JP3577117B2 - 有機エレクトロルミネセンス素子の製法 - Google Patents

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    • H10K50/844Encapsulations

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は有機エレクトロルミネセンス(EL)素子に係り、特にその寿命を長くするための保護膜の製法に関する。
【0002】
【従来の技術】
有機EL素子は、薄形の新しい発光源として注目されている。従来の有機EL素子は、図3に示す如く、ガラス基板10上にITOからなる透明電極1を形成し、この上に正孔注入輸送層2、発光層3、電子注入輸送層4、陰極5等を形成することにより構成されている。
【0003】
正孔注入輸送層2としては、例えば下記化1で表されるテトラアリールジアミン誘導体や、それ以外の芳香族三級アミン、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有するオキサジアゾール誘導体、ポリチオフェン等を使用する。
【0004】
【化1】
Figure 0003577117
【0005】
化1において、R1 、R2 、R3 及びR4 はそれぞれアリール基、アルキル基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アミノ基又はハロゲン原子を表す。r1、r2、r3及びr4は、それぞれ0又は1〜5の整数である。R5 及びR6 は、アルキル基、アルコキシ基、アミノ基又はハロゲン原子を表し、これらは同一でも異なるものであってもよい。r5及びr6はそれぞれ0又は1〜4の整数である。
発光層3としては、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム等の金属錯体色素、テトラフェニルブタジェン、アントラセン、ペリレン、コロネン、12−フタロペリノン誘導体、キナクリドン、ルブレン、スチリル系色素等の有機蛍光体や前記化1で示すテトラアリールジアミン誘導体と、後述する電子注入輸送層4で使用される化合物、例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウムとの混合物などが使用される。
【0006】
電子注入輸送層4としては、例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウム等の金属錯体色素、オキサジアゾール誘導体、ペリレン誘導体、ピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、キノリン誘導体、キノキサリン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、ニトロ置換フルオロレン誘導体等が使用される。陰極5としては、仕事関数の小さい材料、例えばLi、Na、Mg、Al、Ag、In、あるいはこれらの1種以上を含む合金例えばMgAg(例えば重量比10:1)、MgIn等を使用する。
【0007】
ところで、前記の如く構成された有機EL素子は、最初は強く発光しているが、時間が経過するにつれて発光強度が急速に減少するという欠点がある。
本発明者はこの欠点を改善すべく研究したところ、これが陰極の構成材料にMgが存在するため、非常に酸化し易いことにもとづくことを解明し、陰極が酸化され難いような保護膜を具備した、図4に示す如き、有機EL素子を開発した。
【0008】
即ち、図4に示す如く、陰極5をSi層6でコーティングし、このSi層6を更にSiO、Si等で構成される保護膜7でカバーするものである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記の如く、SiOあるいはSi等で構成された保護膜7はスパッタリング法で設けている。しかしこのような保護膜7をスパッタリング法で設けると、ステップカバレージがよくない。そのため、保護膜7の膜厚を大きくしなければならないという問題が存在する。従って本発明の目的は、このような問題を解決するため、ステップカバレージのよい保護膜の製法を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため、本発明では、図1(A)に示す如く、ガラス基板10上に積層された、透明電極1、正孔注入輸送層2、発光層3、電子注入輸送層4、陰極5、Si層6で構成される有機EL体に対し、ECRプラズマCVD法により、SiO又はSiよりなる保護膜7を形成する。
【0011】
【作用】
これにより図1(B)に示す如く、略均一の厚さの保護膜7が形成された有機EL素子を得ることができる。
【0012】
【実施例】
本発明の一実施例を図1及び図2に基づき説明する。図1は本発明により製造された有機EL素子の説明図、図2は本発明の有機EL素子が具備する保護膜の製法に使用するECRプラズマCVD装置である。
【0013】
透明電極1は陽極となるものであり、例えばITO等で構成され、ガラス基板10上に蒸着又はスパッタリングにより成膜される。
正孔注入輸送層2は、前記化1で表されるテトラアリールジアミン誘導体や、下記化2で表されるN、N′−ジ(3−メチルフェニル)−N、N′−ジフェニル−4、4′−ジアミノ−1、1′ビフェニルを蒸着することにより形成される。
【0014】
【化2】
Figure 0003577117
【0015】
発光層3は、前記正孔注入輸送層2を構成する例えば化1で表されるテトラアリールジアミン誘導体と、後述する電子注入輸送層4を構成する例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウムとの混合物が使用される。この場合、異なる蒸着源より蒸発させる共蒸着が好ましいが、これに限定されるものではない。勿論他の蛍光性物質を含ませることもできる。
【0016】
電子注入輸送層4は、例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウムを蒸着することにより形成される。
陰極5は、仕事関数の小さい材料で構成され、例えばMgAgで構成されるが、MgInを使用することもできる。陰極5は蒸着又はスパッタリングにより成膜される。
【0017】
Si層6は、陰極5をコーティングして酸化を防止するものであり、Siをスパッタリングすることで、約1000Åの厚さに成膜される。この条件を下記に示す。
【0018】
温度 室温
パワー 50〜500W
キャリアガス Ar
圧力 0.01 Torr
DC
保護膜7はSi層6をコーティングして更に陰極5の酸化を防止するものであり、SiOあるいはSi等で構成され、例えば図2に示す如きECRプラズマCVD装置により形成される。
【0019】
図2に示すECRプラズマCVD装置について説明する。図2において、11は反応室、12は保持板、13は排気穴部、14はガス流入管、15は磁場発生用コイル、16は導波管状外壁、17は支持桿、18は冷却管、19は交流電源、20はコンデンサ、30は有機EL体である。
【0020】
反応室11内の保持板12上には、例えば図1(A)に示す如き有機EL体30が保持される。反応室11は、排気穴部13から、図示省略された真空ポンプで排気され、所定の圧力に減圧されるものである。
【0021】
保持板12は支持桿17により支持されている。そしてこの支持桿17内には冷却管18が配置され、冷却媒体を流入排出することにより保持板12を所定の温度に冷却可能にしている。
【0022】
後述する反応に使用されるガスはガス流入管14により反応室11内に導入される。
磁場発生コイル15は直流で励磁してECRプラズマ用を所定領域に発生させるための直流磁場を発生するものである。
【0023】
導波管状の外部壁16にはマイクロ波が入力され、ECR(ElectronCyclotron Resonance)プラズマを発生するものである。
有機EL体30にSiOの保護膜7を形成する場合の条件を下記に示す。
【0024】
温度 30℃〜100℃
圧力 10mTorr
SiH 10SCCM
20SCCM
Power 2.45GHZ(1KW)
また有機EL体30にSiの保護膜7を形成する場合の条件を下記に示す。
【0025】
温度 30℃〜100℃
圧力 10mTorr
SiH 10SCCM
NH 15SCCM
Power 2.45GHZ(1KW)
図2に示すECRプラズマCVD装置において、前記条件で反応ガスを反応室11内に流入し、また導波管状の外部壁16から2.45GHZのマイクロ波を入力し、磁場発生コイル15により磁場を印加すると、図2において傾線で示すように、保持板12の上部近傍にECRプラズマが限定発生され、これによりSiOあるいはSiの保護膜7が、図1(B)に示す如く、ステップカバレージが良好で均一の厚さに形成することができる。しかも前記の如く、低温で、正孔注入輸送層2、発光層3、電子注入輸送層4等に悪影響を与えない温度で、保護膜を形成することができる。
【0026】
なお、前記実施例では、有機EL素子として正孔注入輸送層、発光層、電子注入輸送層の3層構成の場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば正孔注入輸送層・発光層+電子注入輸送層、正孔注入輸送層+電子注入輸送層・発光層の如きものに対しても同様に適用できる。また1つの電子注入手段が、発光層及び正孔注入手段を兼ねる場合も本発明に含まれるものである。
【0027】
【発明の効果】
本発明によれば、ECRプラズマCVD法により保護膜を形成したので、ステップカバレージの良い保護膜を、低温で形成することができる。
【0028】
本発明によれば、ECRプラズマCVD法により保護膜をSiO又はSiにより形成したので、長時間安定して発光する有機EL素子を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例説明図である。
【図2】ECRプラズマCVD装置の1例である。
【図3】従来の有機EL素子を示す。
【図4】従来の有機EL素子を改良したものを示す。
【符号の説明】
1 透明電極
2 正孔注入輸送層
3 発光層
4 電子注入輸送層
5 陰極
6 Si層
7 保護膜
10 ガラス基板
11 反応室
12 保持板
13 排気穴部
14 ガス流入管
15 磁場発生用コイル
16 導波管状外壁
17 支持桿
18 冷却管
19 交流電源
20 コンデンサ
30 有機EL体

Claims (4)

  1. 電子注入手段と、正孔注入手段と、陽極と、陰極と、保護膜を具備する有機エレクトロルミネセンス素子において、
    30℃〜100℃の温度範囲で、CVD法を用いて保護膜を形成したことを特徴とする有機エレクトロルミネセンス素子の製法。
  2. 電子注入手段と、正孔注入手段と、陽極と、陰極と、保護膜を具備する有機エレクトロルミネセンス素子において、
    保護膜をECRプラズマCVD法により30℃〜100℃の温度範囲で被覆したことを特徴とする有機エレクトロルミネセンス素子の製法。
  3. 前記保護膜がSiO2 またはSi3 4 により構成されることを特徴とする請求項2記載の有機エレクトロルミネセンス素子の製法。
  4. 前記保護膜を被覆するまえに、陰極をコーテングしてその酸化を防止するSi層を形成したことを特徴とする請求項3記載の有機エレクトロルミネセンス素子の製法。
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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998051131A1 (fr) * 1997-05-08 1998-11-12 Sanyo Electric Co., Ltd. Dispositif electroluminescent organique
US6146225A (en) * 1998-07-30 2000-11-14 Agilent Technologies, Inc. Transparent, flexible permeability barrier for organic electroluminescent devices
US6635989B1 (en) * 1998-08-03 2003-10-21 E. I. Du Pont De Nemours And Company Encapsulation of polymer-based solid state devices with inorganic materials
JP3817081B2 (ja) 1999-01-29 2006-08-30 パイオニア株式会社 有機el素子の製造方法
US6583557B2 (en) 2000-04-26 2003-06-24 Canon Kabushiki Kaisha Organic luminescent element
DE10044841B4 (de) * 2000-09-11 2006-11-30 Osram Opto Semiconductors Gmbh Plasmaverkapselung für elektronische und mikroelektronische Bauelemente wie OLEDs sowie Verfahren zu dessen Herstellung
TW546857B (en) * 2001-07-03 2003-08-11 Semiconductor Energy Lab Light-emitting device, method of manufacturing a light-emitting device, and electronic equipment
US6815723B2 (en) 2001-12-28 2004-11-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device, method of manufacturing the same, and manufacturing apparatus therefor
US8299706B2 (en) 2002-04-15 2012-10-30 Schott Ag Hermetic encapsulation of organic, electro-optical elements
KR100942038B1 (ko) * 2002-04-15 2010-02-11 쇼오트 아게 유기 광전 소자 및 유기 광전 소자 제조 방법
DE10222958B4 (de) * 2002-04-15 2007-08-16 Schott Ag Verfahren zur Herstellung eines organischen elektro-optischen Elements und organisches elektro-optisches Element
KR100444261B1 (ko) * 2002-04-16 2004-08-11 주식회사 엘리아테크 유기 전계발광 표시소자의 봉지방법
JP3729262B2 (ja) 2002-08-29 2005-12-21 セイコーエプソン株式会社 エレクトロルミネセンス装置及び電子機器
JP3997888B2 (ja) 2002-10-25 2007-10-24 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び電子機器
JP4393402B2 (ja) * 2004-04-22 2010-01-06 キヤノン株式会社 有機電子素子の製造方法および製造装置
JP4898497B2 (ja) 2006-03-27 2012-03-14 キヤノン株式会社 有機発光装置およびその製造方法
JP5049613B2 (ja) * 2006-03-31 2012-10-17 キヤノン株式会社 有機発光装置及びその製造方法
KR100846592B1 (ko) * 2006-12-13 2008-07-16 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치
JP2009037811A (ja) 2007-07-31 2009-02-19 Sumitomo Chemical Co Ltd 有機el装置の製造方法
JP5185598B2 (ja) 2007-11-06 2013-04-17 株式会社ジャパンディスプレイイースト 有機el表示装置およびその製造方法
CN112018249A (zh) * 2019-05-30 2020-12-01 云谷(固安)科技有限公司 发光器件及其制造方法、显示装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61232598A (ja) * 1985-04-05 1986-10-16 日本電信電話株式会社 薄膜el素子の製造方法
JPS6252888A (ja) * 1985-08-30 1987-03-07 シャープ株式会社 薄膜el素子
JPH02135695A (ja) * 1988-11-14 1990-05-24 Furukawa Electric Co Ltd:The エレクトロルミネセンス表示素子の製造方法
JP2837171B2 (ja) * 1989-03-27 1998-12-14 三井化学株式会社 透明導電性フィルム
JP2837223B2 (ja) * 1990-04-03 1998-12-14 三井化学株式会社 有機発光素子
JP2531857B2 (ja) * 1990-11-30 1996-09-04 出光興産株式会社 有機エレクトロルミネッセンスデバイス
JP2813495B2 (ja) * 1991-07-26 1998-10-22 出光興産株式会社 有機el素子の封止方法
DE69224583T2 (de) * 1991-10-15 1998-07-23 Canon Kk Trägermaterial für Flüssigkeitsaufzeichnungskopf, Herstellungsverfahren dafür, Flüssigkeitsaufzeichnungskopf und Flüssigkeitsaufzeichnungsvorrichtung
JPH05159882A (ja) * 1991-12-04 1993-06-25 Idemitsu Kosan Co Ltd 電子注入性電極の製造方法およびこの方法を用いた有機el素子の製造方法
JPH06224431A (ja) * 1993-01-26 1994-08-12 Sharp Corp 薄膜トランジスタ及び液晶ディスプレイパネル
JP3170542B2 (ja) * 1993-12-08 2001-05-28 出光興産株式会社 有機el素子

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