JP2019220632A - 被加工物の加工方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】ウェーハ(板状ワーク)の外周をトリミングしても、ウェーハの結晶方位を認識できるようにする。【解決手段】本加工方法の外周縁除去ステップでは、切削ブレードをウェーハ1の半径方向に揺動させながら、表面2aの外周縁7を切削することにより、表面2aが楕円形状を有する。さらに、この外周縁除去ステップでは、表面2aの楕円形状の短辺L2が、ウェーハ1の結晶方位を示すノッチ9の延びる方向に沿うように、切削ブレードが揺動される。したがって、表面2aの楕円形状は、ウェーハ1の結晶方位に対応している。そして、外周縁除去ステップの後の研削ステップにより、ウェーハ1の全体が、表面2aの形状である楕円形状を有する。このため、ウェーハ1では、その楕円形状に基づいて、ウェーハ1の結晶方位を判別することが可能となっている。【選択図】図4

Description

本発明は、被加工物の加工方法に関する。
ウェーハなどの板状ワークには、外周に、表面から裏面に至る面取りが形成されているものがある。このような板状ワークを半分の厚み以下に薄化すると、いわゆるシャープエッジが外周に形成され、板状ワークが破損する可能性がある。これを防ぐため、板状ワークの外周をトリミングして面取りを除去してから、板状ワークを薄化する技術が知られている(たとえば、特許文献1参照)。
また、板状ワークには、結晶方位を示すノッチが形成されたものがある。ノッチは、たとえば、板状ワークをデバイスに分割する際の目印として利用される(たとえば、特許文献2参照)。ノッチ形状は、たとえば、業界標準規格であるSEMI規格によって定められている。ノッチが形成された板状ワークについても、その外周をトリミングして面取りを除去してから薄化が行われている。
特開2000−173961号公報 特開2004−198264号公報
しかし、トリミングを実施した板状ワークでは、薄化後に、ノッチが小さくなる、もしくは消失することになる。このため、その後の工程で、板状ワークの結晶方位を正しく検出することが困難になる。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、板状ワークの外周をトリミングしても、板状ワークの結晶方位を認識できるようにすることを目的とする。
本発明の被加工物の加工方法は、格子状に形成された複数の分割予定ラインによって区画された領域にデバイスが形成された表面を有する被加工物の加工方法であって、該被加工物の裏面を保持テーブルで保持して該被加工物の該表面を露出させる保持ステップと、該保持ステップを実施した後、切削ブレードを該被加工物の該表面の外周縁に切り込ませ、該保持テーブルを回転させるとともに、該切削ブレードを該被加工物の半径方向に揺動させることにより、該被加工物の該外周縁を、切削幅を変化させながら切削する外周縁除去ステップと、該外周縁除去ステップを実施した後、該被加工物の該表面の該デバイスが形成された領域を表面保護部材で覆う表面保護ステップと、該表面保護ステップを実施した後、該被加工物の該裏面を研削砥石で研削して、該被加工物を所定の厚さへと薄化する研削ステップと、を備え、該外周縁除去ステップにて該被加工物の該表面の該外周縁を切削幅を変化させながら切削し、該被加工物の該表面が、該被加工物の結晶方位に対応する楕円形状を有するように該外周縁を除去することにより、楕円形状により該被加工物の結晶方位を識別可能とすることを特徴とする。
本発明の加工方法では、外周縁除去ステップにて、被加工物の表面における外周縁を、切削幅を変化させながら切削する。これにより、被加工物の表面から外周縁が除去されるとともに、被加工物の表面が、被加工物の結晶方位に対応する楕円形状を有する。そして、外周縁除去ステップの後の研削ステップにより、被加工物の裏面の外周縁も研削(除去)されるため、被加工物の全体が、表面の形状である楕円形状を有する。このため、研削ステップの後、被加工物の外周縁に形成されていたノッチが消失しても、被加工物の楕円形状(たとえば、その長軸あるいは短軸の延びる方向)に基づいて、被加工物の結晶方位を判別することが可能である。
本実施形態にかかる被加工物の一例であるウェーハを示す斜視図である。 図1に示したウェーハの断面図である。 保持テーブルによって保持され、トリミングが施されているウェーハを示す斜視図である。 外周縁除去ステップ後のウェーハの表面を示す斜視図である。 表面保護テープによって表面が覆われたウェーハを示す断面図である。 研削装置を示す斜視図である。 研削ステップを示す断面図である。 研削ステップ後のウェーハを示す斜視図である。 図9(a)および図9(b)は、外周縁除去ステップ後のウェーハにおける表面形状の他の例を示す平面図である。
本発明の一実施形態を、図面を用いて詳細に説明する。まず、本実施形態にかかる被加工物の加工方法(本加工方法)における被加工物について、簡単に説明する。
図1に示すように、本実施形態にかかる被加工物の一例であるウェーハ1は、たとえば、円板状を有するシリコン基板である。ウェーハ1の表面2aには、デバイス領域5および外周余剰領域6が形成されている。デバイス領域5では、格子状の分割予定ライン3によって区画された領域のそれぞれに、デバイス4が形成されている。外周余剰領域6は、デバイス領域5を取り囲んでいる。
図2に示すように、ウェーハ1の裏面2bは、デバイス4を有しておらず、研削砥石などによって研削される被研削面となっている。ウェーハ1の外周縁7には、表面2aから裏面2bにかけて、円弧状に面取りが形成されている。なお、図2では、ウェーハ1の表面2aに設けられているデバイス4を省略している。
さらに、図1に示すように、ウェーハ1の外周縁7には、ノッチ9が設けられている。ノッチ9は、ウェーハ1の結晶方位を示すマークである。すなわち、本実施形態のウェーハ1は、半導体単結晶を含んでいる。そして、ウェーハ1の結晶方位を示すために、ウェーハ1の外周縁7にノッチ9が設けられている。ノッチ9は、たとえば、ウェーハ1を半導体チップに分割する際のウェーハ1の方向合わせのための目印として利用される。ノッチ9の形状は、たとえば、業界標準規格であるSEMI規格によって定められている。ノッチ9は、たとえば、ウェーハ1の外周縁7に設けられた、ウェーハ1の中央に向かって延びる略三角形状の切り欠き部である。
次に、本加工方法に含まれるステップについて説明する。
(1)保持ステップ
本加工方法では、まず、ウェーハ1を保持テーブル101によって保持する。図3に示すように、保持テーブル101により、ウェーハ1の裏面2bを保持する。これにより、ウェーハ1の表面2aが露出する。このとき、たとえば、保持テーブル101に載置されたウェーハ1の裏面2b側を、図示しない吸引源によって吸引することにより、保持テーブル101がウェーハ1を吸引保持する。
(2)外周縁除去ステップ
保持ステップを実施した後、回転する切削ブレード103を、ウェーハ1の表面2aにおける外周縁7に切り込ませ、保持テーブル101を回転させる。これにより、ウェーハ1の外周縁7の表面2a側を除去(トリミング)する。すなわち、ウェーハ1の表面2aの外周縁7に、エッジトリミングを行う。使用される切削ブレード103は、フラットな刃先を有する。
このステップでは、たとえば、保持テーブル101を切削ブレード103の下方に配置し、切削ブレード103を矢印B方向に回転させながら、切削ブレード103をウェーハ1の表面2aに接近する方向に降下させて、切削ブレード103の刃先を外周縁7に切り込ませる。次いで、保持テーブル101を、矢印A方向に回転させる。そうすると、切削ブレード103が降下するにつれて、外周縁7が徐々に削られていく。これにより、外周縁7が、リング状にエッジトリミングされる。
この外周縁除去ステップにより、図4に示すように、ウェーハ1の外周縁7の一部分(表面2a側)が除去されて、外周切削部8が形成される。その結果、ウェーハ1の表面2aでは、ノッチ9が消失する。
特に、本加工方法では、外周縁除去ステップにおいて、切削ブレード103をウェーハ1の半径方向に揺動させながら、ウェーハ1の表面2aにおける外周縁7を切削(除去)する。すなわち、切削ブレード103の回転軸心方向に切削ブレード103を前後移動させながら、外周縁7を、切削幅を変化させながら切削する。これにより、図4に示すように、ウェーハ1の表面2aは、長軸(長辺)L1および短軸(短辺)L2を有する楕円形状を有する。なお、たとえば、外周縁除去ステップでは、表面2aを楕円形状とするために、ウェーハ1を保持した保持テーブル101を1回転させるたびに、切削ブレード103を、2回(2往復)、ウェーハ1の半径方向に揺動させる。
また、特に、この外周縁除去ステップでは、図4に示すように、ウェーハ1の表面2aの楕円形状の短辺L2が、ノッチ9の延びる方向(ノッチ9とウェーハ1の中心とを結ぶ直線に平行)に沿うように、切削ブレード103が揺動され、表面2aの楕円形状が形成される。
このような楕円形状とノッチ9の位置との関係を実現するために、外周縁除去ステップを実施する加工者は、ウェーハ1におけるノッチ9の位置を、あらかじめ確認しておく。ここで、ノッチ9は比較的に小さい部位であるため、ノッチ9を視認しにくい場合もありえる。この場合、加工者は、ノッチ9を直接に視認することなく、ノッチ9の位置を確認することもできる。たとえば、ノッチ9が、デバイス4の配列方向(分割予定ライン3と平行)に延びている場合がある。この場合には、加工者は、デバイス4の配列方向に基づいて、ノッチ9の位置を確認することができる。
また、外周縁除去ステップを実施するための装置(切削装置)が、ウェーハ1のノッチ9を撮影して加工者に表示するためのカメラシステムを備えていてもよい。この場合、加工者は、カメラシステムの表示画面を用いてノッチ9の位置を確認しながら、外周縁除去ステップを実施することができる。また、カメラにより撮影した画像とあらかじめ記憶させたノッチ9を含む画像とのパターンマッチング処理によってノッチ9を検出するようにしてもよい。
(3)表面保護ステップ
外周縁除去ステップを実施した後、ウェーハ1の表面2aのデバイス4が形成されたデバイス領域5を、表面保護部材としての表面保護テープ10によって覆う。
このステップでは、図5に示すように、表面保護テープ10を、ウェーハ1の表面2aに貼着する。表面保護テープ10は、ウェーハ1の表面2aに形成されたデバイス4を保護する。表面保護テープ10は、ウェーハ1の表面2aの全面を覆う面積を有している。
表面保護テープ10をウェーハ1に貼着する際には、たとえば、ウェーハ1の表面2aの全面に対して、接着剤が塗布される。この接着剤を介して、表面保護テープ10を貼着することで、ウェーハ1の表面2aの全面を、表面保護テープ10によって覆うことができる。接着剤は、たとえばシリコンからなるウェーハ1に対して接着力を有する材料(糊)を含んでいる。表面保護テープ10は、デバイス4による凹凸を吸収しながら、ウェーハ1に密着する。これにより、表面保護テープ10によって、ウェーハ1の表面2aの全面が覆われ、デバイス4が保護される。
なお、図5に示す例では、表面保護テープ10が、デバイス4による凹凸に対し、空間を空けずに密着している。しかし、表面保護テープ10は、凹凸の一部に接触するように貼付されてもよい。
また、本実施形態では、ウェーハ1のデバイス領域5を保護する表面保護部材として、樹脂が用いられてもよい。すなわち、表面保護ステップは、ウェーハ1の表面2aを樹脂で覆う樹脂被覆ステップを含んでいてもよい。
(4)研削ステップ
表面保護ステップを実施した後、ウェーハ1の裏面2bを研削砥石で研削して、ウェーハ1を所定の厚さへと薄化する。
まず、研削ステップに用いられる研削装置の構成について説明する。図6に示す研削装置200は、ウェーハ1に研削加工を施す装置である。研削装置200は、搬送・収納部201、テーブル部202および研削部203を備えている。
搬送・収納部201は、研削の前後のウェーハ1を収納するとともに、テーブル部202との間でウェーハ1を搬送する。搬送・収納部201は、研削前のウェーハ1を収容する第1のカセット211と、研削済みのウェーハ1を収容する第2のカセット212と、ウェーハ1を搬送するロボットアーム部(搬送部材)213と、ウェーハ1の中心を一定の位置に合わせる位置あわせ部214と、研削後のウェーハ1を洗浄する洗浄手段215とを備えている。
テーブル部202は、ターンテーブル221、および、ターンテーブル221の上面に備えられた3つのチャックテーブル(保持テーブル)222を含んでいる。チャックテーブル222は、ウェーハ1を吸着・固定した状態で、ターンテーブル221の自転によって、XY平面上で公転可能である。ターンテーブル221は、チャックテーブル222を公転させることによって、ウェーハ1を研削部203の所定位置に配置する。また、3つのチャックテーブル222は、それぞれが自転可能である。
研削部203は、粗研削部231および仕上げ研削部232を備えている。粗研削部231は、回転軸233とともに回転可能な研削ホイール235を備えている。研削ホイール235の底面には、複数の粗研削砥石236が環状に配設されている。粗研削砥石236は、粗研削に用いられる砥石であり、例えば、砥石中に比較的大きい砥粒を含む。研削部203には、粗研削部231をZ軸方向に研削送りする研削送り部238が備えられている。
仕上げ研削部232は、粗研削によって仕上げ厚さ程度にまで薄化されたウェーハ1に対して、平坦性を高める仕上げ研削を行う。仕上げ研削部232は、粗研削砥石236に代えて仕上げ研削砥石237を備えていることを除いて、粗研削部231と同様の構成を有する。仕上げ研削砥石237は、粗研削砥石236に含まれる砥粒よりも小さい粒径の砥粒を含んでいる。研削部203には、仕上げ研削部232をZ軸方向に研削送りする研削送り部239が備えられている。
次に、研削ステップにおける研削装置200の動作について説明する。まず、ロボットアーム部213が、第1のカセット211から研削前のウェーハ1を取り出し、テーブル部202のチャックテーブル222上に載置する。この際、図7に示すように、ウェーハ1の表面保護テープ10が、チャックテーブル222に吸引保持される。これにより、ウェーハ1の裏面2bが、上向き(Z方向)に露出する。
その後、粗研削が実施される。すなわち、図6に示すターンテーブル221が回転することによって、ウェーハ1を保持したチャックテーブル222が、粗研削部231の下方に移動する。
その後、図7に示すように、チャックテーブル222が、たとえば矢印A方向に回転する。さらに、粗研削部231の研削ホイール235が、矢印A方向に回転しながら降下する。そして、粗研削砥石236が、ウェーハ1の裏面2bを、押圧しながら研削する。この研削では、ウェーハ1の残存している外周縁7が除去されて、粗研削砥石236が外周切削部8に至るまで、ウェーハ1の裏面2bが削られる。
さらにその後、仕上げ研削が実施される。すなわち、図6に示すターンテーブル221が回転することによって、ウェーハ1を保持したチャックテーブル222が、仕上げ研削部232の下方に移動する。仕上げ研削部232の研削ホイール235が、回転しながら降下し、仕上げ研削砥石237が、ウェーハ1の裏面2bを、押圧しながら仕上げ研削する。この仕上げ研削では、ウェーハ1の裏面2bの全面が略均一な厚さを有するように、裏面2bの平坦性が高められる。仕上げ研削されたウェーハ1は、ロボットアーム部213によってチャックテーブル222から取り外され、第2のカセット212に収納される。
図8に示すように、研削ステップでは、ウェーハ1から外周縁7が除去されるため、外周縁7の裏面2b側に残存していたノッチ9(図4参照)も消失する。また、研削ステップでは、外周切削部8に至るまでウェーハ1の裏面2bが削られるため、ウェーハ1の全体が、研削ステップ前の表面2aの形状である楕円形状を有することになる。
その後、ウェーハ1は、公知の方法で分割予定ライン3(図1参照)に沿って分断されて、最終製品であるチップが形成される(分断ステップ)。
以上のように、本加工方法では、外周縁除去ステップにて、ウェーハ1の表面2aの外周縁7を、切削ブレード103をウェーハ1の半径方向に揺動させながら(切削ブレード103の位置をウェーハ1の半径方向に変化させながら)、切削する。すなわち、外周縁7を、切削幅を変化させながら切削する。これにより、ウェーハ1の表面2aから外周縁7が除去されるとともに、ウェーハ1の表面2aが楕円形状を有する。さらに、この外周縁除去ステップでは、図4に示すように、ウェーハ1の表面2aにおける楕円形状の短辺L2が、ウェーハ1の結晶方位を示すノッチ9の延びる方向(ノッチ9とウェーハ1の中心とを結ぶ直線に平行な方向)に沿うように、切削ブレード103が揺動される。したがって、ウェーハ1の表面2aの楕円形状は、ウェーハ1の結晶方位に対応した形状となる。
そして、外周縁除去ステップの後の研削ステップにより、ウェーハ1の裏面2bの外周縁7も研削(除去)されるため、ウェーハ1の全体が、表面2aの形状である楕円形状を有する。このため、ウェーハ1の楕円形状に基づいて、ウェーハ1の結晶方位を判別(識別)することが可能となっている。
なお、本実施形態では、外周縁除去ステップにより、ウェーハ1(表面2a)の楕円形状の短辺L2が、ノッチ9の延びる方向に沿っている。しかしながら、これに限らず、ウェーハ1(表面2a)の楕円形状の長辺L1が、ノッチ9の延びる方向に沿うように、外周縁除去ステップが実施されてもよい。すなわち、ウェーハ1の表面2aの楕円形状とノッチ9の位置とが、所定の関係を有していればよい。このような場合でも、ウェーハ1(表面2a)の楕円形状に基づいて、ウェーハ1の結晶方位を判別することが可能となる。
また、本実施形態では、外周縁除去ステップにおいて、ウェーハ1の表面2aを、ウェーハ1の結晶方位に対応する楕円形状としている。しかしながら、ウェーハ1の表面2aは、ウェーハ1の結晶方位に対応する他の形状を有してもよい。たとえば、図9(a)(b)に示すように、ウェーハ1の表面2aは、しずく状の突出部301あるいはなだらかな凸部302を有する、扁平な形状を有してもよい。この構成では、突出部301および凸部302の位置および/または形状が、ウェーハ1の結晶方位と対応している。この構成では、研削ステップの後では、ウェーハ1の全体が、図9(a)(b)に示す表面2aと同様に、突出部301および凸部302を有する形状となる。したがって、突出部301あるいは凸部302に基づいて、ウェーハ1の結晶方位を判別(識別)することが可能である。
また、本実施形態では、外周縁除去ステップ後におけるウェーハ1の表面2aの形状(研削ステップ後におけるウェーハ1の形状)を、楕円と表現している。この「楕円」という表現は、当然のことながら、2つの焦点を有する厳密な楕円形状に限られず、ウェーハ1の結晶方位を判別できるような対称性(たとえば、1回対称性あるいは2回対称性)を有する任意の形状を含む。
また、本実施形態では、ウェーハ1の表面2aから裏面2bにかけて、円弧状に面取りが形成され、外周縁7が、リング状にエッジトリミングされる。しかし、トリミングされるべき外周縁7は、面取りによって形成されるものだけではない。たとえば、ウェーハ1の外周縁7に段差が形成されている場合にも、同様に、外周縁7をトリミングすることが好ましい。
1:ウェーハ、2a:表面、2b:裏面、3:分割予定ライン、4:デバイス、
5:デバイス領域、6:外周余剰領域、7:外周縁、8:外周切削部、9:ノッチ、
101:保持テーブル、103:切削ブレード
10:表面保護テープ、11:接着層
200:研削装置、搬送・収納部201、202:テーブル部、203:研削部、
213:ロボットアーム部、221:ターンテーブル、222:チャックテーブル、
231:粗研削部、232:仕上げ研削部、
236:粗研削砥石、237:仕上げ研削砥石

Claims (1)

  1. 格子状に形成された複数の分割予定ラインによって区画された領域にデバイスが形成された表面を有する被加工物の加工方法であって、
    該被加工物の裏面を保持テーブルで保持して該被加工物の該表面を露出させる保持ステップと、
    該保持ステップを実施した後、切削ブレードを該被加工物の該表面の外周縁に切り込ませ、該保持テーブルを回転させるとともに、該切削ブレードを該被加工物の半径方向に揺動させることにより、該被加工物の該外周縁を、切削幅を変化させながら切削する外周縁除去ステップと、
    該外周縁除去ステップを実施した後、該被加工物の該表面の該デバイスが形成された領域を表面保護部材で覆う表面保護ステップと、
    該表面保護ステップを実施した後、該被加工物の該裏面を研削砥石で研削して、該被加工物を所定の厚さへと薄化する研削ステップと、を備え、
    該外周縁除去ステップにて該被加工物の該表面の該外周縁を切削幅を変化させながら切削し、該被加工物の該表面が、該被加工物の結晶方位に対応する楕円形状を有するように該外周縁を除去することにより、楕円形状により該被加工物の結晶方位を識別可能とすることを特徴とする被加工物の加工方法。
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