JP3805045B2 - 振れ補正装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、該装置が搭載される光学機器に加わる振れに起因する像振れを補正するカメラ等に配置される振れ補正装置の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
現在のカメラは露出決定やピント合せ等の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているため、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は非常に少なくなっている。
【０００３】
また、最近では、カメラに加わる手振れを防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘発する要因は殆ど無くなってきている。
【０００４】
ここで、手振れを防ぐシステムについて簡単に説明する。
【０００５】
撮影時のカメラの手振れは、周波数として通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレリーズ時点においてこのような手振れを起していても像振れの無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとして、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出値に応じて補正レンズを変位させてやらなければならない。従って、カメラの振れが生じても像振れを生じない写真を撮影できることを達成するためには、第１にカメラの振動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化を補正することが必要となる。
【０００６】
この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメラに搭載することによって行うことができる。そして、この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学装置を駆動させることにより、像振れ抑制が可能となる。
【０００７】
ここで、振動検出手段を用いた防振システムについて、図６を用いてその概要を説明する。
【０００８】
図６の例は、図示矢印８１方向のカメラ縦振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制するシステムの図である。
【０００９】
同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出する振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，８４ｙで示してある。８５は補正光学装置（８６ｐ，８６ｙは各々補正光学装置８５に推力を与えるコイル、８６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検出素子）であり、該補正光学装置８５には後述する位置制御ループを設けており、振動検出手段８３ｐ，８３ｙの出力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保する。
【００１０】
図７はかかる目的に好的に用いられる振れ補正装置（詳細は後述するが、補正手段や該補正手段を支持したり、係止したりする手段より成る）の構造を示す分解斜視図であり、以下図７〜図１６を参照しつつ、この構造について説明する。
【００１１】
地板７１（図１０に拡大図あり）の背面突出耳７１ａ（３ケ所（１ケ所は隠れて見えない））は不図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネジ止めされ、鏡筒に固定される。
【００１２】
磁性体であり光択メッキが施された第２ヨーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７３が磁気的に吸着されている。なお、各永久磁石７３の磁化方向は図７に図示した矢印７３ａの方向である。
【００１３】
補正レンズ７４がＣリング等で固定された支持枠７５（図１１に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，７６ｙ（シフト用コイル）が強引に押し込まれて接合（以下、この事を「パッチン接着」と記す）され（図１１は未接着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７ｙも支持枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，７５ａｙを通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置検出素子７８ｐ，７８ｙに入射する。
【００１４】
支持枠７５の孔７５ｂ（３ケ所）にはＰＯＭ（ポリアセタール樹脂）等の先端球状の支持球７９ａ，７９ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され（図８及び図１０も参照）、支持球７９ａが支持枠７５に熱カシメされ固定される（支持球７９ｂはチャージバネ７１０のバネ力に逆らって孔７５ｂの延出方向に摺動可能である）。
【００１５】
上記図８は振れ補正装置の組立後の横断面図であり、支持枠７５の孔７５ｂに矢印７９ｃ方向に支持球７９ｂ，チャージしたチャージバネ７１０，支持球７９ａの順に挿入してゆき（支持球７９ａ，７９ｂは同形状の部品）、最後に孔７５ｂの周端部７５ｃを熱カシメして支持球７９ａの抜け止めを行う。
【００１６】
孔７５ｂの図１０と直交する方向の断面図を図９（ａ）に示し、又図９（ａ）の断面図を矢印７９ｃ方向より見た平面図を図９（ｂ）に示しており、図９（ｂ）の符合Ａ〜Ｄに示す範囲の深さを図９（ａ）のＡ〜Ｄに示す。
【００１７】
ここで、支持球７９ａの羽根部７９ａａの後端部は深さＡ面の範囲で受けられ規制される為、周端部７５ａを熱カシメする事で支持球７９ａは支持枠７５に固定される。
【００１８】
支持球７９ｂの羽根部７９ｂａの先端部は深さＢ面の範囲で受けられる為に、該支持球７９ｂがチャージバネ７１０のチャージバネ力で孔７５ｂより矢印７９ｃの方向に抜けてしまう事はない。
【００１９】
勿論振れ補正装置の組立が終了すると支持球７９ｂは図１７に示す様に第２ヨーク７２に受けられる為、支持枠７５より抜け出る事はなくなるが、組立性を考慮して抜け止め範囲Ｂ面を設けている。
【００２０】
図８及び図９に示す支持枠７５の孔７５ｂの形状は、該支持枠７５を成形で作る場合においても複雑な内径スライド型を必要とせず、矢印７９ｃと反対側に型を抜く単純な２分割型で成形可能な為、その分寸法精度を厳しく設定出来る。
【００２１】
この様に、支持球７９ａ，７９ｂが同一部品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、組立ミスが無く、部品管理上も有利である。
【００２２】
上記支持枠７５の軸受部７５ｄには例えばフッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１（非磁性のステンレス材）を挿入し（図７参照）、Ｌ字軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ（同様にグリスを塗布し）に挿入し、３カ所の支持球７９ｂを共に第２ヨーク７２に乗せて支持枠７５を地板７１内に収める。
【００２３】
次に、図７に示す第１ヨーク７１２の位置決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図９に示すピン７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図１０に示す受け面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて地板７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力により）。
【００２４】
これにより、第１ヨーク７１２の背面が支持球７９ａと当接し、図８に示す様に支持枠７５は第１ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方向の位置決めが為される。
【００２５】
支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリスが塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と直交する平面内にて自由に摺動可能である。
【００２６】
上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支持していることになり、これにより支持枠７５の地板７１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制している。
【００２７】
尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうことを防いでいる。
【００２８】
前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図２０に示すピン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨーク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネジ結合される。
【００２９】
ここで、ハード基板７１５には位置検出素子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けされ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ（図７参照）に熱により圧着される。
【００３０】
前記フレキシブル基板７１６から光軸と直交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７５ｅｙ（図１１参照）に引っ掛けられ、投光素子７７ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半田付けされる。
【００３１】
これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われることになる。
【００３２】
前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙ（図１１参照）には各々屈折部７１６ｃｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性により支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対する該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減している。
【００３３】
前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触している。この接触面のハード基板７１５側にはアース（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハード基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５にノイズを与える事を無くしている。
【００３４】
図７に示すマスク７１７は地板７１のピン７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両面テープにて固定される。
【００３５】
前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ（図７，図１０参照）が開けられており、ここから第２ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通孔７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組み込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図８参照）。
【００３６】
ロックリング７１９（図７，図８，図１２参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着され、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には軸受７１９ｂ（図１３参照）があり、アマーチュアピン７２１（図７参照）にアマーチュアゴム７２２を通し、該アマーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通した後、該アマーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７２３を通し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定する。
【００３７】
従って、アマーチュア７２４はアマーチュアバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。
【００３８】
図１３は組立終了後の振れ補正装置を、図７の背面方向から見た平面図であり、この図において、ロックリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３ケ所）を地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せてロックリング７１９を地板７１に押し込み、その後ロックリングを時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨネット結合により、ロックリング７１９は地板７１に取り付いている。
【００３９】
従って、ロックリング７１９は地板７１に対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを防ぐ為にロックゴム７２６（図７，図１３参照）を地板７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム７２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図１３参照）しか回転出来ない様に回転規制している。
【００４０】
磁性体のロック用ヨーク７２７（図７参照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン７１ｋ（図１３参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合している。
【００４１】
地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成している。
【００４２】
又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨーク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図１３においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は省いて図示している。
【００４３】
前記ロックリング７１９のフック７１９ｅと地板７１のフック７１ｍ間（図１３参照）にはロックバネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図７，図１３参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板７１の孔７２９ａによりネジ結合される。
【００４４】
コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイストペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６ｄに半田付けされる。
【００４５】
以上説明した振れ補正装置の機構部は大別すると、光軸を偏心させる補正手段と、該補正手段を支持する手段と、前記補正手段を係止する手段の３つの要素で構成されている。
【００４６】
前記補正手段は、レンズ７４、支持枠７５、コイル７６ｐ，７６ｙ、ＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙ、位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ、支持球７９ａ，７９ｙ、チャージバネ７１０、支持軸７１１で組み立てられている。また、支持手段は、地板７１、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７１２で構成されている。又係止手段は、永久磁石７１８、ロックリング７１９、コイル７２０、アーマチュア軸７２１、アーマチュアゴム７２２、アーマチュアバネ７２３、アーマチュア７２４、ロックゴム７２６、ヨーク７２７、ロックバネ７２８、吸着ヨーク７２９、吸着コイル７３０で構成されている。
【００４７】
また、前記補正手段を構成するうちの、レンズ７４、支持枠７５により補正光学系を成し、ＰＳＤ７８ｐ，７９ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ、ＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙが位置検出手段を成し、コイル７６ｐ，７６ｙ、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７１２が駆動手段を成す。つまり、補正手段は、補正光学系，位置検出手段，前記補正光学系を駆動する駆動手段を主たる構成要素として成るものである。
【００４８】
そして、前記振れ補正装置と振動検出手段（図６参照）と以下の図１４に示す演算手段により、防振システム（防振装置）が構成される。
【００４９】
前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは各々位置検出端子７８ｐ，７８ｙの出力増幅用のＩＣであるが、その内部構成は図１４の様になっている（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の為、ここでは７３１ｐのみ示す）。
【００５０】
図１４において、電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの差出力を求め増幅している。
【００５１】
投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，７８ｙへの入射位置が変化する。
【００５２】
前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方向（図７参照）に感度を持っており、又スリット７５ａｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）に光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる形状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動いた時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ1 ｐ，７８ｉ2 ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐは支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。
【００５３】
又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向（図７参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは矢印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出する形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動いた時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。
【００５４】
加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動アンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動する。
【００５５】
上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ1 ｐ，７８ｉ1 ｐの絶対量（７８ｉ1 ｐ＋７８ｉ2 ｐ）が変化する。その為、支持枠７５の位置を示す（７８ｉ1 ｐ−７８ｉ2 ｐ）である差動アンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。
【００５６】
しかし、上記の様に受光量の総和が一定となる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。
【００５７】
図１３に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久磁石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形成される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す事で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知のフレミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す事で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。
【００５８】
一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成となる。
【００５９】
ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さくなる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。
【００６０】
この様に位置検出出力を負帰還して駆動を行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実に駆動される。
【００６１】
実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示のメイン基板に送られ、そこでアナログ／ディジタル変換（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。
【００６２】
マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信号）と比較増幅され、公知のディジタルフィルタ手法による位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行われた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７３２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ７３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６ｙを公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠７５を駆動する。
【００６３】
支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。
【００６４】
また、支持枠７５は非制御状態時には光軸と直交する平面内にて自由に動き回る事が出来る様になる為、その時のストローク端での衝突の音発生や損傷に対しても対策しておく必要がある。
【００６５】
図１３及び図１５に示す様に支持枠７５の背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けてあり、図１５に示す様に突起７５ｆの先端がロックリング７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されている。
【００６６】
図１５（ａ），（ｂ）はロックリング７１９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図１３の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを変化させている。又、図１４（ａ）のカム部７１９ｆ（３ケ所）は、図８，図１２に示す通り、ロックリング７１９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている訳ではないので図１３の方向からは実際には見えないが、説明の為に図示している。
【００６７】
図８に示した通り、コイル７２０（７２０ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリング７１９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブル基板７１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続される４本縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟まれた閉磁路内に入っており、コイル７２０に電流を流す事でロックリング７１９を光軸回りに回転させるトルクを発生する。
【００６８】
このコイル７２０の駆動も不図示のマイコンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御され、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。
【００６９】
図１５（ａ）において、コイル７２０に通電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバネ力に逆らって反時計方向に回転する。
【００７０】
尚、ロックリング７１９は、コイル７２０に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２６に当接して安定している。
【００７１】
ロックリング７１９が回転すると、アマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュアバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９は図１５（ｂ）の様に回転を止める。
【００７２】
図１６はロックリング駆動のタイミングチャートである。
【００７３】
図１６の矢印７１９ｉでコイル７２０に通電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９に吸着される。
【００７４】
次に、図１６の７２０ｃに示す時点でコイル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠７５の突起７５ｆはカム部７１９ｆと対向する位置に在る（カム部７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は突起７５ｆとカム部７１９ｆの間のクリアランス分だけ動ける様になる。
【００７５】
この為、重力Ｇ（図１５（ｂ）参照）の方向に支持枠７５が落下する事になるが、図６の矢印７１９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下する事は無い。
【００７６】
支持枠７５は非制御時はロックリング７１９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、このガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支持枠７５の中心と地板７１の中心がずれている事になる。その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１秒費やしてゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移動させる制御をしている。
【００７７】
これは急激に中心に移動させると補正レンズ７４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為であり、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動による像劣化が生じない様にする為である。（例えば１／８秒で支持枠を５μｍ移動させる）
詳しくは、図１６の矢印７１９ｉ時点での位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力を記憶し、その値を目標値として支持枠７５の制御を始め、その後１秒間費やしてあらかじめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく（図１６の７５ｇ参照）。
【００７８】
ロックリング７１９が回転され（アンロック状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。
【００７９】
ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が補正手段を駆動する補正駆動手段に入力されなくなり、支持枠７５は中心位置に制御されて止まる。この時に吸着コイル７３０への通電を止める（７３０ｂ）。すると、吸着ヨーク７２９によるアマーチュア７２４の吸着力が無くなり、ロックリング７１９はロックバネ７２８により時計回りに回転され、図１５（ａ）の状態に戻る。この時、ロックリング７１９はロックゴム７２６に当接して回転規制される為に回転終了時の該ロックリング７１９の衝突音は小さく抑えられる。
【００８０】
その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、補正駆動手段への制御を断ち、図１６のタイミングチャートは終了する。
【００８１】
図１７〜図１９は防振システムの概要を示すブロック図である。
【００８２】
これらの図において、９１は図６の振動検出手段８３ｐ，８３ｙに相当する振動検出手段であり、振動ジャイロ等の角速度を検出する振れ検出センサと該振れ検出センサ出力のＤＣ成分をカットした後に積分して角変位を得るセンサ出力演算手段より構成される。
【００８３】
この振動検出手段９１からの角変位信号は目標値設定手段９２に入力される。この目標値設定手段９２は、図１９に示す様に、可変差動増幅器９２ａとサンプルホールド回路９２ｂより構成されており、サンプルホールド回路９２ｂは常にサンプル中の為に可変差動増幅器９２ａに入力される両信号は常に等しく、その出力はゼロである。しかし、後述する遅延手段９３からの出力にて前記サンプルホールド回路９２ｂがホールド状態になると、可変差動増幅器９２ａはその時点をゼロとして連続的に出力を始める。
【００８４】
可変差動増幅器９２ａの増幅率は防振敏感度設定手段９４の出力により可変になっている。何故ならば、目標値設定手段９２の目標値信号は補正手段９１０を追従させる目標値（指令信号）であるが、該補正手段９１０の駆動量に対する像面の補正量（防振敏感度）はズーム，フォーカス等の焦点変化に基づく光学特性により変化するために、その防振敏感度変化を補う為である。
【００８５】
従って、防振敏感度設定手段９４は、図１８に示す様に、ズーム情報出力手段９５からのズーム焦点距離情報と露光準備手段９６の測距情報に基づくフォーカス焦点距離情報が入力されており、その情報を基に防振敏感度を演算あるいはその情報を基にあらかじめ設定した防振敏感度情報を引き出して、目標値設定手段９２内の可変差動増幅器９２ａの増幅率を変更させる。
【００８６】
補正駆動手段９７は、図７のハード基板７１５上に実装されたＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ，７３２に相当し、目標値設定手段９２からの目標値が指令信号として入力される。
【００８７】
補正起動手段９８は、図７のハード基板７１５上のＩＣ７３２と補正手段９１０に具備されたコイル７６ｐ，７６ｙの接続を制御するスイッチであり、図１９に示す様に、通常時はスイッチ９８ａを端子９８ｃに接続させておく事でコイル７６ｐ，７６ｙの各々の両端を短絡しておき、論理積手段９９の信号が入力されるとスイッチ９８ａを端子９８ｂに接続し、補正手段９１０を制御状態（未だ振れ補正は行わないが、コイル７６ｐ，７６ｙに電力を供給し、位置検出素子７８ｐ，７８ｙの信号がほぼゼロになる位置に補正手段９１０を安定させておく）にする。又この時同時に論理積手段９９の出力信号は係止手段９１４にも入力され、これにより係止手段９１４は補正手段９１０の係止を解除する。
【００８８】
尚、補正手段９１０はその位置検出素子７８ｐ，７８ｙの位置信号を補正駆動手段９７に入力し、前述した様に位置制御を行っている。
【００８９】
論理積手段９９はレリーズ手段９１１の半押しによるＳＷ１信号と防振切換手段９１２の出力信号の両信号が入力された時に、その構成要素であるアンドゲード９９ａ（図１８参照）が信号を出力する。つまり、図１９に示す様に、防振切換手段９１２の防振スイッチを撮影者が操作し、且つレリーズ手段９１１の半押しを行った時に補正手段９１０は係止解除され、制御状態になる。
【００９０】
レリーズ手段９１１の半押しにより発生するＳＷ１信号は、図１７及び図１８に示す様に、露光準備手段９６に入力され、これにより測光，測距，レンズ合焦駆動が行われ、ここで得られたフォーカス情報が防振敏感度設定手段９４に入力される。
【００９１】
遅延手段９３は論理積手段９９の出力信号を受けて、例えば１秒後に出力して前述した様に目標値設定手段９２より目標値信号を出力させる。
【００９２】
図示していないが、レリーズ手段９１１の半押しにより発生するＳＷ１信号に同期して振動検出手段９１も起動を始める。そして、前述した様に積分器等、大時定回路を含むセンサ出力演算は起動から出力が安定する迄に、ある程度の時間を要する。
【００９３】
前記遅延手段９３は前記振動検出手段９１の出力が安定する迄待機した後に、補正手段９１０へ目標値信号を出力させる役割を演じ、振動検出手段９１の出力が安定してから防振を始める構成にしている。
【００９４】
露光手段９１３はレリーズ手段９１１の押切り操作により発生するＳＷ２信号入力によりミラーアップを行い、露光準備手段９６の測光値を基に求められたシャッタスピードでシャッタを開閉して露光を行い、ミラーダウンして撮影を終了する。
【００９５】
撮影終了後、撮影者がレリーズ手段９１１から手を離し、ＳＷ１信号をオフにすると、論理積手段９９は出力を止め、目標値設定手段９２のサンプルホールド回路９２ｂはサンプリング状態になり、可変差動増幅器９２ａの出力はゼロになる。従って、補正手段９１０は補正駆動を止めた制御状態に戻る。
【００９６】
論理積手段９９の出力がオフになった事により、係止手段９１４は補正手段９１０を係止し、その後に補正起動手段９８のスイッチ９８ａは端子９８ｃに接続され、補正手段９１０は制御されなくなる。
【００９７】
振動検出手段９１は、不図示のタイマにより、レリーズ手段９１１の操作が停止された後も一定時間（例えば５秒）は動作を継続し、その後に停止する。これは、撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続きレリーズ操作を行う事は頻繁にあるわけで、その様な時に毎回振動検出手段９１を起動するのを防ぎ、その出力安定迄の待機時間を短くする為であり、振動検出手段９１が既に起動している時には該振動検出手段９１は起動既信号を遅延手段９３に送り、その遅延時間を短くしている。
【００９８】
図２０は、上記の動作をマイクロコンピュータにより処理した場合の一連の動作を示すフローチャートであり、以下これに従って簡単に説明する。
【００９９】
カメラに電源が投入されると、マイクロコンピュータは、まず防振スイッチの状態を調べ、オンであれば次にレリーズ手段９１１の半押しによりＳＷ１信号が発生しているか否かを判別する（＃５００１→＃５００２）。ＳＷ１信号が発生していれば、内部タイマをスタートさせ（＃５００３）、次に測光，測距、振れ検出の開始、更には補正手段９１０による防振制御を可能にする為にその係止解除を行う（＃５００４）。
【０１００】
次に、上記タイマでの計時内容が所定の時間ｔ１に達したか否かを調べ、達していなければ達するまでこのステップに留まる（＃５００５）。これは、前述した様にセンサ出力が安定するまでの時間待機する為の処理である。その後、所定の時間ｔ１が経過すると、目標値信号に基づいて補正手段９１０を駆動し、防振制御を開始する（＃５００６）。
【０１０１】
次に、レリーズ手段９１１の押切りによりＳＷ２信号が発生しているか否かを調べ（＃５００７）、発生していなければ再びＳＷ１信号が発生しているか否かの判別を行い、もしＳＷ１信号も発生していなければ（＃５００８のＮＯ）、防振制御を停止すると共に、補正手段９１０を所定の位置に係止する（＃５０１１→＃５０１２）。
【０１０２】
また、ＳＷ２信号は発生していないが、ＳＷ１信号は発生していれば、ステップ＃５００７→＃５００８→＃５００７……の動作を繰り返す。この状態時にレリース手段９１１の押切り操作が為されてＳＷ２信号が発生すると（＃５００７のＹＥＳ）、フィルムへの露光動作を行う（＃５００９）。そして、ＳＷ１信号の状態を調べ（＃５０１０）、該ＳＷ１信号が発生しなくなったら防振制御を停止すると共に、補正手段９１０を所定の位置に係止する（＃５０１１→＃５０１２）。
【０１０３】
以上の動作を終了すると、次に上記タイマを一旦リセットして再度スタートさせ（＃５０１３）、再びＳＷ１信号が所定時間内（ここでは５秒以内）に発生するかどうかの判別を行う（＃５０１４→＃５０１５→＃５０１４……）。もし防振を停止してから５秒以内に再度ＳＷ１信号が発生したならば（＃５０１５のＹＥＳ）、測光，測距動作及び補正手段９１０の係止解除を行い（＃５０１６）、振れ検出はそのまま継続されているので、直ちに目標値信号に基づいて補正手段９１０の駆動制御を行い（＃５００６）、以下前述と同様の動作を繰り返す。
【０１０４】
つまり、この様な処理をすることにより、前述した様に撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続きレリーズ操作をした際に、その度に振動検出手段９１を起動してその出力安定迄待機するといった不都合を無くすことが可能になる。
【０１０５】
一方、防振を停止してから５秒以内にＳＷ１信号が発生しなかった場合は（＃５０１４のＹＥＳ）、振れ検出を停止（振動検出手段９１の駆動を停止）する（＃５０１７）。その後はステップ＃５００１に戻り、防振スイッチのオン待機の状態に入る。
【０１０６】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来の構成においては、補正手段の構成要素である支持枠７５の光軸まわりの回転を規制し、図７の矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向に案内する案内手段である支持軸７１１の延出方向（支持軸７１１はＬ字形状の為に延出方向は２方向）は、支持枠７５を駆動する駆動手段の構成要素であるコイル７６ｐ，７６ｙの推力方向（各々矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向に平行）と一致している。
【０１０７】
しかしながら、推力方向は各々コイル７６ｐ，７６ｙの中心を通り、案内方向は支持軸７１１の軸心である為、共に平行であるが同一軸上にない。この様な場合、こじり（ステックスリップ）が生じ、駆動精度が劣化する場合がある。この事を図２１を用いて説明する。
【０１０８】
図２１（ａ）は、支持枠７５、コイル７６ｐ，７６ｙ及び支持軸７１１を示す平面図である。尚、支持軸７１１の一部は本来支持枠７５に隠れて見えなくなるが、図２１では説明を解り易くする為に両者の重なっている部分も（隠れる部分も）図示している。
【０１０９】
コイル７６ｐ，７６ｙの推力中心は６１ｐ，６１ｙ、案内方向は６２ｐ，６２ｙで示しており、各々は平行であるが同一軸上にない。
【０１１０】
ここで、地板７１（図２１（ａ）では不図示）の軸受部７１ｄと支持軸７１１，支持枠７５の軸受部７５ｄと支持軸７１１間に僅かのクリアランスを設けてある。これは両者の摺動性を経時的，温度変化に依らず保つ為である。そのため、支持軸７１１は各軸受内で僅かの回転が可能である。
【０１１１】
今、支持枠７５を駆動する時、６１ｐ，６１ｙ方向に推力が加わるが、このとき始めに支持軸７１１を回転させる力（案内方向６２ｐと推力中心６１ｐ、又は６２ｙと６１ｙの関係の偏心により生じるモーメント）が働く。これは、各軸受と支持軸７１１間には僅かでも摩擦を有しており、両者を摩擦に逆らって摺動させるよりも軸受ガタ内で支持軸を回転させる方が力が弱い為である。
【０１１２】
ところが支持軸７１１が回転してしまうと、図２１（ｂ）に示す様に、軸受７１ｄ（又は７５ｄ）のカド部でこじり力５１が発生し、駆動力が急激に変化する。即ち、駆動初期は弱い力で支持枠７５は動くが、一定量（支持軸７１１が軸受７１ｄ（又は７５ｄ）のカドに当接する量）変位すると急激に大きな駆動力を必要とする。
【０１１３】
支持枠７５は振れ補正の為に交番駆動（振動駆動）されるが、この時駆動力の変化が交番的に生ずることになり、駆動精度を劣化させてしまうと云う問題があった。
【０１１４】
（発明の目的）本発明の目的は、補正手段の駆動精度の劣化を無くすことのできる振れ補正装置を提供することにある。
【０１１６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、支持手段と、前記支持手段に支持されて撮影光軸に直交する平面内を移動することにより、振れを補正する補正手段と、該補正手段を駆動する駆動手段と、前記補正手段の光軸まわりの回転移動を規制すると共にその移動を案内する案内手段とを備えた振れ補正装置において、前記案内手段が、前記支持手段に対して、前記平面内の第１の方向に移動可能に案内する第１の案内部と、前記支持手段に対して、前記平面内であって前記第１の方向とは異なる第２の方向に移動可能に案内する第２の案内部とを備えることにより前記光軸まわりの回転移動を規制し、前記駆動手段と前記案内手段が、前記駆動手段の推力方向と前記案内手段の案内方向が異なるように配置され、前記第１の案内部が、光軸を間に挟んで相対する前記平面上の二つの位置にて前記第１の方向に案内し、前記第２の案内部が、光軸を間に挟んで相対する前記平面上の二つの位置にて前記第２の方向に案内する振れ補正装置とするものである。
【０１２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図示の実施の形態に基づいて詳細に説明する。
【０１２２】
図１は本発明の実施の第１の形態に係る振れ補正装置の支持枠等の主要部分の構成を示す平面図であり、上記図２１と比べて異なるのは、支持軸７１１による案内方向６２ｐ，６２ｙと推力方向６１ｐ，６１ｙが傾いている点にある。
【０１２３】
この為、例えば支持枠７５を６１ｙ方向にのみ動かそうとするとき、支持枠７５の軸受部７５ｄは支持軸７１１を押し付ける。そして、支持軸７１１はこの力で案内方向６２ｐの反対方向にも動かされる。又、推力方向６１ｙと反対方向に支持枠７５を動かす時は、支持軸７１１は案内方向６２ｐに動かされる。
【０１２４】
この様な構成の為に、軸受部７５ｄと支持軸７１１の間は常に駆動力でプリチャージされている事になり、図１（ｂ）の様に、支持軸７１１は軸受部７５ｄに面当たりする。従って、図２１で説明した従来構成の様なこじりは生じない。
【０１２５】
この関係は支持軸７１１と地板７１の軸受部７１ｄでも同様であり、従来例の問題であるこじりは起きない。
【０１２６】
勿論、コイル７６ｐと７６ｙの合力で支持枠７５を案内方向６２ｐ，６２ｙに動かす時には、図２１と同様にこじりは生じ易くなる。しかしながら、この方向に動くのは主に撮影者による大きな手振れの時であり、又低周波であるこの時には支持枠７５の動きも大きくなり、周波数も低い為にこじりによる精度劣化はあまり問題にならない。
【０１２７】
推力方向６１ｐ又は６１ｙにのみ振れが生ずる場合は、光学機器であるカメラのクイックリターンミラーやシャッタ開閉時の振動が原因であり、この時の振れは小振幅で高周波数であり、こじりにより支持枠７５が動き難くなる条件となる。よって、この方向でのこじりを避ける為に支持軸７１１を傾けている。
【０１２８】
図１（ａ）において、バネ１１ｐ，１１ｙは自由長の圧縮バネであり、バネ１１ｐは一端を支持枠７５の腕７５ｆに、他端を支持軸７１１に、それぞれ固定され、バネ１１ｙは一端を支持軸７１１に、他端を地板７１の腕７１ｎ（図１０参照）に、それぞれ固定されている。
【０１２９】
このバネ１１ｐ，１１ｙの延出方向は案内方向６２ｐ，６２ｙと同方向（推力方向６１ｐ，６１ｙと異なる角度をなす）である為、支持軸７１１と各軸受部７５ｄ，７１ｄ間をプリチャージして面当たりさせ、こじりを無くす機能を有している。
【０１３０】
以上の様に、案内方向と推力方向を異ならしたこと、及び、案内方向にバネ１１ｐ，１１ｙを設けた事により、支持軸７１１と軸受部７５ｄ，７１ｄ間のこじりを無くし、防振精度を高めることが可能となる。
【０１３１】
（実施の第２の形態）
図２〜図４は本発明の実施の第２の形態に係る振れ補正装置の構成を示す図であり、上記実施の第１形態及び図７等に示した従来構成とは異なる構造を持つ。しかし、基本的な構造は同一であり、補正レンズ２１を保持した支持枠２２を光軸方向と垂直な平面内でシフトさせて振れ補正を行うものである。
【０１３２】
図２において、補正レンズ２１は支持する支持枠２２には等分に放射方向に延出する３本の軸２２ａが設けてある。地板２３には同方向に案内孔２３ａが等分に設けられている。
【０１３３】
ここで、前記軸２２ａと案内孔２３ａの関係を、図２（ａ）を矢印Ａ方向より見た部分側面図である図２（ｂ）を用いて説明する。
【０１３４】
案内孔２３ａと軸２２ａは、光軸方向Ｂでは嵌合関係（３ケ所とも）なっている。そのため、支持枠２２は地板２３に対し光軸方向（図２（ａ）では紙面垂直方向）に位置決めされている。案内孔２３ａは同方向（矢印Ｃ方向）に延出する長孔になっている為（３ケ所とも）、軸２２ａはこの方向に自由に摺動出来る。即ち、支持枠２２は地板２３に対し、図２（ａ）の矢印Ｒ方向（ローリング方向）、Ｐ方向（ピッチ方向）、Ｙ方向（ヨー方向）に移動出来る。
【０１３５】
支持枠２２にはフランジ部２２ｂｐ，２２ｂｙ（図２（ａ）参照）が設けられ、各フランジ部２２ｂｐ，２２ｂｙの紙面裏側には、図３（ａ）に示す様に、永久磁石２４ｐ，２４ｙが固定されている。尚、図３（ａ）は、図２（ａ）のＤ1 −Ｄ1 断面である。そして、同図に示す様に、各々の永久磁石２４ｐ，２４ｙに対向して地板２３にコイル２５ｐ，２５ｙが設けられている。
【０１３６】
前記永久磁石２４ｐ，２４ｙの着磁方向は、図３（ａ）に示す様に、光軸方向Ｂに沿っており、コイル２５ｐ，２５ｙも巻線中心Ｅは光軸方向Ｂに平行である。従って、コイル２５ｐ，２５ｙに電流を流すことで、支持枠２２は図２（ａ）に示す矢印Ｐ，Ｙ方向に駆動される。
【０１３７】
図示していないが、矢印Ｐ，Ｙ各々の方向の支持枠２２の変位量を検出する手段を別に設けており、それにより従来例と同様に位置制御駆動を行い、不図示の振動検出手段からの振れ補正目標値に応じて前記支持枠２２を駆動し、振れ補正を行うものである。
【０１３８】
振れ補正を行わない時は、支持枠２２が制御状態に無い為に矢印Ｐ，Ｙ方向に自由となり、支持枠２２が外部からの振動で動き回ることになる。これを防ぐ為に、対の引っ張りバネ２６が支持枠２２のピン２２ｂと地板２３のピン２３ｂ間に設けられており、支持枠２２を地板２３に対し弾性的に保持している。（振れ補正を行う時はこのバネ力に逆らって支持枠を駆動する）
ここで、引っ張りバネ２６のバネ方向は、矢印Ｐ方向に対し４５度傾けてある。この様に４５度に設定したのは、矢印Ｙ方向に対しても４５度となる為であり、これにより矢印Ｐ，Ｙ方向に駆動する時のバネ負荷は矢印Ｐ，Ｙ方向とも同一に出来る。即ち、２本のバネだけで支持枠２２を保持し、且つ、異なる２方向に対し均一のバネ力を発生出来る為、全体をコンパクトにまとめられる。つまり、装置を小型化することができる。
【０１３９】
前記支持枠２２には、一対の腕２２ｃが引っ張りバネ２６と同方向に、且つ、図２（ａ）の紙面下側に設けられ、この腕部２２ｃより紙面下方に延出するローリング規制軸２２ｄ（図２（ａ）のＤ2 −Ｄ2 断面である図３（ｂ）を参照）が地板２３の孔２３ｃを貫通している。
【０１４０】
尚、孔２３ｃと軸２２ｄのクリアランスは、支持枠２２が振れ補正駆動を行う時の補正ストロークより大きく設定され、振れ補正ストロークを軸２２ｄと孔２３ｃの関係で制限する事は無い。
【０１４１】
前記軸２２ｄは、図３（ｂ）に示す様に、孔２３ｃを貫通すると共に、案内手段であるローリング規制リング２７の長穴２６ａを貫通している。
【０１４２】
図４（ａ）は図２（ａ）を裏側から見た図であり、ローリング規制リング２７は地板２３の４ケ所のパッチン爪２３ｄにパッチン止めされ（図４（ａ）をＢ方向から見た図４（ｂ）を参照）、紙面上下方向に規制されると共に、パッチン爪２３ｄはローリング規制リング２７の辺２７ｄと４ケ所で当接している為、地板２３に対して矢印２７ｃ方向には移動出来るが、２７ｂ方向には移動規制されている。
【０１４３】
矢印２７ｂ，２７ｃは、矢印Ｐ，Ｙに対し４５度傾いており、長穴２７ａも矢印２７ｂと同方向に延びている。その為、軸２２ｄは矢印２７ｂ方向に移動出来る為、支持枠２２は地板２３に対し２７ｂ，２７ｃ方向に移動出来る。従って、矢印Ｐ，Ｙ方向にも動ける（２７ｂ，２７ｃ方向の合成により）。
【０１４４】
しかしながら、図２（ａ）のローリング方向Ｒに対しては、図４（ａ）において、軸２２ｄがこの方向に動こうとしてローリング規制リング２７にモーメントを与えても、前記パッチン爪２３ｄによりローリング規制リング２７は地板２３に対してこの方向に規制されている為に動けない。
【０１４５】
以上から明らかな様に、ローリング規制リング２７は矢印２７ｂ，２７ｃへ支持枠２２を案内する案内手段であり、ローリングＲを抑え、前述の実施の第１の形態における支持軸７１１と同様の作用を有する。
【０１４６】
この様に支持軸７１１ではなく、地板２３の支持枠２２と反対面にローリング規制リング２７を設けると、地板２３に余剰スペース２３ｅ（図２（ａ）参照）が生まれ、このスペースを他の機能（例えばカメラのＡＦ駆動アクチュエータ）に割り振ることが出来る。
【０１４７】
ここで、支持枠２２の駆動方向は矢印Ｐ，Ｙ方向であり、案内手段であるローリング規制リング２７の案内方向は矢印２７ｂ，２７ｃ方向であり、互いの方向が異なっている。その為、駆動時には、軸２２ｄと長穴２７ａ及び辺２７ｄとパッチン爪２３ｄ間には適度なプリチャージ力が加わり、互いにこじりを生ずる事を防ぎ、スムーズに振れ補正が行える様になる。
【０１４８】
また、前述した様に引っ張りバネ２６は矢印Ｐ，Ｙ方向に対し４５度の傾きを有している為、永久磁石２４ｐ，２４ｙのスペースと位相をずらすことが出来、且つ、バネ方向が矢印Ｐ，Ｙ共に等角度であるから，矢印Ｐ，Ｙ方向の駆動両方向に同じバネ力を与えられ、一対のバネで２方向の弾性力を与えられ、装置全体をコンパクトにまとめられるメリットも有する。
【０１４９】
図３（ｂ）から解る様に、引っ張りバネ２６の位置と補正手段の一部を成す支持枠２２を光軸方向に規制する案内孔２３ａ（案内手段）は同一線上にある。図２（ａ）においては、３つの案内孔を含む平面内に対の引っ張りバネ２６が含まれ、同一平面上に配置されている事になる。更に記述すると、永久磁石２４ｐ，２４ｙもこの平面内に含まれる。
【０１５０】
この様に、同一平面に様々な要素が含められたのは、各々の構成要素（対の引っ張りバネ２６、永久磁石２４ｐ，２４ｙ、３本の軸２２ａ）を互いに位相がずらすことが出来た事による。そして、その様に出来たのは、弾性手段（引っ張りバネ２６）の引っ張り方向と推力方向を異ならせ、特に２つの推力方向に共に等角度方向に引っ張りバネの方向を配置した事による。これにより、装置全体のコンパクト化が達成されている。
【０１５１】
（実施の第３の形態）
図５は本発明の実施の第３の形態に係る振れ補正装置の主要部分を示す斜視図である。
【０１５２】
上記実施の第１及び第２の形態では、補正レンズを光軸に対し垂直な平面内でシフトさせて振れ補正を行う構成であった。この実施の第３の形態においては、図５に示す様に、補正レンズ４１を光軸４８に対し傾ける事で、振れ補正を行う形式の振れ補正方式に本発明を適用させている。
【０１５３】
図５において、補正レンズ４１を保持する支持枠４１にはボイスコイル４３ｐ，４３ｙが設けられており、光軸方向に対向する不図示の磁気回路との関連により各々光軸４８と平行な矢印４６ｐ，４６ｙ方向に電磁力を発生させる事が出来る。例えば、支持枠４２が公知のジンバル支持により軸４９ｐ，４９ｙまわりに回転可能に軸支されている時（図５のボイスコイル配置の時、一般的には支持枠４１を軸４９ｐ，４９ｙまわりの回転可能にジンバル支持する）、この電磁力により支持枠４２は矢印４７ｐ，４７ｙまわりに回転駆動される。
【０１５４】
図５においては、支持枠４２は軸４４ａによりアーム４４に対し矢印４５ａまわりに回転可能に軸支され、アーム４４は一対の軸４４ｂにより不図示の鏡筒部に矢印４５ｂまわりに回転可能に軸支されている。よって、支持枠４２は不図示の鏡筒に対し、矢印４５ａ，４５ｂまわりに回転可能にジンバル支持されていることになる。
【０１５５】
ボイスコイル４３ｐ，４３ｙによる駆動力を効率よくする為には駆動方向４６ｐ，４６ｙと回転方向（案内方向）を揃える（例えば図５の４７ｐ，４７ｙ）事であるが、この実施の形態ではその方向を異ならせている。
【０１５６】
この方向を異ならせる事で、ボイスコイル４３ｐ，４３ｙと軸４４ａの位相をずらすことが出来、軸４４ａ，４４ｂ、アーム４４、ボイスコイル４３ｐ，４３ｙを同一平面内に配置出来る。これにより、装置全体をコンパクトに出来る。
【０１５７】
（変形例）
本発明は、一眼レフカメラやビデオカメラ等の撮影装置に好適なものであるが、これに限定されるものではなく、防振システムを具備することにより有効な機能を発揮する光学機器への適用も可能である。尚、上記の様に撮影装置に適用した場合には、上記実施の各形態における補正レンズの代わりに、ＣＣＤ等の撮像素子を具備した構成のものであっても、同様に振れ補正が可能となることは言うまでもない。
【０１５８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、補正手段の駆動精度の劣化を無くすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の第１の形態に係る振れ補正装置の主要部分を示す平面図である。
【図２】本発明の実施の第２の形態に係る振れ補正装置の主要部分の平面及び一部側面を示す図である。
【図３】図２（ａ）のＤ1 −Ｄ1 及びＤ2 −Ｄ2 断面を示す図である。
【図４】図２（ａ）の裏面及びその側面を示す図である。
【図５】本発明の実施の第３の形態に係る振れ補正装置の主要部分を示す斜視図である。
【図６】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図である。
【図７】図６の振れ補正装置の構造を示す分解斜視図である。
【図８】図７の挟持手段が挿入される支持枠の孔の形状を説明する為の図である。
【図９】図７の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を示す断面図である。
【図１０】図７に示す地板を示す斜視図である。
【図１１】図７に示す支持枠を示す斜視図である。
【図１２】図７に示すロックリングを示す斜視図である。
【図１３】図７の支持枠等を示す正面図である。
【図１４】図７の位置検出素子の出力を増幅するＩＣの構成を示す回路図である。
【図１５】図７のロックリングが駆動される時の様子を示す図である。
【図１６】図１５のロックリング駆動時における信号波形を示す図である。
【図１７】防振システムが搭載されたカメラの防振系の回路構成を示すブロック図である。
【図１８】図１７に示す各回路の一部の詳細を示すブロック図である。
【図１９】図１７に示す各回路の残りの詳細を示すブロック図である。
【図２０】図１７〜図１９の回路構成におけるカメラの概略動作を示すフローチャートである。
【図２１】従来の問題点を説明する為の支持枠等の平面図である。
【符号の説明】
２１ 補正レンズ
２２ 支持枠
２３ 地板
２３ａ 案内溝
２４ｐ，２４ｙ 永久磁石
２５ｐ，２５ｙ コイル
３５ 案内溝
２６ 引っ張りバネ
２７ ローリング規制リング
７１ 地板
７１ｄ 軸受部
７５ 支持枠
７５ｄ 軸受部
７６ｐ，７６ｙ コイル
７１１ 支持軸
【発明の属する技術分野】
本発明は、該装置が搭載される光学機器に加わる振れに起因する像振れを補正するカメラ等に配置される振れ補正装置の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
現在のカメラは露出決定やピント合せ等の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているため、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は非常に少なくなっている。
【０００３】
また、最近では、カメラに加わる手振れを防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘発する要因は殆ど無くなってきている。
【０００４】
ここで、手振れを防ぐシステムについて簡単に説明する。
【０００５】
撮影時のカメラの手振れは、周波数として通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレリーズ時点においてこのような手振れを起していても像振れの無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとして、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出値に応じて補正レンズを変位させてやらなければならない。従って、カメラの振れが生じても像振れを生じない写真を撮影できることを達成するためには、第１にカメラの振動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化を補正することが必要となる。
【０００６】
この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメラに搭載することによって行うことができる。そして、この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学装置を駆動させることにより、像振れ抑制が可能となる。
【０００７】
ここで、振動検出手段を用いた防振システムについて、図６を用いてその概要を説明する。
【０００８】
図６の例は、図示矢印８１方向のカメラ縦振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制するシステムの図である。
【０００９】
同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出する振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，８４ｙで示してある。８５は補正光学装置（８６ｐ，８６ｙは各々補正光学装置８５に推力を与えるコイル、８６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検出素子）であり、該補正光学装置８５には後述する位置制御ループを設けており、振動検出手段８３ｐ，８３ｙの出力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保する。
【００１０】
図７はかかる目的に好的に用いられる振れ補正装置（詳細は後述するが、補正手段や該補正手段を支持したり、係止したりする手段より成る）の構造を示す分解斜視図であり、以下図７〜図１６を参照しつつ、この構造について説明する。
【００１１】
地板７１（図１０に拡大図あり）の背面突出耳７１ａ（３ケ所（１ケ所は隠れて見えない））は不図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネジ止めされ、鏡筒に固定される。
【００１２】
磁性体であり光択メッキが施された第２ヨーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７３が磁気的に吸着されている。なお、各永久磁石７３の磁化方向は図７に図示した矢印７３ａの方向である。
【００１３】
補正レンズ７４がＣリング等で固定された支持枠７５（図１１に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，７６ｙ（シフト用コイル）が強引に押し込まれて接合（以下、この事を「パッチン接着」と記す）され（図１１は未接着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７ｙも支持枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，７５ａｙを通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置検出素子７８ｐ，７８ｙに入射する。
【００１４】
支持枠７５の孔７５ｂ（３ケ所）にはＰＯＭ（ポリアセタール樹脂）等の先端球状の支持球７９ａ，７９ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され（図８及び図１０も参照）、支持球７９ａが支持枠７５に熱カシメされ固定される（支持球７９ｂはチャージバネ７１０のバネ力に逆らって孔７５ｂの延出方向に摺動可能である）。
【００１５】
上記図８は振れ補正装置の組立後の横断面図であり、支持枠７５の孔７５ｂに矢印７９ｃ方向に支持球７９ｂ，チャージしたチャージバネ７１０，支持球７９ａの順に挿入してゆき（支持球７９ａ，７９ｂは同形状の部品）、最後に孔７５ｂの周端部７５ｃを熱カシメして支持球７９ａの抜け止めを行う。
【００１６】
孔７５ｂの図１０と直交する方向の断面図を図９（ａ）に示し、又図９（ａ）の断面図を矢印７９ｃ方向より見た平面図を図９（ｂ）に示しており、図９（ｂ）の符合Ａ〜Ｄに示す範囲の深さを図９（ａ）のＡ〜Ｄに示す。
【００１７】
ここで、支持球７９ａの羽根部７９ａａの後端部は深さＡ面の範囲で受けられ規制される為、周端部７５ａを熱カシメする事で支持球７９ａは支持枠７５に固定される。
【００１８】
支持球７９ｂの羽根部７９ｂａの先端部は深さＢ面の範囲で受けられる為に、該支持球７９ｂがチャージバネ７１０のチャージバネ力で孔７５ｂより矢印７９ｃの方向に抜けてしまう事はない。
【００１９】
勿論振れ補正装置の組立が終了すると支持球７９ｂは図１７に示す様に第２ヨーク７２に受けられる為、支持枠７５より抜け出る事はなくなるが、組立性を考慮して抜け止め範囲Ｂ面を設けている。
【００２０】
図８及び図９に示す支持枠７５の孔７５ｂの形状は、該支持枠７５を成形で作る場合においても複雑な内径スライド型を必要とせず、矢印７９ｃと反対側に型を抜く単純な２分割型で成形可能な為、その分寸法精度を厳しく設定出来る。
【００２１】
この様に、支持球７９ａ，７９ｂが同一部品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、組立ミスが無く、部品管理上も有利である。
【００２２】
上記支持枠７５の軸受部７５ｄには例えばフッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１（非磁性のステンレス材）を挿入し（図７参照）、Ｌ字軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ（同様にグリスを塗布し）に挿入し、３カ所の支持球７９ｂを共に第２ヨーク７２に乗せて支持枠７５を地板７１内に収める。
【００２３】
次に、図７に示す第１ヨーク７１２の位置決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図９に示すピン７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図１０に示す受け面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて地板７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力により）。
【００２４】
これにより、第１ヨーク７１２の背面が支持球７９ａと当接し、図８に示す様に支持枠７５は第１ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方向の位置決めが為される。
【００２５】
支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリスが塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と直交する平面内にて自由に摺動可能である。
【００２６】
上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支持していることになり、これにより支持枠７５の地板７１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制している。
【００２７】
尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうことを防いでいる。
【００２８】
前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図２０に示すピン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨーク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネジ結合される。
【００２９】
ここで、ハード基板７１５には位置検出素子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けされ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ（図７参照）に熱により圧着される。
【００３０】
前記フレキシブル基板７１６から光軸と直交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７５ｅｙ（図１１参照）に引っ掛けられ、投光素子７７ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半田付けされる。
【００３１】
これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われることになる。
【００３２】
前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙ（図１１参照）には各々屈折部７１６ｃｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性により支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対する該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減している。
【００３３】
前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触している。この接触面のハード基板７１５側にはアース（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハード基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５にノイズを与える事を無くしている。
【００３４】
図７に示すマスク７１７は地板７１のピン７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両面テープにて固定される。
【００３５】
前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ（図７，図１０参照）が開けられており、ここから第２ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通孔７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組み込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図８参照）。
【００３６】
ロックリング７１９（図７，図８，図１２参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着され、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には軸受７１９ｂ（図１３参照）があり、アマーチュアピン７２１（図７参照）にアマーチュアゴム７２２を通し、該アマーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通した後、該アマーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７２３を通し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定する。
【００３７】
従って、アマーチュア７２４はアマーチュアバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。
【００３８】
図１３は組立終了後の振れ補正装置を、図７の背面方向から見た平面図であり、この図において、ロックリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３ケ所）を地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せてロックリング７１９を地板７１に押し込み、その後ロックリングを時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨネット結合により、ロックリング７１９は地板７１に取り付いている。
【００３９】
従って、ロックリング７１９は地板７１に対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを防ぐ為にロックゴム７２６（図７，図１３参照）を地板７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム７２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図１３参照）しか回転出来ない様に回転規制している。
【００４０】
磁性体のロック用ヨーク７２７（図７参照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン７１ｋ（図１３参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合している。
【００４１】
地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成している。
【００４２】
又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨーク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図１３においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は省いて図示している。
【００４３】
前記ロックリング７１９のフック７１９ｅと地板７１のフック７１ｍ間（図１３参照）にはロックバネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図７，図１３参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板７１の孔７２９ａによりネジ結合される。
【００４４】
コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイストペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６ｄに半田付けされる。
【００４５】
以上説明した振れ補正装置の機構部は大別すると、光軸を偏心させる補正手段と、該補正手段を支持する手段と、前記補正手段を係止する手段の３つの要素で構成されている。
【００４６】
前記補正手段は、レンズ７４、支持枠７５、コイル７６ｐ，７６ｙ、ＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙ、位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ、支持球７９ａ，７９ｙ、チャージバネ７１０、支持軸７１１で組み立てられている。また、支持手段は、地板７１、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７１２で構成されている。又係止手段は、永久磁石７１８、ロックリング７１９、コイル７２０、アーマチュア軸７２１、アーマチュアゴム７２２、アーマチュアバネ７２３、アーマチュア７２４、ロックゴム７２６、ヨーク７２７、ロックバネ７２８、吸着ヨーク７２９、吸着コイル７３０で構成されている。
【００４７】
また、前記補正手段を構成するうちの、レンズ７４、支持枠７５により補正光学系を成し、ＰＳＤ７８ｐ，７９ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ、ＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙが位置検出手段を成し、コイル７６ｐ，７６ｙ、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７１２が駆動手段を成す。つまり、補正手段は、補正光学系，位置検出手段，前記補正光学系を駆動する駆動手段を主たる構成要素として成るものである。
【００４８】
そして、前記振れ補正装置と振動検出手段（図６参照）と以下の図１４に示す演算手段により、防振システム（防振装置）が構成される。
【００４９】
前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは各々位置検出端子７８ｐ，７８ｙの出力増幅用のＩＣであるが、その内部構成は図１４の様になっている（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の為、ここでは７３１ｐのみ示す）。
【００５０】
図１４において、電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの差出力を求め増幅している。
【００５１】
投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，７８ｙへの入射位置が変化する。
【００５２】
前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方向（図７参照）に感度を持っており、又スリット７５ａｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）に光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる形状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動いた時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ1 ｐ，７８ｉ2 ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐは支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。
【００５３】
又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向（図７参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは矢印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出する形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動いた時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。
【００５４】
加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動アンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動する。
【００５５】
上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ1 ｐ，７８ｉ1 ｐの絶対量（７８ｉ1 ｐ＋７８ｉ2 ｐ）が変化する。その為、支持枠７５の位置を示す（７８ｉ1 ｐ−７８ｉ2 ｐ）である差動アンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。
【００５６】
しかし、上記の様に受光量の総和が一定となる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。
【００５７】
図１３に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久磁石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形成される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す事で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知のフレミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す事で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。
【００５８】
一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成となる。
【００５９】
ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さくなる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。
【００６０】
この様に位置検出出力を負帰還して駆動を行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実に駆動される。
【００６１】
実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示のメイン基板に送られ、そこでアナログ／ディジタル変換（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。
【００６２】
マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信号）と比較増幅され、公知のディジタルフィルタ手法による位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行われた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７３２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ７３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６ｙを公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠７５を駆動する。
【００６３】
支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。
【００６４】
また、支持枠７５は非制御状態時には光軸と直交する平面内にて自由に動き回る事が出来る様になる為、その時のストローク端での衝突の音発生や損傷に対しても対策しておく必要がある。
【００６５】
図１３及び図１５に示す様に支持枠７５の背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けてあり、図１５に示す様に突起７５ｆの先端がロックリング７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されている。
【００６６】
図１５（ａ），（ｂ）はロックリング７１９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図１３の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを変化させている。又、図１４（ａ）のカム部７１９ｆ（３ケ所）は、図８，図１２に示す通り、ロックリング７１９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている訳ではないので図１３の方向からは実際には見えないが、説明の為に図示している。
【００６７】
図８に示した通り、コイル７２０（７２０ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリング７１９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブル基板７１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続される４本縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟まれた閉磁路内に入っており、コイル７２０に電流を流す事でロックリング７１９を光軸回りに回転させるトルクを発生する。
【００６８】
このコイル７２０の駆動も不図示のマイコンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御され、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。
【００６９】
図１５（ａ）において、コイル７２０に通電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバネ力に逆らって反時計方向に回転する。
【００７０】
尚、ロックリング７１９は、コイル７２０に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２６に当接して安定している。
【００７１】
ロックリング７１９が回転すると、アマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュアバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９は図１５（ｂ）の様に回転を止める。
【００７２】
図１６はロックリング駆動のタイミングチャートである。
【００７３】
図１６の矢印７１９ｉでコイル７２０に通電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９に吸着される。
【００７４】
次に、図１６の７２０ｃに示す時点でコイル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠７５の突起７５ｆはカム部７１９ｆと対向する位置に在る（カム部７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は突起７５ｆとカム部７１９ｆの間のクリアランス分だけ動ける様になる。
【００７５】
この為、重力Ｇ（図１５（ｂ）参照）の方向に支持枠７５が落下する事になるが、図６の矢印７１９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下する事は無い。
【００７６】
支持枠７５は非制御時はロックリング７１９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、このガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支持枠７５の中心と地板７１の中心がずれている事になる。その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１秒費やしてゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移動させる制御をしている。
【００７７】
これは急激に中心に移動させると補正レンズ７４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為であり、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動による像劣化が生じない様にする為である。（例えば１／８秒で支持枠を５μｍ移動させる）
詳しくは、図１６の矢印７１９ｉ時点での位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力を記憶し、その値を目標値として支持枠７５の制御を始め、その後１秒間費やしてあらかじめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく（図１６の７５ｇ参照）。
【００７８】
ロックリング７１９が回転され（アンロック状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。
【００７９】
ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が補正手段を駆動する補正駆動手段に入力されなくなり、支持枠７５は中心位置に制御されて止まる。この時に吸着コイル７３０への通電を止める（７３０ｂ）。すると、吸着ヨーク７２９によるアマーチュア７２４の吸着力が無くなり、ロックリング７１９はロックバネ７２８により時計回りに回転され、図１５（ａ）の状態に戻る。この時、ロックリング７１９はロックゴム７２６に当接して回転規制される為に回転終了時の該ロックリング７１９の衝突音は小さく抑えられる。
【００８０】
その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、補正駆動手段への制御を断ち、図１６のタイミングチャートは終了する。
【００８１】
図１７〜図１９は防振システムの概要を示すブロック図である。
【００８２】
これらの図において、９１は図６の振動検出手段８３ｐ，８３ｙに相当する振動検出手段であり、振動ジャイロ等の角速度を検出する振れ検出センサと該振れ検出センサ出力のＤＣ成分をカットした後に積分して角変位を得るセンサ出力演算手段より構成される。
【００８３】
この振動検出手段９１からの角変位信号は目標値設定手段９２に入力される。この目標値設定手段９２は、図１９に示す様に、可変差動増幅器９２ａとサンプルホールド回路９２ｂより構成されており、サンプルホールド回路９２ｂは常にサンプル中の為に可変差動増幅器９２ａに入力される両信号は常に等しく、その出力はゼロである。しかし、後述する遅延手段９３からの出力にて前記サンプルホールド回路９２ｂがホールド状態になると、可変差動増幅器９２ａはその時点をゼロとして連続的に出力を始める。
【００８４】
可変差動増幅器９２ａの増幅率は防振敏感度設定手段９４の出力により可変になっている。何故ならば、目標値設定手段９２の目標値信号は補正手段９１０を追従させる目標値（指令信号）であるが、該補正手段９１０の駆動量に対する像面の補正量（防振敏感度）はズーム，フォーカス等の焦点変化に基づく光学特性により変化するために、その防振敏感度変化を補う為である。
【００８５】
従って、防振敏感度設定手段９４は、図１８に示す様に、ズーム情報出力手段９５からのズーム焦点距離情報と露光準備手段９６の測距情報に基づくフォーカス焦点距離情報が入力されており、その情報を基に防振敏感度を演算あるいはその情報を基にあらかじめ設定した防振敏感度情報を引き出して、目標値設定手段９２内の可変差動増幅器９２ａの増幅率を変更させる。
【００８６】
補正駆動手段９７は、図７のハード基板７１５上に実装されたＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ，７３２に相当し、目標値設定手段９２からの目標値が指令信号として入力される。
【００８７】
補正起動手段９８は、図７のハード基板７１５上のＩＣ７３２と補正手段９１０に具備されたコイル７６ｐ，７６ｙの接続を制御するスイッチであり、図１９に示す様に、通常時はスイッチ９８ａを端子９８ｃに接続させておく事でコイル７６ｐ，７６ｙの各々の両端を短絡しておき、論理積手段９９の信号が入力されるとスイッチ９８ａを端子９８ｂに接続し、補正手段９１０を制御状態（未だ振れ補正は行わないが、コイル７６ｐ，７６ｙに電力を供給し、位置検出素子７８ｐ，７８ｙの信号がほぼゼロになる位置に補正手段９１０を安定させておく）にする。又この時同時に論理積手段９９の出力信号は係止手段９１４にも入力され、これにより係止手段９１４は補正手段９１０の係止を解除する。
【００８８】
尚、補正手段９１０はその位置検出素子７８ｐ，７８ｙの位置信号を補正駆動手段９７に入力し、前述した様に位置制御を行っている。
【００８９】
論理積手段９９はレリーズ手段９１１の半押しによるＳＷ１信号と防振切換手段９１２の出力信号の両信号が入力された時に、その構成要素であるアンドゲード９９ａ（図１８参照）が信号を出力する。つまり、図１９に示す様に、防振切換手段９１２の防振スイッチを撮影者が操作し、且つレリーズ手段９１１の半押しを行った時に補正手段９１０は係止解除され、制御状態になる。
【００９０】
レリーズ手段９１１の半押しにより発生するＳＷ１信号は、図１７及び図１８に示す様に、露光準備手段９６に入力され、これにより測光，測距，レンズ合焦駆動が行われ、ここで得られたフォーカス情報が防振敏感度設定手段９４に入力される。
【００９１】
遅延手段９３は論理積手段９９の出力信号を受けて、例えば１秒後に出力して前述した様に目標値設定手段９２より目標値信号を出力させる。
【００９２】
図示していないが、レリーズ手段９１１の半押しにより発生するＳＷ１信号に同期して振動検出手段９１も起動を始める。そして、前述した様に積分器等、大時定回路を含むセンサ出力演算は起動から出力が安定する迄に、ある程度の時間を要する。
【００９３】
前記遅延手段９３は前記振動検出手段９１の出力が安定する迄待機した後に、補正手段９１０へ目標値信号を出力させる役割を演じ、振動検出手段９１の出力が安定してから防振を始める構成にしている。
【００９４】
露光手段９１３はレリーズ手段９１１の押切り操作により発生するＳＷ２信号入力によりミラーアップを行い、露光準備手段９６の測光値を基に求められたシャッタスピードでシャッタを開閉して露光を行い、ミラーダウンして撮影を終了する。
【００９５】
撮影終了後、撮影者がレリーズ手段９１１から手を離し、ＳＷ１信号をオフにすると、論理積手段９９は出力を止め、目標値設定手段９２のサンプルホールド回路９２ｂはサンプリング状態になり、可変差動増幅器９２ａの出力はゼロになる。従って、補正手段９１０は補正駆動を止めた制御状態に戻る。
【００９６】
論理積手段９９の出力がオフになった事により、係止手段９１４は補正手段９１０を係止し、その後に補正起動手段９８のスイッチ９８ａは端子９８ｃに接続され、補正手段９１０は制御されなくなる。
【００９７】
振動検出手段９１は、不図示のタイマにより、レリーズ手段９１１の操作が停止された後も一定時間（例えば５秒）は動作を継続し、その後に停止する。これは、撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続きレリーズ操作を行う事は頻繁にあるわけで、その様な時に毎回振動検出手段９１を起動するのを防ぎ、その出力安定迄の待機時間を短くする為であり、振動検出手段９１が既に起動している時には該振動検出手段９１は起動既信号を遅延手段９３に送り、その遅延時間を短くしている。
【００９８】
図２０は、上記の動作をマイクロコンピュータにより処理した場合の一連の動作を示すフローチャートであり、以下これに従って簡単に説明する。
【００９９】
カメラに電源が投入されると、マイクロコンピュータは、まず防振スイッチの状態を調べ、オンであれば次にレリーズ手段９１１の半押しによりＳＷ１信号が発生しているか否かを判別する（＃５００１→＃５００２）。ＳＷ１信号が発生していれば、内部タイマをスタートさせ（＃５００３）、次に測光，測距、振れ検出の開始、更には補正手段９１０による防振制御を可能にする為にその係止解除を行う（＃５００４）。
【０１００】
次に、上記タイマでの計時内容が所定の時間ｔ１に達したか否かを調べ、達していなければ達するまでこのステップに留まる（＃５００５）。これは、前述した様にセンサ出力が安定するまでの時間待機する為の処理である。その後、所定の時間ｔ１が経過すると、目標値信号に基づいて補正手段９１０を駆動し、防振制御を開始する（＃５００６）。
【０１０１】
次に、レリーズ手段９１１の押切りによりＳＷ２信号が発生しているか否かを調べ（＃５００７）、発生していなければ再びＳＷ１信号が発生しているか否かの判別を行い、もしＳＷ１信号も発生していなければ（＃５００８のＮＯ）、防振制御を停止すると共に、補正手段９１０を所定の位置に係止する（＃５０１１→＃５０１２）。
【０１０２】
また、ＳＷ２信号は発生していないが、ＳＷ１信号は発生していれば、ステップ＃５００７→＃５００８→＃５００７……の動作を繰り返す。この状態時にレリース手段９１１の押切り操作が為されてＳＷ２信号が発生すると（＃５００７のＹＥＳ）、フィルムへの露光動作を行う（＃５００９）。そして、ＳＷ１信号の状態を調べ（＃５０１０）、該ＳＷ１信号が発生しなくなったら防振制御を停止すると共に、補正手段９１０を所定の位置に係止する（＃５０１１→＃５０１２）。
【０１０３】
以上の動作を終了すると、次に上記タイマを一旦リセットして再度スタートさせ（＃５０１３）、再びＳＷ１信号が所定時間内（ここでは５秒以内）に発生するかどうかの判別を行う（＃５０１４→＃５０１５→＃５０１４……）。もし防振を停止してから５秒以内に再度ＳＷ１信号が発生したならば（＃５０１５のＹＥＳ）、測光，測距動作及び補正手段９１０の係止解除を行い（＃５０１６）、振れ検出はそのまま継続されているので、直ちに目標値信号に基づいて補正手段９１０の駆動制御を行い（＃５００６）、以下前述と同様の動作を繰り返す。
【０１０４】
つまり、この様な処理をすることにより、前述した様に撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続きレリーズ操作をした際に、その度に振動検出手段９１を起動してその出力安定迄待機するといった不都合を無くすことが可能になる。
【０１０５】
一方、防振を停止してから５秒以内にＳＷ１信号が発生しなかった場合は（＃５０１４のＹＥＳ）、振れ検出を停止（振動検出手段９１の駆動を停止）する（＃５０１７）。その後はステップ＃５００１に戻り、防振スイッチのオン待機の状態に入る。
【０１０６】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来の構成においては、補正手段の構成要素である支持枠７５の光軸まわりの回転を規制し、図７の矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向に案内する案内手段である支持軸７１１の延出方向（支持軸７１１はＬ字形状の為に延出方向は２方向）は、支持枠７５を駆動する駆動手段の構成要素であるコイル７６ｐ，７６ｙの推力方向（各々矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向に平行）と一致している。
【０１０７】
しかしながら、推力方向は各々コイル７６ｐ，７６ｙの中心を通り、案内方向は支持軸７１１の軸心である為、共に平行であるが同一軸上にない。この様な場合、こじり（ステックスリップ）が生じ、駆動精度が劣化する場合がある。この事を図２１を用いて説明する。
【０１０８】
図２１（ａ）は、支持枠７５、コイル７６ｐ，７６ｙ及び支持軸７１１を示す平面図である。尚、支持軸７１１の一部は本来支持枠７５に隠れて見えなくなるが、図２１では説明を解り易くする為に両者の重なっている部分も（隠れる部分も）図示している。
【０１０９】
コイル７６ｐ，７６ｙの推力中心は６１ｐ，６１ｙ、案内方向は６２ｐ，６２ｙで示しており、各々は平行であるが同一軸上にない。
【０１１０】
ここで、地板７１（図２１（ａ）では不図示）の軸受部７１ｄと支持軸７１１，支持枠７５の軸受部７５ｄと支持軸７１１間に僅かのクリアランスを設けてある。これは両者の摺動性を経時的，温度変化に依らず保つ為である。そのため、支持軸７１１は各軸受内で僅かの回転が可能である。
【０１１１】
今、支持枠７５を駆動する時、６１ｐ，６１ｙ方向に推力が加わるが、このとき始めに支持軸７１１を回転させる力（案内方向６２ｐと推力中心６１ｐ、又は６２ｙと６１ｙの関係の偏心により生じるモーメント）が働く。これは、各軸受と支持軸７１１間には僅かでも摩擦を有しており、両者を摩擦に逆らって摺動させるよりも軸受ガタ内で支持軸を回転させる方が力が弱い為である。
【０１１２】
ところが支持軸７１１が回転してしまうと、図２１（ｂ）に示す様に、軸受７１ｄ（又は７５ｄ）のカド部でこじり力５１が発生し、駆動力が急激に変化する。即ち、駆動初期は弱い力で支持枠７５は動くが、一定量（支持軸７１１が軸受７１ｄ（又は７５ｄ）のカドに当接する量）変位すると急激に大きな駆動力を必要とする。
【０１１３】
支持枠７５は振れ補正の為に交番駆動（振動駆動）されるが、この時駆動力の変化が交番的に生ずることになり、駆動精度を劣化させてしまうと云う問題があった。
【０１１４】
（発明の目的）本発明の目的は、補正手段の駆動精度の劣化を無くすことのできる振れ補正装置を提供することにある。
【０１１６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、支持手段と、前記支持手段に支持されて撮影光軸に直交する平面内を移動することにより、振れを補正する補正手段と、該補正手段を駆動する駆動手段と、前記補正手段の光軸まわりの回転移動を規制すると共にその移動を案内する案内手段とを備えた振れ補正装置において、前記案内手段が、前記支持手段に対して、前記平面内の第１の方向に移動可能に案内する第１の案内部と、前記支持手段に対して、前記平面内であって前記第１の方向とは異なる第２の方向に移動可能に案内する第２の案内部とを備えることにより前記光軸まわりの回転移動を規制し、前記駆動手段と前記案内手段が、前記駆動手段の推力方向と前記案内手段の案内方向が異なるように配置され、前記第１の案内部が、光軸を間に挟んで相対する前記平面上の二つの位置にて前記第１の方向に案内し、前記第２の案内部が、光軸を間に挟んで相対する前記平面上の二つの位置にて前記第２の方向に案内する振れ補正装置とするものである。
【０１２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図示の実施の形態に基づいて詳細に説明する。
【０１２２】
図１は本発明の実施の第１の形態に係る振れ補正装置の支持枠等の主要部分の構成を示す平面図であり、上記図２１と比べて異なるのは、支持軸７１１による案内方向６２ｐ，６２ｙと推力方向６１ｐ，６１ｙが傾いている点にある。
【０１２３】
この為、例えば支持枠７５を６１ｙ方向にのみ動かそうとするとき、支持枠７５の軸受部７５ｄは支持軸７１１を押し付ける。そして、支持軸７１１はこの力で案内方向６２ｐの反対方向にも動かされる。又、推力方向６１ｙと反対方向に支持枠７５を動かす時は、支持軸７１１は案内方向６２ｐに動かされる。
【０１２４】
この様な構成の為に、軸受部７５ｄと支持軸７１１の間は常に駆動力でプリチャージされている事になり、図１（ｂ）の様に、支持軸７１１は軸受部７５ｄに面当たりする。従って、図２１で説明した従来構成の様なこじりは生じない。
【０１２５】
この関係は支持軸７１１と地板７１の軸受部７１ｄでも同様であり、従来例の問題であるこじりは起きない。
【０１２６】
勿論、コイル７６ｐと７６ｙの合力で支持枠７５を案内方向６２ｐ，６２ｙに動かす時には、図２１と同様にこじりは生じ易くなる。しかしながら、この方向に動くのは主に撮影者による大きな手振れの時であり、又低周波であるこの時には支持枠７５の動きも大きくなり、周波数も低い為にこじりによる精度劣化はあまり問題にならない。
【０１２７】
推力方向６１ｐ又は６１ｙにのみ振れが生ずる場合は、光学機器であるカメラのクイックリターンミラーやシャッタ開閉時の振動が原因であり、この時の振れは小振幅で高周波数であり、こじりにより支持枠７５が動き難くなる条件となる。よって、この方向でのこじりを避ける為に支持軸７１１を傾けている。
【０１２８】
図１（ａ）において、バネ１１ｐ，１１ｙは自由長の圧縮バネであり、バネ１１ｐは一端を支持枠７５の腕７５ｆに、他端を支持軸７１１に、それぞれ固定され、バネ１１ｙは一端を支持軸７１１に、他端を地板７１の腕７１ｎ（図１０参照）に、それぞれ固定されている。
【０１２９】
このバネ１１ｐ，１１ｙの延出方向は案内方向６２ｐ，６２ｙと同方向（推力方向６１ｐ，６１ｙと異なる角度をなす）である為、支持軸７１１と各軸受部７５ｄ，７１ｄ間をプリチャージして面当たりさせ、こじりを無くす機能を有している。
【０１３０】
以上の様に、案内方向と推力方向を異ならしたこと、及び、案内方向にバネ１１ｐ，１１ｙを設けた事により、支持軸７１１と軸受部７５ｄ，７１ｄ間のこじりを無くし、防振精度を高めることが可能となる。
【０１３１】
（実施の第２の形態）
図２〜図４は本発明の実施の第２の形態に係る振れ補正装置の構成を示す図であり、上記実施の第１形態及び図７等に示した従来構成とは異なる構造を持つ。しかし、基本的な構造は同一であり、補正レンズ２１を保持した支持枠２２を光軸方向と垂直な平面内でシフトさせて振れ補正を行うものである。
【０１３２】
図２において、補正レンズ２１は支持する支持枠２２には等分に放射方向に延出する３本の軸２２ａが設けてある。地板２３には同方向に案内孔２３ａが等分に設けられている。
【０１３３】
ここで、前記軸２２ａと案内孔２３ａの関係を、図２（ａ）を矢印Ａ方向より見た部分側面図である図２（ｂ）を用いて説明する。
【０１３４】
案内孔２３ａと軸２２ａは、光軸方向Ｂでは嵌合関係（３ケ所とも）なっている。そのため、支持枠２２は地板２３に対し光軸方向（図２（ａ）では紙面垂直方向）に位置決めされている。案内孔２３ａは同方向（矢印Ｃ方向）に延出する長孔になっている為（３ケ所とも）、軸２２ａはこの方向に自由に摺動出来る。即ち、支持枠２２は地板２３に対し、図２（ａ）の矢印Ｒ方向（ローリング方向）、Ｐ方向（ピッチ方向）、Ｙ方向（ヨー方向）に移動出来る。
【０１３５】
支持枠２２にはフランジ部２２ｂｐ，２２ｂｙ（図２（ａ）参照）が設けられ、各フランジ部２２ｂｐ，２２ｂｙの紙面裏側には、図３（ａ）に示す様に、永久磁石２４ｐ，２４ｙが固定されている。尚、図３（ａ）は、図２（ａ）のＤ1 −Ｄ1 断面である。そして、同図に示す様に、各々の永久磁石２４ｐ，２４ｙに対向して地板２３にコイル２５ｐ，２５ｙが設けられている。
【０１３６】
前記永久磁石２４ｐ，２４ｙの着磁方向は、図３（ａ）に示す様に、光軸方向Ｂに沿っており、コイル２５ｐ，２５ｙも巻線中心Ｅは光軸方向Ｂに平行である。従って、コイル２５ｐ，２５ｙに電流を流すことで、支持枠２２は図２（ａ）に示す矢印Ｐ，Ｙ方向に駆動される。
【０１３７】
図示していないが、矢印Ｐ，Ｙ各々の方向の支持枠２２の変位量を検出する手段を別に設けており、それにより従来例と同様に位置制御駆動を行い、不図示の振動検出手段からの振れ補正目標値に応じて前記支持枠２２を駆動し、振れ補正を行うものである。
【０１３８】
振れ補正を行わない時は、支持枠２２が制御状態に無い為に矢印Ｐ，Ｙ方向に自由となり、支持枠２２が外部からの振動で動き回ることになる。これを防ぐ為に、対の引っ張りバネ２６が支持枠２２のピン２２ｂと地板２３のピン２３ｂ間に設けられており、支持枠２２を地板２３に対し弾性的に保持している。（振れ補正を行う時はこのバネ力に逆らって支持枠を駆動する）
ここで、引っ張りバネ２６のバネ方向は、矢印Ｐ方向に対し４５度傾けてある。この様に４５度に設定したのは、矢印Ｙ方向に対しても４５度となる為であり、これにより矢印Ｐ，Ｙ方向に駆動する時のバネ負荷は矢印Ｐ，Ｙ方向とも同一に出来る。即ち、２本のバネだけで支持枠２２を保持し、且つ、異なる２方向に対し均一のバネ力を発生出来る為、全体をコンパクトにまとめられる。つまり、装置を小型化することができる。
【０１３９】
前記支持枠２２には、一対の腕２２ｃが引っ張りバネ２６と同方向に、且つ、図２（ａ）の紙面下側に設けられ、この腕部２２ｃより紙面下方に延出するローリング規制軸２２ｄ（図２（ａ）のＤ2 −Ｄ2 断面である図３（ｂ）を参照）が地板２３の孔２３ｃを貫通している。
【０１４０】
尚、孔２３ｃと軸２２ｄのクリアランスは、支持枠２２が振れ補正駆動を行う時の補正ストロークより大きく設定され、振れ補正ストロークを軸２２ｄと孔２３ｃの関係で制限する事は無い。
【０１４１】
前記軸２２ｄは、図３（ｂ）に示す様に、孔２３ｃを貫通すると共に、案内手段であるローリング規制リング２７の長穴２６ａを貫通している。
【０１４２】
図４（ａ）は図２（ａ）を裏側から見た図であり、ローリング規制リング２７は地板２３の４ケ所のパッチン爪２３ｄにパッチン止めされ（図４（ａ）をＢ方向から見た図４（ｂ）を参照）、紙面上下方向に規制されると共に、パッチン爪２３ｄはローリング規制リング２７の辺２７ｄと４ケ所で当接している為、地板２３に対して矢印２７ｃ方向には移動出来るが、２７ｂ方向には移動規制されている。
【０１４３】
矢印２７ｂ，２７ｃは、矢印Ｐ，Ｙに対し４５度傾いており、長穴２７ａも矢印２７ｂと同方向に延びている。その為、軸２２ｄは矢印２７ｂ方向に移動出来る為、支持枠２２は地板２３に対し２７ｂ，２７ｃ方向に移動出来る。従って、矢印Ｐ，Ｙ方向にも動ける（２７ｂ，２７ｃ方向の合成により）。
【０１４４】
しかしながら、図２（ａ）のローリング方向Ｒに対しては、図４（ａ）において、軸２２ｄがこの方向に動こうとしてローリング規制リング２７にモーメントを与えても、前記パッチン爪２３ｄによりローリング規制リング２７は地板２３に対してこの方向に規制されている為に動けない。
【０１４５】
以上から明らかな様に、ローリング規制リング２７は矢印２７ｂ，２７ｃへ支持枠２２を案内する案内手段であり、ローリングＲを抑え、前述の実施の第１の形態における支持軸７１１と同様の作用を有する。
【０１４６】
この様に支持軸７１１ではなく、地板２３の支持枠２２と反対面にローリング規制リング２７を設けると、地板２３に余剰スペース２３ｅ（図２（ａ）参照）が生まれ、このスペースを他の機能（例えばカメラのＡＦ駆動アクチュエータ）に割り振ることが出来る。
【０１４７】
ここで、支持枠２２の駆動方向は矢印Ｐ，Ｙ方向であり、案内手段であるローリング規制リング２７の案内方向は矢印２７ｂ，２７ｃ方向であり、互いの方向が異なっている。その為、駆動時には、軸２２ｄと長穴２７ａ及び辺２７ｄとパッチン爪２３ｄ間には適度なプリチャージ力が加わり、互いにこじりを生ずる事を防ぎ、スムーズに振れ補正が行える様になる。
【０１４８】
また、前述した様に引っ張りバネ２６は矢印Ｐ，Ｙ方向に対し４５度の傾きを有している為、永久磁石２４ｐ，２４ｙのスペースと位相をずらすことが出来、且つ、バネ方向が矢印Ｐ，Ｙ共に等角度であるから，矢印Ｐ，Ｙ方向の駆動両方向に同じバネ力を与えられ、一対のバネで２方向の弾性力を与えられ、装置全体をコンパクトにまとめられるメリットも有する。
【０１４９】
図３（ｂ）から解る様に、引っ張りバネ２６の位置と補正手段の一部を成す支持枠２２を光軸方向に規制する案内孔２３ａ（案内手段）は同一線上にある。図２（ａ）においては、３つの案内孔を含む平面内に対の引っ張りバネ２６が含まれ、同一平面上に配置されている事になる。更に記述すると、永久磁石２４ｐ，２４ｙもこの平面内に含まれる。
【０１５０】
この様に、同一平面に様々な要素が含められたのは、各々の構成要素（対の引っ張りバネ２６、永久磁石２４ｐ，２４ｙ、３本の軸２２ａ）を互いに位相がずらすことが出来た事による。そして、その様に出来たのは、弾性手段（引っ張りバネ２６）の引っ張り方向と推力方向を異ならせ、特に２つの推力方向に共に等角度方向に引っ張りバネの方向を配置した事による。これにより、装置全体のコンパクト化が達成されている。
【０１５１】
（実施の第３の形態）
図５は本発明の実施の第３の形態に係る振れ補正装置の主要部分を示す斜視図である。
【０１５２】
上記実施の第１及び第２の形態では、補正レンズを光軸に対し垂直な平面内でシフトさせて振れ補正を行う構成であった。この実施の第３の形態においては、図５に示す様に、補正レンズ４１を光軸４８に対し傾ける事で、振れ補正を行う形式の振れ補正方式に本発明を適用させている。
【０１５３】
図５において、補正レンズ４１を保持する支持枠４１にはボイスコイル４３ｐ，４３ｙが設けられており、光軸方向に対向する不図示の磁気回路との関連により各々光軸４８と平行な矢印４６ｐ，４６ｙ方向に電磁力を発生させる事が出来る。例えば、支持枠４２が公知のジンバル支持により軸４９ｐ，４９ｙまわりに回転可能に軸支されている時（図５のボイスコイル配置の時、一般的には支持枠４１を軸４９ｐ，４９ｙまわりの回転可能にジンバル支持する）、この電磁力により支持枠４２は矢印４７ｐ，４７ｙまわりに回転駆動される。
【０１５４】
図５においては、支持枠４２は軸４４ａによりアーム４４に対し矢印４５ａまわりに回転可能に軸支され、アーム４４は一対の軸４４ｂにより不図示の鏡筒部に矢印４５ｂまわりに回転可能に軸支されている。よって、支持枠４２は不図示の鏡筒に対し、矢印４５ａ，４５ｂまわりに回転可能にジンバル支持されていることになる。
【０１５５】
ボイスコイル４３ｐ，４３ｙによる駆動力を効率よくする為には駆動方向４６ｐ，４６ｙと回転方向（案内方向）を揃える（例えば図５の４７ｐ，４７ｙ）事であるが、この実施の形態ではその方向を異ならせている。
【０１５６】
この方向を異ならせる事で、ボイスコイル４３ｐ，４３ｙと軸４４ａの位相をずらすことが出来、軸４４ａ，４４ｂ、アーム４４、ボイスコイル４３ｐ，４３ｙを同一平面内に配置出来る。これにより、装置全体をコンパクトに出来る。
【０１５７】
（変形例）
本発明は、一眼レフカメラやビデオカメラ等の撮影装置に好適なものであるが、これに限定されるものではなく、防振システムを具備することにより有効な機能を発揮する光学機器への適用も可能である。尚、上記の様に撮影装置に適用した場合には、上記実施の各形態における補正レンズの代わりに、ＣＣＤ等の撮像素子を具備した構成のものであっても、同様に振れ補正が可能となることは言うまでもない。
【０１５８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、補正手段の駆動精度の劣化を無くすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の第１の形態に係る振れ補正装置の主要部分を示す平面図である。
【図２】本発明の実施の第２の形態に係る振れ補正装置の主要部分の平面及び一部側面を示す図である。
【図３】図２（ａ）のＤ1 −Ｄ1 及びＤ2 −Ｄ2 断面を示す図である。
【図４】図２（ａ）の裏面及びその側面を示す図である。
【図５】本発明の実施の第３の形態に係る振れ補正装置の主要部分を示す斜視図である。
【図６】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図である。
【図７】図６の振れ補正装置の構造を示す分解斜視図である。
【図８】図７の挟持手段が挿入される支持枠の孔の形状を説明する為の図である。
【図９】図７の地板に支持枠を組み込んだ時の様子を示す断面図である。
【図１０】図７に示す地板を示す斜視図である。
【図１１】図７に示す支持枠を示す斜視図である。
【図１２】図７に示すロックリングを示す斜視図である。
【図１３】図７の支持枠等を示す正面図である。
【図１４】図７の位置検出素子の出力を増幅するＩＣの構成を示す回路図である。
【図１５】図７のロックリングが駆動される時の様子を示す図である。
【図１６】図１５のロックリング駆動時における信号波形を示す図である。
【図１７】防振システムが搭載されたカメラの防振系の回路構成を示すブロック図である。
【図１８】図１７に示す各回路の一部の詳細を示すブロック図である。
【図１９】図１７に示す各回路の残りの詳細を示すブロック図である。
【図２０】図１７〜図１９の回路構成におけるカメラの概略動作を示すフローチャートである。
【図２１】従来の問題点を説明する為の支持枠等の平面図である。
【符号の説明】
２１ 補正レンズ
２２ 支持枠
２３ 地板
２３ａ 案内溝
２４ｐ，２４ｙ 永久磁石
２５ｐ，２５ｙ コイル
３５ 案内溝
２６ 引っ張りバネ
２７ ローリング規制リング
７１ 地板
７１ｄ 軸受部
７５ 支持枠
７５ｄ 軸受部
７６ｐ，７６ｙ コイル
７１１ 支持軸
Claims (2)
- 支持手段と、
前記支持手段に支持されて撮影光軸に直交する平面内を移動することにより、振れを補正する補正手段と、
該補正手段を駆動する駆動手段と、
前記補正手段の光軸まわりの回転移動を規制すると共にその移動を案内する案内手段とを備えた振れ補正装置において、
前記案内手段は、前記支持手段に対して、前記平面内の第１の方向に移動可能に案内する第１の案内部と、前記支持手段に対して、前記平面内であって前記第１の方向とは異なる第２の方向に移動可能に案内する第２の案内部とを備えることにより前記光軸まわりの回転移動を規制し、
前記駆動手段と前記案内手段は、前記駆動手段の推力方向と前記案内手段の案内方向が異なるように配置され、
前記第１の案内部は、光軸を間に挟んで相対する前記平面上の二つの位置にて前記第１の方向に案内し、前記第２の案内部は、光軸を間に挟んで相対する前記平面上の二つの位置にて前記第２の方向に案内することを特徴とする振れ補正装置。 - 前記駆動手段の推力方向と前記案内手段の案内方向が４５度傾くように、前記駆動手段と前記案内手段は配置されたことを特徴とする請求項１記載の振れ補正装置。
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|---|---|---|---|
| JP35670496A JP3805045B2 (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 振れ補正装置 |
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| JP35670496A JP3805045B2 (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 振れ補正装置 |
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-
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