JP4605404B2 - 電子部品 - Google Patents

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    • H01P1/20336Comb or interdigital filters
    • H01P1/20345Multilayer filters

Description

本発明は、積層基板内に設けられた複数の共振器を備えた電子部品に関する。
ブルートゥース規格の通信装置や無線LAN(ローカルエリアネットワーク)用の通信装置等の、近距離無線通信用の通信装置では、小型化、薄型化の要求が強いことから、それに用いられる電子部品の小型化、薄型化が要求されている。上記通信装置における電子部品の一つに、受信信号を濾波するバンドパスフィルタがある。このバンドパスフィルタにおいても、小型化、薄型化が要求されている。そこで、上記の通信装置における使用周波数帯域に対応でき、且つ小型化、薄型化を実現可能なバンドパスフィルタとして、例えば特許文献1ないし4に示されるように、積層基板における導体層を用いて構成された複数の共振器を備えた積層型のフィルタが提案されている。以下、共振器を構成する導体層を共振器用導体層という。
特許文献1には、少なくとも2つの共振器を備えた積層型バンドパスフィルタが記載されている。このバンドパスフィルタにおいて、各共振器は、短絡端と開放端の位置関係が互いに反対であって、積層方向に交互に配列された2種類の内部電極を有している。
特許文献2には、それぞれ複数のインダクタ用導体を有する複数個のフィルタを備えた積層型フィルタモジュールが記載されている。このモジュールにおいて、各フィルタは、インダクタ用導体を用いて構成された3つの共振器を有している。このモジュールでは、隣り合うフィルタのインダクタ用導体は、全長に渡って平行に並走する部分を有していない。
特許文献3の図7には、4つの共振器を備えたバンドパスフィルタが記載されている。このバンドパスフィルタにおいて、各共振器は、短絡端と開放端の位置関係が互いに反対であって、積層方向に交互に配列された2種類の静電容量形成電極を有している。また、特許文献3の図1には、3つの共振器Q1、Q2、Q3を備えたバンドパスフィルタが記載されている。このバンドパスフィルタにおいて、共振器Q1、Q2、Q3は、それぞれインダクタ用ストリップラインを有している。共振器Q1、Q2のインダクタ用ストリップラインはコムライン結合し、共振器Q2、Q3のインダクタ用ストリップラインはインターディジタル結合している。
特許文献4には、同じ誘電体層上に並べて配置された3個の共振器電極を備えた積層型バンドパスフィルタが記載されている。このバンドパスフィルタにおいて、3個の共振器電極は、コムライン型またはインターディジタル型に配置されている。
特開平9−148802号公報 特開2001−119209号公報 特開2005−12258号公報 特開2005−159512号公報
一般的に、複数の共振器を備えたバンドパスフィルタでは、共振器の数を多くすると、通過帯域幅が広くなると共に減衰極が急峻になる。
ところで、複数の共振器を備えた従来の積層型のバンドパスフィルタでは、小型化、薄型化する場合には、隣接する共振器間の距離を短くせざるを得ない。すると、隣接する共振器間の誘導性結合が強くなりすぎて、所望のバンドパスフィルタの特性を実現することが困難になるという問題が発生する。具体的には、隣接する共振器間の誘導性結合が強くなりすぎると、バンドパスフィルタの通過帯域幅が広くなりすぎることになる。
積層型のバンドパスフィルタにおいて、小型化、薄型化を妨げずに、隣接する共振器間の誘導性結合を小さくするために、共振器用導体層の幅を小さくして、その分、隣接する共振器間の距離を大きくすることが考えられる。しかし、そうすると、全ての共振器のQが小さくなるという問題が発生する。
共振器のQを大きくするには、共振器用導体層の表面積を大きくすることが有効である。そこで、共振器のQを低下させずに、隣接する共振器間の距離をある程度大きくするために、各共振器を、複数の共振器用導体層を用いて構成することが考えられる。この場合、特許文献1または特許文献3に記載されているように、短絡端と開放端の位置関係が互いに反対であって、積層方向に交互に配列された2種類の共振器用導体層を用いて、各共振器を構成することが考えられる。この場合、積層方向に交互に配列された2種類の共振器用導体層は、インターディジタル結合して、インダクタとキャパシタを含む共振器を構成する。
しかしながら、上述のように、インターディジタル結合する2種類の共振器用導体層を用いて全ての共振器を構成すると、隣接する共振器間の誘導性結合が強くなりすぎて、所望のバンドパスフィルタの特性を実現することが困難になるという問題が発生する。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、積層基板内に設けられた複数の共振器を備えた電子部品であって、全ての共振器のQが低下することを防止しながら、小型化に伴って、隣接する共振器間の誘導性結合が強くなりすぎることを防止できるようにした電子部品を提供することにある。
本発明の電子部品は、積層された複数の誘電体層を含む積層基板と、隣接する2つの共振器同士が誘導性結合するように積層基板内に設けられた複数の共振器とを備えている。この電子部品では、複数の共振器のうちの一部の共振器のみが、それぞれ短絡端と開放端とを含むと共に短絡端と開放端の位置関係が互いに反対である第1および第2の種類の共振器用導体層を有している。第1の種類の共振器用導体層と第2の種類の共振器用導体層とは、互いに隣接するように複数の誘電体層の積層方向に配列されている。
本発明の電子部品では、複数の共振器の全てではなく複数の共振器のうちの一部の共振器のみが第1および第2の種類の共振器用導体層を有している。そのため、本発明の電子部品では、必ず、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器とそれ以外の共振器とが隣接する部分が存在する。
本発明の電子部品において、複数の共振器は、第1の共振器、第2の共振器および第3の共振器を含み、第2の共振器は、第1の共振器に隣接して第1の共振器と誘導性結合すると共に、第3の共振器に隣接して第3の共振器と誘導性結合し、第1ないし第3の共振器のうち第2の共振器のみが、第1および第2の種類の共振器用導体層を有していてもよい。
また、本発明の電子部品において、複数の共振器は、第1の共振器、第2の共振器および第3の共振器を含み、第2の共振器は、第1の共振器に隣接して第1の共振器と誘導性結合すると共に、第3の共振器に隣接して第3の共振器と誘導性結合し、第1ないし第3の共振器のうち第1および第3の共振器のみが、第1および第2の種類の共振器用導体層を有していてもよい。
また、本発明の電子部品において、複数の共振器のうち、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器以外の少なくとも1つの共振器は、積層基板内に設けられたスルーホールを用いて構成されたスルーホール型インダクタを有していてもよい。
また、本発明の電子部品において、複数の共振器は、いずれも、一端が開放され他端が短絡された1/4波長共振器であってもよい。
また、本発明の電子部品は、更に、積層基板の外周部に配置された入力端子および出力端子を備え、複数の共振器は、回路構成上、入力端子と出力端子との間に設けられ、バンドパスフィルタの機能を実現してもよい。なお、本出願において、「回路構成上」という表現は、物理的な構成における配置ではなく、回路図上での配置を指すために用いている。
本発明の電子部品では、複数の共振器の全てではなく複数の共振器のうちの一部の共振器のみが第1および第2の種類の共振器用導体層を有している。そのため、本発明では、必ず、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器とそれ以外の共振器とが隣接する部分が存在する。この部分では、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器同士が隣接する場合に比べて、共振器間の誘導性結合を弱めることが可能になる。従って、本発明によれば、全ての共振器のQが低下することを防止しながら、小型化に伴って、隣接する共振器間の誘導性結合が強くなりすぎることを防止することができるという効果を奏する。
[第1の実施の形態]
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。始めに、図4を参照して、本発明の第1の実施の形態に係る電子部品の回路構成について説明する。本実施の形態に係る電子部品1は、バンドパスフィルタの機能を有している。図4に示したように、電子部品1は、入力端子2と、出力端子3と、3つの共振器4,5,6と、キャパシタ17〜19とを備えている。
共振器4は、インダクタ11とキャパシタ14とを有している。共振器5は、インダクタ12とキャパシタ15とを有している。共振器6は、インダクタ13とキャパシタ16とを有している。回路構成上、共振器5は、共振器4と共振器6との間に配置されている。共振器5は、共振器4に隣接して共振器4と誘導性結合すると共に、共振器6に隣接して共振器6と誘導性結合する。また、インダクタ12は、インダクタ11と誘導性結合すると共に、インダクタ13と誘導性結合する。図4では、インダクタ11,12間の誘導性結合と、インダクタ12,13間の誘導性結合を、それぞれ記号Mを付した曲線で表している。
インダクタ11の一端とキャパシタ14,17,19の各一端は、入力端子2に接続されている。インダクタ11の他端とキャパシタ14の他端はグランドに接続されている。インダクタ12の一端とキャパシタ15,18の各一端は、キャパシタ17の他端に接続されている。インダクタ12の他端とキャパシタ15の他端はグランドに接続されている。インダクタ13の一端、キャパシタ16の一端、キャパシタ19の他端および出力端子3は、キャパシタ18の他端に接続されている。インダクタ13の他端とキャパシタ16の他端はグランドに接続されている。共振器5は、前述のように共振器4と誘導性結合すると共に、キャパシタ17を介して共振器4と容量性結合する。また、共振器5は、前述のように共振器6と誘導性結合すると共に、キャパシタ18を介して共振器6と容量性結合する。
共振器4,5,6は、回路構成上、入力端子2と出力端子3との間に設けられ、バンドパスフィルタの機能を実現する。共振器4,5,6はいずれも、一端が開放され他端が短絡された1/4波長共振器である。共振器4,5,6は、それぞれ本発明における第1の共振器、第2の共振器、第3の共振器に対応する。
本実施の形態に係る電子部品1では、入力端子2に信号が入力されると、そのうちの所定の周波数帯域内の周波数の信号が選択的に、共振器4,5,6を用いて構成されたバンドパスフィルタを通過し、出力端子3から出力される。
次に、図1ないし図3を参照して、電子部品1の構造の概略について説明する。図1は、電子部品1の主要部分を示す斜視図である。図2は、電子部品1の外観を示す斜視図である。図3は、図1におけるA方向から見た電子部品1の主要部分を示す説明図である。
電子部品1は、電子部品1の構成要素を一体化するための積層基板20を備えている。後で詳しく説明するが、積層基板20は、積層された複数の誘電体層と複数の導体層とを含んでいる。インダクタ11,13は、それぞれ、積層基板20内の1つ以上のスルーホールを用いて構成されたスルーホール型インダクタである。インダクタ12は、積層基板20内の複数の導体層を用いて構成されている。キャパシタ14〜19は、積層基板20内の複数の導体層と1以上の誘電体層を用いて構成されている。
図2に示したように、積層基板20は、外周部として上面20Aと底面20Bと4つの側面20C〜20Fとを有する直方体形状をなしている。上面20Aと底面20Bは平行であり、側面20C,20Dも平行であり、側面20E,20Fも平行である。側面20C〜20Fは、上面20Aおよび底面20Bに対して垂直になっている。積層基板20において、底面20Bから側面20Eにかけて入力端子22が設けられ、底面20Bから側面20Fにかけて出力端子23が設けられている。また、底面20Bと上面20Aには、それぞれグランド用端子24,25が設けられている。入力端子22は図4における入力端子2に対応し、出力端子23は図4における出力端子3に対応する。グランド用端子24,25はグランドに接続される。
積層基板20において、側面20C,20Dに垂直な方向が、複数の誘電体層の積層方向である。図1ないし図3において、記号Tを付した矢印は、複数の誘電体層の積層方向を表している。
次に、図5ないし図7を参照して、積層基板20における誘電体層と導体層について詳しく説明する。図5において(a)〜(c)は、それぞれ、上から1層目ないし3層目の誘電体層の上面を示している。図6において(a)〜(c)は、それぞれ、上から4層目ないし6層目の誘電体層の上面を示している。図7において(a)〜(c)は、それぞれ、上から7層目ないし9層目の誘電体層の上面を示している。
図5(a)に示した1層目の誘電体層31の上面には、グランド用導体層311が形成されている。この導体層311は、グランド用端子24に接続される。また、誘電体層31には、導体層311に接続された2つのスルーホール314,316が形成されている。
図5(b)に示した2層目の誘電体層32の上面には、グランド用導体層321が形成されている。この導体層321は、グランド用端子24,25に接続される。また、誘電体層32には、それぞれスルーホール314,316に接続されたスルーホール324,326が形成されている。
図5(c)に示した3層目の誘電体層33の上面には、キャパシタ用導体層331が形成されている。この導体層331は、グランド用端子24に接続される。また、誘電体層33には、それぞれスルーホール324,326に接続されたスルーホール334,336が形成されている。
図6(a)に示した4層目の誘電体層34の上面には、キャパシタ用導体層341,342が形成されている。導体層341は入力端子22に接続され、導体層342は出力端子23に接続される。また、導体層341にはスルーホール334が接続され、導体層342にはスルーホール336が接続されている。
図6(b)に示した5層目の誘電体層35の上面には、キャパシタ用導体層351が形成されている。
図6(c)に示した6層目の誘電体層36の上面には、共振器用導体層361が形成されている。この導体層361は、短絡端361aと、その反対側の開放端361bとを含んでいる。短絡端361aは、グランド用端子25に接続される。
図7(a)に示した7層目の誘電体層37の上面には、共振器用導体層371が形成されている。この導体層371は、短絡端371aと、その反対側の開放端371bとを含んでいる。短絡端371aは、グランド用端子24に接続される。
図7(b)に示した8層目の誘電体層38の上面には、共振器用導体層381が形成されている。この導体層381は、短絡端381aと、その反対側の開放端381bとを含んでいる。短絡端381aは、グランド用端子25に接続される。
図7(c)に示した9層目の誘電体層39の上面には、共振器用導体層391が形成されている。この導体層391は、短絡端391aと、その反対側の開放端391bとを含んでいる。短絡端391aは、グランド用端子24に接続される。誘電体層39の下面には、導体層は形成されていない。
スルーホール314,324,334は、直列に接続されて、図1および図3に示したスルーホール列110を形成している。同様に、スルーホール316,326,336は、直列に接続されて、図1および図3に示したスルーホール列130を形成している。スルーホール列110は共振器4のインダクタ11を構成し、スルーホール列130は共振器6のインダクタ13を構成する。
導体層361,371,381,391は、それぞれ短絡端と開放端とを含み、短絡端と開放端の位置関係が交互に反対になるように、複数の誘電体層の積層方向に配列されている。導体層361と導体層381における短絡端と開放端の位置関係は同じである。この導体層361,381を第1の種類の共振器用導体層と呼ぶ。また、導体層371と導体層391における短絡端と開放端の位置関係は同じである。この導体層371,391を第2の種類の共振器用導体層と呼ぶ。第1の種類の共振器用導体層である導体層361,381における短絡端と開放端の位置関係と、第2の種類の共振器用導体層である導体層371,391における短絡端と開放端の位置関係は、互いに反対である。従って、短絡端と開放端の位置関係が互いに反対である第1の種類の共振器用導体層と第2の種類の共振器用導体層とは、互いに隣接するように複数の誘電体層の積層方向に交互に配列されている。
第1の種類の共振器用導体層である導体層361,381と、第2の種類の共振器用導体層である導体層371,391は、インターディジタル結合して、共振器5のインダクタ12を構成する。本実施の形態では、共振器4,5,6のうち共振器5のみが、インターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有している。
導体層331,341および誘電体層33は、共振器4のキャパシタ14を構成している。導体層331,342および誘電体層33は、共振器6のキャパシタ16を構成している。導体層361,371,381,391および誘電体層36,37,38は、共振器5のキャパシタ15を構成している。
導体層341,361および誘電体層34,35は、図4におけるキャパシタ17を構成している。導体層342,361および誘電体層34,35は、図4におけるキャパシタ18を構成している。導体層341,342,351および誘電体層34は、図4におけるキャパシタ19を構成している。
上述の1層目ないし9層目の誘電体層31〜39および導体層が積層されて、図1ないし図3に示した積層基板20が形成される。図2に示した端子22〜25は、この積層基板20の外周部に形成される。
なお、本実施の形態において、積層基板20としては、誘電体層の材料として樹脂、セラミック、あるいは両者を複合した材料を用いたもの等、種々のものを用いることができる。しかし、積層基板20としては、特に、高周波特性に優れた低温同時焼成セラミック多層基板を用いることが好ましい。
本実施の形態では、共振器4,5,6のうち共振器5のみが、インターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層によって構成されたインダクタ12を有している。本実施の形態では、共振器5のインダクタが1つの共振器用導体層のみによって構成されている場合に比べて、インダクタ12のQを大きくすることができ、その結果、共振器5のQを大きくすることができる。
ところで、一般に、3つの共振器を備え、バンドパスフィルタの機能を実現する電子部品では、3つの共振器のうちの真中に配置された共振器は他の2つの共振器に比べて、共振器のQが小さくなりやすい。これは、真中に配置された共振器は、他の2つの共振器に比べて、グランドに接続される導体層との間で電界損失を発生させやすいためである。本実施の形態では、共振器4,5,6のうち、真中に配置された共振器5が、インターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有していることから、特にQが低下しやすい共振器5のQの低下を防止することができる。
また、本実施の形態では、共振器4,5,6のうち、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器5以外の共振器4,6は、それぞれ、積層基板20内に設けられたスルーホールを用いて構成されたスルーホール型のインダクタ11,13を有している。スルーホール型インダクタは、1つの共振器用導体層のみによって構成されたインダクタに比べて表面積を大きくして、Qを大きくすることができる。そのため、本実施の形態では、共振器4,6の各インダクタがそれぞれ1つの共振器用導体層のみによって構成されている場合に比べて、インダクタ11,13のQを大きくすることができ、その結果、共振器4,6のQを大きくすることができる。
ところで、共振器4,5,6の全てがインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有する場合には、共振器4,5間の誘導性結合および共振器5,6間の誘導性結合が強くなりすぎる。これに対し、本実施の形態では、共振器4,5,6のうち、共振器5のみがインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有し、共振器5と誘導性結合する他の共振器4,6はインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有していない。そのため、本実施の形態では、共振器4,5,6の全てがインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有する場合に比べて、共振器4,5間の誘導性結合および共振器5,6間の誘導性結合をそれぞれ弱めることができる。
特に、本実施の形態では、共振器4,6のインダクタ11,13における電磁波の進行方向と共振器5のインダクタ12における電磁波の進行方向は、互いに直交する。これにより、共振器4,5間の誘導性結合および共振器5,6間の誘導性結合をそれぞれ、より一層弱めることができる。
これらのことから、本実施の形態によれば、全ての共振器4,5,6のQが低下することを防止しながら、小型化に伴って、隣接する共振器間の誘導性結合が強くなりすぎることを防止することができる。また、本実施の形態によれば、電子部品1の小型化、薄型化に伴って隣接する共振器間の距離を短くせざるを得ない場合であっても、隣接する共振器間の誘導性結合の大きさを小さくすることができるので、電子部品1の小型化、薄型化が容易になる。
本実施の形態に係る電子部品1は、例えば、通過帯域がおよそ2.4〜2.5GHzのバンドパスフィルタとして機能するように設計される。なお、2.4〜2.5GHzという周波数帯域は、ブルートゥース規格の通信装置や無線LAN用の通信装置において用いられるバンドパスフィルタの通過帯域に対応する。
ここで、図8および図9を参照して、本実施の形態に係る電子部品1と比較例の電子部品とについて、シミュレーションによって求めた通過・減衰特性の一例について説明する。このシミュレーションでは、本実施の形態に係る電子部品1と比較例の電子部品は、いずれも、通過帯域がおよそ2.4〜2.5GHzのバンドパスフィルタとして機能するように設計されている。比較例の電子部品の回路構成は、本実施の形態に係る電子部品1と同じである。比較例の電子部品において、各共振器のインダクタは、積層された3つの共振器用導体層を有している。この3つの共振器用導体層は、それぞれの一方の端部の近傍の部分で互いに接続されている。3つの共振器用導体層の他方の端部はグランドに接続されている。
図8は、本実施の形態に係る電子部品1と比較例の電子部品の通過・減衰特性を示している。図9は、図8における一部を拡大して示している。図8および図9において、実線の曲線は本実施の形態に係る電子部品1の特性を示し、点線の曲線は比較例の電子部品の特性を示している。図9から分かるように、比較例の電子部品に比べて、本実施の形態に係る電子部品1では、通過帯域(2.4〜2.5GHz)における減衰量が小さい。これは、本実施の形態における共振器4,5,6のインダクタ11,12,13のそれぞれのQが大きいことによると考えられる。
[第2の実施の形態]
次に、本発明の第2の実施の形態に係る電子部品について説明する。本実施の形態に係る電子部品1の回路構成は、第1の実施の形態と同じであり、図4に示した通りである。
図10は、本実施の形態に係る電子部品1の主要部分を示す斜視図である。図11は、本実施の形態に係る電子部品1の外観を示す斜視図である。図12は、図10におけるB方向から見た電子部品1の主要部分を示す説明図である。
電子部品1は、電子部品1の構成要素を一体化するための積層基板20を備えている。後で詳しく説明するが、積層基板20は、積層された複数の誘電体層と複数の導体層とを含んでいる。インダクタ11,13は、それぞれ、積層基板20内の複数の導体層を用いて構成されている。インダクタ12は、積層基板20内の1つ以上のスルーホールを用いて構成されたスルーホール型インダクタである。キャパシタ14〜19は、積層基板20内の複数の導体層と1以上の誘電体層を用いて構成されている。
図11に示したように、積層基板20は、外周部として上面20Aと底面20Bと4つの側面20C〜20Fとを有する直方体形状をなしている。上面20Aと底面20Bは平行であり、側面20C,20Dも平行であり、側面20E,20Fも平行である。側面20C〜20Fは、上面20Aおよび底面20Bに対して垂直になっている。積層基板20において、底面20Bには、入力端子22、出力端子23およびグランド用端子26が設けられている。底面20Bにおいて、入力端子22は側面20Eに近い位置に配置され、出力端子23は側面20Fに近い位置に配置され、グランド用端子26は入力端子22と出力端子23の間に配置されている。また、上面20Aにはグランド用端子27,28が設けられている。入力端子22は図4における入力端子2に対応し、出力端子23は図4における出力端子3に対応する。グランド用端子26,27,28はグランドに接続される。
積層基板20において、側面20C,20Dに垂直な方向が、複数の誘電体層の積層方向である。図10ないし図12において、記号Tを付した矢印は、複数の誘電体層の積層方向を表している。
次に、図13ないし図15を参照して、積層基板20における誘電体層と導体層について詳しく説明する。図13において(a)〜(c)は、それぞれ、上から1層目ないし3層目の誘電体層の上面を示している。図14において(a)〜(c)は、それぞれ、上から4層目ないし6層目の誘電体層の上面を示している。図15において(a)〜(c)は、それぞれ、上から7層目ないし9層目の誘電体層の上面を示している。
図13(a)に示した1層目の誘電体層41の上面には、グランド用導体層411が形成されている。この導体層411は、グランド用端子26,27,28に接続される。
図13(b)に示した2層目の誘電体層42の上面には、グランド用導体層421が形成されている。この導体層421は、グランド用端子26に接続される。また、誘電体層42には、導体層421に接続されたスルーホール422が形成されている。
図13(c)に示した3層目の誘電体層43の上面には、キャパシタ用導体層431が形成されている。また、誘電体層43には、スルーホール422に接続されたスルーホール432が形成されている。
図14(a)に示した4層目の誘電体層44の上面には、キャパシタ用導体層441が形成されている。導体層441は、グランド用端子26に接続される。また、誘電体層44には、スルーホール432に接続されたスルーホール442が形成されている。
図14(b)に示した5層目の誘電体層45の上面には、キャパシタ用導体層451が形成されている。この導体層451には、スルーホール442が接続されている。
図14(c)に示した6層目の誘電体層46の上面には、共振器用導体層461,462が形成されている。導体層461は、短絡端461aと、その反対側の開放端461bとを含んでいる。短絡端461aは、グランド用端子26に接続される。導体層462は、短絡端462aと、その反対側の開放端462bとを含んでいる。短絡端462aは、グランド用端子26に接続される。
図15(a)に示した7層目の誘電体層47の上面には、共振器用導体層471,472が形成されている。導体層471は、本体部471cと接続部471dとを含んでいる。なお、図15(a)では、本体部471cと接続部471dの境界を点線で示している。本体部471cは、短絡端471aと、その反対側の開放端471bとを含んでいる。短絡端471aは、グランド用端子27に接続される。接続部471dの一端は、本体部471cにおける開放端471bの近傍の部分に接続されている。接続部471dの他端は、入力端子22に接続される。
導体層472は、本体部472cと接続部472dとを含んでいる。なお、図15(a)では、本体部472cと接続部472dの境界を点線で示している。本体部472cは、短絡端472aと、その反対側の開放端472bとを含んでいる。短絡端472aは、グランド用端子28に接続される。接続部472dの一端は、本体部472cにおける開放端472bの近傍の部分に接続されている。接続部472dの他端は、出力端子23に接続される。
図15(b)に示した8層目の誘電体層48の上面には、共振器用導体層481,482が形成されている。導体層481は、短絡端481aと、その反対側の開放端481bとを含んでいる。短絡端481aは、グランド用端子26に接続される。導体層482は、短絡端482aと、その反対側の開放端482bとを含んでいる。短絡端482aは、グランド用端子26に接続される。
図15(c)に示した9層目の誘電体層49の上面には、キャパシタ用導体層491が形成されている。
スルーホール422,432,442は、直列に接続されて、図10および図12に示したスルーホール列120を形成している。スルーホール列120は共振器5のインダクタ12を構成する。
導体層461,471,481は、それぞれ短絡端と開放端とを含み、短絡端と開放端の位置関係が交互に反対になるように、複数の誘電体層の積層方向に配列されている。導体層461と導体層481における短絡端と開放端の位置関係は同じである。この導体層461,481を第1の種類の共振器用導体層と呼ぶ。また、導体層471を第2の種類の共振器用導体層と呼ぶ。第1の種類の共振器用導体層である導体層461,481における短絡端と開放端の位置関係と、第2の種類の共振器用導体層である導体層471における短絡端と開放端の位置関係は、互いに反対である。従って、短絡端と開放端の位置関係が互いに反対である第1の種類の共振器用導体層と第2の種類の共振器用導体層とは、互いに隣接するように複数の誘電体層の積層方向に交互に配列されている。第1の種類の共振器用導体層である導体層461,481と、第2の種類の共振器用導体層である導体層471は、インターディジタル結合して、共振器4のインダクタ11を構成する。
導体層462,472,482は、それぞれ短絡端と開放端とを含み、短絡端と開放端の位置関係が交互に反対になるように、複数の誘電体層の積層方向に配列されている。導体層462と導体層482における短絡端と開放端の位置関係は同じである。この導体層462,482を第1の種類の共振器用導体層と呼ぶ。また、導体層472を第2の種類の共振器用導体層と呼ぶ。第1の種類の共振器用導体層である導体層462,482における短絡端と開放端の位置関係と、第2の種類の共振器用導体層である導体層472における短絡端と開放端の位置関係は、互いに反対である。従って、短絡端と開放端の位置関係が互いに反対である第1の種類の共振器用導体層と第2の種類の共振器用導体層とは、互いに隣接するように複数の誘電体層の積層方向に交互に配列されている。第1の種類の共振器用導体層である導体層462,482と、第2の種類の共振器用導体層である導体層472は、インターディジタル結合して、共振器6のインダクタ13を構成する。
本実施の形態では、共振器4,5,6のうち共振器4,6のみが、インターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有している。
導体層461,471,481および誘電体層46,47は、共振器4のキャパシタ14を構成している。導体層462,472,482および誘電体層46,47は、共振器6のキャパシタ16を構成している。導体層431,441,451および誘電体層43,44は、共振器5のキャパシタ15を構成している。
導体層451,461および誘電体層46は、図4におけるキャパシタ17を構成している。導体層451,462および誘電体層46は、図4におけるキャパシタ18を構成している。導体層481,482,491および誘電体層48は、図4におけるキャパシタ19を構成している。
上述の1層目ないし9層目の誘電体層41〜49および導体層が積層されて、図10ないし図12に示した積層基板20が形成される。図11に示した端子22,23,26〜28は、この積層基板20の外周部に形成される。
第1の実施の形態と同様に、本実施の形態においても、積層基板20としては、誘電体層の材料として樹脂、セラミック、あるいは両者を複合した材料を用いたもの等、種々のものを用いることができる。しかし、積層基板20としては、特に、高周波特性に優れた低温同時焼成セラミック多層基板を用いることが好ましい。
本実施の形態では、共振器4,5,6のうち共振器4,6のみが、それぞれ、インターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層によって構成されたインダクタ11,13を有している。本実施の形態では、共振器4,6のインダクタがそれぞれ1つの共振器用導体層のみによって構成されている場合に比べて、インダクタ11,13のQを大きくすることができ、その結果、共振器4,6のQを大きくすることができる。
また、本実施の形態では、共振器4,5,6のうち、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器4,6以外の共振器5は、積層基板20内に設けられたスルーホールを用いて構成されたスルーホール型のインダクタ12を有している。スルーホール型インダクタは、1つの共振器用導体層のみによって構成されたインダクタに比べて表面積を大きくして、Qを大きくすることができる。そのため、本実施の形態では、共振器5のインダクタが1つの共振器用導体層のみによって構成されている場合に比べて、インダクタ12のQを大きくすることができ、その結果、共振器5のQを大きくすることができる。
共振器4,5,6の全てがインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有する場合には、共振器4,5間の誘導性結合および共振器5,6間の誘導性結合が強くなりすぎる。これに対し、本実施の形態では、共振器4,5,6のうち、共振器4,6のみがインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有し、共振器4,6と誘導性結合する他の共振器5はインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有していない。そのため、本実施の形態では、共振器4,5,6の全てがインターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有する場合に比べて、共振器4,5間の誘導性結合および共振器5,6間の誘導性結合をそれぞれ弱めることができる。
特に、本実施の形態では、共振器4,6のインダクタ11,13における電磁波の進行方向と共振器5のインダクタ12における電磁波の進行方向は、互いに直交する。これにより、共振器4,5間の誘導性結合および共振器5,6間の誘導性結合をそれぞれ、より一層弱めることができる。
これらのことから、本実施の形態によれば、全ての共振器4,5,6のQが低下することを防止しながら、小型化に伴って、隣接する共振器間の誘導性結合が強くなりすぎることを防止することができる。また、本実施の形態によれば、電子部品1の小型化、薄型化に伴って隣接する共振器間の距離を短くせざるを得ない場合であっても、隣接する共振器間の誘導性結合の大きさを小さくすることができるので、電子部品1の小型化、薄型化が容易になる。
第1の実施の形態と同様に、本実施の形態に係る電子部品1は、例えば、通過帯域がおよそ2.4〜2.5GHzのバンドパスフィルタとして機能するように設計される。本実施の形態におけるその他の構成、作用および効果は、第1の実施の形態と同様である。
なお、本発明は、上記各実施の形態に限定されず、種々の変更が可能である。例えば、各実施の形態のように電子部品1が3つの共振器4,5,6を備えている場合、インターディジタル結合する第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器は、共振器4または共振器6のみでもよいし、共振器4,5のみでもよいし、共振器5,6のみでもよい。また、本発明の電子部品は、少なくとも2つの共振器を備えていればよく、電子部品に含まれる共振器の数は、2でもよいし、4以上であってもよい。本発明によれば、複数の共振器の全てではなく複数の共振器のうちの一部の共振器のみが第1および第2の種類の共振器用導体層を有することにより、必ず、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器とそれ以外の共振器とが隣接する部分が存在するため、この部分において、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器同士が隣接する場合に比べて、共振器間の誘導性結合を弱めることが可能になる。
また、本発明において、第1の種類の共振器用導体層の数と第2の種類の共振器用導体層の数は、それぞれ1でもよいし、2以上であってもよい。
また、本発明において、第1および第2の種類の共振器用導体層を有する共振器以外の少なくとも1つの共振器は、スルーホール型インダクタを有するものに限らず、1種類の共振器用導体層によって構成されたインダクタを有するものであってもよい。
また、本発明の電子部品は、バンドパスフィルタに限らず、複数の共振器を備えた電子部品全般に適用することができる。
本発明の電子部品は、ブルートゥース規格の通信装置や無線LAN用の通信装置において用いられるフィルタ、特にバンドパスフィルタとして有用である。
本発明の第1の実施の形態に係る電子部品の主要部分を示す斜視図である。 本発明の第1の実施の形態に係る電子部品の外観を示す斜視図である。 図1におけるA方向から見た電子部品の主要部分を示す説明図である。 本発明の第1の実施の形態に係る電子部品の回路構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施の形態における積層基板の1層目ないし3層目の誘電体層の上面を示す説明図である。 本発明の第1の実施の形態における積層基板の4層目ないし6層目の誘電体層の上面を示す説明図である。 本発明の第1の実施の形態における積層基板の7層目ないし9層目の誘電体層の上面を示す説明図である。 本発明の第1の実施の形態に係る電子部品と比較例の電子部品の通過・減衰特性を示す特性図である。 図8における一部を拡大して示す特性図である。 本発明の第2の実施の形態に係る電子部品の主要部分を示す斜視図である。 本発明の第2の実施の形態に係る電子部品の外観を示す斜視図である。 図10におけるB方向から見た電子部品の主要部分を示す説明図である。 本発明の第2の実施の形態における積層基板の1層目ないし3層目の誘電体層の上面を示す説明図である。 本発明の第2の実施の形態における積層基板の4層目ないし6層目の誘電体層の上面を示す説明図である。 本発明の第2の実施の形態における積層基板の7層目ないし9層目の誘電体層の上面を示す説明図である。
符号の説明
1…電子部品、2…入力端子、3…出力端子、4〜6…共振器、11〜13…インダクタ、14〜19…キャパシタ、20…積層基板、361,371,381,391…共振器用導体層。

Claims (6)

  1. 積層された複数の誘電体層を含む積層基板と、隣接する2つの共振器同士が誘導性結合するように前記積層基板内に設けられた複数の共振器とを備えた電子部品であって、
    前記複数の共振器は、それぞれインダクタを有し、
    前記複数の共振器のうちの一部の共振器のインダクタのみが、それぞれ短絡端と開放端とを含むと共に前記短絡端と開放端の位置関係が互いに反対である第1および第2の種類の共振器用導体層によって構成され
    前記第1の種類の共振器用導体層と第2の種類の共振器用導体層とは、互いに隣接するように前記複数の誘電体層の積層方向に配列され
    前記一部の共振器のインダクタにおける電磁波の進行方向と、前記複数の共振器のうちの前記一部の共振器に隣接する共振器のインダクタにおける電磁波の進行方向は、互いに直交することを特徴とする電子部品。
  2. 前記複数の共振器は、第1の共振器、第2の共振器および第3の共振器を含み、
    前記第2の共振器は、前記第1の共振器に隣接して第1の共振器と誘導性結合すると共に、前記第3の共振器に隣接して第3の共振器と誘導性結合し、
    前記第1ないし第3の共振器のインダクタのうち第2の共振器のインダクタのみが、前記第1および第2の種類の共振器用導体層によって構成されていることを特徴とする請求項1記載の電子部品。
  3. 前記複数の共振器は、第1の共振器、第2の共振器および第3の共振器を含み、
    前記第2の共振器は、前記第1の共振器に隣接して第1の共振器と誘導性結合すると共に、前記第3の共振器に隣接して第3の共振器と誘導性結合し、
    前記第1ないし第3の共振器のインダクタのうち第1および第3の共振器のインダクタのみが、前記第1および第2の種類の共振器用導体層によって構成されていることを特徴とする請求項1記載の電子部品。
  4. 前記複数の共振器のうちの前記一部の共振器に隣接する共振器のインダクタは、前記積層基板内に設けられたスルーホールを用いて構成されたスルーホール型インダクタであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の電子部品。
  5. 前記複数の共振器は、いずれも、一端が開放され他端が短絡された1/4波長共振器であることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の電子部品。
  6. 更に、前記積層基板の外周部に配置された入力端子および出力端子を備え、
    前記複数の共振器は、回路構成上、前記入力端子と出力端子との間に設けられ、バンドパスフィルタの機能を実現することを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の電子部品。
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