JP4816050B2 - センサーパッケージおよびその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、センサーパッケージに係り、特にセンサーのアクティブ面側に保護材を備えた気密封止型のセンサーパッケージと、このセンサーパッケージを簡便に製造する方法に関する。
従来から、CCD、CMOS等のイメージセンサー、加速度センサー等の各種MEMS(Micro Electromechanical System)センサーが種々の用途に用いられている。例えば、イメージセンサーは、半導体チップの一方の面が、光電変換を行う受光素子が配設されたアクティブ面となっている。このようなセンサーは、アクティブ面を保護したり、センサーの稼動を確保するために、センサー本体のアクティブ面に空隙部を設けるように保護材が配設され気密封止されたパッケージ構造となっている(特許文献1、2)。
特開平8−88339号公報 特開平10−135434号公報
しかしながら、従来のセンサーパッケージは、例えば、はんだ等の接合部材を所望の連続形状で保護材に予め形成し、この保護材をセンサー本体に当接させ、高温で接合部材を溶融させて保護材とセンサー本体とを接合したものである。したがって、接合時に密封された空間内の気体が膨張して、溶融状態にある接合部材に破損が生じることがあり、この場合、気密封止が不十分となって実用に供し得ないという問題があった。
本発明は、上記のような実情に鑑みてなされたものであり、信頼性が高いセンサーパッケージと、このようなセンサーパッケージを簡便に製造するための製造方法を提供することを目的とする。
このような目的を達成するために、本発明のセンサーパッケージは、センサー本体と、該センサー本体のアクティブ面に空隙部を介して対向する保護材と、前記センサー本体の前記アクティブ面の外側領域に環状に配設され前記空隙部を気密封止するように前記センサー本体と前記保護材とを接合する接合部材とを備え、前記センサー本体と前記保護材の対向する面の面積は、保護材の面積が小さく、前記保護材は前記空隙部に位置する部位に穿設された微細貫通孔と、該微細貫通孔内に配設された閉塞部材とを有し、さらに、前記保護材は前記アクティブ面対向部位の外側に前記センサー本体と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記センサー本体と対向する面の周縁角部において前記接合部材により前記センサー本体に接合されており、前記接合部材はろう材層の上下に金属層を積層した多層構造であり、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に位置する金属層の面積は、ろう材層を介してこれと対向する部位にある金属層の面積よりも小さいような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサー本体は、前記アクティブ面の外側に複数の係合用凹部を有し、該係合用凹部内に前記係合用凸部が当接しているような構成とした。
また、本発明のセンサーパッケージは、センサー本体と、該センサー本体のアクティブ面に空隙部を介して対向する保護材と、前記センサー本体の前記アクティブ面の外側領域に環状に配設され前記空隙部を気密封止するように前記センサー本体と前記保護材とを接合する接合部材とを備え、前記センサー本体と前記保護材の対向する面の面積は、保護材の面積が小さく、前記センサー本体は前記アクティブ面の外側に前記保護材と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記空隙部に位置する部位に穿設された微細貫通孔と、該微細貫通孔内に配設された閉塞部材とを有し、前記保護材は前記センサー本体と対向する面の周縁角部において前記接合部材により前記センサー本体に接合されており、前記接合部材はろう材層の上下に金属層を積層した多層構造であり、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に位置する金属層の面積は、ろう材層を介してこれと対向する部位にある金属層の面積よりも小さいような構成とした。
本発明の他の態様として、前記保護材は、前記アクティブ面対向部位の外側に複数の係合用凹部を有し、該係合用凹部内に前記係合用凸部が当接しているような構成とした。
また、本発明のセンサーパッケージは、センサー本体と、該センサー本体のアクティブ面に空隙部を介して対向する保護材と、前記センサー本体の前記アクティブ面の外側領域に環状に配設され前記空隙部を気密封止するように前記センサー本体と前記保護材とを接合する接合部材とを備え、前記センサー本体と前記保護材の対向する面の面積は、保護材の面積が小さく、前記センサー本体は前記アクティブ面の外側に前記保護材と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記空隙部に位置する部位に穿設された微細貫通孔と、該微細貫通孔内に配設された閉塞部材とを有し、かつ、前記アクティブ面対向部位の外側に前記センサー本体の前記係合用凸部と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記センサー本体と対向する面の周縁角部において前記接合部材により前記センサー本体に接合されており、前記接合部材はろう材層の上下に金属層を積層した多層構造であり、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に位置する金属層の面積は、ろう材層を介してこれと対向する部位にある金属層の面積よりも小さいような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサー本体は、前記接合部材よりも外側の領域に複数の端子を有するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサー本体は、前記接合部材よりも内側の領域に凹部を有し、該凹部に前記アクティブ面を備えるような構成とした。
本発明の他の態様として、前記保護材は、前記接合部材よりも内側の領域に凹部を有し、該凹部が前記アクティブ面と対向するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記ろう材層は、Sn−Au合金、Sn−Ag合金、Sn−Bi合金、Sn−Zn合金、Sn−Pb合金、Sn−In合金、In−Pb合金等の二元系、あるいは該二元系に他の金属を添加した三元系以上の合金のいずれかであるような構成とした。
本発明の他の態様として、前記金属層は、Au/Ti積層、Au/Cr積層、Cu/Ti積層、Cu/Cr積層、Au/Ni/Cu/Ti積層、Au/Ni/Cu/Cr積層のいずれかであるような構成とした。
本発明のセンサーパッケージの製造方法は、対向するセンサー本体よりも小さい対向面形状を有し、一方の面に複数の係合用凸部を有する保護材に微細貫通孔を穿設する工程と、センサー本体のアクティブ面と前記保護材の前記微細貫通孔とが環状の接合部位の内側となるように、前記保護材の前記係合用凸部を前記センサー本体に当接させ、前記保護材の前記センサー本体と対向する面の周縁角部において環状の接合部材を介して前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程と、前記保護材の微細貫通孔を閉塞して、前記センサー本体、前記保護材および前記接合部材で囲まれた空隙部を気密封止する工程と、を有し、前記センサー本体と前記保護材の周縁角部の接合部位に、接合前に予め金属層を形成し、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に形成する金属層の面積は、前記センサー本体に形成する金属層の面積よりも小さいものとし、前記センサー本体の金属層と前記保護材の周縁角部の金属層とをろう材層を介して接合することにより、ろう材層の上下に金属層を積層した多層構造の前記接合部材で前記センサー本体と前記保護材とを接合するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記保護材に微細貫通孔を穿設する工程において、前記保護材の係合用凸部に対応した複数の係合用凹部をセンサー本体のアクティブ面の外側に形成し、前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程では、センサー本体の係合用凹部内に保護材の係合用凸部を当接させるような構成とした。
また、本発明のセンサーパッケージの製造方法は、対向するセンサー本体よりも小さい対向面形状を有する保護材に微細貫通孔を穿設し、センサー本体のアクティブ面の外側に複数の係合用凸部を形成する工程と、センサー本体のアクティブ面と前記保護材の前記微細貫通孔とが環状の接合部位の内側となるように、前記センサー本体の前記係合用凸部を前記保護材に当接させ、前記保護材の前記センサー本体と対向する面の周縁角部において環状の接合部材を介して前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程と、前記保護材の微細貫通孔を閉塞して、前記センサー本体、前記保護材および前記接合部材で囲まれた空隙部を気密封止する工程と、を有し、前記センサー本体と前記保護材の周縁角部の接合部位に、接合前に予め金属層を形成し、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に形成する金属層の面積は、前記センサー本体に形成する金属層の面積よりも小さいものとし、前記センサー本体の金属層と前記保護材の周縁角部の金属層とをろう材層を介して接合することにより、ろう材層の上下に金属層を積層した多層構造の前記接合部材で前記センサー本体と前記保護材とを接合するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記保護材に微細貫通孔を穿設する工程において、前記センサー本体の係合用凸部に対応した複数の係合用凹部を保護材に形成し、前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程では、保護材の係合用凹部内にセンサー本体の係合用凸部を当接させるような構成とした。
また、本発明のセンサーパッケージの製造方法は、対向するセンサー本体よりも小さい対向面形状を有し、一方の面に複数の係合用凸部を有する保護材に微細貫通孔を穿設し、センサー本体のアクティブ面の外側に複数の係合用凸部を形成する工程と、センサー本体のアクティブ面と前記保護材の前記微細貫通孔とが環状の接合部位の内側となるように、前記保護材の前記係合用凸部を前記センサー本体の前記係合用凸部に当接させ、前記保護材の前記センサー本体と対向する面の周縁角部において環状の接合部材を介して前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程と、前記保護材の微細貫通孔を閉塞して、前記センサー本体、前記保護材および前記接合部材で囲まれた空隙部を気密封止する工程と、を有し、前記センサー本体と前記保護材の周縁角部の接合部位に、接合前に予め金属層を形成し、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に形成する金属層の面積は、前記センサー本体に形成する金属層の面積よりも小さいものとし、前記センサー本体の金属層と前記保護材の周縁角部の金属層とをろう材層を介して接合することにより、ろう材層の上下に金属層を積層した多層構造の前記接合部材で前記センサー本体と前記保護材とを接合するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記空隙部を気密封止する工程では、気密封止前に前記空隙部の雰囲気を不活性ガスまたは窒素ガスの雰囲気とするような構成とした。
本発明の他の態様として、前記空隙部を気密封止する工程では、気密封止前に真空チャンバー内において減圧することにより前記空隙部を減圧状態とするような構成とした。
本発明の他の態様として、前記微細貫通孔の壁面に金属層を形成するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程を真空チャンバー内で行うような構成とした。
このような本発明のセンサーパッケージは、アクティブ面が位置する空隙部の気密性が高いので、アクティブ面の汚染が確実に防止され、また、センサー本体、保護材の少なくとも一方に設けた係合用凸部により、空隙部が高い精度で維持され、センサー特性の精密な制御が可能となり、かつ、信頼性が高いものである。
また、本発明のセンサーパッケージの製造方法では、接合部材によるセンサー本体と保護材との接合の際、空隙部内の気体が膨脹しても、保護材が備える微細貫通孔を介して気体が外部に自由に逃げることができるので、気体膨脹による接合部材の破損が防止されるとともに、センサー本体と保護材との接合完了後に微細貫通孔が閉塞されることにより、確実な気密封止が可能である。また、センサー本体、保護材の少なくとも一方に設けた係合用凸部を接合対象と当接させた状態で接合を行うので、高い精度で空隙部を形成することができ、また、センサー本体、保護材の一方に係合用凸部を設け、他方に係合用凹部を設けた場合には、接合時のセンサー本体と保護材との位置合わせを高い精度で容易に行うことができ、ひいては、センサー特性の精密な制御が可能となる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
[センサーパッケージ]
図1は、本発明のセンサーパッケージの一実施形態を示す平面図であり、図2は図1に示されるセンサーパッケージのA−A線での概略断面図である。図1及び図2において、本発明のセンサーパッケージ1は、センサー本体2と、このセンサー本体2のアクティブ面3に空隙部19を介して対向する保護材12と、アクティブ面3の外側領域に環状に配設され空隙部19を気密封止するようにセンサー本体2と保護材12とを接合する接合部材8とを備えている。
本発明のセンサーパッケージ1を構成するセンサー本体2は、凹部4にアクティブ面3を有していおり、また、接合部材8よりも外側の領域には複数の端子5を備えている。センサー本体2には特に制限はなく、CCD、CMOS等のイメージセンサーや、加速度センサー、圧力センサー、ジャイロセンサー等の各種MEMS(Micro Electromechanical System)センサー等であってよい。尚、上記のアクティブ面3は、例えば、光電変換を行う受光素子が複数の画素をなすように配列された領域等、センサーの所望の検知機能を発現する領域を意味する。
アクティブ面3が位置する凹部4の深さは、任意に設定することができ、例えば、5〜200μmの範囲で設定することができる。また、上記の端子5は、図示しない引き出し配線等によりアクティブ面の所望の部位と接続されている。
センサーパッケージ1を構成する保護材12は、対向するセンサー本体2よりも小さい対向面形状を有しており、センサー本体2と対向する面の周縁角部において、接合部材8によりセンサー本体2に接合されている。また、保護材12は、アクティブ面3との対向部位の外側であって空隙部19に位置する部位に穿設された微細貫通孔13と、この微細貫通孔13内に配設された閉塞部材16を有している。さらに、保護材12は、センサー本体2との対向面に、4個の係合用凸部14を備えており、これらの係合用凸部14はセンサー本体2に当接している。
この保護材12の材質は、センサーパッケージ1の用途に応じて適宜選択することができ、例えば、CCD、CMOS等のイメージセンサーの場合は、ガラス、サファイヤ等の無機透光性部材を挙げることができる。また、加速度センサー、圧力センサー、ジャイロセンサー等の各種MEMSセンサーの場合は、熱膨張係数の整合を考慮して、センサー本体2と同じシリコンであってよく、また、各種金属、無機絶縁材料等であってもよい。このような保護材12の厚みは、材質、光透過性等を考慮して、例えば、0.3〜1mmの範囲で設定することができる。
保護材12と、センサー本体2のアクティブ面3との間に存在する空隙部19の厚みは、例えば、5〜200μmの範囲で設定することができる。この空隙部19は、アクティブ面3の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
また、上記の微細貫通孔13は、図示例では1個であるが、複数個(例えば、2〜4個)であってもよい。また、微細貫通孔13の形状は特に制限はなく、その開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
また、係合用凸部14は、センサー本体2のアクティブ面3の外側に位置しており、図示例では、方形状の保護材の四隅近傍に形成されている。このような係合用凸部14の高さは、空隙部19の設定厚みに応じて適宜設定することができ、例えば、5〜100μm程度とすることができる。また、係合用凸部14の太さは、例えば、5〜100μm程度とすることができる。このような係合用凸部14の数は、3個以上であることが好ましい。
図3は、センサーパッケージ1を構成する接合部材8と、閉塞部材16を説明するための部分拡大断面図である。
図3に示されるように、センサー本体2と保護材12とを接合する接合部材8は、ろう材層9を挟持するように金属層10,11を積層したような多層構造である。
ろう材層9は、融点が450℃以下である、いわゆる「軟ろう」であり、例えば、Sn−Au合金、Sn−Ag合金、Sn−Bi合金、Sn−Zn合金、Sn−Pb合金、Sn−In合金、In−Pb合金等の二元系、あるいは該二元系に他の金属を添加した三元系以上の合金のいずれかからなる層であってよい。
金属層10は、図示例では、金属層10a、金属層10bとの積層であり、例えば、Au/Ti積層、Au/Cr積層、Cu/Ti積層、Cu/Cr積層等とすることができる。さらに、酸化を防止し、ろう材層9との濡れ性を良好とするために、金属層10をAu/Ni/Cu/Ti積層、あるいは、Au/Ni/Cu/Cr積層等の4層構造にしてもよい。この金属層10の厚みは、例えば、0.05〜0.3μm程度とし、金属層10a、金属層10bの各厚みは、例えば、3〜50μm程度で設定することができる。
また、金属層11は、保護材12の周縁角部に形成されており、図示例では、金属層11a、金属層11bとの積層である。このような積層状態の金属層11は、例えば、Au/Ti積層、Au/Cr積層、Cu/Ti積層、Cu/Cr積層等とすることができる。この金属層11の厚みは、例えば、0.05〜0.3μm程度とし、金属層11a、金属層11bの各厚みは、例えば、3〜50μm程度で設定することができる。
尚、金属層10,11は単層でも、また、上記の4層構造を含む3層以上の積層でもよい。
図示例では、金属層10の面積が、これと対向する部位にある金属層11の面積よりも大きいものとなっている。これは、後述する本発明の製造方法において、センサー本体2と保護材12とを接合する際に、ろう材層9の良好な端面形状の形成を可能とし、センサー本体2と保護材12との位置合わせを容易とするためである。
一方、閉塞部材16は、図3に示されるように、微細貫通孔13の壁面に形成された金属層17と、微細貫通孔13内に充填されたろう材層18からなっている。
閉塞部材16をなす金属層17は、図示例では、金属層17a、金属層17bの積層であり、例えば、Au/Ti積層、Au/Cr積層、Cu/Ti積層、Cu/Cr積層等とすることができる。金属層17の厚みは、例えば、0.05〜0.3μm程度とし、金属層17a、金属層17bの各厚みは、例えば、3〜50μm程度で設定することができる。尚、金属層17は単層でも、また、上記の4層構造(Au/Ni/Cu/Ti積層、Au/Ni/Cu/Cr積層)を含む3層以上の積層でもよい。
また、ろう材層18は、融点が450℃以下である、いわゆる「軟ろう」であり、例えば、Sn−Au合金、Sn−Ag合金、Sn−Bi合金、Sn−Zn合金、Sn−Pb合金、Sn−In合金、In−Pb合金等の二元系、あるいは該二元系に他の金属を添加した三元系以上の合金のいずれかからなるものであってよい。
図4は、本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す平面図であり、図5は図4に示されるセンサーパッケージのB−B線での概略断面図である。図4及び図5において、本発明のセンサーパッケージ21は、センサー本体22と、このセンサー本体22のアクティブ面23に空隙部39を介して対向する保護材32と、アクティブ面23の外側領域に環状に配設され空隙部39を気密封止するようにセンサー本体22と保護材32とを接合する接合部材28とを備えている。
センサーパッケージ21を構成するセンサー本体22は、上述のセンサー本体2と同様であり、凹部24にアクティブ面23を有していおり、また、接合部材28よりも外側の領域には複数の端子25を備えている。
センサーパッケージ21を構成する保護材32は、対向するセンサー本体22と同じ対向面形状を有している。また、保護材32は、アクティブ面23との対向部位の外側であって空隙部39に位置する部位に穿設された微細貫通孔33と、この微細貫通孔33内に配設された閉塞部材36を有している。さらに、保護材32は、センサー本体22との対向面に、4個の係合用凸部34を備えており、これらの係合用凸部34はセンサー本体2に当接している。
このような保護材32の材質、厚みは、上述の保護材12と同様である。また、上記の微細貫通孔33は、図示例では1個であるが、複数個(例えば、2〜4個)であってもよい。微細貫通孔33の形状は特に制限はなく、その開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
また、係合用凸部34は、接合部材28の中に位置しており、図示例では、方形状の保護材の四隅近傍に形成されている。このような係合用凸部34の高さは、空隙部39の設定厚みに応じて適宜設定することができ、例えば、5〜200μmの範囲で設定することができる。また、係合用凸部34の太さは、例えば、5〜200μm程度とすることができる。このような係合用凸部34の数は、3個以上であることが好ましい。
保護材32と、センサー本体22のアクティブ面23との間に存在する空隙部39の厚みは、例えば、5〜200μmの範囲で設定することができる。この空隙部30は、アクティブ面23の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
図6は、センサーパッケージ21を構成する接合部材28と、閉塞部材36を説明するための部分拡大断面図である。図6に示されるように、センサー本体22と保護材32とを接合する接合部材28は、ろう材層29を挟持するように金属層30,31を積層したような多層構造である。
ろう材層29の材質は、上述のろう材層9と同様とすることができる。また、金属層30,31は、図示例では、それぞれ金属層30a、金属層30bとの積層、金属層31a、金属層31bとの積層である。このような積層状態の金属層30,31は、例えば、Au/Ti積層、Au/Cr積層、Cu/Ti積層、Cu/Cr積層等とすることができる。金属層30,31の厚みは、例えば、0.05〜0.3μm程度とし、金属層30a、金属層30bの各厚み、あるいは、金属層31a、金属層31bの各厚みは、例えば、3〜50μm程度で設定することができる。尚、金属層30,31は単層でも、また、上述の4層構造(Au/Ni/Cu/Ti積層、Au/Ni/Cu/Cr積層)を含む3層以上の積層でもよい。
図示例では、ろう材層29の上下に位置する金属層30,31の面積が異なっており、金属層30が金属層31よりも大きいものとなっている。これは、センサー本体22と保護材32とを接合する際に、ろう材層29の良好な端面形状の形成を可能とし、また、センサー本体22と保護材32との位置合わせを容易とするためである。尚、金属層31が金属層30よりも大きいものであってもよい。
また、閉塞部材36は、図6に示されるように、微細貫通孔33の壁面に形成された金属層37と、微細貫通孔33に充填されたろう材層38からなっている。このような金属層37、ろう材層38からなる閉塞部材36は、上述の実施形態の閉塞部材16、金属層17、ろう材層18と同様とすることができる。
図7は、本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。図7において、本発明のセンサーパッケージ41は、センサー本体42と、このセンサー本体42のアクティブ面43に空隙部59を介して対向する保護材52と、アクティブ面43の外側領域に環状に配設され空隙部59を気密封止するようにセンサー本体42と保護材52とを接合する接合部材48とを備えている。
センサーパッケージ41を構成するセンサー本体42は、係合用凹部46を有している点を除いて、上述のセンサー本体2と同様であり、接合部材48よりも外側の領域には複数の端子45を備えている。
センサーパッケージ41を構成する保護材52は、係合用凸部54の高さが、センサー本体42の係合用凹部46内に当接した状態で所望の厚みの空隙部59が得られるように設定されている他は、上述の保護材12と同様である。
このような保護材52の材質、厚みは、上述の保護材12と同様である。また、上記の微細貫通孔53の開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
また、センサーパッケージ41を構成する接合部材48、微細貫通孔53を閉塞する閉塞部材56は、上述の実施形態の接合部材8、閉塞部材16と同様である。
空隙部59は、アクティブ面43の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
図8は、本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図5相当の概略断面図である。図8において、本発明のセンサーパッケージ61は、センサー本体62と、このセンサー本体62のアクティブ面63に空隙部79を介して対向する保護材72と、アクティブ面63の外側領域に環状に配設され空隙部79を気密封止するようにセンサー本体62と保護材72とを接合する接合部材68とを備えている。
センサーパッケージ61を構成するセンサー本体62は、係合用凹部66を有している点を除いて、上述のセンサー本体22と同様であり、接合部材68よりも外側の領域には複数の端子65を備えている。
また、センサーパッケージ61を構成する保護材72は、係合用凸部74の高さが、センサー本体62の係合用凹部66内に当接した状態で所望の厚みの空隙部79が得られるように設定されている他は、上述の保護材32と同様である。
このような保護材72の材質、厚みは、上述の保護材32と同様である。また、上記の微細貫通孔73の開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
また、センサーパッケージ61を構成する接合部材68、微細貫通孔73を閉塞する閉塞部材76は、上述の実施形態の接合部材28、閉塞部材36と同様である。
空隙部79は、アクティブ面63の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
図9は、本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。図9において、本発明のセンサーパッケージ81は、センサー本体82と、このセンサー本体82のアクティブ面83に空隙部99を介して対向する保護材92と、アクティブ面83の外側領域に環状に配設され空隙部99を気密封止するようにセンサー本体82と保護材92とを接合する接合部材88とを備えている。
センサーパッケージ81を構成するセンサー本体82は、係合用凸部87を有している点を除いて、上述のセンサー本体2と同様であり、接合部材88よりも外側の領域には複数の端子85を備えている。
また、センサーパッケージ81を構成する保護材92は、係合用凸部を備えていない他は、上述の保護材12と同様であり、微細貫通孔93の開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
また、センサーパッケージ81を構成する接合部材88、微細貫通孔93を閉塞する閉塞部材96は、上述の実施形態の接合部材8、閉塞部材16と同様である。
空隙部99は、アクティブ面83の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
図10は、本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。図10において、本発明のセンサーパッケージ101は、センサー本体102と、このセンサー本体102のアクティブ面103に空隙部119を介して対向する保護材112と、アクティブ面103の外側領域に環状に配設され空隙部119を気密封止するようにセンサー本体102と保護材112とを接合する接合部材108とを備えている。
センサーパッケージ101を構成するセンサー本体102は、係合用凸部107を有している点を除いて、上述のセンサー本体2と同様であり、接合部材108よりも外側の領域には複数の端子105を備えている。
また、センサーパッケージ101を構成する保護材112は、係合用凸部の代わりに、係合用凹部115を備えている他は、上述の保護材12と同様である。そして、センサー本体102の係合用凸部107は、保護材112の係合用凹部115内に当接している。また、微細貫通孔113の開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
センサーパッケージ101を構成する接合部材108、微細貫通孔113を閉塞する閉塞部材116は、上述の実施形態の接合部材8、閉塞部材16と同様である。
空隙部119は、アクティブ面103の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
図11は、本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。図11において、本発明のセンサーパッケージ121は、センサー本体122と、このセンサー本体122のアクティブ面123に空隙部139を介して対向する保護材132と、アクティブ面123の外側領域に環状に配設され空隙部139を気密封止するようにセンサー本体122と保護材132とを接合する接合部材128とを備えている。
センサーパッケージ121を構成するセンサー本体122は、係合用凸部127を有している点を除いて、上述のセンサー本体2と同様であり、接合部材128よりも外側の領域には複数の端子125を備えている。
また、センサーパッケージ121を構成する保護材132は、係合用凸部134の高さが、センサー本体122の係合用凸部127と当接した状態で所望の厚みの空隙部139が得られるように設定されている他は、上述の保護材12と同様である。また、微細貫通孔133の開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
センサーパッケージ121を構成する接合部材128、微細貫通孔133を閉塞する閉塞部材136は、上述の実施形態の接合部材8、閉塞部材16と同様である。
また、空隙部139は、アクティブ面123の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
本発明では、図5に示される実施形態のセンサーパッケージにおいても、上述の図9〜図11に示されるような係合用凸部、係合用凹部を備えたものとすることができる。例えば、図12に示すような実施形態とすることができる。図12は、本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図5相当の概略断面図であり、センサーパッケージ141は、センサー本体142と、このセンサー本体142のアクティブ面143に空隙部159を介して対向する保護材152と、アクティブ面143の外側領域に環状に配設され空隙部159を気密封止するようにセンサー本体142と保護材152とを接合する接合部材148とを備えている。
センサーパッケージ141を構成するセンサー本体142は、係合用凸部147を有している点を除いて、上述のセンサー本体22と同様であり、接合部材148よりも外側の領域には複数の端子145を備えている。
また、センサーパッケージ141を構成する保護材152は、係合用凸部の代わりに、係合凹部155を備えている他は、上述の保護材32と同様である。そして、センサー本体142の係合用凸部147は、保護材152の係合用凹部155内に当接している。また、微細貫通孔153の開口径は、例えば、5〜200μm程度とすることができる。
このような保護材152の材質、厚みは、上述の保護材32と同様である。また、センサーパッケージ141を構成する接合部材148、微細貫通孔153を閉塞する閉塞部材156は、上述の実施形態の接合部材28、閉塞部材36と同様である。
空隙部159は、アクティブ面63の保護のために、不活性ガスや窒素ガスが充填されていてもよく、また、10-1〜10-6Pa程度のやや低圧状態であってもよい。
また、上述の実施形態では、センサー本体が凹部内にアクティブ面を備えているが、本発明では、保護材がアクティブ面に対応した凹部を有するものであってもよい。図13は、このような例を示す図2相当の概略断面図である。図13に示されるセンサーパッケージ1′では、センサー本体2′は、凹部を有していない点を除いて、上述のセンサー本体2と同様である。また、保護材12′は、アクティブ面3と対向する面に、アクティブ面3の形状に対応した凹部20を備えている点を除いて、上述の保護材12と同様である。凹部20の深さは、任意に設定することができ、例えば、5〜200μmの範囲で設定することができる。
また、図14は、センサー本体が凹部内にアクティブ面を備えているとともに、保護材がアクティブ面に対応した凹部を有する例を示す図5相当の概略断面図である。図14に示されるセンサーパッケージ21′では、センサー本体22は、上述のセンサー本体22と同様であり、保護材32′は、アクティブ面23と対向する面に、アクティブ面23の形状に対応した凹部40を備えている点を除いて、上述の実施形態の保護材32と同様である。凹部40の深さは、任意に設定することができ、例えば、5〜200μmの範囲で設定することができる。
上述のような本発明のセンサーパッケージは、センサー本体のアクティブ面が位置する空隙部の気密性が高く、例えば、Heリーク率が10-9atm・cc/秒以下、好ましくは10-12atm・cc/秒以下のような高い気密性が得られ、アクティブ面の汚染が保護材により確実に防止される。
上述のセンサーパッケージは、例示であり、本発明は上述の実施形態に限定されるものではない。例えば、上述の実施形態における保護材の微細貫通孔は、CCDやCMOS等のイメージセンサーである場合を考慮して、環状の接合部材の内側で、かつ、対向するアクティブ面の外側となる位置としたが、センサー本体がイメージセンサーではなく、加速度センサー、圧力センサー、ジャイロセンサー等の各種MEMSセンサーである場合には、微細貫通孔の位置は環状の接合部材の内側に位置すればよく、アクティブ面との対向部位に位置するものであってもよい。
[センサーパッケージの製造方法]
次に、本発明のセンサーパッケージの製造方法について説明する。
図15及び図16は、本発明のセンサーパッケージの製造方法の一実施形態を、上述の図1〜図3に示すセンサーパッケージ1を例として示す工程図である。
まず、センサー本体2を作製し、また、係合用凸部14を備えた保護材12に微細貫通孔13を穿設する(図15(A))。センサー本体2の作製は、例えば、シリコンウエハを多面付けで区画し、各面付け毎に、例えば、MEMS(Micro Electromechanical System)手法等を用いて作製する。作製したセンサー本体2は、凹部4にアクティブ面3を有し、また、後工程で環状の接合部材8が配設される部位の外側の領域に複数の端子5を有するものである。
また、係合用凸部14を備えた保護材12としては、CCD、CMOS等のイメージセンサーの場合は、ガラス、サファイヤ等の無機透光性部材を挙げることができる。また、加速度センサー、圧力センサー、ジャイロセンサー等の各種MEMSセンサーの場合は、熱膨張係数の整合を考慮して、センサー本体2と同じシリコンであってよく、また、各種金属、無機絶縁材料等であってもよい。また、保護材12への係合用凸部14の形成は、例えば、保護材12の一方の面に係合用凸部14を形成するためのレジストパターンを形成し、このレジストパターンを介して保護材12に対してサンドブラスト等の研削、あるいはウェットエッチング、ドライエッチングを施すことにより行うことができる。
また、保護材原料を溶融して金型内に射出し固化することにより、係合用凸部14を備えた保護材12を形成してもよい。保護材原料は、上述のように、CCD、CMOS等のイメージセンサーの場合は、ガラス、サファイヤ等の無機透光性材料を使用することができる。また、加速度センサー、圧力センサー、ジャイロセンサー等の各種MEMSセンサーの場合は、熱膨張係数の整合を考慮して、センサー本体2と同じシリコンであってよく、また、各種金属、無機絶縁材料等であってもよい。また、使用する金型は特に制限はないが、保護材原料がガラス等の無機材料の場合、材料と金型の熱膨張率が近く、歪応力を内部に貯めることなく係合用凸部14を形成できる点を考慮して、カーボン製金型を使用することが好ましい。
保護材12に形成する係合用凸部14の数は、センサー本体2と保護材12との接合時に高い精度で空隙部19を形成するために、適宜設定することができるが、例えば、3個以上とすることが好ましい。
また、保護材12への微細貫通孔13の形成は、例えば、保護材12に所望の開口を有するマスクパターンを形成し、露出している部位に対して、プラズマを利用したドライエッチング法であるICP−RIE(Inductively Coupled Plasma − Reactive Ion Etching:誘導結合プラズマ−反応性イオンエッチング)法によりエッチングすることにより行うことができる。また、サンドブラスト法、ウェットエッチング法、フェムト秒レーザ法により微細貫通孔14を形成することもできる。このような微細貫通孔14の形成部位は、後述する環状の接合部材8の内側であり、かつ対向するアクティブ面3より外側となる位置である。但し、この例では、保護材12の微細貫通孔14は、CCDやCMOS等のイメージセンサーである場合を考慮して、環状の接合部材8の内側で、かつ、対向するアクティブ面3の外側となる位置としたが、センサー本体2がイメージセンサーではなく、加速度センサー、圧力センサー、ジャイロセンサー等の各種MEMSセンサーである場合には、微細貫通孔14の位置は環状の接合部材8の内側に位置すればよく、アクティブ面3との対向部位に位置するものであってもよい。
この工程では、接合部材8を構成する金属層10をセンサー本体2の所定部位に環状に形成し、また、接合部材8を構成する金属層11を保護材12の周縁角部に環状に形成することが好ましい。金属層10,11の形成方法には特に制限はなく、例えば、真空成膜法、無電解めっき法によりTi薄膜等の下地導電薄膜を形成し、この下地導電薄膜上に接合部材形成部位に相当する開口を有するレジストパターンを形成した後、下地導電薄膜を給電層として電解めっき法によりAu等の導電材料を析出させ、その後、レジストパターンと、露出している下地導電薄膜とを除去して形成することができる。また、センサー本体2や保護材12に形成したレジストパターンをマスクとし、真空成膜法によりTi層、Au層の積層膜等を形成し、その後、レジストパターンを除去して金属層10,11を形成してもよい。また、同様の方法により、金属層10,11を、Au/Ni/Cu/Ti積層、あるいは、Au/Ni/Cu/Cr積層等の4層構造にしてもよい。
また、この工程では、保護材12に形成した微細貫通孔13の壁面に、閉塞部材16を構成する金属層17を形成することが好ましい。この金属層17の形成方法には特に制限はなく、例えば、真空成膜法、無電解めっき法によりTi薄膜等の下地導電薄膜を、微細貫通孔13の壁面を含む保護材12に形成し、微細貫通孔13の壁面に位置する下地導電薄膜を除く下地導電薄膜上にレジストパターンを形成した後、下地導電薄膜を給電層として電解めっき法によりAu等の導電材料を析出させ、その後、レジストパターンと、露出している下地導電薄膜とを除去して形成することができる。また、保護材12の微細貫通孔13が露出するように形成したレジストパターンをマスクとし、真空成膜法によりTi層、Au層の積層膜等を微細貫通孔13の内壁面に形成し、その後、レジストパターンを除去して金属層17を形成してもよい。また、同様の方法により、金属層17を、Au/Ni/Cu/Ti積層、あるいは、Au/Ni/Cu/Cr積層等の4層構造にしてもよい。
次いで、多面付けのセンサー本体2の各面付けにおいて、係合用凸部14がセンサー本体2に当接した状態で環状の接合部材8を介して保護材12を個々に接合して、センサー本体2と保護材12と接合部材8で囲まれた空隙部19を形成する(図15(B))。接合部材8は、上述のように、ろう材層9と金属層10,11からなる多層構造であり、環状の金属層10,11は前の工程において、それぞれセンサー本体2と保護材12とに形成されている。したがって、例えば、センサー本体2に予め形成した金属層10上にろう材層9を形成し、このろう材層9を加熱溶融した状態で、保護材12を係合用凸部14がセンサー本体2に当接するように対向させることにより、溶融状態のろう材層9に金属層11(保護材12の周縁角部)が所定の深さまで押し込まれ、その後、固化することにより接合部材8が形成される。
この接合工程において、本発明では、保護材12の微細貫通孔13が環状の接合部位の内側に存在するので、空隙部19内の気体が膨張しても、微細貫通孔13を介して気体が外部に自由に逃げることができ、溶融状態のろう材層9に気体膨脹の応力が作用することが防止される。また、保護材12に設けた係合用凸部14がセンサー本体2に当接することにより、高い精度で空隙部19を形成することができ、ひいては、センサー特性の精密な制御が可能となる。
また、この接合工程では、センサー本体2に形成した金属層10の面積が、保護材12に形成した金属層11のセンサー本体2に対向する部位の面積よりも大きいので、ろう材層9の溶融接合時に、端面形状の良好なろう材層9の形成が可能であり、センサー本体2と保護材12との位置合わせが容易となる。
次に、接合部材8で接合したセンサー本体2と保護材12を真空チャンバー200内に載置し、真空チャンバー200内を10-1〜10-6Pa程度まで減圧する(図15(C))。その後、真空チャンバー200内に不活性ガス(例えば、He)、または窒素ガスを常圧まで導入する(図16(A))。これにより、空隙部19の雰囲気を不活性ガスまたは窒素ガスの雰囲気とする。
次いで、真空チャンバー200内にて、保護材12の微細貫通孔13を閉塞して空隙部19を気密封止する(図16(B))。微細貫通孔13の閉塞は、壁面に金属層17が形成されている微細貫通孔13内に、溶融したろう材を注入し固化してろう材層18を形成することにより行うことができる。このように、接合部材8によるセンサー本体2と保護材12との接合が完了した後に、微細貫通孔13を閉塞するので、空隙部19の気密封止が確実なものとなる。尚、微細貫通孔13の閉塞は常温(20〜30℃)下で行うことが好ましい。
次に、多面付けのセンサー本体をダイシングすることにより、本発明のセンサーパッケージ1が得られる。
また、センサーパッケージ1の空隙部19を、不活性ガスまたは窒素ガスからなる雰囲気とせずに、低圧状態とする場合には、真空チャンバー200内を減圧した状態(上述の図15(C)に示される状態)で、保護材12の微細貫通孔13を閉塞して空隙部19を気密封止する。
尚、本発明の製造方法では、環状の接合部材8を介してセンサー本体2と保護材12とを接合する工程を、真空チャンバー200内で行ってもよい。
また、図5に示されるセンサーパッケージ21のように、センサー本体22と保護材32とが同じ対向面形状を有している場合には、多面付けのセンサー本体22と多面付けの保護材32とを接合部材28で接合し、微細貫通孔33を閉塞した後に、多面付けのセンサー本体22と保護材32とをダイシングすることができる。図17は、本発明のセンサーパッケージの製造方法の一実施形態を、上述の図4〜図6に示すセンサーパッケージ21を例として示す工程図である。
まず、センサー本体22を作製し、また、係合用凸部34を備えた保護材32に微細貫通孔33を穿設する(図17(A))。センサー本体22の作製は、上述のセンサー本体2と同様に行うことができる。また、係合用凸部34を備えた保護材32の作製、および、この保護材32への微細貫通孔33の穿設は、上述の保護材12の場合と同様に行うことができる。
この工程では、接合部材28を構成する金属層30をセンサー本体22の所定部位に環状に形成し、また、接合部材28を構成する金属層31を保護材32の所定部位(係合用凸部34を含む部位)に環状に形成することが好ましい。金属層30,31の形成は、上述の金属層10,11の形成と同様に行うことができる。
また、この工程では、保護材32に形成した微細貫通孔33の壁面に、閉塞部材36を構成する金属層37を形成することが好ましい。この金属層37の形成は、上述の金属層17の形成と同様に行うことができる。
次いで、環状の接合部材28を介してセンサー本体22と保護材32とを多面付けの状態で接合し、センサー本体22と保護材32と接合部材28で囲まれた空隙部39を形成する(図17(B))。この接合は、各面付けにおいて、保護材32の係合用凸部34がセンサー本体22に当接した状態で行われる。接合部材28は、上述のように、ろう材層29と金属層30,31からなる多層構造であり、環状の金属層30,31は前の工程において、それぞれセンサー本体22と保護材32とに形成されている。したがって、例えば、保護材32に予め形成した金属層31上にろう材層29を形成し、このろう材層29を加熱溶融した状態で、保護材32を係合用凸部34がセンサー本体22に当接するように対向させ、その後、固化することにより接合部材28を形成できる。
この接合工程において、本発明では、保護材32の微細貫通孔33が環状の接合部位の内側に存在するので、空隙部39内の気体が膨張しても、微細貫通孔33を介して気体が外部に自由に逃げることができ、溶融状態のろう材層29に気体膨脹の応力が作用することが防止される。また、保護材32に設けた係合用凸部34がセンサー本体22に当接することにより、高い精度で空隙部39を形成することができ、ひいては、センサー特性の精密な制御が可能となる。
また、この接合工程では、センサー本体32に形成した金属層30の面積が、保護材32に形成した金属層31の面積よりも大きいので、ろう材層29の溶融接合時に、端面形状の良好なろう材層29の形成が可能であり、センサー本体22と保護材32との位置合わせが容易となる。
次に、上述の製造方法と同様にして、接合部材28で接合したセンサー本体22と保護材32を真空チャンバー内に載置し、真空チャンバー200内を10-1〜10-6Pa程度まで減圧する。その後、真空チャンバー内に不活性ガス(例えば、He)、または窒素ガスを常圧まで導入して、空隙部39の雰囲気を不活性ガスまたは窒素ガスの雰囲気とする。
次いで、真空チャンバー内にて、保護材32の微細貫通孔33を閉塞して空隙部39を気密封止する。
次に、多面付けのセンサー本体22と保護材32をダイシングすることにより、本発明のセンサーパッケージ21が得られる。
また、センサーパッケージ21の空隙部39を、不活性ガスまたは窒素ガスからなる雰囲気とせずに、低圧状態とする場合には、真空チャンバー内を減圧した状態で、保護材32の微細貫通孔33を閉塞して空隙部39を気密封止する。
また、この製造方法でも、環状の接合部材28を介してセンサー本体22と保護材32とを接合する工程を、真空チャンバー内で行ってもよい。
また、図7、図8に示されるセンサーパッケージ41,61のように、保護材52,72の係合用凸部54,74が、センサー本体42,62の係合用凹部46,66内に当接するような場合も、上述の製造方法と同様にして製造することができる。但し、センサー本体42,62に予め係合用凹部46,66を形成し、また、保護材52,72の係合用凸部54,74の高さを、係合用凹部46,66内に当接した状態で所望の厚みの空隙部59,79が得られるように設定する。センサー本体42,62への係合用凹部46,66の形成は、例えば、センサー本体42,62に所望の開口を有するマスクパターンを形成し、露出している部位に対して、プラズマを利用したドライエッチング法であるICP−RIE(Inductively Coupled Plasma − Reactive Ion Etching:誘導結合プラズマ−反応性イオンエッチング)法により所望の深さまでエッチングすることにより行うことができる。また、サンドブラスト法、ウェットエッチング法、フェムト秒レーザ法により係合用凹部46,66を形成することもできる。
このように、センサー本体42,62に係合用凹部46,66を設け、保護材52,72に係合用凸部74,74を設けた場合には、接合時のセンサー本体42,62と保護材52,72との位置合わせを高い精度で容易に行うことができ、ひいては、センサー特性の精密な制御が可能となる。
また、図9〜図12に示されるセンサーパッケージ81,101,121,141のように、センサー本体82,102,122,142が係合用凸部87,107,127,147を有し、これらが保護材92表面、保護材112,152の係合用凹部115,155内、保護材132の係合用凸部134に当接するような場合も、上述の製造方法と同様にして製造することができる。但し、所望の厚みの空隙部99,119,139,159が得られるように、接合対象となる保護材の当接部位形状を考慮したうえでセンサー本体82,102,122,142にそれぞれ所望の高さで係合用凸部87,107,127,147を形成する。センサー本体82,102,122,142への係合用凸部87,107,127,147の形成は、例えば、ウェットエッチング、もしくは、ドライエッチングにより行うことができる。また、保護材112,152の係合用凹部115,155の形成は、例えば、保護材112,152に所望の開口を有するマスクパターンを形成し、露出している部位に対して、プラズマを利用したドライエッチング法であるICP−RIE(Inductively Coupled Plasma − Reactive Ion Etching:誘導結合プラズマ−反応性イオンエッチング)法により所望の深さまでエッチングすることにより行うことができる。また、サンドブラスト法、ウェットエッチング法、フェムト秒レーザ法により係合用凹部115,155を形成することもできる。
尚、上述の本発明のセンサーパッケージの製造方法は例示であり、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。例えば、上述の実施形態における保護材の微細貫通孔の穿設位置は、CCDやCMOS等のイメージセンサーである場合を考慮して、環状の接合部材の内側で、かつ、対向するアクティブ面の外側となる位置としたが、センサー本体がイメージセンサーではなく、加速度センサー、圧力センサー、ジャイロセンサー等の各種MEMSセンサーである場合には、微細貫通孔の穿設位置は環状の接合部材の内側に位置すればよく、アクティブ面との対向部位に位置するものであってもよい。
次に、具体的実施例を挙げて本発明を更に詳細に説明する。
[実施例1]
まず、厚み625μmのシリコンウエハを準備し、一辺5mmである正方形で多面付けに区画した。このシリコンウエハの両面に、プラズマCVD法により酸化珪素膜(厚み5μm)を成膜した。
次いで、このシリコンウエハの各面付け毎に、従来の手法によりセンサー本体(アクティブ面寸法:3500μm×3500μm、凹部寸法:4000μm×4000μm、深さ20μm)を作製した。各センサー本体は、アクティブ面の周囲に20個(1辺5個)の端子を備えるものであった。
次に、ポジ型フォトレジスト(東京応化工業(株)製 OFPR−800)を塗布し、所望のフォトマスクを介して露光、現像し、各面付け毎にレジストパターンを形成し、このレジストパターンをマスクとし、真空成膜法によりTi層(厚み0.1μm)とAu層(厚み0.2μm)の積層膜を形成した。これにより、センサー本体のアクティブ面の周囲であって、端子配列の内側に、Ti層とAu層の積層である幅300μmの金属層を環状(金属層の幅方向の中心部の寸法:4500μm×4500μm)で形成した。
一方、厚み500μmのガラス基板を保護材として準備し、一辺4.5mmである正方形で多面付けに区画した。
次いで、このガラス基板の両面に、プラズマCVD法により窒化珪素膜(厚み5μm)を成膜した。次に、この窒化珪素膜上にポジ型フォトレジスト(東京応化工業(株)製 OFPR−800)を塗布した。その後、一方の面を微細貫通孔形成用のフォトマスクを介し、他方の面を係合用凸部形成用のフォトマスクを介して露光、現像することによりレジストパターンを形成した。次で、CF4をエッチングガスとして、レジストパターンから露出している窒化珪素膜をドライエッチングし、その後、レジストパターンを剥離して、窒化珪素膜からなるマスクパターンを形成した。上記のマスクパターンは、ガラス基板の一方の面では、各面付け毎に、中心部から1つの対角線方向に3000μm離れた位置に直径30μmの円形開口を1個有し、他方の面では、各面付け毎に、中心部から各対角線方向に3100μm離れた位置に直径30μmの円形部位をそれぞれ1個有するものであった。次に、各マスクパターン側から、ICP−RIE装置によりエッチングガスにSF6を用いて、ガラス基板をドライエッチングした。これにより、各面付け毎に、一方の開口径が30μmであり、反対面の開口径が25μmであるテーパー形状の微細貫通孔を1個形成するとともに、一方の面(開口径が25μmである面)には直径30μm、高さ20μmの円柱形状の係合用凸部を4個形成した。
次いで、多面付けのガラス基板をダイシングして、一辺4.5mmである正方形の保護材を得た。
次に、この保護材の両面にポジ型フォトレジスト(東京応化工業(株)製 OFPR−800)を塗布し、各面を所望のフォトマスクを介して露光、現像した。これにより、係合用凸部を有する面の周縁部には、幅150μmの環状開口部を有するレジストパターンを形成した。この環状開口部は、保護材の側面にも50μmの幅で存在する。また、係合用凸部を有していない面には、上記の微細貫通孔が露出するレジストパターンを形成した。このレジストパターンをマスクとし、真空蒸着法によりTi層(厚み0.1μm)とAu層(厚み0.2μm)の積層膜を形成し、その後、レジストパターンを剥離した。これにより、保護材の微細貫通孔の壁面に、Ti層とAu層の積層である金属層を形成するとともに、保護材の周縁角部に、Ti層とAu層の積層である金属層(係合用凸部を有する面の周縁部で150μm幅、保護材側面で50μm幅)を環状で形成した。
次いで、上記の保護材の係合用凸部を有する面の周縁部に形成した金属層上に、Sn−Au合金(融点350℃)を溶融押出して、幅100μm、高さ20μmのろう材層を形成した。
次に、370℃のオーブン中で、個々の保護材を多面付けのセンサー本体に、係合用凸部がセンサー本体の金属層に当接するように位置合わせして圧着し、その後、室温まで冷却した。これにより、多面付けのセンサー本体の各面付け毎に保護材の接合が完了し、センサー本体のアクティブ面と保護材との間に、高さ約15μmの空隙部が形成された。
次いで、接合が完了した多面付けのセンサー本体と保護材を真空チャンバー内に載置し、真空チャンバー内を10-4Paまで減圧した。次に、Heガスを真空チャンバーに供給して内部を常圧(1気圧)とした。
次に、真空チャンバー内を25℃に設定し、溶融したSn−Au合金を微細貫通孔に滴下して充填し、固化させることにより、微細貫通孔を閉塞した。その後、真空チャンバーから多面付け基板を取り出し、センサー本体ダイシングして、図2に示されるようなセンサーパッケージを得た。
このように作製したセンサーパッケージについて、下記の条件でHeリーク率を測定した結果、10-12atm・cc/秒であり、高い気密性が確保されていることが確認された。
(Heリーク率の測定条件)
センサーパッケージを収納した容器を10-4Paに減圧し、120分間放置し
た間にセンサーパッケージから漏れたHe量をHe検出器(アルカラル(株)
製 ASM−180TD)で検出した。
[実施例2]
まず、実施例1と同様にして、厚み625μmのシリコンウエハの各面付け毎に、従来の手法によりセンサー本体(アクティブ面寸法:3500μm×3500μm、凹部寸法:4000μm×4000μm、深さ30μm)を作製した。各センサー本体は、アクティブ面の周囲に20個(1辺5個)の端子を備えるものであった。
次に、実施例1と同様にして、センサー本体のアクティブ面の周囲であって、端子配列の内側に、Ti層とAu層の積層である幅300μmの金属層を環状(金属層の幅方向の中心部の寸法:4350μm×4350μm)で形成した。
一方、厚み500μmのガラス基板を保護材として準備し、一辺5mmである正方形で多面付けに区画した。
次いで、このガラス基板の両面に、プラズマCVD法により窒化珪素膜(厚み2μm)を成膜した。次に、この窒化珪素膜上にポジ型フォトレジスト(東京応化工業(株)製 OFPR−800)を塗布した。その後、一方の面を微細貫通孔形成用のフォトマスクを介し、他方の面を係合用凸部形成用のフォトマスクを介して露光、現像することによりレジストパターンを形成した。次で、CF4をエッチングガスとして、レジストパターンから露出している窒化珪素膜をドライエッチングし、その後、レジストパターンを剥離して、窒化珪素膜からなるマスクパターンを形成した。上記のマスクパターンは、ガラス基板の一方の面では、各面付け毎に、中心部から1つの対角線方向に3000μm離れた位置に直径30μmの円形開口を1個有し、他方の面では、各面付け毎に、中心部から各対角線方向に3100μm離れた位置に直径30μmの円形部位をそれぞれ1個有するものであった。次に、各マスクパターン側から、ICP−RIE装置によりエッチングガスにSF6を用いて、ガラス基板をドライエッチングした。これにより、各面付け毎に、一方の開口径が30μmであり、反対面の開口径が25μmであるテーパー形状の微細貫通孔を1個形成するとともに、一方の面(開口径が25μmである面)には直径30μm、高さ20μmの円柱形状の係合用凸部を4個形成した。
次に、ガラス基板の両面にポジ型フォトレジスト(東京応化工業(株)製 OFPR−800)を塗布し、各面を所望のフォトマスクを介して露光、現像した。これにより、係合用凸部を有する面には、各面付け毎に、幅200μmの環状開口部(開口部の幅方向の中心部の寸法:4350μm×4350μm)を有するレジストパターンを形成した。また、係合用凸部を有していない面には、各面付け毎に、上記の微細貫通孔が露出するレジストパターンを形成した。このレジストパターンをマスクとし、真空蒸着法によりTi層(厚み0.1μm)とAu層(厚み0.2μm)の積層膜を形成し、その後、レジストパターンを剥離した。これにより、保護材の各面付けの微細貫通孔の壁面に、Ti層とAu層の積層である金属層を形成するとともに、保護材の一方の面に、Ti層とAu層の積層である幅200μmの金属層を環状(金属層の幅方向の中心部の寸法:4350μm×4350μm)で形成した。尚、この幅200μmの環状の金属層には、上記のように作製した係合用凸部が存在する。
次いで、上記の保護材に形成した各金属層上に、Sn−Au合金(融点350℃)を溶融押出して、幅100μm、高さ20μmのろう材層を形成した。
次に、370℃のオーブン中で、多面付けのセンサー本体と保護材とを、係合用凸部をセンサー本体の金属層に当接させるように位置合わせして圧着し、その後、室温まで冷却した。これにより、多面付けのセンサー本体と保護材との接合が完了し、センサー本体のアクティブ面と保護材との間に、高さ約20μmの空隙部が形成された。
次いで、接合が完了した多面付けのセンサー本体と保護材を真空チャンバー内に載置し、真空チャンバー内を10-4Paまで減圧した。次に、Heガスを真空チャンバーに供給して内部を常圧(1気圧)とした。
次に、真空チャンバー内を25℃に設定し、溶融したSn−Au合金を微細貫通孔に滴下して充填し、固化させることにより、微細貫通孔を閉塞した。その後、真空チャンバーから多面付け基板を取り出し、ダイシングして、図5に示されるようなセンサーパッケージを得た。
このように作製したセンサーパッケージについて、実施例1と同様にHeリーク率を測定した結果、10-12atm・cc/秒であり、高い気密性が確保されていることが確認された。
[比較例]
実施例2と同様にして、多面付けのセンサー本体を作製し、金属層を形成した。
また、保護材に微細貫通孔を形成しない他は、実施例2と同様にして、多面付けの保護材を作製し、金属層を形成した。
次に、He雰囲気中で行った他は、実施例2と同様にして、上記の多面付けのセンサー本体と保護材との接合を行い、その後、多面付け基板をダイシングして、センサーパッケージを得た。
このように作製したセンサーパッケージについて、実施例1と同様にHeリーク率を測定した結果、10-6atm・cc/秒であり、実用レベルの気密性(10-9atm・cc/秒以下)が得られていないことが確認された。
小型で高信頼性のセンサーが要求される種々の分野において適用できる。
本発明のセンサーパッケージの一実施形態を示す平面図である。 図1に示されるセンサーパッケージのA−A線での概略断面図である。 図1に示されるセンサーパッケージを構成する接合部材と閉塞部材を説明するための部分拡大 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す平面図である。 図4に示されるセンサーパッケージのB−B線での概略断面図である。 図4に示されるセンサーパッケージを構成する接合部材と閉塞部材を説明するための部分拡大 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図5相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図5相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図2相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの他の実施形態を示す図5相当の概略断面図である。 本発明のセンサーパッケージの製造方法の一実施形態を示す工程図である。 本発明のセンサーパッケージの製造方法の一実施形態を示す工程図である。 本発明のセンサーパッケージの製造方法の他の実施形態を示す工程図である。
符号の説明
1,1′,21,21′,41,61,81,101,121,141…センサーパッケージ
2,2′,22,42,62,82,102,122,142…センサー本体
3,23,43,63,83,103,123,143…アクティブ面
8,28,48,68,88,108,128,148…接合部材
12,12′,32,32′,52,72,92,112,132,152…保護材
13,33,53,73,93,113,133,153…微細貫通孔
14,34,54,74,87,107,127,134,147…係合用凸部
19,39,59、79,99,119,139,159…空隙部
16,36,56,76,96,116,136,156…閉塞部材
46,66,115,155…係合用凹部

Claims (19)

  1. センサー本体と、該センサー本体のアクティブ面に空隙部を介して対向する保護材と、前記センサー本体の前記アクティブ面の外側領域に環状に配設され前記空隙部を気密封止するように前記センサー本体と前記保護材とを接合する接合部材とを備え、前記センサー本体と前記保護材の対向する面の面積は、保護材の面積が小さく、前記保護材は前記空隙部に位置する部位に穿設された微細貫通孔と、該微細貫通孔内に配設された閉塞部材とを有し、さらに、前記保護材は前記アクティブ面対向部位の外側に前記センサー本体と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記センサー本体と対向する面の周縁角部において前記接合部材により前記センサー本体に接合されており、前記接合部材はろう材層の上下に金属層を積層した多層構造であり、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に位置する金属層の面積は、ろう材層を介してこれと対向する部位にある金属層の面積よりも小さいことを特徴とするセンサーパッケージ。
  2. 前記センサー本体は、前記アクティブ面の外側に複数の係合用凹部を有し、該係合用凹部内に前記係合用凸部が当接していることを特徴とする請求項1に記載のセンサーパッケージ。
  3. センサー本体と、該センサー本体のアクティブ面に空隙部を介して対向する保護材と、前記センサー本体の前記アクティブ面の外側領域に環状に配設され前記空隙部を気密封止するように前記センサー本体と前記保護材とを接合する接合部材とを備え、前記センサー本体と前記保護材の対向する面の面積は、保護材の面積が小さく、前記センサー本体は前記アクティブ面の外側に前記保護材と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記空隙部に位置する部位に穿設された微細貫通孔と、該微細貫通孔内に配設された閉塞部材とを有し、前記保護材は前記センサー本体と対向する面の周縁角部において前記接合部材により前記センサー本体に接合されており、前記接合部材はろう材層の上下に金属層を積層した多層構造であり、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に位置する金属層の面積は、ろう材層を介してこれと対向する部位にある金属層の面積よりも小さいことを特徴とするセンサーパッケージ。
  4. 前記保護材は、前記アクティブ面対向部位の外側に複数の係合用凹部を有し、該係合用凹部内に前記係合用凸部が当接していることを特徴とする請求項3に記載のセンサーパッケージ。
  5. センサー本体と、該センサー本体のアクティブ面に空隙部を介して対向する保護材と、前記センサー本体の前記アクティブ面の外側領域に環状に配設され前記空隙部を気密封止するように前記センサー本体と前記保護材とを接合する接合部材とを備え、前記センサー本体と前記保護材の対向する面の面積は、保護材の面積が小さく、前記センサー本体は前記アクティブ面の外側に前記保護材と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記空隙部に位置する部位に穿設された微細貫通孔と、該微細貫通孔内に配設された閉塞部材とを有し、かつ、前記アクティブ面対向部位の外側に前記センサー本体の前記係合用凸部と当接する複数の係合用凸部を有し、前記保護材は前記センサー本体と対向する面の周縁角部において前記接合部材により前記センサー本体に接合されており、前記接合部材はろう材層の上下に金属層を積層した多層構造であり、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に位置する金属層の面積は、ろう材層を介してこれと対向する部位にある金属層の面積よりも小さいことを特徴とするセンサーパッケージ。
  6. 前記センサー本体は、前記接合部材よりも外側の領域に複数の端子を有することを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載のセンサーパッケージ。
  7. 前記センサー本体は、前記接合部材よりも内側の領域に凹部を有し、該凹部に前記アクティブ面を備えることを特徴する請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のセンサーパッケージ。
  8. 前記保護材は、前記接合部材よりも内側の領域に凹部を有し、該凹部が前記アクティブ面と対向することを特徴する請求項1乃至請求項7のいずれかに記載のセンサーパッケージ。
  9. 前記ろう材層は、Sn−Au合金、Sn−Ag合金、Sn−Bi合金、Sn−Zn合金、Sn−Pb合金、Sn−In合金、In−Pb合金等の二元系、あるいは該二元系に他の金属を添加した三元系以上の合金のいずれかであることを特徴する請求項1乃至請求項8のいずれかに記載のセンサーパッケージ。
  10. 前記金属層は、Au/Ti積層、Au/Cr積層、Cu/Ti積層、Cu/Cr積層、Au/Ni/Cu/Ti積層、Au/Ni/Cu/Cr積層のいずれかであることを特徴する請求項1乃至請求項9のいずれかに記載のセンサーパッケージ。
  11. 対向するセンサー本体よりも小さい対向面形状を有し、一方の面に複数の係合用凸部を有する保護材に微細貫通孔を穿設する工程と、
    センサー本体のアクティブ面と前記保護材の前記微細貫通孔とが環状の接合部位の内側となるように、前記保護材の前記係合用凸部を前記センサー本体に当接させ、前記保護材の前記センサー本体と対向する面の周縁角部において環状の接合部材を介して前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程と、
    前記保護材の微細貫通孔を閉塞して、前記センサー本体、前記保護材および前記接合部材で囲まれた空隙部を気密封止する工程と、を有し、
    前記センサー本体と前記保護材の周縁角部の接合部位に、接合前に予め金属層を形成し、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に形成する金属層の面積は、前記センサー本体に形成する金属層の面積よりも小さいものとし、
    前記センサー本体の金属層と前記保護材の周縁角部の金属層とをろう材層を介して接合することにより、ろう材層の上下に金属層を積層した多層構造の前記接合部材で前記センサー本体と前記保護材とを接合することを特徴とするセンサーパッケージの製造方法。
  12. 前記保護材に微細貫通孔を穿設する工程において、前記保護材の係合用凸部に対応した複数の係合用凹部をセンサー本体のアクティブ面の外側に形成し、前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程では、センサー本体の係合用凹部内に保護材の係合用凸部を当接させることを特徴とする請求項11に記載のセンサーパッケージの製造方法。
  13. 対向するセンサー本体よりも小さい対向面形状を有する保護材に微細貫通孔を穿設し、センサー本体のアクティブ面の外側に複数の係合用凸部を形成する工程と、
    センサー本体のアクティブ面と前記保護材の前記微細貫通孔とが環状の接合部位の内側となるように、前記センサー本体の前記係合用凸部を前記保護材に当接させ、前記保護材の前記センサー本体と対向する面の周縁角部において環状の接合部材を介して前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程と、
    前記保護材の微細貫通孔を閉塞して、前記センサー本体、前記保護材および前記接合部材で囲まれた空隙部を気密封止する工程と、を有し、
    前記センサー本体と前記保護材の周縁角部の接合部位に、接合前に予め金属層を形成し、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に形成する金属層の面積は、前記センサー本体に形成する金属層の面積よりも小さいものとし、
    前記センサー本体の金属層と前記保護材の周縁角部の金属層とをろう材層を介して接合することにより、ろう材層の上下に金属層を積層した多層構造の前記接合部材で前記センサー本体と前記保護材とを接合することを特徴とするセンサーパッケージの製造方法。
  14. 前記保護材に微細貫通孔を穿設する工程において、前記センサー本体の係合用凸部に対応した複数の係合用凹部を保護材に形成し、前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程では、保護材の係合用凹部内にセンサー本体の係合用凸部を当接させることを特徴とする請求項13に記載のセンサーパッケージの製造方法。
  15. 対向するセンサー本体よりも小さい対向面形状を有し、一方の面に複数の係合用凸部を有する保護材に微細貫通孔を穿設し、センサー本体のアクティブ面の外側に複数の係合用凸部を形成する工程と、
    センサー本体のアクティブ面と前記保護材の前記微細貫通孔とが環状の接合部位の内側となるように、前記保護材の前記係合用凸部を前記センサー本体の前記係合用凸部に当接させ、前記保護材の前記センサー本体と対向する面の周縁角部において環状の接合部材を介して前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程と、
    前記保護材の微細貫通孔を閉塞して、前記センサー本体、前記保護材および前記接合部材で囲まれた空隙部を気密封止する工程と、を有し、
    前記センサー本体と前記保護材の周縁角部の接合部位に、接合前に予め金属層を形成し、前記保護材の前記センサー本体と対向する面に形成する金属層の面積は、前記センサー本体に形成する金属層の面積よりも小さいものとし、
    前記センサー本体の金属層と前記保護材の周縁角部の金属層とをろう材層を介して接合することにより、ろう材層の上下に金属層を積層した多層構造の前記接合部材で前記センサー本体と前記保護材とを接合することを特徴とするセンサーパッケージの製造方法。
  16. 前記空隙部を気密封止する工程では、気密封止前に前記空隙部の雰囲気を不活性ガスまたは窒素ガスの雰囲気とすることを特徴とする請求項11乃至請求項15のいずれかに記載のセンサーパッケージの製造方法。
  17. 前記空隙部を気密封止する工程では、気密封止前に真空チャンバー内において減圧することにより前記空隙部を減圧状態とすることを特徴とする請求項11乃至請求項15のいずれかに記載のセンサーパッケージの製造方法。
  18. 前記微細貫通孔の壁面に金属層を形成することを特徴とする請求項11乃至請求項17のいずれかに記載のセンサーパッケージの製造方法。
  19. 前記センサー本体と前記保護材とを接合する工程を真空チャンバー内で行うことを特徴とする請求項11乃至請求項18のいずれかに記載のセンサーパッケージの製造方法。
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