JP2583353B2 - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents

半導体装置用リードフレーム

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置用リードフレームに関し、特に外
部リードの形状に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置では、第3図(a)に示すように、
放射状に広がっている多数の外部リード3が、タイバー
部2及びフレーム部1で互いに連結されており、その間
は凹部を有さないストレートな平面形状で構成されてい
る。第3図(b)において、半導体素子11は、アイラン
ド4に固着された後、樹脂封止によりパッケージ部5が
構成される。その後、外部リード3の半田付性を良好な
ものとする為に、この外部リード3に鉛又は錫・鉛合金
めっき7が施される。半導体装置は、その後タイバー部
2が切断され、外部リード先端が第3図(a)の破線a
の位置で切断され、第3図(b)の状態となり、そして
外部リード3は曲げ加工され、第3図(c)の状態とな
る。
完成した半導体装置は、第3図(d)に示すように、
プリント基板10に半田付実装される。切断分離した後の
外部リード3の先端部8の切断面には、外装めっき7が
被覆していない。その為、半田付実装後の半田メニスカ
ス9は、第3図(d)に示すように小さく、リード先端
部の半田付性が悪い。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の半導体装置のリードフレームでは、外部リード
3の先端を形成するために切断分離を行った場合、切断
面には錫、或は錫・鉛合金の外装めっきが被覆していな
い。
そのため、切断面の半田濡れが悪く、半田付強度が劣
化すると共に、半田付後の外観検査において、リード先
端方向から半田メニスカス9を認識することが難しく正
確な検査ができないという問題点があった。
本発明の目的は、前記問題点を解決し、リード先端部
の半田付性が良好になるようにした半導体装置用リード
フレームを提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の特徴は、アイランドが露出している状態の封
入前のリードフレームにおいて、半導体装置の外部リー
ド先端を形成する切断分離予定位置に、実装時に基板に
接続する側の主面から、内部に立ち上がる側部をアイラ
ンド側に有しかつその底部が薄い板厚となる凹部を設け
た半導体装置用リードフレームにある。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)は本発明の一実施例の半導体装置用リー
ドフレームの平面図である。
第1図(a)において、本実施例のリードフレーム
は、外部リード3の切断分離位置に、厚み方向の凹部を
有する。外部リード3の切断分離位置を破線aで示して
いる。第1図(b)に示すように、凹部6が形成されて
おり、このほぼ中央線の破線aで切断される。この切断
の前に、外装めっき7が両主面に施される。
第1図(c)に示すように、封入後、外装めっき7を
施した半導体装置の断面図である。第1図(d)に示す
ように、リードの曲げ工程を経た後の半導体装置を、基
板10に半田付実装した場合が示されている。外装めっき
7は、外部リード3の凹部6にも被覆されている為、半
田メニスカス9が広がり、半田濡れが良くなっており、
半田付強度も向上する。
以上、第3図(a)乃至第3図(d)と、本実施例と
が同様の部分については、説明を割愛した。
続いて第2図を参照して、本発明に関係する技術のリ
ードフレームを説明する。第2図(a)はそのリードフ
レームの平面図であり、同図においてリードフレームの
外部リード3の切断分離予定位置に幅方向の凹部6′を
有する。この場合、外部リード3は破線aの位置で切断
分離がなされ、その形状は第2図(b)の様になる。第
2図(b)のB1−B2線の断面を、第2図(c)に示す。
第2図のリードフレームのリード先端部8には、外装め
っき7は施されていないが、凹部6′の先端部8−aに
はめっきが施されており、前記実施例と同様の効果を有
する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、リードフレームの外
部リードを形成するために切断分離を行う位置に、凹部
を設けたことによって、リード先端の半田濡れ性が良く
なり、半田付強度が向上するという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例の半導体装置用リード
フレームを示す平面図、第1図(b)は第1図(a)の
凹部のある外部リードの断面図、第1図(c)は第1図
(b)の外部リードをめっきし、切断した状態を示す断
面図、第1図(d)は第1図(c)の外部リードを基板
に半田付けした状態を示す断面図、第2図(a)は本発
明に関係のあるリードフレームを示す平面図、第2図
(b)は第2図(a)のリードフレームを切断後の状態
を示す斜視図、第2図(c)は第2図(b)のB1−B2線
に沿って切断して見た断面図、第3図(a)は従来のリ
ードフレームを示す平面図、第3図(b)乃至第3図
(d)は従来の半導体装置用リードフレームを用いて、
半導体装置を製造し、実装する状態を順に示した断面図
である。 1……フレーム部、2……タイバー部、3……外部リー
ド、4……アイランド、5……樹脂封止部、6,6′……
凹部、7……外装めっき、8,8a……外部リード先端、9
……半田メニスカス、10……プリント基板。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アイランドが露出している状態の封入前の
    リードフレームにおいて、半導体装置の外部リード先端
    を形成する切断分離予定位置に、実装時に基板に接続す
    る側の主面から、内部に立ち上がる側部をアイランド側
    に有しかつその底部が薄い板厚となる凹部を設けたこと
    を特徴とする半導体装置用リードフレーム。
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