JP3659167B2 - モジュール部品とその製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路基板内にチップ部品を実装して構成される、あるいはチップ部品をモールドして構成されるモジュール部品とその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、電子機器の小型化、軽量化、薄型化、多機能化が急速に進んでおり、それに伴い回路素子を高密度に実装する技術が各種提案されており、その一つとして電子部品を基板内に内蔵する技術が提案されている。
【0003】
この種の電子部品を内蔵した基板としては、例えば特開昭63−169798号公報に記載されたようなものが知られており、図12(a)に示されるような構成により、図12(b)のような等価回路を実現している。
【0004】
すなわち、図において、102はセラミック基板121〜126が多層に積層されて形成された多層基板であり、多層基板102内に形成された貫通孔107内にコンデンサ103、104および抵抗器105が挿入されるとともに、それらが導体106により電気的に接続されるように構成されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術ではコンデンサ103、104および抵抗器105を最終的に多層基板102と共に焼成する必要があるため、耐熱性に優れた特殊な部品を用いる必要があるとともに、電子部品のサイズが小さくなればなるほど十分な耐熱効果が得られにくくなるため、高温の熱処理による特性劣化や特性変動が発生して仕様通りの値が得られにくくなり、所望の回路特性、機能等が得られず、また、高温の熱処理での収縮による寸法ばらつきが発生するため高精度な寸法部品が得られにくく、小型化に限界を有するものであった。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記従来の課題を解決するためのものであり、電子部品のサイズがより小さくなって行っても、所望の回路特性、機能が安定して得られるとともに、埋設されるチップ部品の自動挿入、高速化が図りやすく、非常に効率よく生産しやすいモジュール部品およびその製造方法を提供することを目的とするものである。
【0007】
上記目的を達成するために本発明は、樹脂材料からなる回路基板に形成した貫通孔を所定の規則に従って配設するとともに、所定定数のチップ部品を収納させて所望の回路を構成したもの、あるいは所定定数のチップ部品を所定の規則に従って配置し、各チップ部品の端面電極が露出するように樹脂モールドして所望の回路を構成したものであり、モジュール化する際に埋設されたチップ部品を高温で熱処理する必要がなくなり、各チップ部品は仕様通りの値が得られるため設計通りの回路特性、機能、寸法精度等が安定して得られるとともに、所定の規則に従ってチップ部品を配設するため、チップ部品の挿入の自動化、高速化が図りやすく、かつチップ部品のサイズが小さくなっても十分対応でき、さらにチップ部品の挿入位置、種類を変えるだけで回路構成を柔軟に、かつ簡単に変更することができるものである。
【0008】
【発明の実施の形態】
(実施の形態1)
図1(a)は、本発明の実施の形態1におけるモジュール部品の概略構成を示すA−A’断面図であり、(b)はその上面図である。図において、1は樹脂基板であり、チップ部品とほぼ同一の穴形状を有する貫通孔内にチップ抵抗2、チップコンデンサ3等のチップ部品が挿入され、これらの端面電極と樹脂基板1の両面に形成された回路配線4a、4bとが電気的に接続されて所望の電気回路を形成している。そしてこれらは第1の補助基板5と第2の補助基板6とで挟み込まれて補強され、第1の補助基板5上にはICチップ7や小型化が困難な電子部品8が実装されるとともに、配線回路4cと電気的に接続され、スルーホール9に充填された導電体を介して回路配線4aと接続されている。なお7aはモールド樹脂、10はモジュール部品11としての外部電極端子である。
【0009】
ここで、挿入されるチップ部品のサイズは、全てJIS規格(C−5201−8)の0603(縦0.6mm×横0.3mm)を用いており、これに合わせて高さが0.6mmの樹脂基板1を用いている。このように、チップ部品のサイズが規格化されているため、回路構成が変わっても樹脂基板1の高さを変える必要がなく共通に使えるため、非常に汎用性を高くすることができる。また、ここでは挿入されるチップ部品として、抵抗(R)、コンデンサ(C)を例にしているが、これに限定されるものではなく、コイル(L)やLC、CR等の複合部品も利用することができ、規格化されたチップ部品であれば、同様の効果が得られる。
【0010】
なお、図2に示されるように、第1の補助基板5と樹脂基板1と第2の樹脂基板6のトータルの高さを1.0mmとし、これらを貫通させてJIS規格の1005のサイズのチップ部品も利用できるようにすることにより、高さの異なるチップ部品も利用することができるためより柔軟な回路設計が可能となり、より多機能で高性能な、かつ小型のモジュール部品を実現することができる。
【0011】
図3は樹脂基板に設けられた貫通孔にチップ部品が挿入されて配列された状態を模式化したものであり、(a)はその上面図であり、(b)はその断面図である。
【0012】
図において、樹脂基板21にはマトリクス状にチップ部品とほぼ同じ穴形状を有する貫通孔(符号付さず)が形成されており、その中にチップ抵抗22およびチップコンデンサ23が挿入されている。なお図では、各チップ部品の2辺が揃うように貫通孔が配設されて各チップ部品が挿入配列されているが、各チップ部品の中心が揃うように貫通孔を形成して各チップ部品を挿入配列しても同様の効果が得られる。
【0013】
ここで、貫通孔はマトリクス状に規則正しく精度良く形成されているため、機械によるチップ部品の自動挿入が非常に行いやすく、自動挿入機の性能が向上するに伴いさらなるチップ部品の小型化にも対応することができるとともに、さらなる貫通孔間の狭ピッチ化にも対応することができる。
【0014】
なお、ここでは模式的に貫通孔が樹脂基板21の全面に配設され、チップ抵抗22とチップコンデンサ23とが交互に挿入されているが、これに限定されるものではなく、回路設計の構成に応じて必要箇所にのみに、挿入されるチップ部品の大きさに合わせて貫通孔を形成して所定定数のチップ部品を挿入することにより所望の回路を構成したり、あるいは貫通孔をマトリクス状に全て形成しておき、回路設計の内容に応じて必要箇所にのみ所定定数のチップ部品を挿入して、残りの貫通孔には絶縁物等を充填したり、チップ部品サイズの絶縁物等(ダミー部品)を挿入することにより所望の回路を構成することもできる。特に後者の場合には、樹脂基板を共通に利用することができるとともに、チップ部品の挿入箇所、種類を変えるだけで回路構成を柔軟に、かつ簡単に変更することができ、さらにダミー部品を用いれば他のチップ部品と同様に自動挿入が可能となり、効率よく生産できるというメリットがある。
【0015】
また、貫通孔の穴形状はチップ部品とほぼ同一の形状に限定されるものではなく、図4の24a〜24dに示されるような円形状や楕円形状や多角形状等でもよく、貫通孔内での位置決め保持がされやすい形状であればよく、このような形状にすることにより機械による挿入の際にチップ部品の挿入角度がずれても確実に貫通孔内に挿入することができ、機械化をより図りやすくすることができる。なお、貫通孔とチップ部品との隙間にはエポキシ樹脂等の熱硬化樹脂からなる固定部材24を充填することにより、あるいは貫通孔の一部を突出させてチップ部品を支持するための支持部26を設けることにより、チップ部品を確実に貫通孔内で支持固定することができるとともに、回路基板上に配設された回路配線とチップ部品との接続の信頼性をより高めることができる。
【0016】
また、貫通孔の形状は円柱状に限定されるものではなく、図5の27a〜27cに示されるような円錐状やY字状等に形成してテーパが設けられるように構成してもよく、このような貫通孔の底面までチップ部品の端面が届くような形状のテーパを設けることにより、貫通孔のチップ部品挿入側の開口部が大きくなるためより機械による挿入を行いやすくすることができるとともに、貫通孔内でのチップ部品の位置決めを自動的に決めることができ、さらに貫通孔とチップ部品の隙間に充填される固定部材の充填もスムーズに行うことができるため、そのメリットは大きい。
【0017】
また、チップ部品の端面と樹脂基板の表面を異なる色で形成してやれば、貫通孔にチップ部品を挿入後、チップ部品の抜け等の外観検査をより行いやすくすることができる。
【0018】
次に、本実施の形態の製造工程について、図6を用いて説明する。まず、ガラエポやテフロン等の樹脂基板31の両面に銅箔32が形成されたものを用意し(a:両面銅貼り基板)、この両面の銅箔32を導通させるためにドリルまたはレーザによりスルーホール33を形成し(b:スルーホール穴開け工程)、さらに無電解銅めっきを施すことにより両面の銅箔32の導通を図る(c:スルーホールめっき工程)。
【0019】
次にフォトリソ技術により樹脂基板31の両面に所望の回路配線パターン34を形成し(d:パターンエッチング工程)、マトリクス状の所定位置にチップ部品を挿入するための貫通孔35を形成して(e:パーツ挿入穴開け工程)、所定の貫通孔35にチップ抵抗器36やチップコンデンサ37等の所定定数のチップ部品を挿入する(f:パーツ挿入工程)。
【0020】
次に、チップ抵抗器36およびチップコンデンサ37等のチップ部品の端面電極36a、37aと回路配線パターン34との接続を図るために端面電極36a、37a上に導電性樹脂(導電性接着材料、樹脂電極材料等)を充填あるいは塗布あるいは印刷して接続電極を形成し(g:接続電極形成工程)、これらを粘性および接着性を有するプリプレグ層41、すなわちエポキシ樹脂やフェノール樹脂等の熱硬化性樹脂からなる補助基板39の片面に銅箔40が形成されたプリプレグ層41で挟み込み、180℃、1時間、30kg/cm2の条件で加熱圧着する(h:プリプレグ層形成工程)。
【0021】
なお、ここでは樹脂基板31の高さをチップ部品の高さよりも低くし、両面の銅箔32を含めた高さをチップ部品よりも高くしているが、これは回路配線パターン34とチップ部品の端面電極36a、37aとの接続をより確実にするためのものであり、これに限定されるものではなく、樹脂基板31の高さをチップ部品の高さとほぼ同じ、すなわちチップ部品の高さよりも樹脂基板31の高さを少し高くしても、あるいはチップ部品の高さよりも両面の銅箔32を含めた高さを少し低くしても問題はない。
【0022】
次に、スルーホール42を形成して導電材料を充填し、フォトリソ技術を利用して表面回路配線パターン43を形成して(i:表層パターンエッチング工程)、図1に示されるような表面にICチップや小型化が困難な電子部品を実装することにより、所望の回路構成を有するモジュール部品が完成する(工程図示せず)。
【0023】
ここで、第1および第2の補助基板5,6はエポキシ樹脂やフェノール樹脂等の熱硬化性樹脂材料を主成分とする樹脂材料からなり、できるだけ低温で処理するものを利用することにより熱処理によるチップ部品への影響を少なくすることができるとともに、耐熱性に優れた特殊なチップ部品を用いることなく、各チップ部品はスペック通りの抵抗値、容量値等が得られ、設計通りの回路特性、機能、寸法精度等を得ることができる。
【0024】
(実施の形態2)
図7は本発明の実施の形態2におけるモジュール部品の概略構成を説明するための断面図であり、図1の実施の形態1と同様の構成については、同一符号を付してその説明を省略する。
【0025】
図において、50はバイパスコンデンサであり、ICチップ7の端子直下に配設され最短で接続されるように構成されているため、これにより従来ICチップからの配線回路中で拾うことの多かったノイズの影響を受けにくくすることができる。また、51は金属板や銅箔からなるグランド層であり、グランドとしての機能と放熱板としての機能を発揮しているとともに、ICチップ7の端子直下に熱伝導性に優れた導電材料(銅、アルミ等)からなるバイパスライン52を配設することにより、これを介してICチップの放熱を効率的に行うことができる。なお、ここではグランド層51を樹脂基板1上に直接形成されているが、図1に示される第2の補助基板6上に形成して回路配線4bとスルーホール等を介して接続される構成(図示せず)にしても、同様の効果が得られる。また、バイパスライン52を銅チップ等のチップ部品サイズの導電材料で形成すれば、他のチップ部品と同様に自動挿入が可能となり、導電性材料を充填する作業に比べ、作業効率を大幅に向上させることができる。
【0026】
(実施の形態3)
図8は本発明の実施の形態3におけるモジュール部品の概略構成を説明するための断面図であり、図1の実施の形態1と同様の構成については、同一符号を付してその説明を省略する。
【0027】
図において、53は樹脂基板1上に形成された印刷抵抗であり、貫通孔にチップ部品を挿入することなく回路配線4aの途中に形成することができ、しかもトリミング後、第1および第2の補助基板5、6を積層することができるため、小型化および生産効率上有利である。また54は積層コンデンサであり、回路配線4a、4b中の電極端子54a、54bと基板自体の誘電率54cを用いて低容量のコンデンサを形成することができ、より小型化を図る上で有効である。
【0028】
以上の説明から明らかなように、本実施の形態1〜3では、樹脂材料からなる回路基板に形成した貫通孔を所定の規則に従って配設するとともに、所定定数のチップ部品を収納させて所望の回路を構成したものであるため、樹脂基板を用いているためチップ部品を焼成することなくモジュール化することができ、その際各チップ部品はスペック通りの値が得られるため設計通りの回路特性、機能、寸法精度等を安定して得ることができる。
【0029】
また、所定の規則に従って貫通孔が配設されるため、チップ部品の貫通孔への挿入の自動化、高速化が図りやすく、かつチップ部品のサイズが小さくなっても十分対応でき、さらにチップ部品の挿入位置、種類を変えるだけで回路構成を柔軟に、かつ簡単に変更することができ、その効果は絶大である。
【0030】
(実施の形態4)
次に、本発明の他のモジュール部品の製造方法につて説明する。なお、本実施の形態の製造方法により製造されたモジュール部品の概略構成は、結果的に実施の形態1の製造方法で製造されたものと同様の構成、すなわち図1のような構成になるので、その説明を省略する。
【0031】
また、本実施の形態でモールドされるチップ部品のサイズは、実施の形態1と同様に全てJIS規格(C−5201−8)の0603(縦0.6mm×横0.3mm)が用いられており、これに合わせて高さが0.6mmの樹脂基板1が形成されている。したがって、実施の形態1と同様にチップ部品のサイズが規格化されているため、回路構成が変わっても樹脂基板1の高さが変わることがなく、非常に汎用性が高い。
【0032】
なお、実施の形態1とは異なり、本実施の形態ではチップサイズが規格化されていない部品であっても、高ささえ揃っていれば、同様の効果が得られ、特に規格化されたチップ部品の端面電極を長手方向ではなく、横手方向に設けてやれば、樹脂基板1としての高さを低く抑えることができ、端面電極の形成位置を変えるだけの比較的簡単な変更で、薄型のモジュール部品を実現することができる。
【0033】
次に、図2を利用して本実施の形態の製造方法により形成された樹脂基板について説明する。
【0034】
図において、樹脂基板21はマトリクス状にチップ抵抗22およびチップコンデンサ23がモールドされて形成されており、各端面電極が露出するように形成されている。なお図では、各チップ部品の2辺が揃うように各チップ部品を配置してモールドしているが、各チップ部品の中心が揃うように各チップ部品を配置してモールドしても同様の効果が得られる。また図では、マトリクス状に各チップ部品をモールドしているがこれに限定されるものではなく、無秩序に散在するものは除き、同心円状、放射状、らせん状等ある一定の規則に従って配置されていれば同様の効果が得られる。
【0035】
ここで、チップ部品はモールド用金型内にマトリクス状に規則正しく精度良く挿入配置されるため、機械によるチップ部品の自動挿入、高速挿入が非常に行いやすくなり、さらに自動挿入機の性能が向上するに伴いさらなるチップ部品の小型化にも対応することができるとともに、さらなるチップ部品間の狭ピッチ化にも対応することができる。
【0036】
なお、ここでは模式的にチップ部品が樹脂基板21の全体にモールドされるとともに、チップ抵抗22とチップコンデンサ23とが交互になるようにモールドされているが、これに限定されるものではなく、回路設計の構成に応じてモールド用金型内の所定位置にのみ溝を設けてそこに所定定数のチップ部品を挿入配置することにより所望の回路を構成したり、あるいはモールド用金型内にマトリクス状の溝を形成しておき、回路設計の内容に応じて必要箇所にのみ所定定数のチップ部品を挿入配置してモールド化したり、さらにはチップ部品が配置されていない残りの溝に同じ高さサイズのダミー部品(モジュール部品としての特性に影響を及ぼしにくい部品)を挿入することにより所望の回路を構成することもできる。
【0037】
特にモールド用金型内にマトリクス状の溝を設けておく場合には、金型を共通に利用することができるとともに、チップ部品の挿入位置、種類を変えるだけで回路構成を柔軟に、かつ簡単に変更することができ、さらにダミー部品を用いれば常に同じ状態、すなわちマトリクス状の全ての溝に種類の違いはあるもののチップ部品が配置された状態でこれらをモールドすることができ、精度よく安定したモールドを行うことができる。
【0038】
次に、本実施の形態におけるチップ部品のモールド方法について、図9を用いて説明する。図において、61aは第1の金型であり、マトリクス状にチップ部品62を位置決め保持するための溝部63が形成されており、まず、チップ部品62が溝部に挿入配置される(a:チップ部品挿入)。ここで、第1の金型61a内の溝部63の形状を円錐状やY字状等のテーパを有するように構成すると(図示なし)、チップ部品挿入側の開口面積を大きくすることができ、より機械による挿入を行いやすくすることができるとともに、溝部63内でのチップ部品62の位置決めを自動的に決めることができ、さらに溝部63とチップ部品62の隙間への樹脂の充填もスムーズに行うことができるため、そのメリットは大きい。
【0039】
次に、チップ部品62の挿入完了後、チップ部品62の端面電極62aが成形後露出するように第2の金型61bを第1の金型61a内に移動させ(b:1次モールド用金型形成)、充填口64aより樹脂65aを充填して1次モールドを行う(c:1次モールド)。固化後、チップ部品62の挿入側の第1の金型61aを剥離するとともに(d:チップ挿入側金型剥離)、もう一方のチップ部品62の端面電極62bが露出するように第3の金型61cを移動させ(e:2次モールド用金型形成)、充填口64bより樹脂65bを充填して2次モールドを行う(f:2次モールド)。そして、第2および第3の金型61b、61cを剥離し、形を整えることにより(g:金型剥離、整形)、図10に示されるようなモールド部品66を得る。
【0040】
ここで、モールド用の樹脂としては、エポキシ樹脂やフェノール樹脂等の熱硬化性樹脂材料を主成分とする樹脂材料からなり、できるだけ低温で処理可能な樹脂を利用することにより熱処理によるチップ部品への影響を少なくすることができるとともに、耐熱性に優れた特殊なチップ部品を用いることなく、各チップ部品がスペック通りの抵抗値、容量値等が得られ、設計通りの回路特性、機能、寸法精度等を得ることができる。
【0041】
また、樹脂内に熱伝導性、耐熱性に優れたフィラーを含有させることにより、放熱性、耐熱性に優れたモジュール部品を実現することができ、具体的には、樹脂内にフィラーとして、Al2O3、SiC、Al3N4、Si3N4の内の少なくとも1つを含有させることにより放熱性を高めることができるとともに、樹脂内にフィラーとしてセラミック粉体、または/およびSiO2を含有させることにより、耐熱性を高めることができる。また、樹脂内にフェライト等の磁性材料を含有させることにより、ノイズの影響を受けにくいモジュール部品を実現することができる。
【0042】
(実施の形態5)
図11は本発明の実施の形態5におけるモジュール部品の概略構成を説明するための断面図であり、図10のモールド部品66を用いたモジュール部品の応用例を示し、(a)はモールド部品66を多層基板70上に載置した例、(b)はモールド部品66を多層基板70内に埋め込んだ例、(c)はモールド部品66をICチップ7よりも小さく形成して多層基板70内に埋め込んだ例を示している。なお、71、72はそれぞれ多層基板70内に設けられた配線パターン、スルーホールであり、実施の形態4と同様の構成については同一の符号を付してその説明を省略する。
【0043】
図において、いずれの構成においても、モジュール部品66内の各チップ部品62を介してICチップ7の端子と多層基板70の配線パターン71を直結させているため、従来ICチップからの配線回路中で拾うことの多かったノイズの影響を受けにくくすることができる。
【0044】
また、近年CPUの高速化(高周波化)が急速に進んでおり、駆動周波数がGHz帯域に突入するのも時間の問題であるが、一般にCPUの電源ラインはコンデンサを介して行われるものであり、このような高速化が進むと、このコンデンサとCPUとの間で生じるESR(等価直列抵抗)およびESL(等価直列インダクタンス)を無視することができず、これらを如何に小さく抑えるかがCPUの高速化のカギを握るものであった。従来は、ICチップの周りにチップコンデンサを配置することにより(図示せず)、これらの値を抑えていたが、高速化に伴い、この距離でも問題となるようになってきている。
【0045】
そこで、本実施の形態のようにチップ部品62のいくつかにチップコンデンサを用いてバイパスコンデンサとして機能させると、CPUとコンデンサを直結させることができるため、ESR,ESLを極めて小さく抑えることができ、今後の高速化にも十分対応することができる。また、全てのチップ部品62またはある一群のチップ部品62をチップコンデンサを用いてバイパスコンデンサとして機能させ、さらにそれらの露出した端面電極を覆うように共通電極を両面に設けてCPUと直結させてやると、より高速化に対応できる。
【0046】
なお、図においてチップ部品62のいくつかに熱伝導性に優れた導電体(銅、アルミ等)を用いるとバイパスラインとして機能させることもでき、ICチップ7の放熱を効率的に行うことができる。
【0047】
以上の説明から明らかなように、本実施の形態4、5によれば、樹脂モールドすることにより基板を形成しているためチップ部品を高温で熱処理する必要がなくなり、各チップ部品は仕様通りの値が得られるためモジュール部品として設計通りの回路特性、機能、寸法精度等が安定して得られるとともに、所定の規則に従ってチップ部品を配置して樹脂モールドしているため、モールド用金型内へのチップ部品の挿入の自動化、高速化が図りやすく、かつチップ部品のサイズが小さくなっても十分対応でき、さらにチップ部品の挿入位置、種類を変えるだけで回路構成を柔軟に、かつ簡単に変更することができ、その効果は絶大である。
【0048】
なお、本実施の形態4の製造方法を用いて実施の形態2、3のようなモジュール部品が形成することができるとともに、実施の形態1の方法で形成されたモジュール部品を本実施の形態5のような応用例に利用することができることは明らかであるので、その説明は省略する。
【0049】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、モジュール化する際に埋設されたチップ部品を高温で熱処理する必要がなくなり、各チップ部品は仕様通りの値が得られるため設計通りの回路特性、機能、寸法精度等が安定して得られるとともに、所定の規則に従ってチップ部品を配設するため、チップ部品の挿入の自動化、高速化が図りやすく、かつチップ部品のサイズが小さくなっても十分対応でき、さらにチップ部品の挿入位置、種類を変えるだけで回路構成を柔軟に、かつ簡単に変更することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)本発明の実施の形態1におけるモジュール部品の概略構成を示す断面図
(b)同上面図
【図2】同実施の形態における樹脂基板の他の例を示す断面図
【図3】(a)同実施の形態における樹脂基板に設けられた貫通孔にチップ部品が挿入されて配列された状態を模式化した上面図
(b)同断面図
【図4】同実施の形態における貫通孔の穴形状の例を示す上面図
【図5】同実施の形態における貫通孔の形状の例を示す断面図
【図6】同実施の形態におけるモジュール部品の製造方法を示す工程断面図
【図7】本発明の実施の形態2におけるモジュール部品の概略構成を示す断面図
【図8】本発明の実施の形態3におけるモジュール部品の概略構成を示す断面図
【図9】実施の形態4におけるチップ部品のモールド方法を示す工程断面図
【図10】同モールド方法により形成されたモールド部品の構成を示す斜視図
【図11】本発明の実施の形態5におけるモールド部品を用いたモジュール部品の応用例を示す断面図
【図12】(a)従来の電子部品を内蔵した多層基板の構成を示す断面図
(b)同等価回路図
【符号の説明】
1 樹脂基板
2 チップ抵抗
3 チップコンデンサ
4a〜4c 回路配線
5 第1の補助基板
6 第2の補助基板
7 ICチップ
8 電子部品
9 スルーホール
10 外部電極端子
11 モジュール部品
Claims (22)
- 貫通孔を有し樹脂材料からなる回路基板と、前記回路基板の上下面に設けられた回路配線と、前記貫通孔の深さとほぼ同じ高さを有し前記貫通孔に収納されて前記回路基板の両面に設けられた回路配線を電気的に接続するチップ部品とを有し、前記貫通孔を所定の規則に従ってマトリクス状の所定位置に配設するとともに、所定定数のチップ部品を収納させて所望の回路を構成したことを特徴とするモジュール部品。
- チップ部品が未収納の貫通孔には絶縁樹脂材料またはダミー部品を収納させたことを特徴とする請求項1記載のモジュール部品。
- 貫通孔に収納されたチップ部品と貫通孔との隙間に熱硬化樹脂からなる固定部材が充填されていることを特徴とする請求項1記載のモジュール部品。
- 貫通孔にテーパ部を設けたことを特徴とする請求項1記載のモジュール部品。
- 貫通孔にチップ部品を支持するための支持手段を形成したことを特徴とする請求項1記載のモジュール部品。
- 回路基板を挟み込むように第1および第2の補助基板を設け、貫通孔に収納された際に、前記貫通孔の深さよりも高く、第1及び第2の補助基板から突出しない高さのチップ部品を用いて所望の回路を構成したことを特徴とする請求項1記載のモジュール部品。
- 補助基板上にICチップを搭載するとともに、前記ICチップの直下となる貫通孔にコンデンサを収納させて、前記ICチップと直結させた請求項1記載のモジュール部品。
- 樹脂材料からなる回路基板の所定位置にマトリクス状の貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔にその深さとほぼ同じ高さを有するチップ部品を挿入する工程と、前記回路基板上にチップ部品を結線するための回路配線を形成する工程と、前記回路配線が形成された前記回路基板の両面の少なくとも一方に補助基板を貼り合わせて加熱圧着する工程とを有し、前記貫通孔を所定の規則に従って形成するとともに、所定定数のチップ部品を収納して所望の回路を構成することを特徴とするモジュール部品の製造方法。
- 貫通孔をマトリクス状に形成するとともに、所定の貫通孔にのみ所定定数のチップ部品を収納して所望の回路を形成することを特徴とする請求項8記載のモジュール部品の製造方法。
- チップ部品の端面電極が露出するように前記チップ部品を樹脂モールドした成形体と、前記成形体の片面または両面に設けられた回路配線とを有し、前記チップ部品を所定の規則に従って配置するとともに、所定定数のチップ部品を樹脂モールドして所望の回路を構成したことを特徴とするモジュール部品。
- チップ部品をマトリクス状の所定位置にのみ配置するとともに、所定定数のチップ部品を樹脂モールドして所望の回路を構成したことを特徴とする請求項10記載のモジュール部品。
- マトリクス状のチップ部品が配置されない位置にも前記チップ部品と同サイズのダミー部品を配置したことを特徴とする請求項11記載のモジュール部品。
- エポキシ樹脂またはフェノール樹脂を用いて樹脂モールドしたことを特徴とする請求項10記載のモジュール部品。
- 樹脂内に熱伝導性または/および耐熱性の高いフィラーが含有されていることを特徴とする請求項10記載のモジュール部品。
- 樹脂内にフィラーとして、Al2O3、SiC、Al3N4、Si3N4の内の少なくとも1つが含有されていることを特徴とする請求項10記載のモジュール部品。
- 樹脂内にフィラーとして、セラミック粉体、または/およびSiO2が含有されていることを特徴とする請求項10記載のモジュール部品。
- 樹脂内に磁性材料が含有されていることを特徴とする請求項10記載のモジュール部品。
- チップ部品を所定の規則に従って配置し、その端面電極が露出するように樹脂モールドされて形成された成形体の一方にICチップを搭載するとともに他方を回路基板の配線パターンと接続し、前記チップ部品を介して前記ICチップの電極端子と前記回路基板の配線パターンとを直結させたことを特徴とするモジュール部品。
- モールド用金型内にチップ部品を挿入する挿入工程と、前記チップ部品の端面電極が露出するように樹脂を充填する1次モールド工程と、前記チップ部品を挿入した側のモールド用金型を剥離する剥離工程と、剥離された前記チップ部品の端面電極が露出するように樹脂を充填する2次モールド工程と、樹脂モールドされた成形体の片面または両面に回路配線を形成する工程とを有し、前記チップ部品を所定の規則に従って配置するとともに、所定定数のチップ部品を樹脂モールドして所望の回路を構成することを特徴とするモジュール部品の製造方法。
- チップ部品をマトリクス状の所定位置にのみ形成するとともに、所定定数のチップ部品を樹脂モールドして所望の回路を構成することを特徴とする請求項19記載のモジュール部品の製造方法。
- マトリクス状のチップ部品が配置されない位置にも前記チップ部品と同サイズのダミー部品を配置したことを特徴とする請求項20記載のモジュール部品の製造方法。
- モールド用金型内にチップ部品を所定の規則に従って配置されるように挿入する挿入工程と、前記チップ部品の端面電極が露出するように樹脂を充填する1次モールド工程と、前記チップ部品を挿入した側のモールド用金型を剥離する剥離工程と、剥離された前記チップ部品の端面電極が露出するように樹脂を充填する2次モールド工程とを有し、樹脂モールドされた成形体の一方にICチップを搭載するとともに他方を回路基板と接続し、前記チップ部品を介して前記ICチップの電極端子と前記回路基板の配線パターンとを直結させたことを特徴とするモジュール部品の製造方法。
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