JP2624724B2 - ポリイミドシロキサン組成物 - Google Patents

ポリイミドシロキサン組成物

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、新規なポリイミドシロキサンが有機溶媒に
均一に溶解している組成物に関するもので、本発明のポ
リイミドシロキサン組成物は、有機溶媒に対する優れた
溶解性と、優れた密着性、特に低温処理で加湿雰囲気下
での優れた耐湿密着性、及び優れた耐熱性を有するもの
で、電子部品用の層間絶縁膜や表面保護膜などの形成材
料として用いられる。
〔従来の技術及びその問題点〕
芳香族ポリイミドを電気絶縁性の保護膜(層間絶縁膜
など)として使用することは、既に種々提案されてい
る。例えば、特開昭48−34686号公報及び特開昭49−400
77号公報などには、固体素子への絶縁膜、パッシベーシ
ョン膜、半導体集積回路などの層間絶縁膜などを耐熱性
及び絶縁性などの優れた性質を有するポリイミドで形成
することが開示されている。
しかしながら、一般的に、芳香族ポリイミドは、有機
溶媒に溶解し難いために、芳香族ポリイミドの前駆体
(芳香族ポリアミック酸)の溶液を使用して、塗布膜を
形成し、次いで、乾燥とイミド化のために塗布膜を、か
なりの高温で長時間、加熱処理して、芳香族ポリイミド
製の保護膜を形成する必要があり、芳香族ポリイミド製
の保護膜を比較的低温で再現性よく形成できるものでは
なかったので、保護すべき電気又は電子材料自体が熱的
に劣化してしまうという問題があった。
一方、有機極性溶媒に可溶性の芳香族ポリイミドは、
例えば、特公昭57−41491号公報に記載されているよう
なポリイミドが知られている。しかし、これらの芳香族
ポリイミドは、塗布対象のシリコンウェハーやガラス板
などの基板との密着性が充分でなかったので、あらかじ
め基板を密着促進剤で処理して置くなどの方法をとる必
要があった。
このような問題点を解決するために、シリコン化合物
との共重合体が提案されており、例えば、特開昭57−14
3328号公報及び特開昭58−13631号公報には、ジアミン
で両末端を停止したポリシロキサンを原料の一成分とし
たポリイミド前駆体が開示されている。しかし、これら
のポリイミド前駆体は、イミド化のために塗布膜を高温
で処理しなければいけないという欠点を有していた。
また、特開昭61−118424号公報及び特開昭61−207438
号には、可溶性ポリイミドシロキサンが開示されてい
る。しかし、前者のポリイミドシロキサンは、その製造
工程が数段階に及び、製造に長時間を要するとの製造上
の問題があった。また、後者のポリイミドシロキサン
は、アミン成分として芳香族アミンを含んでおらず、耐
熱性が低い問題があった。
従って、本発明の目的は、前述のような問題を有しな
いポリイミドシロキサン、即ち、有機溶媒に対する優れ
た溶解性と、優れた密着性、特に低温処理で加湿雰囲気
下での優れた耐湿密着性、及び優れた耐熱性を有し、し
かも製造の簡単な新規なポリイミドシロキサンを含有す
る組成物を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者らは、鋭意研究した結果、特定の芳香族テト
ラカルボン酸類成分と、特定のジアミノポリシロキサン
及び芳香族ジアミンとからなるジアミン成分とを重合及
びイミド化して得られたポリイミドシロキサンが、前記
目的を達成するものであることを知見した。
本発明は、上記知見に基づきなされたもので、芳香族
テトラカルボン酸成分と、ジアミノポリシロキサン及び
芳香族ジアミンからなるジアミン成分とを重合及びイミ
ド化することにより得られるポリイミドシロキサン共重
合体が、有機溶媒に3〜40重量%の濃度で均一に溶解し
ている共重合ポリイミドシロキサンの有機溶媒溶液から
なる、電子部品用の膜形成用ポリイミドシロキサン組成
物〔但し、上記ポリイミドシロキサン共重合体は、下記
(a)単位10〜40モル%及び下記(b)単位90〜60モル
%からなり対数粘度〔濃度:0.5g/100ml溶媒(N−メチ
ル−2−ピロリドン)、測定温度:30℃〕が0.2〜1.5の
高分子量のポリイミドシロキサン共重合体である。〕を
提供するものである。
(a)単位: 下記式(1)で示される構成単位80〜100モル%及び
下記式(2)で示される構成単位20〜0モル%からな
る。
式(1) (上記式(1)中、R1はCH2 又はフェニレン基を
示し、mは3〜4であり、R2は独立に炭素数1〜3のア
ルキル基又はフェニル基を示し、lは5〜30である。) 式(2) (上記式(2)中、Xは3,3′,4,4′−ベンゾフェノン
テトラカルボン酸又はその酸二無水物、2,3,3′,4′−
ベンゾフェノンテトラカルボン酸又はその酸二無水物、
あるいはピロメリット酸又はその酸二無水物の残基を示
し、R1、R2及びlは上記式(1)の場合と同じであ
る。) (b)単位: 下記(3)で示される構成単位80〜100モル%及び下
記式(4)で示される構成単位20〜0モル%からなる。
式(3) (上記式(3)中、Aはビス〔4−(4′−アミノフェ
ノキシ)フェニル〕スルホン、2,2−ビス〔4′−
(4″−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン、1,4
−ビス(4′−アミノフェノキシ)ベンゼン、3,5−ジ
アミノベンジルアクリレート、又は2−(3,5−ジアミ
ノベンゾイルオキシ)エチルメタクリレートから選ばれ
る芳香族ジアミン残基を示す。) 式(4) (上記式(4)中、Xは上記式(2)の場合と同じであ
り、Aは上記式(3)の場合と同じである。) 本発明のポリイミドシロキサンは、例えば、フェノー
ル系溶媒、アミド系溶媒(ピロリドン系溶媒、ホルムア
ミド系溶媒、アセトアミド系溶媒など)等の有機極性溶
媒に対して溶解性能を充分に有しており、該ポリイミド
シロキサンと前記溶媒とからなり、比較的低粘度である
「本発明のポリイミドシロキサン組成物(ワニス)」を
容易に形成することができる。
また、本発明のポリイミドシロキサンは、シリコンウ
ェハーなどの基板への優れた密着性を有しており、従
来、密着促進剤(シランカップリング剤など)であらか
じめ基板を前処理しなければ使用することができなかっ
たような用途、例えば、IC、LSIのパッシベーション膜
や、ダイオードのジャンクションコートなどに、上記前
処理を行うことなく使用することができる。
更に、本発明のポリイミドシロキサンは、従来公知の
芳香族ポリイミドと同様に、機械的強度、耐熱性、電気
絶縁性などにおいて優れた性能を保持しており、種々の
電気又は電子材料の表面保護膜や層間絶縁膜などとして
好適に使用することができる。
従って、上述の本発明のポリイミドシロキサンを有機
溶媒に溶解した本発明のポリイミドシロキサン組成物に
よれば、種々の電気又は電子部材などの表面に塗布し、
次いで比較的低温で乾燥・加熱処理することにより、優
れた保護膜(厚さ:約0.5〜500μ程度)を容易に形成す
ることができる。
以下、まず、本発明のポリイミドシロキサンについて
詳述する。
本発明のポリイミドシロキサンは、2,3,3′,4′−ビ
フェニルテトラカルボン酸又はその酸二無水物を80モル
%以上含有している芳香族テトラカルボン酸成分と、下
記一般式(I)で示されるジアミノポリシロキサンを10
〜40モル%及び芳香族ジアミンからなるジアミン成分と
を、略等モル、有機極性溶媒中で、かなり高温(好まし
くは約100〜300℃の温度、特に好ましくは140〜250℃の
温度)に加熱して、一段で重合及びイミド化することに
よって製造されるか、あるいは、前記の二成分を、略等
モル、有機極性溶媒中で、好ましくは約80℃以下の温
度、特に0〜60℃の温度で重合して芳香族ポリアミック
酸(芳香族ポリイミドの前駆体)を製造し、その芳香族
ポリアミック酸を適当な条件でイミド化いて製造される
可溶性ポリイミドシロキサンである。
一般式(I) (上式中、R1、R2及びlは前記式(1)の場合と同じで
ある。) 本発明では、芳香族テトラカルボン酸成分として2,3,
3′,4′−ビフェニルテトラカルボン酸又はその酸二無
水物を用いるが、これは、得られるポリイミドシロキサ
ンの溶解性などが優れているためである。
前記の2,3,3′,4′−ビフェニルテトラカルボン酸又
はその酸二無水物の一部を、3,3′,4,4′−ベンゾフェ
ノンテトラカルボン酸又はその酸二無水物、2,3,3′,
4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸又はその酸二無
水物、あるいはピロメリット酸又はその酸二無水物で置
き換えて、前記の2,3,3′,4′−ビフェニルテトラカル
ボン酸又はその酸二無水物と共に使用することができ
る。前記の「その他の芳香族テトラカルボン酸類」の使
用量の割合は、全芳香族テトラカルボン酸成分に対して
約20モル%未満、特に10モル%未満であることが好まし
い。
また、前記一般式(1)で示されるジアミノポリシロ
キサンとしては、例えば、次の化合物を挙げることがで
きる。
これらのジアミノポリシロキサンは、lが5〜30の範
囲のものであり、lが30を越えるものを用いると、得ら
れるポリイミドシロキサンの分子量が低く、また有機溶
媒に対する溶解性も低下する。
また、前記の芳香族ジアミンとしては、ビス〔4−
(4′−アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン、2,2
−ビス〔4′−(4″−アミノフェノキシ)フェニル〕
プロパン、1,4−ビス(4′−アミノフェノキシ)ベン
ゼン、3,5−ジアミノベンジルアクリレート、2−(3,5
−ジアミノベンゾイルオキシ)エチルメタクリレートを
挙げることができる。
全ジアミン成分中の前記一般式(I)で示されるジア
ミノポリシロキサンの割合は、前述の如く10〜40モル%
であり、10モル%より少ないと、得られるポリイミドシ
ロキサンの密着性が低下し、40モル%より多いと、充分
な耐熱性が得られ難い。
前記の重合に使用される有機極性溶媒としては、例え
ば、ジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシドなど
のスルホキシド系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド、
N,N−ジエチルホルムアミドなどのホルムアミド系溶
媒、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセト
アミドなどのアセトアミド系溶媒、N−メチル−2−ピ
ロリドン、N−ビニル−2−ピロリドンなどのピロリド
ン系溶媒、ヘキサメチレンホスホアミド、γ−ブチルラ
クトン、シクロヘキサノンなど、あるいは、フェノー
ル、o−,m−又はp−クレゾール、キシレノール、ハロ
ゲン化フェノール(パラクロルフェノール、オルトクロ
ルフェノール、パラブロムフェノールなど)、カテコー
ルなどのフェノール系溶媒などを挙げることができる。
本発明のポリイミドシロキサンは、濃度:0.5g/100ml
溶媒(N−メチル−2−ピロリドン)である溶液で、30
℃の測定温度で測定した対数粘度(ポリマーの重合度の
程度を示す)が、0.2〜1.5の高分子量のポリマーであ
る。
本発明のポリイミドシロキサンは、前述の重合で使用
された有機極性溶媒と同様の有機極性溶媒、又はそれら
の有機極性溶媒にキシレン、エチルセロソルブ、ジグラ
イム、ジオキサンなどを一部配合されている混合溶媒に
極めて容易に溶解するので、ポリイミドシロキサンが有
機極性溶媒中に3〜40重量%で均一に溶解しており、好
ましくは25℃の回転粘度が約0.01〜10000ポイズ、特に
好ましくは0.1〜1000ポイズであるポリイミドシロキサ
ンの溶液(ワニス)、即ち、「本発明のポリイミドシロ
キサン組成物」を調製することができる。
次に、上述の本発明のポリイミドシロキサンが有機溶
媒に均一に溶解している本発明のポリイミドシロキサン
組成物について詳述する。
本発明のポリイミドシロキサン組成物は、前述のよう
にしてモノマー成分を有機極性溶液中で一段で重合及び
イミド化して得られたポリイミドシロキサンの重合液で
あってもよく、またその重合液をその重合溶媒と同様の
有機溶媒で適当な濃度に希釈したものであってもよい。
あるいは、本発明のポリイミドシロキサン組成物は、前
述の重合液から一旦粉末状の析出物として単離されたポ
リイミドシロキサン粉末を前記の有機極性溶媒に溶解し
て調製することもできる。
本発明のポリイミドシロキサン組成物によれば、例え
ば、次のようにして、電気又は電子部材などの表面に優
れた保護膜を形成することができる。
本発明のポリイミドシロキサン組成物を被覆すべき対
象物(回路基板、半導体など)の表面に、常温又は加温
下、回転塗布機、ディスペンサー又は印刷機などを使用
する方法で、均一な厚さに塗布し、本発明の組成物から
なる塗布膜を形成し、次いで、その塗布膜を約50℃以
上、特に60〜250℃の温度で乾燥させることにより、ポ
リイミドシロキサンの固化膜(保護膜)を得る。
〔実施例〕
以下に実施例を挙げ、本発明を更に詳細に説明する。
実施例1 シクロヘキサン91.08gに2,3,3′,4′−ビフェニルテ
トラカルボン酸二無水物10.08gと、ビス〔4−(4′−
アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン12.09g及び前記
一般式(I)で示されるl=9.8(平均値)のω,ω′
−ビス−(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサ
ン6.17gとを加え窒素ガス流通し撹拌しながら、その反
応液を150℃の反応温度で8時間保持し重合を行った。
得られた反応液を撹拌している1のメタノール中に
加え、ポリイミドシロキサンを析出し、濾別、乾燥し
て、24.5gの白色のポリイミドシロキサン粉末(本発明
のポリイミドシロキサン)を得た。
このポリイミドシロキサン粉末は、0.5g/100ml(N−
メチル−2−ピロリドン溶媒)での対数粘度が30℃で0.
37であった。また、赤外吸収スペクトルを測定し、1770
cm-1及び730cm-1にイミド基の吸収が存在することを確
認した。
上述のようにして得られたポリイミドシロキサンを、
ジオキサンとN−ビニル−2−ピロリドンとの4:1混合
溶媒に溶解し、濃度20重量%の均一なポリイミドシロキ
サン溶液(本発明のポリイミドシロキサン組成物)を調
製した。
この溶液をシリコンウェハー上に、回転塗布機を使用
して塗布し、80℃及び230℃で各30分間加熱乾燥して、
約3μm厚のポリイミドシロキサン薄膜を得た。この薄
膜で被覆されたシリコンウェハーを120℃の飽和水蒸気
中に100時間放置した後、直ちに碁盤目テープ剥離試験
(JIS D 0202)を行ったところ、上記薄膜の浮き、
フクレなどは認められず、上記薄膜がシリコンウェハー
によく密着していた。
また、上記ポリイミドシロキサン薄膜を熱量分析器
(デュポン社製951型)を使用して、10℃/分で昇温し
たところ、380℃まで重量減少は認められず、示差熱分
析おり240℃にガラス転移温度があった。
実施例2〜5 下記表−1に示す条件とした以外は実施例1と同様に
して重合を行い、本発明のポリイミドシロキサンをそれ
ぞれ得た。収量及び得られたポリイミドシロキサンそれ
ぞれの対数粘度を下記表−1にそれぞれ示す。また、得
られたポリイミドシロキサンそれぞれについて、赤外吸
収スペクトルを測定し、1770cm-1及び730cm-1にイミド
基の吸収が存在することを確認した。
また、得られたポリイミドシロキサンそれぞれを下記
表−2に示す溶媒を用いて下記表−2に示す濃度の溶液
とし、これらのポリイミドシロキサン溶液(本発明のポ
リイミドシロキサン組成物)を用いて実施例1と同様に
して薄膜を形成し、これらの薄膜について、実施例1と
同様にして膜特性を測定した。その結果を下記表−2に
示す。
比較例1 N−メチル−2−ピロリドン90.0gに2,3,3′,4′−ビ
フェニルテトラカルボン酸二無水物8.20g及びビス〔4
−(4′−アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン12.1
5gを加え、窒素ガスを流通し撹拌しながら、180℃の反
応温度で5時間保持し重合を行った。
この重合液をメタノールに注ぎ、ポリイミドを析出濾
別させ、乾燥し、対数粘度0.62の白色のポリイミド粉末
17.5gを得た。
このポリイミド粉末をN−ビニル−2−ピロリドンに
20重量%となるように溶解し、実施例1と同様にしてシ
リコンウェハーへの密着テストを行ったところ、フクレ
が見られ、テープにより膜が基板から容易に剥がれた。
〔発明の効果〕
本発明のポリイミドシロキサン組成物は、有機溶媒に
対する優れた溶解性と、優れた密着性、特に低温処理で
加湿雰囲気下での優れた耐湿密度性、及び優れた耐熱性
を有し、しかも使用しているポリイミドシロキサンは製
造の簡単な新規化合物であり、電子部品用の層間絶縁膜
や表面保護膜などの形成材料として用いられる。
また、本発明のポリイミドシロキサン組成物によれ
ば、種々の電気又は電子部材などの表面に膜特性の優れ
た保護膜を形成することができる。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−168943(JP,A) 特開 昭61−42573(JP,A) 特開 昭61−277923(JP,A) 特開 昭58−7473(JP,A) 特開 昭61−166053(JP,A) 特開 昭61−141731(JP,A) 特開 昭61−151237(JP,A) 特開 昭62−11727(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】芳香族テトラカルボン酸成分と、ジアミノ
    ポリシロキサン及び芳香族ジアミンからなるジアミン成
    分とを重合及びイミド化することにより得られるポリイ
    ミドシロキサン共重合体が、有機溶媒に3〜40重量%の
    濃度で均一に溶解している共重合ポリイミドシロキサン
    の有機溶媒溶液からなる、電子部品用の膜形成用ポリイ
    ミドシロキサン組成物〔但し、上記ポリイミドシロキサ
    ン共重合体は、下記(a)単位10〜40モル%及び下記
    (b)単位90〜60モル%からなり対数粘度〔濃度:0.5g/
    100ml溶媒(N−メチル−2−ピロリドン)、測定温度:
    30℃〕が0.2〜1.5の高分子量のポリイミドシロキサン共
    重合体である。〕。 (a)単位: 下記式(1)で示される構成単位80〜100モル%及び下
    記式(2)で示される構成単位20〜0モル%からなる。 式(1) (上記式(1)中、R1はCH2 又はフェニレン基を
    示し、mは3〜4であり、R2は独立に炭素数1〜3のア
    ルキル基又はフェニル基を示し、lは5〜30である。) 式(2) (上記式(2)中、Xは3,3′,4,4′−ベンゾフェノン
    テトラカルボン酸又はその酸二無水物、2,3,3′,4′−
    ベンゾフェノンテトラカルボン酸又はその酸二無水物、
    あるいはピロメリット酸又はその酸二無水物の残基を示
    し、R1、R2及びlは上記式(1)の場合と同じであ
    る。) (b)単位: 下記式(3)で示される構成単位80〜100モル%及び下
    記式(4)で示される構成単位20〜0モル%からなる。 式(3) (上記式(3)中、Aはビス〔4−(4′−アミノフェ
    ノキシ)フェニル〕スルホン、2,2−ビス〔4′−
    (4″−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン、1,4
    −ビス(4′−アミノフェノキシ)ベンゼン、3,5−ジ
    アミノベンジルアクリレート、又は2−(3,5−ジアミ
    ノベンゾイルオキシ)エチルメタクリレートから選ばれ
    る芳香族ジアミン残基を示す。) 式(4) (上記式(4)中、Xは上記式(2)の場合と同じであ
    り、Aは上記式(3)の場合と同じである。)
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