JP4806679B2 - ジッタ発生回路 - Google Patents
ジッタ発生回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4806679B2 JP4806679B2 JP2007518907A JP2007518907A JP4806679B2 JP 4806679 B2 JP4806679 B2 JP 4806679B2 JP 2007518907 A JP2007518907 A JP 2007518907A JP 2007518907 A JP2007518907 A JP 2007518907A JP 4806679 B2 JP4806679 B2 JP 4806679B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- jitter
- circuit
- input
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 42
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 25
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 20
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/156—Arrangements in which a continuous pulse train is transformed into a train having a desired pattern
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/31709—Jitter measurements; Jitter generators
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K7/00—Modulating pulses with a continuously-variable modulating signal
- H03K7/08—Duration or width modulation ; Duty cycle modulation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2839—Fault-finding or characterising using signal generators, power supplies or circuit analysers
- G01R31/2841—Signal generators
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/84—Generating pulses having a predetermined statistical distribution of a parameter, e.g. random pulse generators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
Description
2 DUT(被測定デバイス)
3 ドライバ
10、20 ドライバ入力回路
30 利得調整回路
40 ローパスフィルタ(LPF)
50、52 加算回路
60 ドライバ出力回路
70 波形整形回路
100 第1回路
102、104、120、202、204、220 トランジスタ
106、206 可変定電流回路
110、112、210、212、302、310、312、314 抵抗
114、214 コンデンサ
122、222、304 定電流回路
200 第2回路
Claims (14)
- 入力信号の信号パターンの内容を分析する信号分析手段と、
前記信号分析手段による分析結果に応じて、前記入力信号を伝送線路に通したときに変化タイミングがずれる向きに前記入力信号の位相を調整した信号を出力する位相調整手段と、
を備え、前記入力信号の位相を調整することでジッタを付加するジッタ発生回路。 - 請求項1において、
前記信号分析手段は、前記入力信号の周波数特性を分析するジッタ発生回路。 - 請求項1において、
前記信号分析手段は、前記入力信号の低域成分を通過させるフィルタを有しており、
前記位相調整手段は、前記フィルタの出力電圧に応じて位相調整を行うジッタ発生回路。 - 請求項1において、
前記信号分析手段は、前記入力信号の低域成分を通過させるカットオフ周波数が異なる複数のフィルタと、前記複数のフィルタの出力電圧を合成する合成手段とを有しており、
前記位相調整手段は、前記合成手段による合成電圧に応じて位相調整を行うジッタ発生回路。 - 請求項3において、
前記フィルタには、前記入力信号と逆相の信号が入力されているジッタ発生回路。 - 請求項3において、
前記位相調整手段は、所定の電圧から前記フィルタの出力電圧を差し引いた電圧に応じて位相調整を行うジッタ発生回路。 - 請求項4において、
前記フィルタには、前記入力信号と逆相の信号が入力されているジッタ発生回路。 - 請求項4において、
前記位相調整手段は、所定の電圧から前記フィルタの出力電圧を差し引いた電圧に応じて位相調整を行うジッタ発生回路。 - 請求項3において、
前記信号分析手段は、前記フィルタの出力電圧の利得調整を行う利得調整手段を有するジッタ発生回路。 - 請求項9において、
前記利得調整手段によって調整される利得は、前記伝送線路による信号損失の程度に応じて設定されるジッタ発生回路。 - 請求項1において、
前記位相調整手段は、前記信号分析手段による分析結果に応じて参照電圧が変更される差動増幅器であるジッタ発生回路。 - 請求項1において、
前記位相調整手段は、前記信号分析手段による分析結果に応じて参照電圧が変更される電圧比較器であるジッタ発生回路。 - 請求項1において、
前記位相調整手段は、前記信号分析手段による分析結果に応じて遅延量が変更される可変遅延回路であるジッタ発生回路。 - 請求項1において、
前記信号分析手段と前記位相調整手段は、前記入力信号を出力する回路が形成されているチップあるいはモジュールに組み込まれるジッタ発生回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007518907A JP4806679B2 (ja) | 2005-06-01 | 2006-05-18 | ジッタ発生回路 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005160832 | 2005-06-01 | ||
JP2005160832 | 2005-06-01 | ||
PCT/JP2006/309923 WO2006129491A1 (ja) | 2005-06-01 | 2006-05-18 | ジッタ発生回路 |
JP2007518907A JP4806679B2 (ja) | 2005-06-01 | 2006-05-18 | ジッタ発生回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2006129491A1 JPWO2006129491A1 (ja) | 2008-12-25 |
JP4806679B2 true JP4806679B2 (ja) | 2011-11-02 |
Family
ID=37481421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007518907A Expired - Fee Related JP4806679B2 (ja) | 2005-06-01 | 2006-05-18 | ジッタ発生回路 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7808291B2 (ja) |
JP (1) | JP4806679B2 (ja) |
KR (1) | KR20080007638A (ja) |
CN (1) | CN101258677B (ja) |
DE (1) | DE112006001441T5 (ja) |
TW (1) | TWI309506B (ja) |
WO (1) | WO2006129491A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008219718A (ja) * | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Advantest Corp | ドライバ回路 |
US8264236B2 (en) * | 2007-11-28 | 2012-09-11 | Advantest (Singapore) Pte Ltd | System and method for electronic testing of devices |
US10156603B1 (en) | 2017-06-14 | 2018-12-18 | University Of Electronic Science And Technology Of China | Apparatus for adding jitters to the edges of a pulse sequence |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0850156A (ja) * | 1994-08-05 | 1996-02-20 | Anritsu Corp | ジッタ耐力測定装置 |
JPH08248078A (ja) * | 1995-03-07 | 1996-09-27 | Anritsu Corp | ジッタ伝達特性測定装置 |
WO2003073115A1 (fr) * | 2002-02-26 | 2003-09-04 | Advantest Corporation | Instrument et procede de mesure |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001244797A (ja) | 2000-03-02 | 2001-09-07 | Asahi Kasei Microsystems Kk | クロックディレイ発生回路 |
JP4410379B2 (ja) * | 2000-04-18 | 2010-02-03 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 試験装置 |
JP2002108967A (ja) | 2000-09-27 | 2002-04-12 | Mitsubishi Electric Corp | 遅延計算用負荷生成方法および記録媒体 |
JP3790741B2 (ja) * | 2002-12-17 | 2006-06-28 | アンリツ株式会社 | ジッタ測定装置およびジッタ測定方法 |
US7184469B2 (en) * | 2003-02-06 | 2007-02-27 | Verigy Pte. Ltd. | Systems and methods for injection of test jitter in data bit-streams |
JP2004310294A (ja) * | 2003-04-03 | 2004-11-04 | Ntt Electornics Corp | クロック変調回路 |
US7627790B2 (en) * | 2003-08-21 | 2009-12-01 | Credence Systems Corporation | Apparatus for jitter testing an IC |
KR101228270B1 (ko) * | 2006-05-01 | 2013-01-30 | 주식회사 아도반테스토 | 시험 장치 및 시험 방법 |
-
2006
- 2006-05-18 JP JP2007518907A patent/JP4806679B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-05-18 WO PCT/JP2006/309923 patent/WO2006129491A1/ja active Application Filing
- 2006-05-18 DE DE112006001441T patent/DE112006001441T5/de not_active Ceased
- 2006-05-18 CN CN2006800191002A patent/CN101258677B/zh active Active
- 2006-05-18 KR KR1020077027688A patent/KR20080007638A/ko not_active Application Discontinuation
- 2006-05-26 TW TW095118769A patent/TWI309506B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-06-18 US US11/916,247 patent/US7808291B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0850156A (ja) * | 1994-08-05 | 1996-02-20 | Anritsu Corp | ジッタ耐力測定装置 |
JPH08248078A (ja) * | 1995-03-07 | 1996-09-27 | Anritsu Corp | ジッタ伝達特性測定装置 |
WO2003073115A1 (fr) * | 2002-02-26 | 2003-09-04 | Advantest Corporation | Instrument et procede de mesure |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2006129491A1 (ja) | 2006-12-07 |
DE112006001441T5 (de) | 2008-04-17 |
JPWO2006129491A1 (ja) | 2008-12-25 |
CN101258677B (zh) | 2012-06-20 |
CN101258677A (zh) | 2008-09-03 |
TWI309506B (en) | 2009-05-01 |
TW200703911A (en) | 2007-01-16 |
KR20080007638A (ko) | 2008-01-22 |
US7808291B2 (en) | 2010-10-05 |
US20100201421A1 (en) | 2010-08-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8411877B2 (en) | Tuning and DAC selection of high-pass filters for audio codecs | |
CN101459411B (zh) | D类放大器 | |
JP4685099B2 (ja) | 伝送線路駆動回路 | |
US9806731B2 (en) | Signal calibration circuit and signal calibration device | |
JP4806679B2 (ja) | ジッタ発生回路 | |
US8531187B2 (en) | Compensation circuit and test apparatus | |
US9332342B2 (en) | Microphone amplifier circuit | |
KR100861340B1 (ko) | 지연 고정 루프 및 지연 체인을 설정하는 방법 | |
JP5207971B2 (ja) | 遅延回路、ジッタ印加回路、及び試験装置 | |
CN108628795B (zh) | 三进制信号产生装置及三进制信号产生方法 | |
JP5235141B2 (ja) | ドライバ回路および試験装置 | |
JP4928339B2 (ja) | 任意波形発生装置 | |
KR20170024807A (ko) | 반도체 장치 및 이를 위한 수신회로 | |
US7668027B2 (en) | Semiconductor device, testing and manufacturing methods thereof | |
KR101904390B1 (ko) | 입력전압에 연계한 능동형 기준전압 설정 방법 및 이를 이용한 노이즈 저감 비교기 회로 | |
JP6450035B2 (ja) | 論理回路の制御方法 | |
JP4549745B2 (ja) | レシーバ回路 | |
KR20090016851A (ko) | Ic의 리셋단 지연 회로 | |
CN115149916A (zh) | 一种芯片及其模拟前端电路、信号处理装置 | |
JP2006054783A (ja) | 終端回路、試験装置、テストヘッド、及び通信デバイス | |
JP2007288588A (ja) | 自動レベル制御装置、方法、および回路 | |
JP2005061976A (ja) | インピーダンス制御装置 | |
JP2002071760A (ja) | タイミング補正回路、タイミング補正方法及び半導体検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101109 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110802 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110815 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140819 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140819 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |