JP4110169B2 - 試験装置 - Google Patents

Description

本発明は、試験装置に関する。特に本発明は、オープンアーキテクチャ方式を採用した試験装置に関する。また本出願は、下記の日本特許出願に関連する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の記載の一部とする。
特願２００３−８７０４９号 出願日 平成１５年３月２７日

従来の試験装置では、測定用パフォーマンスボードがテストヘッドに取り付けられ、測定用パフォーマンスボード上に電子デバイスを載置させて電子デバイスの試験を行っている。また、テストヘッド内に設けられたテストモジュールを診断する場合には、診断回路が形成された診断用パフォーマンスボードがテストヘッドに取り付けられてテストモジュールの診断を行っている。
このような試験装置において、複数の種類のテストモジュールは、その種類に応じて予め定められたテストヘッドのスロットに保持される。また、診断用パフォーマンスボードには、複数の種類のテストモジュールがそれぞれ保持されるスロットの位置に合わせて、複数の種類のテストモジュールをそれぞれ診断する診断回路が形成されている。そして、テストモジュールが保持されたテストヘッドに診断用パフォーマンスボードを取り付けると、複数のテストモジュールと複数の診断回路とがその種類毎に適切に接続されるようになっている。現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
近年、試験装置のシステム構成の自由度を高めるため、オープンアーキテクチャ方式を採用した試験装置が開発されている。オープンアーキテクチャ方式を採用した試験装置では、テストヘッドにおける複数のテストモジュールの位置を自由に選択することができる。そのため、診断回路が所定の位置に予め作り込まれた診断用パフォーマンスボードを用いてテストモジュールの診断を行う場合に、テストモジュールと診断回路とを適切に対応させて接続して診断することができないという問題が生じている。
そこで本発明は、上記の課題を解決することができる試験装置を提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

このような目的を達成するために、本発明の第１の形態によれば、電子デバイスの試験を行う試験装置であって、電子デバイスと試験信号の授受を行うテストモジュールと、テストモジュールを着脱可能に保持する複数のＴＨスロットを有するテストヘッドと、テストモジュールの診断を行う診断モジュールと、
複数のＴＨスロットとそれぞれ電気的に接続された、診断モジュールを着脱可能に保持する複数のＰＢスロットを有する接続手段とを備え、所定のＰＢスロットに保持された所定の診断モジュールは、所定のＰＢスロットに電気的に接続された所定のＴＨスロットに保持された所定のテストモジュールを診断する。
接続手段は、テストヘッドに着脱可能に保持されるパフォーマンスボードであってもよい。
複数のＴＨスロットは、所定のテストモジュールをいずれのＴＨスロットにも接続可能にすべく、同一形状のコネクタを有し、複数のＰＢスロットは、所定の診断モジュールをいずれのＰＢスロットにも接続可能にすべく、同一形状のコネクタを有し、複数のＴＨスロットと複数のＰＢスロットとは、それぞれ電気的な接続のパターンが同一であってもよい。
接続手段は、テストモジュールの識別情報を、当該テストモジュールを診断する診断モジュールの識別情報と対応づけて格納するメモリと、所定のテストモジュールから当該テストモジュールの識別情報を取得するテストモジュール識別情報取得部と、所定の診断モジュールから当該診断モジュールの識別情報を取得する診断モジュール識別情報取得部と、テストモジュール識別情報取得部が取得した識別情報と診断モジュール識別情報取得部が取得した識別情報とをメモリが対応づけて格納しているか否かを照合する識別情報照合部とを有し、テストモジュール識別情報取得部が取得した識別情報と診断モジュール識別情報取得部が取得した識別情報とをメモリが対応づけて格納している場合に、所定のテストモジュールと所定の診断モジュールとの電気的接続を維持し、テストモジュール識別情報取得部が取得した識別情報と診断モジュール識別情報取得部が取得した識別情報とをメモリが対応づけて格納していない場合に、所定のテストモジュールと所定の診断モジュールとの電気的接続を切断してもよい。
所定の診断モジュールは、所定の診断モジュールが診断すべきテストモジュールの識別情報を格納するメモリと、所定のテストモジュールから当該テストモジュールの識別情報を取得するテストモジュール識別情報取得部と、テストモジュール識別情報取得部が取得した識別情報とメモリが格納する識別情報とを照合する識別情報照合部とを有し、接続手段、所定のテストモジュール、又は所定の診断モジュールは、テストモジュール識別情報取得部が取得した識別情報とメモリが格納する識別情報とが一致する場合に、所定のテストモジュールと所定の診断モジュールとの電気的接続を維持し、テストモジュール識別情報取得部が取得した識別情報とメモリが格納する識別情報とが一致しない場合に、所定のテストモジュールと所定の診断モジュールとの電気的接続を切断してもよい。
所定のテストモジュールは、所定のテストモジュールの診断に用いられるべき診断モジュールの識別情報を格納するメモリと、所定の診断モジュールから当該診断モジュールの識別情報を取得する診断モジュール識別情報取得部と、診断モジュール識別情報取得部が取得した識別情報とメモリが格納する識別情報とを照合する識別情報照合部とを有し、接続手段、所定のテストモジュール、又は所定の診断モジュールは、診断モジュール識別情報取得部が取得した識別情報とメモリが格納する識別情報とが一致する場合に、所定のテストモジュールと所定の診断モジュールとの電気的接続を維持し、診断モジュール識別情報取得部が取得した識別情報とメモリが格納する識別情報とが一致しない場合に、所定のテストモジュールと所定の診断モジュールとの電気的接続を切断してもよい。
診断モジュールは、２つのＰＢスロットに保持されることによって、信号を出力する信号出力用のテストモジュールと、信号を入力する信号入力用のテストモジュールとに電気的に接続され、信号出力用のテストモジュール及び信号入力用のテストモジュールを診断してもよい。
診断モジュールは、複数のＰＢスロットに保持されることによって、同一の種類の複数のテストモジュールと電気的に接続され、複数のテストモジュールを診断してもよい。
なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた発明となりうる。

図１は、試験装置１００の斜視図である。
図２は、試験装置１００の断面図である。
図３は、パフォーマンスボード１０８の機能構成の一例を示す図である。
図４は、テストモジュール１０６の機能構成の一例を示す図である。
図５は、診断モジュール１１２の機能構成の一例を示す図である。
図６は、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との接続形態の他の例を示す図である。

以下、発明の実施形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図１及び図２は、本発明の一実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す。図１は試験装置１００の斜視図であり、図２は試験装置１００の断面図である。試験装置１００は、テストヘッド１０２、ＴＨスロット（テストヘッドスロット）１０４、テストモジュール１０６、パフォーマンスボード１０８、ＰＢスロット（パフォーマンスボードスロット）１１０、及び診断モジュール１１２を備える。なお、パフォーマンスボード１０８は、本発明の接続手段の一例である。
テストヘッド１０２は、電子デバイスと試験信号の授受を行うテストモジュール１０６を着脱可能に保持する複数のＴＨスロット１０４を有する。複数のＴＨスロット１０４は、所定のテストモジュール１０６をいずれのＴＨスロット１０４にも接続可能にすべく、同一形状のコネクタを有する。
パフォーマンスボード１０８は、テストヘッド１０２に着脱可能に保持され、テストモジュール１０６の診断を行う診断モジュール１１２を着脱可能に保持する複数のＰＢスロット１１０を有する。複数のＰＢスロット１１０は、所定の診断モジュール１１２をいずれのＰＢスロット１１０にも接続可能にすべく、同一形状のコネクタを有する。
複数のＴＨスロット１０４と複数のＰＢスロット１１０とは、それぞれ電気的な接続のパターンが同一である。したがって、所定のＰＢスロット１１０に保持された所定の診断モジュール１１２は、当該所定のＰＢスロット１１０と電気的に接続された所定のＴＨスロット１０４に保持された所定のテストモジュール１０６と電気的に接続される。そして、所定の診断モジュール１１２は、パフォーマンスボード１０８に設けられた配線を介して所定のテストモジュール１０６と電気信号を授受し、当該所定のテストモジュール１０６を診断する。
以上のように、診断モジュール１１２をパフォーマンスボード１０８に対して着脱可能にすることによって、診断対象となるテストモジュール１０６の位置に応じた位置に診断モジュール１１２を保持させることができる。そのため、オープンアーキテクチャ方式を採用した試験装置１００において、テストモジュール１０６が交換／入替された場合には、交換／入替されたテストモジュール１０６に対応する診断モジュール１１２を交換／入替することにより、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２とを適切に接続してテストモジュールを診断することができる。
図３は、本実施形態に係るパフォーマンスボード１０８の機能構成の一例を示す。パフォーマンスボード１０８は、テストモジュール１０６の識別情報を、当該テストモジュール１０６を診断する診断モジュール１１２の識別情報と対応づけて格納するメモリ２００と、テストモジュール１０６からテストモジュール１０６の識別情報を取得するテストモジュール識別情報取得部２０２と、診断モジュール１１２から診断モジュール１１２の識別情報を取得する診断モジュール識別情報取得部２０４と、テストモジュール識別情報取得部２０２が取得した識別情報と診断モジュール識別情報取得部２０４が取得した識別情報とをメモリ２００が対応づけて格納しているか否かを照合する識別情報照合部２０６とを有する。テストモジュール１０６の識別情報は、テストモジュール１０６の種類を示す情報であり、診断モジュール１１２の識別情報は、診断モジュール１１２の種類を示す情報である。
パフォーマンスボード１０８は、対応するＴＨスロット１０４及びＰＢスロット１１０に保持されたテストモジュール１０６及び診断モジュール１１２からそれぞれの識別情報を取得する。即ち、テストヘッド１０２にパフォーマンスボード１０８が取り付けられることによって電気的に接続されるテストモジュール１０６及び診断モジュール１１２から識別情報を取得する。
パフォーマンスボード１０８は、テストモジュール識別情報取得部２０２が取得した識別情報と診断モジュール識別情報取得部２０４が取得した識別情報とをメモリ２００が対応づけて格納している場合に、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を維持する。例えば、テストヘッド１０２にパフォーマンスボード１０８が装着され、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２とがパフォーマンスボード１０８を介して電気的に接続された状態で、テストヘッド１０２とパフォーマンスボード１０８とをロックする。そして、テストモジュール１０６及び診断モジュール１１２から識別情報を取得して照合し、照合が成立した場合には、テストヘッド１０２とパフォーマンスボード１０８とのロックを維持する。これにより、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続が維持される。
パフォーマンスボード１０８は、テストモジュール識別情報取得部２０２が取得した識別情報と診断モジュール識別情報取得部２０４が取得した識別情報とをメモリ２００が対応づけて格納していない場合に、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を切断する。例えば、テストヘッド１０２にパフォーマンスボード１０８が装着され、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２とがパフォーマンスボード１０８を介して電気的に接続された状態で、テストヘッド１０２とパフォーマンスボード１０８とをロックする。そして、テストモジュール１０６及び診断モジュール１１２から識別情報を取得して照合し、照合が成立しなかった場合には、テストモジュール１０６とパフォーマンスボード１０８とのロックを解除する。これにより、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続が切断される。
以上のように、パフォーマンスボード１０８がテストモジュール１０６及び診断モジュール１１２の識別情報を照合して電気的接続の維持／切断を行うことによって、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２とを適切に対応させてテストモジュール１０６の診断を行うことができる。
図４は、本実施形態に係るテストモジュール１０６の機能構成の一例を示す。テストモジュール１０６は、当該テストモジュール１０６の診断に用いられるべき診断モジュール１１２の識別情報を格納するメモリ２１０と、診断モジュール１１２から当該診断モジュール１１２の識別情報を取得する診断モジュール識別情報取得部２１２と、診断モジュール識別情報取得部２１２が取得した識別情報とメモリ２１０が格納する識別情報とを照合する識別情報照合部２１４とを有する。
パフォーマンスボード１０８は、識別情報照合部２１４から照合結果を取得し、診断モジュール識別情報取得部２１２が取得した識別情報とメモリ２１０が格納する識別情報とが一致する場合に、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を上述のように維持する。また、診断モジュール識別情報取得部２１２が取得した識別情報とメモリ２１０が格納する識別情報とが一致しない場合に、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を上述のように切断する。このように、テストモジュール１０６に識別情報を照合する機能を持たせて、診断モジュール１１２との適合を検出させてもよい。
図５は、本実施形態に係る診断モジュール１１２の機能構成の一例を示す。診断モジュール１１２は、当該診断モジュール１１２が診断すべきテストモジュール１０６の識別情報を格納するメモリ２２０と、テストモジュール１０６から当該テストモジュール１０６の識別情報を取得するテストモジュール識別情報取得部２２２と、テストモジュール識別情報取得部２２２が取得した識別情報とメモリ２２０が格納する識別情報とを照合する識別情報照合部２２４とを有する。
パフォーマンスボード１０８は、識別情報照合部２１４から照合結果を取得し、テストモジュール識別情報取得部２２２が取得した識別情報とメモリ２２０が格納する識別情報とが一致する場合に、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を上述のように維持する。テストモジュール識別情報取得部２２２が取得した識別情報とメモリ２２０が格納する識別情報とが一致しない場合に、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を上述のように切断する。このように、診断モジュール１１２に識別情報を照合する機能を持たせて、テストモジュール１０６との適合を検出させてもよい。
なお、パフォーマンスボード１０８、テストモジュール１０６、及び診断モジュール１１２のすべてが、図４、図５、及び図６を用いて説明した機能構成を有する必要はなく、パフォーマンスボード１０８、テストモジュール１０６、及び診断モジュール１１２のいずれかが、図４、図５、又は図６を用いて説明した機能構成を有し接続される相手との適合を判断すればよい。
なお、図３、図４、図５においては、パフォーマンスボード１０８が、識別情報の照合結果に基づいて、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を維持又は切断する例を用いて形態について説明したが、他の形態においては、テストモジュール１０６が、パフォーマンスボード１０８若しくは診断モジュール１１２による照合結果、又はテストモジュール１０６による照合結果に基づいて、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を維持又は切断してもよいし、診断モジュール１１２が、テストモジュール１０６若しくはパフォーマンスボード１０８による照合結果、又は診断モジュール１１２による照合結果に基づいて、テストモジュール１０６と診断モジュール１１２との電気的接続を維持又は切断してもよい。
図６は、本実施形態に係るテストモジュール１０６と診断モジュール１１２との接続形態の他の例を示す。診断モジュール１１２は、複数のＰＢスロット１１０ａ及び１１０ｂに保持されることによって、複数のテストモジュール１０６ａ及び１０６ｂに電気的に接続されてもよい。テストモジュール１０６ａは、ＰＢスロット１１０ａに電気的に接続されたＴＨスロット１０４ａに保持され、テストモジュール１０６ｂは、ＰＢスロット１１０ｂに電気的に接続されたＴＨスロット１０４ｂに保持される。そして、テストモジュール１０６ａとテストモジュール１０６ｂとは、診断モジュール１１２を介して電気的に接続される。
例えば、テストモジュール１０６ａは、アナログの電気信号を出力する信号出力用のテストモジュールであり、テストモジュール１０６ｂは、アナログの電気信号を入力する信号入力用のテストモジュールである。診断モジュール１１２は、テストモジュール１０６ａから出力された電気信号をテストモジュール１０６ｂに入力することにより、信号出力用のテストモジュール１０６ａ及び信号入力用のテストモジュール１０６ｂを診断することができる。
また、例えば、テストモジュール１０６ａとテストモジュール１０６ｂとは、同一の種類のテストモジュールである。診断モジュール１１２は、同一の種類の複数のテストモジュール１０６ａ及び１０６ｂと電気的に同時に接続され、複数のテストモジュール１０６ａ及び１０６ｂを順次又は並行して診断してもよい。
なお、診断モジュール１１２は、３つ以上のテストモジュールを電気的に接続して診断してもよい。また、本例におけるパフォーマンスボード１０８、テストモジュール１０６、又は診断モジュール１１２は、図３、図４、又は図５を用いて説明した機能構成を有し、図３、図４、又は図５と同様に接続される相手との適合を判断してもよい。
以上発明の実施形態を説明したが、本出願に係る発明の技術的範囲は上記の実施形態に限定されるものではない。上記実施形態に種々の変更を加えて、請求の範囲に記載の発明を実施することができる。そのような発明が本出願に係る発明の技術的範囲に属することもまた請求の範囲の記載から明らかである。

上記説明から明らかなように、本発明によれば、テストモジュールと診断モジュールとを適切に接続してテストモジュールを診断する試験装置を提供できる。

Claims (8)

1. 電子デバイスの試験を行う試験装置であって、
   前記電子デバイスと試験信号の授受を行うテストモジュールと、
   前記テストモジュールを着脱可能に保持する複数のＴＨスロットを有するテストヘッドと、
   前記テストモジュールの診断を行う診断モジュールと、
   前記複数のＴＨスロットとそれぞれ電気的に接続されて前記診断モジュールを着脱可能に保持する複数のＰＢスロットを有し、前記テストヘッドに着脱可能に保持された接続手段と
   を備え、
   所定の前記ＰＢスロットに保持された所定の前記診断モジュールは、前記所定のＰＢスロットに電気的に接続された所定の前記ＴＨスロットに保持された所定の前記テストモジュールを診断する試験装置。
2. 前記接続手段は、前記テストヘッドに着脱可能に保持されるパフォーマンスボードである請求項１に記載の試験装置。
3. 前記複数のＴＨスロットは、前記所定のテストモジュールをいずれの前記ＴＨスロットにも接続可能にすべく、同一形状のコネクタを有し、
   前記複数のＰＢスロットは、前記所定の診断モジュールをいずれの前記ＰＢスロットにも接続可能にすべく、同一形状のコネクタを有し、
   前記複数のＴＨスロットと前記複数のＰＢスロットとは、それぞれ電気的な接続のパターンが同一である請求項１又は請求項２に記載の試験装置。
4. 前記接続手段は、
   前記テストモジュールの識別情報を、当該テストモジュールを診断する前記診断モジュールの識別情報と対応づけて格納するメモリと、
   前記所定のテストモジュールから当該テストモジュールの識別情報を取得するテストモジュール識別情報取得部と、
   前記所定の診断モジュールから当該診断モジュールの識別情報を取得する診断モジュール識別情報取得部と、
   前記テストモジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記診断モジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報とを前記メモリが対応づけて格納しているか否かを照合する識別情報照合部と
   を有し、
   前記テストモジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記診断モジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報とを前記メモリが対応づけて格納している場合に、前記所定のテストモジュールと前記所定の診断モジュールとの電気的接続を維持し、
   前記テストモジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記診断モジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報とを前記メモリが対応づけて格納していない場合に、前記所定のテストモジュールと前記所定の診断モジュールとの電気的接続を切断する請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の試験装置。
5. 前記所定の診断モジュールは、
   前記所定の診断モジュールが診断すべき前記テストモジュールの識別情報を格納するメモリと、
   前記所定のテストモジュールから当該テストモジュールの識別情報を取得するテストモジュール識別情報取得部と、
   前記テストモジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記メモリが格納する前記識別情報とを照合する識別情報照合部と
   を有し、
   前記接続手段、前記所定のテストモジュール、又は前記所定の診断モジュールは、
   前記テストモジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記メモリが格納する前記識別情報とが一致する場合に、前記所定のテストモジュールと前記所定の診断モジュールとの電気的接続を維持し、
   前記テストモジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記メモリが格納する前記識別情報とが一致しない場合に、前記所定のテストモジュールと前記所定の診断モジュールとの電気的接続を切断する請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の試験装置。
6. 前記所定のテストモジュールは、
   前記所定のテストモジュールの診断に用いられるべき前記診断モジュールの識別情報を格納するメモリと、
   前記所定の診断モジュールから当該診断モジュールの識別情報を取得する診断モジュール識別情報取得部と、
   前記診断モジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記メモリが格納する前記識別情報とを照合する識別情報照合部と
   を有し、
   前記接続手段、前記所定のテストモジュール、又は前記所定の診断モジュールは、
   前記診断モジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記メモリが格納する前記識別情報とが一致する場合に、前記所定のテストモジュールと前記所定の診断モジュールとの電気的接続を維持し、
   前記診断モジュール識別情報取得部が取得した前記識別情報と前記メモリが格納する前記識別情報とが一致しない場合に、前記所定のテストモジュールと前記所定の診断モジュールとの電気的接続を切断する請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の試験装置。
7. 前記診断モジュールは、２つの前記ＰＢスロットに保持されることによって、信号を出力する信号出力用の前記テストモジュールと、信号を入力する信号入力用の前記テストモジュールとに電気的に接続され、前記信号出力用のテストモジュール及び前記信号入力用のテストモジュールを診断する請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の試験装置。
8. 前記診断モジュールは、複数の前記ＰＢスロットに保持されることによって、同一の種類の複数の前記テストモジュールと電気的に接続され、前記複数のテストモジュールを診断する請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の試験装置。

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