - Google Patents

メモリシステム、半導体メモリ装置、及びこのシステムと装置の出力データストローブ信号発生方法 Download PDF

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Description

本発明は、メモリシステムに関し、特にリード動作時にプリアンブル信号を有した出力データストローブ信号を発生するメモリシステム、半導体メモリ装置、及びこのシステムと装置の出力データストローブ信号発生方法(Memory system、semiconductor memory device、and output strobe signal generating method thereof)に関するものである。
一般に、メモリシステムは、メモリ制御部と半導体メモリ装置からなっており、メモリ制御部と半導体メモリ装置との間のデータ転送の際、入/出力データの正確なタイミングを知らせるためにデータとともに入/出力データストローブ信号を発生させる。
ダブルデータレート半導体メモリ装置の場合、クロック信号の上昇エッジと下降エッジとに同期してデータを入/出力する。入/出力データストローブ信号は、クロック信号に同期して発生されており、この装置はライト動作時に入力データストローブ信号とともに入力データストローブ信号によってサンプリングされた入力データを受信し、リード動作時に出力データストローブ信号とともに出力データを発信する。
ところが、メモリシステムの動作速度が増加することによってクロック信号の周波数が高くなり、半導体メモリ装置がリード動作時にクロック信号に同期して発生する出力データストローブ信号が、発生初期にロー出力電圧からハイ出力電圧にと安定されたスイングをしなくなる恐れがある。したがって、初期に転送される出力データストローブ信号とデータの発生タイミングとが不一致となる場合がある。
そこで、半導体メモリ装置は、出力データストローブ信号のストローブ信号が発生される前に固定された所定サイクルの間にプリアンブル信号を発生することによって、ストローブ信号の発生初期にストローブ信号が安定したスイングとなることができる。したがって、初期に転送される出力データストローブ信号と出力データの発生タイミングとが一致することになる。プリアンブル信号は、出力データストローブ信号のストローブ信号が発生する前に発生される信号で、クロック信号に同期して発生することになるが、初期に発生した信号は不安定なスイングとしてクロック信号と同期しない。しかしながら、固定された所定サイクルの間にトグリングされることによって漸次的にクロック信号に同期するようになる。
ところが、メモリ制御部に複数の半導体メモリ装置が接続され、出力データストローブ信号ライン及び出力データラインが共通で接続される場合は、複数の半導体メモリ装置におけるデータストローブ信号のプリアンブル信号のサイクル数が固定されていると、一つの半導体メモリ装置に対するリード動作後、直ちに他の一つの半導体メモリ装置に対するリード動作がなされると問題が発生する。
すなわち、一つの半導体メモリ装置から出力データストローブ信号のストローブ信号が発生するうちに、他の一つの半導体メモリ装置から出力データストローブ信号のプリアンブル信号が発生すると、ストローブ信号とプリアンブル信号との間に衝突が起きる。このようなことによって、他の一つの半導体メモリ装置に対するプリアンブル信号によって、一つの半導体メモリ装置に対するストローブ信号の発生タイミングが一つの半導体メモリ装置に対する出力データの発生タイミングとは不一致することもある。
本発明の目的は、複数の半導体メモリ装置に対するリード動作時に一つの装置から発生するストローブ信号と他の一つの装置から発生するプリアンブル信号との衝突を防ぐことができるメモリシステムを提供することにある。
本発明の他の目的は、出力データストローブ信号のプリアンブル信号のサイクル数を変更することができる半導体メモリ装置を提供することにある。
本発明のまた他の目的は、前記目的とは異なる目的を果たすためのメモリシステムと半導体メモリ装置の出力データストローブ信号発生方法を提供することにある。
前記目的を果たすための本発明のメモリシステムは、少なくとも二つの半導体メモリ装置、及び少なくとも二つの前記半導体メモリ装置を制御するメモリ制御部を備えて、前記メモリ制御部が前記少なくとも二つの半導体メモリ装置に命令信号を共通に印加し、チップ選択信号をそれぞれ印加し、前記少なくとも二つの半導体メモリ装置が出力データストローブ信号を共通ラインに出力し、前記半導体メモリ装置のそれぞれは前記命令信号及び前記チップ選択信号に応答してリード命令及びダミーリード命令を検出して、前記ダミーリード命令と前記リード命令との間のサイクル数でバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数をプリアンブルサイクル数として算出し、前記出力データストローブ信号のストローブ信号を発生する前に、算出されたプリアンブルサイクル数分のプリアンブル信号を発生することを特徴とする。
前記半導体メモリ装置のそれぞれは、前記命令信号及び前記チップ選択信号に応答して他の半導体メモリ装置のリード命令を検出することで、前記ダミーリード命令を検出できることを特徴とする。
前記他の目的を果たすための本発明の半導体メモリ装置は、命令信号及びチップ選択信号に応答してリード信号、ダミーリード信号、及びモード設定信号を発生する命令語デコーダ、前記モード設定信号に応答してバースト長さ信号及びCASレイテンシー信号を設定するモード設定部、及び前記リード信号と前記ダミーリード信号との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数をプリアンブルサイクル数に算出してプリアンブルサイクル信号を発生するプリアンブルサイクルカウンタを備えることを特徴とする。
前記半導体メモリ装置は、前記リード信号に応答して前記出力データストローブ信号を発生し、前記出力データストローブ信号のストローブ信号を前記CASレイテンシー信号に対応するサイクル分だけ遅延されて発生し、前記ストローブ信号を発生する前に前記プリアンブルサイクル信号に対応するサイクル分だけプリアンブル信号を発生する出力データストローブ信号発生部をさらに備えることを特徴とする。
前記命令語デコーダは、前記チップ選択信号が活性化されて、前記命令信号がリード命令を指定する信号であれば前記リード信号を発生し、前記チップ選択信号が非活性化となり、前記命令信号がリード命令を指定する信号であれば前記ダミーリード信号を発生することを特徴として、前記プリアンブルサイクルカウンタは前記ダミーリード信号または前記リード信号に応答して前記バースト長さに対応するサイクル分だけ遅延されて活性化し、次に入力される前記ダミーリード信号または前記リード信号に応答して非活性化されるイネーブル信号を発生するイネーブル信号発生器、前記イネーブル信号が活性化されると、クロック信号に応答してカウンティング動作を実行し、前記イネーブル信号が非活性化されるとカウンティング動作を終了しカウンティングされた信号を発生するプリアンブルサイクルカウンタ、及び前記カウンティングされた信号を保存して前記プリアンブルサイクル信号を発生するレジスタを備えることを特徴とする。
前記モード設定部は、前記モード設定信号に応答して最大プリアンブルサイクル信号をさらに設定することを特徴とし、前記プリアンブルサイクルカウンタは前記カウンティングされた信号が前記最大プリアンブルサイクル信号になると、前記カウンティング動作を中止することを特徴とし、前記レジスタは初期に前記最大プリアンブルサイクル信号を保存し、前記リード信号に応答して前記カウンティングされた信号を保存して前記プリアンブルサイクル信号を発生することを特徴とする。
前記イネーブル信号発生器は、前記ダミーリード信号と前記リード信号を論理和する論理和ゲート、前記クロック信号に応答して前記論理和ゲートの出力信号を前記バースト長さ信号に対応するサイクル分だけ遅延させるバースト長さ遅延器、及び前記バースト長さ遅延器の出力信号が活性化されると活性化になり、前記論理和ゲートの出力信号が活性化されると非活性化される前記イネーブル信号を発生するラッチを備えることを特徴として、前記バースト長さ遅延器は、所定数の従属接続されたDフリップフロップを備えて、前記Dフリップフロップは前記論理和ゲートの出力信号が活性化されるとリセットされることを特徴とする。
前記プリアンブルサイクルカウンタは、比較信号に応答して前記クロック信号を発生する論理積ゲート、前記イネーブル信号が活性化されるとイネーブルされて前記論理積ゲートの出力信号に応答してカウンティング動作を実行して前記カウンティングされた信号を発生し、前記イネーブル信号が非活性化されるとリセットされるカウンタ、及び前記カウンティングされた信号と前記最大プリアンブルサイクル信号が同じであれば前記比較信号を発生する比較器を備えることを特徴とし、前記カウンタは前記論理積ゲートの出力信号に応答してカウンティング動作を実行する所定数の従属接続されたフリップフロップを備えることを特徴とし、前記フリップフロップのそれぞれは入力信号とカウンティング出力信号との論理積を演算して出力信号を発生する論理積ゲート、前記入力信号とカウンティング入力信号との排他的論理和を演算する排他的論理和ゲート、及び前記クロック信号に応答して前記排他的論理和ゲートの出力信号をラッチして前記カウンティング出力信号として発生するDフリップフロップを備えて、前記フリップフロップの最初端の前記入力信号で前記イネーブル信号が印加されて、前記最初端のカウンティング入力信号で接地電圧が印加されて、前記最初端のフリップフロップを除いた残りのフリップフロップそれぞれの入力信号及びカウンティング入力信号で全端のフリップフロップの出力信号及びカウンティング出力信号がそれぞれ印加されることを特徴とする。
前記また他の目的を果たすための本発明によるメモリシステムの出力データストローブ信号発生方法は、少なくとも二つの半導体メモリ装置、及び前記半導体メモリ装置を制御するメモリ制御部を備えるメモリシステムの出力データストローブ信号発生方法において、前記メモリ制御部が前記半導体メモリ装置に命令信号を共通的に印加して、チップ選択信号をそれぞれ印加して前記半導体メモリ装置のうち、一つの半導体メモリ装置を選択し、前記半導体メモリ装置が出力データストローブ信号を共通ラインに出力し、前記半導体メモリ装置のそれぞれが前記命令信号及び前記チップ選択信号に応答してリード命令及びダミーリード命令を検出し、前記ダミーリード命令と前記リード命令との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数をプリアンブルサイクル数として算出して、前記出力データストローブ信号のストローブ信号を発生する前に算出されたプリアンブルサイクル数分のプリアンブル信号を発生することを特徴とする。
前記また他の目的を果たすための本発明による半導体メモリ装置の出力データストローブ信号発生方法は、命令信号及びチップ選択信号に応答してリード信号、ダミーリード信号、及びモード設定信号を発生し、前記モード設定信号に応答してバースト長さ信号、CASレイテンシー信号、及び最大プリアンブルサイクル信号を設定して、前記リード信号と前記ダミーリード信号との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数をプリアンブルサイクル数として算出してプリアンブルサイクル信号を発生することを特徴とし、前記リード信号に応答して出力データストローブ信号を発生し、前記出力データストローブ信号のストローブ信号を前記CASレイテンシー信号に対応するサイクル分だけ遅延して発生し、前記ストローブ信号を発生する前に前記プリアンブルサイクル信号に対応するサイクル分のプリアンブル信号を発生することを特徴とする。
前記チップ選択信号が活性化されて前記命令信号がリード命令を指定する信号であれば前記リード信号を発生し、前記チップ選択信号が非活性化されて前記命令信号がリード命令を指定する信号であれば前記ダミーリード信号を発生することを特徴とし、前記ダミーリード信号または前記リード信号に応答して前記バースト長さに対応するサイクル分だけ遅延して活性化されて、次に入力される前記ダミーリード信号または前記リード信号に応答して非活性化されるイネーブル信号を発生し、前記イネーブル信号が活性化されるとクロック信号に応答してカウンティング動作を実行し、前記カウンティングされた数が前記最大プリアンブルサイクル信号になればカウンティング動作を中止し、前記イネーブル信号が非活性化されればカウンティング動作を終了してカウンティングされた信号を発生して、初期に前記最大プリアンブルサイクル信号を保存し、前記リード信号に応答して前記カウンティングされた信号を保存して前記プリアンブルサイクル信号を発生することを特徴とする。
本発明のメモリシステムによれば、複数の半導体メモリ装置のそれぞれが他の半導体メモリ装置のリード動作を検出してプリアンブルサイクル数を可変することによって、一つの装置から発生するストローブ信号と他の一つの装置から発生されるプリアンブル信号との衝突を防ぐことができる。
本発明の半導体メモリ装置及びこの装置の出力データストローブ信号発生方法はデータバスの効率性を高めることができる。
以下、添付された図面を参照して本発明の半導体メモリ装置、この装置の出力データストローブ信号発生方法、及びこの装置を備えたメモリシステムを例示的に説明する。
図1は、本発明によるメモリシステムの実施例の構成を示すブロック図で、メモリ制御部100及びn個の半導体メモリ装置200−1〜200−nで構成されている。
図1に示されたブロックのそれぞれの機能を次に説明する。
メモリ制御部100は、反転チップ選択信号CSB1、・・・、CSBn、クロック信号CLK、命令信号COM、アドレス信号ADD、入力データ信号DIN、及び入力データストローブ信号DQSIを出力し、出力データ信号DOUT及び出力データストローブ信号DQSOを入力する。n個の半導体メモリ装置200−1〜200−nのそれぞれはクロック信号CLK、命令信号COM、アドレス信号ADD、入力データ信号DIN、及び入力データストローブ信号DQSIを共通で受信し、反転チップ選択信号CSB1、CSB2、…、CSBnをそれぞれ受信する。そして、出力データストローブ信号DQSO及び出力データ信号DOUTを出力する。
図1に示すように本発明の好適な実施例のメモリシステムでは、反転チップ選択信号CSB1、CSB2、…、CSBnに応答してn個の半導体メモリ装置200−1〜200−nのそれぞれが選択される。そして、クロック信号CLK、命令信号COM、アドレス信号ADDに応答して、半導体メモリ装置200−1〜200−nのうち選択された半導体メモリ装置に対するライト動作またはリード動作が実行される。
図2は、図1に示された半導体メモリ装置の一実施例の構成を示すブロック図で、半導体メモリ装置の内部ブロックのうち、出力データストローブ信号DQSOを発生することに係わるブロックのみを示したもので、このブロックは、命令語デコーダ10、モード設定部12、プリアンブルサイクルカウンタ14、及び出力データストローブ信号DQSO発生器16で構成されている。
図2に示されたブロックのそれぞれの機能を次に説明する。
命令語デコーダ10は、クロック信号CLKに応答して反転チップ選択信号CSB及び命令信号COMを受信し、これらをデコーディングして、ダミーリード信号DRD、リード信号RD、及びモード設定信号MRSを発生する。
モード設定部12は、モード設定信号MRSに応答してアドレス信号ADDを受信し、これをデコーディングして、バースト長さ信号BL、CASレイテンシー信号CL、及び最大プリアンブルサイクル信号NPREを発生する。モード設定信号MRSに応答して印加されるアドレス信号ADDはモード設定コードであり、メモリセル(図示せず)のアドレス信号ではない。そして、最大プリアンブルサイクル信号NPREは、最大プリアンブルサイクル数を示して、バースト長さ信号BLはバースト長さを指定する信号であり、CASレイテンシー信号CLはCASレイテンシーを指定する信号である。
例えば、バースト長さを4及び8で設定することが可能とすれば、モード設定部12はバースト長さ4に対応するモード設定コードが入力されると、バースト長さ信号BL4を「ハイ」レベルとし、バースト長さ8に対応するモード設定コードが入力されると、バースト長さ信号BL8を「ハイ」レベルとする。他の例として、モード設定部12は、バースト長さ4に対応するモード設定信号が入力されると、バースト長さ信号BL4を「ロー」レベルとし、バースト長さ8に対応するモード設定信号が入力されると、バースト長さ信号BL8を「ロー」レベルとする。最大プリアンブルサイクル数、バースト長さ、及びCASレイトンシの一つ以上は、設計に基づいて装置によってまたはシステムによって変更することができる。
プリアンブルサイクルカウンタ14は、ダミーリード信号DRD、リード信号RD、最大プリアンブルサイクル信号NPRE、及びバースト長さ信号BLを受信し、プリアンブルサイクル数を算出してプリアンブルサイクル信号PRECを発生する。すなわち、プリアンブルサイクルカウンタ14は、ダミーリード信号DRDとリード信号RDとの間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数をプリアンブルサイクル数として算出してプリアンブルサイクル信号PRECを発生し、このとき、算出されるプリアンブルサイクル数は最大プリアンブルサイクル数を超えることができない。
出力データストローブ信号発生器16は、プリアンブルサイクル信号PREC、バースト長さ信号BL、及びCASレイテンシー信号CLを受信して出力データストローブ信号DQSOを発生する。すなわち、出力データストローブ信号発生器16はプリアンブルサイクル数に対応するサイクル分のプリアンブル信号を発生した後にバースト長さに対応するサイクル分のストローブ信号を発生する。そして、この際に発生されるストローブ信号は、リード命令が印加された後、CASレイテンシーに対応するサイクル分だけ遅延した後にクロック信号CLKに同期して発生される。
図3は、図2に示された命令語デコーダ10の実施例の構成を示すブロック図で、命令語デコーダ10は、ダミーリード命令検出器10−1、リード命令検出器10−2、及びモード設定命令検出器10−3で構成されている。
図3に示されたブロックのそれぞれの機能を次に説明する。
ダミーリード命令検出器10−1は、クロック信号CLKの上昇エッジで「ハイ」レベルの反転チップ選択信号CSB、「ハイ」レベルの反転ローアドレスストローブ信号RASB、反転コラムアドレスストローブ信号CASB、及び反転ライトイネーブル信号WEBが印加されるとダミーリード信号DRDを発生する。
リード命令検出器10−2は、クロック信号CLKの上昇エッジで「ロー」レベルの反転チップ選択信号CSB、「ハイ」レベルの反転ローアドレスストローブ信号RASB、反転コラムアドレスストローブ信号CASB、及び反転ライトイネーブル信号WEBが印加されるとリード信号RDを発生する。例えば、リード命令検出器10−2は、「ロー」レベルの反転チップ選択信号CSB、及び「ハイ」レベルを有する反転ローアドレスストローブ信号RASB、反転コラムアドレスストローブ信号CASB、反転ライトイネーブル信号WEBがクロック信号CLKの上昇及び/又は下降エッジで印加されるとリード信号RDを発生する。
モード設定命令検出器10−3は、「ロー」レベルの反転チップ選択信号CSB、反転ローアドレスストローブ信号RASB、反転コラムアドレスストローブ信号CASB、及び反転ライトイネーブル信号WEBが印加されるとモード設定信号MRSを発生する。
図4Aは、図2に示されたプリアンブルサイクルカウンタ14の一実施例の構成を示すブロック図で、カウンタイネーブル信号発生器14−1、プリアンブルカウンタ14−2、及びレジスタ14−3で構成されている。
図4Aに示されたブロックのそれぞれの機能を次に説明する。
カウンタイネーブル信号発生器14−1は、ダミーリード信号DRDとリード信号RDに応答してトグリングするイネーブル信号ENを発生する。この際に発生するイネーブル信号ENは、ダミーリード信号DRDまたはリード信号RDが入力されるとクロック信号CLKに応答してバースト長さに対応するサイクル分だけ遅延された後に活性化されて、次のダミーリード信号DRDまたはリード信号RDに応答して非活性化される。プリアンブルサイクルカウンタ14−2は、イネーブル信号ENに応答してイネーブルされてクロック信号CLKに応答してカウンティング動作を実行する。そして、カウンティングされた値が最大プリアンブルサイクル数になればカウンティング動作を中止する。レジスタ14−3は、初期に最大プリアンブルサイクル信号NPREを保存し、この後リード信号RDに応答してプリアンブルサイクルカウンタ14−2から出力される値を保存し、この値をプリアンブルサイクル信号PRECとして発生する。
図4Bは、図2に示されたプリアンブルサイクルカウンタにおける他の実施例の構成を示すブロック図で、図4Aのプリアンブルサイクルカウンタ14−2をプリアンブルサイクルカウンタ14−2’に代替して構成されている。
図4Bのブロックのうち、図4Aのブロックと同一番号を有するブロックの機能は同一であり、その説明を省略し、異なるブロックの機能についてのみ説明をする。
プリアンブルサイクルカウンタ14−2’はイネーブル信号ENに応答してイネーブルされ、クロック信号CLKに応答してカウンティング動作を実行する。この際、プリアンブルサイクルカウンタ14−2’は所定値のみまでをカウンティングする。
図5は、図4A、Bに示されたカウンティングイネーブル信号発生器の実施例の構成を示す図で、論理和ゲート20、バースト長さ遅延器22、及びラッチ24で構成されている。論理和ゲート20は、NORゲートNORとインバータI1で構成されて、ラッチ24はインバータI2、I3、及びNANDゲートNA1、NA2で構成されている。
図5に示されたブロックのそれぞれの機能を次に説明する。
論理和ゲート20は、ダミーリード信号DRDとリード信号RDとの論理和を演算して信号bを発生する。バースト長さ遅延器22は、論理和ゲート20の出力信号bをクロック信号CLKに応答してバースト長さ信号BLに対応するサイクル分だけ遅延して信号aを発生し、信号bbに応答してリセットされる。例えば、半導体メモリ装置がダブルデータレートで動作する場合において、バースト長さ遅延器22は、バースト長さが4であれば信号bを2サイクル分だけ遅延させ、バースト長さが8であれば信号bを4サイクル分だけ遅延させる。ラッチ24は、信号aが活性化されるとイネーブル信号ENを活性化し、信号bが活性化されるとイネーブル信号ENを非活性化する。
図6は、図5に示されたバースト長さ遅延器22の実施例の構成を示す図で、DフリップフロップDF1、DF2、DF3、DF4及びスィッチSW1〜SW4で構成されている。
図6は、半導体メモリ装置がダブルデータレートで動作し、バースト長さが4又は8で設定されうる場合の構成を示す図で、バースト長さが4に設定されるとバースト長さ信号BL4が「ハイ」レベルとなり、バースト長さが8に設定されるとバースト長さ信号BL8が「ハイ」レベルとなる。
バースト長さ信号BL4が「ハイ」レベルとなり、バースト長さ信号BL8が「ロー」レベルになれば、スィッチSW1がオンとなり、スィッチSW2〜SW4がオフとなる。この場合には、DフリップフロップDF1、DF2が動作して信号bを2サイクル分だけ遅延させて信号aを発生し、信号bbに応答してリセットされる。
一方、バースト長さ信号BL4が「ロー」レベルとなり、バースト長さ信号BL8が「ハイ」になれば、スィッチSW1がオフとなり、スィッチSW2〜SW4がオンとなる。この場合、4個のDフリップフロップDF1〜DF4がクロック信号CLKに応答して信号bを4サイクル分だけ遅延させて信号aを発生し、信号bbに応答してリセットされる。
図7Aは、図4Aに示されたプリアンブルサイクルカウンタ14−2の実施例の構成を示すブロック図で、プリアンブルサイクルカウンタは、論理積ゲート30、カウンタ32、及び比較器34で構成されて、論理積ゲート30はNANDゲートNA3とインバータI4で構成されて、カウンタ32はフリップフロップFF1〜FF3で構成される。
図7Aは、半導体メモリ装置の最大プリアンブルサイクル信号NPREが3ビットで構成される場合の構成を示す図である。図7Aに示されたブロックのそれぞれの機能を次に説明する。
論理積ゲート30は、信号cに応答してクロック信号CLKを発生する。カウンタ32は「ロー」レベルのイネーブル信号ENに応答してリセットされて、「ハイ」レベルのイネーブル信号ENが発生されると論理積ゲート30の出力信号に応答してカウンティング動作を実行してプリアンブルサイクル数に対応する3ビットの信号Q1〜Q3を発生する。比較器34は、3ビットの信号Q1〜Q3が3ビットの最大プリアンブルサイクル信号NPRE1、NPRE2、NPRE3と同一であれば「ロー」レベルの信号cを発生する。結果的に、比較器34が「ロー」レベルの信号cを発生すると論理積ゲート30の出力信号が「ロー」レベルとなり、これによってフリップフロップFF1〜FF3がカウンティング動作を実行しなくなり、信号Q1〜Q3はイネーブル信号ENが「ロー」レベルにディセーブルされるまで最終的にカウンティングされた信号Q1〜Q3を維持し、イネーブル信号ENが「ロー」レベルでディセーブルされると信号Q1〜Q3が「ロー」レベルにリセットされる。すなわち、例えば最大プリアンブルサイクル信号NPREが「101」であれば、カウンタ32はイネーブル信号ENが「ハイ」レベルを維持する間にクロック信号CLKに応答して「101」までをカウンティングし、その後は、クロック信号CLKが発生しないので「101」を維持し、イネーブル信号ENが「ロー」レベルにディセーブルされるとリセットされて「000」の信号Q1〜Q3を発生する。
図7Bは、図4Bに示されたプリアンブルサイクルカウンタ14−2’の実施例の構成を示すブロック図で、図7Aの比較器34を比較器34’に代替して構成されている。
図7Bのブロックのうち、図7Aのブロックと同一番号を有するブロックの機能は同じでありその説明を省略し、異なるブロックの機能について説明する。
比較器34’は、3ビットの信号Q1〜Q3が所定値となると「ロー」レベルの信号cを発生する。例えば、比較器34’は3ビットの信号Q1〜Q3が「101」になると、これを検出して「ロー」レベルの信号cを発生するように構成されたり、「110」になると、これを検出して「ロー」レベルの信号cを発生するように構成されたりする。これは、インバータまたはNANDゲートのような簡単な論理ゲートを用いて構成することができる。
図8は、図7A、Bに示されたフリップフロップの実施例の構成を示す図で、フリップフロップは、論理積ゲート40、XORゲートXOR、及びDフリップフロップDF5で構成されている。そして、論理積ゲート40はNANDゲートNA4、及びインバータI5で構成されている。
図8に示された構成の機能を次に説明する。
論理積ゲート40は、入力端子Ciとカウンティング出力端子Qiに出力される信号との論理積を演算して演算結果を出力端子Coとしてを発生する。XORゲートXORは、入力端子Ciとカウンティング入力端子Qi−1に印加される信号との排他的論理和を演算して二つの入力が同じであれば「ロー」レベルの信号を発生し、異なれば「ハイ」レベルの信号を発生する。DフリップフロップDF5は、リセット端子REに印加されるイネーブル信号ENの下降エッジに応答してリセットされ、クロック信号CLKに応答してXORゲートXORの出力信号をラッチしてカウンティング出力端子Qiとして出力する。
すなわち、図8に示されたフリップフロップは、入力端子Ci及びカウンティング出力端子Qiで「ハイ」レベルの信号が発生されると出力端子Coで「ハイ」レベルの信号を発生し、入力端子Ciに印加される信号とカウンティング入力端子Qi−1に印加される信号が互いに異なればクロック信号CLKに応答して「ハイ」レベルの信号をラッチして「ハイ」レベルのカウンティング出力信号Qiを発生する。
図9は、本発明の好適な実施例の半導体メモリ装置の動作を説明するための動作タイミング図で、メモリ制御部100に二つの半導体メモリ装置200−1、200−2が接続された場合の動作を示したものである。ここでは、これらの半導体メモリ装置がダブルデータレートで動作し、CASレイテンシーが6で、バースト長さが4に設定されて、最大プリアンブルサイクル信号NPREが「100」に設定されている場合の動作を示したものである。
図9において、CLK、COMは半導体メモリ装置200−1、200−2に共通で印加されるクロック信号及び命令信号をそれぞれ示し、CSB1は半導体メモリ装置200−1に印加される反転チップ選択信号を、CSB2は半導体メモリ装置200−2に印加される反転チップ選択信号をそれぞれ示す。そして、RD1、DRD1、EN1、Q11〜Q13、PREC1は半導体メモリ装置200−1の内部で発生する信号を、RD2、DRD2、EN2、Q21〜Q23、PREC2は半導体メモリ装置200−2の内部で発生する信号を示す。DQSO、DOUTは、半導体メモリ装置200−1、200−2から出力される出力データストローブ信号及び出力データをそれぞれ示す。
クロック信号CLKの上昇エッジで「ロー」レベルの反転チップ選択信号CSB1及びリード命令を指定する命令信号COMが印加されると、半導体メモリ装置200−1の命令語デコーダ10がリード信号RD1を発生し、半導体メモリ装置200−2の命令語デコーダ10がダミーリード信号DRD2を発生する。そして、半導体メモリ装置200−1のレジスタ14−3は、リード信号RD1に応答してプリアンブルサイクルカウンタ14−2または14−2’から出力される設定されたプリアンブル初期値である「100」の信号Q11〜Q13をプリアンブルサイクル信号PREC1として発生する。
したがって、半導体メモリ装置200−1は、期間T1で、4サイクル分のプリアンブル信号を発生し、期間T2で、ストローブ信号とともに出力データDOUTを発生する。
そして、半導体メモリ装置200−1、200−2のそれぞれのカウンタイネーブル信号発生器14−1は、バースト長さに対応するサイクル分、すなわち、2サイクル分だけ遅延された後にイネーブル信号EN1、EN2を活性化する。それでは、半導体メモリ装置200−1、200−2のそれぞれのプリアンブルサイクルカウンタ14−2または14−2’がクロック信号CLKに応答してカウンティング動作を実行する。
一番目のリード命令を指定する命令信号COMが印加された後、3サイクル後にクロック信号CLKの上昇エッジで「ロー」レベルの反転チップ選択信号CSB2及びリード命令を指定する命令信号COMが印加されると、半導体メモリ装置200−2の命令語デコーダ10がリード信号RD2を発生し、半導体メモリ装置200−1の命令語デコーダ10がダミーリード信号DRD1を発生する。そうすると、半導体メモリ装置200−1、200−2のそれぞれのカウンタイネーブル信号発生器14−1はイネーブル信号EN1、EN2を非活性化する。そうすると、半導体メモリ装置200−1、200−2のそれぞれのプリアンブルサイクルカウンタ14−2または14−2’のカウンティング動作が終了となり、「001」の信号Q11〜Q13を発生する。
半導体メモリ装置200−2のレジスタ14−3はリード信号RD2に応答して「001」の信号をプリアンブルサイクル信号PREC2として発生する。すなわち、リード信号RD2がダミーリード信号DRD2から3サイクル後にイネーブルされて、バースト長さBLが4として2サイクルに対応するので、プリアンブルサイクルは3サイクルから2サイクルを引いた1サイクルとなる。
したがって、期間T3で半導体メモリ装置200−2は1サイクル分のプリアンブル信号を発生し、期間T4でストローブ信号とともに出力データDOUTを発生する。
上述したような動作を実行することによって、期間T5で半導体メモリ装置200−1は「011」のプリアンブルサイクル信号PREC1が発生されるので3サイクル分のプリアンブル信号を発生し、期間T6でストローブ信号とともに出力データDOUTを発生する。すなわち、リード信号RD1がダミーリード信号DRD1から5サイクル後にイネーブルされ、バースト長さBLが4として2サイクルに対応するので、プリアンブルサイクルは5サイクルから2サイクルを引いた3サイクルとなる。
期間T7で半導体メモリ装置200−2は「000」のプリアンブルサイクル信号PREC2が発生されるのでプリアンブル信号を発生しなくなり、ストローブ信号とともに出力データDOUTを発生する。すなわち、期間T7で半導体メモリ装置200−2から出力されるデータDOUTは期間T6のストローブ信号が半導体メモリ装置200−2のプリアンブル信号となってストローブ信号と出力データのタイミングとが一致するようになる。すなわち、リード信号RD2がダミーリード信号DRD2から2サイクル後にイネーブルされ、バースト長さBLが4として2サイクルに対応するので、プリアンブルサイクルは2サイクルから2サイクルを引いた0サイクルとなる。
また、メモリ制御部100がバースト長さに対応するサイクル分の遅延時間を有して半導体メモリ装置200−1、200−1に連続的なリード命令を印加することが可能である。これによって、データバスの効率性が高くなることになる。
上述した動作タイミング図に示すように本発明のメモリシステムは、プリアンブルサイクルが可変であることによって、二つの半導体メモリ装置200−1、200−2から出力されるストローブ信号とプリアンブル信号との間に衝突が発生しない。
上述の実施例では、メモリ制御部100に二つの半導体メモリ装置200−1、200−2が接続して構成される場合を用いて説明したが、3個以上の半導体メモリ装置が接続される場合も同じ動作を実行する。
上述した実施例の半導体メモリ装置の出力データストローブ信号発生方法は、ダブルデータレートで動作し、バースト長さが可変である場合を例示して説明したが、シングルまたはクォドデータレートで動作してバースト長さが可変である場合及びシングルまたはクォドデータレートで動作してバースト長さが固定される場合にも適用可能である。例えば、バースト長さが固定される場合には、図5のバースト長さ遅延器が固定されたバースト長さに対応するサイクル分だけ遅延されるように設計すれば良い。
そして、上述の実施例では、メモリ制御部に複数の半導体メモリ装置が接続される場合を例示して説明したが、メモリ制御部にメモリモジュールが接続される場合にも適用することが可能である。すなわち、メモリ制御部にデュアルランクメモリモジュールが接続される場合に反転チップ選択信号だけ、互いに異なるラインを介してモジュールの前面部と後面部にそれぞれ印加されて、他の信号は共通ラインを介してメモリ制御部とモジュールの前面部と後面部との間に転送されるので本発明が適用できる。
上述では、本発明の好ましい実施形態を参照しながら説明したが、当該技術分野の熟練した当業者は、添付の特許請求範囲に記載された本発明の思想及び領域から逸脱しなし範囲で、本発明を多様に修正及び変更させることができる。
本発明によるメモリシステムの実施例の構成を示すブロック図である。 図1に示された半導体メモリ装置の実施例の構成を示すブロック図である。 図2に示された命令語デコーダの実施例の構成を示すブロック図である。 図2に示されたプリアンブルサイクルカウンタの実施例の構成を示すブロック図である。 図2に示されたプリアンブルサイクルカウンタの実施例の構成を示すブロック図である。 図4A、Bに示されたカウンティングイネーブル信号発生器の実施例の構成を示す図である。 図5に示されたバースト長さ遅延器の実施例の構成を示す図である。 図4A、Bに示されたプリアンブルサイクルカウンタの実施例の構成を示すブロック図である。 図4A、Bに示されたプリアンブルサイクルカウンタの実施例の構成を示すブロック図である。 図7A、Bに示されたフリップフロップの実施例の構成を示す図である。 本発明の好適な実施例の半導体メモリ装置の動作を説明するための動作タイミング図である。
符号の説明
10:命令語デコーダ
10−1:ダミーリード命令検出器
10−2:リード命令検出器
10−3:モード設定命令検出器
12:モード設定部
14:プリアンブルサイクルカウンタ
14−1:カウンタイネーブル信号発生器
14−2、14−2’:プリアンブルサイクルカウンタ
14−3:レジスタ
16:DQS信号発生器
22:バースト長さ遅延器
34、34’:比較器
100:メモリ制御部
200:半導体メモリ装置

Claims (5)

  1. 出力データストローブ信号ラインが共通に接続されている少なくとも二つの半導体メモリ装置と、
    前記少なくとも二つの半導体メモリ装置を制御するメモリ制御部とを備えて、
    前記メモリ制御部が前記少なくとも二つの半導体メモリ装置に命令信号及びチップ選択信号を印加し、前記少なくとも二つの半導体メモリ装置が出力データストローブ信号を出力し、
    前記半導体メモリ装置のそれぞれは、
    前記命令信号及び前記チップ選択信号に応答して、一の前記半導体メモリ装置へのリード命令及び他の前記半導体メモリ装置へのリード命令であるダミーリード命令を検出し、前記ダミーリード命令と前記リード命令との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数として算出されたプリアンブルサイクル数に基づいて少なくとも一つのプリアンブル信号を発生することを特徴とするメモリシステム。
  2. 前記少なくとも二つの半導体メモリ装置に印加される前記チップ選択信号は、それぞれの半導体メモリ装置に対応するチップ選択信号であることを特徴とする請求項1記載のメモリシステム。
  3. 出力データストローブ信号ラインが複数の半導体メモリ装置で共通に接続されているメモリシステムが備える前記半導体メモリ装置であって、
    命令信号及びチップ選択信号をデコーディングして一の前記半導体メモリ装置へのリード信号、他の前記半導体メモリ装置へのリード信号であるダミーリード信号、及びモード設定信号を発生する命令語デコーダと、
    前記モード設定信号に応答してバースト長さ信号及びCASレイテンシー信号を設定するモード設定部と、
    前記リード信号と前記ダミーリード信号との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数として算出されたプリアンブルサイクル数に基づいてプリアンブルサイクル信号を発生するプリアンブルサイクルカウンタを備えることを特徴とする半導体メモリ装置。
  4. 出力データストローブ信号ラインが複数の半導体メモリ装置で共通に接続されているメモリシステムにおける出力データストローブ信号発生方法であって、
    半導体メモリ装置のそれぞれで命令信号及びチップ選択信号を印加する段階と、
    前記命令信号及び前記チップ選択信号に応答して一の前記半導体メモリ装置へのリード命令及び他の前記半導体メモリ装置へのリード命令であるダミーリード命令を検出する段階と、
    前記リード命令と前記ダミーリード命令との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数としてプリアンブルサイクル数を算出する段階と、
    前記算出されたプリアンブルサイクル数に基づいて少なくとも一つのプリアンブル信号を発生する段階と、
    を備えることを特徴とする出力データストローブ信号発生方法。
  5. 出力データストローブ信号ラインが複数の半導体メモリ装置で共通に接続されているメモリシステムにおける出力データストローブ信号発生方法であって、
    命令信号及びチップ選択信号に応答して一の前記半導体メモリ装置へのリード信号、他の前記半導体メモリ装置へのリード信号であるダミーリード信号、及びモード設定信号を発生する段階と、
    前記モード設定信号に応答してバースト長さ信号、CASレイテンシー信号、及びプリアンブルサイクル信号を設定する段階と、
    前記リード信号と前記ダミーリード信号との間のサイクル数からバースト長さに対応するサイクル数を差し引いた数としてプリアンブルサイクル数を算出する段階と、
    前記算出されたプリアンブルサイクル数に基づいてプリアンブルサイクル信号を発生する段階を備えることを特徴とする出力データストローブ信号発生方法。
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003020748A1 (en) * 2001-08-31 2003-03-13 Btg International Limited Anti-cancer cyclopenta[g]quinazoline compounds
US7916574B1 (en) * 2004-03-05 2011-03-29 Netlist, Inc. Circuit providing load isolation and memory domain translation for memory module
KR100568546B1 (ko) * 2004-10-19 2006-04-07 삼성전자주식회사 메모리 시스템, 반도체 메모리 장치, 및 이 시스템과장치의 출력 데이터 스트로우브 신호 발생 방법
US7280417B2 (en) * 2005-04-26 2007-10-09 Micron Technology, Inc. System and method for capturing data signals using a data strobe signal
KR100755371B1 (ko) * 2005-05-03 2007-09-04 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 스트로우브 신호발생방법
US7701786B2 (en) * 2005-09-29 2010-04-20 Hynix Semiconductor, Inc. Semiconductor memory device
US8054928B2 (en) * 2005-11-14 2011-11-08 Ati Technologies, Inc. Programmable preamble system and method
JP4267002B2 (ja) * 2006-06-08 2009-05-27 エルピーダメモリ株式会社 コントローラ及びメモリを備えるシステム
KR100805004B1 (ko) * 2006-06-15 2008-02-20 주식회사 하이닉스반도체 조절 가능한 프리앰블 값에 기초하여 데이터 스트로브신호를 발생하는 데이터 스트로브 신호 발생기 및 이를포함하는 반도체 메모리 장치
US8504788B2 (en) 2006-12-20 2013-08-06 Rambus Inc. Memory controller, system and method for read signal timing calibration
US20080159454A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 National Taiwan University Network on chip device and on-chip data transmission device
KR100883140B1 (ko) * 2007-11-02 2009-02-10 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력 제어회로, 반도체 메모리 장치 및 그의 동작방법
KR101529291B1 (ko) * 2008-02-27 2015-06-17 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것을 포함한 플래시 메모리시스템
KR101040242B1 (ko) 2008-10-13 2011-06-09 주식회사 하이닉스반도체 데이터 스트로브 신호 생성장치 및 이를 이용하는 반도체 메모리 장치
US8250287B1 (en) * 2008-12-31 2012-08-21 Micron Technology, Inc. Enhanced throughput for serial flash memory, including streaming mode operations
US9665507B2 (en) * 2010-07-22 2017-05-30 Rambus Inc. Protocol including a command-specified timing reference signal
KR101780422B1 (ko) * 2010-11-15 2017-09-22 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치, 그것의 읽기 방법, 그리고 그것을 포함하는 메모리 시스템
CN103312302B (zh) * 2013-06-24 2016-02-03 浙江禾川科技股份有限公司 单主站多从站结构的通信系统和多路扫描选通信号发生器
CN109343794B (zh) * 2018-09-12 2021-11-09 杭州晨晓科技股份有限公司 一种存储器的配置方法及配置装置
KR20210062499A (ko) * 2019-11-21 2021-05-31 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법
US11645155B2 (en) * 2021-02-22 2023-05-09 Nxp B.V. Safe-stating a system interconnect within a data processing system
US11816352B2 (en) * 2021-10-22 2023-11-14 Realtek Semiconductor Corporation Electronic device, data strobe gate signal generator circuit and data strobe gate signal generating method

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960003526B1 (ko) * 1992-10-02 1996-03-14 삼성전자주식회사 반도체 메모리장치
US6279116B1 (en) * 1992-10-02 2001-08-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Synchronous dynamic random access memory devices that utilize clock masking signals to control internal clock signal generation
JP3979690B2 (ja) * 1996-12-27 2007-09-19 富士通株式会社 半導体記憶装置システム及び半導体記憶装置
JP3445476B2 (ja) * 1997-10-02 2003-09-08 株式会社東芝 半導体メモリシステム
KR100364127B1 (ko) * 1997-12-29 2003-04-11 주식회사 하이닉스반도체 칩-세트
US6557071B2 (en) * 1998-06-22 2003-04-29 Intel Corporation Memory system including a memory controller having a data strobe generator and method for accesing a memory using a data storage
KR100303775B1 (ko) * 1998-10-28 2001-09-24 박종섭 디디알 에스디램에서 데이터스트로브신호를 제어하기 위한 방법및 장치
KR100333683B1 (ko) * 1998-12-30 2002-06-20 박종섭 반도체장치의데이터스트로브신호발생기
TW530207B (en) 2000-09-05 2003-05-01 Samsung Electronics Co Ltd Semiconductor memory device having altered clock frequency for address and/or command signals, and memory module and system having the same
JP2002169721A (ja) * 2000-11-30 2002-06-14 Hitachi Ltd 情報処理システム
JP2002216472A (ja) * 2001-01-22 2002-08-02 Nec Corp 半導体記憶装置
JP2002324398A (ja) * 2001-04-25 2002-11-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置、メモリシステムおよびメモリモジュール
KR100416796B1 (ko) * 2001-07-20 2004-01-31 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 명령어 디코더 및 디코딩 방법
KR100507876B1 (ko) 2002-03-29 2005-08-17 주식회사 하이닉스반도체 로우 레이턴시 리드를 위한 데이터 스토로브 신호제어부를 포함하는 동기식 메모리장치
KR100480598B1 (ko) * 2002-05-25 2005-04-06 삼성전자주식회사 프리앰블 기능을 갖는 반도체 메모리 장치
US6819599B2 (en) * 2002-08-01 2004-11-16 Micron Technology, Inc. Programmable DQS preamble
KR100468776B1 (ko) * 2002-12-10 2005-01-29 삼성전자주식회사 클락 지터의 영향을 감소시킬 수 있는 동기식 반도체메모리장치
JP2004273008A (ja) * 2003-03-07 2004-09-30 Elpida Memory Inc クロック同期式半導体記憶装置
US6996016B2 (en) * 2003-09-30 2006-02-07 Infineon Technologies Ag Echo clock on memory system having wait information
US7716160B2 (en) * 2003-11-07 2010-05-11 Alien Technology Corporation Methods and apparatuses to identify devices
KR100568546B1 (ko) * 2004-10-19 2006-04-07 삼성전자주식회사 메모리 시스템, 반도체 메모리 장치, 및 이 시스템과장치의 출력 데이터 스트로우브 신호 발생 방법
KR100637098B1 (ko) * 2004-12-28 2006-10-23 주식회사 하이닉스반도체 데이터 스트로브 신호 생성 회로 및 데이터 스트로브 신호생성 방법

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