JP3104292B2 - ディジタルリレー用測定端子出力装置 - Google Patents

ディジタルリレー用測定端子出力装置

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JP3104292B2
JP3104292B2 JP03139867A JP13986791A JP3104292B2 JP 3104292 B2 JP3104292 B2 JP 3104292B2 JP 03139867 A JP03139867 A JP 03139867A JP 13986791 A JP13986791 A JP 13986791A JP 3104292 B2 JP3104292 B2 JP 3104292B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はディジタルリレーの測定
端子装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4はディジタルリレーの演算部(マイ
クロコンピュータ)の概要を示したもので、処理部1は
ROM2,RAM3に記憶されているデータおよび知識
部4の知識を参照しながら保護演算を行い、その結果は
入出力部(ディジタルI/O)5を通して出力される。
【0003】一般に、この入出力部5は、図5で示すよ
うにフォトカプラPCなどを用いた絶縁出力となってお
り、その出力で補助リレーRYやサイリスタ,FETな
どのスイッチング素子を駆動してトリップ信号としてい
る。また、ディジタルリレーは、保護対象から複合リレ
ーの形態をとるのが一般的であり、各シーケンスの必要
箇所(リレーデバイス毎の出力、タイマーの入出力等)
の動作状況を入出力部5に出力し、測定端子信号として
トリップ信号と区分している。測定端子信号とトリップ
信号などのためのリレー出力とは、入出力回路の共通化
のために図5のように構成されている。すなわち、トリ
ップ信号はフォトカプラPC1,補助リレーRYを通し
て出力され、測定端子信号はフォトカプラPC2,端子
T1,T2を通して出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】測定端子信号は、保護
機能のための信号ではなく、動作値や動作時間などを測
定するための試験用のものである。
【0005】近年、マイクロコンピュータの高速化、大
容量化が進むなかで、ディジタルリレーに搭載されるリ
レー要素も多くなり、それに付随して測定端子のポイン
ト数も増加している。
【0006】このため、マイクロコンピュータのユニッ
ト内には、本来の保護機能用の信号を出力する主機能と
は異なる試験用の多数の測定端子を設けているため、プ
リント板の実装枚数が増加し、入出力部を増やさなけれ
ばならなかった。また、プリント板などのハードウェア
の増加によって故障率も増加するなどの問題を有してい
た。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、試験用の測定
信号を出力する端子を備えたディジタルリレーにおい
て、マイクロコンピュータを搭載したユニットに、並−
直変換回路を有する測定端子用インタフェースを設け、
このインタフェースより伝送路を介して接続された測定
端子部を設けたものである。
【0008】
【作用】マイクロコンピュータにより演算された動作値
や動作時間などの試験用信号は、インタフェースの並−
直変換回路においてシリアル信号に変換され、測定端子
部に送出される。測定端子部ではシリアル信号をパラレ
ル信号に変換し、測定端子信号として出力する。
【0009】
【実施例】図1は本発明の一実施例を示したもので、図
4と同一もしくは相当部分には同一符号を付してその説
明を省略する。6は入出力部で、この入出力部6よりト
リップ信号など保護機能用の信号が出力される。10は
測定端子用インタフェース、20はこのインタフェース
10と伝送路を介して接続された測定端子部である。
【0010】図2は、インタフェース10と測定端子部
20の具体例を示したものである。インタフェース10
は、送信レジスタ11,並−直変換回路12,クロック
発生回路13,送信クロック14および送信部15,1
6より構成されている。また、測定端子部20は受信部
21,22,直−並変換回路23,受信レジスタ24,
カウンタ25およびカウンタのリセット回路26より構
成されている。
【0011】以上のように構成された本発明においてそ
の動作を説明する。
【0012】送配電線などの電力系統の任意測定部よ
り、変成器を介して検出された電圧,電流信号は、入出
力部6を通して導入され、所定のプログラムに基づいて
演算処理される。この演算は、ROM2,RAM3に記
憶されたデータおよび知識部4内の知識をもとに行わ
れ、その結果における保護用の信号は入出力部6を介し
て出力され、しゃ断器のトリップなど所定の保護機能の
ための動作が行われる。
【0013】一方、演算された信号が、試験用の測定端
子信号の場合には、インタフェース10の送信レジスタ
11に出力され、図3で示す書込信号の印加を条件にし
てnビットのレジスタ11に書き込まれる。書込信号
は、クロック発生回路13にも印加されてクロック発生
回路をスタートさせ、nビット分のクロック信号TXC
LK発生が開始する。クロック信号TXCLKは送信部
16を通って測定端子部20に伝送されると共に並−直
変換回路12にも出力され、その立ち下りのタイミング
でレジスタ内の信号を順次シリアル信号に変換し、信号
TXDとして送信部15を通って測定端子部20に伝送
される。測定端子部20では受信部22からの受信クロ
ックRXCLKに同期して直−並変換器23は受信部2
1より受信データRXDを受信し、受信レジスタ24に
出力する。受信クロックRXCLKは、カウンタ25と
カウンタのリセット回路26にも印加されており、カウ
ンタ25では既知のビット量であるnビット分のクロッ
クRXCLKをカウントし最終ビット分であるn個カウ
ントすると受信レジスタ24に信号ラッチを出力し、こ
のレジスタ24より測定端子信号を出力する。また、リ
セット回路26は、nビット分のクロック受信終了後の
一定時間Tを検出し(Tはデータとアイドル時間を区別
するためのもので、nビット分時間以上)、リセット信
号を出力してカウンタ25をリセットする。
【0014】なお、インタフェース10と測定端子部2
0間の伝送方式として、伝送信号を同期フレーム構成と
し、受信側でのカウンタリセットをやめて同期フレーム
の先頭を検出するような周知の方式を採用してもよいこ
とは勿論である。
【0015】
【発明の効果】以上本発明によれば、測定端子信号を、
マイクロコンピュータの搭載されるユニットとは伝送路
を介して接続された異なる部位より得るようにしたもの
である。したがってユニット内に試験用ディジタルI/
Oを用意しなくてもよく、ユニット内に用意する試験用
としては送信レジスタと並−直変換回路であり、これら
はLSI化で1チップ化が可能であるため、装置として
は省スペース化ができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成図。
【図2】本発明に使用されるインタフェースと測定端子
部の具体的構成図。
【図3】本発明を説明するためのタイミングチャート。
【図4】従来のディジタルリレー演算部の構成図。
【図5】従来のディジタルリレーに使用されるディジタ
ルI/Oの構成図。
【符号の説明】
10…インタフェース 11…送信レジスタ 12…並−直変換回路 13…クロック発生回路 14…クロック 15,16…送信部 20…測定端子部 21,22…受信部 23…直−並変換回路 24…受信レジスタ 25…カウンタ 26…リセット回路

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ユニット内にマイクロコンピュータを備
    え、このマイクロコンピュータにて入出力部を介して導
    入された検出信号を用いて保護演算を行う前記マイクロ
    コンピュータユニットに、測定端子用のインタフェース
    と、このインタフェースとは伝送路を介して接続された
    測定端子部を設け、このインタフェースには、前記マイ
    クロコンピュータの演算が試験用の測定端子信号時に書
    き込み信号を条件にその信号を一時的に記憶する送信レ
    ジスタと、このレジスタの信号を並−直変換して測定端
    子部に送信する並−直変換回路とを備え、かつ、前記測
    定端子部には前記並−直変換回路よりの信号を直−並変
    換した後に受信レジスタに出力する直−並変換回路を備
    えたことを特徴とするディジタルリレー用測定端子出力
    装置。
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