JP2018098378A - インターポーザの製造方法 - Google Patents

インターポーザの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2018098378A
JP2018098378A JP2016242235A JP2016242235A JP2018098378A JP 2018098378 A JP2018098378 A JP 2018098378A JP 2016242235 A JP2016242235 A JP 2016242235A JP 2016242235 A JP2016242235 A JP 2016242235A JP 2018098378 A JP2018098378 A JP 2018098378A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass substrate
interposer
cutting blade
cutting
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016242235A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6779574B2 (ja
Inventor
鈴木 克彦
Katsuhiko Suzuki
克彦 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2016242235A priority Critical patent/JP6779574B2/ja
Priority to TW106138541A priority patent/TWI719266B/zh
Priority to CN201711225182.2A priority patent/CN108231569B/zh
Priority to KR1020170170314A priority patent/KR102340168B1/ko
Priority to US15/841,032 priority patent/US10115644B2/en
Publication of JP2018098378A publication Critical patent/JP2018098378A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6779574B2 publication Critical patent/JP6779574B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • H01L21/3043Making grooves, e.g. cutting
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/062Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam
    • B23K26/0622Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam by shaping pulses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/15Ceramic or glass substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/362Laser etching
    • B23K26/364Laser etching for making a groove or trench, e.g. for scribing a break initiation groove
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/38Removing material by boring or cutting
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/40Removing material taking account of the properties of the material involved
    • B23K26/402Removing material taking account of the properties of the material involved involving non-metallic material, e.g. isolators
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B19/00Single-purpose machines or devices for particular grinding operations not covered by any other main group
    • B24B19/02Single-purpose machines or devices for particular grinding operations not covered by any other main group for grinding grooves, e.g. on shafts, in casings, in tubes, homokinetic joint elements
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B27/00Other grinding machines or devices
    • B24B27/06Grinders for cutting-off
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B51/00Arrangements for automatic control of a series of individual steps in grinding a workpiece
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D1/00Working stone or stone-like materials, e.g. brick, concrete or glass, not provided for elsewhere; Machines, devices, tools therefor
    • B28D1/22Working stone or stone-like materials, e.g. brick, concrete or glass, not provided for elsewhere; Machines, devices, tools therefor by cutting, e.g. incising
    • B28D1/24Working stone or stone-like materials, e.g. brick, concrete or glass, not provided for elsewhere; Machines, devices, tools therefor by cutting, e.g. incising with cutting discs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • H01L21/486Via connections through the substrate with or without pins
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/76Making of isolation regions between components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49827Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0017Etching of the substrate by chemical or physical means
    • H05K3/0026Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation
    • H05K3/0029Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation of inorganic insulating material
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0094Filling or covering plated through-holes or blind plated vias, e.g. for masking or for mechanical reinforcement
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • B23K2101/40Semiconductor devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2103/00Materials to be soldered, welded or cut
    • B23K2103/16Composite materials, e.g. fibre reinforced
    • B23K2103/166Multilayered materials
    • B23K2103/172Multilayered materials wherein at least one of the layers is non-metallic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2103/00Materials to be soldered, welded or cut
    • B23K2103/50Inorganic material, e.g. metals, not provided for in B23K2103/02 – B23K2103/26
    • B23K2103/54Glass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49822Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10227Other objects, e.g. metallic pieces
    • H05K2201/10378Interposers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Mining & Mineral Resources (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

【課題】ガラス基板を用いたインターポーザの耐熱性を高めることができるインターポーザの製造方法を提供する。【解決手段】格子状に設定された複数の分割予定ラインによって複数の領域に区画されるガラス基板と、ガラス基板の第1面又は第1面とは反対側の第2面に積層され絶縁層と配線層とを含む積層体と、を備える材料基板から複数のインターポーザを製造するインターポーザの製造方法であって、分割予定ラインに沿って積層体の露出した面に第1の切削ブレードを切り込ませ、ガラス基板に達しない深さの切削溝を積層体に形成する切削溝形成工程と、切削溝よりも幅の狭い第2の切削ブレードを切削溝に沿ってガラス基板に切り込ませ、ガラス基板を分割して複数のインターポーザを製造する分割工程と、を含む。【選択図】図2

Description

本発明は、ガラス基板を用いたインターポーザの製造方法に関する。
半導体装置の更なる小型化、高集積化を実現するために、半導体チップを厚さ方向に重ねて貫通電極(TSV:Through Silicon Via)で接続する3次元実装技術が実用化されている。しかしながら、この3次元実装技術では、複数の半導体チップを厚さ方向に重ねるので、放熱性が低下し易く、サイズの異なる半導体チップを使用することもできない。更に、半導体チップを貫通する貫通電極の形成に伴い、製造コストが高くなり易いという問題もあった。
近年では、シリコンウェーハを用いて形成されるインターポーザ(中継用基板)を介して複数の半導体チップを実装する実装技術も提案されている(例えば、特許文献1参照)。この実装技術は、2.5次元実装技術等とも呼ばれ、例えば、メモリ機能を持つ半導体チップと、演算機能を持つ半導体チップとが重ならないようにインターポーザに接続される。2.5次元実装技術では、少なくとも一部の半導体チップが厚さ方向に重ならないので、上述した3次元実装技術の諸問題を解消し易くなる。
一方で、シリコンウェーハを用いたインターポーザには、高周波領域での損失が大きく、価格も高いという問題があった。そこで、高周波領域での損失低減に有利で低価格なガラス基板をインターポーザに用いる技術が提案されている(例えば、特許文献2参照)。このインターポーザは、例えば、ガラス基板の少なくとも一方の主面に絶縁層と配線層とを含む積層体を形成した上で、予め設定されている分割予定ラインに沿ってガラス基板を分割することで得られる。
特表2003−503855号公報 特開2015−198212号公報
ガラス基板の分割は、通常、回転させた切削ブレードを分割予定ラインに沿って切り込ませる方法で行われる。ところが、この方法で製造されるインターポーザには、耐熱性の点で問題があった。具体的には、例えば、このインターポーザに対して温度サイクル試験(TCT:Temperature Cycling Test)を行うと、ガラス基板にクラックが発生したり、積層体がガラス基板から剥離したりして、不良率が高くなってしまう。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ガラス基板を用いたインターポーザの耐熱性を高めることができるインターポーザの製造方法を提供することである。
本発明の一態様によれば、格子状に設定された複数の分割予定ラインによって複数の領域に区画されるガラス基板と、該ガラス基板の第1面又は該第1面とは反対側の第2面に積層され絶縁層と配線層とを含む積層体と、を備える材料基板から複数のインターポーザを製造するインターポーザの製造方法であって、該分割予定ラインに沿って該積層体の露出した面に第1の切削ブレードを切り込ませ、該ガラス基板に達しない深さの切削溝を該積層体に形成する切削溝形成工程と、該切削溝よりも幅の狭い第2の切削ブレードを該切削溝に沿って該ガラス基板に切り込ませ、該ガラス基板を分割して複数のインターポーザを製造する分割工程と、を含むインターポーザの製造方法が提供される。
本発明の一態様において、前記第2の切削ブレードに含まれる砥粒の粒径は、前記第1の切削ブレードに含まれる砥粒の粒径よりも小さいことが好ましい。
また、本発明の別の一態様によれば、格子状に設定された複数の分割予定ラインによって複数の領域に区画されたガラス基板と、該ガラス基板の第1面又は該第1面とは反対側の第2面に積層され絶縁層と配線層とを含む積層体と、を備える材料基板から複数のインターポーザを製造するインターポーザの製造方法であって、該積層体に対して吸収性を有する波長のレーザービームを該分割予定ラインに沿って該積層体の露出した面に照射し、該ガラス基板に達しない深さのレーザー加工溝を該積層体に形成するレーザー加工溝形成工程と、該レーザー加工溝よりも幅の狭い切削ブレードを該レーザー加工溝に沿って該ガラス基板に切り込ませ、該ガラス基板を分割して複数のインターポーザを製造する分割工程と、を含むインターポーザの製造方法が提供される。
本発明に係るインターポーザの製造方法によれば、分割予定ラインに沿ってガラス基板に達しない深さの溝(切削溝又はレーザー加工溝)を積層体に形成した上で、この溝よりも幅の狭い切削ブレードを溝に沿ってガラス基板に切り込ませるので、製造されるインターポーザの端部には、薄い積層体が残る。
端部の積層体が厚い従来のインターポーザが加熱されると、ガラス基板と積層体との熱膨張係数の違いに起因する大きな力が端部に作用して、積層体はガラス基板から剥がれ易い。これに対し、本発明で製造されるインターポーザでは、端部の積層体が薄くなっているので、従来の方法で製造されるインターポーザに比べて積層体を剥がすような大きな力が端部に作用し難い。
つまり、本発明で製造されるインターポーザが加熱されても、積層体はガラス基板から剥がれ難い。このように、本発明に係るインターポーザの製造方法によれば、ガラス基板を用いたインターポーザの耐熱性を高めることができる。
図1(A)は、本実施形態で使用される材料基板の構成例を模式的に示す斜視図であり、図1(B)は、材料基板の一部(領域A)を拡大した断面図である。 図2(A)及び図2(B)は、切削溝形成工程について説明するための一部断面側面図である。 図3(A)は、切削溝形成工程の後に行われる分割工程について説明するための一部断面側面図であり、図3(B)は、分割工程を経て製造されるインターポーザの構成例を模式的に示す斜視図である。 図4(A)は、レーザー加工溝形成工程について説明するための一部断面側面図であり、図4(B)は、レーザー加工溝形成工程の後に行われる分割工程について説明するための一部断面側面図である。
添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。本実施形態に係るインターポーザの製造方法は、ガラス基板と積層体とを備える材料基板から複数のインターポーザを製造するための方法であって、切削溝形成工程(図2(A)及び図2(B)参照)、及び分割工程(図3(A)参照)を含む。
切削溝形成工程では、ガラス基板に設定された分割予定ラインに沿って積層体の露出した面に切削ブレード(第1の切削ブレード)を切り込ませ、ガラス基板に達しない深さの切削溝を積層体に形成する。分割工程では、切削溝よりも幅の狭い切削ブレード(第2の切削ブレード)を切削溝に沿ってガラス基板に切り込ませ、ガラス基板を分割して複数のインターポーザを製造する。以下、本実施形態に係るインターポーザの製造方法について詳述する。
図1(A)は、本実施形態で使用される材料基板1の構成例を模式的に示す斜視図であり、図1(B)は、材料基板1の一部(領域A)を拡大した断面図である。本実施形態に係る材料基板1は、例えば、ソーダライムガラス、無アルカリガラス、石英ガラス等のガラスでなる円盤状のガラス基板11を用いて構成され、格子状に設定された複数の分割予定ライン(ストリート)13によって複数の領域に区画されている。
ガラス基板11の第1面(表面)11a及び第1面11aとは反対側の第2面(裏面)11bには、それぞれ複数の層(膜)が積層されてなる積層体15が設けられている。この積層体15は、例えば、金属等の導体でなる配線層17と、樹脂等の絶縁体でなる絶縁層19とを含み、隣接する配線層17の間が絶縁層19によって絶縁されている。
また、ガラス基板11には、第1面11aから第2面11bに向かって貫通する貫通孔11cが形成されている。貫通孔11cには、金属等の導体でなる電極21が埋め込まれている。第1面11a側の配線層17と第2面11b側の配線層17とは、この電極21を介して接続される。
なお、本実施形態では、ガラス基板11の第1面11a及び第2面11bの両方に積層体15を有する材料基板1を例示しているが、積層体15は、第1面11a及び第2面11bの一方にのみ設けられても良い。その場合には、貫通孔11cや電極21等も省略できる。また、積層体15(配線層17、絶縁層19)、貫通孔11c、電極21等の構成、形成方法等にも特段の制限はない。
このように構成される材料基板1を分割予定ライン13に沿って分割することで、複数のインターポーザ3(図3(B)参照)を製造できる。本実施形態に係るインターポーザの製造方法では、まず、分割予定ライン13に沿って積層体15の露出した面に第1の切削ブレードを切り込ませ、ガラス基板11に達しない深さの切削溝を積層体に形成する切削溝形成工程を行う。
図2(A)及び図2(B)は、切削溝形成工程について説明するための一部断面側面図である。この切削溝形成工程では、例えば、ダイヤモンド等の砥粒を樹脂や金属等の結合材で固定して所定の幅(水平方向の長さ、厚さ)に形成された環状の切削ブレード(第1の切削ブレード)2が使用される。
切削ブレード2を構成する砥粒や樹脂の材質は、積層体15の材質等に合わせて適切に設定される。切削ブレード2に含まれる砥粒の粒径に特段の制限はないが、例えば、20μm〜40μm程度、好ましくは、25μm〜35μm程度(代表的には、30μm程度)とする。切削ブレード2の幅にも特段の制限はないが、例えば、150μm〜500μm、好ましくは、200μm〜300μm程度とする。
この切削ブレード2は、水平方向に対して概ね平行な回転軸となるスピンドル(不図示)の一端側に装着される。スピンドルの他端側には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、スピンドルに装着された切削ブレード2は、この回転駆動源から伝わる力によって回転する。
切削溝形成工程では、まず、ガラス基板11の第1面11a側が上方を向くように材料基板1を保持する。材料基板1の保持は、例えば、チャックテーブル(不図示)等を用いて行うことができる。次に、材料基板1と切削ブレード2との相対的な位置を調整し、切削ブレード2を、任意の分割予定ライン13の延長線上に合わせる。
また、第1面11a側の積層体15の露出した面15aよりも低く、ガラス基板11の第1面11aよりも高い位置に、切削ブレード2の下端を合わせる。その後、切削ブレード2を回転させて、対象の分割予定ライン13に対して平行な方向に沿って材料基板1と切削ブレード2とを相対的に移動させる。
これにより、図2(A)に示すように、対象の分割予定ライン13に沿って第1面11a側の積層体15の露出した面15aに切削ブレード2を切り込ませ、ガラス基板11に達しない深さの切削溝15bを第1面11a側の積層体15に形成できる。
なお、切削ブレード2の下端の位置は、切削溝15bの底からガラス基板11の第1面11aまでの距離が、例えば、1μm〜30μm程度、好ましくは、2μm〜20μm程度となるように調整される。すなわち、分割予定ライン13に沿って、例えば、1μm〜30μm程度、好ましくは、2μm〜20μm程度の厚さの積層体15を残す。これにより、熱に起因してインターポーザ3の端部に発生する力を適切に緩和して、積層体15の剥離を防止できるようになる。
対象の分割予定ライン13に沿って第1面11a側の積層体15に切削溝15bを形成した後には、上述の動作を繰り返し、全ての分割予定ライン13に沿って第1面11a側の積層体15に切削溝15bを形成する。その後、材料基板1の上下を反転させて、図2(B)に示すように、同様の手順で第2面11b側の積層体15に切削溝15bを形成する。全ての分割予定ライン13に沿って第2面11b側の積層体15に切削溝15bが形成されると、切削溝形成工程は終了する。
なお、本実施形態では、第1面11a側の積層体15に切削溝15bを形成した後、第2面11b側の積層体15に切削溝15bを形成しているが、第2面11b側の積層体15に切削溝15bを形成した後、第1面11a側の積層体15に切削溝15bを形成しても良い。
切削溝形成工程の後には、切削溝15bよりも幅の狭い切削ブレード(第2の切削ブレード)を切削溝15bに沿ってガラス基板11に切り込ませ、ガラス基板11を分割して複数のインターポーザ3を製造する分割工程を行う。図3(A)は、分割工程について説明するための一部断面側面図である。
この分割工程では、ダイヤモンド等の砥粒を樹脂や金属等の結合材で固定して切削溝15bより狭い幅に形成された切削ブレード(第2の切削ブレード)4が使用される。切削ブレード4を構成する砥粒や樹脂の材質は、ガラス基板11の材質等に合わせて適切に設定される。
切削ブレード4に含まれる砥粒の粒径に特段の制限はないが、例えば、5μm〜20μm程度、好ましくは、15μm程度とする。一方で、切削ブレード4の幅は、切削溝15bの幅(すなわち、切削ブレード2の幅)よりも狭くする必要がある。具体的には、例えば、50μm〜150μm程度、好ましくは、75μm〜125μm程度(代表的には、100μm程度)とする。これにより、製造されるインターポーザ3の端部に薄い積層体15を残すことができる。
この切削ブレード4も、水平方向に対して概ね平行な回転軸となるスピンドル(不図示)の一端側に装着される。スピンドルの他端側には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、スピンドルに装着された切削ブレード4は、この回転駆動源から伝わる力によって回転する。
分割工程では、まず、ガラス基板11の第1面11a側が上方を向くように材料基板1を保持する。材料基板1の保持は、例えば、チャックテーブル(不図示)等を用いて行うことができる。次に、材料基板1と切削ブレード4との相対的な位置を調整し、切削ブレード4を、任意の切削溝15b(分割予定ライン13)の延長線上に合わせる。
また、第2面11b側の積層体15に形成された切削溝15bの底よりも低い位置に、切削ブレード4の下端を合わせる。その後、切削ブレード4を回転させて、対象の切削溝15b(分割予定ライン13)に対して平行な方向に沿って材料基板1と切削ブレード4とを相対的に移動させる。
これにより、図3(A)に示すように、対象の切削溝15b(分割予定ライン13)に沿ってガラス基板11に切削ブレード4を切り込ませ、ガラス基板11を分割できる。対象の切削溝15b(分割予定ライン13)に沿ってガラス基板11を分割した後には、上述の動作を繰り返し、全ての切削溝15b(分割予定ライン13)に沿ってガラス基板11を分割する。
全ての切削溝15b(分割予定ライン13)に沿ってガラス基板11が分割され、複数のインターポーザ3が完成すると、分割工程は終了する。なお、本実施形態では、第1面11a側からガラス基板11に切削ブレード4を切り込ませているが、第2面11b側が上方を向くように材料基板1を保持して、第2面11b側からガラス基板11に切削ブレード4を切り込ませても良い。
図3(B)は、本実施形態で製造されるインターポーザ3の構成例を模式的に示す斜視図である。図3(B)に示すように、本実施形態で製造されるインターポーザ3の端部では、他の領域に比べて積層体15が薄くなっている。これにより、ガラス基板11と積層体15との熱膨張係数の違いにより端部に生じる力(例えば、内部応力)を小さく抑えて、積層体15の剥離を防止できる。すなわち、インターポーザ3の耐熱性を高めることができる。
以上のように、本実施形態に係るインターポーザの製造方法によれば、分割予定ライン(ストリート)13に沿ってガラス基板11に達しない深さの切削溝15bを積層体15に形成した上で、この切削溝15bよりも幅の狭い切削ブレード4を切削溝15bに沿ってガラス基板11に切り込ませるので、製造されるインターポーザ3の端部には、薄い積層体が残る。
端部の積層体が厚い従来のインターポーザが加熱されると、ガラス基板と積層体との熱膨張係数の違いに起因する大きな力が端部に作用して、積層体はガラス基板から剥がれ易い。これに対し、本実施形態で製造されるインターポーザ3では、端部の積層体15が薄くなっているので、従来の方法で製造されるインターポーザに比べて積層体15を剥がすような大きな力が端部に作用し難い。
つまり、本実施形態で製造されるインターポーザ3が加熱されても、積層体15はガラス基板11から剥がれ難い。このように、本実施形態に係るインターポーザの製造方法によれば、ガラス基板11を用いたインターポーザ3の耐熱性を高めることができる。
この耐熱性を確認するため、低温処理(−55℃15分)と高温処理(125℃で15分)とをそれぞれ500回繰り返す温度サイクル試験(TCT:Temperature Cycling Test)を行ったところ、本実施形態に係るインターポーザ6では、30個のサンプルの全てで積層体15の剥がれが見られなかった。一方、端部の積層体が厚い従来のインターポーザでは、30個のサンプルの全てで積層体の剥がれが見られた。
なお、本発明は、上記実施形態の記載に制限されず種々変更して実施可能である。例えば、切削溝15bを形成する切削溝形成工程の代わりに、レーザービームでレーザー加工溝を形成するレーザー加工溝形成工程を行っても良い。図4(A)は、レーザー加工溝形成工程について説明するための一部断面側面図である。
このレーザー加工溝形成工程では、例えば、レーザー加工溝の形成に適したレーザービームLを照射するためのレーザー照射ユニット6が使用される。レーザー照射ユニット6は、集光用のレンズ(不図示)を備えており、レーザー発振器(不図示)でパルス発振されたレーザービームLを所定の位置に照射、集光する。レーザー発振器は、積層体15(特に、絶縁層19)に対して吸収性を有する波長(吸収され易い波長)のレーザービームLをパルス発振できるように構成されている。
レーザー加工溝形成工程では、まず、ガラス基板11の第1面11a側が上方を向くように材料基板1を保持する。材料基板1の保持は、例えば、チャックテーブル(不図示)等を用いて行うことができる。次に、材料基板1とレーザー照射ユニット6との相対的な位置を調整し、レーザー照射ユニット6を、任意の分割予定ライン13の延長線上に合わせる。
そして、レーザー照射ユニット6からレーザービームLを照射させながら、対象の分割予定ライン13に対して平行な方向に沿って材料基板1とレーザー照射ユニット6とを相対的に移動させる。これにより、図4(A)に示すように、対象の分割予定ライン13に沿って第1面11a側の積層体15の露出した面15aにレーザービームLを照射し、この第1面11a側の積層体15をアブレーション加工してレーザー加工溝15cを形成できる。
なお、レーザービームLを集光させる集光点の位置、レーザービームLのスポット径、レーザービームLの出力等の条件は、ガラス基板11に達しない深さのレーザー加工溝15cを第1面11a側の積層体15に形成できる範囲内で調整される。具体的には、分割予定ライン13に沿って、例えば、1μm〜30μm程度、好ましくは、2μm〜20μm程度の厚さの積層体15が残る条件でレーザービームLを照射する。これにより、熱に起因する積層体15の剥離を防止できるようになる。
対象の分割予定ライン13に沿って第1面11a側の積層体15にレーザー加工溝15cを形成した後には、上述の動作を繰り返し、全ての分割予定ライン13に沿って第1面11a側の積層体15にレーザー加工溝15cを形成する。その後、材料基板1の上下を反転させて、同様の手順で第2面11b側の積層体15にレーザー加工溝15cを形成する。全ての分割予定ライン13に沿って第2面11b側の積層体15にレーザー加工溝15cが形成されると、レーザー加工溝形成工程は終了する。
なお、ここでは、第1面11a側の積層体15にレーザー加工溝15cを形成した後、第2面11b側の積層体15にレーザー加工溝15cを形成しているが、第2面11b側の積層体15にレーザー加工溝15cを形成した後、第1面11a側の積層体15にレーザー加工溝15cを形成しても良い。
レーザー加工溝形成工程の後には、レーザー加工溝15cよりも幅の狭い切削ブレードをレーザー加工溝15cに沿ってガラス基板11に切り込ませ、ガラス基板11を分割して複数のインターポーザ3を製造する分割工程を行う。図4(B)は、レーザー加工溝形成工程の後に行われる分割工程について説明するための一部断面側面図である。
この分割工程は、上記実施形態の分割工程と同様の手順で行われる。なお、この分割工程では、レーザー加工溝15cより狭い幅に形成された切削ブレード8が使用される。切削ブレード8を構成する砥粒や樹脂の材質は、ガラス基板11の材質等に合わせて適切に設定される。砥粒の粒径や、切削ブレード8の厚さの詳細については、切削ブレード4と同様である。全ての切削溝15b(分割予定ライン13)に沿ってガラス基板11が分割され、複数のインターポーザ3が完成すると、分割工程は終了する。
その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
1 材料基板
3 インターポーザ
11 ガラス基板
11a 第1面(表面)
11b 第2面(裏面)
11c 貫通孔
13 分割予定ライン(ストリート)
15 積層体
15a 露出した面
15b 切削溝
15c レーザー加工溝
17 配線層
19 絶縁層
21 電極
2 切削ブレード(第1の切削ブレード)
4 切削ブレード(第2の切削ブレード)
6 レーザー照射ユニット
8 切削ブレード
L レーザービーム

Claims (3)

  1. 格子状に設定された複数の分割予定ラインによって複数の領域に区画されるガラス基板と、該ガラス基板の第1面又は該第1面とは反対側の第2面に積層され絶縁層と配線層とを含む積層体と、を備える材料基板から複数のインターポーザを製造するインターポーザの製造方法であって、
    該分割予定ラインに沿って該積層体の露出した面に第1の切削ブレードを切り込ませ、該ガラス基板に達しない深さの切削溝を該積層体に形成する切削溝形成工程と、
    該切削溝よりも幅の狭い第2の切削ブレードを該切削溝に沿って該ガラス基板に切り込ませ、該ガラス基板を分割して複数のインターポーザを製造する分割工程と、を含むことを特徴とするインターポーザの製造方法。
  2. 前記第2の切削ブレードに含まれる砥粒の粒径は、前記第1の切削ブレードに含まれる砥粒の粒径よりも小さいことを特徴とする請求項1に記載のインターポーザの製造方法。
  3. 格子状に設定された複数の分割予定ラインによって複数の領域に区画されたガラス基板と、該ガラス基板の第1面又は該第1面とは反対側の第2面に積層され絶縁層と配線層とを含む積層体と、を備える材料基板から複数のインターポーザを製造するインターポーザの製造方法であって、
    該積層体に対して吸収性を有する波長のレーザービームを該分割予定ラインに沿って該積層体の露出した面に照射し、該ガラス基板に達しない深さのレーザー加工溝を該積層体に形成するレーザー加工溝形成工程と、
    該レーザー加工溝よりも幅の狭い切削ブレードを該レーザー加工溝に沿って該ガラス基板に切り込ませ、該ガラス基板を分割して複数のインターポーザを製造する分割工程と、を含むことを特徴とするインターポーザの製造方法。
JP2016242235A 2016-12-14 2016-12-14 インターポーザの製造方法 Active JP6779574B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016242235A JP6779574B2 (ja) 2016-12-14 2016-12-14 インターポーザの製造方法
TW106138541A TWI719266B (zh) 2016-12-14 2017-11-08 中介載板的製造方法
CN201711225182.2A CN108231569B (zh) 2016-12-14 2017-11-29 中介层的制造方法
KR1020170170314A KR102340168B1 (ko) 2016-12-14 2017-12-12 인터포저의 제조 방법
US15/841,032 US10115644B2 (en) 2016-12-14 2017-12-13 Interposer manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016242235A JP6779574B2 (ja) 2016-12-14 2016-12-14 インターポーザの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018098378A true JP2018098378A (ja) 2018-06-21
JP6779574B2 JP6779574B2 (ja) 2020-11-04

Family

ID=62489673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016242235A Active JP6779574B2 (ja) 2016-12-14 2016-12-14 インターポーザの製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10115644B2 (ja)
JP (1) JP6779574B2 (ja)
KR (1) KR102340168B1 (ja)
CN (1) CN108231569B (ja)
TW (1) TWI719266B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020043246A (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 株式会社ディスコ 収容容器の製造方法及び収容方法
JP7395898B2 (ja) 2019-09-18 2023-12-12 大日本印刷株式会社 半導体多面付け基板用部材、半導体多面付け基板、および半導体部材

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10962571B2 (en) * 2017-12-30 2021-03-30 Texas Instruments Incorporated Interposers having cuts through an insulating substrate
DE102019220524A1 (de) * 2019-12-23 2021-06-24 Tesa Se Verfahren zum Schneiden von Polymer-Dünnglas-Laminat
WO2024091582A1 (en) * 2022-10-28 2024-05-02 Applied Materials, Inc. Slitting method and hardware for coated flexible substrates

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006041449A (ja) * 2004-06-22 2006-02-09 Nec Electronics Corp 半導体ウエハおよび半導体装置の製造方法
JP2009076950A (ja) * 2009-01-15 2009-04-09 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2015092525A (ja) * 2013-11-08 2015-05-14 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
JP2015231004A (ja) * 2014-06-06 2015-12-21 日本特殊陶業株式会社 配線基板
JP2017168493A (ja) * 2016-03-14 2017-09-21 凸版印刷株式会社 配線基板、およびその製造方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5162251A (en) * 1991-03-18 1992-11-10 Hughes Danbury Optical Systems, Inc. Method for making thinned charge-coupled devices
US6617681B1 (en) 1999-06-28 2003-09-09 Intel Corporation Interposer and method of making same
JP4571850B2 (ja) * 2004-11-12 2010-10-27 東京応化工業株式会社 レーザーダイシング用保護膜剤及び該保護膜剤を用いたウエーハの加工方法
US7265034B2 (en) 2005-02-18 2007-09-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method of cutting integrated circuit chips from wafer by ablating with laser and cutting with saw blade
JP5352624B2 (ja) 2005-11-10 2013-11-27 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
JP2007173475A (ja) * 2005-12-21 2007-07-05 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの分割方法
JP2007194469A (ja) * 2006-01-20 2007-08-02 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP4193897B2 (ja) * 2006-05-19 2008-12-10 カシオ計算機株式会社 半導体装置およびその製造方法
US8154153B2 (en) * 2007-01-25 2012-04-10 Systems General Corp. Method and apparatus for providing a communication channel through an output cable of a power supply
US8629532B2 (en) 2007-05-08 2014-01-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor wafer with assisting dicing structure and dicing method thereof
JP2011187659A (ja) * 2010-03-08 2011-09-22 Renesas Electronics Corp 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP5608521B2 (ja) * 2010-11-26 2014-10-15 新光電気工業株式会社 半導体ウエハの分割方法と半導体チップ及び半導体装置
US8652941B2 (en) * 2011-12-08 2014-02-18 International Business Machines Corporation Wafer dicing employing edge region underfill removal
JP6170769B2 (ja) * 2013-07-11 2017-07-26 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP6246534B2 (ja) * 2013-09-11 2017-12-13 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
JP2015198212A (ja) 2014-04-03 2015-11-09 凸版印刷株式会社 ガラスインターポーザ
JP2015207604A (ja) * 2014-04-17 2015-11-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2015207580A (ja) * 2014-04-17 2015-11-19 凸版印刷株式会社 配線基板およびその製造方法
JP6282194B2 (ja) * 2014-07-30 2018-02-21 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP6305867B2 (ja) * 2014-08-11 2018-04-04 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
JP6430836B2 (ja) * 2015-01-16 2018-11-28 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
DE102015002542B4 (de) * 2015-02-27 2023-07-20 Disco Corporation Waferteilungsverfahren

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006041449A (ja) * 2004-06-22 2006-02-09 Nec Electronics Corp 半導体ウエハおよび半導体装置の製造方法
JP2009076950A (ja) * 2009-01-15 2009-04-09 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2015092525A (ja) * 2013-11-08 2015-05-14 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
JP2015231004A (ja) * 2014-06-06 2015-12-21 日本特殊陶業株式会社 配線基板
JP2017168493A (ja) * 2016-03-14 2017-09-21 凸版印刷株式会社 配線基板、およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020043246A (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 株式会社ディスコ 収容容器の製造方法及び収容方法
JP7098242B2 (ja) 2018-09-12 2022-07-11 株式会社ディスコ 収容容器の製造方法及び収容方法
JP7395898B2 (ja) 2019-09-18 2023-12-12 大日本印刷株式会社 半導体多面付け基板用部材、半導体多面付け基板、および半導体部材

Also Published As

Publication number Publication date
US10115644B2 (en) 2018-10-30
KR102340168B1 (ko) 2021-12-15
TW201822307A (zh) 2018-06-16
TWI719266B (zh) 2021-02-21
CN108231569B (zh) 2023-01-10
CN108231569A (zh) 2018-06-29
US20180166355A1 (en) 2018-06-14
KR20180068871A (ko) 2018-06-22
JP6779574B2 (ja) 2020-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102340168B1 (ko) 인터포저의 제조 방법
TWI756437B (zh) 玻璃中介層之製造方法
CN105047612B (zh) 晶片的加工方法
JP6391999B2 (ja) 積層デバイスの製造方法
JP3795040B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP6385727B2 (ja) 貼り合わせウェーハ形成方法
JP6341554B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP6808282B2 (ja) インターポーザの製造方法
JP2006261447A (ja) 半導体装置、及び、半導体装置の製造方法
JP6981800B2 (ja) 積層型素子の製造方法
JP2019057579A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP6298720B2 (ja) 積層デバイスの製造方法
KR102596148B1 (ko) 적층형 소자의 제조 방법
US20160050761A1 (en) Substrate structure and method of manuifacturing the same
JP6318016B2 (ja) 積層デバイスの製造方法
TW201921452A (zh) 層積型元件之製造方法
JP7223828B2 (ja) 積層型素子の製造方法
JP7233225B2 (ja) ウェーハの割段方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191018

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200806

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200811

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200925

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201013

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201013

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6779574

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250