JP3423493B2

JP3423493B2 - 補正光学装置

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Publication number: JP3423493B2
Application number: JP20676895A
Authority: JP
Inventors: 晃一鷲巣
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1995-07-21
Filing date: 1995-07-21
Publication date: 2003-07-07
Anticipated expiration: 2015-07-21
Also published as: JPH0933974A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、固定部材に挟持さ
れ、光軸方向に対し略直交する方向に駆動される可動枠
を有する補正光学装置の改良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合せ等
の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているた
め、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は
非常に少なくなっている。

【０００３】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘
発する要因は殆ど無くなってきている。

【０００４】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。

【０００５】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレ
リーズ時点においてこのような手振れを起していても像
振れの無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとし
て、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出
値に応じて補正レンズを変位させてやらなければならな
い。従って、カメラの振れが生じても像振れを生じない
写真を撮影できることを達成するためには、第１にカメ
ラの振動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化
を補正することが必要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動
検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に
積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメ
ラに搭載することによって行うことができる。そして、
この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学
機構を駆動させることにより、像振れ抑制が可能とな
る。

【０００７】ここで、振動検出手段を用いた防振システ
ムについて、図１２を用いてその概要を説明する。

【０００８】図１２の例は、図示矢印８１方向のカメラ
縦振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制
するシステムの図である。

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出す
る振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，
８４ｙで示してある。８５は補正（光学）手段（８６
ｐ，８６ｙは各々補正手段８５に推力を与えるコイル、
８６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検
出素子）であり、該補正手段８５には後述する位置制御
ループを設けており、振動検出手段８３ｐ，８３ｙの出
力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保す
る。

【００１０】図１３はかかる目的に好的に用いられる補
正手段の構造を示す分解斜視図であり、以下図１４〜図
２２を参照しつつ、この構造について説明する。

【００１１】地板７１（図１６に拡大図あり）の背面突
出耳７１ａ〔３ケ所（１ケ所は隠れて見えない）〕は不
図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネ
ジ止めされ、鏡筒に固定される。

【００１２】磁性体であり光択メッキが施された第２ヨ
ーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７
１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジ
ウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７
３が磁気的に吸着されている。尚、各永久磁石７３の磁
化方向は図１３に図示した矢印７３ａの方向である。

【００１３】レンズ７４がＣリング等で固定された支持
枠７５（図１７に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，７６
ｙ（シフト用コイル）がパッチン接着（強引に押し込ま
れて接合された状態を意味する）され（図１７は未接
着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７ｙも支持
枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，７５ａｙ
を通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置検出素子
７８ｐ，７８ｙに入射する。

【００１４】支持枠７５の孔７５ｂ（３ケ所）にはＰＯ
Ｍ（ポリアセタール樹脂）等の先端球状の支持球７９
ａ，７９ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され（図１４
及び図１５も参照）、支持球７９ａが支持枠７５に熱カ
シメされ固定される（支持球７９ｂはチャージバネ７１
０のバネ力に逆らって孔７５ｂの延出方向に摺動可能で
ある）。

【００１５】上記図１５は補正手段の組立後の横断面図
であり、支持枠７５の孔７５ｂに矢印７９ｃ方向に支持
球７９ａを挿入して該孔７５ｂの周端部７５ｃを熱カシ
メして支持球７９ａの抜け止めを行う。

【００１６】次に、支持枠７５の軸受部７５ｄには例え
ばフッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１
（非磁性のステンレス材）を挿入し（図１３参照）、Ｌ
字軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ
（同様にグリスを塗布し）に挿入する。

【００１７】次に、支持枠７５の孔７５ｂ（３カ所）に
支持球７９ａと反対側の開口している側よりチャージバ
ネ７１０，支持枠７９ｂを挿入し、３カ所の支持球７９
ｂを共に第２ヨーク７２に乗せて（図１５参照）支持枠
７５を前記地板７１内に収める。

【００１８】次に、図１３に示す第１ヨーク７１２の位
置決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図１６に示す
ピン７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図１６に示す
受け面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて
地板７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力
により）。

【００１９】これにより、第１ヨーク７１２の背面が支
持球７９ａと当接し、図１５に示す様に支持枠７５は第
１ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方
向の位置決めが為される。

【００２０】支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１
２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリス
が塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と
直交する平面内にて自由に摺動可能である。

【００２１】上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１
に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支
持していることになり、これにより支持枠７５の地板７
１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制
している。

【００２２】尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７
５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支
持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７
２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうこと
を防いでいる。

【００２３】前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シ
ート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハ
ード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増
幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置
決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図１６に示すピ
ン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨー
ク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネ
ジ結合される。

【００２４】ここで、ハード基板７１５には位置検出素
子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けさ
れ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６
ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ
（図１３参照）に熱により圧着される。

【００２５】前記フレキシブル基板７１６から光軸と直
交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延
出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７
５ｅｙ（図１７参照）に引っ掛けられ、投光素子７７
ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半
田付けされる。

【００２６】これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７
ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板
７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われる
ことになる。

【００２７】前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６
ｂｐ，７１６ｂｙ（図１３参照）には各々屈折部７１６
ｃｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性によ
り支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対
する該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減してい
る。

【００２８】前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出
面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１
４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触し
ている。この接触面のハード基板７１５側にはアース
（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハー
ド基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１
２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５に
ノイズを与える事を無くしている。

【００２９】図１３に示すマスク７１７は地板７１のピ
ン７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両
面テープにて固定される。

【００３０】前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ
（図１３，図１６参照）が開けられており、ここから第
２ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通
孔７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組
み込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図１５
参照）。

【００３１】ロックリング７１９（図１３，図１５，図
１８参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着
され、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には
軸受７１９ｂ（図１９参照）があり、アマーチャピン７
２１（図１３参照）にアマーチュアゴム７２２を通し、
該アマーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通した後、
該アマーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７２３を
通し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定する。

【００３２】従って、アマーチュア７２４はアマーチュ
アバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１
９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。

【００３３】図１９は組立終了後の補正手段を、図１３
の背面方向から見た平面図であり、この図において、ロ
ックリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３ケ所）
を地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せてロック
リング７１９を地板７１に押し込み、その後ロックリン
グを時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨネット
結合により、ロックリング７１９は地板７１に取り付い
ている。

【００３４】従って、ロックリング７１９は地板７１に
対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング
７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１
ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを
防ぐ為にロックゴム７２６（図１３，図１９参照）を地
板７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム
７２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図１
９参照）しか回転出来ない様に回転規制している。

【００３５】磁性体のロック用ヨーク７２７（図１３参
照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り
付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン
７１ｋ（図１９参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ
（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合してい
る。

【００３６】地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨ
ーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７
２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成
している。

【００３７】又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨー
ク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図
１９においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は
省いて図示している。

【００３８】前記ロックリング７１９のフック７１９ｅ
と地板７１のフック７１ｍ間（図１９参照）にはロック
バネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時
計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図１３，
図１９参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板
７１の孔７２９ａによりネジ結合される。

【００３９】コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０
の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイス
トペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６
ｄに半田付けされる。

【００４０】前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，
７３１ｙは各々位置検出端子７８ｐ，７８ｙの出力増幅
用のＩＣであるが、その内部構成は図２０の様になって
いる（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の為、ここでは
７３１ｐのみ示す）。

【００４１】図２０において、電流−電圧変換アンプ７
３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出
素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流
７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７
３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１
ｂｐの差出力を求め増幅している。

【００４２】投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述
した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置
検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が
光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，
７８ｙへの入射位置が変化する。

【００４３】前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方
向（図１３参照）に感度を持っており、又スリット７５
ａｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）
に光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる
形状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動
いた時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，
７８ｉ₂ ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐ
は支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。

【００４４】又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向
（図１３参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは
矢印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出
する形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動い
た時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。

【００４５】加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換ア
ンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子
７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動ア
ンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動す
る。

【００４６】上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安
定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子
７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７８ｉ₁ ｐの絶対量（７８
ｉ₁ｐ＋７８ｉ₂ ｐ）が変化する。その為、支持枠７５
の位置を示す（７８ｉ₁ ｐ−７８ｉ₂ ｐ）である差動ア
ンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。

【００４７】しかし、上記の様に受光量の総和が一定と
なる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御
すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。

【００４８】図１３に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久
磁石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形
成される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知の
フレミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。

【００４９】一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル
７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて
位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成とな
る。

【００５０】ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向
（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さく
なる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７
６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。

【００５１】この様に位置検出出力を負帰還して駆動を
行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値
（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに
混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実
に駆動される。

【００５２】実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃ
ｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示の
メイン基板に送られ、そこでアナログ−ディジタル変換
（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。

【００５３】マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信
号）と比較増幅され、公知のディジタルフィルタ手法に
よる位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行
われた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７
３２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ
７３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６
ｙを公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠
７５を駆動する。

【００５４】支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，
７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法
により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民
生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に
該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。

【００５５】また、支持枠７５は非制御状態時には光軸
と直交する平面内にて自由に動き回る事が出来る様にな
る為、その時のストローク端での衝突の音発生や損傷に
対しても対策しておく必要がある。

【００５６】図１７及び図１９に示す様に支持枠７５の
背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けて
あり、図１９に示す様に突起７５ｆの先端がロックリン
グ７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支
持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されてい
る。

【００５７】図２１（ａ），（ｂ）はロックリング７１
９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図１
９の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を
解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを
変化させている。又、図２１（ａ）のカム７１９ｆ（３
ケ所）は、図１５，図１８に示す通り、ロックリング７
１９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている訳で
はないので図２１の方向からは実際には見えないが、説
明の為に図示している。

【００５８】図１５に示した通り、コイル７２０（７２
０ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリング７
１９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブル基板
７１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続される４
本縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟まれた閉
磁路内に入っており、コイル７２０に電流を流す事でロ
ックリング７１９を光軸回りに回転させるトルクを発生
する。

【００５９】このコイル７２０の駆動も不図示のマイコ
ンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１
５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御さ
れ、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。

【００６０】図２１（ａ）において、コイル７２０に通
電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発
生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、
これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバ
ネ力に逆らって反時計方向に回転する。

【００６１】尚、ロックリング７１９は、コイル７２０
に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２
６に当接して安定している。

【００６２】ロックリング７１９が回転すると、アマー
チュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュ
アバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア
７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９
は図２１（ｂ）の様に回転を止める。

【００６３】図２２はロックリング駆動のタイミングチ
ャートである。

【００６４】図２２の矢印７１９ｉでコイル７２０に通
電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグ
ネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着
ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライ
ズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９
に吸着される。

【００６５】次に、図２２の７２０ｃに示す時点でコイ
ル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロ
ックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、
上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に
吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠
７５の突起７５ｆはカム７１９ｆと対向する位置に在る
（カム７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は突起
７５ｆとカム７１９ｆの間のクリアランス分だけ動ける
様になる。

【００６６】この為、重力Ｇ〔図２１（ｂ）参照〕の方
向に支持枠７５が落下する事になるが、図２２の矢印７
１９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下す
る事は無い。

【００６７】支持枠７５は非制御時はロックリング７１
９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内
周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、こ
のガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支
持枠７５の中心と地板７１の中心がズレている事にな
る。

【００６８】その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１
秒費やしてゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移
動させる制御をしている。

【００６９】これは急激に中心に移動させるとレンズ７
４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為であ
り、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動によ
る像劣化が生じない様にする為である。（例えば１／８
秒で支持枠を５μｍ移動させる）詳しくは、図２２の矢
印７１９ｉ時点での位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
を記憶し、その値を目標値として支持枠７５の制御を始
め、その後１秒間費やしてあらかじめ設定した光軸中心
の時の目標値に移動してゆく（図２２の７５ｇ参照）。

【００７０】ロックリング７１９が回転され（アンロッ
ク状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして
（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）
支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。

【００７１】ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの
時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が
補正手段に入力されなくなり、支持枠７５は中心位置に
制御されて止まる。この時に吸着コイル７３０への通電
を止める（７３０ｂ）。すると、吸着ヨーク７２９によ
るアマーチュア７２４の吸着力が無くなり、ロックリン
グ７１９はロックバネ７２８により時計回りに回転さ
れ、図２１（ａ）の状態に戻る。この時、ロックリング
７１９はロックゴム７２６に当接して回転規制される為
に回転終了時の該ロックリング７１９の衝突音は小さく
抑えられる。

【００７２】その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、補正手
段への制御を断ち、図２２のタイミングチャートは終了
する。

【００７３】図２３は防振システムの概要を示すブロッ
ク図である。

【００７４】図２３において、９１は図１２の振動検出
手段８３ｐ，８３ｙであり、振動ジャイロ等の角速度を
検出する振れ検出センサと該振れ検出センサ出力のＤＣ
成分をカットした後に積分して角変位を得るセンサ出力
演算手段より構成される。

【００７５】この振動検出手段９１からの角変位信号は
目標値設定手段９２に入力される。この目標値設定手段
９２は可変差動増幅器９２ａとサンプルホールド回路９
２ｂより構成されており、サンプルホールド回路９２ｂ
は常にサンプル中の為に可変差動増幅器９２ａに入力さ
れる両信号は常に等しく、その出力はゼロである。しか
し、後述する遅延手段９３からの出力で前記サンプルホ
ールド回路９２ｂがホールド状態になると、可変差動増
幅器９２ａはその時点をゼロとして連続的に出力を始め
る。

【００７６】可変差動増幅器９２ａの増幅率は防振敏感
度設定手段９４の出力により可変になっている。何故な
らば、目標値設定手段９２の目標値信号は補正手段を追
従させる目標値（指令信号）であるが、補正手段の駆動
量に対する像面の補正量（防振敏感度）はズーム，フォ
ーカス等の焦点変化に基づく光学特性により変化する
為、その防振敏感度変化を補う為である。

【００７７】従って、防振敏感度設定手段９４は、ズー
ム情報出力手段９５からのズーム焦点距離情報と露光準
備手段９６の測距情報に基づくフォーカス焦点距離情報
が入力され、その情報を基に防振敏感度を演算あるいは
その情報を基にあらかじめ設定した防振敏感度情報を引
き出して、目標値設定手段９２の可変差動増幅器９２ａ
の増幅率を変更させる。

【００７８】補正駆動手段９７はハード基板７１５上に
実装されたＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ，７３２であり、目
標値設定手段９２からの目標値が指令信号７３０ｐ，７
３０ｙとして入力される。

【００７９】補正起動手段９８はハード基板７１５上の
ＩＣ７３２とコイル７６ｐ，７６ｙの接続を制御するス
イッチであり、通常時はスイッチ９８ａを端子９８ｃに
接続させておく事でコイル７６ｐ，７６ｙの各々の両端
を短絡しておき、論理積手段９９の信号が入力されると
スイッチ９８ａを端子９８ｂに接続し、補正手段９１０
を制御状態（未だ振れ補正は行わないが、コイル７６
ｐ，７６ｙに電力を供給し、位置検出素子７８ｐ，７８
ｙの信号がほぼゼロになる位置に補正手段９１０を安定
させておく）にする。又この時同時に論理積手段９９の
出力信号は係止手段９１４にも入力し、これにより係止
手段は補正手段９１０を係止解除する。

【００８０】尚、補正手段９１０はその位置検出素子７
８ｐ，７８ｙの位置信号を補正駆動手段９７に入力し、
前述した様に位置制御を行っている。

【００８１】論理積手段９９はレリーズ手段９１１のレ
リーズ半押しＳＷ１信号と防振切換手段９１２の出力信
号の両信号が入力された時に、その構成要素であるアン
ドゲード９９ａが信号を出力する。つまり、防振切換手
段９１２の防振スイッチを撮影者が操作し、且つレリー
ズ手段９１１でレリーズ半押しを行った時に補正手段９
１０は係止解除され、制御状態になる。

【００８２】レリーズ手段９１１のＳＷ１信号は露光準
備手段９６に入力され、これにより測光，測距，レンズ
合焦駆動が行われる共に、前述した様に防振敏感度設定
手段９４にフォーカス焦点距離情報が入力される。

【００８３】遅延手段９３は論理積手段９９の出力信号
を受けて、例えば１秒後に出力して前述した様に目標値
設定手段９２より目標値信号を出力させる。

【００８４】図示していないが、レリーズ手段９１１の
ＳＷ１信号に同期して振動検出手段９１も起動を始め
る。そして、前述した様に積分器等、大時定回路を含む
センサ出力演算は起動から出力が安定する迄に、ある程
度の時間を要する。

【００８５】前記遅延手段９３は前記振動検出手段９１
の出力が安定する迄待機した後に、補正手段９１０へ目
標値信号を出力する役割を演じ、振動検出手段９１の出
力が安定してから防振を始める構成にしている。

【００８６】露光手段９１３はレリーズ手段９１１のレ
リーズ押切りＳＷ２信号入力によりミラーアップを行
い、露光準備手段９６の測光値を元に求められたシャッ
タスピードでシャッタを開閉して露光を行い、ミラーダ
ウンして撮影を終了する。

【００８７】撮影終了後、撮影者がレリーズ手段９１１
から手を離し、ＳＷ１信号をオフにすると、論値積手段
９９は出力を止め、目標値設定手段９２のサンプルホー
ルド回路９２ｂはサンプリング状態になり、可変差動増
幅器９２ａの出力はゼロになる。従って、補正手段９１
０は補正駆動を止めた制御状態に戻る。

【００８８】論理積手段９９の出力がオフになった事に
より、係止手段９１４は補正手段９１０を係止し、その
後に補正起動手段９８のスイッチ９８ａは端子９８ｃに
接続され、補正手段９１０は制御されなくなる。

【００８９】振動検出手段９１は、不図示のタイマによ
り、レリーズ手段９１１の操作が停止された後も一定時
間（例えば５秒）は動作を継続し、その後に停止する。
これは、撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続き
レリーズ操作を行う事は頻繁にあるわけで、その様な時
に毎回振動検出手段９１を起動するのを防ぎ、その出力
安定迄の待機時間を短くする為であり、振動検出手段９
１が既に起動している時には該振動検出手段９１は起動
既信号を遅延手段９３に送り、その遅延時間を短くして
いる。

【００９０】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来例
においては、支持枠７５を地板７１に組み込む時（図１
５参照）、チャージバネ７１０と支持球７９ｂを同時に
組み込む訳であるが、支持枠７５の地板７１への組み込
み中に支持球７９ｂが落下してしまう可能性も有り、作
業性が良くなかった。特に、第１のヨーク７１２と第２
のヨーク７２の間隔が部品精度のバラツキで変化して
も、支持枠７５の第１のヨーク７１２と第２のヨーク７
２間の挟持のチャージ圧の変化が少なくなる様にし且つ
挟持状態のチャージ力をある程度大きくしようとする
と、チャージバネ７１０はバネ定数の小さいバネを相当
量チャージして組み込む必要が出て来る。

【００９１】すると、チャージバネ７１０の自由長さが
長くなり、図１５において、チャージバネ７１０の自由
長時（チャージ前）において、支持球７９ｂを孔７５ｂ
内に収める事が難しくなる為、組み込めなくなる問題も
生じていた。

【００９２】（発明の目的）本発明の第１の目的は、作
業性の良い挟持手段を実現することのできる補正光学装
置を提供することにある。

【００９３】本発明の第２の目的は、摺動性を向上さ
せ、補正光学系を保持する可動枠の光軸方向に対する略
直交する方向への動きを滑らかにすることのできる補正
光学装置を提供することにある。

【００９４】本発明の第３の目的は、摺動劣化を防止す
ることのできる補正光学装置を提供することにある。

【００９５】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために、請求項１記載の本発明は、可動枠あるいは固
定部材にあらかじめ挟持手段をチャージした状態でセッ
トしておくようにしている。

【００９６】上記第２の目的を達成するために、請求項
２記載の本発明は、挟持手段を、可動枠と固定枠の何れ
か一方に固定される固定挟持部材と、弾性部材と、該弾
性部材をチャージするチャージ部材と、球体とにより構
成し、挟持手段の、チャージ力に逆らって可動し摺動面
と摺動する部分を、可動時の嵌合部の抉れを生じない形
状（球体）にしている。

【００９７】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項３記載の本発明は、挟持手段を、可動枠と固定枠
の何れか一方に一体化された固定挟持部材と、弾性部材
と、該弾性部材をチャージするチャージ部材と、球体と
により構成し、挟持手段のチャージ力に逆らって可動し
摺動面と摺動する部分を、可動時の嵌合部の抉れを生じ
ない形状（球体）にしている。

【００９８】同じく記第２の目的を達成するために、請
求項４記載の本発明は、チャージ部材の当接面を挟持さ
れる面と平行な平面とし、摺動面と摺動する部材（球
体）の動作が他の部材に影響しないようにしている。

【００９９】上記第３の目的を達成するために、請求項
５記載の本発明は、挟持手段を、可動枠と固定枠の何れ
か一方に固定される固定挟持部材と、可動枠に対して挟
持される面より直角な方向に摺動可能な可動挟持部材を
有し、少なくとも前記固定挟持部材を、当接する固定部
材あるいは可動部材の挟持面より軟らかな材質で形成
し、何らかの衝撃を受けた場合、固定部材あるいは可動
部材の挟持面に打痕を生じさせない様に、前記挟持面に
接触する部分がの面積が狭い固定挟持部材を変形させる
ようにしている。

【０１００】同じく上記第３の目的を達成するために、
請求項６記載の本発明は、挟持手段を、可動部材あるい
は固定部材に対して挟持される被挟持面から直角な方向
に摺動可能な可動挟持部材を有し、該可動挟持部材の最
大可動時には、可動枠あるいは固定部材に設けられた受
け部が被挟持面と当接するようにし、何らかの衝撃を受
けた場合、固定部材あるいは可動部材の挟持面に打痕が
付きにくくする為に、前記可動挟持部材が沈み込み、比
較的広い面積を持つ被挟持面と可動枠あるいは固定部材
に設けられた受け部とが当接するようにしている。

【０１０１】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。

【０１０２】図１は本発明の実施の第１の形態に係る補
正光学装置の分解斜視図であり、図１３と異なるのは、
支持球７９ａ，７９ｂの形状とこれらが挿入される支持
枠７５の孔７５ｂの形状のみである。よって、本実施の
形態においては支持球を７９Ａ，７９Ｂとして、又孔７
５ｂを孔７５Ｂとして示すことにする。

【０１０３】図２は支持球７９Ａ，７９Ｂを拡大して示
す斜視図であり、支持球７９Ａ，７９Ｂは同一部品であ
り、羽根部７９Ａａ，７９Ｂａを互いに９０度位相をズ
ラして組合せている。

【０１０４】この様に、支持球７９Ａ，７９Ｂが同一部
品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、
組立ミスが無く、部品管理上も有利である。

【０１０５】図３は補正手段の組立後の横断面図であ
る。

【０１０６】可動枠であるところの支持枠７５の孔７５
Ｂに矢印７９ｃ方向に支持球７９Ｂ，チャージしたチャ
ージバネ７１０，支持球７９Ａの順に挿入してゆき、最
後に孔７５Ｂの周端部７５Ｃを熱カシメして支持球７９
Ａの抜け止めを行う。

【０１０７】尚、支持球７９Ａ，７９Ｂ及びチャージバ
ネ７１０で本発明の挟持手段を構成している。

【０１０８】孔７５Ｂの図３と直交する方向の断面図を
図４（ａ）に示し、又図４（ａ）の断面図を矢印７９ｃ
方向より見た平面図を図４（ｂ）に示しており、図４
（ｂ）の符合Ａ〜Ｄに示す範囲の深さを図４（ａ）のＡ
〜Ｄに示す。

【０１０９】ここで、支持球７９Ａの羽根部７９Ａａの
後端部は深さＡ面の範囲で受けられ規制される為、周端
部７５Ｃを熱カシメする事で支持球７９Ａは支持枠７５
に固定される。

【０１１０】支持球７９Ｂの羽根部７９Ｂａの先端部は
深さＢ面の範囲で受けられる為に、該支持球７９Ｂがチ
ャージバネ７１０のチャージバネ力で孔７５Ｂより矢印
７９ｃの方向に抜けてしまう事はない。

【０１１１】勿論補正手段の組立が終了すると支持球７
９Ｂは図３に示す様に第２ヨーク７２に受けられる為、
支持枠７５より抜け出る事はなくなるが、組立性を考慮
して抜け止め範囲Ｂ面を設けている。

【０１１２】図３及び図４に示す支持枠７５の孔７５Ｂ
の形状は、該支持枠７５を成形で作る場合においても複
雑な内径スライド型を必要とせず、矢印７９ｃと反対側
に型を抜く単純な２分割型で成形可能な為、その分寸法
精度を厳しく設定出来る。

【０１１３】以上の様な構成にする事で、支持枠７５に
予めチャージバネ７１０をチャージした状態でセットし
ておく事が出来る為、組立作業中に支持球７９Ｂやチャ
ージバネ７１０が抜けてしまう事が無くなり、作業性が
飛躍的に向上する。

【０１１４】ここで、支持球７９Ａ，７９ＢはＰＯＭ製
で、挟持面となる第１のヨーク７１２，第２のヨーク７
２は金属である。支持球７９Ａ，７９Ｂを金属にしない
のは衝撃時のキズ対策の為である。もしも支持球７９
Ａ，７９Ｂを金属にした場合を考える。

【０１１５】図５はその様な構成の時に衝撃等で支持枠
７５が矢印２１方向に押しつけられた時の断面図であ
る。

【０１１６】支持球７９Ａ’は第１のヨーク７１２の平
面に対し球面接触の為、接触面積は狭い。その為、矢印
２１方向の力により第１のヨーク７１２側にも打痕２２
が出来る。すると、次に支持枠７５が摺動方向に動こう
とする時、打痕２２を乗り越える事が大きな負荷とな
る。即ち、精度良い防振が出来なくなる。

【０１１７】支持球７９Ａが本実施の形態の様にＰＯＭ
製であると、図６の様に支持球７９Ａの先端部のみが平
面２３の様に潰れるのみであり、第１のヨーク７１２に
は打痕が付かない。この場合、支持球７９Ａと第１のヨ
ーク７１２間は平面接触となる分だけ摺動抵抗は増す
が、図５の場合程の大きな負荷にはならず、防振への影
響は少ない。

【０１１８】次に、支持枠７５が衝撃で反対方向に動く
場合を考える。

【０１１９】図７において、支持枠７５は矢印３１方向
に力を受けている。しかし、この時支持球７９Ｂはチャ
ージバネ７１０のチャージ力に逆らって支持枠７５内に
沈み込む。その為、第２のヨーク７２は支持枠７５の孔
７５Ｂの周辺部の平面３２で支持枠７５と当接する。そ
して、この平面３２は広い面積を有する為、単位面積当
たりの衝撃力は少なくなり、第２のヨーク７２に打痕を
残すことはない。

【０１２０】以上の様に材質の組合せ、及び、支持枠７
５に衝撃時の大面積受け面を設ける事で、挟持部分にお
ける耐久性を向上させる事が出来た。

【０１２１】（実施の第２の形態）図８は本発明の実施
の第２の形態に係る補正光学装置の要部を示す断面図で
あり、挟持手段である支持球７９Ａ，７９Ｂ，チャージ
バネ７１０が地板側に設けられている点が上記の第１の
実施の形態と異なる。

【０１２２】図８において、第１ヨーク７１２，第２ヨ
ーク７２上には樹脂性のサポート部材４１，４２が固定
されており、支持枠７９Ａ，７９Ｂは共に各々のサポー
ト部材４１，４２にカジメられている。尚、支持球７５
Ｂは底面の受け面が深い為、その方向に可動であり、反
対に支持球７９Ａはサポート部材４１に固定である。支
持球７９Ａは、サポート部材４１自体をＰＯＭで形成し
て一体化しても良い。そして、支持球７９Ａ，７９Ｂで
支持枠を挟んで支持している。

【０１２３】以上の様な構成においても予めチャージバ
ネ７１０をチャージした状態でセット出来る為、支持枠
７５を組む時の作業性が向上する。

【０１２４】（実施の第３の形態）図９は本発明の実施
の第３の形態に係る補正光学装置の要部を示す断面図で
あり、上記図３（実施の第１の形態）と異なるのは、前
記支持球７９Ｂが、支持球押え５１と新たな支持球とな
る球体５２の二体に分けられている点にある。

【０１２５】支持球押え５１も支持球７９Ｂと同様にし
て支持枠７５内に組み込まれてゆく為、支持球７５Ａを
支持枠７５に圧入し、熱カシメをした時点でチャージバ
ネ７１０はチャージ状態にセットされる。

【０１２６】球体５２は孔７５Ｂの内周壁と支持球押え
５１の平面部５１ａで構成される凹部内に入り込んでお
り、この凹部に潤滑剤を入れて固定している。その為、
球体５２も支持枠７５から外れる事は無い。

【０１２７】以上の様な構成にする事で次のメリットを
有する。

【０１２８】図１０は上記図３の挟持手段を用いた時に
支持枠７５を矢印７１３ｐ方向に摺動させている様子を
示す図であるが、支持球７９Ｂは第２のヨーク７２と当
接し、互いに摺動する時に多少の摩擦を生じる為に当接
面のみ摺動に遅れを生ずる。その為、図１０に示す様に
支持球７９Ｂと孔７５Ｂの内周壁間で抉れを生ずる（矢
印６１，６２）。この抉れによりチャージバネ７１０の
バネ性が効かなくなってしまう為、第１のヨーク７１２
と第２のヨーク７２間を突っ張る力となり、支持枠７５
の摺動の負荷となる。

【０１２９】ところが、図９の形状の様に第１のヨーク
７２と当接する支持球の球体５２にすると、その形状故
に孔７５Ｂと抉れる事が無く、抉れによる摺動負荷は生
じない。

【０１３０】尚、支持球押え５１の球体５２の当接面は
第２のヨーク７２の挟持面と平行な平面である。これ
は、もしも支持球押え５１の球体５２との当接面が該球
体５２の形状に合せた凹面となると、該球体５２の摺動
時の回転等につれて支持球押え５１も動かされ、支持球
押え５１と孔７５Ｂの内周壁にて抉れが生じてしまう為
である。この為に支持球押え５１の球体５２の当接面を
平面として、球体５２の動きからは独立にしている。

【０１３１】（実施の第４の形態）図１１は本発明の実
施の第４の形態に係る補正光学装置の要部を示す断面図
であり、上記図８（実施の第２の形態）における支持球
７９Ｂを、図９（実施の第２の形態）と同様に、支持球
押え５１と球体５２の二体化にしている。

【０１３２】この為、図８においては図１０と同様に支
持球７５Ｂに抉れが生ずる恐れがあるが、この事を球体
５２により防ぐことが出来る。

【０１３３】以上の各実施の形態によれば、以下のよう
な効果を有するものである。

【０１３４】１）支持枠あるいは第１，第２ヨーク側に
あらかじめチャージバネをチャージしてセットできる
為、組立作業性が向上した。

【０１３５】２）支持球を、支持球押え５１（チャージ
バネ，チャージセット用）と球体５２に二体化した為
に、抉れによる摺動劣化が無くなった。

【０１３６】３）支持球押え５１と球体５２の当接面を
平面にして互いに加わる力（支持球押え５１はチャージ
バネのチャージ方向、球体５２は摺動方向の力）を分離
することができ、支持球押え５１に捻じれが生じる事が
無く、摺動精度の劣化を防ぐことが出来る。

【０１３７】４）支持球７９Ａの様に接触ポイントが狭
い部材を挟持面の様な広い面を持つ部材より軟らい部材
としている為、衝撃による摺動性の劣化を防止すること
が出来る。

【０１３８】５）衝撃等では支持球がバネ力に逆らい沈
み込み、被挟持面は受け面と広い面積で当たる為、打痕
が付きにくくなった。

【０１３９】（発明と実施の形態との対応）上記の各実
施の形態において、支持球７９Ａ，７９Ｂ、又は、支持
球押え５１，球体５２とチャージバネが本発明の挟持手
段に相当し、支持枠７５が本発明の可動枠に相当し、地
板７１，第１ヨーク７１２，第２ヨーク７２が本発明の
固定部材に相当する。

【０１４０】また、支持球７９Ａが本発明の固定枠支持
部材に、支持球７９Ｂが可動支持部材に、チャージバネ
が弾性部材に、支持押え１５がチャージ部材に、球体５
２が球体に、それぞれ相当する。

【０１４１】以上が実施の形態における各構成と本発明
の各構成の対応関係であるが、本発明は、これら実施の
形態の構成に限定されるものではなく、請求項で示した
機能、又は実施の形態がもつ機能が達成できる構成であ
ればどのようなものであってもよいことは言うまでもな
い。

【０１４２】（変形例）本発明は、振動検出手段として
は、角加速度計，加速度計，角速度計，速度計，角変位
計，変位計、更には画像振れ自体を検出する方法等、振
れが検出できるものであればどのようなものであっても
良い。

【０１４３】本発明は、振動検出手段と補正手段は、互
いに装着可能な複数の装置、例えばカメラとそれに装着
可能な交換レンズにそれぞれわけて設けることも可能で
ある。

【０１４４】本発明は、請求項または実施の形態の各構
成または一部の構成が別個の装置に設けられていてもよ
い。例えば、振動検出手段がカメラ本体に、補正手段が
前記カメラに装着されるレンズ鏡筒に、それらを制御す
る制御手段が中間アダプタに設けられていてもよい。

【０１４５】また、本発明は、一眼レフカメラ，レンズ
シャッタカメラ，ビデオカメラ等のカメラに適用した場
合を述べているが、その他の光学機器や他の装置、更に
は構成ユニットとしても適用することができるものであ
る。

【０１４６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
可動枠あるいは固定部材にあらかじめ挟持手段をチャー
ジした状態でセットしておくようにしている為、挟持手
段の、つまりは該装置の組立作業性を向上させることが
できる。

【０１４７】また、本発明によれば、挟持手段の、チャ
ージ力に逆らって可動し摺動面と摺動する部分を、可動
時の嵌合部の抉れを生じない形状（球体）にしている
為、摺動性を向上させ、補正光学系を保持する可動枠の
光軸方向に対する略直交する方向への動きを滑らかにす
ることができる。

【０１４８】また、本発明によれば、チャージ部材の当
接面を挟持される面と平行な平面とし、摺動面と摺動す
る部材（球体）の動作が他の部材に影響しないようにし
ている為、摺動性を向上させ、補正光学系を保持する可
動枠の光軸方向に対する略直交する方向への動きを滑ら
かにすることができる。

【０１４９】また、本発明によれば、何らかの衝撃を受
けた場合、固定部材あるいは可動部材の挟持面に打痕を
生じさせない様に、前記挟持面に接触する部分がの面積
が狭い固定挟持部材を変形させるようにしている為、摺
動精度の劣化を防ぐことができる。

【０１５０】また、本発明によれば、何らかの衝撃を受
けた場合、固定部材あるいは可動部材の挟持面に打痕が
付きにくくする様に、可動挟持部材が沈み込み、比較的
広い面積を持つ被挟持面と可動枠あるいは固定部材に設
けられた受け部とが当接するようにしている為、摺動精
度の劣化を防ぐことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の第１の形態に係る補正光学装置
の構成を示す分解斜視図である。

【図２】図１の支持球の構造を示す斜視図である。

【図３】図１の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を示
す断面図である。

【図４】図３の挟持手段が挿入される支持枠の孔の形状
を説明する為の図である。

【図５】図１の支持球を金属にして挟持手段を摺動させ
た場合について説明する為の断面図である。

【図６】図１の支持球をＰＯＭ製にして挟持手段を摺動
させた場合について説明する為の断面図である。

【図７】図６の挟持手段を逆方向に摺動させた場合につ
いて説明する為の断面図である。

【図８】本発明の実施の第２の形態における挟持手段の
構造を示す断面図である。

【図９】本発明の実施の第３の形態における挟持手段の
構造を示す断面図である。

【図１０】図８の挟持手段の持つ問題点を説明する為の
断面図である。

【図１１】本発明の実施の第４の形態における挟持手段
の構造を示す断面図である。

【図１２】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図
である。

【図１３】図１２の補正光学装置の構造を示す分解斜視
図である。

【図１４】図１３の挟持手段が挿入される支持枠の孔の
形状を説明する為の図である。

【図１５】図１３の地板に支持枠を組み込んだ時の様子
を示す断面図である。

【図１６】図１３に示す地板を示す斜視図である。

【図１７】図１３に示す支持枠を示す斜視図である。

【図１８】図１３に示すロックリングを示す斜視図であ
る。

【図１９】図１３の支持枠等を示す正面図である。

【図２０】図１３の位置検出素子の出力を増幅するＩＣ
の構成を示す回路図である。

【図２１】図１３のロックリングが駆動される地の様子
を示す図である。

【図２２】図２１のロックリング駆動時における信号波
形を示す図である。

【図２３】防振システムが搭載されたカメラの防振系の
回路構成を示すブロック図である。

【符号の説明】

５１支持球押え５２球体７１地板７２第２ヨーク７５支持枠７９Ａ，７９Ｂ支持球７１０チャージバネ７１２第１ヨーク

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】固定部材にチャージされて挟持され、光
軸方向に対し略直交する方向に駆動される可動枠を有す
る補正光学装置であって、前記挟持の為の挟持手段が、
前記可動枠と前記固定枠の何れか一方にあらかじめチャ
ージされて設けられていることを特徴とする補正光学装
置。
【請求項２】固定部材に挟持され、光軸方向に対し略
直交する方向に駆動される可動枠を有する補正光学装置
であって、前記挟持の為の挟持手段は、前記可動枠と前
記固定枠の何れか一方に固定される固定挟持部材と、弾
性部材と、該弾性部材をチャージするチャージ部材と、
球体とにより構成されることを特徴とする補正光学装
置。
【請求項３】固定部材に挟持され、光軸方向に対し略
直交する方向に駆動される可動枠を有する補正光学装置
であって、前記挟持の為の挟持手段は、前記可動枠と前
記固定枠の何れか一方に一体化された固定挟持部材と、
弾性部材と、該弾性部材をチャージするチャージ部材
と、球体とにより構成されることを特徴とする補正光学
装置。
【請求項４】前記チャージ部材は前記球体と当接して
おり、該チャージ部材の当接面は挟持される面と平行な
平面であることを特徴とする請求項２又は３記載の補正
光学装置。
【請求項５】固定部材に挟持され、光軸方向に対し略
直交する方向に駆動される可動枠を有する補正光学装置
であって、前記挟持の為の挟持手段は、前記可動枠と前
記固定枠の何れか一方に固定される固定挟持部材と、前
記可動枠に対して挟持される面より直角な方向に摺動可
能な可動挟持部材を有し、少なくとも前記固定挟持部材
は、当接する前記固定部材あるいは前記可動部材の挟持
面より軟らかな材質で形成されることを特徴とする補正
光学装置。
【請求項６】固定部材に挟持され、光軸方向に対し略
直交する方向に駆動される可動枠を有する補正光学装置
であって、前記挟持の為の挟持手段は、前記可動部材あ
るいは前記固定部材に対して挟持される被挟持面から直
角な方向に摺動可能な可動挟持部材を有し、該可動挟持
部材の最大可動時には、前記可動枠あるいは前記固定部
材に設けられた受け部が挟持面と当接することを特徴と
する補正光学装置。