JP3496347B2 - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

半導体装置及びその製造方法

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JP3496347B2 JP17750695A JP17750695A JP3496347B2 JP 3496347 B2 JP3496347 B2 JP 3496347B2 JP 17750695 A JP17750695 A JP 17750695A JP 17750695 A JP17750695 A JP 17750695A JP 3496347 B2 JP3496347 B2 JP 3496347B2
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wafer
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置及びその
製造方法に関し、特に、MOSトランジスタ型加速度セ
ンサや圧力センサのように1チップ内に可動部を有する
半導体装置や、エアーブリッジ配線構造などのように機
械的強度の低い構造体を持つ半導体装置及びその製造方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばシリコンウェハ等の半導体ウェハ
上に形成された半導体集積回路素子を複数のチップに分
割する方法は、通常は粘着シート上に置かれた半導体ウ
ェハをダイシングカット装置を用いてダイシングカット
することによってなされていた。
【0003】この際、シリコンの切り屑を除去及び切断
時の熱を放熱したり、カットが容易にできるように大量
の切削水を流しながらダイシングカットして半導体ウェ
ハを複数のチップに分割していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、シリコ
ンチップ内に例えば、MOSトランジスタ型加速度セン
サのように可動部を有する素子やエアーブリッジ配線構
造のように機械的強度が低い構造体が存在する場合、使
用される大量の切削水の圧力や表面張力により機能素子
が破壊されて正常な動作が行われなくなってしまう。
【0005】この問題に対して特開平2−106947
号公報は、エアーブリッジ構造に関して、ウェハ上にレ
ジストを塗布して硬化させた状態でダイシングカット
し、その後、オゾン雰囲気中で紫外線照射してレジスト
を除去する方法を提案している。
【0006】しかるにこの方法では紫外線の当たらない
領域ではレジストが残ってしまい、しかもこのレジスト
を除去する適当な方法がなかった。また可動部を有する
素子においてはレジスト塗布時にレジストの粘性やスピ
ンナーの回転(角速度)により可動部が破損されたり、
正常動作ができなくなってしまう場合がある。また、単
なるダイシング工程に比べて余分の工数がかかるという
欠点があった。
【0007】このように従来の技術では、例えばMOS
トランジスタ型加速度センサの可動ゲートや圧力センサ
のダイアフラムのような可動部またはエアーブリッジ配
線構造のような機械的強度の低い構造体が形成された半
導体ウェハを高歩留りかつ低コストでチップ状に分割す
ることができなかった。また、機械的強度の低い構造体
が形成された半導体ウェハを搬送する際に、機械的強度
の低い構造体が周囲の環境によって汚れないように配慮
せねばならず搬送時における取扱いが容易でなかった。
【0008】本発明の半導体装置及びその製造方法はこ
のような課題に着目してなされたものであり、その目的
とするところは、機械的強度の低い構造体が形成された
半導体ウェハを保護用キャップによって保護してダイシ
ングカットすることにより、半導体ウェハを高歩留りか
つ低コストでチップ状に分割することができる半導体装
置及びその製造方法を提供することにある。
【0009】また、本発明の他の目的は、保護用キャッ
プによって搬送中の半導体ウェハの汚染を防止したり、
機械的強度の低い構造体を外力から保護することによ
り、搬送時における半導体ウェハの取り扱いを容易にし
た半導体装置及びその製造方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、第1の発明は、可動部や機械的強度の低い構造
体が露出した構造を有する半導体装置において、前記可
動部や機械的強度の低い構造体が形成された半導体ウェ
ハと、前記可動部や機械的強度の低い構造体を覆うよう
に前記半導体ウェハに関して設けられた取り外し可能な
粘着シートからなる保護用キャップとを具備し、前記保
護用キャップは、前記構造体と対向する凹部と、この凹
部の領域内に設けられた貫通孔とを具備する治具によっ
て真空吸引により象られた粘着シートからなる
【0011】また、第2の発明は、面状に配置された複
数の凹部と、この凹部の領域内に各々形成された貫通孔
とを有する治具の表面に第1の粘着シートを貼り付ける
工程と、前記治具内に形成された貫通孔を介して前記第
1の粘着シートを前記凹部に沿って吸引する工程と、表
に機械的強度の低い構造体が形成された半導体ウェハ
を凹部に沿って吸引された前記第1の粘着シート上に貼
り付ける工程と、前記半導体ウェハの裏面に第2の粘着
シートを貼り付けて、前記治具から第1の粘着シートと
半導体ウェハとを取り外す工程と、前記半導体ウェハの
表面側から裏面方向へ第1の粘着シートとともに前記半
導体ウェハをダイシングカットする工程とを具備する。
【0012】また、第3の発明は、機械的強度の低い構
造体が露出した構造を有する半導体装置の製造方法にお
いて、支持台の上に粘着シートを配置する工程と、表面
に加熱された針状部を有する治具を前記粘着シートに少
なくとも接近させるか又は前記治具の針状部を前記粘着
シートに押し当てて前記粘着シートに前記構造体と対向
する凹部を形成する工程と、前記凹部が形成された粘着
シートを前記露出した構造体が形成された半導体ウェハ
上に貼り付ける工程と、前記粘着シートと前記半導体ウ
ェハとをダイシングカットする工程とを具備する。
【0013】また、第4の発明は、機械的強度の低い構
造体が露出した構造を有する半導体装置の製造方法にお
いて、前記構造体の周囲領域の半導体ウェハの表面に転
写または印刷可能な接着材料を用いて所定の壁を形成す
る工程と、前記半導体ウェハ表面を覆うように前記構造
体と対向する凹部を有する第1の粘着シートを貼る工程
と、真空吸引手段によって前記第1の粘着シートを吸引
して、前記第1の粘着シートを前記半導体ウェハの表面
に接着させる工程と、前記半導体ウェハの裏面に第2の
粘着シートを貼り付ける工程と、前記半導体ウェハの表
面から裏面方向へ前記第1の粘着シートと前記半導体ウ
ェハとをダイシングカットする工程とを具備する。
【0014】また、第5の発明は、面状に配置された複
数の凹部と、この凹部の領域内に各々形成された貫通孔
とを有する治具の表面に絶縁体あるいは導電体シートを
貼り付ける工程と、真空吸引ステージからの真空引きに
より、前記治具内に形成された貫通孔を介して前記シー
トを前記凹部に沿って吸引する工程と、前記治具を吸引
されたシートごと加熱する工程と、前記シート上に表面
に機械的強度の低い構造体が形成された半導体ウェハを
貼り付ける工程と、前記貼り付ける工程の後、冷却する
前または冷却してから前記半導体ウェハを貼り付けてウ
ェハ保護用キャップを設ける工程とを具備する。
【0015】すなわち、第1の発明は、可動部や機械的
強度の低い構造体が露出した構造を有する半導体装置に
おいて、半導体ウェハに前記可動部や機械的強度の低い
構造体を形成した後、前記可動部や機械的強度の低い構
造体を覆うように取り外し可能な粘着シートからなる保
護用キャップを半導体ウェハに関して設けるようにす
る。この保護用キャップは、前記構造体と対向する凹部
と、この凹部の領域内に設けられた貫通孔とを具備する
治具によって真空吸引により象られた粘着シートからな
【0016】また、第2の発明は、まず、面状に配置さ
れた複数の凹部と、この凹部の領域内に各々形成された
貫通孔とを有する治具の表面に第1の粘着シートを貼り
付け、前記治具内に形成された貫通孔を介して前記第1
の粘着シートを前記凹部に沿って吸引する。次に、表面
に機械的強度の低い構造体が形成された半導体ウェハを
凹部に沿って吸引された前記第1の粘着シート上に貼り
付け、その後、前記半導体ウェハの裏面に第2の粘着シ
ートを貼り付けて、前記治具から第1の粘着シートと半
導体ウェハとを取り外し、前記半導体ウェハの表面側か
ら裏面方向へ第1の粘着シートとともに前記半導体ウェ
ハをダイシングカットする。
【0017】また、第3の発明は、機械的強度の低い構
造体が露出した構造を有する半導体装置の製造方法にお
いて、支持台の上に粘着シートを配置した後、表面に加
熱された針状部を有する治具を前記粘着シートに少なく
とも接近させるか又は前記治具の針状部を前記粘着シー
トに押し当てて前記粘着シートに前記構造体と対向する
凹部を形成する。次に、前記凹部が形成された粘着シー
トを前記露出した構造体が形成された半導体ウェハ上に
貼り付けた後、前記粘着シートと前記半導体ウェハとを
ダイシングカットする。
【0018】また、第4の発明は、機械的強度の低い構
造体が露出した構造を有する半導体装置の製造方法にお
いて、前記構造体の周囲領域の半導体ウェハの表面に転
写または印刷可能な接着材料を用いて所定の壁を形成し
た後、前記半導体ウェハ表面を覆うように前記構造体と
対向する凹部を有する第1の粘着シートを貼る。次に、
真空吸引手段によって前記第1の粘着シートを吸引し
て、前記第1の粘着シートを前記半導体ウェハの表面に
接着させ、前記半導体ウェハの裏面に第2の粘着シート
を貼り付ける。そして、前記半導体ウェハの表面から裏
面方向へ前記第1の粘着シートと前記半導体ウェハとを
ダイシングカットする。
【0019】また、第5の発明は、まず、面状に配置さ
れた複数の凹部と、この凹部の領域内に各々形成された
貫通孔とを有する治具の表面に絶縁体あるいは導電体シ
ートを貼り付け、真空吸引ステージからの真空引きによ
り、前記治具内に形成された貫通孔を介して前記シート
を前記凹部に沿って吸引する。次に、前記治具を吸引さ
れたシートごと加熱した後、前記シート上に表面に機械
的強度の低い構造体が形成された半導体ウェハを貼り付
ける。そして、この貼り付ける工程の後、冷却する前ま
たは冷却してから前記半導体ウェハを貼り付けてウェハ
保護用キャップを設ける。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。まず、実施の形態の概略を
説明する。図1は本実施の形態に用いられる半導体装置
とダイシングブレードとの対応関係を示す図である。ま
ず、可動部や突起物等の機械的強度が低い構造体を有す
る半導体装置を、円盤状の半導体ウェハ(以下、単にウ
ェハと呼ぶ)1上に複数個形成する。次に取り外し可能
な保護用キャップ2aを、可動部や突起物(以下では総
称してセンサ1aと呼ぶ)に対応させて以下に述べる工
程フローにより形成し、その後ダイシングブレード3に
よってダイシングカットを実行してウェハ1をチップ状
に分割する。保護用キャップ2aとしては以下に述べる
ように粘着シートが用いられる。また、ここではダイシ
ングブレード3によって最終的にチップ状に分割されて
いないが、ある程度カットされた状態にあるものもウェ
ハ1に含まれるものとする。
【0021】図2(a)、図2(b)は本実施の形態に
用いる治具と、粘着シートと、半導体ウェハとの対応関
係を各々半分に切欠いて示す図である。上記した保護用
キャップ2aは図2(a)に示すようにセンサ1aに対
向する領域に設けられた凹部として実現されており、こ
の凹部は以下に述べるように、粘着シート吸引用の貫通
孔4bを有する治具4によって象り用凹部4aを介して
第1の粘着シート2を吸引変形して形成される。
【0022】なお、本実施の形態で使用する粘着シート
変形用の治具4の材料としては剛性の高い材料(金属、
セラミックス等)が用いられるが、加工が容易なセラミ
ックス材料であるマコールが最も適している。また、治
具4に形成する貫通孔4bや象り用凹部4aの加工方法
としてはドリル、レーザー加工などが用いられる。
【0023】次に、第1の実施の形態に係るダイシング
カットの工程フローについて図3を参照して説明する。 (1)先ず、図3(a)に示すように、象り用凹部4a
の一部に貫通孔4bを有する治具4を用意する。なお、
象り用凹部4aは治具4の構造上、貫通孔4bの径が小
さい場合に必要となるが貫通孔4bのみでもよい。
【0024】(2)次に、図3(b)に示すように、治
具4の表面に第1の粘着シート2をその粘着面を上にし
て貼る。ここでは、第1の粘着シート2として紫外線に
より粘着力が低下するUV硬化性シートを用いることに
する。粘着力はチップ表面内への切削水の浸入を防ぐた
めに高い方が望ましい。ここでは、剥離強度1000g
/25mmの粘着シートを選定した。
【0025】(3)次に、図3(c)に示すように、治
具4内の貫通孔4bを通して第1の粘着シート2を真空
チャックステージ5によって吸引して撓ませる。その
後、治具4を第1の粘着シート2ごと40〜100℃の
温度の範囲内で加熱するが、以下の図9からわかるよう
に望ましくは50〜70℃の温度がよい。
【0026】図9は治具加熱温度とギャップ間隔d(図
10参照)との関係を示す図であり、ポリオレフィン基
材の第1の粘着シート2を治具4ごと加熱し、室温まで
冷却した後、1時間放置した後でギャップ間隔dを測定
した結果を示している。また、加熱時に第1の粘着シー
ト2が反ることがあるが、予め金属フレームなどで固定
しておけば金属フレームの自重でその反りを防ぐことが
できる。所望の温度に達した後冷却して、治具4及び第
1の粘着シート2を室温まで下げ、第1の粘着シート2
の形状を維持させる。ここで、図3(c)では第1の粘
着シート2の形状として治具4の象り用凹部4a内側の
形状を反映した形状を示しているが第1の粘着シート2
の厚みや材料、加熱条件などによって形状が変わるのは
言うまでもない。
【0027】(4)次に、図3(d)に示すように、セ
ンサ1a付きウェハ1を第1の粘着シート2に密着させ
る。この場合、図7に示すように、例えば予め素子が完
全に固定されている状態でウェハ1の2箇所1c、1d
を位置合わせラインとしてカット成形しておき、また、
治具4上にウェハ1のガイド用に4箇所にピン4cを立
てる。ウェハ1の位置合わせライン1c、1dとピン4
cは、ウェハ1上のセンサ1aが治具4内の象り用凹部
4aに納まるような位置関係にする(図2参照)。ま
た、ウェハパターンと粘着シートパターンとを画像認識
により直接合わせてからウェハ1と第1の粘着シート2
を合わせてもよい。
【0028】なお、ウェハ1と第1の粘着シート2との
密着は治具4及び第1の粘着シート2とを冷却する前に
実施してもよい。 (5)次に、図3(e)に示すように、ウェハ1の裏面
に第2の粘着シート6を貼る。この第2の粘着シート6
はUV硬化性粘着シートでも感圧性粘着シートでもよ
い。ただし、感圧性粘着シートを用いる場合は、この後
工程で行われるように、第1の粘着シート2を取り外す
手段として加熱による取り外しを実施する場合には、第
1の粘着シート2よりも耐熱性のある粘着シートを選定
する。
【0029】また、第1の粘着シート2に金属フレーム
を付けた場合は金属フレームを取り外した後に第2の粘
着シートを貼る。 (6)次に、図4(a)に示すように、治具4内の貫通
孔4bを通しての吸引を止めて治具4から第1及び第2
の粘着シート2、6が付着したウェハ1を外す。
【0030】(7)次に、図4(b)に示すように、第
1の粘着シート2ごとウェハ1に形成されたスクライブ
ライン7に沿ってダイシングカットする。 (8)次に、図4(c)示すように、例えばUV硬化性
粘着シートを用いた場合は紫外線(UV光)を照射して
粘着力を低下させる。
【0031】(9)次に、図4(d)に示すように、真
空ピンセット8や第3の粘着シート、テープ、接着剤、
あるいは針のような先が鋭くとがったもので引っかける
などして第1の粘着シート2を取り外す。また、切断
後、第1の粘着シート2の切断部を半田コテ等の熱源で
溶融し、粘着シートどうしをくっつけてもよい。
【0032】(10)次に、チップ間隔を広げる必要が
あるときは、図4(e)に示すように、第2の粘着シー
ト6をウェハ1の切り込みが広がる方向に引っ張り力を
与えてチップ間隔を広げる。なお、(9)と(10)は
逆になってもよい。
【0033】以下に上記した第1の実施の形態の変形例
を説明する。第1の実施の形態では治具4内の貫通孔4
bを介して真空吸引することで粘着シート9に凹部を形
成しているが、図5に示すように、治具12の表面部に
設けられた加熱した針状突起部(以下単に針と呼ぶ)1
0を使用して粘着シート9を局所的に溶融して凹部を形
成してもよい。この場合、針10は粘着シート9に接触
させてもさせなくともよい。この方法の利点は治具1
2、ウェハ1を加熱あるいは冷却する必要がないことで
ある。加熱あるいは冷却した場合は治具12、ウェハ1
の熱容量のために加熱あるいは冷却させるのに相当の時
間を要するが、この変形例によれば熱が粘着シート9に
局所的にかかるために熱容量が非常に小さくなってスル
ープットが格段に向上する。また、粘着シート9をウェ
ハ1に取り付けるときには空気を巻き込むのでウェハ1
と粘着シート9との間にボイドを生じることがあるが、
この実施の形態では粘着シート9に突起部がないので粘
着シート9の貼り付け時にローラ等で空気を一方向に追
い出すことができ、ボイドを発生させずに貼り付けが可
能になる。
【0034】以下に図5を参照して上記した変形例の製
造工程を説明する。 (1)まず、図5(a)に示すように、支持台11の上
に粘着シート9を配置する。次に治具12の表面に設け
られた針10を加熱して、この針10を上方から粘着シ
ート9に接近あるいは接触させて粘着シート9を局所的
に溶融する。その後、治具12を粘着シート9から離
す。なお、粘着シート9の固定方法は例えば、支持台1
1として真空吸引ステージの上に多孔質のセラミック板
を載せたものを使用すれば真空吸引によって固定するこ
とができる。また、粘着シート9を金属フレームに取り
付けておけば金属フレームの自重で粘着シート9を固定
することができる。 (2)次に溶融部9aが硬化したら、図5(b)に示す
ようにウェハ1を粘着シート9の上に載せて粘着シート
9の接着剤でウェハ1を固定する。また、粘着シート9
をローラ等によって転がしながらウェハ1に貼り付けて
もよい。 (3)最後に、図5(c)に示すようにウェハ1を粘着
シート9とともにダイシングカットする。
【0035】図6は第1の実施の形態の他の変形例を示
す図である。この実施の形態では針10が設けられた治
具12を粘着シート9に押し当てて粘着シート9を強制
的に変形させる。以下、この変形例の製造工程について
説明する。 (1)まず、図6(a)、図6(b)に示すように、支
持台11の上に粘着シート9を置き、上方から針10が
設けられた治具12を粘着シート9に押し当てて粘着シ
ート9を強制的に変形させる。 (2)次に図6(c)に示すように、粘着シート9をウ
ェハ1上に配置する。 (3)最後に図6(d)に示すように、粘着シート9と
ともにウェハ1をダイシングカットする。
【0036】次に本発明の第2の実施の形態を説明す
る。上記した第1の実施の形態では治具を用いることに
より粘着シートを所望の形状に変形させていたが、第2
の実施の形態では治具を使用せずにダイシングカットを
する方法である。
【0037】以下に、第2の実施の形態によるダイシン
グカットの工程フローを図8を参照して説明する。 (1)先ず、図8(a)に示すように、可動部を有する
半導体センサなどの半導体装置が形成されたウェハ1の
センサ1aの周辺にそれを取り巻く壁1bを形成するた
めに、接着剤などを例えばスクリーン印刷法により印刷
する。この際、後の工程で貼り付ける第1の粘着シート
2がダイシングカット時にセンサ1aに触れないように
フィラーを入れるなどしてできるだけ接着剤の高さを高
くするとともに高さの制御も行う。また、センサ1aと
接着剤との距離をできるだけ近づける。その後、オーブ
ンなどを用いて加熱することにより接着剤を硬化させて
壁1bを形成する。 (2)次に図8(b)に示すように、ウェハ1の表面側
に接着剤の印刷により形成された壁1b上に第1の粘着
シート2を貼り付ける。ここでは、第1の粘着シート2
として赤外線により粘着力が低下するUV硬化性シート
を用いることにする。チップ表面内への切削水の浸入を
防ぐために粘着力は高い方が望ましい。ここでは、剥離
強度1000g/25mmの粘着シートを選定した。 (3)続いて図8(c)に示すように、第1の粘着シー
ト2が貼り付けられたウェハ1を真空チャックステージ
13上に置いて吸引するとともに、第2の粘着シート6
をウェハ1の裏面に貼り付ける。この真空チャックステ
ージ13はウェハマウンタ装置の真空チャックステージ
でもよい。第2の粘着シート6はUV硬化性粘着シート
でも感圧性粘着シートでもよい。ただし、感圧性粘着シ
ートを用いた第1の粘着シート2を加熱によって取り外
す場合には、第1の粘着シート2よりも耐熱性のある粘
着シートを第2の粘着シート6として選定する。
【0038】また、第1の粘着シート2に金属フレーム
を付けた場合は金属フレームを取り外した後に第2の粘
着シート6を貼る。 (4)次に図8(d)に示すように、第1の粘着シート
2が貼られているウェハ1の表面側から真空チャックス
テージ14へ向けてフルカットで第1の粘着シート2と
ウェハ1とをダイシングカットする。 (5)次に図8(e)に示すように、真空ピンセット8
や第3の粘着シート、接着剤、あるいは先が鋭くとがっ
たもので粘着シートに引っかけるなどして第1の粘着シ
ート2を取り外す。 (6)次に図8(f)に示すように、第1の実施の形態
で述べた通常のエキスパンディングによりチップ間隔を
広げる。
【0039】以下に本発明の第3の実施の形態を説明す
る。上記した第1及び第2の実施の形態では機械的強度
が低い構造体が形成された半導体ウェハのダイシングカ
ット方法について述べたが、第3の実施の形態では機械
的強度が低い構造体が形成された半導体ウェハ用の保護
用キャップを形成する実施の形態であり、工程フロー
は、第1の実施の形態の図3(a)〜(e)及び図4
(a)に示されるように保護用キャップを構成する第1
の粘着シート2をウェハ1に貼り付けるまでの工程であ
る。この工程の間、ウェハ1上の機械的強度の低い構造
体は外力から保護されるので次工程までの搬送が容易に
なる。保護用キャップは搬送後に外してもよいし、
(d)のダイシングカットの後、実装工程までチップの
保護キャップとしてそのまま残してもよい。また、粘着
シートとして導電性シートを用いれば周辺回路に対し静
電気破壊防止対策が可能となる。
【0040】上記した実施の形態によれば、ダイシング
カット時、ウェハ内の機械的強度の低い構造体は保護用
キャップで覆われているため、切削水の圧力、切削水の
表面張力、切り屑の付着から保護される。また上記の構
成により、レジストなどの粘液体を機械的強度の低い構
造体の固定に用いる必要がないために、レジストなどの
粘液体の塗布や除去工程を用いることなしに機械的強度
の低い構造体を形成した半導体装置のダイシングカット
が可能となる。したがって、機械的強度の低い構造体を
形成した半導体ウェハを高歩留りかつ低コストでチップ
状に分割することができる。また、保護用キャップによ
って搬送中の半導体ウェハを保護するようにしたので、
汚染を防止することができ、かつ機械的強度の低い構造
体が外力から保護されるので、搬送時における半導体ウ
ェハの取り扱いが容易になる。
【0041】
【発明の効果】本発明によれば、機械的強度の低い構造
体が形成された半導体ウェハを保護用キャップによって
保護してダイシングカットするようにしたので、半導体
ウェハを高歩留りかつ低コストでチップ状に分割するこ
とができる。
【0042】また、保護用キャップによって搬送中の半
導体ウェハを保護するようにしたので、汚染を防止する
ことができ、かつ機械的強度の低い構造体が外力から保
護されるので、搬送時における取り扱いが容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における半導体装置とダイ
シングブレードとの対応関係を示す図である。
【図2】本発明の実施の形態における治具、粘着シート
と半導体ウェハとの対応関係をそれぞれ半分に切欠いて
示す図である。
【図3】第1の実施の形態によるダイシングの工程フロ
ーの前部を示す図である。
【図4】第1の実施の形態によるダイシングの工程フロ
ーの後部を示す図である。
【図5】第1の実施の形態の変形例を説明するための図
である。
【図6】第1の実施の形態の他の変形例を説明するため
の図である。
【図7】第1の実施の形態に用いるウェハと第1の粘着
シートの位置合わせ方法を説明するための図である。
【図8】第2の実施の形態によるダイシングカットの工
程フローを示す図である。
【図9】治具加熱温度とギャップ間隔dとの関係を示す
図である。
【図10】図9におけるギャップ間隔dの説明図であ
る。
【符号の説明】
1…ウェハ、1a…センサ、1b…壁、1c、1d…位
置合わせライン、2…第1の粘着シート、2a…保護用
キャップ、3…ダイシングブレード、4…治具、4a…
象り用凹部、4b…貫通孔、4c…ピン、5、13、1
4…真空チャックステージ、6…第2の粘着シート、7
…ダイシングカットライン、8…真空ピンセット。
フロントページの続き (72)発明者 倉橋 崇 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 日本 電装株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−28924(JP,A) 特開 平4−39954(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/301

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 可動部や機械的強度の低い構造体が露出
    した構造を有する半導体装置において、 前記可動部や機械的強度の低い構造体が形成された半導
    体ウェハと、 前記可動部や機械的強度の低い構造体を覆うように前記
    半導体ウェハに関して設けられた取り外し可能な粘着シ
    ートからなる保護用キャップと、 を具備し、 前記保護用キャップは、前記構造体と対向する凹部と、
    この凹部の領域内に設けられた貫通孔とを具備する治具
    によって真空吸引により象られた粘着シートからなるこ
    を特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 面状に配置された複数の凹部と、この凹
    部の領域内に各々形成された貫通孔とを有する治具の表
    面に第1の粘着シートを貼り付ける工程と、 前記治具内に形成された貫通孔を介して前記第1の粘着
    シートを前記凹部に沿って吸引する工程と、 表面に機械的強度の低い構造体が形成された半導体ウェ
    ハを凹部に沿って吸引された前記第1の粘着シート上に
    貼り付ける工程と、 前記半導体ウェハの裏面に第2の粘着シートを貼り付け
    て、前記治具から第1の粘着シートと半導体ウェハとを
    取り外す工程と、 前記半導体ウェハの表面側から裏面方向へ第1の粘着シ
    ートとともに前記半導体ウェハをダイシングカットする
    工程と、 を具備したことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 凹部に沿って吸引された前記第1の粘着
    シートと、前記治具とを同時に熱処理する工程をさらに
    具備し、この熱処理工程において、前記治具と吸引され
    た粘着シートとを40℃〜100℃の範囲内で加熱し、
    その後30℃以下まで冷却することを特徴とする請求項
    2記載の半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 機械的強度の低い構造体が露出した構造
    を有する半導体装置の製造方法において、 支持台の上に粘着シートを配置する工程と、 表面に加熱された針状部を有する治具を前記粘着シート
    に少なくとも接近させ るか又は前記治具の針状部を前記
    粘着シートに押し当てて前記粘着シートに前記構造体と
    対向する凹部を形成する工程と、 前記凹部が形成された粘着シートを前記露出した構造体
    が形成された半導体ウェハ上に貼り付ける工程と、 前記粘着シートと前記半導体ウェハとをダイシングカッ
    トする工程と、 を具備したことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 機械的強度の低い構造体が露出した構造
    を有する半導体装置の製造方法において、 前記構造体の周囲領域の半導体ウェハの表面に転写また
    は印刷可能な接着材料を用いて所定の壁を形成する工程
    と、 前記半導体ウェハ表面を覆うように前記構造体と対向す
    る凹部を有する第1の粘着シートを貼る工程と、 真空吸引手段によって前記第1の粘着シートを吸引し
    て、前記第1の粘着シートを前記半導体ウェハの表面に
    接着させる工程と、 前記半導体ウェハの裏面に第2の粘着シートを貼り付け
    る工程と、 前記半導体ウェハの表面から裏面方向へ前記第1の粘着
    シートと前記半導体ウェハとをダイシングカットする工
    程と、 を具備したことを特徴とする半導体の製造方法。
  6. 【請求項6】 面状に配置された複数の凹部と、この凹
    部の領域内に各々形成された貫通孔とを有する治具の表
    面に絶縁体あるいは導電体シートを貼り付ける工程と、 真空吸引ステージからの真空引きにより、前記治具内に
    形成された貫通孔を介して前記シートを前記凹部に沿っ
    て吸引する工程と、 前記治具を吸引されたシートごと加熱する工程と、 前記シート上に表面に機械的強度の低い構造体が形成さ
    れた半導体ウェハを貼り付ける工程と、 前記貼り付ける工程の後、冷却する前または冷却してか
    ら前記半導体ウェハを貼り付けてウェハ保護用キャップ
    を設ける工程と、 を具備したことを特徴とする半導体装置の製造方法。
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