JPH04171854A - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents

半導体装置用リードフレーム

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JPH04171854A
JPH04171854A JP2299523A JP29952390A JPH04171854A JP H04171854 A JPH04171854 A JP H04171854A JP 2299523 A JP2299523 A JP 2299523A JP 29952390 A JP29952390 A JP 29952390A JP H04171854 A JPH04171854 A JP H04171854A
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Yukako Takasaki
高崎 由佳子
Motoaki Matsuda
元秋 松田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置用リードフレームに関し、特に外部
リードの形状に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置では、第3図(a)に示すように、放
射状に広がっている多数の外部リード3が、タイバ一部
2及びフレーム部1で互いに連結されており、その間は
凹部を有さないストレートな平面形状で構成されている
。第3図(b)において、半導体素子11は、アイラン
ド4に固着された後、樹脂封止によりパッケージ部5が
構成される。その後、外部リード3の半田付性を良好な
ものとする為に、この外部リード3に鉛又は錫Φ鉛合金
めっき7が施される。半導体装置は、その後タイバ一部
2が切断され、外部リート先端が第3図(a)の破線a
の位置で切断され、第3図(b)の状態となり、そして
外部リード3は曲げ加工され、第3図(C)の状態とな
る。
完成した半導体装置は、第3図(d)に示すように、プ
リント基板10に半田付実装される。
切断分離した後の外部リード3の先端部8の切断面には
、外装めっき7が被覆していない。その為、半田付実装
後の半田メニスカス9は、第3図(d)に示すように小
さく、リード先端部の半田付性が悪い。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の半導体装置のリードフレームでは、外部リード3
の先端を形成するために切断分離を行った場合、切断面
には錫、或は錫O鉛合金の外装めっきが被覆していない
そのため、切断面の半田濡れが悪く、半田付強度が劣化
すると共に、半田付後の外観検査において、リード先端
方向から半田メニスカス9を認識することが難しく正確
な検査ができないという問題点があった。
本発明の目的は、前記問題点を解決し、リード先端部の
半田付性が良好になるようにした半導体装置用リードフ
レームを提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体装置用リードフレームの構成は、外部リ
ードの切断分離予定位置に、凹部を設けていることを特
徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)は本発明の一実施例の半導体装置用リード
フレームの平面図である。
第1図(a)において、本実施例のリードフレームは、
外部リード3の切断分離位置に、厚み方向の凹部を有す
る。外部リード3の切断分離位置を破線aで示している
。第1図(b)に示すように、凹部6が形成されており
、このほぼ中央線の破線aで切断される。この切断の前
に、外装めっき7が両型面に施される。
第1図(C)に示すように、封入後、外装めっき7を施
した半導体装置の断面図である。第1図(d)に示すよ
うに、リードの曲げ工程を経た後の半導体装置を、基板
10に半田付実装した場合が示されている。外装めっき
7は、外部リード3の凹部6にも被覆されている為、半
田メニスカス9が広がり、半田濡れが良くなっており、
半田付強度も向上する。
以上、第3図(a)乃至第3図(d)と、本実施例とが
同様の部分については、説明を割愛した。
続いて、本発明の他の実施例について説明する。
第2図(a)は、本発明の他の実施例のリードフレーム
の平面図である。第2図(a)において、本実施例は、
リードフレームの外部リード3の切断分離予定位置に幅
方向の凹部6′を有する。この場合、外部リード3は破
線aの位置で切断分離がなされ、その形状は第2図(b
)の様になる。第2図(b)のB1−82線の断面を、
第2図(C)に示す。本実施例のIJ −)’先端部8
には、外装めっき7は施されていないが、凹部6の先端
部8−aにはめっきが施されており、前記一実施例と同
様の効果を有する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、リードフレームの外部
リードを形成するために切断分離を行う位置に、凹部を
設けたことによって、リード先端の半田濡れ性が良くな
り、半田付強度が向上するという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例の半導体装置用リード
フレームを示す平面図、第1図(b)は第1図(a)の
凹部のある外部リードの断面図、第1図(C)は第1図
(b)の外部リードをめっきし、切断した状態を示す断
面図、第1図(d)は第1図(C)の外部リードを基板
に半田付けした状態を示す断面図、第2図(a)は本発
明の他の実施例のリードフレームを示す平面図、第2図
(b)は第2図(a)のリードフレームを切断後の状態
を示す斜視図、第2図(C)は第2図(b)のB1−B
2線に沿って切断して見た断面図、第3図(a)は従来
のリードフレームを示す平面図、第3図(b)乃至第3
図(d)は従来の半導体装置用リードフレームを用いて
、半導体装置を製造し、実装する状態を順に示した断面
図である。 1・・・フレーム部、2・・・タイバ一部、3・・・外
部リード、4・・・アイランド、5・・・樹脂封止部、
6゜6′・・・凹部、7・・・外装めっき、8+8a・
・・外部リード先端、9・・・半田メニスカス、10・
・・プリント基板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体装置の外部リードの先端を形成する切断分離予
    定位置に、凹部を設けたことを特徴とする半導体装置用
    リードフレーム。
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