JP4528659B2 - クロックジッタ算出装置、クロックジッタ算出方法、およびクロックジッタ算出プログラム - Google Patents
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Description
回路構成を示す情報に基づいて、クロック信号のジッタの大きさを算出するクロックジッタ算出装置であって、
クロック信号の伝達経路を構成する各セルへの電源の供給電圧における、所定の時間の範囲での変動を算出する供給電圧解析手段と、
上記供給電圧の変動に応じた上記各セルの遅延時間の変動を算出する遅延時間変動算出手段と、
上記遅延時間の変動に基づいて、上記伝達経路を介して伝達されるクロック信号のジッタの大きさを算出するジッタ算出手段と、
を備えたことを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記供給電圧解析手段は、上記クロック信号の周期ごとの上記供給電圧を算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記供給電圧解析手段は、各セルに流れる電流による電圧降下量を求め、所定の基準の供給電圧から上記電圧降下量だけ降下した供給電圧を算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、各セルにおける供給電圧と遅延時間に対応する値との関係、および上記供給電圧解析手段によって算出された供給電圧に基づいて、上記遅延時間の変動を算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項4のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、各セルへの供給電圧を示す値と、これに応じた遅延時間に対応する値とが対応づけられたテーブルを用いて、上記遅延時間の変動を算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項4のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、各セルへの供給電圧を示す値をパラメータとして遅延時間に対応する値を求める近似式を用いて、上記遅延時間の変動を算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項4のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間に対応する値は、所定の基準の供給電圧が供給された場合の遅延時間に対する、所定の供給電圧が供給された場合の遅延時間の比であることを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記供給電圧解析手段は、上記供給電圧の変動として、第1および第2の供給電圧である最低および最高の供給電圧、または第1および第2の供給電圧である最低および平均の供給電圧を求めるように構成されていることを特徴とする。
請求項8のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、上記第1および第2の供給電圧にそれぞれ対応する遅延時間の比から1を減算して、所定の基準の供給電圧が供給された場合の遅延時間を乗じた値を上記遅延時間の変動として求めるように構成されていることを特徴とする。
請求項8のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、上記第1および第2の供給電圧にそれぞれ対応する遅延時間の差を上記遅延時間の変動として求めるように構成されていることを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記ジッタ算出手段は、上記遅延時間変動算出手段によって算出された各セルの遅延時間の変動の2乗和の平方根を求めることによって、上記ジッタの大きさを算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記ジッタ算出手段は、上記遅延時間変動算出手段によって算出された各セルの遅延時間の変動の総和を求めることによって、上記ジッタの大きさを算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
さらに、算出されたジッタの大きさが所定の許容範囲内かどうかを判定するクロックジッタ許容判定手段を備えたことを特徴とする。
請求項13のクロックジッタ算出装置であって、
さらに、上記クロックジッタ許容判定手段によって、算出されたジッタの大きさが許容範囲外と判定された場合に、そのクロック信号の伝達経路を示す警告を表示する警告表示手段を備えたことを特徴とする。
請求項13のクロックジッタ算出装置であって、
さらに、上記クロックジッタ許容判定手段によって、算出されたジッタの大きさが許容範囲外と判定された場合に、そのクロック信号の伝達経路を構成するセルを変更した新たな回路構成を示す情報を生成するセル変更手段を備え、
上記新たな回路構成についてのジッタの大きさを算出するように構成されていることを特徴とする。
請求項1のクロックジッタ算出装置であって、さらに、
クロック信号を含む各信号の伝達経路における、最低供給電圧に応じた最大遅延時間または最高供給電圧に応じた最小遅延時間を算出する遅延時間算出手段と、
上記遅延時間算出手段によって求められた最大または最小遅延時間と、上記ジッタ算出手段によって求められたクロック信号のジッタの大きさとに基づいて、タイミング制約を満足するかどうかを判定するタイミング解析手段と、
を備えたことを特徴とする。
クロックジッタ算出装置は、例えば、CPU、メモリ、記憶装置、および入出力装置等を備えたコンピュータにソフトウェアが組み込まれて構成されるが、機能的には、例えば図1に示すような各ステップが実行される機能を有する各部を備えて構成されている。
各セルの遅延変動率比=最低供給電圧時の遅延変動率/最高供給電圧時の遅延変動率
上記遅延変動率情報101eとしては、より詳しくは、種々の供給電圧と、これらの供給電圧および所定の基準電源電圧(例えば1.20V)が供給されたときの遅延時間の比とを対応させたテーブルが用いられる。このようなテーブルは、例えば、半導体素子の形成に用いられるプロセス毎に準備され、電源電圧を変化させた場合の回路シミュレーションまたは実測より得られた、代表的なセルの遅延特性を示すものである。上記代表的なセルとしては、通常、半導体集積回路において使用頻度が高く、かつ、回路シミュレーションまたは実測より電源電圧を変化させた時の遅延変動が全てのセルの中で平均的になるセルが選択されることが好ましい。
全てのセルに対して遅延変動率比が算出された後、クロック遅延変動量算出ステップS103では、基準電源電圧が供給されたときの各セルの遅延時間(遅延値)を示す基準電源電圧時セル遅延値情報101fと、前記遅延変動率比算出ステップS102で求められた各セルの遅延変動率比とに基づき、下記(数2)(数3)によって、各セルの遅延変動量、および各クロック信号の伝達経路上の終端での遅延変動量、すなわちクロックジッタの大きさ(クロック遅延変動量)を算出するようになっている。
各セルの遅延変動量=各セルの基準電源電圧時セル遅延値×(各セルの遅延変動率比−1)
(数3)
各クロック信号の伝達経路上の遅延変動量=√(Σ各セルの遅延変動量2)
なお、上記(数3)に代えて、下記(数4)のように単に各セルの遅延変動量の総和が用いられるなどしてもよい。
各クロック信号の伝達経路上の遅延変動量=Σ各セルの遅延変動量
さらに、各セルの最低、最高供給電圧時の遅延時間の差を各セルの遅延変動量として、その2乗和の平方根や総和などが求められるなどしてもよく、クロック信号の伝達経路上の各セルの遅延変動が合成されれば良い。
実施形態2の装置は、図5に示すように、実施形態1の装置に加えて、さらに、クロックジッタ許容量判定ステップS201と、警告表示ステップS202と、セルタイプ置換ステップS203とが実行される機能を有する各部を備えて構成され、実施形態1と同様にしてクロックジッタの大きさ(クロック信号の伝達経路上の遅延変動量)が求められるとともに、これに基づいて設計対象回路の変更が自動的に行われるようになっている。
実施形態3の装置は、図7に示すように、実施形態1の装置に加えて、さらに、遅延値補正ステップS301とタイミング解析ステップS302とが実行される機能を有する各部を備えて構成され、実施形態1と同様にしてクロックジッタの大きさ(クロック信号の伝達経路上の遅延変動量)が求められるとともに、これに基づいて設計対象回路のタイミング解析が行われるようになっている。
補正セル遅延時間=各セルの基準電源電圧時セル遅延値×最低供給電圧時の遅延変動率
タイミング解析ステップS302では、上記遅延値補正ステップS301によって算出された補正セル遅延時間と、クロック遅延変動量算出ステップS103によって、実施形態1で説明したように算出されたクロックジッタの大きさとに基づいて、タイミング解析が行われ、種々のタイミング制約が満足されるかなどのタイミング検証が行われる。
セル231aでは、
最高供給電圧が1.18V、最低供給電圧が1.15Vなら遅延変動率比は1.039、
セル231bでは、
最高供給電圧が1.19V、最低供給電圧が1.18Vなら遅延変動率比は1.015、
セル231cでは、
最高供給電圧が1.19V、最低供給電圧が1.12Vなら遅延変動率比は1.113、
セル231dでは、
最高供給電圧が1.19V、最低供給電圧が1.14Vなら遅延変動率比は1.074となる。
フリップフロップ211では、
最低供給電圧が1.14V、セル遅延が350psだとすると、381.5ps
セル241aでは、
最低供給電圧が1.12V、セル遅延が350psだとすると、395.5ps
セル241bでは、
最低供給電圧が1.14V、セル遅延が350psだとすると、381.5ps
セル241cでは、
最低供給電圧が1.12V、セル遅延が350psだとすると、395.5ps
セル241dでは、
最低供給電圧が1.14V、セル遅延が380psだとすると、414psとなる。
101a レイアウト情報
101b トグル情報
101c タイミング情報
101d ライブラリ情報
101e 遅延変動率情報
101f 基準電源電圧時セル遅延値情報
211・212 フリップフロップ
220・230 クロックソースポイント
221 セルグループ
221a〜221c セル
231 セルグループ
231a〜231d セル
241 セルグループ
241a〜241d セル
clk1・clk2 クロック信号
S101 電圧降下解析ステップ
S102 遅延変動率比算出ステップ
S103 クロック遅延変動量算出ステップ
S201 クロックジッタ許容量判定ステップ
S202 警告表示ステップ
S203 セルタイプ置換ステップ
S301 遅延値補正ステップ
S302 タイミング解析ステップ
Claims (18)
- 回路構成を示す情報に基づいて、クロック信号のジッタの大きさを算出するクロックジッタ算出装置であって、
クロック信号の伝達経路を構成する各セルへの電源の供給電圧における、所定の時間の範囲での変動を算出する供給電圧解析手段と、
上記供給電圧の変動に応じた上記各セルの遅延時間の変動を算出する遅延時間変動算出手段と、
上記遅延時間の変動に基づいて、上記伝達経路を介して伝達されるクロック信号のジッタの大きさを算出するジッタ算出手段と、
を備えたことを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記供給電圧解析手段は、上記クロック信号の周期ごとの上記供給電圧を算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記供給電圧解析手段は、各セルに流れる電流による電圧降下量を求め、所定の基準の供給電圧から上記電圧降下量だけ降下した供給電圧を算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、各セルにおける供給電圧と遅延時間に対応する値との関係、および上記供給電圧解析手段によって算出された供給電圧に基づいて、上記遅延時間の変動を算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項4のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、各セルへの供給電圧を示す値と、これに応じた遅延時間に対応する値とが対応づけられたテーブルを用いて、上記遅延時間の変動を算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項4のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、各セルへの供給電圧を示す値をパラメータとして遅延時間に対応する値を求める近似式を用いて、上記遅延時間の変動を算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項4のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間に対応する値は、所定の基準の供給電圧が供給された場合の遅延時間に対する、所定の供給電圧が供給された場合の遅延時間の比であることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記供給電圧解析手段は、上記供給電圧の変動として、第1および第2の供給電圧である最低および最高の供給電圧、または第1および第2の供給電圧である最低および平均の供給電圧を求めるように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項8のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、上記第1および第2の供給電圧にそれぞれ対応する遅延時間の比から1を減算して、所定の基準の供給電圧が供給された場合の遅延時間を乗じた値を上記遅延時間の変動として求めるように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項8のクロックジッタ算出装置であって、
上記遅延時間変動算出手段は、上記第1および第2の供給電圧にそれぞれ対応する遅延時間の差を上記遅延時間の変動として求めるように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記ジッタ算出手段は、上記遅延時間変動算出手段によって算出された各セルの遅延時間の変動の2乗和の平方根を求めることによって、上記ジッタの大きさを算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
上記ジッタ算出手段は、上記遅延時間変動算出手段によって算出された各セルの遅延時間の変動の総和を求めることによって、上記ジッタの大きさを算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、
さらに、算出されたジッタの大きさが所定の許容範囲内かどうかを判定するクロックジッタ許容判定手段を備えたことを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項13のクロックジッタ算出装置であって、
さらに、上記クロックジッタ許容判定手段によって、算出されたジッタの大きさが許容範囲外と判定された場合に、そのクロック信号の伝達経路を示す警告を表示する警告表示手段を備えたことを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項13のクロックジッタ算出装置であって、
さらに、上記クロックジッタ許容判定手段によって、算出されたジッタの大きさが許容範囲外と判定された場合に、そのクロック信号の伝達経路を構成するセルを変更した新たな回路構成を示す情報を生成するセル変更手段を備え、
上記新たな回路構成についてのジッタの大きさを算出するように構成されていることを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 請求項1のクロックジッタ算出装置であって、さらに、
クロック信号を含む各信号の伝達経路における、最低供給電圧に応じた最大遅延時間または最高供給電圧に応じた最小遅延時間を算出する遅延時間算出手段と、
上記遅延時間算出手段によって求められた最大または最小遅延時間と、上記ジッタ算出手段によって求められたクロック信号のジッタの大きさとに基づいて、タイミング制約を満足するかどうかを判定するタイミング解析手段と、
を備えたことを特徴とするクロックジッタ算出装置。 - 回路構成を示す情報に基づいて、クロック信号のジッタの大きさを算出するクロックジッタ算出方法であって、
供給電圧解析手段により、クロック信号の伝達経路を構成する各セルへの電源としての供給電圧における、所定の時間の範囲での変動を算出する供給電圧解析ステップと、
遅延時間変動算出手段により、上記供給電圧の変動に応じた上記各セルの遅延時間の変動を算出する遅延時間変動算出ステップと、
ジッタ算出手段により、上記遅延時間の変動に基づいて、上記伝達経路を介して伝達されるクロック信号のジッタの大きさを算出するジッタ算出ステップと、
を有することを特徴とするクロックジッタ算出方法。 - 回路構成を示す情報に基づいて、クロック信号のジッタの大きさを算出するクロックジッタ算出プログラムであって、
クロック信号の伝達経路を構成する各セルへの電源としての供給電圧における、所定の時間の範囲での変動を算出する供給電圧解析ステップと、
上記供給電圧の変動に応じた上記各セルの遅延時間の変動を算出する遅延時間変動算出ステップと、
上記遅延時間の変動に基づいて、上記伝達経路を介して伝達されるクロック信号のジッタの大きさを算出するジッタ算出ステップと、
をコンピュータに実行させることを特徴とするクロックジッタ算出プログラム。
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Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4769687B2 (ja) * | 2006-10-30 | 2011-09-07 | 富士通セミコンダクター株式会社 | タイミング検証方法、タイミング検証装置及びタイミング検証プログラム |
US8134384B2 (en) * | 2006-11-08 | 2012-03-13 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method for testing noise immunity of an integrated circuit and a device having noise immunity testing capabilities |
JP2008287666A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Sharp Corp | 回路動作検証装置、半導体集積回路の製造方法、回路動作検証方法、制御プログラムおよび可読記録媒体 |
US8739099B1 (en) * | 2007-07-20 | 2014-05-27 | Altera Corporation | Method and apparatus for determining clock uncertainties |
JP2009187325A (ja) * | 2008-02-06 | 2009-08-20 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路の設計方法および設計支援装置 |
EP2449678A4 (en) * | 2009-06-30 | 2015-07-22 | Rambus Inc | CLOCK SIGNAL SETTING TECHNIQUES TO COMPENSATE NOISE |
JP2011034480A (ja) | 2009-08-05 | 2011-02-17 | Renesas Electronics Corp | ジッタ算出装置、ジッタ算出方法、及びジッタ算出プログラム |
JP5640259B2 (ja) | 2010-06-09 | 2014-12-17 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 回路シミュレーション方法および回路シミュレーション装置 |
US8832616B2 (en) * | 2011-03-18 | 2014-09-09 | Sage Software, Inc. | Voltage drop effect on static timing analysis for multi-phase sequential circuit |
JP6089728B2 (ja) | 2013-01-30 | 2017-03-08 | 株式会社ソシオネクスト | 半導体装置の設計方法、プログラム及び設計装置 |
JP2015230543A (ja) | 2014-06-04 | 2015-12-21 | 株式会社ソシオネクスト | 設計装置、設計方法及び設計プログラム |
KR102327339B1 (ko) | 2015-05-06 | 2021-11-16 | 삼성전자주식회사 | 집적 회로와 이를 포함하는 컴퓨팅 장치 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004310567A (ja) * | 2003-04-09 | 2004-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | クロックばらつきタイミング解析方法 |
JP2005004268A (ja) * | 2003-06-09 | 2005-01-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路装置の動作解析方法、これに用いられる解析装置およびこれを用いた最適化設計方法 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004077079A1 (ja) * | 1993-08-25 | 2004-09-10 | Hitoshi Ujiie | ジッタ解析装置 |
JPH10321725A (ja) | 1997-05-14 | 1998-12-04 | Toshiba Corp | 半導体集積回路の設計方法及び装置 |
TW559668B (en) * | 1999-02-08 | 2003-11-01 | Advantest Corp | Apparatus for and method of measuring a jitter |
JP2001084763A (ja) * | 1999-09-08 | 2001-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | クロック発生回路およびそれを具備した半導体記憶装置 |
CA2307911A1 (en) * | 1999-11-18 | 2001-05-18 | Loran Network Management Ltd. | Method for determining the delay and jitter in communication between objects in a connected network |
US6460001B1 (en) * | 2000-03-29 | 2002-10-01 | Advantest Corporation | Apparatus for and method of measuring a peak jitter |
EP1408672B1 (en) * | 2001-07-13 | 2010-11-17 | Anritsu Corporation | Jitter resistance measuring instrument and method for enabling efficient measurement of jitter resistance characteristic and adequate evaluation |
US6651016B1 (en) * | 2001-12-21 | 2003-11-18 | Credence Systems Corporation | Jitter-corrected spectrum analyzer |
JP2004093345A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Renesas Technology Corp | ジッタ測定回路 |
US20040062301A1 (en) * | 2002-09-30 | 2004-04-01 | Takahiro Yamaguchi | Jitter measurement apparatus and jitter measurement method |
US6701269B1 (en) * | 2003-01-28 | 2004-03-02 | Agilent Technologies, Inc. | Jitter measurement extrapolation and calibration for bit error ratio detection |
US7158899B2 (en) * | 2003-09-25 | 2007-01-02 | Logicvision, Inc. | Circuit and method for measuring jitter of high speed signals |
JP2005122298A (ja) | 2003-10-14 | 2005-05-12 | Fujitsu Ltd | タイミング解析装置、タイミング解析方法及びプログラム |
US7002358B2 (en) * | 2003-12-10 | 2006-02-21 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and apparatus for measuring jitter |
EP1709758A4 (en) * | 2003-12-16 | 2007-07-18 | California Inst Of Techn | GALER EQUALIZER DETERMINISTIC |
US7236555B2 (en) * | 2004-01-23 | 2007-06-26 | Sunrise Telecom Incorporated | Method and apparatus for measuring jitter |
US7203610B2 (en) * | 2004-08-31 | 2007-04-10 | Guide Technology, Inc. | System and method of obtaining data-dependent jitter (DDJ) estimates from measured signal data |
JP2006214987A (ja) * | 2005-02-07 | 2006-08-17 | Nec Electronics Corp | ノイズ測定システムおよび方法ならびに半導体装置 |
-
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Patent Citations (2)
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---|---|---|---|---|
JP2004310567A (ja) * | 2003-04-09 | 2004-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | クロックばらつきタイミング解析方法 |
JP2005004268A (ja) * | 2003-06-09 | 2005-01-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路装置の動作解析方法、これに用いられる解析装置およびこれを用いた最適化設計方法 |
Also Published As
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