JP3423564B2 - 光学機器 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】 本発明は、手振れなどに起
因する像振れを補正する機能を具備したカメラなどの光
学機器の改良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合せ等
の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているた
め、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は
非常に少なくなっている。

【０００３】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘
発する要因は殆ど無くなってきている。

【０００４】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。

【０００５】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常１〜１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレリーズ
時点においてこのような手振れを起していても像振れの
無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとして、上
記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出値に応
じて補正レンズを変位させてやらなければならない。従
って、カメラの振れが生じても像振れを生じない写真を
撮影できることを達成するためには、第１にカメラの振
動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化を補正
することが必要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動
検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に
積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメ
ラに搭載することによって行うことができる。そして、
この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学
装置を駆動させることにより、像振れ抑制が可能とな
る。

【０００７】ここで、振動検出手段を用いた防振システ
ムについて、図７を用いてその概要を説明する。

【０００８】図７の例は、図示矢印８１方向のカメラ縦
振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制す
るシステムの図である。

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出す
る振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，
８４ｙで示してある。８５は補正光学装置（８７ｐ，８
７ｙは各々補正光学装置８５に推力を与えるコイル、８
６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検出
素子）であり、該補正光学装置８５には後述する位置制
御ループを設けており、振動検出手段８３ｐ，８３ｙの
出力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保
する。

【００１０】図８はかかる目的に好的に用いられる像振
れ補正装置（前述の振動検出手段，補正光学装置，コイ
ル，位置検出素子や後述する各種のＩＣ等より構成され
る）の構造を示す分解斜視図であり、以下図８〜図１７
を参照しつつ、この構造について説明する。

【００１１】地板７１（図１１に拡大図あり）の背面突
出耳７１ａ（３ケ所（１ケ所は隠れて見えない））は不
図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネ
ジ止めされ、鏡筒に固定される。

【００１２】磁性体であり光択メッキが施された第２ヨ
ーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７
１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジ
ウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７
３が磁気的に吸着されている。尚、各永久磁石７３の磁
化方向は図８に図示した矢印７３ａの方向である。

【００１３】補正レンズ７４がＣリング等で固定された
支持枠７５（図１２に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，
７６ｙ（シフト用コイル）が強引に押し込まれて接合
（以下、この事を「パッチン接着」と記す）され（図１
２は未接着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７
ｙも支持枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，
７５ａｙを通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置
検出素子７８ｐ，７８ｙに入射する。

【００１４】支持枠７５の孔７５ｂ（３ケ所）にはＰＯ
Ｍ（ポリアセタール樹脂）等の先端球状の支持球７９
ａ，７９ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され（図９及
び図１１も参照）、支持球７９ａが支持枠７５に熱カシ
メされ固定される（支持球７９ｂはチャージバネ７１０
のバネ力に逆らって孔７５ｂの延出方向に摺動可能であ
る）。

【００１５】上記図９は像振れ補正装置の組立後の横断
面図であり、支持枠７５の孔７５ｂに矢印７９ｃ方向に
支持球７９ｂ，チャージしたチャージバネ７１０，支持
球７９ａの順に挿入してゆき（支持球７９ａ，７９ｂは
同形状の部品）、最後に孔７５ｂの周端部７５ｃを熱カ
シメして支持球７９ａの抜け止めを行う。

【００１６】孔７５ｂの図９と直交する方向の断面図を
図１０（ａ）に示し、又図１０（ａ）の断面図を矢印７
９ｃ方向より見た平面図を図１０（ｂ）に示しており、
図１０（ｂ）の符合Ａ〜Ｄに示す範囲の深さを図１０
（ａ）のＡ〜Ｄに示す。

【００１７】ここで、支持球７９ａの羽根部７９ａａの
後端部は深さＡ面の範囲で受けられ規制される為、周端
部７５ａを熱カシメする事で支持球７９ａは支持枠７５
に固定される。

【００１８】支持球７９ｂの羽根部７９ｂａの先端部は
深さＢ面の範囲で受けられる為に、該支持球７９ｂがチ
ャージバネ７１０のチャージバネ力で孔７５ｂより矢印
７９ｃの方向に抜けてしまう事はない。

【００１９】勿論像振れ補正装置の組立が終了すると支
持球７９ｂは図９に示す様に第２ヨーク７２に受けられ
る為、支持枠７５より抜け出る事はなくなるが、組立性
を考慮して抜け止め範囲Ｂ面を設けている。

【００２０】図９及び図１０に示す支持枠７５の孔７５
ｂの形状は、該支持枠７５を成形で作る場合においても
複雑な内径スライド型を必要とせず、矢印７９ｃと反対
側に型を抜く単純な２分割型で成形可能なために、その
分寸法精度を厳しく設定出来る。

【００２１】この様に、支持球７９ａ，７９ｂが同一部
品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、
組立ミスが無く、部品管理上も有利である。

【００２２】上記支持枠７５の軸受部７５ｄには例えば
フッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１
（非磁性のステンレス材）を挿入し（図８参照）、Ｌ字
軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ
（同様にグリスを塗布し）に挿入し、３カ所の支持球７
９ｂを共に第２ヨーク７２に乗せて支持枠７５を地板７
１内に収める。

【００２３】次に、図８に示す第１ヨーク７１２の位置
決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図１１に示すピ
ン７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図１１に示す受
け面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて地
板７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力に
より）。

【００２４】これにより、第１ヨーク７１２の背面が支
持球７９ａと当接し、図９に示す様に支持枠７５は第１
ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方向
の位置決めが為される。

【００２５】支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１
２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリス
が塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と
直交する平面内にて自由に摺動可能である。

【００２６】上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１
に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支
持していることになり、これにより支持枠７５の地板７
１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制
している。

【００２７】尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７
５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支
持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７
２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうこと
を防いでいる。

【００２８】前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シ
ート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハ
ード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増
幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置
決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図１１に示すピ
ン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨー
ク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネ
ジ結合される。

【００２９】ここで、ハード基板７１５には位置検出素
子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けさ
れ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６
ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ
（図８参照）に熱により圧着される。

【００３０】前記フレキシブル基板７１６から光軸と直
交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延
出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７
５ｅｙ（図１２参照）に引っ掛けられ、投光素子７７
ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半
田付けされる。

【００３１】これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７
ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板
７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われる
ことになる。

【００３２】前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６
ｂｐ，７１６ｂｙ（図８参照）には各々屈折部７１６ｃ
ｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性により
支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対す
る該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減してい
る。

【００３３】前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出
面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１
４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触し
ている。この接触面のハード基板７１５側にはアース
（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハー
ド基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１
２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５に
ノイズを与える事を無くしている。

【００３４】図８に示すマスク７１７は地板７１のピン
７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両面
テープにて固定される。

【００３５】前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ
（図８，図１１参照）が開けられており、ここから第２
ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通孔
７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組み
込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図９参
照）。

【００３６】ロックリング７１９（図８，図９，図１３
参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着さ
れ、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には軸
受７１９ｂ（図１４参照）があり、アマーチュアピン７
２１（図８，図１４参照）にアマーチュアゴム７２２を
通し、該アマーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通し
た後、該アマーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７
２３を通し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定
する。

【００３７】従って、アマーチュア７２４はアマーチュ
アバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１
９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。

【００３８】図１４は組立終了後の振れ補正装置を、図
８の背面方向から見た平面図であり、この図において、
ロックリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３ケ
所）を地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せてロ
ックリング７１９を地板７１に押し込み、その後ロック
リングを時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨネ
ット結合により、ロックリング７１９は地板７１に取り
付いている。

【００３９】従って、ロックリング７１９は地板７１に
対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング
７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１
ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを
防ぐ為にロックゴム７２６（図８，図１４参照）を地板
７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム７
２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図１４
参照）しか回転出来ない様に回転規制している。

【００４０】磁性体のロック用ヨーク７２７（図８参
照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り
付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン
７１ｋ（図１４参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ
（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合してい
る。

【００４１】地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨ
ーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７
２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成
している。

【００４２】又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨー
ク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図
１４においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は
省いて図示している。

【００４３】前記ロックリング７１９のフック７１９ｅ
と地板７１のフック７１ｍ間（図１４参照）にはロック
バネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時
計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図８，図
１４参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板７
１の孔７２９ａによりネジ結合される。

【００４４】コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０
の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイス
トペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６
ｄに半田付けされる。

【００４５】前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，
７３１ｙ（図８参照）は各々位置検出端子７８ｐ，７８
ｙの出力増幅用のＩＣであるが、その内部構成は図１５
の様になっている（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の
為、ここでは７３１ｐのみ示す）。

【００４６】図１５において、電流−電圧変換アンプ７
３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出
素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流
７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７
３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１
ｂｐの差出力を求め増幅している。

【００４７】投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述
した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置
検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が
光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，
７８ｙへの入射位置が変化する。

【００４８】前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方
向（図８参照）に感度を持っており、又スリット７５ａ
ｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）に
光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる形
状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動い
た時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７
８ｉ₂ ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐは
支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。

【００４９】又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向
（図８参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは矢
印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出す
る形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動いた
時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。

【００５０】加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換ア
ンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子
７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動ア
ンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動す
る。

【００５１】上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安
定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子
７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７８ｉ₁ ｐの絶対量（７８
ｉ₁ｐ＋７８ｉ₂ ｐ）が変化する。その為、支持枠７５
の位置を示す（７８ｉ₁ ｐ−７８ｉ₂ ｐ）である差動ア
ンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。

【００５２】しかし、上記の様に受光量の総和が一定と
なる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御
すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。

【００５３】図８に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久磁
石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形成
される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す事
で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知のフ
レミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す事
で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。

【００５４】一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル
７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて
位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成とな
る。

【００５５】ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向
（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さく
なる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７
６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。

【００５６】この様に位置検出出力を負帰還して駆動を
行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値
（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに
混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実
に駆動される。

【００５７】実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃ
ｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示の
メイン基板に送られ、そこでアナログ／デジタル変換
（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。

【００５８】マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信
号）と比較増幅され、公知のデジタルフィルタ手法によ
る位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行わ
れた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７３
２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ７
３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６ｙ
を公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠７
５を駆動する。

【００５９】支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，
７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法
により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民
生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に
該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。だからとい
って非制御状態にしておくと、支持枠７５は非制御状態
時には光軸と直交する平面内にて自由に動き回る事が出
来るようになる為、その時のストローク端（機械的端、
詳しくはメカロックリング）での衝突の音発生や損傷に
対しても対策しておく必要がある。

【００６０】その対策として、以下に説明する様に、支
持枠７５を係止するロック機構を具備している。

【００６１】図１４及び図１６に示す様に支持枠７５の
背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けて
あり、図１６に示す様に突起７５ｆの先端がロックリン
グ７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支
持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されてい
る。

【００６２】図１６（ａ），（ｂ）はロックリング７１
９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図１
４の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を
解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを
変化させている。又、図１６（ａ）のカム部７１９ｆ
（３ケ所）は、図９，図１３に示す通り、ロックリング
７１９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている訳
ではないので図１４の方向からは実際には見えないが、
説明の為に図示している。

【００６３】図９に示した通り、コイル７２０（図１６
の７２０ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリ
ング７１９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブ
ル基板７１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続さ
れる４本縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟ま
れた閉磁路内に入っており、コイル７２０に電流を流す
事でロックリング７１９を光軸回りに回転させるトルク
を発生する。

【００６４】このコイル７２０の駆動も不図示のマイコ
ンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１
５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御さ
れ、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。

【００６５】図１６（ａ）において、コイル７２０に通
電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発
生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、
これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバ
ネ力に逆らって反時計方向に回転する。

【００６６】尚、ロックリング７１９は、コイル７２０
に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２
６に当接して安定している。

【００６７】ロックリング７１９が回転すると、アマー
チュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュ
アバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア
７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９
は図１６（ｂ）の様に回転を止める。

【００６８】図１７はロックリング駆動のタイミングチ
ャートである。

【００６９】図１７の矢印７１９ｉでコイル７２０に通
電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグ
ネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着
ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライ
ズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９
に吸着される。

【００７０】次に、図１７の７２０ｃに示す時点でコイ
ル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロ
ックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、
上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に
吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠
７５の突起７５ｆはカム部７１９ｆと対向する位置に在
る（カム部７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は
突起７５ｆとカム部７１９ｆの間のクリアランス分だけ
動ける様になる。

【００７１】この為、重力Ｇ（図１６（ｂ）参照）の方
向に支持枠７５が落下する事になるが、図１７の矢印７
１９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下す
る事は無い。

【００７２】支持枠７５は非制御時はロックリング７１
９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内
周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、こ
のガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支
持枠７５の中心と地板７１の中心がずれている事にな
る。その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１秒費やし
てゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移動させる
制御をしている。

【００７３】これは急激に中心に移動させると補正レン
ズ７４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為
であり、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動
による像劣化が生じない様にする為である。（例えば１
／８秒で支持枠を５μｍ移動させる） 詳しくは、図１７の矢印７１９ｉ時点での位置検出素子
７８ｐ，７８ｙの出力を記憶し、その値を目標値として
支持枠７５の制御を始め、その後１秒間費やしてあらか
じめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく（図
１７の７５ｇ参照）。

【００７４】ロックリング７１９が回転され（アンロッ
ク状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして
（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）
支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。

【００７５】ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの
時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が
補正手段を駆動する補正駆動手段に入力されなくなり、
支持枠７５は中心位置に制御されて止まる。この時に吸
着コイル７３０への通電を止める（７３０ｂ）。する
と、吸着ヨーク７２９によるアマーチュア７２４の吸着
力が無くなり、ロックリング７１９はロックバネ７２８
により時計回りに回転され、図１６（ａ）の状態に戻
る。この時、ロックリング７１９はロックゴム７２６に
当接して回転規制される為に回転終了時の該ロックリン
グ７１９の衝突音は小さく抑えられる。

【００７６】その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、補正駆
動手段への制御を断ち、図１７のタイミングチャートは
終了する。

【００７７】このような像振れ補正装置を具備したカメ
ラの像振れ補正機能に係る部分のみの回路構成を示した
のが、図１８のブロック図である。

【００７８】振れ検出手段２の出力は増幅手段３で増幅
され、マイクロコンピュータ（以下、マイコンと記す）
１のＡ／Ｄ変換端子に入力される。また、補正レンズの
位置検出を行う位置検出手段４の出力は増幅手段５で増
幅され、マイコン１のＡ／Ｄ変換端子に入力される。マ
イコン１内ではこれら２つのデータの信号処理を行い、
補正レンズ駆動データを補正レンズ駆動手段６へ出力
し、補正レンズを駆動して像振れ補正を行う。また、ロ
ック・アンロック駆動手段７は、前述したアンロックコ
イルの駆動、アンロック状態保持等を行うものである。

【００７９】ここで、上記マイコン１の像振れ補正装置
に関する部分の具体的動作の例を、図１９のフローチャ
ートを用いて説明する。

【００８０】像振れ補正は、例えば一定周期毎の割り込
み処理によって行う。尚、前述のロック・アンロック制
御はカメラのメインフローの中において行われている。

【００８１】割り込みが発生すると、マイコン１はステ
ップ＃８１から動作を開始する。 ［ステップ＃８１］ 振れ検出手段２であるところの例
えば角速度センサの出力をＡ／Ｄ変換する。 ［ステップ＃８２］ 像振れ補正開始命令を受けたかど
うかの判定を行い、像振れ補正開始命令を受けていない
ならステップ＃８３へ進む。

【００８２】ステップ＃８３〜＃８４は、像振れ補正を
行わない場合の動作である。 ［ステップ＃８３］ 像振れ補正を行わないので、ＤＣ
オフセット，積分演算の初期化を行う。 ［ステップ＃８４］ 像振れ補正開開始命令を受けてか
らの時間を計測するタイマをクリアする。

【００８３】また、上記ステップ＃８２にて像振れ補正
開始命令を受けていることを判定した場合は、ステップ
＃８５へ進む。 ［ステップ＃８５］ 像振れ補正開始命令を受けてから
所定時間が経過したかどうかの判定を行う。所定時間経
過していなければステップ＃８６へ進む。

【００８４】ステップ＃８６〜＃８７は像振れ補正開始
命令を受けてから所定時間の間の動作であり、未だ像振
れ補正動作は行っていない。 ［ステップ＃８６］ ＤＣオフセットの演算を行う。こ
れは、ハイパスフィルタの初期入力がＤＣ分で急激な変
化をしないように（ステップ入力にならないように）す
るためである。 ［ステップ＃８７］ ハイパスフィルタ演算の初期化を
行い、積分結果を「０」にする。これは、電気的に補正
レンズを中心に保持するためである。

【００８５】また、ステップ＃８５にて像振れ補正開始
命令を受けてから所定時間が経過したことを判定した場
合は、ステップ＃８８以降の像振れ補正動作を開始す
る。 ［ステップ＃８８］ 像振れ補正を開始するために、角
速度センサのＡ／Ｄ変換出力から所定周波数（コンデン
サと抵抗で決まるカットオフ周波数）以下の成分をカッ
トし、実際の振れの信号成分のみを通過させるべくハイ
パスフィルタ演算を行う。 ［ステップ＃８９］ 角変位データを算出する為に公知
の積分演算を行う。 ［ステップ＃９０］ ズームやフォーカスのポジション
によって振れ角変位に対する補正レンズの偏心量（敏感
度）が変化するので、その調整を行う。 ［ステップ＃９１］ 上記の演算結果（像振れ補正駆動
用データ）をマイコン１内のSFTDRVで設定されるＲＡＭ
領域に格納する。 ［ステップ＃９２］ 補正レンズの位置を検出する位置
検出手段４の出力をＡ／Ｄ変換し、その結果をＲＡＭの
SFTPSTに格納する。 ［ステップ＃９３］ フィードバック演算（SFTDRV−SF
TPST）を行う。 ［ステップ＃９４］ ループゲインと上記のフィードバ
ック演算結果を乗算する。 ［ステップ＃９５］ 安定な制御系にするために位相補
償演算を行う。 ［ステップ＃９６］ 上記位相補償演算結果をＰＷＭ信
号としてマイコン１のポートに出力し、割り込みが終了
する。

【００８６】上記の出力は補正レンズ駆動手段６に入力
され、これにより補正レンズが駆動され、像振れが補正
が行われる。

【００８７】以上のような構成によって像振れ補正が行
われる。

【００８８】

【発明が解決しようとする課題】実際に撮影するとき
は、静止した被写体だけでなく、動く被写体を追尾しな
がら撮影したり、被写体を変更したりして撮影すること
もあり、そのときは頻繁にパンニング動作（構図変更動
作）が行われる。

【００８９】しかし、前述のような像振れ補正装置は手
振れなどの振動については効果的であるが、パンニング
のような撮影者の意識的な低周波大振幅振れに関して
は、画像が不自然な挙動を示すことになる。特にパンニ
ングを終了した時や、パンニングの方向を変更した時に
は、画像が揺り戻るような挙動を示す。

【００９０】この挙動時について、図２０を使って説明
する。

【００９１】この図はパンニング動作が開始されてから
終了するまでの、角速度及び角変位の波形を示したもの
である。

【００９２】パンニング動作が開始されると、上記図１
９のステップ＃８８にて行われるハイパス演算結果であ
る角速度の波形は、図２０（ａ）の様に、ステップ的に
変化し、パンニング中はハイパス演算によって徐々に
「０」に戻っていく波形となり、パンニングが終了する
と逆方向にステップ的に変化する。

【００９３】また、この出力を積分した結果である角変
位の波形は、図２０（ｂ）の様に、パンニング開始で大
きく変動し、パンニングが終了すると逆方向に変動す
る。この角変位出力に基づいて像振れ補正を行うので、
この逆方向の変動が画像の揺り戻しを発生させてしまう
のである。

【００９４】このような揺り戻しが発生すると、カメラ
においては正確で素早いフレーミングが行えず、シャッ
タチャンスを逃す可能性があった。

【００９５】 （発明の目的） 本発明の目的は、パン
ニング動作後の画像の揺り戻しを少なくして操作性を向
上させ、かつ、画像の揺り戻し制御の状態から通常の像
振れ補正制御への移行を画像の観察者に違和感を与える
こと無くスムーズに行わせることのできる光学機器を提
供しようとするものである。

【００９６】

【００９７】

【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するた
めに、本発明は、機器に加わる振れを検出する振れ検出
手段と、前記振れに起因する像振れを補正する補正光学
手段とを有し、前記振れ検出手段からの振れ信号に基づ
いて前記補正光学手段を駆動する光学機器において、パ
ンニング動作を検知するパンニング動作検知手段と、パ
ンニング動作終了を検知するパンニング動作終了検知手
段と、パンニング動作が検知されると、前記補正光学手
段を可動中心以外の所定位置に固定するための信号によ
り制御し、パンニング動作の終了が検知されると、前記
振れ検出手段よりの振れ信号のゲインが１に向けて徐々
に大きくなるようにそのゲインを増加させるとともに、
前記補正光学手段を所定位置に固定するための前記信号
のゲインが０に向けて徐々に小さくなるようにそのゲイ
ンを減少させる制御手段とを有することを特徴とする光
学機器とするものである。

【００９８】

【００９９】

【０１００】

【０１０１】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。

【０１０２】図１は本発明の実施の一形態に係るブロッ
ク図であり、ここでは像振れ補正機能付き光学機器とし
て、一眼レフカメラの交換レンズに適用した場合を想定
している。

【０１０３】図１において、１０１はレンズマイコンで
あり、カメラ本体側から通信用のライン１０９ｃ（クロ
ック信号用），１０９ｄ（本体→レンズ信号伝達用）を
通じて通信を受け、その指令値によって、図８に示した
ような構成より成る振れ補正系１０２，フォーカス駆動
系１０４，絞り駆動系１０５の動作を行わせたり、振れ
補正系１０２の制御を行ったりする。

【０１０４】前記振れ補正系１０２は、振れを検知する
角変位センサ等の振れセンサ１０６、補正レンズの位置
を検出する位置センサ１０７、及び、前記振れセンサ１
０６と位置センサ１０７の出力を基にレンズマイコン１
０１にて算出された駆動信号によって補正レンズを駆動
し、像振れ補正を行う振れ補正駆動系１０８から成る。

【０１０５】また、１２４（ＳＷＩＳとも記す）は像振
れ補正動作を行わせるための像振れ補正開始用スイッチ
であり、像振れ補正動作を選択する場合にはこのスイッ
チＳＷＩＳをＯＮにする。

【０１０６】前記フォーカス駆動系１０４は、レンズマ
イコン１０１からの指令値によって焦点調節用のレンズ
を駆動してフォーカシングを行う。前記絞り駆動系１０
５は、レンズマイコン１０１からの指令値によって、絞
りを設定された位置まで絞る又は開放状態に復帰させる
という動作を行う。

【０１０７】また、前記レンズマイコン１０１は、レン
ズ内の状態（ズーム位置，フォーカス位置，絞り値の状
態など）や、レンズに関する情報（開放絞り値，焦点距
離，測距演算に必要なデータなど）を通信用のライン１
０９ｅ（レンズ→カメラ本体信号伝達用）よりカメラ本
体側に伝達することも行う。

【０１０８】前述のレンズマイコン１０１，振れ補正系
１０２，フォーカス駆動系１０４，絞り駆動系１０５か
ら、レンズ電気系１１０が構成される。そして、このレ
ンズ電気系１１０に対しては、通信用のライン１０９
ａ，グランド用ライン１０９ｂを通じてカメラ内電源１
１８から電源供給が行われる。

【０１０９】カメラ本体内には、カメラ本体内の電気系
１１１として、測距部１１２，測光部１１３，シャッタ
部１１４，表示部１１５，その他の制御部１１６、及
び、これらの動作開始・停止などの管理，露出演算，測
距演算などを行うカメラマイコン１１７が内蔵されてい
る。この電気系１１１に対しても、その電源はカメラ内
電源１１８より供給される。

【０１１０】また、１２１（ＳＷ１とも記す）は測光や
測距を開始させるためのスイッチであり、１２２（ＳＷ
２とも記す）はレリーズ動作を開始させるためのレリー
ズスイッチであり、これらは一般的には２段ストローク
スイッチであって、レリーズボタンの第１ストロークで
スイッチＳＷ１がＯＮし、第２ストロークでレリーズス
イッチＳＷ２がＯＮになるように構成されている。

【０１１１】１２３（ＳＷＭとも記す）は露出モード選
択スイッチであり、露出モード変更は、該スイッチのＯ
Ｎ，ＯＦＦで行ったり、該スイッチ１２３と他の操作部
材との同時操作により行う方法などがある。

【０１１２】次に、上記構成のカメラの交換レンズ側で
の動作説明を行う。

【０１１３】レンズマイコン１０１は、図２のフローチ
ャートに示すように動作し、前述のレンズ制御を行って
いる。以下、図２にしたがって動作説明をする。

【０１１４】カメラのスイッチＳＷ１のＯＮなど、何ら
かの操作がなされると、カメラ本体（以下、単にカメラ
と記す）から交換レンズ（以下、単にレンズと記す）へ
通信がなされ、レンズマイコン１０１はステップ＃１か
ら動作を開始する。 ［ステップ＃１］ レンズ制御，像振れ補正制御のため
の初期設定を行う。 ［ステップ＃２］ カメラからの指令に基づいてフォー
カス駆動を行う。 ［ステップ＃３］ ズーム及びフォーカスのポジション
検出を行う。 ［ステップ＃４］ カメラからの通信やスイッチＳＷＩ
Ｓの状態に応じて、図１６等で前述したような補正光学
手段である支持枠（補正レンズ）のロック・アンロック
制御を行う。 ［ステップ＃５］ カメラからＨＡＬＴ（レンズ内のア
クチュエータの全駆動を停止する）命令を受信したかど
うかの判定を行い、ＨＡＬＴ命令を受信していなければ
上記ステップ＃２からの動作を繰り返す。

【０１１５】また、ステップ＃５にてＨＡＬＴ命令を受
信していれば、ステップ＃６へ移行する。 ［ステップ＃６］ ＨＡＬＴ制御を行う。ここでは全駆
動を停止し、レンズマイコン１０１はスリープ（停止）
状態になる。

【０１１６】これらの動作の間に、カメラからの通信に
よるシリアル通信割り込み、像振れ補正制御割り込みの
要求があれば、それらの割り込み処理を行う。

【０１１７】シリアル通信割り込み処理は、通信データ
のデコード，絞り駆動などのレンズ処理を行う。そし
て、通信データのデコードによって、スイッチＳＷ１の
ＯＮ，スイッチＳＷ２のＯＮ，シャッタ秒時，カメラの
機種等が判別できる。

【０１１８】次に、上記ステップ＃４にて実行されるロ
ック・アンロック制御動作について、図３のフローチャ
ートを用いて説明する。尚この実施の形態における像振
れ補正装置は、前述の図８等で述べた構造を持つものを
想定している。また、像振れ補正動作は、カメラのメイ
ンスイッチ、スイッチＳＷ１，ＳＷＩＳの全てがＯＮに
なったら開始するようなシステムであるものとする。 ［ステップ＃３１］ カメラのメインスイッチがＯＮさ
れているかどうかの判定を行い、ＯＮされていればステ
ップ＃３２へ進む。 ［ステップ＃３２］ カメラのスイッチＳＷ１がＯＮさ
れたかどうかの判定を行い、ＯＮされていればステップ
＃３３へ進む。 ［ステップ＃３３］ スイッチＳＷＩＳがＯＮされたか
どうかの判定を行い、ＯＮされていればステップ＃３４
へ進む。

【０１１９】つまり、カメラのメインスイッチ、スイッ
チＳＷ１，ＳＷＩＳの全てＯＮであれば、ステップ＃３
４からの像振れ補正動作を開始する。もし、どれか１つ
でもＯＦＦの場合は、後述するステップ＃４０からの像
振れ補正終了動作を行う。 ［ステップ＃３４］ 像振れ補正開始フラグＩＳ＿ＳＴ
ＡＲＴをセットする。 ［ステップ＃３５］ アンロック吸着用マグネットに通
電をする。これは図１６等で述べた様に、ロックリング
がロックバネに逆らって回転した状態を保持（ロック解
除状態）しておくためである。 ［ステップ＃３６］ 振れ補正駆動用のコイルに通電を
行う。 ［ステップ＃３７］ ロックリング駆動コイルに通電
し、ロックリングを回転させる。 ［ステップ＃３８］ ロックリング駆動時間が経過した
かどうかの判定を行う。このロックリング駆動時間は、
以下のステップ＃３９でロックリングの回転を停止して
も、アンロック吸着用マグネットによってロック解除状
態を保持できる時間があらかじめ設定されている。ここ
で、ロックリング駆動時間が経過していなければこのサ
ブルーチンを終了し、以後ロックリング駆動時間が経過
するまで同様の動作を繰り返する。その後、ロックリン
グ駆動時間が経過したことを判定すると、ステップ＃３
９へ進む。 ［ステップ＃３９］ ロックリング駆動コイルへの通電
を停止する。これでロック解除状態となる。

【０１２０】また、前述した様にカメラのメインスイッ
チ、スイッチＳＷ１，ＳＷＩＳのどれか１つでもＯＦＦ
の場合は、ステップ＃４０からの像振れ補正の終了動作
を行う。 ［ステップ＃４０］ 像振れ補正開始フラグＩＳ＿ＳＴ
ＡＲＴをクリアする。 ［ステップ＃４１］ アンロック吸着用マグネットへの
通電を停止する。これにより、ロックバネによってロッ
クリングがロック方向に回転しロック状態となる。 ［ステップ＃４２］ ロックリング駆動中にＯＦＦされ
る場合があるので、ロックリング駆動コイルの通電も停
止しておく。 ［ステップ＃４３］ 補正レンズを可動中心位置に持っ
ていくセンタリング動作が終了したかどうかの判定を行
い、終了していなければこのサブルーチンを終了し、セ
ンタリング動作が終了するまで同様の動作を繰り返す。
その後、センタリング動作が終了したことを判定する
と、ステップ＃４４へ進む。 ［ステップ＃４４］ 可動中心位置に補正レンズがある
ので、振れ補正駆動用コイルへの通電を停止する。

【０１２１】以上のようにロック・アンロック動作が行
われる。

【０１２２】また、像振れ補正割り込みは一定周期毎に
発生するタイマ割り込みである。

【０１２３】カメラのメイン動作中に像振れ補正割り込
みが発生すると、レンズマイコン１０１は、図４のステ
ップ＃８１から像振れ補正の制御を開始する。従来例と
同じ動作を行う部分は同一のステップ番号を記し、その
説明は省略する。

【０１２４】本実施の形態の特徴部分は、ステップ＃８
９とステップ＃９０の間において実行される、ステップ
＃９７（パンニング制御）である。以下、このパンニン
グ制御について、図５のフローチャートと図６のタイミ
ングチャートを用いて説明する。 ［ステップ＃１１］ パンニング動作中（ＰＡＮＦＬＧ
＝１）かどうかの判定を行い、パンニング動作中であれ
ばステップ＃１６へ進み、パンニング動作中でなければ
ステップ＃１２へ進む。

【０１２５】 ステップ＃１２〜＃１５は、パンニング
動作がなされたかどうかを判断する部分である。 ［ステップ＃１２］ 積分結果の角変位θが0.25°以上
であるかどうかの判定を行い、0.25°以上であればステ
ップ＃１３へ進み、0.25°未満であれば通常の撮影時等
であるのでパンニング制御を終了して図４のステップ＃
９０へ進む。 ［ステップ＃１３］ ２００msec以上、角変位θが0.25
°を越える値であるか否かを判定し、この条件下になけ
ればステップ＃１５へ進むが、この条件を満足した場合
はステップ＃１４へ進む。 ［ステップ＃１４］ パンニング動作が開始されたとし
て、「ＰＡＮＦＬＧ＝１」とする。 ［ステップ＃１５］ 実際の角変位θに関係なく、この
時の角変位θを図６（ｆ）に示す様に0.25°に固定す
る。これは、パンニング動作をスムーズに行える様にす
ると共に、補正レンズが機械的端に突き当たらないよう
にする為である。尚、ステップ＃１３から直接このステ
ップへ来た場合も、パンニング動作が開始されたことは
未だ判定することはできないが、ステップ＃１２におい
て積分結果である角変位θが0.25°以上あるので、パン
ニング動作が開始された可能性が高い為、補正レンズが
機械的端に突き当たること等を防止するために同様の処
理を行っている。

【０１２６】また、上記ステップ＃１１にてパンニング
動作中であることを判定した場合は、前述した様にステ
ップ＃１６へ進み、以下パンニング動作中及び動作終了
後の処理を行う。 ［ステップ＃１６］ パンニング動作が終了（ＰＡＮＳ
ＴＯＰ＝１）したかどうかの判定を行い、パンニングが
終了していなければステップ＃１７へ進む。

【０１２７】ステップ＃１７〜＃２０は、パンニング動
作が終了したかどうかの判定を行う部分である。 ［ステップ＃１７］ 角変位θが0.25°以上であるかど
うかの判定を行い、0.25°以上であればパンニング動作
の途中であるのでステップ＃２０進み、一方、0.25°未
満であればステップ＃１８へ進む。 ［ステップ＃１８］ パンニング動作が終了したか否か
を判定する為に、角変位θが１５０msec以上、0.25°以
下であるかどうかを調べる。この結果、この条件下に無
ければステップ＃２０へ進むが、この条件を満足すれば
パンニング動作が終了したとしてステップ＃１９へ進
む。 ［ステップ＃１９］ パンニング動作が終了したとし
て、「ＰＡＮＳＴＯＰ＝１」とする。 ［ステップ＃２０］ パンニング動作終了後の制御に用
いるカウンタ（ＰＡＮＣＯＵＮＴ）をクリアする。

【０１２８】また、上記ステップ＃１６にてパンニング
動作の終了を判定した場合は、ステップ２１へ進み、以
下パンニング動作終了後の処理を行う。 ［ステップ＃２１］ カウンタ値（PANCOUNT）を基にテ
ーブルデータからＡ，Ｂの値を読み出す。

【０１２９】ここで、ＡとＢはパンニング制御用のゲイ
ンであり、それぞれ図６（ｂ），図６（ｃ）に示すよう
に時間とともに「０→１」，「１→０」に変化してい
る。更に詳述すると、ゲインＡは、パンニング動作終了
後に生じる画像の揺り戻しを抑える為に角変位θに掛け
て（Ａ×θ）用いられるものであり、図６（ａ）に示す
様な急激な補正レンズの挙動を、図６（ｄ）に示す様な
動きにする働きを持つ。また、ゲインＢは、パンニング
動作中に角変位θの値を0.25°にしていたが、これに掛
けて（Ｂ×0.25°）用いられるものであり、所定位置
（0.25°）に固定されていた補正レンズを徐々に可動中
心位置へ戻すように作用する働きを持つ（図６（ｅ）参
照）。

【０１３０】また、上記各乗算値を加算（θ_A ＋θ_B ）
して使用することにより、それぞれの効果を兼ね備えた
動きをさせることが可能となる。つまり、パンニング動
作終了後の画像の揺り戻しを抑えると共に、徐々に補正
レンズを可動中心位置に戻すことができ、通常の像振れ
補正制御への移行をスムーズに行えるようになる。

【０１３１】以下のステップ＃２２，＃２３，＃２４に
おいて、上記の乗算及び加算の処理が実行される。 ［ステップ＃２２］ θ_A ＝Ａ×θを演算する（図６
（ｄ）参照）。 ［ステップ＃２３］ θ_B ＝Ｂ×0.25°を演算する（図
６（ｅ）参照）。 ［ステップ＃２４］ θ＝θ_A ＋θ_B を演算し（図６
（ｆ）参照）、角変位データθを変更する。この新しい
角変位データθによって像振れ補正が行われることにな
る。 ［ステップ＃２５］ PANCOUNTをカウントアップする。 ［ステップ＃２６］ PANCOUNTの値が所定カウントＴＭ
に達したか否かの判定を行い、達していなければ以下同
様の処理を繰り返し、その後所定カウントＴＭに達する
ことにより、ステップ＃２７へ進む。 ［ステップ＃２７］ フラグＰＡＮＦＬＧ，ＰＡＮＳＴ
ＯＰをクリアし、パンニング動作終了後の制御を終了す
る。

【０１３２】以上のように、パンニング動作が終了する
までは角変位θを所定位置（0.25°）に固定して通常の
像振れ補正を行い、パンニング動作が終了すると、ステ
ップ＃２１〜＃２７にて示した様に、角変位データのゲ
インを変更し、所定位置から徐々に可動中心に移動させ
ることを同時に行っているので、画像の揺り戻しが少な
くなり、頻繁なパンニング動作（フレーミング変更動
作）に対する操作性が向上する。

【０１３３】また、徐々に可動中心に移動している最中
に撮影が行われても、撮影結果に悪影響を与えない速度
で移動させるので問題はない。

【０１３４】また、所定時間後（PANCOUNTの値が所定カ
ウントＴＭに達した後）には通常の像振れ補正にスムー
ズに移行しているので、静止した被写体を撮影する場合
でも違和感がなく、非常に操作性が良い。

【０１３５】（変形例）上記実施の形態では、ピッチと
ヨーのプログラムを共有している例を示したが、別々に
設けても構わない。また、デジタル制御で行う例を示し
たが、アナログ制御で行っても良い。

【０１３６】また、像振れ補正装置は交換レンズに組み
込んだ例を示したが、像振れ補正装置が交換レンズ内に
なく、エクステンダのように、カメラとレンズの間に入
るアダプタや、交換レンズの前方に取り付けるコンバー
ジョン・レンズのどの中に入る付属品としての形態をと
っても良い。

【０１３７】また、レンズシャッタカメラ，ビデオカメ
ラなどのレンズ一体型のカメラ等に適用しても良く、更
には、その他の双眼鏡等の光学機器や他の装置，構成ユ
ニットとしても適用することができる。

【０１３８】また、上記実施の形態では、振れセンサと
して角速度センサを例にしているが、角加速度センサ，
加速度センサ，速度センサ，角変位センサ，変位セン
サ、更には画像振れ自体を検出する方法など、振れが検
出できるものであればどのようなものであってもよい。

【０１３９】また、図５及び図６に示す様に、ゲイン
Ａ，Ｂは角変位出力に掛けるようにしているが、角速度
出力に掛ける構成にしても、同様の効果を得ることがで
きることは言うまでもない。

【０１４０】又、複数の像振れ補正モードを選択するこ
との操作部材を具備し、例えば動体被写体（動きの多い
被写体）の撮影モードが選択された場合に、上記の実施
の形態で述べたような信号処理を行うカメラ等であって
も構わない。

【０１４１】

【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、パンニング動作後の画像の揺り戻しを少なくして操
作性を向上させ、かつ、画像の揺り戻し制御の状態から
通常の像振れ補正制御への移行を画像の観察者に違和感
を与えること無くスムーズに行わせることのできる光学
機器を提供できるものである。

【０１４２】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の一形態に係る一眼レフカメラと
交換レンズの回路構成を示すブロック図である。

【図２】図１のレンズマイコンでのメイン動作を示すフ
ローチャートである。

【図３】図１のレンズマイコンにて行われるロック・ア
ンロック動作を示すフローチャートである。

【図４】図１のレンズマイコンにて行われる像振れ補正
割り込み動作を示すフローチャートである。

【図５】図１のレンズマイコンにて行われるパンニング
制御動作を示すフローチャートである。

【図６】図５のパンニング制御時の動作説明を助ける為
の信号波形を示す図である。

【図７】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図で
ある。

【図８】図７の振れ補正装置の構造を示す分解斜視図で
ある。

【図９】図８の挟持手段が挿入される支持枠の孔の形状
を説明する為の図である。

【図１０】図８の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を
示す断面図である。

【図１１】図８に示す地板を示す斜視図である。

【図１２】図８に示す支持枠を示す斜視図である。

【図１３】図８に示すロックリングを示す斜視図であ
る。

【図１４】図８の支持枠等を示す正面図である。

【図１５】図８の位置検出素子の出力を増幅するＩＣの
構成を示す回路図である。

【図１６】図８のロックリングが駆動される時の様子を
示す図である。

【図１７】図１６のロックリング駆動時における信号波
形を示す図である。

【図１８】像振れ補正装置が搭載された一般的なカメラ
の像振れ補正系の回路構成を示すブロック図である。

【図１９】従来の像振れ補正動作を示すフローチャート
である。

【図２０】従来のパンニング動作中及びパンニング動作
終了後の振れ検出手段の出力波形を示す図である。

【符号の説明】

１０１ レンズマイコン １０２ 振れ補正系 １０６ 振れセンサ １０７ 位置センサ １０８ 振れ補正駆動系 １２４ 像振れ補正開始用スイッチ

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−240779（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−142614（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−254726（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−203285（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−23276（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−137813（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−18779（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−313950（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−153809（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−90400（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−80502（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G03B 5/00

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 機器に加わる振れを検出する振れ検出手
   段と、前記振れに起因する像振れを補正する補正光学手
   段とを有し、前記振れ検出手段からの振れ信号に基づい
   て前記補正光学手段を駆動する光学機器において、 パンニング動作を検知するパンニング動作検知手段と、 パンニング動作終了を検知するパンニング動作終了検知
   手段と、 パンニング動作が検知されると、前記補正光学手段を可
   動中心以外の所定位置に固定するための信号により制御
   し、パンニング動作の終了が検知されると、前記振れ検
   出手段よりの振れ信号のゲインが１に向けて徐々に大き
   くなるようにそのゲインを増加させるとともに、前記補
   正光学手段を所定位置に固定するための前記信号のゲイ
   ンが０に向けて徐々に小さくなるようにそのゲインを減
   少させる制御手段とを有することを特徴とする光学機
   器。
2. 【請求項２】 複数の中より何れか一つの像振れ補正状
   態に切換えることのできる像振れ補正状態切換手段を有
   し、該像振れ補正状態切換手段によって選択可能な一つ
   が、パンニング動作の開始及び終了に応じて前記制御手
   段が動作する像振れ補正状態であることを特徴とする請
   求項１記載の光学機器。