JPH0555436A - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents

半導体装置用リードフレーム

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Publication number
JPH0555436A
JPH0555436A JP3240314A JP24031491A JPH0555436A JP H0555436 A JPH0555436 A JP H0555436A JP 3240314 A JP3240314 A JP 3240314A JP 24031491 A JP24031491 A JP 24031491A JP H0555436 A JPH0555436 A JP H0555436A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
semiconductor device
lead
leads
cut
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3240314A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Miyano
毅 宮野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3240314A priority Critical patent/JPH0555436A/ja
Publication of JPH0555436A publication Critical patent/JPH0555436A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体装置のアウターリード先端部の端面に
リードフレーム素材が露出することなく、半導体装置の
実装に際してのアウターリードとろう材との濡れ性を改
善し、実装の信頼性を改善する。 【構成】 半導体装置のパッケージ2から突出されるリ
ード部3の表面をめっき等のろう材膜5で被覆し、かつ
その一部において切断してアウターリード7を構成する
半導体装置用リードフレームにおいて、リード部の切断
部に沿う位置に凹溝4を形成することで、切断形成され
たアウターリード7の先端部の端面をろう材膜5で被覆
してリードフレーム素材が露出されることを防止し、実
装時におけるろう材との濡れ性を改善する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置用リードフレ
ーム(以下、リードフレームという)に関し、特に半導
体装置をプリント基板にろう付けにて実装する際の信頼
性を改善したリードフレームに関する。
【0002】
【従来の技術】一般にリードフレームを使用したOFP
やSOP等の半導体装置の製造では、図3に工程図を示
すように、同図(a)において、リードフレーム11に
図外の半導体素子を搭載し、かつ電気接続を行った上で
樹脂封止してパッケージ12を構成する。次いで、同図
(b)のように、パッケージ12から突出されるリード
部13の表面にめっき等による半田膜15を形成し、か
つこのリード部13を所要箇所で切断し、これを半導体
装置のアウターリード17として構成する。その後、同
図(c)のように、アウターリード17を曲げ加工す
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のリード
フレームを使用した半導体装置では、図4(a)にアウ
ターリード17の先端部を拡大図示するように、切断さ
れた先端部の端面17aは切断時の半田垂れによって半
田膜15が付着するが、端面17aの全てが半田膜15
によって被覆されることはない。本発明者の経験によれ
ば、リード部12の厚さが0.15mmの場合には、その厚さ
の約1/3 程度の部分が被覆されずにリードフレーム素材
が露出される。このため、このような半導体装置をプリ
ント基板に半田を用いて実装する際には、図4(b)の
ように、アウターリード17の先端部の端面17aのリ
ードフレーム素材が露出された箇所にまで半田19が濡
れ難くなり、プリント基板18とアウターリード17と
の接続面積が低減され、半導体装置の実装の信頼性が低
下されるという問題がある。本発明の目的は、アウター
リードの先端部におけるろう材との濡れ性を改善し、半
導体装置の実装の信頼性を向上させたリードフレームを
提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のリードフレーム
は、リード部の切断部に沿う位置に凹溝を形成する。
【0005】
【作用】本発明によれば、リード部の切断部に沿う位置
に設けた凹溝によって切断部の厚さが薄くなり、切断に
より形成されるアウターリード先端部の端面の全てがろ
う材により被覆され、リード素材が露出されることがな
い。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明のリードフレームを使用した半導体装
置の製造工程図である。同図(a)のように、リードフ
レーム1は図外の半導体素子を搭載し、半導体素子とリ
ードフレームとの間の電気接続を行った上で、エポキシ
樹脂等により封止してパッケージ2を構成する。このリ
ードフレーム1には、最終的に半導体装置を形成したと
きにアウターリードとなるリード部3の一部、換言すれ
ばアウターリードの先端部に該当する位置に凹溝4を形
成している。この実施例では、凹溝4はリードフレーム
1の下面に形成しており、例えばリードフレーム1を打
抜き成形する際にプレス加工によってリードフレーム1
の下面を凹設する等の方法により形成する。尚、この凹
溝3は、リードフレーム1に0.15mmの厚さの素材を用い
たときには、少なくともその厚さの1/3 程度の深さに形
成することが好ましい。
【0007】このリードフレームを用いることにより、
同図(b)のようにリードフレーム1の表面にめっき等
により半田膜5を形成すると、凹溝4の溝内も半田膜5
が施される。そして、同図(c)のように、凹溝4の部
分でリード部3を切断パンチ6により切断し、アウター
リード7を構成する。このようにして形成されるアウタ
ーリード7は、その先端部の端面7aの切断面は凹溝4
によって厚さが低減された箇所であるために面積も小さ
くなり、この端面7aはその後における半田膜5の垂れ
によって容易に被覆されることになる。その後、同図
(d)のように、アウターリード7を曲げ形成して半導
体装置を完成させる。
【0008】したがって、完成された半導体装置のアウ
ターリード7は、図2(a)に先端部の拡大図を示すよ
うに、端面7aが完全に半田膜5によって被覆され、リ
ードフレーム素材が端面に露出されることはない。この
ため、同図(b)のように、半導体装置をプリント基板
8に実装する場合、接続するための半田9がアウターリ
ード7の先端部の端面7aの全面と濡れ性を得ることに
なり、接続面積を増大して半導体装置の実装の信頼性を
高めることが可能となる。尚、凹溝はリードフレームの
上面でもよく、或いは上下両面に形成してもよい。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明のリードフレ
ームは、リード部の切断部に沿う位置に凹溝を形成して
いるので、切断により形成されたアウターリードの先端
部端面が全てろう材によって被覆され、リードフレーム
素材が露出しないため、半導体装置の実装に際してアウ
ターリードとろう材との濡れ性を改善し、信頼性を向上
することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のリードフレームを使用した半導体装置
の製造工程を示す概略断面図である。
【図2】本発明のリードフレームで構成した半導体装置
のアウターリード先端部の斜視図である。
【図3】従来のリードフレームを用いた半導体装置の製
造工程を示す概略断面図である。
【図4】従来のリードフレームで構成した半導体装置の
アウターリード先端部の斜視図である。
【符号の説明】
1 リードフレーム 2 パッケージ 3 リード部 4 凹溝 5 半田膜 7 アウターリード 8 プリント基板 9 半田

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 搭載した半導体素子を封止してパッケー
    ジを構成し、このパッケージから突出されるリード部の
    表面をろう材でめっきし、かつその一部において切断し
    て半導体装置のアウターリードを形成する半導体装置用
    リードフレームにおいて、前記リード部の切断部に沿う
    位置に凹溝を形成したことを特徴とする半導体装置用リ
    ードフレーム。
JP3240314A 1991-08-28 1991-08-28 半導体装置用リードフレーム Pending JPH0555436A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3240314A JPH0555436A (ja) 1991-08-28 1991-08-28 半導体装置用リードフレーム

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JP3240314A JPH0555436A (ja) 1991-08-28 1991-08-28 半導体装置用リードフレーム

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JPH0555436A true JPH0555436A (ja) 1993-03-05

Family

ID=17057624

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JP3240314A Pending JPH0555436A (ja) 1991-08-28 1991-08-28 半導体装置用リードフレーム

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JP (1) JPH0555436A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE33175E (en) * 1974-06-12 1990-03-06 The D. L. Auld Company Method for making decorative emblems
JP2006351846A (ja) * 2005-06-16 2006-12-28 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
US7364947B2 (en) 2002-10-17 2008-04-29 Rohm Co., Ltd. Method for cutting lead terminal of package type electronic component

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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