JP4853742B2 - 二重変換利得ゲートとコンデンサーとhdr組み合わせ - Google Patents
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Description
デバイス23から幾つかの電荷を追い出す。
本発明のこれらおよび他の特徴そして利点は添付の図と関連する本発明の以下の詳細な説明によって容易に理解できる。
300fと300lはそれぞれ同一の画素回路610a、610b、610c、610d、610eおよび610fの一部であり、これらの画素回路は画素アレイ601の一部である。画素回路610bを代表としてとると、画素300bと300hはそれぞれ光変換デバイス623bと633b、および転送トランジスタ627bと637bを含む。画素回路610bはまたフローティング拡散領域605bとリセットトランジスタ616b、および読み出し回路、つまり、画素300bと300hによって共有されるソースフォロワトランジスタ619bと行選択トランジスタ618bを含む。画素回路610bはまたトランジスタ641bとコンデンサー640b、およびHDRトランジスタ625b、635bを含むDCG/HDR回路を含む。DCG/HDR回路が画素回路610bと610dに接続される。画素回路610a、610c、610d、610eおよび610fが画素回路610bと同様に構成される。
およびDCG回路の含むという効果を奏することができる。
格納されたVrst、Vsig、Vdcgが読み出されることができそして望まれれば多くの異なる方法で組み合わされる。例として、例示的な実施例において、外部回路(示されない)は値Vsigの値に依存してサンプルアンドホールド回路700のスイッチを制御する。例えば、閾値電圧が決定され(通常製造中に)、閾値は画素読み出し中に発生する信号値の多量さを示し、ゆえに二重変換利得変形が適応されることができる。読み出し中に、Vsigが閾値と比較される。Vsig>閾値であれば画素出力信号はVrst−Vdcgである。さもなければ、出力信号はVrst−Vsigである。ゆえに、例として、サブ回路730の格納された信号がサンプルアンドホールド回路700に接続される差動増幅器(示されない)内に結合されるようになりそしてVsig1は閾値より大きければ、スイッチ722および726が閉じられそしてコンデンサー714および718が差動増幅器に接続される。Vsig1は閾値より大きくなければ、スイッチ722および724が閉じられそしてコンデンサー714および716が差動増幅器に接続される。
チ616aを閉じそしてVaa_pixを画素回路610aに接続する(図3)。DCGHDR0信号はスイッチ641x(スイッチ641aに類似する図3内に示されていない画素回路610x内のスイッチであり、画素回路610xは画素回路610aの上の行そして右の一列の一つ画素回路である)を閉じ、そして画素回路610aの上の行および右の一列の一つ画素回路までの線612aを通じてフローティング拡散領域605aおよびコンデンサー640x(コンデンサー640aに類似する図3内に示されていない画素回路610x内のコンデンサー)に接続する。SHR1信号はスイッチ706を閉じそして列線701aを介してコンデンサー714を画素回路610aに接続する。ゆえに、時間期間t1の最後において、画素回路610aがリセットされそして画素回路610aのリセット電圧がサンプルアンドホールド回路700内に格納される。時間の最後において制御信号Reset0、DCGHDR0、およびSHR1がディスエーブル(disable)され(つまり、ローとなる)。DCGHDR0がパルス化(pulse)されたとき、前の画素回路行(示されない)の光変換デバイスが同時にリセットされる。このように、画素アレイの蓄積時間はアクセスされる2つ画素回路行を反映するために蓄積時間の計算を必要とする。制御信号のイネーブルとディセーブルの観点から述べられたが、通常に知られているように、この一連の動作で制御信号をパルシング−アサーティング/デイアサーティング(pulsing−asserting/deasserting)として参照することもできる。
出される現在の行の5行先である。そのように、ROW0が読み出されるため、ROW5が蓄積のために準備される。時間期間t4は初期設定時間期間であり、この間初期化される画素セルの画素回路行アドレスが提供される。この例においてt4間に、005のAddrが提供される。この例において、一画素セルの初期化が述べられるが、通常に知られているようにこの例は実質上同時に読み出される画素回路行の画素行内の全ての画素の代表である。
タ625、635aを閉じ、画素回路610aはすべての画素回路、例えば、610a、610b、610c、610d、610e、および610f、の代表である。GBL_HDRは蓄積時間期間t2に渡って変化し、ハイレベルから開始し、画素がリセットされそして画素蓄積の時間にはレベルがオフに落ち、つまり、減少する。時間期間t2の最後において、GBLHDRおよびSHUTTER信号がディスエーブルされる。
Claims (27)
- 画素アレイであって、
前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置され、第一フローティング拡散領域を含む第一画素回路と、
前記画素アレイの第二の行および第二の列に配置された第二画素回路であって、前記第二の行および前記第二の列に配置された高ダイナミックレンジ回路および、前記第二の行および前記第二の列に配置され、前記第一の行および前記第一の列に配置された前記第一画素回路の前記第一フローティング拡散領域に接続される二重変換利得回路を含む第三回路を具備した第二画素回路と、
制御信号を加えるために前記高ダイナミックレンジ回路および前記二重変換利得回路の双方に接続された制御線であって、当該制御線がイネーブルになったとき、前記第一フローティング拡散領域から電荷を読み出して前記第二の行および前記第二の列に配置された前記二重変換利得回路のキャパシタに格納することを可能にする前記制御線と、
を具備し、
前記第一および第二画素回路は、前記二重変換利得回路および前記高ダイナミックレンジ回路を共有する、
ことを特徴とする画素アレイ。 - 各前記第一および第二画素回路は第一および第二画素セルを含むことを特徴とする請求項1記載の画素アレイ。
- 前記第一および第二画素セル各々は光変換装置を含むことを特徴とする請求項2記載の画素アレイ。
- 前記第一フローティング拡散領域は前記第一画素回路の前記第一および第二画素セルによって共有されることを特徴とする請求項3記載の画素アレイ。
- 前記第一画素回路は該第一画素回路の前記第一および第二画素セルによって共有される読み出し回路をさらに含むことを特徴とする請求項3記載の画素アレイ。
- 前記読み出し回路は列選択ゲートおよびソースフォロワゲートを含むことを特徴とする請求項5記載の画素アレイ。
- 第一画素回路にリセット電圧を加え、
前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置された第一画素回路と当該第一画素回路に対して斜め方向に位置する前記画素アレイの第二の行および第二の列に配置された第二画素回路とに接続された共有活性化回路の第一制御信号をパルスにし、前記第一制御信号は前記第一画素回路内の高ダイナミックレンジ回路、および前記第二画素回路の二重変換利得回路を制御し、
前記高ダイナミックレンジ回路および前記二重変換利得回路が共に前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置され、
前記二重変換利得回路は、キャパシタと二重変換利得トランジスタで構成され、
前記高ダイナミックレンジ回路は高ダイナミックレンジトランジスタで構成され、
前記第一制御信号は、第二画素回路の前記二重変換利得回路の前記二重変換利得トランジスタを閉じて、前記第二画素回路内の光変換装置を、前記第二画素回路のフローティング拡散領域および前記第二画素回路の前記二重変換利得回路の前記キャパシタに接続し、
および
前記第一画素回路からリセット信号を読み出す
ことを特徴とする画素アレイから読み出す方法。 - 第一格納領域内に前記リセット信号を格納することをさらに含むことを特徴とする請求項7記載の方法。
- 前記第一画素回路から第一電荷信号を読み出し、および
前記第一電荷信号を第二格納領域に格納することをさらに含むことを特徴とする請求項8記載の方法。 - 前記第一画素回路に接続された前記共有活性化回路の前記第一制御信号を再度パルスにし、
前記第一画素回路から第二電荷信号を読み出し、前記第二電荷信号は二重変換利得信号であり、および
前記第二電荷信号を第三格納領域に格納することをさらに含むことを特徴とする請求項8記載の方法。 - 前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置された第一画素回路と当該第一画素回路に対して斜め方向に位置する前記画素アレイの第二の行および第二の列に配置された第二画素回路とに接続された共有活性化回路の第一制御信号をパルスにし、前記第一制御信号は前記第一画素回路内の高ダイナミックレンジ回路および前記第二画素回路の二重変換利得回路を制御し、
前記高ダイナミックレンジ回路および前記二重変換利得回路が共に前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置され、
前記二重変換利得回路は、キャパシタと二重変換利得トランジスタで構成され、
前記高ダイナミックレンジ回路は高ダイナミックレンジトランジスタで構成され、
前記第一制御信号は、第二画素回路の前記二重変換利得回路の前記二重変換利得トランジスタを活性化して、前記第二画素回路内の光変換装置を、前記第二画素回路のフローティング拡散領域および前記第二画素回路の前記二重変換利得回路の前記キャパシタに接続し、
前記第一画素回路からリセット信号を格納し、
前記第一画素回路から第一電荷信号を格納し、および
前記第一画素回路から第二電荷信号を格納する
ことを特徴とする画素アレイから読み出す方法。 - 第一電荷信号を閾値と比較することをさらに含むことを特徴とする請求項11記載の方法。
- 前記リセット信号、前記第一電荷信号、および前記第二電荷信号を選択的に結合することをさらに含むことを特徴とする請求項12記載の方法。
- 前記第一電荷信号は閾値より大きいとき前記リセット信号を前記第二電荷信号に結合することをさらに含むことを特徴とする請求項12記載の方法。
- 前記第一電荷信号は閾値より大きくないとき前記リセット信号を前記第一電荷信号に結合することをさらに含むことを特徴とする請求項13記載の方法。
- イメージャ装置を含み、これは
画素アレイを含み、
前記画素アレイは、前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置された高ダイナミックレンジ回路を有する第一画素回路と前記第一画素回路に対して斜め方向に位置し前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置された二重変換利得回路を有する第二画素回路とに接続され、前記二重変換利得回路および前記高ダイナミックレンジ回路の双方に共通制御信号を提供するための制御線を含み、
前記二重変換利得回路は、キャパシタと二重変換利得トランジスタで構成され、
前記高ダイナミックレンジ回路は高ダイナミックレンジトランジスタで構成され、
前記制御線がイネーブルになったとき、前記第二画素回路に関連して設けられたフローティング拡散領域の電荷が読み出され、前記第二画素回路の前記二重変換利得回路の前記キャパシタに格納する
ことを特徴とするイメージングシステム。 - 各前記第一および第二画素回路は第一および第二画素セルを含むことを特徴とする請求項16記載のイメージングシステム。
- 前記第一および第二画素セル各々は光変換装置を含むことを特徴とする請求項17記載のイメージングシステム。
- 前記第一画素回路は該第一画素回路の前記第一および第二画素セルによって共有されるフローティング拡散領域をさらに含むことを特徴とする請求項17記載のイメージングシステム。
- 前記第一画素回路は該第一画素回路の前記第一および第二画素セルによって共有される読み出し回路をさらに含むことを特徴とする請求項17記載のイメージングシステム。
- 前記読み出し回路は列選択ゲートおよびソースフォロワゲートを含むことを特徴とする請求項20記載のイメージングシステム。
- プロセッサ、および
イメージャを含み、
前記イメージャは画素アレイを含み、
前記画素アレイは、前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置された高ダイナミックレンジ回路を有する第一画素回路と前記第一画素回路に対して斜め方向に位置し前記画素アレイの第一の行および第一の列に配置された二重変換利得回路を有する第二画素回路とに接続され、前記二重変換利得回路および前記高ダイナミックレンジ回路の双方に共通制御信号を提供するための制御線を含み、
前記二重変換利得回路は、キャパシタと二重変換利得トランジスタで構成され、
前記高ダイナミックレンジ回路は高ダイナミックレンジトランジスタで構成され、
前記制御線がイネーブルになったとき、前記第二画素回路に関連して設けられたフローティング拡散領域の電荷が読み出され、前記第二画素回路の前記二重変換利得回路の前記キャパシタに格納する
ことを特徴とするプロセッサシステム。 - 各前記第一および第二画素回路は第一および第二画素セルを含むことを特徴とする請求項22記載のプロセッサシステム。
- 前記第一および第二画素セル各々は光変換装置を含むことを特徴とする請求項23記載のプロセッサシステム。
- 前記第一画素回路は該第一画素回路の前記第一および第二画素セルによって共有されるフローティング拡散領域をさらに含むことを特徴とする請求項23記載のプロセッサシステム。
- 前記第一画素回路は該第一画素回路の前記第一および第二画素セルによって共有される読み出し回路をさらに含むことを特徴とする請求項23記載のプロセッサシステム。
- 前記読み出し回路は列選択ゲートおよびソースフォロワゲートを含むことを特徴とする請求項26記載のプロセッサシステム。
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JP5205155B2 (ja) * | 2007-08-31 | 2013-06-05 | パナソニック株式会社 | 固体撮像素子 |
US8077237B2 (en) | 2007-10-16 | 2011-12-13 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus for controlling dual conversion gain signal in imaging devices |
US7777804B2 (en) * | 2007-10-26 | 2010-08-17 | Omnivision Technologies, Inc. | High dynamic range sensor with reduced line memory for color interpolation |
US20090237540A1 (en) * | 2008-03-20 | 2009-09-24 | Micron Technology, Inc. | Imager method and apparatus having combined gate signals |
US8299513B2 (en) * | 2008-04-30 | 2012-10-30 | Omnivision Technologies, Inc. | High conversion gain image sensor |
US20090272881A1 (en) * | 2008-05-05 | 2009-11-05 | Xiangli Li | Apparatus, method, and system providing pixel having increased fill factor |
US20090321799A1 (en) * | 2008-06-25 | 2009-12-31 | Velichko Sergey A | Method and apparatus for increasing conversion gain in imagers |
JP5257176B2 (ja) * | 2009-03-18 | 2013-08-07 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器 |
US8294077B2 (en) | 2010-12-17 | 2012-10-23 | Omnivision Technologies, Inc. | Image sensor having supplemental capacitive coupling node |
US8456557B2 (en) | 2011-01-31 | 2013-06-04 | SK Hynix Inc. | Dynamic range extension for CMOS image sensors for mobile applications |
US8749665B2 (en) * | 2011-01-31 | 2014-06-10 | SK Hynix Inc. | Dynamic range extension for CMOS image sensors for mobile applications |
JP2013034045A (ja) * | 2011-08-01 | 2013-02-14 | Sony Corp | 固体撮像装置、撮像装置 |
US8729451B2 (en) | 2011-08-30 | 2014-05-20 | Omnivision Technologies, Inc. | Multilevel reset voltage for multi-conversion gain image sensor |
FR2982075A1 (fr) * | 2011-10-26 | 2013-05-03 | St Microelectronics Sa | Capteur d'images comprenant des elements d'image selectionnables individuellement |
US8817154B2 (en) * | 2012-08-30 | 2014-08-26 | Omnivision Technologies, Inc. | Image sensor with fixed potential output transistor |
US9083899B2 (en) * | 2013-02-21 | 2015-07-14 | Omnivision Technologies, Inc. | Circuit structure for providing conversion gain of a pixel array |
US9628732B2 (en) * | 2013-08-23 | 2017-04-18 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imaging systems and methods for performing column-based image sensor pixel gain adjustments |
JP6176062B2 (ja) * | 2013-11-06 | 2017-08-09 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 |
US9118851B2 (en) * | 2013-11-21 | 2015-08-25 | Omnivision Technologies, Inc. | High dynamic range image sensor read out architecture |
KR102215822B1 (ko) * | 2014-03-13 | 2021-02-16 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서의 단위 픽셀, 이를 포함하는 이미지 센서 및 이미지 센서의 제조 방법 |
US9386240B1 (en) * | 2015-03-12 | 2016-07-05 | Omnivision Technologies, Inc. | Compensation for dual conversion gain high dynamic range sensor |
US9948875B2 (en) * | 2015-10-01 | 2018-04-17 | Semiconductor Components Industries, Llc | High dynamic range imaging pixels with improved readout |
US9843738B2 (en) | 2015-10-01 | 2017-12-12 | Semiconductor Components Industries, Llc | High dynamic range imaging pixels with improved readout |
JP6762714B2 (ja) * | 2015-12-28 | 2020-09-30 | ブリルニクス インク | 固体撮像装置およびその駆動方法、電子機器 |
CN105472255B (zh) * | 2015-12-30 | 2019-02-26 | 深圳Tcl数字技术有限公司 | 视频播放控制方法及装置 |
US10110839B2 (en) | 2016-05-03 | 2018-10-23 | Semiconductor Components Industries, Llc | Dual-photodiode image pixel |
KR102678455B1 (ko) | 2016-12-30 | 2024-06-27 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 |
JP2018186398A (ja) * | 2017-04-26 | 2018-11-22 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置、および電子機器 |
JP7018294B2 (ja) * | 2017-11-10 | 2022-02-10 | ブリルニクス シンガポール プライベート リミテッド | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、および電子機器 |
US10560649B2 (en) * | 2018-02-20 | 2020-02-11 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imaging systems having dual storage gate overflow capabilities |
US10437120B1 (en) | 2018-04-23 | 2019-10-08 | Omnivision Technologies, Inc. | Methods and systems for displaying high dynamic range images |
US10741592B2 (en) | 2018-06-07 | 2020-08-11 | Semiconductor Components Industries, Llc | Image sensors with multi-photodiode image pixels and vertical transfer gates |
US10510796B1 (en) | 2018-06-14 | 2019-12-17 | Omnivision Technologies, Inc. | Small pixels having dual conversion gain providing high dynamic range |
CN109151293B (zh) * | 2018-11-02 | 2020-10-27 | 思特威(上海)电子科技有限公司 | 具有增益补偿的hdr图像传感器、读出电路及方法 |
JP2020161520A (ja) * | 2019-03-25 | 2020-10-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像装置 |
KR20200118723A (ko) | 2019-04-08 | 2020-10-16 | 삼성전자주식회사 | 픽셀 그룹들을 포함하는 이미지 센서 및 이를 포함하는 전자 장치 |
KR20210102517A (ko) * | 2020-02-10 | 2021-08-20 | 삼성전자주식회사 | 듀얼 컨버전 게인을 이용하여 hdr 이미지를 구현하기 위한 이미지 센서 |
DE102021113883A1 (de) * | 2020-06-04 | 2021-12-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Bildsensor, elektronische vorrichtung, und betriebsverfahren eines bildsensors |
KR20220021191A (ko) * | 2020-08-13 | 2022-02-22 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
JP7524699B2 (ja) * | 2020-09-30 | 2024-07-30 | セイコーエプソン株式会社 | 表示装置、及び電子機器 |
KR20220051623A (ko) | 2020-10-19 | 2022-04-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 및 그의 동작 방법 |
KR20220103282A (ko) * | 2021-01-15 | 2022-07-22 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
CN117061895A (zh) * | 2022-05-13 | 2023-11-14 | 广州印芯半导体技术有限公司 | 图像传感器以及图像传感方法 |
CN116055890B (zh) * | 2022-08-29 | 2024-08-02 | 荣耀终端有限公司 | 生成高动态范围视频的方法和电子设备 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10108074A (ja) * | 1996-08-20 | 1998-04-24 | Xerox Corp | 高感度イメージセンサアレイ |
JPH10248035A (ja) * | 1997-03-04 | 1998-09-14 | Sony Corp | ブルーミング防止構造を備えた固体撮像素子のダイナミックレンジ拡大方法 |
EP0865197A2 (en) * | 1997-03-14 | 1998-09-16 | Matsushita Electronics Corporation | Physical quantity distribution sensor, method of driving said sensor and method of producing said sensor |
JP2000152086A (ja) * | 1998-11-11 | 2000-05-30 | Canon Inc | 撮像装置および撮像システム |
JP2000196962A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-14 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | Cmosイメ―ジセンサ及びその駆動方法 |
JP2001186414A (ja) * | 1999-10-26 | 2001-07-06 | Eastman Kodak Co | ダイナミックレンジを拡大させるmos画像形成装置 |
JP2001238132A (ja) * | 2000-02-21 | 2001-08-31 | Victor Co Of Japan Ltd | Mos型固体撮像装置及びその撮像方法。 |
JP2004140149A (ja) * | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその制御方法 |
US20040251394A1 (en) * | 2003-06-11 | 2004-12-16 | Rhodes Howard E. | Dual conversion gain imagers |
US20050110093A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Altice Peter P.Jr. | Anti-blooming storage pixel |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3031606B2 (ja) * | 1995-08-02 | 2000-04-10 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置と画像撮像装置 |
US6160281A (en) * | 1997-02-28 | 2000-12-12 | Eastman Kodak Company | Active pixel sensor with inter-pixel function sharing |
US6107655A (en) * | 1997-08-15 | 2000-08-22 | Eastman Kodak Company | Active pixel image sensor with shared amplifier read-out |
TW439285B (en) | 1998-11-30 | 2001-06-07 | Toshiba Corp | Solid-state imaging device |
US6218656B1 (en) * | 1998-12-30 | 2001-04-17 | Eastman Kodak Company | Photodiode active pixel sensor with shared reset signal row select |
US6657665B1 (en) * | 1998-12-31 | 2003-12-02 | Eastman Kodak Company | Active Pixel Sensor with wired floating diffusions and shared amplifier |
KR100363826B1 (ko) | 1999-06-07 | 2002-12-06 | 히다치덴시 가부시키가이샤 | 넓은 다이내믹레인지의 영상신호를 생성하는텔레비젼신호처리장치와 그 신호처리장치를 가지는텔레비젼카메라 및 텔레비젼신호처리방법 |
US6654057B1 (en) * | 1999-06-17 | 2003-11-25 | Micron Technology, Inc. | Active pixel sensor with a diagonal active area |
JP3658278B2 (ja) * | 2000-05-16 | 2005-06-08 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置およびそれを用いた固体撮像システム |
US6552323B2 (en) * | 2000-12-06 | 2003-04-22 | Eastman Kodak Company | Image sensor with a shared output signal line |
US7274397B2 (en) * | 2003-08-11 | 2007-09-25 | Micron Technology, Inc. | Image sensor with active reset and randomly addressable pixels |
US7087883B2 (en) * | 2004-02-04 | 2006-08-08 | Omnivision Technologies, Inc. | CMOS image sensor using shared transistors between pixels with dual pinned photodiode |
-
2005
- 2005-07-12 US US11/178,324 patent/US7728896B2/en active Active
-
2006
- 2006-07-07 WO PCT/US2006/026280 patent/WO2007008554A1/en active Application Filing
- 2006-07-07 JP JP2008521435A patent/JP4853742B2/ja active Active
- 2006-07-07 KR KR1020087003402A patent/KR100937320B1/ko active IP Right Grant
- 2006-07-07 EP EP06786437.1A patent/EP1908272B1/en active Active
- 2006-07-07 CN CN200680032729.0A patent/CN101258738B/zh active Active
- 2006-07-12 TW TW095125374A patent/TWI324879B/zh active
-
2010
- 2010-04-06 US US12/755,060 patent/US7898588B2/en active Active
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10108074A (ja) * | 1996-08-20 | 1998-04-24 | Xerox Corp | 高感度イメージセンサアレイ |
JPH10248035A (ja) * | 1997-03-04 | 1998-09-14 | Sony Corp | ブルーミング防止構造を備えた固体撮像素子のダイナミックレンジ拡大方法 |
EP0865197A2 (en) * | 1997-03-14 | 1998-09-16 | Matsushita Electronics Corporation | Physical quantity distribution sensor, method of driving said sensor and method of producing said sensor |
JPH10257392A (ja) * | 1997-03-14 | 1998-09-25 | Matsushita Electron Corp | 物理量分布検知半導体装置およびその駆動方法ならびにその製造方法 |
JP2000152086A (ja) * | 1998-11-11 | 2000-05-30 | Canon Inc | 撮像装置および撮像システム |
JP2000196962A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-14 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | Cmosイメ―ジセンサ及びその駆動方法 |
JP2001186414A (ja) * | 1999-10-26 | 2001-07-06 | Eastman Kodak Co | ダイナミックレンジを拡大させるmos画像形成装置 |
JP2001238132A (ja) * | 2000-02-21 | 2001-08-31 | Victor Co Of Japan Ltd | Mos型固体撮像装置及びその撮像方法。 |
JP2004140149A (ja) * | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその制御方法 |
US20040251394A1 (en) * | 2003-06-11 | 2004-12-16 | Rhodes Howard E. | Dual conversion gain imagers |
WO2004112376A1 (en) * | 2003-06-11 | 2004-12-23 | Micron Technology, Inc. | Dual conversion gain imagers |
US20050110093A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Altice Peter P.Jr. | Anti-blooming storage pixel |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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