JP3182399B2 - 軟磁性合金膜とその製造方法、磁気ヘッド、および磁気ディスク - Google Patents

軟磁性合金膜とその製造方法、磁気ヘッド、および磁気ディスク

Info

Publication number
JP3182399B2
JP3182399B2 JP26063898A JP26063898A JP3182399B2 JP 3182399 B2 JP3182399 B2 JP 3182399B2 JP 26063898 A JP26063898 A JP 26063898A JP 26063898 A JP26063898 A JP 26063898A JP 3182399 B2 JP3182399 B2 JP 3182399B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
soft magnetic
alloy film
phase
magnetic alloy
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP26063898A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11154609A (ja
Inventor
将寿 吉川
博明 與田
進 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP26063898A priority Critical patent/JP3182399B2/ja
Priority to US09/154,514 priority patent/US6132892A/en
Publication of JPH11154609A publication Critical patent/JPH11154609A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3182399B2 publication Critical patent/JP3182399B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3109Details
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y25/00Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/007Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure ultrathin or granular films
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/08Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
    • H01F10/10Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition
    • H01F10/12Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys
    • H01F10/126Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys containing rare earth metals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/08Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
    • H01F10/10Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition
    • H01F10/12Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys
    • H01F10/13Amorphous metallic alloys, e.g. glassy metals
    • H01F10/133Amorphous metallic alloys, e.g. glassy metals containing rare earth metals
    • H01F10/135Amorphous metallic alloys, e.g. glassy metals containing rare earth metals containing transition metals
    • H01F10/137Amorphous metallic alloys, e.g. glassy metals containing rare earth metals containing transition metals containing cobalt
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B2005/3996Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects large or giant magnetoresistive effects [GMR], e.g. as generated in spin-valve [SV] devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3967Composite structural arrangements of transducers, e.g. inductive write and magnetoresistive read
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/90Magnetic feature
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/11Magnetic recording head
    • Y10T428/115Magnetic layer composition

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気へッドの磁
極、薄膜インダクタ、各種薄膜センサなどに用いられる
軟磁性合金膜とその製造方法、およびそれを用いた磁気
ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、磁気記録の分野では記録密度の高
密度化が強く要求されており、それに伴って記録媒体上
の記録ビットは微小化されている。微小化された記録ビ
ットに、より保磁力が高い記録媒体が用いられるように
なってきている。
【0003】記録媒体側の高保磁力化に対応するために
は、より高い記録磁界を発生する磁気へッドが必要とな
る。磁気へッドの記録磁界を高めるためには、磁極材料
として高飽和磁束密度を有する軟磁性材料が必須であ
る。磁極材料としての軟磁性材料は、さらに低保磁力お
よび高透磁率を有することが重要であり、これらの磁気
特性を兼ね備える軟磁性材料が必要とされている。
【0004】従来、薄膜磁気ヘッドに用いられる軟磁性
材料としては、フェライト、センダスト合金、Co基非
晶質合金などの様々な材料が開発されてきた。しかし、
フェライトは飽和磁束密度が10kG未満と低く、磁気記録
媒体の高保磁力化による高密度記録には適さない。セン
ダスト合金の飽和磁束密度は、フェライトよりは高いも
のの10kG程度であることから、高密度記録化には十分に
対応できない。Co基非晶質合金は結晶化温度が低いた
めに、薄膜磁気へッドの作製工程での熱安定性が問題と
なり、非晶質合金特有の高透磁率、高比抵抗が得られな
くなる。
【0005】近年、高飽和磁束密度化を目的として、F
eを主成分とする軟磁性薄膜材料が種々提案されてい
る。例えば、Feを主成分とする結晶粒を微粒化し、実
効的な結晶磁気異方性を小さくすることにより軟磁気特
性を得る方法が知られている。しかし、この方法では微
結晶粒の熱的安定性を得るために、Zr、Nb、Hf、
Ti、TaなどとN、B、Cなどの添加元素を10〜 20%
程度加える必要があり、飽和磁束密度の上限はおおよそ
18kGであった。このような合金膜は軟磁性化できたとし
ても、その飽和磁束密度は純鉄(21.5kG)を上回ることは
ない。
【0006】将来的には、さらに記録密度の高密度化が
要求されることが予想される。そのような場合には、よ
り高い飽和磁束密度を有する軟磁性材料が必要とされ
る。このような観点から、合金中最も飽和磁束密度の高
いFe−Co合金が注目されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Fe−
Co合金はFeより高い飽和磁束密度を持つ組成におい
て、大きな磁歪と結晶磁気異方性を有することが知られ
ている。このため、軟磁性化することが非常に困難であ
った。Fe−Co合金に添加元素を加えて微結晶化し、
これにより軟磁性化することができたとしても、その場
合には多量の元素を添加する必要が生じるため、Fe−
Co合金の高飽和磁束密度を維持することはできない。
【0008】一方、Fe−Co合金に希土類元素を添加
することにより、その大きな飽和磁歪を低下させ、良好
な軟磁気特性を得る方法が提案されている(特開平 5-3
9550号公報および特開平 6-53040号公報参照)。ここで
は、希土類元素をFe−Co合金中に過飽和に置換型固
溶させ、膜全体として体心立方晶構造を維持している。
これは、希土類元素の添加量が多くなると非晶質相が出
現し、飽和磁束密度が低下するためであると記載されて
いる。
【0009】また、添加する希土類元素はSm、Ho、
Tmの 3元素に限定されている。これは、希土類元素で
置換型固溶させた場合、磁歪低下効果はこれら 3元素し
か得られないためである。さらに、体心立方晶構造の単
一相であるため、十分な微結晶化が困難であり、磁気ヘ
ッドなどに使用できるほど、十分に保磁力を低減するこ
とができない。Fe−Co合金に希土類元素(Sm、H
o、Tm)を過飽和に置換型固溶させた軟磁性合金膜
は、熱的に不安定であるため、膜の大部分が非晶質化し
て飽和磁束密度が低下するおそれがある。このような合
金膜を磁気ヘッドの磁極材料として用いるためには、透
磁率や保磁力などの軟磁気特性が不十分であり、さらな
る改良が望まれている。
【0010】本発明はこのような課題に対処するために
なされたもので、Fe、Fe−Co合金、Fe−Co−
Ni合金が有する飽和磁束密度を維持した上で、軟磁気
特性の向上を図ると共に、膜構造の熱安定性などを高め
た軟磁性合金膜、特にFe−Co合金が有する高い飽和
磁束密度と良好な軟磁気特性とを両立させた軟磁性合金
膜を提供することを目的としており、さらにはそのよう
な軟磁性合金膜を磁極材料として用いることによって、
記録磁界強度などを向上させた磁気ヘッドを提供するこ
とを目的としている。本発明の他の目的は、高い飽和磁
束密度を有するFe、Fe−Co合金、Fe−Co−N
i合金などに良好な軟磁気特性を付与することを可能に
した軟磁性膜の製造方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の軟磁性合金膜
は、請求項1に記載したように、 一般式:(Fe1-a-b
Coa Nib )100-x Rx(式中、RはYを含む希土類
元素から選ばれる少なくとも 1種の元素を示し、a、b
およびxは 0≦a< 1、 0≦b< 1、 0.3≦1−a−b
< 0.95、 0.5 at%<x≦10at% である) で表される組
成を有する磁性合金から実質的になる軟磁性合金膜であ
って、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−Niを主成
分とし、かつ前記R元素を10at%以上含む結晶質か
ら実質的になり正の磁歪を有する第1の磁性相と、前記
第1の磁性相とは結晶構造が異なり、かつ前記R元素を
0.5at%以上含み負の磁歪を有する第2の磁性相と
を有することを特徴としている。
【0012】本発明の第1の軟磁性合金膜において、
1の磁性相はFe、Fe−CoまたはFe−Co−Ni
を主成分とし、体心立方晶構造、面心立方晶構造および
六方晶最密充填構造から選ばれる少なくとも 1種の結晶
相で構成される。第2相は、例えばR元素を含む非晶質
相や化合物相や第1相とは異なる結晶相により構成され
る。
【0013】本発明の第2の軟磁性合金膜は、請求項2
に記載したように、一般式:Fe1-a-b Coa Nib
(式中、aおよびbは 0≦a< 1、 0≦b< 1、 0.3≦
1−a−b< 0.95である)で表される組成を有する磁
性合金から実質的になる軟磁性合金膜であって、体心立
方晶構造からなり、かつ結晶粒径が50nm以下であると共
に、 (110)面が前記軟磁性合金膜の膜面に平行に成長し
ている相を有し、前記軟磁性合金膜の(110)面のX線回
折ピークのロッキングカーブの半値幅が5度以下である
ことを特徴としている
【0014】
【0015】本発明の磁気ヘッドは、請求項18に記載
したように、媒体対向面に位置するように配置された磁
気ギャップと、前記磁気ギャップを挟持するように配置
され、少なくとも一方が上記した本発明の軟磁性合金膜
を有する一対の磁極と、前記磁極と差交するように配置
されたコイルとを具備することを特徴としている。
【0016】一般に、Fe、Fe−Co合金、あるいは
Fe−Co−Ni合金のような結晶磁気異方性が大きい
物質は、結晶粒を微細化させて実効的な磁気異方性を低
下させることによって、良好な軟磁気特性が得られるこ
とが知られている。本発明においては、Fe、Fe−C
oまたはFe−Co−Niを主成分とする結晶相からな
る第1相と、この第1相とは結晶構造が異なる第2相と
を出現させている。第1相と第2相の結晶構造が異なる
ことから、互いの結晶粒が結合・合体して成長すること
はなく、結晶粒を微細化することができる。すなわち、
第2相は磁気特性を主として担う第1相の結晶粒の成長
を抑制するものである。
【0017】このように、第1相および第2相の結晶粒
をそれぞれ微細化することによって、これら各相の実効
的な結晶磁気異方性が低減される。従って、これら第1
相および第2相を有する軟磁性合金膜に良好な軟磁気特
性を付与することができる。さらに、このような微構造
の形成を促進するR元素は、第1相に不可避的に固溶さ
れる分を除いて主として第2相に含まれ、軟磁性合金膜
中に析出しているため、R元素が軟磁性合金膜の熱安定
性を低下させるようなこともない。
【0018】上述したようなことから、本発明の軟磁性
合金膜はFe、Fe−Co合金またはFe−Co−Ni
合金が有する飽和磁束密度を維持することができると共
に、結晶粒の微細化に基づいて良好な軟磁気特性を付与
することができる。さらには、そのような磁気特性を安
定に維持することが可能となる。特に、第1相をFe−
CoまたはFe−Co−Niを主成分とする体心立方晶
構造を有する結晶相で構成することによって、Fe−C
o合金やFe−Co−Ni合金が有する高い飽和磁束密
度と良好な軟磁気特性を両立させることができる。
【0019】本発明の軟磁性合金膜の製造方法は、請求
15に記載したように、Fe、Fe−CoまたはFe
−Co−Niを主成分とし、かつ体心立方晶構造相を含
む軟磁性合金膜の製造方法であって、ターゲット材料の
スパッタリングが第1の雰囲気中で行われると共に、前
記軟磁性合金膜の形成が該第1の雰囲気から区分され、
かつ該第1の雰囲気とは異なる1.0mTorr以下の圧力の第
2の雰囲気中で行われる、スパッタリング法による前記
軟磁性合金膜の形成工程を有することを特徴としてい
る。
【0020】このように、プラズマ放電時の圧力が1.0m
Torr以下のガス雰囲気中で、Fe、Fe−Co、Fe−
Co−Niを主成分とする軟磁性膜を成膜することによ
って、これら軟磁性膜の配向性を大幅に高めることがで
きる。具体的には、体心立方晶構造を有するFe、Fe
−Co合金またはFe−Co−Ni合金の (110)面の配
向性、あるいは面心立方晶構造を有するFe−Co合金
またはFe−Co−Ni合金の (111)面の配向性を高め
ることができる。
【0021】さらに、低ガス化により膜中の不純物濃
度、特に酸素濃度を小さくすることができ、かつ膜密度
が高くなる。従って、結晶粒界付近での結晶構造の乱れ
を小さくすることができ、磁壁移動のピンニングサイト
としての効果を抑制することができる。これらによっ
て、Fe、Fe−Co、Fe−Co−Niを主成分とす
る磁性膜の軟磁気特性を向上させることが可能となる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施するための形
態について、図面を参照して説明する。
【0023】図1(a)および図1(b)は本発明の軟
磁性合金膜の実施形態の微構造を模式的に示す図であ
る。図1(a)に示す軟磁性合金膜1は、 一般式:(Fe1-a-b Coa Nib 100-x x …(1) (式中、RはYを含む希土類元素から選ばれる少なくと
も 1種の元素を示し、a、bおよびxは 0≦a< 1、 0
≦b< 1、 0≦a+b< 1、 0<x≦10at% である)
で実質的に表される組成を有する。
【0024】このような組成を満足する軟磁性合金膜1
は、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−Niを主成分
とする結晶相からなる第1相Aと、第1相Aとは結晶構
造が異なる第2相Bとから構成されている。軟磁性合金
膜1の膜厚は、用途に応じて適宜設定される。例えば、
薄膜磁気ヘッドの磁極として用いる場合、軟磁性合金膜
1の膜厚は 0.005〜 1.0μm 程度とすることが好まし
い。他の用途に適用する場合においても、一般的には0.
01〜 5.0μm 程度とすることが好ましい。
【0025】ここで、Fe、CoおよびNiは軟磁性合
金膜1の磁性を主として担う成分である。軟磁性合金膜
1の主成分は、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−N
iのいずれであってもよく、またFe−CoおよびFe
−Co−Niを主成分とする場合の組成は特に限定され
るものではない。従って、これらFe、Fe−Coまた
はFe−Co−Niを主成分とする第1相Aは、体心立
方晶構造、面心立方晶構造および六方晶最密充填構造か
ら選ばれる少なくとも 1種の結晶相により構成される。
【0026】軟磁性合金膜1の主成分には、Feや各種
組成のFe−CoまたはFe−Co−Niが適用可能で
あるが、特に高飽和磁束密度が得られるFe−Coまた
はFe−Co−Niの組成範囲として、 (1)式における
1-a-b の値はFeがリッチな0.3≦1-a-b ≦0.95の範囲
とすることが好ましい。 1-a-bの値を 0.3〜0.95の範囲
とすることによって、第1相Aを大きな飽和磁束密度が
得られる体心立方晶構造のFe−Co合金またはFe−
Co−Ni合金で構成することができる。
【0027】R元素は後に詳述する第2相Bの形成を促
進する元素であり、Y、Ce、Pr、Nd、Sm、E
u、GdなどのYを含む種々の希土類元素を使用するこ
とができる。これらのうち、特にSmは軟磁性合金膜1
の低磁歪化に対して大きな効果を示すため、R元素とし
て好ましい元素である。
【0028】R元素の含有量xは 0<x≦10at% の範囲
とする。R元素の含有量が 10at%を超えると相対的にF
e、Fe−CoまたはFe−Co−Niの量が減少する
ことによって、飽和磁束密度などの特性が低下する。さ
らに、Fe−Rの 2元系状態図、Co−Rの 2元系状態
図、およびNi−Rの 2元系状態図からみて、R元素量
が10at% を超えると軟磁性合金膜1の大部分が非晶質相
になり、結晶相からなる第1相Aが存在し得なくなるお
それがある。膜全体が非晶質相になると、軟磁気特性は
ある程度維持される場合もあるが、飽和磁束密度は著し
く低下して、本発明の目的を達成することができない。
【0029】R元素の含有量は、第2相Bの生成を妨げ
ない範囲内で少なくすることが好ましい。より大きな飽
和磁束密度を維持するという観点からは、R元素量は5a
t%以下とすることが望ましい。なお、R元素の含有量が
あまり少ないと、第2相Bの生成量が不足して、軟磁性
合金膜1に良好な軟磁気特性を付与することができない
おそれがある。従って、R元素の含有量は0.5at%以上と
することが好ましい。軟磁性合金膜1はNiを含有する
ことができる。Niを添加した場合、組成調整により磁
歪を小さくすることができると同時に、耐食性を向上さ
せることができる。さらに、第1相あるいは第2相の面
心立方晶構造を有する相を安定的に形成することができ
る。飽和磁束密度をFeより大きくするためには、Ni
の添加量は80at% 以下とすることが好ましい。
【0030】軟磁性合金膜1は、N、CおよびBから選
ばれる少なくとも 1種の元素を含有していてもよい。こ
れらの元素はR元素と結合して化合物を容易に形成す
る。これが結晶粒の成長を抑制し、微結晶化を促進す
る。ただし、これらの元素をあまり多量に含有すると、
軟磁性合金膜1の飽和磁束密度が著しく低下することか
ら、その含有量は5.0at%以下とする。
【0031】軟磁性合金膜1は、さらにTi、Ta、H
f、Al、Zr、Cr、V、Mo、W、MnおよびNb
から選ばれる少なくとも 1種の元素を含有していてもよ
い。これらの元素は上記したN、C、Bと容易に結合し
て化合物を形成する。これにより結晶粒成長が抑制され
る。ただし、これら元素をあまり多量に含有すると、軟
磁性合金膜1の飽和磁束密度が著しく低下することか
ら、その含有量は5.0at%以下とする。
【0032】さらに、軟磁性合金膜1はAu、Ag、R
h、Ru、Cu、Pt、PdおよびIrから選ばれる少
なくとも 1種の元素を含有していてもよい。これらの元
素を添加することによって、軟磁性合金膜1の耐食性を
向上させることができる。ただし、上記した元素をあま
り多量に含有すると、軟磁性合金膜1の飽和磁束密度が
著しく低下することから、その含有量は5.0at%以下とす
る。上記した元素のうち、Cuは微結晶化効果が非常に
大きく、優れた軟磁気特性をもたらす。
【0033】軟磁性合金膜1は、図1(a)に示したよ
うに、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−Niを主成
分とする結晶相からなる第1相Aの周囲に、これとは結
晶構造が異なる第2相Bが配置された微構造を有してい
る。第2相Bは少なくともR元素を含み、非晶質相、第
1相Aとは異なる結晶相、R元素の偏析相などからな
る。第2相Bは軟磁性合金膜1を成膜した後の熱処理で
析出させたり、あるいは成膜法によっては成膜時に既に
形成されている場合もある。
【0034】高飽和磁束密度を維持するために、第1相
Aおよび第2相Bは共に強磁性相であることが好まし
い。また、第2相Bは負磁歪をもつと膜全体の飽和磁歪
を低減できることから好ましい。
【0035】第1相Aは主として高飽和磁束密度を維持
する相である。第2相Bは主として結晶成長の抑制相と
して機能する。従って、第2相Bは飽和磁束密度が低い
場合が多い。軟磁性合金膜1の飽和磁束密度を高める観
点からは、第2相Bの比率が低い方が好ましい。具体的
には、軟磁性合金膜1中に占める第2相Bの比率は膜平
面の面積比として 20%以下とすることが好ましい。第2
相Bの比率は面積比で10%以下とすることがさらに好ま
しい。ただし、第2相Bの比率があまり低いと、第1相
Aの結晶成長を抑制する機能が低下するため、第2相B
の比率は面積比で2%以上とすることが好ましい。第2相
Bの面積比は、例えば電子顕微鏡による平面観察から評
価することができる。
【0036】第1相Aを構成するFe結晶相、Fe−C
o結晶相またはFe−Co−Ni結晶相の結晶粒径は50
nm以下とすることが好ましい。第1相Aまたは第2相B
のどちらかが50nmを超える結晶粒径まで粒成長すると、
Fe、Fe−Co合金またはFe−Co−Ni合金が有
する結晶磁気異方性が軟磁性合金膜1の軟磁気特性を阻
害する。特に、体心立方晶構造を有する結晶相が存在す
る場合、この相は結晶磁気異方性および飽和磁歪が大き
いため、結晶粒径は 5nm以上20nm以下とすることがさら
に好ましい。このような結晶粒の微細化は結晶構造が異
なる 2つの相A、Bを存在させることで実現される。
【0037】なお、各相A、Bの平均結晶粒径は、例え
ば図2に示すようなX線回折の 2θスキャンによる各回
折ピークの半値幅を用い、Scherrerの式から求めること
ができる。あるいは、電子顕微鏡による平面観察で結晶
粒径を判断する場合には、回折ピークの特定の部分に制
限視野絞り入れる。暗視野像において、絞りを入れた特
定の結晶粒とそれ以外の結晶粒にコントラストをつける
ことにより、結晶粒径を測定、評価することができる。
【0038】第1相Aは、特に高飽和磁束密度を有する
Fe−CoまたはFe−Co−Niを主成分とする体心
立方晶構造からなる結晶相とすることが好ましい。この
際、(1)式中の 1-a-bの値は 0.3≦1-a-b ≦0.95の範囲
とする。 1-a-bの値を 0.3〜0.95の範囲とすることによ
って、第1相Aを体心立方晶構造のFe−Co合金また
はFe−Co−Ni合金で構成することができる。これ
によって、軟磁性合金膜1の飽和磁束密度がより一層向
上する。Fe−Co合金の場合には、特に (1)式中の 1
-a-bの値を 0.6≦1-a-b ≦ 0.9とすることによって、お
よそ2.2T以上の高い飽和磁化を発現させることができ
る。
【0039】体心立方晶構造を有する第1相A(図1
(b)の第1相Cを含む)は、膜面に対して (110)面を
優先配向させることが好ましい。第1相Aを (110)面に
優先配向させた体心立方晶構造を有する結晶相とするこ
とによって、飽和磁歪を低減することができる。なお、
第1相Aの飽和磁歪の低減にはR元素も寄与しており、
特にR元素としてSmを用いた場合にその効果が大き
い。
【0040】体心立方晶構造を持つ磁性体が (110)面に
優先配向した場合、その配向面内で磁化が回転すると、
磁化は飽和面内磁歪λs 110 を感じることになる。飽和
面内磁歪λs 110 は、〈100 〉方向の線磁歪λ100
〈111 〉方向の線磁歪λ111 とを用いて、以下のように
表される。
【0041】λs 110 =( 3λ100 + 5λ111 )/8 体心立方晶構造を有するFe−Co合金またはFe−C
o−Ni合金の線磁歪は、λ100 よりλ111 の方が小さ
い。従って、 (110)面に優先配向させることによって、
(110)面磁歪を小さく抑えることができる。これによっ
て、磁化の面内回転に対する磁歪および膜応力の影響を
小さくすることが可能となる。
【0042】ここで、 (110)面が膜面に平行に成長して
いる状態とは、X線回折像において(110)面に起因する
回折ピークが現れ、かつそのピークの積分強度が他のピ
ークの積分強度に比べて大きい場合を指すものとする。
この際、 (110)面に起因する回折ピークのみが存在する
状態が好ましい。さらに、 (110)面に起因する回折ピー
クのロッキングカーブの半値幅が10度以下であることが
望ましく、 5度以下であることがさらに望ましい。ロッ
キングカーブの半値幅については図2に示した通りであ
る。
【0043】他の分析・評価方法としては電子線回折を
用いることができ、電子顕微鏡による膜断面の観察によ
るデフラクションパターンの (110)に起因するスポット
が存在し、その広がり幅がダイレクトスポットに対して
13度以下の角度を有することが好ましく、さらには 7度
以下であることが望ましい。図16に体心立方晶構造の
電子線回折像を示す。
【0044】第2相Bは、R元素を含む非晶質相や第1
相Aとは異なる結晶相からなる。第2相Bの具体例とし
ては、まずR元素を含む非晶質相、例えばR2 (Fe−
Co)17、R(Fe−Co)2 、R(Fe−Co)3
2 (Fe−Co)7 、R(Fe−Co)5 などのR元
素を含む化合物相、R元素の偏析相などが挙げられる。
これらの相は第1相Aの結晶粒の粗大化を抑制する効果
を示す。また、多くのFe−Co−R合金、Fe−R合
金、Co−R合金は大きな負の磁歪を有するため、軟磁
性合金膜1全体の飽和磁歪を低下させる効果を示す。
【0045】第2相BがFe−Co−Rを主成分とする
非晶質相や化合物相である場合、これらは一般的に硬磁
性物質である。このため、その平均結晶粒径を 2nm以下
と微細化して、第2相Bを超常磁性化することが好まし
い。このように、第2相Bの平均結晶粒径を 2nm以下と
することによって、軟磁性合金膜1の軟磁気特性を劣化
させることなく、第1相Aの結晶粒成長を抑制すること
が可能となる。
【0046】第2相Bは、第1相Aが体心立方晶構造や
六方晶最密充填構造などを有する場合、R元素を含む面
心立方晶構造を有する結晶相で構成してもよい。面心立
方晶構造を有する結晶相は良好な軟磁気特性を有するた
め、第1相Aの結晶成長抑制機能を維持しつつ、膜全体
の軟磁性化を補助する役割を担う。さらに、面心立方晶
構造を有する結晶相にはR元素が固溶しやすく、かつ飽
和磁歪も元々小さいため、R元素の添加によりさらに小
さくすることができる。
【0047】第1相Aを面心立方晶構造を有する結晶相
で構成する場合、第1相Aは (111)面に優先配向してい
ることが好ましい。面心立方晶構造を有する結晶相を
(111)面に優先配向させることによって、より軟磁気特
性が向上する。従って、軟磁性合金膜1全体としての軟
磁気特性をより一層向上させることができる。結晶面の
優先配向状態は、前述したようにX線回折や電子線回折
により評価することができる。図17に面心立方晶構造
の電子線回折像を示す。ここでは、 (111)面のロッキン
グカーブの半値幅は10度以下であることが好ましく、さ
らには 5度以下であることが望ましい。
【0048】上述したように、軟磁性合金膜1中に結晶
構造が異なる第1相Aと第2相Bとを出現させることに
よって、これら各相A、Bの結晶粒は互いに粒成長を抑
制する働きを示す。特に、第2相Bは磁気特性を主とし
て担う第1相Aの結晶粒の成長を抑制する。従って、軟
磁性合金膜1を構成する結晶粒、特に磁気特性を主とし
て担う第1相Aの結晶粒を微細化することができる。結
晶粒の微細化は各相A、Bの実効的な結晶磁気異方性を
低下させる。特に、第1相Aの実効的な結晶磁気異方性
を低下させることができる。従って、軟磁性合金膜1に
良好な軟磁気特性を付与することが可能となる。上述し
たように、第2相Bも場合によっては軟磁気特性の向上
に寄与する。
【0049】第1相Aは不可避的に固溶されるR元素を
除いて、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−Niから
なる結晶相により構成されているため、Fe相、Fe−
Co相またはFe−Co−Ni相が本来有する高飽和磁
束密度を維持することができる。この際、第1相AがF
e−CoまたはFe−Co−Niを主成分とする体心立
方晶構造からなる場合には、特に大きな飽和磁束密度を
得ることができる。さらに、第1相Aの熱による粒成長
は第2相Bにより抑制されるため、第1相Aの熱安定性
を高めることができる。R元素は第1相Aに不可避的に
固溶される分を除いて、主として第2相Bに含まれて軟
磁性合金膜1中に析出しているため、R元素が軟磁性合
金膜1の熱安定性を低下させるようなこともない。
【0050】軟磁性合金膜1は、Fe相、Fe−Co相
またはFe−Co−Ni相が本来有する高飽和磁束密度
を維持した上で、良好な軟磁気特性を有するものであ
る。さらに、軟磁性合金膜1は熱安定性に優れることか
ら、優れた飽和磁束密度および良好な軟磁気特性を安定
に維持することができる。このような軟磁性合金膜1
は、特に薄膜磁気ヘッドの磁極材料として好適である。
【0051】上述したような微構造を有する軟磁性合金
膜1は、例えばFe−R合金、Fe−Co−R合金また
はFe−Co−Ni−R合金のターゲット、Fe、Fe
−Co合金またはFe−Co−Ni合金ターゲット上に
Rチップを配置した複合ターゲットなどを用いて、スパ
ッタ成膜することにより得ることができる。Fe、Fe
−Co合金またはFe−Co−Ni合金ターゲットと、
Fe−R化合物、Fe−Co−R化合物、またはFe−
Co−Ni−R化合物ターゲットとを用いて、2元同時
スパッタすることによっても、同様に軟磁性合金膜1が
得られる。
【0052】スパッタ法により軟磁性合金膜1を成膜す
るにあたって、結晶相からなる第1相Aの高配向化や2
相分離を促進するため、基板にバイアスを印加しながら
成膜を行うことが好ましい。基板バイアスは300W以下と
することが好ましい。このようなバイアススパッタ法に
よれば、成膜時に2相分離構造を容易に得ることができ
る。また、スパッタ成膜により得られた膜に 200〜 300
℃程度の温度で熱処理を施して、第2相Bの析出を促進
してもよい。
【0053】さらに、軟磁性合金膜1のモフォロジーや
配向性を考慮して、低Ar圧下で成膜することが好まし
い。このような低Ar圧で成膜する方法としては、イオ
ンビームスパッタ法や差動排気型コリメーションスパッ
タ法などが挙げられる。特に、配向性という観点から
は、低Ar圧でターゲット−基板間距離を十分に大きく
設定することが好ましい。
【0054】軟磁性合金膜1は図3に示すように下地膜
2上に形成することによって、第1相Aもしくは第2相
Bの結晶配向性を高めることができる。下地膜2には、
例えば (110)面を膜面に平行に成長させた体心立方晶構
造を有する結晶相、 (111)面を膜面に平行に成長させた
面心立方晶構造を有する結晶相、 (001)面を膜面に平行
に成長させた六方晶最密充填構造を有する結晶相、ある
いはこれらの混合相が適用される。例えば、体心立方晶
構造を有するFe−Co相やFe−Co−Ni相は、
(110)面を有する下地膜2上において優先配向しやす
い。同様に、面心立方晶構造を有するFe−Co相やF
e−Co−Ni相は、 (111)面を有する下地膜2上にお
いて優先配向しやすい。
【0055】なお、下地膜2の優先配向状態は、前述し
たようにX線回折や電子線回折により評価することがで
きる。ここでは、各結晶面のロッキングカーブの半値幅
は10度以下であることが好ましく、さらには 5度以下で
あることが望ましい。
【0056】下地膜2の代表例としては、Cu、Au、
Pd、Ir、Al、Fe、Cr、Ag、Pt、Ti、T
a、W、V、Hf、Zr、Nb、Ni、Rh、Ru、M
n、Moなどの金属単体膜、あるいはこれらの金属を少
なくとも 1種含む合金膜などが挙げられる。合金膜とし
ては、例えばNix Fe100-x 、Cux Au100-x など
が用いられる。
【0057】下地膜2の膜厚は 5nm以上であることが好
ましい。下地膜2の膜厚が 5nm未満であると、基板3の
表面荒れなどにより完全な結晶質の膜を形成することが
困難であり、上記したような配向面が得られないおそれ
がある。下地膜2を十分に配向させる上で、その膜厚は
5nm以上であることが好ましく、さらには10nm以上とす
ることが好ましい。ただし、下地膜2の膜厚があまり厚
いと結晶粒径が粗大化して、その上部に形成される軟磁
性合金膜1の平均結晶粒径が大きくなるおそれがある。
このため、下地膜2の膜厚は 100nm以下とすることが好
ましい。
【0058】次に、図1(b)を参照して、本発明の他
の軟磁性合金膜の実施形態について説明する。図1
(b)に示す軟磁性合金膜2は、 一般式:Fe1-a-b Coa Nib …(2) (式中、aおよびbは 0≦a< 1、 0≦b< 1、 0≦a
+b< 1である)で実質的に表される組成を有する。
【0059】このような組成を満足する軟磁性合金膜2
は、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−Niを主成分
とする体心立方晶構造からなる第1相Cと、Fe、Fe
−CoまたはFe−Co−Niを主成分とする面心立方
晶構造からなる第2相Dとを有し、第1相Cの平均結晶
粒径は第2相Dの平均結晶粒径より大きく、かつ第1相
Cが膜組織の 50%以上を占める。軟磁性合金膜2の主成
分は、前述した軟磁性合金膜1と同様に、特に高飽和磁
束密度が得られる組成範囲として、 (2)式における1-a-
b の値がFeがリッチな 0.6≦1-a-b ≦0.95の範囲の組
成とすることが好ましい。
【0060】第1相Cと第2相Dを混在させることによ
って、第1相Cの結晶粒の粗大化を抑制することができ
る。また、面心立方晶構造を有する第2相Dは低保磁力
化を促進する。第1相Cの平均結晶粒径を第2相Dの平
均結晶粒径よりも大きく、かつ第1相Cが膜組織の 50%
以上を占めることによって、体心立方晶構造を有する第
1相CのFeよりも高い飽和磁束密度を損うことがな
い。
【0061】さらに、体心立方晶構造を有する第1相C
が大きな正磁歪を有することに対して、面心立方晶構造
を有する第2相Dは組成の調整により負磁歪を持たせる
ことが可能であり、少なくとも第1相Cよりは第2相D
の方が飽和磁歪が小さい。従って、第2相Dの存在によ
り膜全体の飽和磁歪を低減することができる。
【0062】ここで、第1相Cは (110)面が膜面に対し
て平行に成長していることが好ましい。これは、前述し
た軟磁性合金膜1の場合と同様に、磁歪の影響を低減す
る。また、膜全体の軟磁気特性を向上させる第2相Dは
(111)面が膜面に対して平行に成長していることが好ま
しい。
【0063】この際、第1相Cの (110)面が膜面に対し
て平行に成長している状態、あるいは第2相Dの (111)
面が膜面に対して平行に成長している状態は、X線回折
におけるロッキングカーブ測定、あるいは電子顕微鏡に
よる膜断面からの観察により構造解析できる。体心立方
晶構造を有する第1相Cの (110)ピークのロッキングカ
ーブの半値幅は10度以下であることが好ましい。さらに
5度以下であればなお好ましい。別の分析では、電子顕
微鏡による膜断面からの観察によるデフラクションパタ
ーンの (110)に起因するスポットが存在し、その広がり
幅がダイレクト・スポットに対して13度以下の角度を有
することが好ましく、さらに 7度以下であることが望ま
しい。
【0064】さらに、第1相Cの結晶粒径は50nm以下の
範囲であり、第2相Dの結晶粒径は15nm以下の範囲であ
る。第2相Dの結晶粒径が15nmを超えると、結晶粒の粗
大化を抑制する効果が小さくなる。また、第1相Cが50
nmを超える結晶粒径をもつと、その大きな結晶磁気異方
性の効果により、軟磁気特性が劣化する。
【0065】次に、本発明の第3の軟磁性合金膜の実施
形態について述べる。
【0066】本発明の第3の軟磁性合金膜は、 一般式:Fe1-a-b Coa Nib …(3) (式中、aおよびbは 0≦a< 1、 0≦b< 1、 0≦a
+b< 1である)で実質的に表される組成を有し、膜全
体がFe、Fe−CoまたはFe−Co−Niを主成分
とする体心立方晶構造を有する相からなり、かつ結晶粒
径が50nm以下の範囲であると共に、 (110)面が軟磁性合
金膜の膜面に平行に成長しているものである。
【0067】膜全体を体心立方晶構造を有する相とする
ことによって、Feよりも高い飽和磁束密度を維持する
ことができる。そのためにはFeの組成範囲を 0.3≦1-
a-b≦0.95とすることが好ましい。また、この実施形態
の軟磁性合金膜は、全ての結晶粒の粒径を50nm以下とし
ている。この範囲より大きい結晶粒が存在すると、軟磁
気特性が劣化する。さらに、 (110)面を膜面に対して平
行に成長させることによって、より一層良好な軟磁気特
性が得られる。
【0068】この際、体心立方晶構造を有する相の (11
0)面が膜面に対して平行に成長している状態は、X線回
折におけるロッキングカーブ測定、あるいは電子顕微鏡
による膜断面からの観察により構造解析できる。体心立
方晶構造を有する相の (110)ピークのロッキングカーブ
の半値幅は10度以下であることが好ましい。さらに 5度
以下であればなお好ましい。別の分析では、電子顕微鏡
による膜断面からの観察によるデフラクションパターン
の (110)に起因するスポットが存在し、その広がり幅が
ダイレクト・スポットに対して13度以下の角度を有する
ことが好ましく、さらに 7度以下であることが望まし
い。
【0069】上述した各実施形態の軟磁性合金膜を形成
する方法としては、低ガス圧下でのスパッタリングやバ
イアススパッタリングが好ましい。特に、コリメーショ
ンスパッタ法や差動排気型スパッタ装置を用いると好ま
しい。
【0070】次に、本発明の軟磁性膜の製造方法の実施
形態について説明する。本発明の軟磁性膜の製造方法に
おいては、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−Niを
主成分とする軟磁性合金膜を1.0mTorr以下のガス雰囲気
中でスパッタリング法により成膜する。すなわち、平均
自由行程が 3.0mm以上のガス雰囲気中でスパッタ成膜す
る。ここで、平均自由行程が 3.0mm以上のガス雰囲気
は、ガス種に応じてガス圧を設定することにより得るこ
とができる。平均自由行程λ(cm)は、以下の式によりガ
ス圧から求めることができる。
【0071】式:λ=λ0 ・(T/273)・ 1/P ここで、Pはガス圧(Torr)、Tは温度(K) である。λ0
は 0℃、 1Torrのときの平均自由行程であり、ガス種に
より決まる定数である。表1にガス種によるλ0 の値を
示す。また、温度が室温付近であれば、λ=λ0 /Pで
近似できる。
【表1】 平均自由行程が 3.0mm以上のガス雰囲気とは、通常の成
膜時のガス雰囲気に対してガス圧を低く抑えたものであ
る。例えば、軟磁性合金膜をスパッタ法で成膜する際
に、スパッタガスの平均自由行程を 3.0mm以上に設定す
ることによって、Fe、Fe−CoまたはFe−Co−
Niを主成分とする軟磁性合金膜の結晶配向性が大幅に
向上する。具体的には、軟磁性合金膜が体心立方晶構造
を有するFe相、Fe−Co合金相またはFe−Co−
Ni合金相である場合には、 (110)面を優先配向させる
ことができる。軟磁性合金膜が面心立方晶構造を有する
Fe相、Fe−Co合金相またはFe−Co−Ni合金
相である場合には、 (111)面を優先配向させることがで
きる。
【0072】軟磁性合金膜が面心立方晶構造を有する場
合、面心立方晶構造は元々飽和磁歪が小さく、さらに
(111)面に優先配向させることで、より一層軟磁気特性
が向上する。軟磁性合金膜が体心立方晶構造を有する場
合、前述したように (110)面に優先配向させることによ
って、 (110)面磁歪を小さく抑えることができる。従っ
て、磁化の面内回転に対する磁歪および膜応力の影響が
小さくなる。これらによって、磁性膜の軟磁気特性を向
上させることができる。
【0073】さらに、平均自由行程が 3.0mm未満のスパ
ッタガス圧(プラズマ放電圧力が1.0mTorr以下のガス雰
囲気)では、軟磁性合金膜の配向性が低下すると同時
に、膜中の酸素含有量が増大し、さらに膜質の悪化によ
り耐食性が劣化する。膜中に含有された酸素は、熱処理
などによりFe相、Fe−Co合金相やFe−Co−N
i合金相と反応し、酸化物を結晶粒内や結晶粒界に析
出、形成させる。結晶粒内や結晶粒界に析出した酸化物
は、磁化回転のピンニングサイトとなり、保磁力を増大
させて軟磁気特性を劣化させる要因となる。
【0074】図4に、本発明の軟磁性合金膜の製造方法
を適用する上で有効なスパッタ装置の一構成例を示す。
図4に示すスパッタ装置10は、スパッタリング室11
とデポジション室12とを有している。スパッタリング
室11にはターゲット13が配置されている。デポジシ
ョン室12には、スパッタリング室11内のターゲット
13と対向するように基板ホルダ14が配置されてお
り、この基板ホルダ14に基板15が保持されている。
【0075】スパッタリング室11とデポジション室1
2との間には、例えば図5に示すようなコリメータ16
が配置されている。さらに、スパッタリング室11およ
びデポジション室12には、それぞれ排気ポンプ17、
18が接続されており、各室11、12の雰囲気圧が個
々に設定可能とされている。図中19はプロセスガスの
導入口である。
【0076】このようなスパッタ装置において、スパッ
タリング室11およびデポジション室12(特にスパッ
タリング室11)内のガス圧はプラズマ放電圧力が1.0m
Torr以下(平均自由行程が 3.0mm以上)となるように設
定される。このようなガス雰囲気中でFeまたはFe−
Coを主成分とする軟磁性合金膜をスパッタ成膜するこ
とによって、配向性に優れた軟磁性合金膜が得られる。
【0077】さらに、スパッタリング室11とデポジシ
ョン室12との間にコリメータ16を配置することによ
って、指向性の高いスパッタ粒子のみが堆積する。これ
によって、軟磁性合金膜の配向性を一層高めることがで
きる。コリメータ16を用いると、基板15上への反跳
粒子の衝突が抑制され、膜のダメージを抑えることがで
きる。コリメータ16の開孔径dは、指向性の必要度合
い、膜堆積速度などを考慮して設定される。加えて、ス
パッタリング室11とデポジション室12の圧力差を利
用した差動排気型スパッタを適用することによって、よ
り指向性の強いスパッタ粒子が堆積する。従って、軟磁
性合金膜の配向性をさらに高めることができる。
【0078】このように、Fe、Fe−CoまたはFe
−Co−Niを主成分とする軟磁性合金膜をプラズマ放
電圧力が1.0mTorr以下のガス雰囲気(平均自由行程が
3.0mm以上のガス雰囲気)中でスパッタ成膜する際に、
コリメーションスパッタや差動排気型スパッタを適用す
ることによって、軟磁性合金膜の優先配向性をより一層
高めることができる。従って、軟磁性合金膜の軟磁気特
性をさらに向上させることが可能となる。
【0079】トレンチ内に軟磁性合金膜を埋め込んで磁
気ヘッドの磁極を形成する場合、本発明の軟磁性合金膜
の製造方法は特に有効に作用する。すなわち、低圧のス
パッタガス中での成膜、さらにコリメーションスパッタ
や差動排気型スパッタを組合せることによって、より指
向性の高いスパッタ粒子のみが選択的に堆積する。従っ
て、トレンチ内の側壁からの結晶成長が抑制でき、良好
な配向性および結晶性を有する軟磁性合金膜からなる磁
極が得られる。
【0080】本発明の軟磁性合金膜の製造方法は、前述
した本発明の軟磁性合金膜を作製する際に有効である。
すなわち、図1Aに示したように、第1相Aと第2相B
を有する軟磁性合金膜1を作製する場合に、本発明の製
造方法を適用することによって、例えば第1相Aの結晶
配向性を高めることができる。第2相Bが結晶相からな
る場合には、その配向性を高めることもできる。このよ
うに、第1相Aおよび第2相Bの結晶配向性を高めるこ
とによって、軟磁性合金膜1の軟磁気特性をより一層向
上させることが可能となる。
【0081】次に、本発明の磁気ヘッドの実施形態につ
いて説明する。
【0082】図6は、本発明の磁気ヘッドを用いた録再
分離型磁気ヘッドの一実施形態の要部構成を一部切り欠
いて示す図である。同図において、21は基板であり、
この基板21には例えばAl2 3 層を有するAl2
3 ・TiC基板が用いられる。基板21上にはNiFe
合金やアモルファスCoZrNb合金などの軟磁性材料
からなる厚さ 1〜 2μm 程度の下側磁気シールド層22
が形成されている。
【0083】下側磁気シールド層22上には、AlOx
などの非磁性絶縁材料からなる厚さ150nm程度の下側再
生磁気ギャップ23を介して、磁気抵抗効果膜(MR
膜)24が形成されている。MR膜24には、異方性磁
気抵抗効果(AMR)を示すパーマロイ合金膜などのA
MR膜、あるいは巨大磁気抵抗効果(GMR)を示す人
工格子膜、スピンバルブ膜、強磁性トンネル接合膜など
のGMR膜が用いられる。MR膜24の両端部には、そ
れぞれMR膜24にセンス電流を供給するリード電極2
5が接続されている。これらMR膜24およびリード電
極25は再生素子部を構成している。
【0084】MR膜24およびリード電極25上には、
下側再生磁気ギャップ膜23と同様な非磁性絶縁材料か
らなる上側再生磁気ギャップ26を介して、上側磁気シ
ールド層27が形成されている。上側磁気シールド層2
7は下側磁気シールド層22と同様な軟磁性材料からな
る。これら各構成要素によって、再生ヘッドとしてのシ
ールド型MRヘッド28が構成されている。
【0085】シールド型MRヘッド21上には、記録ヘ
ッドとして薄膜磁気ヘッド29が形成されている。薄膜
磁気ヘッド29の下部記録磁極は、上側磁気シールド層
27と同一の磁性層により構成されている。すなわち、
シールド型MRヘッド28の上側磁気シールド層27
は、薄膜磁気ヘッド29の下部記録磁極を兼ねている。
この上側磁気シールド層を兼ねる下部記録磁極27上に
は、AlOx などの非磁性絶縁材料からなる記録磁気ギ
ャップ30が形成されている。
【0086】記録磁気ギャップ30上には上部記録磁極
31が設けられている。媒体対向面より後方側には、上
部記録磁極31の下側にCuなどからなるコイル32が
形成されている。すなわち、上部記録磁極31と下部記
録磁極27との間にコイル32が配置されている。コイ
ル32は図示を省略したポリイミドなどの絶縁層内に埋
め込まれている。これら各構成要素によって、記録ヘッ
ドとしての薄膜磁気ヘッド29の主要部が構成されてい
る。
【0087】上部記録磁極31は、図7および図8に示
すように、記録磁気ギャップ30と接する磁極先端部3
1aと、この磁極先端部31aと接続され、それより幅
広の補助磁極31bとを有している。図7に示した磁極
構造において、補助磁極31bは磁極先端部31aと分
離されている。図8に示したように、補助磁極31bは
磁極先端部31aと一体的に形成してもよい。下部記録
磁極27は同様に記録磁気ギャップ30と接する磁極先
端部27aを有している。これら磁極先端部27a、3
1aは、記録磁気ギャップ30を介して対向配置されて
いる。
【0088】上述した録再分離型磁気ヘッドの記録ヘッ
ドとして機能する薄膜磁気ヘッド29において、下部記
録磁極27および上部記録磁極31の媒体対向面近傍部
分は、図9、図10、図11に示すように、いずれも第
1の磁性層33と第2の磁性層34との積層膜を有して
いる。
【0089】第1の磁性層33は、前述した (1)式で組
成が表され、微構造として第1相と第2相を有する本発
明の軟磁性合金膜からなる。第2の磁性層34は、第1
の磁性層33の飽和磁束密度Bs 1 より小さい飽和磁束
密度Bs 2 (Bs 2 <Bs 1)を有する軟磁性膜からな
る。第2の磁性層34には、飽和磁束密度が比較的小さ
いパーマロイ(Ni80Fe20など)、アモルファスCo
FeZr合金、センダストなどが用いられる。
【0090】なお、上部記録磁極31の記録磁気ギャッ
プ30と接する部分には、極薄い第3の磁性層35を配
置してもよい。第3の磁性層35には、第2の磁性層3
4と同様に、飽和磁束密度が比較的小さい軟磁性膜が用
いられる。
【0091】図9に示す磁極構造において、高Bs の第
1の磁性層33は下部記録磁極27および上部記録磁極
31の各磁極先端部27a、31aの一部を構成してい
る。上部記録磁極31において、低Bs の第2の磁性層
34は磁極先端部31aの残余の部分と補助磁極31b
を構成している。下部記録磁極27において、低Bsの
第2の磁性層34は磁極先端部27aの残余の部分と磁
極本体27を構成している。このような磁極構造は、図
7に示した分離型磁極および図8に示した一体型磁極の
いずれにも適用可能である。
【0092】図9に示した磁極構造は、例えば以下のよ
うにして形成することができる。まず、第2の磁性層3
4と第1の磁性層33の積層膜からなる下部記録磁極2
7を形成する。下部記録磁極27は、通常のPEP(フ
ォトエングレイブメントプロセス)などにより形成され
た磁極先端部27aを有する。
【0093】次いで、下部記録磁極27上にSiOx
どからなる絶縁層36に形成し、この絶縁層36にトレ
ンチ37を形成する。トレンチ37の形状は、図10に
示すように、側壁を角度θで傾斜させた形状であっても
よい。
【0094】この後、、絶縁層36に形成したトレンチ
37の内部に、スパッタ法などで高Bs 材料(第1の磁
性層33)と低Bs 材料(第2の磁性層34)を順に埋
め込んで、磁極先端部31aを形成する。その上に第2
の磁性層34からなる補助磁極31bを形成する。
【0095】図11に示すように、上部記録磁極31に
おける第1の磁性層33は、磁極先端部31aとその近
傍の補助磁極31bの一部を構成するように形成しても
よい。下部記録磁極27についても同様であり、第1の
磁性層33で磁極先端部27aとその近傍の磁極本体2
7の一部を構成してもよい。
【0096】上述したように、本発明の薄膜磁気ヘッド
においては、高飽和磁束密度および良好な軟磁気特性を
有する本発明の軟磁性合金膜(第1の磁性層33)を記
録磁気ギャップ30側に配置している。従って、記録電
流を増大したときの磁極先端部27a、31aの磁気飽
和を抑制することができる。これによって、良好な記録
磁界強度と磁界傾度を得ることが可能となる。さらに、
オーバーライト特性を著しく向上させることができる。
【0097】なお、図7〜図11では下部および上部記
録磁極27、31の両方に凸状の磁極先端部を形成した
磁極構造について説明したが、磁極先端部はいずれか一
方の磁極のみに形成してもよい。また、本発明の軟磁性
合金膜は、下部および上部記録磁極27、31のいずれ
か一方の磁極のみに使用してもよい。さらに、本発明の
軟磁性合金膜のみで磁極を作製することも可能である。
【0098】上述した磁気記録再生ヘッドとしての録再
分離型磁気ヘッドはヘッドスライダに組み込まれる。磁
気記録再生ヘッドを備えるヘッドスライダは、例えば図
12に示す磁気ディスク装置などの磁気記録装置に搭載
される。図12はロータリーアクチュエータを用いた磁
気ディスク装置40の概略構造を示している。
【0099】磁気ディスク41はスピンドル42に装着
され、駆動装置制御源(図示せず)からの制御信号に応
答するモータ(図示せず)により回転する。磁気ディス
ク41上を浮上した状態で情報の記録再生を行うヘッド
スライダ43は、薄膜状のサスペンション44の先端に
取り付けられている。
【0100】磁気ディスク41が回転すると、ヘッドス
ライダ43の媒体対向面(ABS)は磁気ディスク41
の表面から所定の浮上量d(0以上 100nm以下)をもって
保持される。ヘッドスライダ43は、上述した実施形態
の録再分離型磁気ヘッドを具備する。
【0101】サスペンション44は、図示しない駆動コ
イルを保持するボビン部などを有するアクチュエータア
ーム45の一端に接続されている。アクチュエータアー
ム45の他端には、リニアモータの 1種であるボイスコ
イルモータ46が設けられている。ボイスコイルモータ
46は、アクチュエータアーム45のボビン部に巻き上
げられた図示しない駆動コイルと、それを挟み込むよう
に対向して配置された永久磁石および対向ヨークからな
る磁気回路とから構成される。
【0102】アクチュエータアーム45は、固定軸47
の上下 2カ所に設けられた図示しないボールベアリング
によって保持され、ボイスコイルモータ46により回転
摺動が自在にできるようになっている。
【0103】
【実施例】次に、本発明の具体的な実施例およびその評
価結果について説明する。
【0104】実施例1 まず、Fe80Co20組成のFe−Co合金ターゲットを
真空アーク溶解により作製した。このFe−Co合金タ
ーゲット上にRチップ(10×10mm)を載せ、これを用い
てRFCマグネトロンスパッタリング法によりFe−C
o−R合金薄膜を成膜した。Fe−Co合金ターゲット
の大きさは 5inchとした。Fe−Co合金ターゲットの
エロージョン面積に対するRチップの面積比は約2%とし
た。
【0105】スパッタ時のArガス圧は3.0mTorr以下と
し、成膜前の背圧は 1.0×10-6Torr以下とした。膜のモ
フォロジーを考慮すると、スパッタ時のAr圧は0.5mTo
rr以下が望ましい。膜の微結晶化および 2相分離を促進
するために、基板にバイアスをかけながら成膜を行っ
た。基板バイアスは300W以下とした。
【0106】成膜基板にはガラス基板(コ−ニング#02
11)とSi(100) 基板を用い、成膜時には成膜装置の基
板ホルダを水冷した。各合金膜には成膜後に以下の条件
で熱処理を施した。まず、回転磁界中にて 300℃で 1時
間保持し、さらに 5分間固定磁界中で保持した後、炉冷
した。熱処理温度は薄膜磁気へッドの製造プロセスでの
熱処理工程を考慮して決定した。
【0107】ガラス基板上に成膜した合金膜を使用し
て、保磁力および飽和磁歪を測定した。飽和磁歪の測定
は光てこ法により行った。また、Si(100) 基板上に成
膜した合金膜により、結晶構造をX線回折および電子顕
微鏡(TEM)観察により決定した。さらに、膜組成に
関しては、ICP分析法および蛍光X線分析法により決
定した。
【0108】表2に、Rチップとして種々の希土類元素
を用いた場合の膜組成と保磁力の測定結果を示す。な
お、表2中の比較例1は、Fe−Co合金ターゲットの
みを用いて成膜した磁性膜である。
【0109】
【表2】 X線回折およびTEM観察による構造解析結果から、比
較例1の試料は体心立方晶構造のみからなり、平均結晶
粒径は約60nm、X線回折の (110)ロッキングカーブ半値
幅は約 6.0度であった。一方、実施例1の各試料は、平
均結晶粒径が約20nm以下の体心立方晶構造を有する結晶
相と、平均結晶粒径が 2.0nm以下の非晶質相との混合相
から構成されていることが確認された。
【0110】ここで、TEM観察では対物絞りを用いた
暗視野像観察でアモルファスを確認することができた。
さらに、高分解能観察(40万倍以上)でも非晶質相を確
認することができた。実施例1の各試料において、X線
回折の (110)ロッキングカーブ半値幅は全て 5.0度以上
であった。
【0111】なお、上記した実施例1では、希土類元素
をチップ法により添加する場合について説明したが、所
定の組成を有するFe−Co−R合金ターゲットを用い
た場合についても同様な結果が得られた。また、使用す
るターゲットは含有酸素濃度が低い方がよく、ターゲッ
トの形成法としては溶解法が好適である。さらに、後述
する他の実施例に示すように、低Ar圧の差動排気型コ
リメーションスパッタリング装置を使用することによっ
て、良好な (110)優先配向を有し、より優れた軟磁気特
性をもつFe−Co系軟磁性合金膜を得ることができ
る。
【0112】実施例2 実施例1と同様な方法を適用し、チップ数を増やして作
製した各種合金膜について、添加した希土類元素(Yを
含む)と飽和磁歪との関係を調べた。その磁歪測定結果
を図13に示す。
【0113】図13から、Fe80Co20に軽希土類元素
を添加すると、微結晶効果に加えて磁歪低減効果が得ら
れることが分かる。それらの中でも、特にSmを添加し
た場合に磁歪の低減効果が最も大きく、正の10-5台であ
ったFe80Co20の飽和磁歪を負の10-6台まで下げるこ
とができることが分かる。
【0114】なお、実施例2の各試料の希土類元素の含
有量は、ICPによる組成分析の結果、いずれも5at%以
上 10at%未満であった。
【0115】実施例3 (Fe80Co20100-x Smx (at%)(x=0.5, 1.0, 5.0,
10.0, 15.0)の組成比を有する各合金ターゲットを用い
て、実施例1と同様な条件下でのDCマグネトロンスパ
ッタ法により、それぞれFe−Co−Sm合金膜を成膜
した。これら各合金膜について、実施例1と同様にして
構造解析および磁化測定を行った。表3に磁化測定結果
を示す。
【0116】
【表3】 実施例3による各試料をTEM観察したところ、いずれ
も体心立方晶相と非晶質相の 2相から構成されているこ
とが確認された。一方、Sm量を本発明の範囲外とした
比較例2の試料は、膜表面積の約 50%が非晶質相となっ
ていた。これらから、Fe−Co系合金膜の微構造を 2
相化することが軟磁性化に対して効果的であることが分
かる。なお、試料1〜4における体心立方晶相の平均結
晶粒径はいずれも15.0nm以下であった。
【0117】次に、Feおよび各種組成のFeCo合金
にSmを3.0at%添加した合金ターゲットをそれぞれ用い
て、同様にFe−Sm合金膜およびFe−Co−Sm合
金膜を成膜した。なお、基板には下地膜としてTi膜を
有するSi(100) 基板を用いた。Ti下地膜の膜厚は20
nmとした。合金膜の膜厚は 0.5μm とした。これら各合
金膜について、実施例1と同様にして構造解析および磁
化測定を行った。表4に磁化測定結果を示す。
【0118】
【表4】 表4から明らかなように、Feおよび各種組成のFe−
Co合金に対して、微構造の 2相化が軟磁性化に対して
効果的であることが分かる。
【0119】さらに、実施例3の試料5〜11について
のX線回折およびTEM観察から、試料5〜9はFeま
たはFe−Coを主成分とする体心立方晶構造の結晶相
と非晶質相とから構成されていることを確認した。試料
11は面心立方晶構造の結晶相と非晶質相とから構成さ
れていた。試料10は体心立方晶構造と面心立方晶構造
の混相構造を有する結晶相と非晶質相とから構成されて
いた。なお、ディフラクションパターンにおける非晶質
のハローパターン強度は著しく弱く、X線回折のみでは
存在を判定することができなかったが、TEM観察によ
り非晶質相の存在が確認された。
【0120】実施例4 図4に示した差動排気型コリメーションスパッタリング
装置を用いて、(Fe−Co)95〜97Sm 3〜5 の組成
比を有するFe−Co−Sm合金膜を成膜した。このス
パッタリング装置は、スパッタリング室とデポジション
室を有する。スパッタリング室とデポジション室はコリ
メータで分けられている。ガス流量の制御、ガス導入口
および排気ポンプの取付け位置などにより、スパッタリ
ング室とデポジション室の成膜時のAr圧を自由に調整
することができる。コリメータはアースに接地し、水冷
した。
【0121】このような差動排気型コリメーションスパ
ッタリング装置を用いて、まず下地層としてTi膜(膜
厚20nm)、Ti膜(膜厚20nm)/Ni80Fe20(膜厚20
nm)、またはCuAu合金膜(膜厚20nm)を成膜した。
これら下地膜上に(Fe−Co)95〜97Sm 3〜5 の組
成比を有するFe−Co−Sm合金膜を成膜した。この
とき、Ar流量を調整することによって、デポジション
室の成膜時のAr圧を変化させた。
【0122】得られた各Fe−Co−Sm合金膜の (11
0)ロッキングカーブ半値幅(FWHM)と保磁力(Hc
)を測定した。これらの結果を図14に示す。図14
から明らかなように、Fe−Co−Sm合金膜において
は (110)ロッキングカーブ半値幅が 5度付近から急激に
低保磁力化することが分かる。
【0123】実施例5 実施例4と同様な差動排気型コリメーションスパッタリ
ング装置を用いて、Fe膜および各種組成のFeCo合
金膜を成膜した。この際、デポジション室の成膜時のA
r圧を種々に変化させた。表5に成膜時のAr圧を示
す。得られたFe膜およびFeCo合金膜の組成、体心
立方晶構造を有する相の (110)ロッキングカーブ半値幅
に基づく (110)配向度、平均結晶粒径、保磁力、飽和磁
束密度を、表5に併せて示す。
【0124】
【表5】 表5から、Fe膜やFeCo合金膜の (110)配向度を高
めることによって、保磁力が小さくなることが分かる。
すなわち、Fe膜やFeCo合金膜の軟磁気特性を向上
させることができる。また、X線による構造解析の結果
から、試料5は体心立方晶構造と面心立方晶構造の混相
状態であり、かつ電子顕微鏡観察の結果から、体心立方
晶構造を有する相の平均結晶粒径は面心立方晶構造を有
する相のそれより大きいことが分かった。
【0125】実施例6 実施例4と同様な差動排気型コリメーションスパッタリ
ング装置を用いて、各種組成のFe−Co合金膜および
Fe−Co−Ni合金膜を成膜した。飽和磁化および保
磁力はVSMで測定した。結晶粒径はX線回折により、
配向度はX線回折によるロッキングカーブ測定により半
値幅より評価した。膜組成はICP法により測定した。
その結果を表6に示す。
【0126】
【表6】 表6からFe−Co−Ni合金は、実施例5と同様に体
心立方晶構造を有する相が良好な (110)配向を有するこ
とにより、体心立方晶構造を有する相が 50%以上占めて
いる場合でも、保磁力が小さくなることが分かる。すな
わち、Fe−Co−Ni合金においてもFe−Co合金
と同様に、極めて良好な (110)配向を与えることによ
り、軟磁気特性が向上することが分かった。
【0127】さらに、X線回折による構造解析および電
子顕微鏡による観察の結果、試料3においては、体心立
方晶構造と面心立方晶構造との混相からなり、かつ体心
立方晶構造を有する相の平均結晶粒径は面心立方晶構造
を有する相のそれより大きく、さらに膜組織の約 70%を
占めていることが確認できた。試料1および試料2は、
膜全体が体心立方晶構造のみからなることが確認でき
た。
【0128】その他の試料も良好な (110)配向により、
良好な軟磁気特性を示すことを確認した。
【0129】実施例7 本発明の実施例の 1つであるFe79.4Co19.9Sm0.7
合金膜を記録磁極材料として用いて、図6に示した録再
分離型磁気ヘッドを作製した。上部記録磁極について、
図7に示した分離型磁極および図8に示した一体型磁極
をそれぞれ適用した磁気ヘッドを作製した。
【0130】記録磁極の媒体対向面近傍の形状は、図
9、図10および図11に示した構造をそれぞれ採用し
た。これら各磁極は、いずれもFe79.4Co19.9Sm
0.7 合金膜/Ni80Fe20合金膜の積層膜を有してい
る。再生素子部にはTa/IrMn/CoFe/Cu/
CoFe/NiFe/Taの膜構造を有するスピンバル
ブGMR素子を用いた。
【0131】また、本発明との比較例として、Ni80
20合金膜のみからなる磁極構造を有する磁気ヘッド
(比較例4)、Ni80Fe20合金膜/Ni50Fe50合金
膜の積層膜からなる磁極構造を有する磁気ヘッド(比較
例5)をそれぞれ作製した。
【0132】これら実施例および比較例による各磁気ヘ
ッドを使用した際のオーバーライト特性を図15に示
す。このとき、記録磁極のトラック幅は 2.2μm 、記録
媒体の保磁力は2000Oe とした。図15から明らかなよ
うに、本発明の磁気ヘッドは比較例4、5の磁気ヘッド
に比べてオーバーライト特性に優れることが分かる。
【0133】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば希土類元素の少量添加で微結晶化および低磁歪
化を実現することができるため、飽和磁束密度が高く、
軟磁気特性に優れ、さらには熱的安定性に優れた軟磁性
合金膜を提供することができる。また、Fe−Co合金
やFe−Co−Ni合金などの軟磁性合金膜の微構造を
制御することによって、軟磁気特性および飽和磁束密度
の向上を図ることができる。このような本発明の軟磁性
合金膜によれば、狭トラック化した磁気へッドにおいて
も良好な記録磁界を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1および第2の軟磁性合金膜の実
施形態の微構造を模式的に示す図である。
【図2】 本発明の軟磁性合金膜の結晶配向性および平
均結晶粒径を求めるための半値幅を示す図である。
【図3】 本発明の軟磁性合金膜に下地膜を適用した場
合の構造を示す断面図である。
【図4】 本発明の軟磁性膜の製造方法に適用するスパ
ッタ装置の一例を示す図である。
【図5】 図4に示すスパッタ装置のコリメータの一例
を示す図である。
【図6】 本発明の磁気ヘッドを記録ヘッドとして使用
した録再分離型磁気ヘッドの一構成例を一部切り欠いて
示す図である。
【図7】 図6に示す録再分離型磁気ヘッドの記録ヘッ
ド部分の一構成例の要部を示す図である。
【図8】 図6に示す録再分離型磁気ヘッドの記録ヘッ
ド部分の他の構成例の要部を示す図である。
【図9】 図6に示す録再分離型磁気ヘッドに適用した
本発明の磁気ヘッドの一実施形態による要部磁極構造を
示す断面図である。
【図10】 図9に示す磁気ヘッドの要部磁極構造の変
形例を示す断面図である。
【図11】 図9に示す磁気ヘッドの要部磁極構造の他
の変形例を示す断面図である。
【図12】 図6に示す録再分離型磁気ヘッドを搭載し
た磁気ディスク装置の一構成例を示す斜視図である。
【図13】 図13は本発明の実施例2による軟磁性合
金膜の添加された希土類元素と飽和磁歪との関係を示す
図である。
【図14】 本発明の実施例4によるFeCo合金膜の
(110)ロッキングカーブの半値幅と保磁力の関係を示す
図である。
【図15】 本発明の実施例6による磁気ヘッドのオー
バーライト特性を示す図である。
【図16】 体心立方晶構造の電子線回折像を示す図で
ある。
【図17】 面心立方晶構造の電子線回折像を示す図で
ある。
【符号の説明】
1……軟磁性合金膜 2……金属下地膜 A、C……第1相 B、D……第2相
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI G11B 5/31 G11B 5/31 C (56)参考文献 特開 平3−203307(JP,A) 特開 平2−251104(JP,A) 特開 平8−273930(JP,A) 特開 平7−268610(JP,A) 特開 平6−248445(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01F 10/16 C22C 38/00 C22C 45/02 G11B 5/127 G11B 5/31

Claims (21)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一般式:(Fe1-a-b Coa Nib )10
    0-x Rx(式中、RはYを含む希土類元素から選ばれる
    少なくとも 1種の元素を示し、a、bおよびxは 0≦a
    < 1、 0≦b< 1、 0.3≦1−a−b< 0.95、 0.5 at
    %<x≦10at%である) で表される組成を有する磁性合
    金から実質的になる軟磁性合金膜であって、 Fe、Fe−CoまたはFe−Co−Niを主成分と
    し、かつ前記R元素を10at%以上含む結晶質から実
    質的になり正の磁歪を有する第1の磁性相と、 前記第1の磁性相とは結晶構造が異なり、かつ前記R元
    素を0.5at%以上含み負の磁歪を有する第2の磁性
    相とを有することを特徴とする軟磁性合金膜。
  2. 【請求項2】 一般式:Fe1-a-b Coa Nib(式
    中、aおよびbは 0≦a< 1、 0≦b< 1、 0.3≦1−
    a−b< 0.95である)で表される組成を有する磁性合
    金から実質的になる軟磁性合金膜であって、 体心立方晶構造からなり、かつ結晶粒径が50nm以下であ
    ると共に、 (110)面が前記軟磁性合金膜の膜面に平行に
    成長している相を有し、 前記軟磁性合金膜の(110)面のX線回折ピークのロッキ
    ングカーブの半値幅が5度以下である ことを特徴とする
    軟磁性合金膜。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の軟磁性合金膜において、 前記第2相は、前記R元素を含む非晶質相、前記R元素
    を含む化合物相、前記R元素を含む面心立方晶構造相、
    および前記R元素の偏析相から選ばれる少なくとも 1種
    の相からなることを特徴とする軟磁性合金膜。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の軟磁性合金膜において、 前記第2相の結晶粒径は2nm以下であることを特徴とす
    る軟磁性合金膜。
  5. 【請求項5】 請求項1記載の軟磁性合金膜において、 前記第1相の平均結晶粒径は50nm以下であることを特徴
    とする軟磁性合金膜。
  6. 【請求項6】 請求項1記載の軟磁性合金膜において、 前記第1相はFe−CoまたはFe−Co−Niを主成
    分とする体心立方晶構造を有することを特徴とする軟磁
    性合金膜。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の軟磁性合金膜において、
    前記第1相は (110)面が前記軟磁性合金膜の膜面に平行
    に成長していることを特徴とする軟磁性合金膜。
  8. 【請求項8】 請求項1記載の軟磁性合金膜において、 前記第1相は 少なくともその一部が面心立方晶構造を
    有することを特徴とする軟磁性合金膜。
  9. 【請求項9】 請求項8記載の軟磁性合金膜において、 前記第1相中の前記面心立方晶構造を有する相は、(11
    1)面が前記軟磁性合金膜の膜面に平行に成長しているこ
    とを特徴とする軟磁性合金膜。
  10. 【請求項10】 請求項1記載の軟磁性合金膜におい
    て、 前記軟磁性合金膜は、さらにN、CおよびBから選ばれ
    る少なくとも 1種の元素を5.0at%以下の範囲で含有する
    ことを特徴とする軟磁性合金膜。
  11. 【請求項11】 請求項10記載の軟磁性合金膜におい
    て、 前記軟磁性合金膜は、さらにTi、Ta、Hf、Al、
    Zr、Cr、V、Mo、W、MnおよびNbから選ばれ
    る少なくとも 1種の元素を5.0at%以下の範囲で含有する
    ことを特徴とする軟磁性合金膜。
  12. 【請求項12】 請求項1記載の軟磁性合金膜におい
    て、 前記軟磁性合金膜は、さらにAu、Ag、Rh、Ru、
    Pt、PdおよびIrから選ばれる少なくとも 1種の元
    素を5.0at%以下の範囲で含有することを特徴とする軟磁
    性合金膜。
  13. 【請求項13】 請求項1記載の軟磁性合金膜におい
    て、 前記軟磁性合金膜は、さらにCuを5.0at%以下の範囲で
    含有することを特徴とする軟磁性合金膜。
  14. 【請求項14】 請求項1記載の軟磁性合金膜におい
    て、 前記軟磁性合金膜は、(110)面が膜面に平行に成長した
    体心立方晶構造、(111)面が膜面に平行に成長した面心
    立方晶構造、および(001)面が膜面に平行に成長した六
    方晶最密充填構造から選ばれる少なくとも1種の結晶相
    を有する下地膜面上に形成されていることを特徴とする
    軟磁性合金膜。
  15. 【請求項15】 Fe、Fe−CoまたはFe−Co−
    Niを主成分とし、かつ体心立方晶構造相を含む軟磁性
    合金膜の製造方法であって、 ターゲット材料のスパッタリングが第1の雰囲気中で行
    われると共に、前記軟磁性合金膜の形成が該第1の雰囲
    気から区分され、かつ該第1の雰囲気とは異なる1.0mTo
    rr以下の圧力の第2の雰囲気中で行われる、スパッタリ
    ング法による前記軟磁性合金膜の形成工程を有すること
    を特徴とする軟磁性合金膜の製造方法。
  16. 【請求項16】 請求項15記載の軟磁性合金膜の製造
    方法であって、 前記軟磁性合金膜の形成工程が、前記第1および第2の
    雰囲気の境界に置かれたコリメータを用いた、コリメー
    ションスパッタリング法によって行われることを特徴と
    する軟磁性合金膜の製造方法。
  17. 【請求項17】 請求項15記載の軟磁性合金膜の製造
    方法であって、 前記軟磁性合金膜の形成工程が、前記第1および第2の
    雰囲気中のガス圧がそれぞれ独立に制御される、差動排
    気型スパッタリング法によって行われることを特徴とす
    る軟磁性合金膜の製造方法。
  18. 【請求項18】 媒体対向面に位置するように配置され
    た磁気ギャップと、 前記磁気ギャップを挟持するように配置され、少なくと
    も一方が請求項1記載の軟磁性合金膜を有する一対の磁
    極と、 前記磁極と差交するように配置されたコイルとを具備す
    ることを特徴とする磁気ヘッド。
  19. 【請求項19】 請求項18記載の磁気ヘッドにおい
    て、 前記磁極は、請求項1記載の軟磁性合金膜からなる第1
    の軟磁性膜と、前記軟磁性膜より飽和磁束密度が低い第
    2の軟磁性膜とを有する積層膜を具備することを特徴と
    する磁気ヘッド。
  20. 【請求項20】 請求項18記載の磁気ヘッドにおい
    て、 前記磁極は、請求項1記載の軟磁性合金膜を有する磁極
    先端部と、前記磁極先端部より幅広の補助磁極とを具備
    することを特徴とする磁気ヘッド。
  21. 【請求項21】 請求項18、請求項19、または請求
    項20記載の磁気ヘッドを具備することを特徴とする磁
    気ディスク装置。
JP26063898A 1997-09-17 1998-09-14 軟磁性合金膜とその製造方法、磁気ヘッド、および磁気ディスク Expired - Fee Related JP3182399B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26063898A JP3182399B2 (ja) 1997-09-17 1998-09-14 軟磁性合金膜とその製造方法、磁気ヘッド、および磁気ディスク
US09/154,514 US6132892A (en) 1997-09-17 1998-09-16 Soft magnetic alloy film and manufacturing method thereof, and magnetic head incorporating the same

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25248597 1997-09-17
JP9-252485 1997-09-17
JP26063898A JP3182399B2 (ja) 1997-09-17 1998-09-14 軟磁性合金膜とその製造方法、磁気ヘッド、および磁気ディスク

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11154609A JPH11154609A (ja) 1999-06-08
JP3182399B2 true JP3182399B2 (ja) 2001-07-03

Family

ID=26540734

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26063898A Expired - Fee Related JP3182399B2 (ja) 1997-09-17 1998-09-14 軟磁性合金膜とその製造方法、磁気ヘッド、および磁気ディスク

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6132892A (ja)
JP (1) JP3182399B2 (ja)

Families Citing this family (64)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100404649B1 (ko) * 1998-02-23 2003-11-10 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 반도체장치 및 그 제조방법
US6592728B1 (en) * 1998-08-04 2003-07-15 Veeco-Cvc, Inc. Dual collimated deposition apparatus and method of use
JP3396455B2 (ja) * 1999-06-22 2003-04-14 アルプス電気株式会社 軟磁性膜及びその製造方法、ならびにこの軟磁性膜を用いた薄膜磁気ヘッド
US6791794B2 (en) * 2000-09-28 2004-09-14 Nec Corporation Magnetic head having an antistripping layer for preventing a magnetic layer from stripping
US6790541B2 (en) * 2000-04-12 2004-09-14 Alps Electric Co., Ltd. Exchange coupling film and electroresistive sensor using the same
US6849326B1 (en) 2000-10-10 2005-02-01 Seagate Technology Llc Niobium alloy seedlayer for magnetic recording media
US6765757B2 (en) * 2001-01-15 2004-07-20 Alps Electric Co., Ltd. Soft magnetic film having high saturation magnetic flux density, thin-film magnetic head using the same, and manufacturing method of the same
JP3629431B2 (ja) * 2001-01-15 2005-03-16 アルプス電気株式会社 軟磁性膜の製造方法と薄膜磁気ヘッドの製造方法
US6905780B2 (en) 2001-02-01 2005-06-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Current-perpendicular-to-plane-type magnetoresistive device, and magnetic head and magnetic recording-reproducing apparatus using the same
US6908689B1 (en) 2001-12-20 2005-06-21 Seagate Technology Llc Ruthenium-aluminum underlayer for magnetic recording media
US6778358B1 (en) 2002-05-01 2004-08-17 Western Digital (Fremont), Inc. Magnetically soft, high saturation magnetization laminates of iron-cobalt-nitrogen and iron-nickel
US7522377B1 (en) * 2002-05-01 2009-04-21 Western Digital (Fremont), Llc Magnetic write head with high moment magnetic thin film formed over seed layer
JP2004103130A (ja) * 2002-09-10 2004-04-02 Fujitsu Ltd 光磁気記録媒体
US7688545B1 (en) * 2002-09-11 2010-03-30 Seagate Technology Llc Recording head writer with high magnetic moment material at the writer gap and associated process
JP4183554B2 (ja) * 2002-09-12 2008-11-19 Tdk株式会社 軟磁性膜の製造方法と薄膜磁気ヘッドの製造方法
JP2004152454A (ja) * 2002-11-01 2004-05-27 Hitachi Ltd 磁気ヘッド及びその製造方法
JP2005063489A (ja) * 2003-08-13 2005-03-10 Hitachi Global Storage Technologies Inc 薄膜磁気ヘッドとその製造方法
JP2005086012A (ja) * 2003-09-09 2005-03-31 Fujitsu Ltd 磁性薄膜およびその製造方法並びに磁性薄膜を用いた磁気ヘッド
US7128986B2 (en) * 2003-10-16 2006-10-31 Seagate Technology, Llc Nanoclustered magnetic materials for high moment write pole applications
US8323808B2 (en) 2004-01-09 2012-12-04 Fuji Electric Co., Ltd. Perpendicular magnetic recording medium
JP2005268571A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv 磁性膜およびその製造方法、薄膜磁気ヘッド
US7333295B1 (en) * 2004-03-31 2008-02-19 Western Digital (Fremont), Llc Magnetic recording head with high saturation magnetic flux density CoNiFe thin film composition
US8670211B1 (en) 2004-03-31 2014-03-11 Western Digital (Fremont), Llc Method and system for providing high magnetic flux saturation CoFe films
US8177955B2 (en) * 2004-06-03 2012-05-15 Headway Technologies, Inc. Electrodeposition of FeCoNiV films with high resistivity and high saturation magnetization for magnetic head fabrication
US7446982B2 (en) * 2004-07-01 2008-11-04 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Pinning structure with trilayer pinned layer
JP2006024732A (ja) * 2004-07-08 2006-01-26 Fujitsu Ltd 磁性膜並びにハードディスクドライブ用記録再生ヘッドおよび固体デバイス
US20060042938A1 (en) * 2004-09-01 2006-03-02 Heraeus, Inc. Sputter target material for improved magnetic layer
JP2006269690A (ja) 2005-03-23 2006-10-05 Fujitsu Ltd 軟磁性薄膜および磁気記録ヘッド
JP2006309846A (ja) 2005-04-27 2006-11-09 Tdk Corp 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法、ならびに磁気記録装置
JP2007096105A (ja) 2005-09-29 2007-04-12 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記憶装置、および磁気メモリ
JP4786331B2 (ja) 2005-12-21 2011-10-05 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法
JP5156939B2 (ja) * 2006-02-06 2013-03-06 国立大学法人 名古屋工業大学 高周波軟磁性体膜の製造方法
JP4514721B2 (ja) 2006-02-09 2010-07-28 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記録再生装置及び磁気記憶装置
US20070253103A1 (en) * 2006-04-27 2007-11-01 Heraeus, Inc. Soft magnetic underlayer in magnetic media and soft magnetic alloy based sputter target
JP2007299880A (ja) 2006-04-28 2007-11-15 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子,および磁気抵抗効果素子の製造方法
US20070262402A1 (en) * 2006-05-11 2007-11-15 Park Chang-Min Integrated inductor with higher moment magnetic via
JP4759455B2 (ja) * 2006-06-19 2011-08-31 ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ 磁気シールド及びその製造方法、薄膜磁気ヘッド
JP2007335790A (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv 磁性膜及びその製造方法、薄膜磁気ヘッド
JP4550777B2 (ja) 2006-07-07 2010-09-22 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置及び磁気メモリ
JP2008226416A (ja) * 2007-03-16 2008-09-25 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 垂直磁気記録媒体とその製造方法
JP4388093B2 (ja) 2007-03-27 2009-12-24 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置
US20090166183A1 (en) * 2007-12-28 2009-07-02 Yinshi Liu Method of manufacturing a perpendicular magnetic write head with stepped trailing magnetic shield using collimated sputter deposition
US7914916B2 (en) * 2008-02-04 2011-03-29 Seagate Technology Llc Thermally stable high anisotropic high magnetic moment films
JP2010040060A (ja) * 2008-07-31 2010-02-18 Toshiba Corp 高周波アシスト記録用磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気記録装置
JP5039006B2 (ja) 2008-09-26 2012-10-03 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録再生装置
JP5039007B2 (ja) 2008-09-26 2012-10-03 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録再生装置
JP2010080839A (ja) 2008-09-29 2010-04-08 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリおよび磁気記録再生装置
JP5558698B2 (ja) 2008-11-28 2014-07-23 株式会社東芝 磁気記録ヘッド、磁気ヘッドアセンブリ、磁気記録装置及び磁気記録方法
JP5656104B2 (ja) * 2009-07-01 2015-01-21 日立金属株式会社 Fe−Co−Ni系合金スパッタリングターゲット材
JP5714397B2 (ja) * 2010-10-26 2015-05-07 山陽特殊製鋼株式会社 磁気記録用軟磁性合金およびスパッタリングターゲット材並びに磁気記録媒体
JP5606482B2 (ja) 2012-03-26 2014-10-15 株式会社東芝 磁気ヘッド、磁気ヘッドアセンブリ、磁気記録再生装置及び磁気ヘッドの製造方法
DE102012211314A1 (de) * 2012-06-29 2014-02-20 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum Herstellen eines polykristallinen Keramikfilms
CN104919545B (zh) * 2013-01-16 2017-07-14 国立研究开发法人科学技术振兴机构 磁性材料及磁性材料的制造方法
JP6380750B2 (ja) * 2014-04-15 2018-08-29 Tdk株式会社 永久磁石および可変磁束モータ
US10283147B2 (en) 2017-02-27 2019-05-07 International Business Machines Corporation Write transducers having high moment layer
US10121498B2 (en) 2017-02-27 2018-11-06 International Business Machines Corporation Beaked write transducer
TWI652356B (zh) * 2017-07-31 2019-03-01 台耀科技股份有限公司 Soft magnetic alloy
US11377749B1 (en) * 2017-10-17 2022-07-05 Seagate Technology Llc Electrodeposition of high damping magnetic alloys
US10650846B2 (en) * 2017-12-11 2020-05-12 International Business Machines Corporation Apparatus having recessed TMR read sensor structures for robust head-tape interface
US10748560B2 (en) * 2017-12-11 2020-08-18 International Business Machines Corporation Apparatus having low-contact-pressure head-tape interface
US10755732B2 (en) * 2017-12-12 2020-08-25 International Business Machines Corporation Apparatus having sensors with hard spacers and low-contact-pressure head-tape interface
US10726868B2 (en) * 2017-12-12 2020-07-28 International Business Machines Corporation Apparatus having an array of write transducers having a low friction interface
US11152020B1 (en) * 2018-05-14 2021-10-19 Seagate Technology Llc Electrodeposition of thermally stable alloys
US11373676B1 (en) 2021-09-08 2022-06-28 International Business Machines Corporation Write transducer with recessed portion to improve track shingling performance

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4567116A (en) * 1983-08-06 1986-01-28 Canon Kabushiki Kaisha Magnetic recording medium
JPH03132005A (ja) * 1989-10-18 1991-06-05 Hitachi Ltd 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド
JP2853923B2 (ja) * 1991-08-06 1999-02-03 啓安 藤森 軟磁性合金膜
JP2834359B2 (ja) * 1992-03-17 1998-12-09 啓安 藤森 軟磁性合金膜
JPH0636928A (ja) * 1992-07-15 1994-02-10 Toshiba Corp 軟磁性材料
JP2872229B2 (ja) * 1992-11-30 1999-03-17 戸田工業株式会社 垂直磁化膜、垂直磁化膜用多層膜及び垂直磁化膜の製造法
JP2584179B2 (ja) * 1993-01-14 1997-02-19 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 高透磁率Fe基合金
JP3291099B2 (ja) * 1993-03-05 2002-06-10 アルプス電気株式会社 軟磁性合金および平面型磁気素子
US5585196A (en) * 1993-03-12 1996-12-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetoresistance effect element
JPH0997715A (ja) * 1995-09-28 1997-04-08 Toshiba Corp 磁性薄膜およびそれを用いた薄膜磁気素子

Also Published As

Publication number Publication date
US6132892A (en) 2000-10-17
JPH11154609A (ja) 1999-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3182399B2 (ja) 軟磁性合金膜とその製造方法、磁気ヘッド、および磁気ディスク
KR100372984B1 (ko) 자기저항효과형자기헤드및자기기록재생장치
US7666529B2 (en) Anti-ferromagnetically coupled soft underlayer
US6841259B1 (en) Magnetic thin film, production method therefor, evaluation method therefor and magnetic head using it, magnetic recording device and magnetic device
JP2009116952A (ja) 垂直磁気記録媒体およびこれを用いた磁気記憶装置
US8034470B2 (en) Perpendicular magnetic recording medium and method of manufacturing the medium
US6828046B2 (en) Soft magnetic film of FeCoMO having a high saturation flux density, a moderate soft magnetism and a uniaxial magnetic anisotropy
US20050163037A1 (en) Magnetic anisotropy of soft-underlayer induced by magnetron field
JP2002025030A (ja) 垂直磁気記録媒体とその製法および磁気記録装置
EP1399920A1 (en) Magnetic multilayered films with reduced magnetostriction
JP2005025890A (ja) 磁気ヘッド用磁性膜
US6822831B2 (en) Magnetic thin film, magnetic thin film forming method, and recording head
JPH08315326A (ja) 磁気抵抗効果ヘッド
US6795273B2 (en) Magnetic recording head with high saturation magnetization write pole having alternating interface-defining Fe/Co layers
JP2007164941A (ja) 垂直磁気記録媒体
US20030133223A1 (en) Magnetic recording head with annealed multilayer, high moment structure
US6809901B2 (en) Low moment material for magnetic recording head write pole
JP3108637B2 (ja) 軟磁性薄膜の製造方法
JP2002163819A (ja) 情報記録媒体及びそれを用いた情報記録装置
JP2775877B2 (ja) 垂直磁気記録媒体
JP3337732B2 (ja) 磁気抵抗効果素子
JP2002133635A (ja) 情報記録媒体及び情報記録装置
JP3108636B2 (ja) 磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2000150233A (ja) 磁性膜とその製造方法
JPH07235034A (ja) 垂直磁気記録媒体および磁気記録再生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010410

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080420

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090420

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees