JP4200256B2 - 熱電変換モジュール - Google Patents
熱電変換モジュール Download PDFInfo
- Publication number
- JP4200256B2 JP4200256B2 JP2000191977A JP2000191977A JP4200256B2 JP 4200256 B2 JP4200256 B2 JP 4200256B2 JP 2000191977 A JP2000191977 A JP 2000191977A JP 2000191977 A JP2000191977 A JP 2000191977A JP 4200256 B2 JP4200256 B2 JP 4200256B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conversion module
- insulating layer
- thermoelectric
- thermoelectric conversion
- resin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims description 96
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 102
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 100
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 100
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 100
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 37
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 35
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 35
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 17
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 105
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 86
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 57
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 56
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 55
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 50
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 50
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 38
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 36
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 36
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 34
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 32
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 23
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 18
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 13
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 13
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 12
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 11
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 10
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 8
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 7
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 6
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 6
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 6
- 229920006332 epoxy adhesive Polymers 0.000 description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 5
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 4
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 3
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N Acrylic acid Chemical compound OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 2
- 229910018321 SbTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020836 Sn-Ag Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020935 Sn-Sb Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020988 Sn—Ag Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008757 Sn—Sb Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000008065 acid anhydrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 230000005619 thermoelectricity Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明はp型とn型の熱電素子を電気的に接続して構成した熱電変換モジュールに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
熱電変換モジュールは、p型とn型の熱電素子を金属電極で順次接続するにあたり、π型直列回路を構成して、外部と電気的に接続できるように、直列配列の終端からリード線を引き出したものとして構成され、電極の外側には熱電変換モジュールの構造維持及び外部との熱輸送のためにセラミック基板が配されたものが一般的である。この構造の熱電変換モジュールは、一般的にセラミック基板の表面に熱伝導性の樹脂を介して冷却用プレート及び放熱板を設置することによって熱輸送を行うものと、セラミック基板表面に金属膜を形成し、温調の対象物や放熱板をセラミック基板表面に直接半田実装するものとがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記構造の熱電変換モジュールでは、熱電素子が脆弱な上に、熱電素子とセラミック基板との線膨張係数が異なっていることから、使用時に素子に加わる熱応力によって素子が破壊してしまうことが多く、信頼性に問題があった。
【0004】
セラミック基板を設けていないタイプの熱電変換モジュールや、特開平10−51039号公報に示されているように、樹脂で熱電素子を固着することによって素子の補強や熱電変換モジュールに柔軟性を持たせるようにした熱電変換モジュールが提案されているが、いずれも電極が熱電変換モジュール表面に露出しているために、上述のように、熱電変換モジュールを半田で直接実装することには対応することができない。
【0005】
本発明はこのような点に鑑みなされたものであって、その目的とするところは信頼性が高い上に半田による直接実装に対応することができる熱電変換モジュールを提供するにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
しかして本発明に係る熱電変換モジュールは、隣接する熱電素子の端部間を導電性物質によって接続することで複数個の熱電素子を電気的に直列に接続している熱電変換モジュールであって、熱電素子間の空間に絶縁性樹脂を充填して熱電素子同士を該樹脂で固着するとともに、上記導電性物質を配した熱電素子の端部側に外面が金属で被覆されている樹脂よりなる絶縁層を設けて絶縁性樹脂の上下両面を絶縁層で被覆し、上記絶縁性樹脂が微細気泡を含むエポキシ樹脂、絶縁層がセラミック粉末を含むエポキシ樹脂であることを特徴とするものである。
【0007】
上記絶縁層は外面に金属膜が設けられた有機性樹脂で形成されたものが望ましい。また、熱電素子間に充填した絶縁性樹脂よりも熱電素子の端部間を接続する導電性物質を覆う絶縁層が熱伝導率が高くするのが好ましく。この場合、絶縁層はアルミナの粉末を含有する有機性樹脂で形成されているのも好ましい。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下本発明を実施の形態の一例に基づいて詳述する。
【0009】
まず、図1において熱電変換モジュールの基本的構成を説明する。BiTe系のn型の熱電素子1とSbTe系のp型の熱電素子1とを交互に配列するとともに電気的に接続することでπ型配置として、これら熱電素子1を直列接続している。熱電素子1間をエポキシ樹脂である絶縁性樹脂2で埋めており、絶縁性樹脂2によって全熱電素子1を固定したものとなっている。熱電素子1を絶縁性樹脂2で補強することで、熱応力による熱電素子1のクラック発生を防止できるものである。なお、各熱電素子1の絶縁性樹脂2と接触する側面は、ポリイミド樹脂で被覆しておいてもよい。絶縁性樹脂2による熱電素子1の固定力を高くすることができる。
【0010】
そして各熱電素子1の絶縁性樹脂2の上下両面に露出させている端面には、アルミナからなるセラミック基板30の片面に形成した銅回路4を半田5によって電気的に接続して、熱電素子1を上述のように直列接続している。また、絶縁層3である上記セラミック基板30の他面には、Cu,Ni,Auの3層膜からなる金属膜6を形成して、該熱電変換モジュールの半田による実装に対応できるようにしてある。この点については後述する。
【0011】
図2は本発明の一実施形態が示してある。本発明においては、上記のような基本構成を備えた熱電変換モジュールにおいて、各熱電素子1の絶縁性樹脂2の上下両面に露出させている端面に銅電極40を半田接続することで各熱電素子1を直列に接続している。そして、銅電極40が配された絶縁性樹脂2の上下両面には樹脂からなる絶縁層3を被覆してあり、さらに絶縁層3の表面にはCu,Ni,Auの3層膜からなる金属膜6を形成して、該熱電変換モジュールの半田による実装に対応できるようにしてある。熱電素子1間の電気的接続は、半田接合による銅電極40ではなく、電気銅メッキによる回路の形成で行ってもよい。いずれにしても、該熱電変換モジュールは、全面が樹脂で被覆されているために、耐湿性に優れたものとなっている。
【0012】
ここで、熱電素子1の端部の接続部と最表層である熱の受け渡し面である金属膜6との間に上記のように絶縁性をとるための絶縁層3が存在するが、この絶縁層3は熱伝導率が大きいほど熱抵抗が低く、熱電変換モジュールの冷却性能が向上する。一方熱電素子1側面を固着している絶縁性樹脂2は樹脂を介して熱が冷却面側にリークしないように熱伝導率が小さい方が望ましいものである。そこで、熱電素子1間に充填した絶縁性樹脂2よりも熱電素子1の端部間を接続する導電性物質を覆う絶縁層3の熱伝導率を高くする。すなわち、熱電素子1間に充填されて熱電素子1側面を固着する絶縁性樹脂2としてエポキシ系樹脂を用い、更に、このエポキシ系樹脂は熱伝導率を下げるため微細な気泡を含むようにする。また、熱電素子1表面は樹脂との密着性を向上させるため、ポリイミドで被覆してもよい。各熱電素子1のエポキシ系樹脂よりなる絶縁性樹脂2の上下両面に露出させている端面に銅電極40を半田接続して各熱電素子1を直列に接続し、直列回路を形成し(この場合電気銅メッキにより直列回路を形成してもよい)、それをセラミックス粉末を含有したエポキシ樹脂(例えば、アルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化ケイ素、炭化珪素あるいはこれらの混合物)3aで被覆して絶縁層3を形成し、更に、絶縁層3の表面にはCu,Ni,Auの3層膜からなる金属膜6を形成して、該熱電変換モジュールの半田による実装に対応できるようにして図3に示すような熱電変換モジュールを構成してある。このものは絶縁性樹脂2よりも絶縁層3の熱伝導率を高くしてあるので、熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。
【0013】
また、絶縁層3をエポキシ系のような有機性樹脂で形成した場合、無機物よりも熱伝導率が低い(アルミナの1/50〜1/200)ことから熱電変換モジュールによる熱輸送の抵抗が大きくなって熱電変換モジュールの能力が劣化するが、上記のようにエポキシ系樹脂にアルミナの粉末のようなセラミックスを含有させておけば、上記問題を低減させることができる。
【0014】
次に、参考例につき説明する。すなわち上記本発明の実施形態では絶縁層3を有機性樹脂で形成した例を示したが、絶縁層3が無機性のものであってもよい。例えば、熱電素子1間に充填されて熱電素子1側面を固着する絶縁性樹脂2としてエポキシ系樹脂を用い、更に、このエポキシ系樹脂は熱伝導率を下げるため微細な気泡を含むようにするのが望ましい。また、熱電素子1表面は樹脂との密着性を向上させるため、ポリイミドで被覆してもよい。各熱電素子1のエポキシ系樹脂よりなる絶縁性樹脂2の上下両面に露出させている端面に銅電極40を半田接続して各熱電素子1を直列に接続し、直列回路を形成し(この場合電気銅メッキにより直列回路を形成してもよい)、その直列回路を熱伝導率の高い無機系接着剤(例えば東亞合成(株)製のアロンセラミックス)3bで覆って絶縁層3を形成し、更に、絶縁層3の表面にはCu,Ni,Auの3層膜からなる金属膜6を形成して、該熱電変換モジュールの半田による実装に対応できるようにして図4に示すような熱電変換モジュールを構成してある。このものは絶縁層3を無機性のものとすることで熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。
【0015】
ところで、絶縁層3は薄いほど熱抵抗が低く熱電変換モジュールの冷却性能は向上するが、絶縁層3が薄くなると熱電素子1端部を接続している導電性物質と金属膜6が短絡するおそれがあるため、絶縁層3を薄く形成することが困難である。特に、熱電素子1の端部の接続部である導電性物質と最表層である熱の受け渡し面である金属膜6とをエポキシ系樹脂、無機含有エポキシ系樹脂、あるいは無機接着剤により接着することで、導電性物質と金属膜6とを接着すると共に接着剤の層自体で絶縁層3を形成する場合、絶縁層3の厚みがどうしても厚くなってしまう。そこで、金属膜6の裏面にあらかじめ必要な絶縁性能を備えた絶縁層3を形成しておき、このあらかじめ裏面に絶縁層3を形成した金属膜6を接着剤(例えばエポキシ系樹脂、無機含有エポキシ系樹脂、あるいは無機接着剤等の接着剤)により隣接する熱電素子1の端部間を接続する導電性物質に接着することで、接着剤には絶縁性の機能は必要でなくて単に接着の機能をもたせればよく、したがって接着剤の層を薄くできるものである。図5には参考例が示してあり、図5中3cは金属膜6の裏面にあらかじめ形成した絶縁層を示している。この金属膜6の裏面にあらかじめ形成した絶縁層3としては例えば10μm以下のセラミックス含有エポキシ樹脂(例えば、アルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化珪素あるいはこれらの混合物を含む))である。図5中3’は隣接する導電性物質の側面間に充填された接着剤(エポキシ系樹脂、無機含有エポキシ系樹脂、あるいは無機接着剤等の接着剤)を示している。
【0016】
ここで、図6に示す参考例では金属膜6の裏面にあらかじめ形成した絶縁層3がセラミックスの例が示してある。つまり、金属膜6の裏面に厚さ10〜100μmのセラミックス(例えば、アルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化珪素あるいはこれらの混合物を含む)である。図6中3dは金属膜6の裏面にあらかじめ形成したセラミックスよりなる絶縁層を示している。
【0017】
また、図7に示す参考例では金属膜6の裏面にあらかじめ形成した絶縁層3がポリイミドの例が示してある。つまり、金属膜6の裏面に厚さ3〜10μmのポリイミド膜を形成してこれを絶縁層3とするものである。図7中3eは金属膜6の裏面にあらかじめ形成したポリイミドよりなる絶縁層を示している。
【0018】
また、図8に示す参考例では金属膜6の裏面にあらかじめ形成した絶縁層3がセラミックスとポリイミドの2層により構成してある例を示している。例えば、金属膜6の裏面に厚さ3μm以下のポリイミド膜を形成し、更に、その裏面に厚さ3〜20μmのセラミックス(例えば、アルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化珪素あるいはこれらの混合物を含む)を積層形成し、上記ポリイミド膜とセラミックスとで2層の絶縁層3を形成するものである。図7中3fは金属膜6の裏面にあらかじめ形成した上記ポリイミドとセラミックスとで構成された2層の絶縁層を示している。
【0019】
また、上記参考例においては金属膜6の裏面にあらかじめ絶縁層3を形成したが、隣接する熱電素子1の端部間を接続する導電性物質の表面にあらかじめポリイミド膜(厚さ3〜10μm)よりなる絶縁層3を形成し、このポリイミド膜よりなる絶縁層3をあらかじめ形成した導電性物質と金属膜6とを接着剤により接着してもよいものである。図9中3gは熱電素子1の端部間を接続する導電性物質の表面にあらかじめ形成したポリイミド膜よりなる絶縁層を示している。また、図中3’は隣接する導電性物質の側面間に充填された接着剤(エポキシ系樹脂、無機含有エポキシ系樹脂、あるいは無機接着剤等の接着剤)を示している。
【0020】
なお、図5,図6に示す参考例では金属膜6はCu,Ni,Auの3層膜からなり、図7、図8、図9に示す参考例では金属膜6はNi,Cu,Ni,Auの4層膜からなっているが、必ずしもこれにのみ限定されるものではない。
【0021】
また、図5乃至図9に示す各参考例において、熱電素子1間に充填されて熱電素子1側面を固着する絶縁性樹脂2としてエポキシ系樹脂を用い、更に、このエポキシ系樹脂は熱伝導率を下げるため微細な気泡を含むようにするのが望ましい。また、熱電素子1表面は樹脂との密着性を向上させるため、ポリイミドで被覆してもよい。また、各熱電素子1のエポキシ系樹脂よりなる絶縁性樹脂2の上下両面に露出させている端面に銅電極40を半田接続して各熱電素子1を直列に接続し、直列回路を形成してある(この場合電気銅メッキにより直列回路を形成してもよい)。
【0022】
次に、上記熱電変換モジュールの製造方法について説明すると、まず図1に示した熱電変換モジュールは、次のようにして製造するとよい。すなわちp型の熱電素子1とn型の熱電素子1とを交互に配列したものを絶縁性樹脂2に埋め込んだもの(図10参照)を用意する。これは、図11に示すように、棒状の熱電素子材10を配列したものを絶縁性樹脂2で固めた後、スライサーSでスライスすることで得たり、あるいは図12に示すように、プレートP上にp型の熱電素子ウエハ11pを接着したものと、プレートP上にn型の熱電素子ウエハ11nを接着したものとを用意して、これらをダイシングすることで、プレートP上に夫々複数の熱電素子1を形成し、次いで、上記両プレートP,Pを対面させて重ねることでp型の熱電素子1とn型の熱電素子1とを交互に配置し、この状態で絶縁性樹脂2で熱電素子1を固め、この後、プレートPを外して表面研磨を行うことで得ることができる。
【0023】
そして、絶縁性樹脂2の表裏両面に露出している熱電素子1の端面には、たとえばNi/Snの0.5μmの金属膜15をスパッタリング法などで形成する。なお、該金属膜15は、隣合うp型とn型の熱電素子1,1を跨ぐものとして形成する。
【0024】
一方、厚さ0.5mmほどのセラミック(アルミナ)基板30の片面には銅回路4を形成しておくとともに他面には金属膜6(Cu,Ni,Auの3層膜が好ましい)を形成しておき、上記銅回路4上にクリーム半田を印刷によって供給する。そして、銅回路4の形成面を対向させた2枚のセラミック基板30,30間に上記熱電素子1を保持した絶縁性樹脂2を挟み込み、加熱によってクリーム半田を溶融させることで、上記銅回路4と熱電素子1とのリフロー半田による接合を行う。つまり、熱電素子1を保持している絶縁性樹脂2と2枚のセラミック基板30,30を接合するだけで熱電変換モジュールを製造することができるわけである。
【0025】
このほか、上記リフロー半田による接合に代えて、図13に示すように、導電性フィルム50を用いてもよい。片面に銅回路4を、他面に金属膜6を備えた2枚のセラミック基板30,30の間に2枚の導電性フィルム50,50と熱電素子1を保持している絶縁性樹脂2を挟み込んで加圧することで、セラミック基板30の銅回路4と熱電素子1の金属膜15とを電気的に接続する。半田で接続する場合に比して、加熱する必要がないために、熱電素子1の接合による残留応力が加わらず、熱電素子1の長寿命化を図ることができる。
【0026】
図14に示すように、熱電素子1を保持している絶縁性樹脂2の表面にたとえばスパッタリングでNi膜のような金属膜15を形成した後、金属膜15上にクリーム半田を塗布し、厚さ0.5mmの銅電極41をマウントしてリフロー半田によって直列接続用の上記銅電極41を接合し、次いで図15に示すように、絶縁層3としての両面接着シート35を介して銅箔60を積層するようにしてもよい。銅箔60としては、厚さ15μm〜40μm程度のものを好適に用いることができる。また、銅箔60の外面には金属膜6(たとえばNi/Au膜)をメッキによって成膜する。予めNi/Auメッキを施した銅箔60を両面接着シート35で積層するようにしてもよい。この時、両面接着シート35として、アルミナ粉末を含有したものを用いれば、両面接着シート35によるところの熱輸送抵抗の低減を図ることができる。
【0027】
上記銅箔60の両面接着シート35による積層に代えて、図16に示すように、半硬化状態のエポキシ樹脂が塗工されている銅箔61を積層し、この銅箔61上に金属膜6をメッキによって成膜してもよい。予めNi/Auメッキを施した銅箔61を用いてもよいのはもちろんである。また、上記エポキシ樹脂としてアルミナ粉末を含有させたものを用いれば、エポキシ樹脂層である絶縁層3の熱伝導率を高めることができる。いずれにしても、厚さ18μm程度の銅箔61はそのハンドリングに難があるが、半硬化状態のエポキシ樹脂が塗工されたものを用いれば、ハンドリングの点を改善することができる上に、部品点数も少なくすることができる。
【0028】
図14に示したものでは、リフロー半田によって銅電極41を金属膜15上に形成したが、電気メッキによって厚さ0.5mmの銅電極(Ni電極であってもよい)31を金属膜15上に形成したり、消費電力が小さい熱電変換モジュールにおいては無電解メッキによって厚さ0.05mm程度の銅電極41を形成してもよい。上記のように半硬化状態のエポキシ樹脂が塗工された銅箔61を用いる場合、その固化のために高温(150〜200℃)を数時間にわたって保持しなくてはならない場合があり、銅電極41を半田接合している時には上記熱が半田付け部分に悪影響を与えて接合部の信頼性を低下させてしまったりすることがあるが、メッキによって銅電極41を形成していると、この問題を避けることができる。
【0029】
さらに、熱電素子1を保持する絶縁性樹脂2に銅電極41を設けたものは、有機性絶縁層3の積層に先立って、過マンガン酸水溶液等に浸漬して絶縁性樹脂2表面の粗面化を行ったり、メック社製のCZ−8100等に浸漬して銅電極41表面の粗面化を行ったりするのも好ましい。絶縁層3の密着力を向上させることができる。
【0030】
上記の各例では、一つの熱電変換モジュール毎に製造する場合を示したが、図17に示すように、複数の熱電変換モジュールを一体に形成した後、ルータを用いて各熱電変換モジュールに分断するようにしてもよい。多数の熱電変換モジュールを一度に生産することができるために生産効率を高めることができる。
【0031】
次に、図6に示す熱電変換モジュールを製造する例につき説明する。本例においては、複数の熱電素子1を絶縁性樹脂2に埋め込んで絶縁性樹脂2の表面に露出する熱電素子1の端面に金属膜15を形成して該金属膜15上に電極40を形成し、一方、銅箔6aよりなる金属膜6の裏面に無機物を溶射によって形成して無機の絶縁層3(3d)を形成し、銅箔6aの裏面の溶射面を接着フィルムあるいは接着剤3’を介して隣接する熱電素子1の端部間を接続する電極40に接着することで熱電変換モジュールを製造するようにしている。
【0032】
すなわち、図19示すようにp型の熱電素子1とn型の熱電素子1とを交互に配列したものを絶縁性樹脂2に埋め込んだものを用意し、絶縁性樹脂2の表裏両面に露出している熱電素子1の端面に、たとえばNi/Snの0.5μmの金属膜15をスパッタリング法などで形成する。
【0033】
次に、上記金属膜15上に印刷によりクリーム半田を供給し、厚さ0.5mmの銅電極40をその上にマウントする。その後加熱してクリーム半田を溶融させることで銅電極40と金属膜15とを接合する(なお、銅電極40の形成に当たっては、上記の他に電気メッキにより厚さ0.5mmの銅を金属膜15(メッキの場合にはNiのみでよい)上に形成してもよい)。
【0034】
一方、厚さ72μmの銅箔(一面が鏡面、他面が粗面)6aの粗面側に無機物を溶射する。実施形態ではアルミナチタニアのようなセラミックスを溶射して厚さ60μmの絶縁層3を形成する。ここで、溶射する材料はアルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化珪素、炭化珪素でもよいが、熱伝導率の視点からアルミナチタニアが望ましい。
【0035】
そして、銅箔6aの裏面の溶射面よりなる絶縁層3を、隣接する熱電素子の端部間を接続する電極40とを接着フィルムあるいはエポキシ系の接着剤3’を介して接着する。この時、接着剤で接着する場合には余分な接着剤を押し出して電極40と溶射されたセラミックスが直接接触するように加圧する方が好ましい。
【0036】
次に、銅箔6aよりなる金属膜6の表面にNi/Auメッキ6bを成膜(メッキ厚さはNiが1〜5μm、Auが0.01〜0.5μm)して金属膜6を形成する。ここで、あらかじめ銅箔6aの表面にNi/Auメッキ6bを成膜したものを用いてもよい。
【0037】
その後、所定の形状に加工してリード線7を接続する。
【0038】
上記のように、銅箔6aの裏面に無機物よりなる絶縁層3を溶射により形成することで、一般のセラミックス基板よりも絶縁層3を薄くできて熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。また、裏面に絶縁層3をあらかじめ形成した銅箔6aの絶縁層3側を電極40に接着剤3’により接着する場合には間に介在する接着剤3’を加圧により押し出すことで、電極40と銅箔6aとの間には上記薄い絶縁層3が介在することになって熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。更に、接着剤3’を加圧により押し出しても溶射された無機物よりなる絶縁層3により絶縁性が確保されるものである。
【0039】
次に、図7に示す熱電変換モジュールを製造する例につき説明する。本実施形態においては、複数の熱電素子1を絶縁性樹脂2に埋め込んで絶縁性樹脂2の表面に露出する熱電素子1の端面に金属膜15を形成して該金属膜上に電極40を形成し、一方、Cu/Niの2層よりなる金属箔6cのニッケル箔側にポリイミド被膜を形成して絶縁層3(3e)を形成し、金属箔6cのポリイミド被膜側を接着フィルムあるいは接着剤3’を介して隣接する熱電素子1の端部間を接続する電極40に接着することで熱電変換モジュールを製造するようにしている。
【0040】
すなわち、図20示すようにp型の熱電素子1とn型の熱電素子1とを交互に配列したものを絶縁性樹脂2に埋め込んだものを用意し、絶縁性樹脂2の表裏両面に露出している熱電素子1の端面に、たとえばNi/Snの0.5μmの金属膜15をスパッタリング法などで形成する。
【0041】
次に、上記金属膜15上に印刷によりクリーム半田を供給し、厚さ0.5mmの銅電極40をその上にマウントする。その後加熱してクリーム半田を溶融させることで銅電極40と金属膜15とを接合する(なお、銅電極40の形成に当たっては、上記の他に電気メッキにより厚さ0.5mmの銅を金属膜15(メッキの場合にはNiのみでよい)上に形成してもよい)。
【0042】
一方、厚さ72μmの銅箔とニッケルの2層よりなる金属箔6cのニッケル箔側にポリイミド蒸着重合により厚み5μmのポリイミド被膜を形成して絶縁層3を形成する。
【0043】
そして、金属箔6cの裏面のポリイミド被膜よりなる絶縁層3を、隣接する熱電素子の端部間を接続する電極40とを接着フィルムあるいはエポキシ系の接着剤3’を介して接着する。この時、接着剤3’で接着する場合には余分な接着剤を押し出して電極40とポリイミド被膜よりなる絶縁層3が直接接触するように加圧する方が好ましい。
【0044】
次に、銅箔とニッケルの2層よりなる金属箔6cの表面の銅箔側にNi/Auメッキ6bを成膜(メッキ厚さはNiが1〜5μm、Auが0.01〜0.5μm)して金属膜6を形成する。ここで、あらかじめ金属箔6cの表面にNi/Auメッキ6bを成膜したものを用いてもよい。
【0045】
その後、所定の形状に加工してリード線7を接続する。
【0046】
上記のように金属箔6cの裏面にポリイミド被膜を形成して絶縁層3を形成するので、ポリイミド被膜をポリイミド蒸着重合反応により形成することができ、数ミクロンの厚さの絶縁層3を形成できて熱電変換モジュールの冷却性能を向上させることができるものである。また、裏面に絶縁層3をあらかじめ形成した金属箔6cの絶縁層3側を電極40に接着剤3’により接着する場合には間に介在する接着剤3’を加圧により押し出すことで、電極40と金属箔6cとの間には上記薄い絶縁層3が介在することになって熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。更に、接着剤3’を加圧により押し出してもポリイミド被膜よりなる絶縁層3により絶縁性が確保されるものである。
【0047】
次に、図9に示す熱電変換モジュールを製造する例につき説明する。本例においては、複数の熱電素子1を絶縁性樹脂2に埋め込んで絶縁性樹脂2の表面に露出する熱電素子1の端面に金属膜15を形成して該金属膜上に電極40を形成し、電極40表面にポリイミド被膜よりなる絶縁層3(3g)を形成し、次いで該ポリイミド被膜よりなる絶縁層3gの表面側に接着フィルムあるいは接着剤3’を介して銅箔6aを接着することで熱電変換モジュールを製造するようにしている。
【0048】
すなわち、図21示すようにp型の熱電素子1とn型の熱電素子1とを交互に配列したものを絶縁性樹脂2に埋め込んだものを用意し、絶縁性樹脂2の表裏両面に露出している熱電素子1の端面に、たとえばNi/Snの0.5μmの金属膜15をスパッタリング法などで形成する。
【0049】
次に、上記金属膜15上に印刷によりクリーム半田を供給し、厚さ0.5mmのニッケル電極40をその上にマウントする。その後加熱してクリーム半田を溶融させることでニッケル電極40と金属膜15とを接合する(なお、銅電極40の形成に当たっては、上記の他に電気メッキにより厚さ0.5mmのニッケルを金属膜15(メッキの場合には金属膜15はNiのみでよい)上に形成してもよい)。
【0050】
次に、上記複数の熱電素子1間に絶縁性樹脂2を充填した物の熱電素子1の端部の電極40が露出する両面にポリイミド蒸着重合反応により厚み5μmのポリイミド被膜よりなる絶縁層3gを形成する
次に、厚さ36μmの銅箔6a(一方の面が鏡面、他方の面が粗面)の粗面側と、上記熱電素子1の端部の電極40上に形成したポリイミド被膜よりなる絶縁層3gとを接着フィルムあるいはエポキシ系の接着剤3’を介して接着する。
【0051】
次に、銅箔6aの表面の鏡面側にNi/Auメッキ6bを成膜(メッキ厚さはNiが1〜5μm、Auが0.01〜0.5μm)して金属膜6を形成する。ここで、あらかじめ銅箔6aの表面にNi/Auメッキ6bを成膜したものを用いてもよい。
【0052】
その後、所定の形状に加工してリード線7を接続する。
【0053】
上記のように電極40上にポリイミド被膜を形成して絶縁層3を形成するので、ポリイミド被膜をポリイミド蒸着重合反応により形成することができ、数ミクロンの厚さの絶縁層3を形成できて熱電変換モジュールの冷却性能を向上させることができるものである。また、銅箔6aと熱電素子1の端部の電極40上に形成したポリイミド被膜よりなる絶縁層3gとを接着剤3’を介して接着する場合には間に介在する接着剤3’を加圧により押し出すことで、電極40と金属箔6cとの間には上記薄い絶縁層3(3g)が介在することになって熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。更に、接着剤3’を加圧により押し出してもポリイミド被膜よりなる絶縁層3により絶縁性が確保されるものである。なお、ポリイミドの蒸着重合は銅が存在すると酸無水物が銅と反応するため不可であるので、電極40をニッケル電極40とするものである。
【0054】
なお、上記の図19乃至図21に示す例においては、接着フィルムあるいは接着剤が有機系の場合で説明したが、この接着フィルムあるいは接着剤として、無機物を含有する接着フィルムあるいは無機物が含有する接着剤あるいは無機接着剤としてもよいものである。ここで用いる無機系接着剤としては例えば、東亜合成(株)のアロンセラミックスを挙げることができる。また、数μmのセラミックス粉末(アルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化珪素、炭化珪素あるいはそれらの混合物)を5〜50質量%含有したエポキシ系の樹脂を挙げることができる。
【0055】
一般に接着フィルムあるいは接着剤の主成分は有機物であって熱伝導率が低いが、上記のように、接着フィルムあるいは接着剤として、無機物を含有する接着フィルムあるいは無機物が含有する接着剤あるいは無機接着剤のものを用いることで、熱伝導率が向上し、熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。
【0056】
ところで、熱電変換モジュールからは外部接続用のリード線7を引き出さなくてはならないのであるが、この点に関しては、図22に示すように、熱電素子1を保持している絶縁性樹脂2内に外部接続端子とする金属材(たとえば銅)8,8を熱電素子1と同時に埋め込んで、この金属材8が直列回路の終端に位置するように回路を構成する。そして外面に金属膜6を備えた絶縁層3を積層した後、図22に示すように、埋め込んだ金属材8を露出させてこの露出面にリード線7を接続するとよい。リード線7の接続が容易である上にリペアも容易となる。
【0057】
上記金属材8は、図23に示すように、複数熱電変換モジュールを一体に形成する際に最終的に切断位置となるところに埋め込んでおくことで、各熱電変換モジュールへの分断によって図24のように熱電変換モジュールの側面に露出するようにしておけば、金属材8を露出させるための別途作業を必要とすることなく、リード線7の接合面を露出させることができる。
【0058】
また、上記金属材8には、図25あるいは図26に示すように、露出部よりも絶縁性樹脂2への埋め込み部分の方が大きい形状のものを用いることで、金属材8の脱落を防ぐことができる。図27に示すように、表面に穴80を備えた金属材8を絶縁性樹脂2内に埋め込んで穴80内に絶縁性樹脂2が入り込むことで脱落を防いでもよい。このほか、金属材8の表面をケミカルエッチングによって予め粗面化しておくことで絶縁性樹脂2との密着力を強くして金属材8の脱落を防いだり、熱電素子1との電気的接続面となる部分を除いた表面にポリイミドを成膜しておくことで絶縁性樹脂2との密着力を強くして金属材8の脱落を防いだりしてもよい。
【0059】
図28は金属台座90に信号引き出しピン91をハーメチックシールしたステム9に片側の絶縁層3の金属膜6で被覆された外面を半田または導電ペーストで接合することで、ステム9上に直接実装したものを示している。なお、他側の絶縁層3の金属膜6で被覆された外面は、温調対象となる部品の実装面とする。ちなみに図示例のステム9は、その外径が10mmに満たないもので、熱電変換モジュールそのものは4mm角ほどの大きさである。
【0060】
熱電素子1間の電気的接続を半田接合による銅電極40ではなく電気銅メッキによる回路の形成で行っているものでは、上記ステム9への接合は、Sn−SbやSn−Agを用いた高温半田(液相線温度200℃以上)で行うとよい。
【0061】
上図のものでは、信号引き出しピン91を絶縁性樹脂2に埋め込んだ端子である金属材8にワイヤ97で接続しているが、金属材8を絶縁性樹脂2の側面に露出させているものでは、図29に示すように、信号引き出しピン91を上記端子である金属材8に半田または導電ペーストで直接接続することができる。また、ステム9への実装も半田または導電ペーストで行えば、アセンブリの工程が一回ですむことになる。
【0062】
図30に示すように、絶縁性樹脂2を貫通するスルーホール27を端子として設けておくならば、ステム9の信号引き出しピン91をスルーホール27内に差し込んで半田または導電ペーストで接続するようにしてもよい。この場合、ステム9に対する熱電変換モジュールの位置決めが容易となる。
【0063】
ところで、図31(b)のようにステム9の金属台座90の実装面に熱電変換モジュールを半田または導電ペーストまたは導電性接着剤で接合して実装するのであるが、熱電変換モジュールからの放熱はステム9を通じて行われるため熱電変換モジュールとステム9との線膨張係数の違いから熱応力が発生するので熱電変換モジュールとステム9との接合信頼性を向上させる必要がある。そこで、図31(a)に示すように、ステム9の実装面を粗化して粗化部9aを形成すると、熱電変換モジュールとステム9との半田または導電ペーストまたは導電性接着剤との接合面積が多く、熱電変換モジュールとステム9との密着力が向上するものである。ここで、例えばステム9の実装面にあらかじめRa=0.05〜0.3mmの凹凸を形成することで粗化して粗化部9aとするものである。また、ステム9及び信号引き出しピン91はコバール製で硼珪酸ガラスでハーメチックシールされ、ワイヤボンド及び半田実装に対応できるようにNiメッキ3μm、Auメッキ0.05μmを施したものを用いている。なお、図31に示す例では半田92を用いて接合した例を示している。
【0064】
また、熱電変換モジュールからの放熱はステム9を通じて行われるため熱電変換モジュールとステム9との接合部は熱抵抗が小さい方が望ましいものである。しかしながら、上記のようにステム9の実装面をランダムに粗化すると、接合部に気泡が発生しやすく、気泡の発生は熱抵抗が高くなる原因となる。そこで、図32に示す実施液体においては、ステム9の実装面に図32(b)に示すようにあらかじめ深さ0.05〜0.3mm、幅が0.5mmの溝93を形成し、この溝93の側端縁から隣接する溝93の側端縁間を0.5mmとしてある。このように溝93を形成することで、気泡が発生しても溝93部分で逃がし、ボイドの発生がなくて熱電変換モジュールとステム9との密着力が高く且つステムへ9の放熱もよく熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。
【0065】
また、前述のように絶縁性樹脂2に埋め込んだ端子である金属材8を信号引き出しピン91にワイヤ97で接続するのあるが、この場合、図33に示すように、熱電変換モジュールにあらかじめ熱電素子1と電気的に接続した金属製の端子を形成する金属材8を埋設し、この金属材8の一部をステム9の実装面と反対側に露出し、この金属材8の露出部分に信号引き出しピン91を半田あるいは導電性ペーストあるいは導電性接着剤により接続するのが好ましい。つまり、熱電素子1と信号引き出しピン91とを半田付け等で接合した場合、熱電素子1端部の接続リペアはできないが、熱電素子1にあらかじめ金属材8を接続し、金属材8を端子として信号引き出しピン91と接合するので、端子を構成する金属材8と信号引き出しピン91との接合部のリペアが容易に行えるのである。
【0066】
この場合、図34に示すように、信号引き出しピン91の先端に端子を構成する金属材8の露出部上部に位置するように側方に突出した継手部91aを設け、継手部91aを金属材8の露出部に接合することで、半田や導電ペーストや導電性接着剤による接合部が短く、信号引き出しピン91と金属材8との接合の信頼性が増すものである。
【0067】
ところで、上記図33、図34に示す例の場合信号引き出しピン91が露出するため熱電変換モジュール実装部品の冷却面の面積が小さくなるが、これに対し、図35に示すように熱電変換モジュールの実装面側の電極が信号引き出しピン91の先端と半田や導電ペーストや導電性樹脂により接続すると同じ大きさのステム9に対し、大きい熱電変換モジュールを実装することが可能となるものである。すなわち、図35において熱電変換モジュールは熱電素子1を端子としてステム9の実装面側に露出させ、この熱電素子1の露出面にNi成膜を形成して電極40aとして、この電極40aに信号引き出しピン91を半田や導電ペーストや導電性樹脂により接続するものである。この場合、金属膜6と信号引き出しピン91との短絡を防ぐため上記信号引き出しピン91と接合する電極40a部分の近傍には金属膜6が存在しないようにする。
【0068】
ここで、図36に示すように、熱電変換モジュールの絶縁層3に凹部3hを設け、この凹部3h内に上記電極40aを位置させる構造としてもよい。この例においては凹部3hに信号引き出しピン91を挿入することで熱電変換モジュールの位置決めが容易に行えるものである。
【0069】
ステム9の孔94に信号引き出しピン91を装着するに当たって、ステム9の孔94に信号引き出しピン91を挿通して孔94の内面と信号引き出しピン91の外面との間を硼珪酸ガラス等の封止材料95により封止することで装着するのであるが、この封止部分が図37(e)のように封止材料95を充填した封止部の上端がステム9の実装面よりも上に突出していると、ステム9の実装面に熱電変換モジュールを実装する際に熱電変換モジュールが封止材料95に当たって熱電変換モジュールとステム9との密着、平行度が確保できず、熱電変換モジュールが傾いてしまうが、図37(c)、(d)のように封止材料95を充填した封止部の上端をステム9実装面よりも下方に位置させることで、熱電変換モジュールとステム9との密着、平行度が確保できるものである。
【0070】
また、図38(c)のように電熱変換モジュールの下面の全面に金属膜6が設け、この電熱変換熱電変換モジュールにスルホール27を形成し、このスルホール27に信号引き出しピン91を挿入して実装するものの場合、実装したときに信号引き出しピン91と金属膜6とが短絡するおそれがある。そこで、図38(a)(b)のように金属膜6を熱電変換モジュールの信号引き出しピンを挿通するスルホール27から離して形成するものである。この場合、熱電素子1の端部同士を接続している導電性物質もスルホール部分においては露出しないようにして絶縁層3により被覆しておく。これにより熱電変換モジュールをステム9に実装した際に信号引き出しピン91とステム9実装部との短絡を防ぐことができるものである。
【0071】
また、電熱変換モジュールにスルホール27を形成し、このスルホール27に信号引き出しピン91を挿入して実装するものの場合、スルホール27にステム9の信号引き出しピン91を挿入するのが困難であるが、図39(a)のように信号引き出しピン91の先端を先に行くほど細くなる形状としたり、あるいは図39(b)に示すように熱電変換モジュールのスルホール27の径がステム9との実装面に近いほど大きくなる形状とすると、スルホール27への信号引き出しピン91の挿入が容易に行えるものである。
【0072】
ところで、熱電変換モジュールに信号引き出しピン91を挿入するためのスルホール27を形成するには例えば以下のようにして行うものである。
【0073】
図40、図41にスルホール27を形成する一例が示してある。すなわち、図40に示すように、複数の熱電素子1を配列する際に銅棒のような棒状の金属材8も配列し、これをエポキシ系樹脂のような絶縁性樹脂2に埋め込み(この場合、絶縁性樹脂2は微細な気泡などを含有させて熱伝導率を低下させるのが好ましい)、次に、これをスライサーSでスライスして複数の熱電素子1とともに金属材8を絶縁性樹脂2に埋め込んだスライス体を形成する。
【0074】
次に、図41に示すように、絶縁性樹脂2の表裏両面に露出している熱電素子1の端面に、たとえばNi/Snの0.5μmの金属膜15をスパッタリング法などで形成する。
【0075】
次に、上記金属膜15上に印刷によりクリーム半田を供給し、厚さ0.5mmの銅電極40をその上にマウントする。その後加熱してクリーム半田を溶融させることで銅電極40と金属膜15とを接合する(なお、銅電極40の形成に当たっては、上記の他に電気メッキにより厚さ0.5mmの銅を金属膜15(メッキの場合にはNiのみでよい)上に形成してもよい)。
【0076】
一方、厚さ72μmの銅箔(一面が鏡面、他面が粗面)6aの粗面側に無機物を溶射する。例ではアルミナチタニアのようなセラミックスを溶射して厚さ60μmの絶縁層3を形成する。ここで、溶射する材料はアルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化珪素、炭化珪素でもよいが、熱伝導率の視点からアルミナチタニアが望ましい。
【0077】
そして、銅箔6aの裏面の溶射面よりなる絶縁層3と、隣接する熱電素子の端部間を接続する電極40とを接着フィルムあるいはエポキシ系の接着剤3’を介して接着する。この時、接着剤で接着する場合には余分な接着剤3’を押し出して電極40と溶射されたセラミックスが直接接触するように加圧する方が好ましい。
【0078】
次に、銅箔6aよりなる金属膜6の表面にNi/Auメッキ6aを成膜(メッキ厚さはNiが1〜5μm、Auが0.01〜0.5μm)して金属膜6を形成する。ここで、あらかじめ銅箔6aの表面にNi/Auメッキ6bを成膜したものを用いてもよい。
【0079】
次に、直列回路の終端に位置する金属材8部分を貫通するように孔開け加工を施してスルホール27を形成するものである。この場合、座ぐり部45を形成して金属材8の端部を露出させた後に金属材8を貫通するように孔開け加工を施してスルホール27を形成してもよいものである。このように金属材8に孔開け加工をしてスルホール27を形成するとスルホール形成に当たってメッキ工程が不要となるものである。
【0080】
また、図42、図43にスルホール27を形成する他例が示してある。本例は金属材8として銅パイプのような金属パイプを使用した点が異なるのみで図40と同様にして複数の熱電素子1とともに金属材8を絶縁性樹脂2に埋め込んだスライス体を形成する。
【0081】
次に、図43に示すように、絶縁性樹脂2の表裏両面に露出している熱電素子1の端面に、たとえばNi/Snの0.5μmの金属膜15をスパッタリング法などで形成する。
【0082】
次に、上記金属膜15上に印刷によりクリーム半田を供給し、厚さ0.5mmの銅電極40をその上にマウントする。その後加熱してクリーム半田を溶融させることで銅電極40と金属膜15とを接合する(なお、銅電極40の形成に当たっては、上記の他に電気メッキにより厚さ0.5mmの銅を金属膜15(メッキの場合にはNiのみでよい)上に形成してもよい)。
【0083】
一方、厚さ72μmの銅箔(一面が鏡面、他面が粗面)6aの粗面側に無機物を溶射する。本例ではアルミナチタニアのようなセラミックスを溶射して厚さ60μmの絶縁層3を形成する。ここで、溶射する材料はアルミナ、ジルコニア、酸化マグネシウム、酸化珪素、炭化珪素でもよいが、熱伝導率の視点からアルミナチタニアが望ましい。
【0084】
そして、銅箔6aの裏面の溶射面よりなる絶縁層3を、隣接する熱電素子の端部間を接続する電極40とを接着フィルムあるいはエポキシ系の接着剤3’を介して接着する。この時、接着剤で接着する場合には余分な接着剤3’を押し出して電極40と溶射されたセラミックスが直接接触するように加圧する方が好ましい。
【0085】
次に、銅箔6aよりなる金属膜6の表面にNi/Auメッキ6aを成膜(メッキ厚さはNiが1〜5μm、Auが0.01〜0.5μm)して金属膜6を形成する。ここで、あらかじめ銅箔6aの表面にNi/Auメッキ6bを成膜したものを用いてもよい。
【0086】
上記のようにして形成した熱電変換モジュールは複数の熱電素子を接続する直列回路の終端に位置する金属材8を構成する金属パイプの孔がそのままスルホール27となるものである。このように金属材8を構成する金属パイプの孔をそのままスルホール27とすることで、スルホール形成に当たってメッキ工程が不要となるものである
【0087】
【発明の効果】
以上のように本発明の請求項1記載の発明にあっては、隣接する熱電素子の端部間を導電性物質によって接続することで複数個の熱電素子を電気的に直列に接続している熱電変換モジュールにおいて、熱電素子間の空間に絶縁性樹脂を充填して熱電素子同士を該樹脂で固着するとともに、上記導電性物質を配した熱電素子の端部側に外面が金属で被覆されている樹脂よりなる絶縁層を設けて絶縁性樹脂の上下両面を絶縁層で被覆し、上記絶縁性樹脂が微細気泡を含むエポキシ樹脂、絶縁層がセラミック粉末を含むエポキシ樹脂であるので、半田による直接実装に対応することができる上に、脆性材料である熱電素子表面が絶縁性樹脂で被覆されて補強されているために、熱応力による熱電素子のクラック発生を防ぐことができ、特に、絶縁性樹脂よりも絶縁層の熱伝導率を高くしてあるので、熱電変換モジュールの冷却性能が向上し、また、絶縁層をエポキシ系のような有機性樹脂で形成した場合、無機物よりも熱伝導率が低いことから熱電変換モジュールによる熱輸送の抵抗が大きくなって熱電変換モジュールの能力が劣化するが、上記のようにエポキシ系樹脂にアルミナの粉末のようなセラミックスを含有させてあるので、上記問題を低減させることができる。
【0088】
また、請求項2記載の発明にあっては、上記請求項1記載の発明の効果に加えて、絶縁層は外面に金属膜が設けられた有機性樹脂で形成されているので、熱電素子及び電極部分が全て樹脂で被覆されることになり、耐湿性に優れたものを得ることができる。
【0089】
また、請求項3記載の発明にあっては、上記請求項2記載の発明の効果に加えて、熱電素子間に充填した絶縁性樹脂よりも熱電素子の端部間を接続する導電性物質を覆う絶縁層が熱伝導率が高いので、熱電変換モジュールの冷却性能が向上するものである。
【0090】
また、請求項4記載の発明にあっては、上記請求項3記載の発明の効果に加えて、絶縁層をアルミナの粉末を含有する有機性樹脂で形成してあるので、有機性樹脂を用いる場合に問題となる熱伝導率を高めて熱輸送能力の向上を図ることができて、冷却性能が向上するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 熱電変換モジュールの基本的構成を説明する断面図である。
【図2】 本発明の断面図である。
【図3】 同上の他の実施形態を示し、(a)は斜視図であり、(b)は断面図である。
【図4】 同上の更に他の実施形態を示し、(a)は斜視図であり、(b)は断面図である。
【図5】 参考例の断面図である。
【図6】 他の参考例の断面図である。
【図7】 更に他の参考例の断面図である。
【図8】 更に他の参考例の断面図である。
【図9】 更に他の参考例の断面図である。
【図10】 製造方法の一例を示す説明図である。
【図11】 絶縁性樹脂で保持した熱電素子の製造手順の一例の説明図である。
【図12】 絶縁性樹脂で保持した熱電素子の製造手順の他例の説明図である。
【図13】 製造方法の他例を示す説明図である。
【図14】 製造方法の更に他例を示す説明図である。
【図15】 同上の製造方法の説明図である。
【図16】 製造方法の別の例の説明図である。
【図17】 製造方法の異なる例の説明図である。
【図18】 別の例の製造方法の説明図である。
【図19】 別の例の製造方法の説明図である。
【図20】 別の例の製造方法の説明図である。
【図21】 例の製造方法の説明図である。
【図22】 (a)は同上の斜視図、(b)は同上の断面図である。
【図23】 さらに別の例の製造方法の説明図である。
【図24】 (a)は同上の斜視図、(b)は同上の断面図である。
【図25】 (a)は金属材の斜視図、(a)は水平断面図である。
【図26】 (a)は金属材の他例の斜視図、(b)は水平断面図である。
【図27】 (a)は金属材の別の例の斜視図、(b)は水平断面図である。
【図28】 ステム上に実装した場合の一例の斜視図である。
【図29】 ステム上に実装した場合の他例の斜視図である。
【図30】 ステム上に実装した場合の更に他例の斜視図である。
【図31】 同上の更に他の例を示し、(a)は断面図であり、(b)は斜視図である。
【図32】 同上の更に他の例を示し、(a)は断面図であり、(b)は分解斜視図である。
【図33】 同上の更に他の例を示し、(a)は断面図であり、(b)は斜視図である。
【図34】 同上の更に他の例を示し、(a)は断面図であり、(b)は斜視図である。
【図35】 同上の更に他の例を示し、(a)は断面図であり、(b)は斜視図である。
【図36】 同上の更に他の例を示し、(a)は断面図であり、(b)は斜視図である。
【図37】 同上の更に他の例を示し、(a)はステムの斜視図であり、(b)はステムに熱電変換モジュールを実装した斜視図であり、(c)(d)は信号引き出しピンを封止材料により封止している部分の好ましい例の断面図であり、(e)は信号引き出しピンを封止材料により封止している部分の好ましくない例の断面図である。
【図38】 同上の更に他の例を示し、(a)は断面図であり、(b)は熱電変換モジュールの下面図であり、(c)は下面全面に金属膜を形成した例の下面図である。
【図39】 (a)(b)はそれぞれ同上の更に他の例を示す断面図である。
【図40】 同上のスルホールを形成する場合の製造方法の説明図である。
【図41】 同上の図40の後工程の製造方法の説明図である。
【図42】 同上のスルホールを形成する他例の製造方法の説明図である。
【図43】 同上の図42の後工程の製造方法の説明図である。
【符号の説明】
1 熱電素子
2 絶縁性樹脂
3 絶縁層
6 金属膜
Claims (4)
- 隣接する熱電素子の端部間を導電性物質によって接続することで複数個の熱電素子を電気的に直列に接続している熱電変換モジュールであって、熱電素子間の空間に絶縁性樹脂を充填して熱電素子同士を該樹脂で固着するとともに、上記導電性物質を配した熱電素子の端部側に外面が金属で被覆されている樹脂よりなる絶縁層を設けて絶縁性樹脂の上下両面を絶縁層で被覆し、上記絶縁性樹脂が微細気泡を含むエポキシ樹脂、絶縁層がセラミック粉末を含むエポキシ樹脂であることを特徴とする熱電変換モジュール。
- 絶縁層は外面に金属膜が設けられた有機性樹脂で形成されていることを特徴とする請求項1記載の熱電変換モジュール。
- 熱電素子間に充填した絶縁性樹脂よりも熱電素子の端部間を接続する導電性物質を覆う絶縁層が熱伝導率が高いことを特徴とする請求項2記載の熱電変換モジュール。
- 絶縁層はアルミナの粉末を含有する有機性樹脂で形成されていることを特徴とする請求項3記載の熱電変換モジュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000191977A JP4200256B2 (ja) | 1999-08-10 | 2000-06-27 | 熱電変換モジュール |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22696699 | 1999-08-10 | ||
JP11-226966 | 1999-08-10 | ||
JP2000191977A JP4200256B2 (ja) | 1999-08-10 | 2000-06-27 | 熱電変換モジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001119076A JP2001119076A (ja) | 2001-04-27 |
JP4200256B2 true JP4200256B2 (ja) | 2008-12-24 |
Family
ID=26527433
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000191977A Expired - Fee Related JP4200256B2 (ja) | 1999-08-10 | 2000-06-27 | 熱電変換モジュール |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4200256B2 (ja) |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6410971B1 (en) | 2001-07-12 | 2002-06-25 | Ferrotec (Usa) Corporation | Thermoelectric module with thin film substrates |
JP4824229B2 (ja) * | 2001-09-26 | 2011-11-30 | シチズンホールディングス株式会社 | 熱電素子とその製造方法 |
JP2003273410A (ja) * | 2002-03-19 | 2003-09-26 | Citizen Watch Co Ltd | 熱電素子とその製造方法 |
JP2004063656A (ja) * | 2002-07-26 | 2004-02-26 | Toshiba Corp | 熱電変換装置 |
JP4199513B2 (ja) * | 2002-10-16 | 2008-12-17 | シチズンホールディングス株式会社 | 熱電素子の製造方法 |
JP4362303B2 (ja) * | 2003-03-28 | 2009-11-11 | シチズンホールディングス株式会社 | 熱電素子とその製造方法 |
US7299639B2 (en) * | 2004-06-22 | 2007-11-27 | Intel Corporation | Thermoelectric module |
KR20070048734A (ko) * | 2004-07-27 | 2007-05-09 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 열전 변환 재료 및 그의 제조 방법 |
JP2006310818A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-11-09 | Yamaha Corp | 熱電モジュール、熱電装置およびその製造方法 |
JP5200489B2 (ja) * | 2007-10-25 | 2013-06-05 | ヤマハ株式会社 | 熱電モジュール |
JP5522943B2 (ja) * | 2008-01-29 | 2014-06-18 | 京セラ株式会社 | 熱電モジュール |
WO2011104772A1 (ja) | 2010-02-26 | 2011-09-01 | 富士通株式会社 | 発電装置、発電方法及び発電装置の製造方法 |
US9219214B2 (en) | 2011-02-22 | 2015-12-22 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Thermoelectric conversion element and producing method thereof |
JP2013008734A (ja) | 2011-06-22 | 2013-01-10 | Toyota Industries Corp | 熱電変換ユニット |
JP5810419B2 (ja) * | 2011-11-17 | 2015-11-11 | 北川工業株式会社 | 熱電変換モジュール |
JP5979240B2 (ja) * | 2012-10-10 | 2016-08-24 | 富士通株式会社 | 熱電変換装置および電子装置 |
JP6232703B2 (ja) * | 2013-01-11 | 2017-11-22 | 富士通株式会社 | 熱電変換素子 |
JP6145664B2 (ja) * | 2013-03-13 | 2017-06-14 | 北川工業株式会社 | 熱電変換モジュールの製造方法 |
KR102009446B1 (ko) * | 2015-03-12 | 2019-08-12 | 주식회사 엘지화학 | 열전 모듈 및 그 제조방법 |
US20190088847A1 (en) * | 2016-03-22 | 2019-03-21 | Gentherm Incorporated | Distributed thermoelectrics with non-uniform thermal transfer characteristics |
JPWO2017168969A1 (ja) * | 2016-03-31 | 2019-01-31 | 株式会社村田製作所 | 熱電変換モジュールおよび熱電変換モジュールの製造方法 |
US20190181323A1 (en) * | 2016-06-23 | 2019-06-13 | 3M Innovative Properties Company | Flexible thermoelectric module |
JP6689701B2 (ja) * | 2016-07-27 | 2020-04-28 | 小島プレス工業株式会社 | 熱電変換モジュール及びその製造方法 |
KR20190109415A (ko) * | 2017-02-08 | 2019-09-25 | 마그나 시팅 인크. | 열전 모듈 및 유연 열전 회로 조립체 |
JP7113458B2 (ja) * | 2017-02-28 | 2022-08-05 | リンテック株式会社 | 熱電変換モジュール及びその製造方法 |
KR102304603B1 (ko) * | 2017-05-23 | 2021-09-24 | 엘지이노텍 주식회사 | 열전모듈 |
JP7237417B2 (ja) * | 2018-11-16 | 2023-03-13 | 東京特殊電線株式会社 | 熱電モジュール用基板及び熱電モジュール |
KR102362623B1 (ko) * | 2019-10-14 | 2022-02-14 | 가천대학교 산학협력단 | 열전 반도체 소자 및 이의 제조방법 |
WO2021079462A1 (ja) * | 2019-10-24 | 2021-04-29 | 三菱電機株式会社 | 熱電変換素子モジュールおよび熱電変換素子モジュールの製造方法 |
JP7461137B2 (ja) | 2019-12-19 | 2024-04-03 | 株式会社Kelk | 熱電モジュール及び光モジュール |
JP7461138B2 (ja) | 2019-12-19 | 2024-04-03 | 株式会社Kelk | 熱電モジュール及び光モジュール |
KR20240031340A (ko) | 2021-07-07 | 2024-03-07 | 소니그룹주식회사 | 열기전력 발생 소자, 열기전력 발생 소자의 제조방법, 및 이미지 센서 |
-
2000
- 2000-06-27 JP JP2000191977A patent/JP4200256B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001119076A (ja) | 2001-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4200256B2 (ja) | 熱電変換モジュール | |
KR100343386B1 (ko) | 열전달 효율이 향상된 열전 모듈 및 그 제조 방법 | |
JP4208631B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP5767338B2 (ja) | 電子デバイス、その製作方法、及び電子デバイスを備えているプリント基板 | |
JP5967836B2 (ja) | セラミック基板およびその製造方法 | |
CN106688091B (zh) | 布线基板、电子装置以及电子模块 | |
US10319610B2 (en) | Package carrier | |
JP2003309292A (ja) | 表面実装型発光ダイオードのメタルコア基板及びその製造方法 | |
JP2021521628A (ja) | パワーモジュール、及びパワーモジュールを製造する方法 | |
KR20120056992A (ko) | Led 패키지와 led 패키지용 금속 서브마운트 및 그 제조방법 | |
JP5977180B2 (ja) | 配線基板 | |
JP2005244033A (ja) | 電極パッケージ及び半導体装置 | |
US10076031B2 (en) | Electronic device and method of manufacturing electronic device | |
JP2000340687A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH09275165A (ja) | 回路基板及びそれを用いた半導体装置 | |
JP2011204968A (ja) | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | |
JP2014143241A (ja) | 多数個取り配線基板 | |
JP2004221520A (ja) | 発光素子収納用パッケージおよび発光装置 | |
JP2015225963A (ja) | 配線基板、電子装置および電子モジュール | |
JP7276610B2 (ja) | 端子、電子部品パッケージ、および、端子の製造方法 | |
CN217721587U (zh) | 结构稳固型陶瓷基板 | |
JP2003347603A (ja) | 熱電素子とその製造方法 | |
JP2018181995A (ja) | 配線基板 | |
JP2017208512A (ja) | 配線基体の製造方法及びそれを用いた発光装置の製造方法並びに配線基体及びそれを用いた発光装置。 | |
JP2604621B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070117 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070815 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071015 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080909 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080922 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111017 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |