JP3588044B2 - 磁気検出装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、歯状磁性移動体の移動方向を検出する磁気検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図22は従来の磁気検出装置の構成図で、その(a)は正面図、その(b)は斜視図、その(c)は部分上面図である。図23は従来の磁気検出装置の電気回路図、図24は図23の電気回路図の波形図である。磁気検出装置は、バイアス磁界を発生する直方体形状の磁石1と、この磁石1の上面に設けられ、磁気検出素子である磁気抵抗効果素子を一体的に構成したICチップ2を有している。矢印3は磁石1の着磁方向を表す。磁気検出装置は歯車状磁性回転体4に対向させ接近させて配置する。磁気検出装置の磁気抵抗効果素子6には、歯車状磁性回転体4の回転により、歯車状磁性回転体4の凹部と凸部とが交互に接近する。5は歯車状磁性回転体4の回転軸である。そのため磁石1から磁気抵抗効果素子6に印加される磁界が変化する。この磁界の変化は磁気抵抗効果素子6の抵抗変化となり、電圧の変化として検出される。この電圧の変化はICチップ内の比較回路、出力トランジスタを経て、パルス波の電気信号として外部に出力される。このパルス波の電気信号はコンピュータユニットに送られ、このパルス数をカウントすることにより、歯車状磁性回転体4の回転角度が検出される。
【0003】
一般的に、磁気検出素子には磁気抵抗効果素子6(以下、MR素子という)、もしくは巨大磁気抵抗効果素子(以下、GMR素子という)が用いられる。MR素子は、強磁性体(例えば、Ni−Fe、Ni−Co等)薄膜で形成され、磁化方向と電流方向のなす角度によって、抵抗値が変化する素子である。このMR素子は、電流方向と磁化方向が直角に交わるときに、抵抗値が最小になり、0度すなわち電流方向と磁化方向が同一あるいは全く逆方向になるとき、抵抗値が最大になる。この抵抗値の変化をMR変化率と呼び、一般にNi−Feで2〜3%、Ni−Coで5〜6%である。
【0004】
GMR素子は数オングストロームから数10オングストロームの厚さの磁性層と非磁性層とを交互に積層された積層体、いわゆる人工格子膜であり、(Fe/Cr)、(パーマロイ/Cu/Co/Cu)、(Co/Cu)が知られている。これは、MR素子と比較して格段に大きなMR効果(MR変化率)を有すると共に、外部磁界の向きが電流に対してどのような角度差をもっていても同じ抵抗値の変化が得られる、いわゆる面内感磁の素子である。
【0005】
GMR素子の動作もMR素子の動作とほぼ同じであるため、以下、MR素子を用いた場合の動作について詳細に説明する。図23において、歯車状磁性回転体4が回転することにより、MR素子6に印加されるバイアス磁界が変化し、その抵抗値が変化する。そこで、磁界の変化を検出するために、MR素子6でブリッジ回路7を形成し、このブリッジ回路7に望ましくは定電圧、定電流の電源VCCを接続し、MR素子の抵抗値変化を電圧変化に変換して、このMR素子6に作用している磁界変化を検出する。この従来の磁気検出装置は、MR素子6と抵抗8,9,10を用いたブリッジ回路7と、このブリッジ回路7の接続点11を、抵抗9,10の基準値12と比較して、ローレベルまたはハイレベルの信号を出力する比較回路13と、この比較回路13の出力を受けてスイッチングする出力トランジスタ14とを備える。
【0006】
MR素子6は電源端子VCCに接続され、抵抗8は接地され、抵抗8とMR素子6の接続点11は比較回路13の反転入力端子に接続される。比較回路13の非反転入力端子は基準電圧を発生する抵抗9,10の接続点12に接続され、比較回路13の出力端子は出力トランジスタ14のベースに接続され、そのエミッタは接地される。出力トランジスタ14のコレクタは出力端子となり、コンピュータユニット20内で抵抗15を介して電源端子VCCに接続され、かつ比較回路16の反転入力端子に接続される。比較回路16の非反転入力端子は基準電圧(基準値17)を発生する抵抗18,19の分圧回路に接続されている。
【0007】
図24は歯車状磁性回転体が回転している時の図23の電気回路図の各部a,b,c,dのそれぞれの波形図a,b,c,dである。歯車状磁性回転体4が回転することで、MR素子6にはバイアス磁界変化が与えられ、ブリッジ回路7の接続点11には歯車状磁性回転体4の凹凸に対応した出力aが得られる。この出力aは比較回路13に供給され、比較レベルである基準値12と比較されて出力bとなり、2値信号cに変換され、この信号は更にコンピュータユニット20内で波形成形され、その立上り、立下りの急峻な2値信号出力dが得られる。このパルス状出力dをカウントする(図示せず)ことにより、歯車状磁性回転体4の回転角度が検出される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の磁気検出装置の出力トランジスタ14から得られる出力cあるいはコンピュータユニット20から得られる出力dの信号形態はローレベル、ハイレベルの2値であり、歯車状磁性回転体4の回転方向が正方向であっても、逆方向であっても同じ出力信号形態であるので、歯車状磁性回転体4の回転方向を検知することが出来ないという問題点があった。
【0009】
この発明は、前記のような問題点を解決しようとするもので、歯状磁性移動体の移動方向を検出可能な磁気検出装置を得ることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る磁気検出装置は、バイアス磁界を発生する磁石、この磁石のバイアス磁界中に、被検出対象である歯状磁性移動体に対向しその移動方向に並べて配置され、前記被検出対象の移動に応じるバイアス磁界の状態変化により抵抗変化を生じる第1,第2磁気抵抗効果素子体、前記第1磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第1抵抗変化出力回路、前記第2磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第2抵抗変化出力回路、及び、前記被検出対象の正方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力と前記第2抵抗変化出力回路の出力の相互の位相により、第1信号を出力し、この第1信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力によりハイレベル1とローレベル1のパルスを発生し、前記被検出対象の逆方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力と前記第2抵抗変化出力回路の出力の相互の位相により、第2信号を出力し、この第2信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力により、前記ハイレベル1と前記ローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2のパルスを発生する出力信号処理回路を備えたものである。
【0011】
また、バイアス磁界を発生する磁石、この磁石のバイアス磁界中に、被検出対象である歯状磁性移動体に対向しその移動方向に並べて配置され、前記被検出対象の移動に応じるバイアス磁界の状態変化により抵抗変化を生じる第1,第2磁気抵抗効果素子体、前記第1磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第1抵抗変化出力回路、前記第2磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第2抵抗変化出力回路、及び、前記被検出対象の正方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力の発生時期が前記第2抵抗変化出力回路の出力の発生時期より早くなることにより、第1信号を出力し、この第1信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力によりハイレベル1とローレベル1のパルスを発生し、前記被検出対象の逆方向への移動に基づく、前記第2抵抗変化回路出力の発生時期が前記第1抵抗変化出力回路の出力の発生時期より早くなることにより、第2信号を出力し、この第2信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力により、前記ハイレベル1と前記ローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2のパルスを発生する出力信号処理回路を備えたものである。
【0012】
さらにまた、出力信号処理回路は、第1抵抗変化出力回路の出力を出力トランジスタとDフリップフロップ回路のD端子に入力し、第2抵抗変化出力回路の出力を前記Dフリップフロップ回路のCL端子に入力し、前記Dフリップフロップ回路の出力と前記出力トランジスタの出力を組み合わせてパスルを発生するようにしたものである。
【0013】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1の磁気検出装置を示す構成図で、その(a)は正面図、その(b)は斜視図、その(c)は部分上面図である。図2はこの発明の実施の形態1の磁気検出装置の電気回路図、図3は図2の電気回路図の波形図である。この実施の形態1では、2個の第1,第2磁気抵抗効果素子(MR素子という)21,22を歯車状磁性回転体4に対向させ、その回転方向に並べて配置し、第1,第2MR素子21,22と抵抗で2つのブリッジ回路を構成した。なお、図22〜図24と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0014】
実施の形態1の磁気検出装置は、バイアス磁界を発生する直方体形状の磁石1と、この磁石1の上面に設けられ、磁気検出素子である2個の第1,第2MR素子21,22を一体的に構成したICチップ2を有している。磁気検出装置を歯車状磁性回転体4に対向し接近させ、第1,第2MR素子21,22を歯車状磁性回転体4の回転方向に並べて配置する。磁気検出装置の第1,第2MR素子21,22には、歯車状磁性回転体4の回転により、歯車状磁性回転体4の凹部と凸部とが交互に接近する。そのため磁石1から第1,第2MR素子21,22に印加される磁界が変化する。この磁界の変化は第1,第2MR素子21,22の抵抗変化となり、それぞれの電圧の変化として、2系統のブリッジ回路出力を得ることが可能となる。
【0015】
23は第1MR素子21と抵抗24,25,26で構成されるブリッジ回路で、第1MR素子21は、望ましくは定電圧、定電流の電源VCCに接続され、抵抗24は接地され、第1MR素子21と抵抗24の接続点27は第1比較回路29の反転入力端子に接続される。抵抗25,26の一端は電源VCCに接続され、他端は接地され、抵抗25,26の接続点28は基準電圧として、第1比較回路29の非反転入力端子に接続される。同様に30は第2MR素子22と抵抗31,32,33で構成されるブリッジ回路で、第2MR素子22は望ましくは定電圧、定電流の電源VCCに接続され、抵抗31は接地され、第2MR素子22と抵抗31の接続点34は第2比較回路36の反転入力端子に接続される。抵抗32,33の一端は電源VCCに接続され、他端は接地され、抵抗32,33の接続点35は基準電圧として、第2比較回路36の非反転入力端子に接続される。なお、この発明では、第1MR素子21と抵抗24で第1磁気抵抗効果素子体を構成し、第2MR素子22と抵抗31で第2磁気抵抗効果素子体を構成する。
【0016】
これらの2系統のブリッジ回路出力をそれぞれ第1,第2比較回路(第1,第2抵抗変化出力回路)29,36で矩形波に変換して、一方(第1比較回路29)の出力信号を、オープンコレクタ式出力トランジスタ37のベースとDフリップフロップ38のD端子に接続し、他方(第2比較回路36)の出力信号をCL端子に接続する。Dフリップフロップ38の出力端子をコレクタが抵抗39を介して電源端子VCCに接続されたトランジスタ40のベースに接続し、このトランジスタ40のエミッタは出力トランジスタ37のエミッタに接続し、抵抗41を介して接地されている。なお、Dフリップフロップ38は周知のもので、CL入力がL(ロー)のとき、D端子のレベルに関係なく、出力は前の状態を保ち、CL入力がH(ハイ)の立上がりエッジトリガでD端子がHならば出力をHにし、D端子がLならば出力をLにするものである。
【0017】
出力トランジスタ37の出力信号はコンピュータユニット42に伝達された後、コンピュータユニット42内で抵抗43を介して電源端子VCCに接続され、さらに2個の第3,第4比較回路44,45の反転入力端子に接続される。抵抗47,48の一端は電源VCCに接続され、他端は接地され、抵抗47,48の接続点49は比較レベル1(基準電圧)として、第3比較回路44の非反転入力端子に接続される。同様に、抵抗50,51の一端は電源VCCに接続され、他端は接地され、抵抗50,51の接続点52は比較レベル2(基準電圧)として、第4比較回路45の非反転入力端子に接続される。これらの第3,第4比較回路44,45の比較レベル1,2は異なった値で、比較レベル1>比較レベル2に設定されているため、第3,第4比較回路44,45の出力信号は異なったものとなる。なお、出力トランジスタ37〜接続点52で、第1,第2比較回路29,36の出力信号処理回路を構成する。
【0018】
次に動作について説明する。図3は図2の電気回路図の各部c〜jの波形c〜jを示す波形図であり、その(a) は歯車状磁性回転体4が正転した時、その(b)は逆転した時のものである。正転時(a)はMR素子21の方がMR素子22より歯車状磁性回転体4が早く近づくため、MR素子21側ブリッジ回路23の信号cによる第1比較回路29の出力eの方が、MR素子22側ブリッジ回路30の信号dによる第2比較回路36の出力fより、位相(発生時期)が早くなる。
【0019】
そのため、立上がりエッジトリガタイプのDフリップフロップ38を用いた場合、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベル(第1信号)となる。Dフリップフロップ38の出力に接続されたトランジスタ40はオン状態となり、出力トランジスタ37のエミッタとグランド間に接続された抵抗41に電流を供給する。出力トランジスタ37がオフの時は正転時、逆転時にかかわらず、出力hレベルはコンピュータユニット42内の電源端子VCCの電圧で決定されるハイレベルとなるが、オン状態では出力トランジスタ37が供給する電流とDフリップフロップ38の出力に接続されたトランジスタ40から供給される電流の和と出力トランジスタ37のエミッタとグランド間に接続された抵抗41の積で決定されるローレベル1 となる。
【0020】
これに対し、逆転時(b)はMR素子22の方がMR素子21より歯車状磁性回転体4が早く近づくため、MR素子22側ブリッジ回路30の信号dによる第2比較回路36の出力fの方が、MR素子21側ブリッジ回路23の信号cによる第1比較回路29の出力eより、位相(発生時期)が早くなる。このため、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベル(第2信号)となり、Dフリップフロップ38の出力に接続されたトランジスタ40はオフ状態となり、トランジスタ40を通して出力トランジスタ37のエミッタとグランド間に接続された抵抗41に電流を供給できない。よって、出力hレベルは、出力トランジスタ37がオン状態の時は出力トランジスタ37が供給する電流と出力トランジスタ37のエミッタとグランド間に接続された抵抗41の積で決定されるローレベル2となる。このときの出力hレベルは3値をとり、この大小関係はハイレベル>ローレベル1>ローレベル2となるので、シンプルな回路で情報量を増やすことが可能となる。
【0021】
以上より、Dフリップフロップ38の出力gは、正転時はハイレベル(第1信号)となり、逆転時はローレベル(第2信号)となる。したがって、Dフリップフロップ38の出力gの値により、回転方向検知が可能となる。また、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベルとローレベル1の2値信号パルス、逆転時はハイレベルとローレベル2の2値信号パルスとなるので、ローレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。
【0022】
さらに、出力トランジスタ37の出力hをコンピュータユニット42に加え、コンピュータユニット42の第3比較回路44の比較レベル1をハイレベルとローレベル1の間に設定し、第4比較回路45の比較レベル2をローレベル1 とローレベル2の間に設定することにより、回転方向検知が可能となる。すなわち、第4比較回路45の出力jに信号が現れない場合が正転時で、現れる場合が逆転時である。なお、第3比較回路44の出力iには、正転時と逆転時にともに信号が現れる。
【0023】
また、図3の波形図から分かるように、歯車状磁性回転体4の歯の位置に対応したMR素子21側ブリッジ回路23の信号c(パルス)は、回転方向にかかわらず出力トランジスタ37の出力hのパルスと同期しているので、出力hのパルスから歯車状磁性回転体4の対向状態(突起部が対向してるか、非突起部が対向しているか)を認識することが可能となり、このような機能が要求される制御システムにおいては有益である。
【0024】
また、MR素子としてGMR素子を用いることにより、ブリッジ回路出力を大きくすることができ、歯車状磁性回転体4と磁気検出装置間距離が大きな場合でも検出可能になり、装置の特性が向上する。先にも述べたようにMR素子のMR変化率は2〜6%であるが、GMR素子のそれは約30%なので、ブリッジ回路出力は5〜15倍となる。
【0025】
実施の形態2.
図4はこの発明の実施の形態2の磁気検出装置を示す構成図で、その(a)は正面図、その(b)は斜視図、その(c)は部分上面図である。図5はこの発明の実施の形態2の磁気検出装置の電気回路図、図6は図5の電気回路図の波形図である。実施の形態2では、3個の第1,第2,第3 磁気抵抗効果素子(MR素子という)61,62,63を歯車状磁性回転体4に対向させ、その回転方向に並べて配置した。なお、図22〜図24、図1〜図3と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0026】
両端に配置された第1,第2MR素子61,62と抵抗25,26で、図5のように1つめのブリッジ回路23を構成した。中央に配置された第3MR素子63と抵抗31,32,33で2つめのブリッジ回路30を構成した。
【0027】
正転時、MR素子61→MR素子63→MR素子62の順で抵抗が低下するので、接続点27,34の波形はそれぞれ図6(a)のc,dとなる。これらにより第1,第2比較回路29,36の出力波形は図6(a)のe,fとなる。出力eと出力fの位相により、すなわち出力fの立ち上がり時、出力eはハイレベルであるので、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベル(第1信号)となる。実施の形態1と同様に、図5の各部g,h,i,jは、その波形が、図6(a)のg,h,i,jとなる。
【0028】
逆転時、MR素子62→MR素子63→MR素子61の順で抵抗が低下するので、接続点27,34の波形はそれぞれ図6(b)のc,dとなる。これらにより第1,第2比較回路29,36の出力波形は図6(b)のe,fとなる。出力eと出力fの位相により、すなわち出力fの立ち上がり時、出力eはローレベルであるので、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベル(第2信号)となる。これらにより図5の各部g,h,i,jは、その波形が、図6(b)のg,h,i,jとなる。
【0029】
以上より、Dフリップフロップ38の出力gは、正転時はハイレベル(第1信号)となり、逆転時はローレベル(第2信号)となる。したがって、Dフリップフロップ38の出力gの値により、回転方向検知が可能となる。また、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベルとローレベル1の2値信号パルス、逆転時はハイレベルとローレベル2の2値信号パルスとなるので、ローレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。
【0030】
さらに、出力トランジスタ37の出力hをコンピュータユニット42に加え、コンピュータユニット42の第3比較回路44の比較レベル1をハイレベルとローレベル1の間に設定し、第4比較回路45の比較レベル2をローレベル1 とローレベル2の間に設定することにより、回転方向検知が可能となる。すなわち、第4比較回路45の出力jに信号が現れない場合が正転時で、現れる場合が逆転時である。なお、第3比較回路44の出力iには、正転時と逆転時にともに信号が現れる。
【0031】
実施の形態3.
図7はこの発明の実施の形態3の磁気検出装置を示す構成図で、その(a)は正面図、その(b)は斜視図、その(c)は部分上面図である。図8はこの発明の実施の形態3の磁気検出装置の電気回路図、図9は図8の電気回路図の波形図である。実施の形態3では、4個の第1,第2,第3 ,第4磁気抵抗効果素子(MR素子という)71,72,73,74を歯車状磁性回転体4に対向させ、その回転方向に並べて配置した。図7の(c)に示すように、中央に配置する2つのMR素子72,73は近接させ、これらのMR素子72,73を挟んで両側にMR素子71,74配置して、ICチップ2上で第1〜第4MR素子71〜74が占める面積を小さくする。なお、図22〜図24、図1〜図6と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0032】
一端と中央に配置された第1,第2MR素子71,72と抵抗25,26で、図8のように1つめのブリッジ回路23を構成した。中央と他端に配置された第3,第4MR素子73,74と抵抗32,33で2つめのブリッジ回路30を構成した。
【0033】
正転時、MR素子71→MR素子72→MR素子73→MR素子74の順で抵抗が低下するので、接続点27,34の波形はそれぞれ図9(a)のc,dとなる。これらにより第1,第2比較回路29,36の出力波形は図9のe,fとなる。出力eと出力fの位相により、すなわち出力fの立ち上がり時、出力eはハイレベルであるので、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベル(第1信号)となる。実施の形態1と同様に、図8の各部g,h,i,jは、その波形が、図9(a)のg,h,i,jとなる。
【0034】
逆転時、MR素子74→MR素子73→MR素子72→MR素子71の順で抵抗が低下するので、接続点27,34の波形はそれぞれ図9(b)のc,dとなる。これらにより第1,第2比較回路29,36の出力波形は図9(b)のe,fとなる。出力eと出力fの位相により、すなわち出力fの立ち上がり時、出力eはローレベルであるので、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベル(第2信号)となる。これらにより図8の各部g,h,i,jは、その波形が、図9(b)のg,h,i,jとなる。
【0035】
以上より、Dフリップフロップ38の出力gは、正転時はハイレベル(第1信号)となり、逆転時はローレベル(第2信号)となる。したがって、Dフリップフロップ38の出力gの値により、回転方向検知が可能となる。また、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベルとローレベル1の2値信号パルス、逆転時はハイレベルとローレベル2の2値信号パルスとなるので、ローレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。
【0036】
さらに、出力トランジスタ37の出力hをコンピュータユニット42に加え、コンピュータユニット42の第3比較回路44の比較レベル1をハイレベルとローレベル1の間に設定し、第4比較回路45の比較レベル2をローレベル1 とローレベル2の間に設定することにより、回転方向検知が可能となる。すなわち、第4比較回路45の出力jに信号が現れない場合が正転時で、現れる場合が逆転時である。なお、第3比較回路44の出力iには、正転時と逆転時にともに信号が現れる。
【0037】
また、実施の形態3では、磁気抵抗効果素子体として、同じ温度特性のMR素子2個を用いて構成しているため、温度特性の良い磁気検出装置を得ることができる。つまり、MR素子と抵抗のように温度係数差があると、ブリッジ回路出力に温度ドリフトが生じてしまうという問題を解消できる。
【0038】
実施の形態4
図10はこの発明の実施の形態4の磁気検出装置の電気回路図、図11は図10の電気回路図の波形図である。図10では、実施の形態1の図2における回路構成の一部を変えたものである。変えた部分は、トランジスタ40と出力トランジスタ37部分であり、それらを中心に説明する。なお、図22〜図24、図1〜図3と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0039】
Dフリップフロップ38の出力端子は、トランジスタ40のベースに接続される。このトランジスタ40のコレクタは抵抗75を介して出力トランジスタ37のコレクタに接続され、エミッタは出力トランジスタ37のエミッタと共に接地されている。図11(a)は正転時の波形図であり、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベルとなるので、トランジスタ40はオン状態となり、コンピュータユニット42の電源端子VCCから電流I1 が流入する。出力トランジスタ37がオンのときは、正転時、逆転時にかかわらず、出力hは出力トランジスタ37の飽和電圧で決定されるローレベルとなるが、出力トランジスタ37がオフのときは、Dフリップフロップ38の出力に接続されたトランジスタ40に流入する電流I1 と抵抗43Rの積だけVCCより小さいハイレベル1となる。
【0040】
これに対して、逆転時は、図11(b)に示すように、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベルとなるので、トランジスタ40はオフ状態となる。そのため、出力トランジスタ37がオフのときは、トランジスタ40に電流が流入しないので、出力hはハイレベル2(=VCC)となる。
このときの出力hは、正転時、逆転時で異なる3値となり、大小関係はハイレベル2>ハイレベル1>ローレベルとなるので、シンプルな回路で情報量を増やすことができる。
【0041】
以上により、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベル1とローレベルの2値信号パルス、逆転時はハイレベル2とローレベルの2値信号パルスとなるので、ハイレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。
【0042】
さらに、出力トランジスタ37の出力hをコンピュータユニット42に加え、コンピュータユニット42の第3比較回路44の比較レベル1をハイレベル1とローレベルの間に設定し、第4比較回路45の比較レベル2をハイレベル1 とハイレベル2の間に設定することにより、回転方向検知が可能となる。すなわち、第4比較回路45の出力jに信号が現れない場合が正転時で、現れる場合が逆転時である。なお、第3比較回路44の出力iには、正転時と逆転時にともに信号が現れる。
なお、その他の作用効果は、実施の形態1と同様であるので、省略する。
【0043】
実施の形態5.
図12はこの発明の実施の形態5の磁気検出装置の電気回路図、図13は図12の電気回路図の波形図である。図12では、実施の形態2の図5における回路構成の一部を変えたものである。変えた部分は、トランジスタ40と出力トランジスタ37部分であり、実施の形態4と同じである。なお、図1〜図6,図10,11と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0044】
図13(a)は正転時の波形図であり、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベルとなるので、トランジスタ40はオン状態となる。出力トランジスタ37がオンのときは、出力hは出力トランジスタ37の飽和電圧で決定されるローレベルとなるが、出力トランジスタ37がオフのときは、ハイレベル1となる。
【0045】
これに対して、逆転時は、図13(b)に示すように、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベルとなるので、トランジスタ40はオフ状態となる。そのため、出力トランジスタ37がオフのときは、トランジスタ40に電流が流入しないので、出力hはハイレベル2(=VCC)となる。
このときの出力hは、正転時、逆転時で異なる3値となり、大小関係はハイレベル2>ハイレベル1>ローレベルとなるので、シンプルな回路で情報量を増やすことができる。
【0046】
以上により、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベル1とローレベルの2値信号パルス、逆転時はハイレベル2とローレベルの2値信号パルスとなるので、ハイレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。
なお、その他の作用効果は、実施の形態4と同様であるので、省略する。
【0047】
実施の形態6.
図14はこの発明の実施の形態6の磁気検出装置の電気回路図、図15は図14の電気回路図の波形図である。図14では、実施の形態3の図8における回路構成の一部を変えたものである。変えた部分は、トランジスタ40と出力トランジスタ37部分であり、実施の形態4と同じである。なお、図1〜図6,図10,11と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0048】
図15(a)は正転時の波形図であり、図15(b)は逆転時の波形である。このときの出力hは、正転時、逆転時で異なる3値となり、大小関係はハイレベル2>ハイレベル1>ローレベルとなるので、シンプルな回路で情報量を増やすことができる。
以上により、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベル1とローレベルの2値信号パルス、逆転時はハイレベル2とローレベルの2値信号パルスとなるので、ハイレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。
なお、その他の作用効果は、実施の形態4と同様であるので、省略する。
【0049】
実施の形態7.
図16はこの発明の実施の形態7の磁気検出装置の電気回路図、図17は図16の電気回路図の波形図である。実施の形態7では、実施の形態1に対して、図2の回路構成を図16のように一部を変えたものであり、変更部分を中心に説明する。ブリッジ回路23,30の一端は、コンピュータユニット42の入力端76に接続される。出力トランジスタ37のコレクタは、抵抗77を介して電源VCCに接続される。出力トランジスタ37のエミッタとトランジスタ40のエミッタはそれぞれコンピュータユニット42の入力端76に接続される。電源VCCからブリッジ回路23,30を経由、出力トランジスタ37を経由、及びトランジスタ40を経由した電流は、すべてコンピュータユニット42の入力端76に流入する2線式である。コンピュータユニット42の入力端76は、抵抗78を介して接地され、さらに、2つの比較回路44,45に接続される。なお、図22〜図24、図1〜図3と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0050】
次に動作について説明する。図17(a)は歯車状磁性回転体4が正転時、図17(b)は逆転時の各部の波形図である。正転時は、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベルとなるので、トランジスタ40はオン状態となり、コンピュータユニット42に設けられた抵抗78Rに電流I1 を供給する。これに対して、逆転時は、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベルとなるので、トランジスタ40はオフ状態となり、コンピュータユニット42に設けられた抵抗78Rに電流を供給しない。
【0051】
また、出力トランジスタ37がオフのときは、正転時,逆転時にかかわらず、コンピュータユニット42に設けられた抵抗78Rに電流を供給せず、オンのときは、正転時,逆転時にかかわらず、コンピュータユニット42に設けられた抵抗78Rに電流I2 を供給する。
【0052】
そのため、出力トランジスタ37の出力h(コンピュータユニット42の入力端76の入力電圧h)は、正転時は次の式で求まる2値となる。
ハイレベル1=(I1 + I2 +その他の回路電流)×R ----(1)
ローレベル1=(I1 + その他の回路電流)×R ----(2)
逆転時は次の式で求まる2値となる。
ハイレベル2=(I2 + その他の回路電流)×R ----(3)
ローレベル2=(その他の回路電流)×R ----- (4)
このように、実施の形態7では、出力hレベルは、互いに異なる4値となり、この大小関係は、ハイレベル1>ハイレベル2>ローレベル1>ローレベル2となるので、シンプルな回路で情報量を増やすことができる。
【0053】
以上より、Dフリップフロップ38の出力gは、正転時はハイレベル(第1信号)となり、逆転時はローレベル(第2信号)となる。したがって、Dフリップフロップ38の出力gの値により、回転方向検知が可能となる。また、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベル1とローレベル1の2値信号パルス、逆転時はハイレベル2とローレベル2の2値信号パルスとなるので、ハイレベル1,2、ローレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。
【0054】
さらに、出力トランジスタ37の出力hをコンピュータユニット42に加え、第3比較回路44の比較レベル1をハイレベル2とローレベル1の間に設定し、第4比較回路45の比較レベル2をローレベル1 とローレベル2の間に設定することにより、回転方向検知が可能となる。すなわち、第4比較回路45の出力jに信号が現れない場合が正転時で、現れる場合が逆転時である。なお、第3比較回路44の出力iには、正転時と逆転時にともに信号が現れる。
【0055】
また、図17の波形図から分かるように、歯車状磁性回転体4の歯の位置に対応したMR素子21側ブリッジ回路23の信号c(パルス)は、回転方向にかかわらず出力トランジスタ37の出力hのパルスと同期(位相は逆転)しているので、出力hのパルスから歯車状磁性回転体4の対向状態(突起部が対向してるか、非突起部が対向しているか)を認識することが可能となり、このような機能が要求される制御システムにおいては有益である。
【0056】
また、MR素子としてGMR素子を用いることにより、ブリッジ回路出力を大きくすることができ、歯車状磁性回転体4と磁気検出装置間距離が大きな場合でも検出可能になり、装置の特性が向上する。先にも述べたようにMR素子のMR変化率は2〜6%であるが、GMR素子のそれは約30%なので、ブリッジ回路出力は5〜15倍となる。
【0057】
実施の形態8.
図18はこの発明の実施の形態8の磁気検出装置の電気回路図、図19は図18の電気回路図の波形図である。実施の形態8では、実施の形態7に対して、ブリッジ回路23,30部分を、実施の形態2の図4と同様に配置されたMR素子61,62,63を用いて、図5のように結線したブリッジ回路23,30に置き換えたものである。なお、図1〜図6,図16,17と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0058】
図19(a)は正転時の波形図であり、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベルとなるので、トランジスタ40はオン状態となる。逆転時は、図19(b)に示すように、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベルとなるので、トランジスタ40はオフ状態となる。したがって、出力トランジスタ37の出力h(コンピュータユニット42の入力端76の入力電圧h)は、実施の形態7と同様に、正転時はハイレベル1とローレベル1の2値のパルスとなり、逆転時はハイレベル2とローレベル2の2値のパルスとなる。
このように、実施の形態8では、出力hレベルは、互いに異なる4値となり、この大小関係は、ハイレベル1>ハイレベル2>ローレベル1>ローレベル2となるので、シンプルな回路で情報量を増やすことができる。
【0059】
以上により、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベル1とローレベル1の2値信号パルス、逆転時はハイレベル2とローレベル2の2値信号パルスとなるので、ハイレベル1,2、ローレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。なお、その他の作用効果は、実施の形態7と同様であるので、省略する。
【0060】
実施の形態9.
図20はこの発明の実施の形態9の磁気検出装置の電気回路図、図21は図20の電気回路図の波形図である。実施の形態9では、実施の形態7に対して、ブリッジ回路23,30部分を、実施の形態3の図7と同様に配置されたMR素子71,72,73,74を用いて、図8のように結線したブリッジ回路23,30に置き換えたものである。なお、図1〜図9,図16,17と図中同一符号は、同一又は相当部分を示す。
【0061】
図21(a)は正転時の波形図であり、Dフリップフロップ38の出力gは常にハイレベルとなるので、トランジスタ40はオン状態となる。逆転時は、図21(b)に示すように、Dフリップフロップ38の出力gは常にローレベルとなるので、トランジスタ40はオフ状態となる。したがって、出力トランジスタ37の出力h(コンピュータユニット42の入力端76の入力電圧h)は、実施の形態7と同様に、正転時はハイレベル1とローレベル1の2値のパルスとなり、逆転時はハイレベル2とローレベル2の2値のパルスとなる。
このように、実施の形態9では、出力hレベルは、互いに異なる4値となり、この大小関係は、ハイレベル1>ハイレベル2>ローレベル1>ローレベル2となるので、シンプルな回路で情報量を増やすことができる。
【0062】
以上により、出力トランジスタ37の出力hレベルは、正転時はハイレベル1とローレベル1の2値信号パルス、逆転時はハイレベル2とローレベル2の2値信号パルスとなるので、ハイレベル1,2、ローレベル1,2の値により、回転方向検知が可能となる。なお、その他の作用効果は、実施の形態7と同様であるので、省略する。
【0063】
なお、各実施の形態では、歯車状磁性回転体を基に説明したが、回転体でなく、長手状移動体で凹凸の歯を有する歯状磁性移動体にも同様に適用でき、移動方向を検出できる。
【0064】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明の磁気検出装置によれば、バイアス磁界を発生する磁石、この磁石のバイアス磁界中に、被検出対象である歯状磁性移動体に対向しその移動方向に並べて配置され、前記被検出対象の移動に応じるバイアス磁界の状態変化により抵抗変化を生じる第1,第2磁気抵抗効果素子体、前記第1磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第1抵抗変化出力回路、前記第2磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第2抵抗変化出力回路、及び、前記被検出対象の正方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力と前記第2抵抗変化出力回路の出力の相互の位相により、第1信号を出力し、この第1信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力によりハイレベル1とローレベル1のパルスを発生し、前記被検出対象の逆方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力と前記第2抵抗変化出力回路の出力の相互の位相により、第2信号を出力し、この第2信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力により、前記ハイレベル1と前記ローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2のパルスを発生する出力信号処理回路を備えたので、ハイレベル1とローレベル1のパルス及びハイレベル2とローレベル2のパルスにより、歯状磁性移動体の移動方向検知が可能となる。しかもハイレベル1とローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2であるので、少なくとも異なる3値であり、システムを制御するための情報量が多くなる。
【0065】
また、バイアス磁界を発生する磁石、この磁石のバイアス磁界中に、被検出対象である歯状磁性移動体に対向しその移動方向に並べて配置され、前記被検出対象の移動に応じるバイアス磁界の状態変化により抵抗変化を生じる第1,第2磁気抵抗効果素子体、前記第1磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第1抵抗変化出力回路、前記第2磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第2抵抗変化出力回路、及び、前記被検出対象の正方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力の発生時期が前記第2抵抗変化出力回路の出力の発生時期より早くなることにより、第1信号を出力し、この第1信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力によりハイレベル1とローレベル1のパルスを発生し、前記被検出対象の逆方向への移動に基づく、前記第2抵抗変化回路出力の発生時期が前記第1抵抗変化出力回路の出力の発生時期より早くなることにより、第2信号を出力し、この第2信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力により、前記ハイレベル1と前記ローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2のパルスを発生する出力信号処理回路を備えたので、ハイレベル1とローレベル1のパルス及びハイレベル2とローレベル2のパルスにより、歯状磁性移動体の移動方向検知が可能となる。しかもハイレベル1とローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2であるので、少なくとも異なる3値であり、システムを制御するための情報量が多くなる。
【0066】
さらにまた、出力信号処理回路は、第1抵抗変化出力回路の出力を出力トランジスタとDフリップフロップ回路のD端子に入力し、第2抵抗変化出力回路の出力を前記Dフリップフロップ回路のCL端子に入力し、前記Dフリップフロップ回路の出力と前記出力トランジスタの出力を組み合わせてパスルを発生するようにしたので、簡単な回路構成で移動方向を検出できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態1の磁気検出装置を示す構成図である。
【図2】この発明の実施の形態1の磁気検出装置の電気回路図である。
【図3】図2の電気回路図の波形図である。
【図4】この発明の実施の形態2の磁気検出装置を示す構成図である
【図5】この発明の実施の形態2の磁気検出装置の電気回路図である。
【図6】図5の電気回路図の波形図である。
【図7】この発明の実施の形態3の磁気検出装置を示す構成図である
【図8】この発明の実施の形態3の磁気検出装置の電気回路図である。
【図9】図8の電気回路図の波形図である。
【図10】この発明の実施の形態4の磁気検出装置の電気回路図である
【図11】図10の電気回路図の波形図である。
【図12】この発明の実施の形態5の磁気検出装置の電気回路図である。
【図13】図12の電気回路図の波形図である。
【図14】この発明の実施の形態6の磁気検出装置の電気回路図である。
【図15】図14の電気回路図の波形図である。
【図16】この発明の実施の形態7の磁気検出装置の電気回路図である。
【図17】図16の電気回路図の波形図である。
【図18】この発明の実施の形態8の磁気検出装置の電気回路図である。
【図19】図18の電気回路図の波形図である。
【図20】でこの発明の実施の形態9の磁気検出装置の電気回路図ある。
【図21】図20の電気回路図の波形図である。
【図22】従来の磁気検出装置の構成図である。
【図23】従来の磁気検出装置の電気回路図である。
【図24】図23の電気回路図の波形図である。
【符号の説明】
1 磁石 2 ICチップ
4 歯車状磁性回転体 21 第1磁気抵抗効果素子
22 第2磁気抵抗効果素子 23 ブリッジ回路
29 第1比較回路 30 ブリッジ回路
36 第2比較回路 37 出力トランジスタ
38 Dフリップフロップ 40 トランジスタ
42 コンピュータユニット 44 第3比較回路
45 第4比較回路 61 磁気抵抗効果素子
62 磁気抵抗効果素子 63 磁気抵抗効果素子
71 磁気抵抗効果素子 72 磁気抵抗効果素子
73 磁気抵抗効果素子 74 磁気抵抗効果素子。

Claims (3)

  1. バイアス磁界を発生する磁石、
    この磁石のバイアス磁界中に、被検出対象である歯状磁性移動体に対向しその移動方向に並べて配置され、前記被検出対象の移動に応じるバイアス磁界の状態変化により抵抗変化を生じる第1,第2磁気抵抗効果素子体、
    前記第1磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第1抵抗変化出力回路、
    前記第2磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第2抵抗変化出力回路、及び、前記被検出対象の正方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力と前記第2抵抗変化出力回路の出力の相互の位相により、第1信号を出力し、この第1信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力によりハイレベル1とローレベル1のパルスを発生し、
    前記被検出対象の逆方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力と前記第2抵抗変化出力回路の出力の相互の位相により、第2信号を出力し、この第2信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力により、前記ハイレベル1と前記ローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2のパルスを発生する出力信号処理回路
    を備えた磁気検出装置。
  2. バイアス磁界を発生する磁石、
    この磁石のバイアス磁界中に、被検出対象である歯状磁性移動体に対向しその移動方向に並べて配置され、前記被検出対象の移動に応じるバイアス磁界の状態変化により抵抗変化を生じる第1,第2磁気抵抗効果素子体、
    前記第1磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第1抵抗変化出力回路、
    前記第2磁気抵抗効果素子体の抵抗変化を出力する第2抵抗変化出力回路、及び、前記被検出対象の正方向への移動に基づく、前記第1抵抗変化出力回路の出力の発生時期が前記第2抵抗変化出力回路の出力の発生時期より早くなることにより、第1信号を出力し、この第1信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力によりハイレベル1とローレベル1のパルスを発生し、
    前記被検出対象の逆方向への移動に基づく、前記第2抵抗変化回路出力の発生時期が前記第1抵抗変化出力回路の出力の発生時期より早くなることにより、第2信号を出力し、この第2信号出力と前記抵抗変化出力回路の出力により、前記ハイレベル1と前記ローレベル1の少なくともいずれかを異にするハイレベル2とローレベル2のパルスを発生する出力信号処理回路
    を備えた磁気検出装置。
  3. 出力信号処理回路は、第1抵抗変化出力回路の出力を出力トランジスタとDフリップフロップ回路のD端子に入力し、第2抵抗変化出力回路の出力を前記Dフリップフロップ回路のCL端子に入力し、前記Dフリップフロップ回路の出力と前記出力トランジスタの出力を組み合わせてパスルを発生するようにした請求項1又は請求項2記載の磁気検出装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007059500A1 (de) 2007-08-06 2009-02-19 Mitsubishi Electric Corp. Kurbelwinkel-Erfassungseinrichtung für einen Verbrennungsmotor
DE102010020027A1 (de) 2009-10-30 2011-05-05 Mitsubishi Electric Corp. Magnetische Detektionsvorrichtung
JP2011169713A (ja) * 2010-02-18 2011-09-01 Panasonic Corp 回転方向検出機能付き回転数センサ

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7045997B2 (en) * 2002-07-23 2006-05-16 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Magnetic detection apparatus
FR2842913B1 (fr) * 2002-07-23 2004-11-19 Schlumberger Services Petrol Dispositif compact de mesure de vitesse et de sens de rotation d'un objet
JP4214799B2 (ja) * 2003-02-27 2009-01-28 アイシン精機株式会社 回転検出装置
US20050007103A1 (en) * 2003-07-08 2005-01-13 Thaddeus Schroeder Sensor assembly for sensing direction of rotation and/or position of an object
JP3987826B2 (ja) 2003-11-26 2007-10-10 三菱電機株式会社 回転検出装置
JP2005345384A (ja) * 2004-06-04 2005-12-15 Mitsubishi Electric Corp 回転状態検出装置および回転状態検出方法
JP4229877B2 (ja) * 2004-06-08 2009-02-25 三菱電機株式会社 磁気検出装置
US7289932B2 (en) * 2004-11-24 2007-10-30 Bosch Rexroth Corporation Angular position, speed and direction encoding of a rotating member
US7425824B2 (en) * 2005-05-20 2008-09-16 Honeywell International Inc. Magnetoresistive sensor
JP4519038B2 (ja) * 2005-09-07 2010-08-04 三菱電機株式会社 回転状態検出装置
JP2007139709A (ja) * 2005-11-22 2007-06-07 Mitsubishi Electric Corp 磁気検出装置
JP4213163B2 (ja) * 2006-01-20 2009-01-21 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP2007198843A (ja) * 2006-01-25 2007-08-09 Mitsubishi Electric Corp 磁気検出装置
JP2007212292A (ja) 2006-02-09 2007-08-23 Mitsubishi Electric Corp 磁気検出装置
JP4317855B2 (ja) * 2006-02-15 2009-08-19 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP4129030B2 (ja) * 2006-06-08 2008-07-30 三菱電機株式会社 磁気検出装置
KR100872091B1 (ko) * 2007-04-26 2008-12-05 에스앤티대우(주) 상대변위 측정 센서모듈 및 이를 이용한 이동방향 감지방법
JP4862760B2 (ja) * 2007-06-22 2012-01-25 株式会社デンソー 検出信号処理回路
DE102007029819B4 (de) * 2007-06-28 2012-02-02 Infineon Technologies Ag Sensor und Sensoranordnung
JP4489105B2 (ja) * 2007-07-27 2010-06-23 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP4382838B2 (ja) 2007-07-27 2009-12-16 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP4941367B2 (ja) * 2008-03-13 2012-05-30 株式会社デンソー 磁気検出装置
DE102008015861A1 (de) * 2008-03-26 2009-10-01 Continental Teves Ag & Co. Ohg Sensoranordnung
US9222310B2 (en) * 2008-04-14 2015-12-29 Latjet Systems Llc Method and apparatus for lateral well drilling with enhanced capability for clearing cuttings and other particles
JP4646044B2 (ja) 2008-06-09 2011-03-09 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP4859903B2 (ja) 2008-10-23 2012-01-25 三菱電機株式会社 移動方向検出装置
DE102010002546B4 (de) 2009-03-05 2018-05-09 Denso Corporation Signalverarbeitungsschaltkreis eines Rotationsdetektors und Rotationswinkeldetektor
KR102008496B1 (ko) * 2013-03-25 2019-08-07 삼성전자주식회사 단일 센서를 이용하여 기구물의 이동 방향 및 속도를 검출하는 방법 및 장치.
FR3033051B1 (fr) * 2015-02-24 2017-02-10 Continental Automotive France Procede et dispositif de traitement d'un signal produit par un capteur de rotation d'une cible tournante
JP6197839B2 (ja) * 2015-08-11 2017-09-20 Tdk株式会社 回転検出装置
DE102016111984B4 (de) * 2016-06-30 2021-12-23 Infineon Technologies Ag Magnetsensorbauelemente und Verfahren zum Bestimmen einer Rotationsrichtung einer magnetischen Komponente um eine Rotationsachse

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0781807B2 (ja) * 1985-11-05 1995-09-06 ソニー株式会社 位置検出装置
JP2974349B2 (ja) 1989-12-25 1999-11-10 株式会社日本自動車部品総合研究所 磁気検出装置
JPH03246401A (ja) 1990-02-26 1991-11-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回転角度検出装置
JP2980215B2 (ja) 1992-03-04 1999-11-22 シーケーディ 株式会社 磁気センサ
DE19618867A1 (de) 1995-08-26 1997-02-27 Bosch Gmbh Robert System zur Veränderung eines Drehzahlsignals
JPH10227809A (ja) * 1997-02-18 1998-08-25 Toyota Motor Corp 回転状態検出装置
JP3726418B2 (ja) 1997-04-18 2005-12-14 株式会社デンソー 回転検出装置
JP3246401B2 (ja) 1997-07-15 2002-01-15 日本電気株式会社 ヘテロ接合バイポーラトランジスタ
JP3254676B2 (ja) 1997-08-06 2002-02-12 トヨタ自動車株式会社 回転方向検出装置
JPH1151699A (ja) * 1997-08-06 1999-02-26 Toyota Motor Corp 回転検出装置
US5898965A (en) 1997-11-17 1999-05-04 Chuang; Louis Inflation and repair device for bicycle tires
DE19906937A1 (de) 1999-02-19 2000-09-14 Mannesmann Vdo Ag Drehzahlgeber
US6320374B1 (en) * 1999-06-24 2001-11-20 Delphi Technologies, Inc. Angular position and angular direction sensor

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007059500A1 (de) 2007-08-06 2009-02-19 Mitsubishi Electric Corp. Kurbelwinkel-Erfassungseinrichtung für einen Verbrennungsmotor
JP2009041375A (ja) * 2007-08-06 2009-02-26 Mitsubishi Electric Corp 内燃機関のクランク角度検出装置
JP4514776B2 (ja) * 2007-08-06 2010-07-28 三菱電機株式会社 内燃機関のクランク角度検出装置
DE102010020027A1 (de) 2009-10-30 2011-05-05 Mitsubishi Electric Corp. Magnetische Detektionsvorrichtung
JP2011117731A (ja) * 2009-10-30 2011-06-16 Mitsubishi Electric Corp 磁気検出装置
JP2011169713A (ja) * 2010-02-18 2011-09-01 Panasonic Corp 回転方向検出機能付き回転数センサ

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