JP4810436B2 - 現像廃液の処理方法 - Google Patents
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Description
前記現像廃液中のテトラアルキルアンモニウム濃度と金属不純物の含有量とを測定し、
各金属不純物の含有量が、何れも、テトラアルキルアンモニウム当り50ppm以下の時には、前記現像廃液を精製処理して、前記現像液として使用される水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を再生し、
少なくとも1種の金属不純物含有量が、テトラアルキルアンモニウム当り50ppmより高い時には、前記現像廃液を廃棄処理するか、或いは50ppmより大きい値を示す金属不純物の含有量が50ppm以下となるように、現像液として未使用の水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液と混合して希釈し、希釈された現像廃液を精製処理して、前記現像液として使用される水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を再生することを特徴とする現像廃液の処理方法が提供される。
本発明において、現像工程1は、各種電子部品、例えば、半導体デバイス、液晶ディスプレイ、プリント基板等の製造工程において採用されるフォトレジスト現像工程であり、特に水酸化TAA水溶液を現像液として使用するフォトレジスト現像工程である。
上記の現像液に使用される水酸化TAAの具体例としては、水酸化テトラメチルアンモニウム、水酸化テトラエチルアンモニウム、水酸化テトラプロピルアンモニウム、水酸化テトラブチルアンモニウム、水酸化メチルトリエチルアンモニウム、水酸化トリメチルエチルアンモニウム、水酸化ジメチルジエチルアンモニウム、水酸化トリメチル(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム、水酸化トリエチル(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム、水酸化ジメチルジ(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム、水酸化ジエチルジ(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム、水酸化メチルトリ(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム、水酸化エチルトリ(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム、水酸化テトラ(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム等を挙げることができる。このような現像液の水酸化TAAの濃度は、水酸化TAAの種類によっても異なるが、通常、1乃至5質量%程度である。
従って、上記の現像工程1から排出される現像廃液2には、水酸化TAAと共に、現像液に溶解したフォトレジストや基板材料である金属を含有している。本発明においては、このような現像廃液2は、ナノフィルター等に透過させたり、精密ろ過器で処理したりしてフォトレジストやパーティクル等の固形分を除去した後に、以下の工程にしたがって再利用される。
現像廃液2を検査工程4に付するに先立って、先ず、濃縮工程3で濃縮を行い、現像廃液2中のTAA濃度を高めておくことが好ましい。即ち、現像工程1で使用される現像液の水酸化TAAの濃度は、先に述べたように1乃至5質量%であり、このため、現像工程1から回収される現像廃液中のTAA濃度は、通常、数%程度である。このような濃度でTAA(水酸化TAA)を含む現像廃液2は、極めて発泡を生じ易いという性質を有している。このため、精製工程等へ現像廃液2を移送する際において、発泡により、流量のバラツキなどの配管内でのトラブルや、移送先のタンクへの充填不良などを生じることがある。本発明においては、現像廃液2の濃縮を行い、例えば廃液中のTAA濃度を10質量%以上、好ましくは、15〜25質量%程度に高めておくことにより、上記のような発泡による不都合を有効に防止することができる。また、濃縮により、現像廃液2の移送にかかる負担も軽減される。
尚、濃縮方法は特に制限されるものではないが、一般には、発泡の影響を受け難い薄膜蒸発器を用いて濃縮を行うことが好適である。
本発明においては、上記のように濃縮された現像廃液2を検査工程4に付し、現像廃液2中のテトラアルキルアンモニウム(TAA)濃度、各種の金属不純物含量を測定し、TAA当りの金属不純物含量に応じて、引き続いて行われる処理工程を選択することが必要である。
本発明において、金属不純物含量が前述した基準値以下の場合には、現像廃液2を精製処理工程5に供給し、精製処理が行われる。かかる精製処理は、図2に示すように、中和・分離工程11と電解工程13とからなる。
一方、前述した基準値(TAA当り50ppm)を超える金属不純物含量を有する現像廃液2について行われる廃棄処理工程6では、通常の燃焼処理によって現像廃液が廃棄される。このような廃棄処理は、400℃以上、好ましくは600℃、さらに好ましくは800℃以上の温度を有する領域が存在する燃焼設備を用い、このような温度領域に現像廃液2を投入することにより行うのがよい。このような温度領域に現像廃液2を投入することにより、水が瞬時に蒸発した後、TAAは分解とほぼ同時に高い発熱量で燃焼するものと推定され、その結果、投入部分の温度を著しく低下させないばかりでなく、場合によっては燃焼設備の燃料を低減できる程度に熱量を供給することができ、しかも、排ガス中の異臭成分を殆ど無くすることが可能となる。
本発明において、前述した基準値(TAA当り50ppm)を超える金属不純物含量を有する現像廃液2については、廃棄処理せず、これを希釈精製処理工程7に付して再利用することもできる。
この高純度水酸化水溶液は、図3に示されているように、反応工程21、電解工程23とからなっており、高純度原料Aを使用して製造される。
上述した工程に従い、精製処理工程5或いは希釈精製処理工程7で得られた再生現像液17は、極めて純度が高く、例えば各金属不純物の含有量は、それぞれ10ppb以下であり、その合計含量も100ppb以下であり、有機不純物のトータル含量は20ppm以下である。
また、精製処理工程5や希釈精製処理工程7を現像工程1の近くに設置されている場合には、再生現像液17を、現像工程1に循環して供給することもできる。
電解槽:
1dm2の大きさの1対の陽極と陰極とを有し、フッ素樹脂系の陽イオン交換膜に
て陽極室と陰極室とに区画されたフィルタープレス型電解槽。
陽極;酸化物被覆を形成させたチタン電極
陰極;ニッケル電極
液晶ディスプレイ(LCD)工場の現像工程1から排出されたフォトレジスト及び水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)溶液を含有する現像廃液2を、薄膜式濃縮器3を使用して液温度60℃、20kPaの減圧下で濃縮し、褐色の濃縮液(1)を得た。
TMAH濃度:20.6wt%
金属不純物濃度;
Al;3800ppb(TAA当り22.7ppm)
Na;40ppb(TAA当り0.24ppm)
Cu;650ppb(TAA当り3.88ppm)
Fe;800ppb(TAA当り4.78ppm)
TAA当りのトータル含量;31.60ppm
有機不純物トータル濃度:3800ppm
尚、TMAH濃度は電位差滴定法、金属濃度はICP−MS法、有機不純物のトータル濃度は、マンガン酸カリウムによる酸素消費量(JIS K 0101)によって測定した。
前記濃縮液(1)にCO2ガスを注入して中和したところ、中和終了近くでアルカリ可溶性レジストなどが不溶化し、析出物が生成した。この液にろ過助剤を1wt%添加した後、孔径1μmのフィルターにてろ過することによって不溶化析出物をろ過分離した。
不溶化物が分離されたろ液(TAAの炭酸塩水溶液)を、薄膜式蒸発器を使用して液温度60℃、20kPaの減圧下で、TAA濃度が30wt%になるまで濃縮した。
次に、前述した電解槽を用い、濃縮されたろ液の電気分解を行った。電解条件は次の通りである。
電解温度:50℃
電流密度:20A/dm2
電解槽全電圧:14V
処理時間:72時間
TMAH濃度:20.9質量%
金属不純物濃度:
Al;20ppb以下
Na;20ppb以下
Cu;20ppb以下
Fe;20ppb以下
有機不純物トータル濃度:10ppm以下
また、上記の電解槽を用い、その後、引き続いて6ヶ月間、連続して電解を行ったが、何のトラブルもなく連続運転することができた。
液晶ディスプレイ(LCD)工場の現像工程1から排出されたフォトレジスト及びTMAHを含有する現像廃液2を、液温度60℃、20kPaの減圧下で濃縮し、褐色の濃縮液(2)を得た。
TMAH濃度:20.2wt%
金属不純物濃度:
Al;12700ppb(TAA当り77.3ppm)
Na;140ppb(TAA当り0.85ppm)
Cu;4800ppb(TAA当り29.2ppm)
Fe;3300ppb(TAA当り20.1ppm)
TAA当りのトータル含量;127.45ppm
有機不純物のトータル濃度:8100ppm
上記の濃縮液(2)の金属不純物含量は、本発明の基準値(50ppm)を超えていた。
TMAH濃度:20.8wt%
金属不純物濃度:
Al;45ppb
Na;35ppb
Cu;40ppb
Fe;45ppb
有機不純物トータル濃度:22ppm
この精製液は、不純物含量が実施例1に比して多い。
また、電解槽を引き続き連続運転して電解を行ったところ、連続運転を開始して2ヵ月後、電極の消耗や陽イオン交換膜の劣化により膜電位が上昇し、継続運転が不可能となった。
比較例1の濃縮液(2)を、高純度TMAH水溶液を添加して希釈した。用いた高純度TMAH水溶液及び希釈液の分析結果は、以下の通りである。
高純度TMAH水溶液
TMAH濃度:20.1wt%
Al;5ppb以下
Na;5ppb以下
Cu;5ppb以下
Fe;5ppb以下
有機不純物のトータル濃度:10ppm以下
希釈液
TMAH濃度:20.3wt%
Al;6000ppb(TAA当り36.3ppm)
Na;60ppb(TAA当り0.36ppm)
Cu;2100ppb(TAA当り12.7ppm)
Fe;1500ppb(TAA当り9.01ppm)
TAA当りのトータル含量;58.37ppm
有機不純物のトータル濃度:3800ppm
この希釈液の各金属不純物含量は、本発明の基準値(50ppm)以下であった。
この精製液の分析結果は、以下の通りであった。
TMAH濃度:20.5wt%
金属不純物濃度:
Al;20ppb以下
Na;20ppb以下
Cu;20ppb以下
Fe;20ppb以下
有機不純物のトータル濃度:10ppm以下
また、上記の電解槽を用い、その後、引き続いて6ヶ月間、連続して電解を行ったが、何のトラブルもなく連続運転することができた。
比較例1の濃縮液(2)(現像廃液)を、セメント製造プロセスにおける表1に示す箇所(温度を併記する)に、液滴またはミストとして供給した。尚、現像廃液の投入量は、投入箇所におけるガス流量に対して10g/Nm3程度となるように連続して供給した。
図2は、本発明の現像廃液の処理方法による精製工程を示すフローチャートである。
図3は、本発明の処理方法で使用される高純度水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液の製造工程を示すフローチャートである。
Claims (8)
- 水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液が現像液として使用されるフォトレジスト現像工程より回収された現像廃液の処理方法において、
前記現像廃液中のテトラアルキルアンモニウム濃度と金属不純物の含有量とを測定し、
各金属不純物の含有量が、何れも、テトラアルキルアンモニウム当り
50ppm以下の時には、前記現像廃液を精製処理して、前記現像液として使用される水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を再生し、
少なくとも1種の金属不純物含有量が、テトラアルキルアンモニウム当り50ppmより高い時には、前記現像廃液を廃棄処理するか、或いは50ppmより大きい値を示す金属不純物の含有量が50ppm以下となるように、現像液として未使用の水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液と混合して希釈し、希釈された現像廃液を精製処理して、前記現像液として使用される水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を再生することを特徴とする現像廃液の処理方法。 - 前記現像廃液または希釈された現像廃液の精製処理が、該現像廃液または希釈された現像廃液中の水酸化テトラアルキルアンモニウムを中和してフォトレジストを析出させ、析出したフォトレジストを分離する中和・分離工程と、該中和・分離工程より得られたテトラアルキルアンモニウム塩を含む液を電気分解して水酸化テトラアルキルアンモニウムを生成せしめる電解工程とからなる請求の範囲1記載の現像廃液の処理方法。
- 現像廃液を希釈する液として、不純物のトータル含量がテトラアルキルアンモニウム当り100ppb以下の高純度水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を使用する請求の範囲1に記載の処理方法。
- 現像廃液を濃縮して該現像廃液中の水酸化テトラアルキルアンモニウム濃度を8質量%以上とした後に、該現像廃液の濃縮液を前記中和・分離工程に供する請求の範囲2に記載の現像廃液の処理方法。
- 前記現像廃液中のテトラアルキルアンモニウム当たり各金属不純物のトータル含量が、120ppmよりも高い場合においてなされる精製処理は、前記未使用の水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を用いて、該トータル含量が120ppm以下となるように現像廃液を希釈した後に行われる請求の範囲1に記載の現像廃液の処理方法。
- 前記廃棄処理が、テトラアルキルアンモニウムが濃縮された現像廃液を、セメント製造設備における温度が400℃以上の箇所に投入することによって行われる請求の範囲1記載の現像廃液の処理方法。
- 再生された水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を、現像液として未使用の水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液と混合して再利用する請求の範囲1に記載の現像廃液の処理方法。
- 前記未使用の水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液として、不純物のトータル含量がテトラアルキルアンモニウム当り100ppb以下の高純度水酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液を使用する請求の範囲7に記載の処理方法。
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