JP2017073494A - 積層コイル部品 - Google Patents

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Abstract

【課題】直流重畳特性を向上させつつ、クラックの発生を抑制する積層コイル部品を提供する。
【解決手段】磁性を有する素体と、素体内においてZ方向から見て互いに重なり合っている部分を有するようにZ方向に互いに離間しており且つ互いに電気的に接続されているコイル導体21〜26を含んでいるコイルと、Z方向で互いに隣り合っている各コイル導体21〜26の間において、重なり合っている部分に沿って配置されていると共に、素体よりも低い透磁率を有する低透磁率層31、33他と、を備える。低透磁率層31、33他は、隣り合っている各コイル導体21〜26の間において、コイル導体21〜26に接している接触部31a〜34aと、コイル導体21〜26とZ方向で離れている離間部31b〜34bと、を有し、素体は、離間部31b〜34bとコイル導体21〜26との間に介在している素体領域S1を有している。
【選択図】図4

Description

本発明は、積層コイル部品に関する。
従来、積層コイル部品において、直流重畳特性を向上させることが求められており、このためには積層コイル部品の素体内に非磁性層を設けることが有効とされている。例えば、特許文献1及び2には、磁性体部を含む素体と、素体内において第一方向から見て互いに重なり合っている部分を有するように第一方向に互いに離間して配置された複数の内部導体を含んでいるコイルと、第一方向で互いに隣り合っている各内部導体の間に配置され、その重なり合っている部分に沿っている複数の非磁性層と、を備えた積層コイル部品が記載されている。
特開2008−78229号公報 特開2008−21788号公報
上記特許文献1及び特許文献2に記載された積層コイル部品において、磁性体部、内部導体、及び非磁性層は、互いに焼成時における収縮率及び熱膨張後の収縮率が異なる材料によって形成されている。磁性体部、内部導体、及び非磁性層の境界部分にはこのような収縮率の差等を起因とする内部応力が生じているため、第一方向に沿ったせん断応力が加わると、当該境界部分においてクラックが生じやすいという問題がある。
そこで、本発明は、直流重畳特性を向上させつつ、クラックの発生を抑制することができる積層コイル部品を提供することを目的とする。
本発明に係る積層コイル部品は、磁性を有する素体と、素体内において第一方向から見て互いに重なり合っている部分を有するように第一方向に互いに離間しており且つ互いに電気的に接続されている複数の内部導体を含んでいるコイルと、第一方向で互いに隣り合っている各内部導体の間において、重なり合っている部分に沿って配置されていると共に、素体よりも低い透磁率を有する少なくとも一つの低透磁率層と、を備え、低透磁率層は、隣り合っている各内部導体の間において、内部導体に接している第一部分と、内部導体と第一方向で離れている第二部分と、を有し、素体は、第二部分と内部導体との間に介在している第一素体領域を有している。
本発明に係る積層コイル部品では、低透磁率層が、第一方向で互いに隣り合っている各内部導体の間に配置され、第一方向から見て各内部導体が互いに重なり合っている部分に沿っている。低透磁率層は、素体よりも低い透磁率を有しており、隣り合っている各内部導体の間において、内部導体に接している第一部分を有している。このため、素体内において各内部導体の回りに生じる磁束が、低透磁率層の第一部分によって遮られる。その結果、磁気飽和の発生が抑制され、直流重畳特性を向上することができる。
低透磁率層は、隣り合っている各内部導体の間において、内部導体と第一方向で離れている第二部分を有している。この第二部分と内部導体との間には、第一素体領域が介在している。よって、内部導体及び低透磁率層と素体との境界は、第一方向に沿っておらず、第一方向に交差する面を有している。これにより、内部導体及び低透磁率層と素体との境界は、第一方向に沿ったせん断応力に対する抵抗として作用し、第一方向に沿ったせん断応力を第一方向に交差する方向へ分散する。その結果、第一方向に沿ったせん断応力が生じてもクラックまでの構造欠陥には至り難くすることができる。
本発明に係る積層コイル部品において、低透磁率層の第一方向での厚さは、内部導体の第一方向での厚さよりも小さくてもよい。この場合、同じ素体内において、第一方向で内部導体が占める領域に対し、第一方向で低透磁率層が占める領域を狭くすることができる。すなわち、素体内における内部導体の占める領域を増やして効率良くコイルを形成することができる。
本発明に係る積層コイル部品において、第一方向から見て、低透磁率層は、内部導体よりも内側に位置していてもよい。この場合、第一方向から見て低透磁率層の外側で且つ内部導体の内側には、第一方向で隣り合っている各内部導体の間に低透磁率層を介することなく素体が挟まれている領域が形成されている。この領域は、低透磁率層との境界を有することなく第一方向に連続的に存在している領域なので、第一方向に沿ったせん断応力が生じても当該領域はせん断され難い。このような領域が形成されていることにより、クラックの発生をさらに抑制することができる。
本発明に係る積層コイル部品において、低透磁率層の第二部分側には、素体に含まれている材料が拡散している拡散層が形成されている。この場合、拡散層によって、素体と低透磁率層との境界における材質の変化を緩やかになっており、素体と低透磁率層との接合強度を高めることができる。
本発明に係る積層コイル部品において、低透磁率層は、隣り合っている各内部導体の間において、複数の第二部分を第一方向に並ぶように有し、素体は、第一素体領域と、第一方向に並んでいる各第二部分の間に介在する第二素体領域と、を有していてもよい。この場合、第一素体領域に加え、第一方向に並んでいる各第二部分の間に介在する第二素体領域を有している。よって、一つの低透磁率層と素体との境界そのものも、第一方向に沿っておらず、第一方向に交差している。これにより、一つの低透磁率層と素体との境界そのものも、第一方向に沿ったせん断応力に対する抵抗として作用し、第一方向に沿ったせん断応力を第一方向に交差する方向へ分散する。その結果、第一方向に沿ったせん断応力に対する強度を高めることができ、クラックの発生をより一層抑制することができる。
本発明によれば、直流重畳特性を向上させつつ、クラックの発生を抑制することができる。
本発明の第1実施形態に係る積層コイル部品を示す斜視図である。 図1に示す積層コイル部品の分解斜視図である。 図1のIII-III線に沿った素体の断面図である。 図3の境界領域を拡大して示す断面図である。 図3の境界領域を形成するための積層工程を説明する図である。 図3の境界領域を形成するための積層工程を説明する図である。 図3の境界領域を形成するための積層工程を説明する図である。 図3の境界領域を形成するための積層工程を説明する図である。 第2実施形態に係る積層コイル部品の境界領域を拡大して示す断面図である。 第3実施形態に係る積層コイル部品の境界領域を拡大して示す断面図である。 第4実施形態に係る積層コイル部品の境界領域を拡大して示す断面図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には、同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。
(第1実施形態)
図1〜図3を参照して、本発明の第1実施形態に係る積層コイル部品の全体的な構成を説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係る積層コイル部品を示す斜視図である。図2は、図1に示す積層コイル部品の分解斜視図である。図3は、図1のIII-III線に沿った素体の断面図である。図4は、図3の境界領域を拡大して示す断面図である。図2の分解斜視図では、素体に含まれる磁性体部、及び素体の両端部に配置された外部電極の図示を省略している。図3の断面図では、素体の両端部に配置された外部電極の図示を省略している。
図1に示されるように、積層コイル部品1は、素体2と、素体2の両端部にそれぞれ配置された一対の外部電極4,5と、を備えている。
素体2は、直方体形状を呈している。素体2は、その外表面として、互いに対向する一対の端面2a,2bと、一対の端面2a,2bを連結するように一対の端面2a,2bの対向方向に延びる四つの側面2c,2d,2e,2fと、を有している。側面2dは、例えば積層コイル部品1を図示しない他の電子機器(例えば、回路基板、又は、電子部品等)に実装する際、他の電子機器と対向する面として規定される。
端面2aと端面2bとの対向方向(図中のX方向)と、側面2cと側面2dとの対向方向(図中のZ方向)と、側面2eと側面2fとの対向方向(図中のY方向)とは、互いに略直交している。直方体形状には、角部及び稜線部が面取りされている直方体の形状、及び、角部及び稜線部が丸められている直方体の形状が含まれる。
素体2は、複数の磁性体層が積層されることによって構成されており、磁性体部11(図3参照)を含んでいる。複数の磁性体層は、素体2の側面2cと側面2dとの対向方向に積層されている。すなわち、複数の磁性体層の積層方向は、素体2の側面2cと側面2dとの対向方向(図示のZ方向)と一致している。以下、複数の磁性体の積層方向(すなわち、側面2cと側面2dとの対向方向)を「Z方向」ともいう。複数の磁性体層は、それぞれ略矩形形状を呈している。実際の素体2では、複数の磁性体層は、その層間の境界が視認できない程度に一体化されている。
磁性体部11は、例えば磁性体材料(Ni−Cu−Zn系フェライト材料、Ni−Cu−Zn−Mg系フェライト材料、又はNi−Cu系フェライト材料等)の粉末を含む磁性ペーストの焼結体から構成されている。すなわち、素体2は、磁性を有している。磁性ペーストには、Fe合金等の粉末が含まれていてもよい。
外部電極4は、素体2の端面2aに配置されており、外部電極5は、素体2の端面2bに配置されている。すなわち、外部電極4と外部電極5とは、端面2aと端面2bとの対向方向に互いに離間して位置している。外部電極4,5は、平面視で略矩形形状を呈しており、その角が丸められている。外部電極4,5は、導電材(例えば、Ag又はPd等)を含んでいる。外部電極4,5は、導電性金属粉末(例えば、Ag粉末又はPd粉末等)及びガラスフリットを含む導電性ペーストの焼結体として構成される。外部電極4,5には、電気めっきが施されることにより、その表面にはめっき層が形成されている。電気めっきには、例えばNi、Sn等が用いられる。
外部電極4は、端面2a上に位置する電極部分4aと、側面2d上に位置する電極部分4bと、側面2c上に位置する電極部分4cと、側面2e上に位置する電極部分4dと、側面2f上に位置する電極部分4eと、の5つの電極部分を含んでいる。電極部分4aは、端面2aの全面を覆っている。電極部分4bは、側面2dの一部を覆っている。電極部分4cは、側面2cの一部を覆っている。電極部分4dは、側面2eの一部を覆っている。電極部分4eは、側面2fの一部を覆っている。5つの電極部分4a,4b,4c,4d,4eは、一体的に形成されている。
外部電極5は、端面2b上に位置する電極部分5aと、側面2d上に位置する電極部分5bと、側面2c上に位置する電極部分5cと、側面2e上に位置する電極部分5dと、側面2f上に位置する電極部分5eと、の5つの電極部分を含んでいる。電極部分5aは、端面2bの全面を覆っている。電極部分5bは、側面2dの一部を覆っている。電極部分5cは、側面2cの一部を覆っている。電極部分5dは、側面2eの一部を覆っている。電極部分5eは、側面2fの一部を覆っている。5つの電極部分5a,5b,5c,5d,5eは、一体的に形成されている。
図2〜図4に示されるように、積層コイル部品1は、複数のコイル導体21,22,23,24,25、26(複数の内部導体)と、引出導体13,14と、一つの磁気ギャップ層30と、複数の低透磁率層31,32,33,34と、を素体2内に備えている。図2において、磁気ギャップ層30及び各低透磁率層31〜34を一点鎖線で示している。
コイル導体21〜26は、Z方向(第一方向)から見て互いに重なり合っている部分を有するようにZ方向に互いに離間している。コイル導体21,23,25,26の一端部側と他端部側とが、X方向で互いに離間している。コイル導体22,24の一端部側と他端部側とが、Y方向で互いに離間している。Z方向で互いに隣り合っているコイル導体21〜26は、Z方向から見て、互いに重なり合っている部分と、互いに重なり合っていない部分とを有している。コイル導体21〜26の端部同士は、その端部同士の間に位置しているスルーホール導体17により互いに接続されている。
コイル導体21の端部21bとコイル導体22の端部22aとは、スルーホール導体17により接続されている。コイル導体22の端部22bとコイル導体23の端部23aとは、スルーホール導体17により接続されている。コイル導体23の端部23bとコイル導体24の端部24aとは、スルーホール導体17より接続されている。コイル導体24の端部24bとコイル導体25の端部25aとは、スルーホール導体17により接続されている。コイル導体25の端部25bとコイル導体26の端部26aとは、スルーホール導体17により接続されている。
コイル導体21〜26がスルーホール導体17を介して互いに接続されていることにより、素体2内に、コイル20が構成されている。すなわち、積層コイル部品1は、素体2内に、コイル20を備えている。コイル20は、Z方向に互いに離間しており且つ互いに電気的に接続されている複数のコイル導体21〜26を含んでいる。コイル20の軸心は、Z方向に沿って伸びている。コイル導体21の端部21aは、コイル20の一方の端部E1に対応し、コイル導体26の端部26bは、コイル20の他方の端部E2に対応する。
コイル導体21は、複数のコイル導体21〜26のうち、積層方向で素体2の側面2cに最も近い位置に配置されている。本実施形態において、コイル導体21の導体パターンと引出導体13の導体パターンとは一体に連続して形成されている。引出導体13は、コイル導体21の端部21aと外部電極4との間を連結しており、素体2の端面2aに露出している。これにより、引出導体13は、端面2aを覆う外部電極4の電極部分4aと接続されている。すなわち、コイル20の一方の端部E1と外部電極4とは、引出導体13を介して電気的に接続されている。
コイル導体26は、複数のコイル導体21〜26のうち、積層方向で素体2の側面2dに最も近い位置に配置されている。本実施形態において、コイル導体26の導体パターンと引出導体14の導体パターンとは一体に連続して形成されている。引出導体14は、コイル導体26の端部26bと外部電極5との間を連結しており、素体2の端面2bに露出している。これにより、引出導体14は、端面2bを覆う外部電極5の電極部分5aと接続されている。すなわち、コイル20の他方の端部E2と外部電極5とは、引出導体14を介して電気的に接続されている。
コイル導体21〜26、引出導体13,14、及びスルーホール導体17は、例えば導電性材料(例えば、Ag又はPd等)を含んでいる。コイル導体21〜26、引出導体13,14、及びスルーホール導体17は、導電性金属粉末(例えば、Ag粉末又はPd粉末等)を含む導電性ペーストの焼結体として構成されている。
磁気ギャップ層30は、コイル導体23とコイル導体24との間に配置されている。磁気ギャップ層30は、Z方向から見て略矩形状を有している。磁気ギャップ層30は、Z方向に沿った積層面、すなわち素体2におけるコイル20の軸心方向に交わる断面(X方向及びY方向に延在する面)の全体を覆うように延在している。磁気ギャップ層30は、コイル導体23とコイル導体24との間を接続しているスルーホール導体17が通る貫通孔が形成されている。
低透磁率層31〜34は、Z方向で互いに隣り合っている各コイル導体21〜26の間に配置されている。低透磁率層31〜34は、Z方向から見て、Z方向で互いに隣り合っている各コイル導体21〜26が互いに重なり合っている部分に沿っている。低透磁率層31〜34は、例えば枠状を呈している。
低透磁率層31は、コイル導体21とコイル導体22との間に配置されている。低透磁率層31は、Z方向から見て、コイル導体21におけるコイル導体22と重なり合っている重なり部分と、コイル導体22におけるコイル導体21と重なり合っている重なり部分とに接するように形成されている。すなわち、低透磁率層31は、コイル導体21の上記重なり部分とコイル導体22の上記重なり部分とに沿っている。低透磁率層31は、Z方向から見て、コイル導体21におけるコイル導体22と重なっていない非重なり部分と、コイル導体22におけるコイル導体21と重なっていない非重なり部分とにも延びている。すなわち、低透磁率層31は、コイル導体21の一端部側と他端部側とがX方向で互いに離間している離間領域、及び、コイル導体22の一端部側と他端部側とがY方向で互いに離間している離間領域にも重なるように形成されている。低透磁率層31は、コイル導体21,22に接している接触部31a(第一部分)と、コイル導体21,22とZ方向で離れている離間部31b(第二部分)と、を有している(図4参照)。
低透磁率層32は、コイル導体22とコイル導体23との間に配置されている。低透磁率層32は、Z方向から見て、コイル導体22におけるコイル導体23と重なり合っている重なり部分と、コイル導体23におけるコイル導体22と重なり合っている重なり部分とに接するように形成されている。すなわち、低透磁率層32は、コイル導体22の上記重なり部分とコイル導体23の上記重なり部分とに沿っている。低透磁率層32は、Z方向から見て、コイル導体22におけるコイル導体23と重なっていない非重なり部分と、コイル導体23におけるコイル導体22と重なっていない非重なり部分とにも延びている。すなわち、低透磁率層32は、Z方向から見て、コイル導体22の一端部側と他端部側とがY方向で互いに離間している離間領域、及び、コイル導体23の一端部側と他端部側とがX方向で互いに離間している離間領域にも重なるように形成されている。低透磁率層32は、コイル導体22,23に接している接触部32a(第一部分)と、コイル導体22,23とZ方向で離れている離間部32b(第二部分)と、を有している(図4参照)。
低透磁率層33は、コイル導体24とコイル導体25との間に配置されている。低透磁率層33は、Z方向から見て、コイル導体24におけるコイル導体25と重なり合っている重なり部分と、コイル導体25におけるコイル導体24と重なり合っている重なり部分とに接するように形成されている。すなわち、低透磁率層33は、コイル導体24の上記重なり部分とコイル導体25の上記重なり部分とに沿っている。低透磁率層33は、Z方向から見て、コイル導体24におけるコイル導体25と重なっていない非重なり部分と、コイル導体25におけるコイル導体24と重なっていない非重なり部分とにも延びている。すなわち、低透磁率層33は、Z方向から見て、コイル導体24の一端部側と他端部側とがY方向で互いに離間している離間領域、及び、コイル導体25の一端部側と他端部側とがZ方向で互いに離間している離間領域にも重なるように形成されている。低透磁率層33は、コイル導体24,25に接している接触部33a(第一部分)と、コイル導体24,25とZ方向で離れている離間部33b(第二部分)と、を有している(図4参照)。
低透磁率層34は、コイル導体25とコイル導体26との間に配置されている。低透磁率層34は、Z方向から見て、コイル導体25におけるコイル導体26と重なり合っている重なり部分と、コイル導体26におけるコイル導体25と重なり合っている重なり部分とに接するように形成されている。すなわち、低透磁率層34は、コイル導体25の上記重なり部分とコイル導体26の上記重なり部分とに沿っている。低透磁率層34は、Z方向から見て、コイル導体25におけるコイル導体26と重なっていない非重なり部分と、コイル導体26におけるコイル導体25と重なっていない非重なり部分とにも延びている。すなわち、低透磁率層34は、Z方向から見て、コイル導体25の一端部側と他端部側とがX方向で互いに離間している離間領域、及び、コイル導体26の一端部側と他端部側とがX方向で互いに離間している離間領域にも重なるように形成されている。低透磁率層34は、コイル導体25,26に接している接触部34a(第一部分)と、コイル導体25,26とZ方向で離れている離間部34b(第二部分)と、を有している(図4参照)。
磁気ギャップ層30、及び、低透磁率層31〜34は、素体2よりも低い透磁率を有する。磁気ギャップ層30、及び、低透磁率層31〜34は、例えば磁性体部11よりも低い透磁率を有する弱磁性材料、又は磁性を有していない非磁性体材料を含んでいる。本実施形態において、磁気ギャップ層30、及び、低透磁率層31〜34は、非磁性であって、非磁性体材料(Cu−Zn系フェライト材料等)の粉末を含む非磁性ペーストの焼結体から構成されている。
磁気ギャップ層30は、非磁性であるため、コイル20の全体の回りに生じる磁束を遮る。これにより、コイル20の全体の回りにおける磁気飽和の発生が抑制される。各低透磁率層31〜34は、非磁性であり、各コイル導体21〜26に接している接触部31a〜34aを有しているため、各コイル導体21〜26の回りに生じる磁束を遮る。これにより、各コイル導体21〜26の回りへ磁束が流れ込み難くなり、各コイル導体21〜26の回りにおける局所的な磁気飽和の発生が抑制される。その結果、積層コイル部品1における磁気飽和の発生が抑制され、直流重畳特性を向上することができる。
図3に示されるように、複数のコイル導体21〜26は、いずれもZ方向で略同じ厚さTaを有している。複数の低透磁率層31〜34は、いずれもZ方向で略同じ厚さTbを有している。低透磁率層31〜34のZ方向での厚さTbは、コイル導体21〜26のZ方向での厚さTaよりも小さい。
素体2のY方向及びZ方向に沿った断面において、コイル導体21〜26のY方向での幅Waと、低透磁率層31〜34のY方向での幅Wbとは略等しい。低透磁率層31〜34のY方向での幅Wbは、コイル導体21〜26の回りの磁束を遮ることができる程度の幅であれば、これに限られない。低透磁率層31〜34は、Z方向から見て、コイル導体21〜26からはみ出さないように形成されていてもよく、コイル導体21〜26からはみ出すように形成されていてもよい。
素体2は、素体領域S1(第一素体領域)を有している(図4参照)。素体領域S1は、低透磁率層31〜34の各離間部31b〜34bと、各離間部31b〜34bを間に介してZ方向で隣り合っている各コイル導体21〜26との間に介在している。すなわち、素体領域S1は、離間部31bとコイル導体21との間、離間部31bとコイル導体22との間、離間部32bとコイル導体22との間、離間部32bとコイル導体23との間、離間部33bとコイル導体24との間、離間部33bとコイル導体25との間、離間部34bとコイル導体25との間、及び、離間部34bとコイル導体26との間に形成されている。
磁性体部11は、コイル導体21〜26に対する境界面11aと、低透磁率層31〜34に対する境界面11bと、を複数ずつ含んでいる。素体2には、境界面11aと境界面11bとが、Z方向で交互に並んでいる境界領域R1,R2が形成されている。
境界領域R1は、Z方向で磁気ギャップ層30よりも素体2の側面2c側に位置している。境界領域R1は、低透磁率層31,32の離間部31b,32bを含んだ領域である。境界領域R1は、コイル導体21〜23に対する磁性体部11の各境界面11aと、低透磁率層31,32に対する磁性体部11の各境界面11bとを含んでいる。境界領域R1には、境界面11aと境界面11bとが交互に並んでいることによって、コイル導体21〜23及び低透磁率層31,32と素体2との境界B1(図4参照)が形成されている。すなわち、境界領域R1は、境界B1を含んでいる。
境界領域R2は、Z方向で磁気ギャップ層30よりも素体2の側面2d側に位置している。境界領域R2は、低透磁率層33,34の離間部33b,34bを含んだ領域である。境界領域R2は、コイル導体24〜26に対する磁性体部11の各境界面11aと、低透磁率層33,34に対する磁性体部11の各境界面11bとを含んでいる。境界領域R2には、境界面11aと境界面11bとが交互に並んでいることによって、コイル導体24〜26及び低透磁率層33,34と素体2との境界B2(図4参照)が形成されている。すなわち、境界領域R2は、境界B2を含んでいる。
境界領域R1,R2においては、Z方向で、交互に並んでいる各コイル導体21〜26と各低透磁率層31〜34との間に素体領域S1が存在している。境界領域R1では、Z方向で、コイル導体21と低透磁率層31との間に素体領域S1が介在していると共に、コイル導体22と低透磁率層32との間に素体領域S1が介在している。境界領域R1では、Z方向に沿った仮想軸線D(図4参照)上において、コイル導体21、素体領域S1、低透磁率層31、素体領域S1、コイル導体22、素体領域S1、低透磁率層32、素体領域S1、及びコイル導体23の順に並んでいる。これにより、境界領域R1では、Y方向及びZ方向に沿った仮想断面で見た場合に、Z方向に交差する鋸歯状に見えるように、境界面11aと境界面11bとが並んでいる。換言すれば、コイル導体21〜23及び低透磁率層31,32と素体2との境界B1(図4参照)が、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差する面を有している。
境界領域R2では、Z方向で、コイル導体24とコイル導体25との間に素体領域S1が介在していると共に、コイル導体25とコイル導体26との間に素体領域S1が介在している。これにより、境界領域R2では、Z方向に沿った仮想軸線D(図4参照)上において、コイル導体24、素体領域S1、低透磁率層33、素体領域S1、コイル導体25、素体領域S1、低透磁率層34、素体領域S1、及びコイル導体26の順に並んでいる。これにより、境界領域R2では、Y方向及びZ方向に沿った仮想断面で見た場合に、Z方向に交差する鋸歯状に見えるように、境界面11aと境界面11bとが並んでいる。換言すれば、コイル導体24〜26及び低透磁率層33,34と素体2との境界B2(図4参照)が、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差する面を有している。
次に、積層コイル部品1の製造方法について説明する。積層コイル部品1は、例えば次のようにして製造されている。まず、磁性体部11を構成することとなる磁性ペーストパターンと、コイル導体21〜26、引出導体13,14、及びスルーホール導体17を構成することとなる導電性ペーストパターンと、磁気ギャップ層30及び低透磁率層31〜34を構成することとなる非磁性ペーストパターンと、を印刷法等によって順次積層することにより、積層体を得る。
磁性ペーストパターンは、磁性ペーストを塗布して乾燥させることによって形成される。磁性ペーストは、上記の磁性体材料の粉末と有機溶剤及び有機バインダ等とを混合して作製される。導電性ペーストパターンは、導電性ペーストを塗布して乾燥させることによって形成される。導電性ペーストは、上記の導電性金属粉末と有機溶剤及び有機バインダ等とを混合して作製される。非磁性ペーストパターンは、非磁性ペーストを塗布して乾燥させることによって形成される。非磁性ペーストは、上記の非磁性材料又は弱磁性材料等の粉末と有機溶剤及び有機バインダ等とを混合して作製される。なお、境界領域R1,R2を形成するための磁性ペーストパターン、導電性ペーストパターン、及び非磁性ペーストパターンの積層工程の詳細については、後述する。
続いて、この積層体を個々の積層コイル部品1の大きさになるように切断する。これにより、グリーンチップが得られる。続いて、得られたグリーンチップのバレル研磨を行う。これにより、角部又は稜線が丸められたグリーンチップが得られる。続いて、バレル研磨されたグリーンチップを所定の条件で焼成する。これにより、磁性ペーストパターンの焼結体として磁性体部11が構成され、グリーンチップは、素体2となる。導電性ペーストパターンの焼結体として、コイル導体21〜26、引出導体13,14、及びスルーホール導体17が構成される。非磁性ペーストパターンの焼結体として、磁気ギャップ層30及び低透磁率層31〜34が構成される。すなわち、素体2内に、コイル導体21〜26、スルーホール導体17、磁気ギャップ層30、及び低透磁率層31〜34が備えられた中間体が得られる。
続いて、素体2の外表面に外部電極4,5用の導電性ペーストを塗布し、所定条件にて熱処理を行い、外部電極4,5を焼付形成する。その後、外部電極4,5の表面にめっきを施す。以上のようにして、積層コイル部品1が得られる。
以下、図5〜図8を参照して、境界領域R1を形成するための磁性ペーストパターン、導電性ペーストパターン、及び非磁性ペーストパターンの積層工程について詳細に説明する。なお、境界領域R2を形成するための積層工程は、境界領域R1と同様であるため、その説明を省略する。また、図5〜図8では、磁性体部11を構成するための磁性グリーンシートGの一部のみを示している。
図5〜図8は、境界領域R1を形成するための積層工程を説明するための工程図である。まず、図5の(a)に示されるように、磁性ペーストをシート状に印刷して形成された磁性グリーンシートGの表面に、磁性ペーストを印刷する。この際、所定の余白領域(すなわち、磁性ペーストが印刷されていない領域)が形成されるように磁性ペーストを塗布する。この所定の余白領域の形状は、コイル導体21を構成することとなる導電性ペーストパターンL1(図5の(b)参照)の形状に対応している。これにより、磁性体部11を構成することとなる磁性ペーストパターンM1と、磁性ペーストパターンM1の間における所定の余白領域とが形成される。
続いて、図5の(b)に示されるように、磁性ペーストパターンM1の間における余白領域に、導電性ペーストを充填して印刷する。これにより、コイル導体21を構成することとなる導電性ペーストパターンL1が形成される。導電性ペーストパターンL1は、磁性グリーンシートGの表面上に位置している中央部L1aと、磁性ペーストパターンM1の表面上に位置している境界部L1bとを有している。磁性ペーストパターンM1の表面と導電性ペーストパターンL1の表面とは平坦となっておらず、磁性ペーストパターンM1に比べて導電性ペーストパターンL1が積層方向に盛り上がっている。
続いて、図6の(a)に示されるように、磁性ペーストパターンM1の表面上に、磁性ペーストを印刷する。この際、所定の余白領域が形成されるように磁性ペーストを印刷する。この所定の余白領域の形状は、低透磁率層31を構成することとなる非磁性ペーストパターンN1(図6の(b)参照)の形状に対応している。これにより、磁性体部11を構成することとなる磁性ペーストパターンM2と、磁性ペーストパターンM2の間における所定の余白領域とが形成される。この所定の余白領域は、導電性ペーストパターンL1の中央部L1a上に位置している。磁性ペーストパターンM1と磁性ペーストパターンM2との間には、導電性ペーストパターンL1の境界部L1bが介在している。
続いて、図6の(b)に示されるように、磁性ペーストパターンM2の間における余白領域に、非磁性ペーストを充填して印刷する。これにより、低透磁率層31を構成することとなる非磁性ペーストパターンN1が形成される。非磁性ペーストパターンN1は、導電性ペーストパターンL1の表面上に位置している中央部N1aと、磁性ペーストパターンM2の表面上に位置している境界部N1bとを有している。磁性ペーストパターンM2の表面と非磁性ペーストパターンN1の表面とは略平坦となっている。
続いて、図7の(a)に示されるように、磁性ペーストパターンM2の表面上に、磁性ペーストを印刷する。この際、所定の余白領域が形成されるように磁性ペーストを印刷する。この所定の余白領域の形状は、コイル導体22を構成することとなる導電性ペーストパターンL2(図7の(b)参照)の形状に対応している。これにより、磁性体部11を構成することとなる磁性ペーストパターンM3と、磁性ペーストパターンM3の間における所定の余白領域とが形成される。この所定の余白領域は、非磁性ペーストパターンN1の中央部N1a上に位置している。磁性ペーストパターンM2と磁性ペーストパターンM3との間には、非磁性ペーストパターンN1の境界部N1bが介在している。
続いて、図7の(b)に示されるように、磁性ペーストパターンM3の間における余白領域に、導電性ペーストを充填して印刷する。これにより、コイル導体22を構成することとなる導電性ペーストパターンL2が形成される。導電性ペーストパターンL2は、非磁性ペーストパターンN1の表面上に位置している中央部L2aと、磁性ペーストパターンM3の表面上に位置している境界部L2bとを有している。磁性ペーストパターンM3の表面と導電性ペーストパターンL2の表面とは平坦となっておらず、磁性ペーストパターンM3に比べて導電性ペーストパターンL2が積層方向に盛り上がっている。
続いて、図8の(a)に示されるように、磁性ペーストパターンM3の表面上に、磁性ペーストパターンM4を印刷する。この際、所定の余白領域が形成されるように磁性ペーストを印刷する。この所定の余白領域の形状は、低透磁率層32を構成することとなる非磁性ペーストパターンN2(図8の(b)参照)の形状に対応している。これにより、磁性体部11を構成することとなる磁性ペーストパターンM4と、磁性ペーストパターンM4の間における所定の余白領域とが形成される。この所定の余白領域は、導電性ペーストパターンL2の中央部L2a上に位置している。磁性ペーストパターンM3と磁性ペーストパターンM4との間には、導電性ペーストパターンL2の境界部L2bが介在している。
続いて、図8の(b)に示されるように、磁性ペーストパターンM4の間における余白領域に、非磁性ペーストを充填して印刷する。これにより、低透磁率層32を構成することとなる非磁性ペーストパターンN2が形成される。非磁性ペーストパターンN2は、導電性ペーストパターンL2の表面上に位置している中央部N2aと、磁性ペーストパターンM4の表面上に位置している境界部N2bとを有している。磁性ペーストパターンM4の表面と非磁性ペーストパターンN2の表面とは略平坦となっている。
そして、再び図7と同様の処理を繰り返す。すなわち、磁性ペーストパターンM4の表面上に、磁性体部11を構成するための磁性ペーストを所定の余白領域が形成されるように印刷すると共に、形成された余白領域にコイル導体23を構成するための導電性ペーストを充填して印刷する。以上のようにして、境界領域R1に対応する部分、すなわち積層後の焼成によって境界領域R1を構成することとなる部分が形成される。境界領域R2に対応する部分、すなわち積層後の焼成によって境界領域R2を構成することとなる部分についても、境界領域R1に対応する部分と同様の積層工程である。
以上、本実施形態に係る積層コイル部品1によれば、低透磁率層31〜34が、Z方向で互いに隣り合っている各コイル導体21〜26の間に配置されている。低透磁率層31〜34は、素体2よりも低い透磁率を有しており、隣り合っている各コイル導体21〜26の間において、コイル導体21〜26に接している接触部31a〜34aを有している。このため、素体2内において各コイル導体21〜26の回りに生じる磁束が、接触部31a〜34aによって遮られる。その結果、磁気飽和の発生が抑制され、直流重畳特性を向上することができる。
低透磁率層31〜34は、隣り合っている各コイル導体21〜26の間において、コイル導体21〜26とZ方向で離れている離間部31b〜34bを有している。この離間部31b〜34bとコイル導体21〜26との間には、素体領域S1が介在している。よって、コイル導体21〜26及び低透磁率層31〜34と素体2との境界B1,B2は、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差する面を有している。これにより、コイル導体21〜26及び低透磁率層31〜34と素体2との境界B1,B2は、Z方向に沿ったせん断応力に対する抵抗として作用し、Z方向に沿ったせん断応力をZ方向に交差する方向へ分散する。その結果、Z方向に沿ったせん断応力が生じてもクラックまでの構造欠陥には至り難くすることができる。以上より、直流重畳特性を向上させつつ、クラックの発生を抑制することができる。
本実施形態に係る積層コイル部品1によれば、低透磁率層31〜34のZ方向での厚さTbは、コイル導体21〜26のZ方向での厚さTaよりも小さい。これにより、同じ素体2内において、Z方向でコイル導体21〜26が占める領域に対し、Z方向で低透磁率層31〜34が占める領域を狭くすることができる。すなわち、素体2内におけるコイル導体21〜26の占める領域を増やして効率良くコイル20を形成することができる。
(第2実施形態)
次に、図9を参照して、第2実施形態に係る積層コイル部品について説明する。図9は、第2実施形態に係る積層コイル部品の境界領域R1,R2を拡大して示す断面図である。図9は、図4に対応している。
第2実施形態に係る積層コイル部品は、図示を省略するが、第1実施形態に係る積層コイル部品1と同様、素体2と、素体2の両端部にそれぞれ配置された一対の外部電極4,5(図1参照)と、複数のコイル導体21〜26(図2及び図3参照)と、複数の引出導体13,14(図2及び図3参照)と、一つの磁気ギャップ層30(図2及び図3参照)と、複数の低透磁率層31〜34と、を備えている。
第1実施形態同様、低透磁率層31〜34は、接触部31a〜34a及び離間部31b〜34bを有し、素体2は、素体領域S1を複数有している(図4参照)。境界領域R1,R2においては、Z方向から見て、低透磁率層31〜34とコイル導体21〜26との間に素体領域S1が存在している。これにより、境界領域R1,R2では、Y方向及びZ方向に沿った仮想断面で見た場合に、Z方向に交差する鋸歯状に見えるように、境界面11aと境界面11bとが並んでいる。換言すれば、境界B1,B2が、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差する面を有している。
図9に示されるように、第2実施形態に係る積層コイル部品が上記の積層コイル部品1と異なる点は、Z方向から見て、低透磁率層32〜34が、コイル導体21〜26よりも内側に位置している点である。コイル導体21〜26の一方側の側端部21c,22c,23c,24c,25c,26cよりも、低透磁率層31〜34の一方側の側端部31c,32c,33c,34cの方が、素体2内のY方向で内側に位置している。これに加え、コイル導体21〜26の他方側の側端部21d,22d,23d,24d,25d,26dよりも、低透磁率層31〜34の他方側の側端部31d,32d,33d,34dの方が、素体2内のY方向で内側に位置している。
よって、Y方向及びZ方向に沿った断面において、コイル導体21〜26のY方向での幅Waよりも、低透磁率層31〜34のY方向での幅Wbの方が小さい。低透磁率層31〜34のY方向での幅Wbは、コイル導体21〜26の回りの磁束を遮ることができる程度の幅となっている。このように幅Waよりも幅Wbの方が小さいことから、Z方向から見て低透磁率層31〜34の外側で且つコイル導体21〜26導体の内側には、Z方向で隣り合っている各コイル導体21〜26間に低透磁率層31〜34を介することなく磁性体部11が挟まれている領域Lcが形成されている。この領域Lcは、同じ熱収縮率の材料で構成された磁性体部が連続的に存在している。
本実施形態に係る積層コイル部品においても、素体2内において各コイル導体21〜26の回りに生じる磁束が、接触部31a〜34aによって遮られる。その結果、磁気飽和の発生が抑制され、直流重畳特性を向上することができる。そして、コイル導体21〜26及び低透磁率層31〜34と素体2との境界B1,B2は、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差する面を有している。これにより、境界B1,B2は、Z方向に沿ったせん断応力に対する抵抗として作用し、Z方向に沿ったせん断応力をZ方向に交差する方向へ分散する。その結果、Z方向に沿ったせん断応力が生じてもクラックまでの構造欠陥には至り難くすることができる。以上より、直流重畳特性を向上させつつ、クラックの発生を抑制することができる。
本実施形態に係る積層コイル部品によれば、Z方向から見て低透磁率層31〜34の外側で且つコイル導体21〜26の内側には、領域Lcが形成されている。この領域Lcは、低透磁率層31〜34との境界を有することなくZ方向に連続的に存在している領域なので、Z方向に沿ったせん断応力が生じても当該領域Lcはせん断され難い。このような領域Lcが形成されていることにより、クラックの発生をさらに抑制することができる。
(第3実施形態)
次に、図10を参照して、第3実施形態に係る積層コイル部品について説明する。図10は、第3実施形態に係る積層コイル部品の境界領域R1,R2を拡大して示す断面図である。図10は、図4に対応している。
第3実施形態に係る積層コイル部品は、図示を省略するが、第1実施形態に係る積層コイル部品1と同様、素体2と、素体2の両端部にそれぞれ配置された一対の外部電極4,5(図1参照)と、複数のコイル導体21〜26(図2及び図3参照)と、複数の引出導体13,14(図2及び図3参照)と、一つの磁気ギャップ層30(図2及び図3参照)と、複数の低透磁率層31〜34と、を備えている。
第1実施形態同様、低透磁率層31〜34は、接触部31a〜34a及び離間部31b〜34bを有し、素体2は、素体領域S1を複数有している(図4参照)。境界領域R1,R2においては、Z方向から見て、低透磁率層31〜34とコイル導体21〜26との間に素体領域S1が存在している。これにより、境界領域R1,R2では、Y方向及びZ方向に沿った仮想断面で見た場合に、Z方向に交差する鋸歯状に見えるように、境界面11aと境界面11bとが並んでいる。換言すれば、境界B1,B2が、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差する面を有している。
図10に示されるように、第3実施形態に係る積層コイル部品が上記の積層コイル部品1と異なる点は、磁気ギャップ層30及び低透磁率層32〜34のそれぞれに拡散層40,41が形成されている点である。拡散層40,41は、素体2に含まれている磁性体材料の一部であるNiが拡散している領域である。これにより、拡散層40,41は、素体2よりも高い透磁率を有している。拡散層40は、磁気ギャップ層30と素体2との境界面の全体に形成されている。拡散層41は、低透磁率層31〜34の離間部31b〜34b側に形成されている。
以上、本実施形態に係る積層コイル部品においても、上記実施形態同様、直流重畳特性を向上させつつ、クラックの発生を抑制することができる。
本実施形態に係る積層コイル部品によれば、低透磁率層31〜34の離間部31b〜34b側に形成されている拡散層41によって、素体2と低透磁率層31〜34との境界における材質の変化を緩やかになっており、素体2と低透磁率層31〜34の接合強度を高めることができる。
(第4実施形態)
次に、図11を参照して、第4実施形態に係る積層コイル部品について説明する。図11は、第4実施形態に係る積層コイル部品の境界領域R1,R2を拡大して示す断面図である。図11は、図4に対応している。
第4実施形態に係る積層コイル部品は、図示を省略するが、第1実施形態に係る積層コイル部品1と同様、素体2と、素体2の両端部にそれぞれ配置された一対の外部電極4,5(図1参照)と、複数のコイル導体21〜26(図2及び図3参照)と、複数の引出導体13,14(図2及び図3参照)と、一つの磁気ギャップ層30(図2及び図3参照)と、複数の低透磁率層31〜34と、を備えている。
第1実施形態同様、低透磁率層31〜34は、接触部31a〜34a及び離間部31b〜34bを有し、素体2は、素体領域S1を複数有している(図4参照)。境界領域R1,R2においては、Z方向から見て、低透磁率層31〜34とコイル導体21〜26との間に素体領域S1が存在している。これにより、境界領域R1,R2では、Y方向及びZ方向に沿った仮想断面で見た場合に、Z方向に交差する鋸歯状に見えるように、境界面11aと境界面11bとが並んでいる。換言すれば、境界B1,B2が、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差する面を有している。
図11に示されるように、第4実施形態に係る積層コイル部品が上記の積層コイル部品1と異なる点は、低透磁率層31〜34が複数の離間部31b〜34bを有している点、及び、素体2が素体領域S1に加えて素体領域S2(第二素体領域)を有している点である。
低透磁率層31〜34は、隣り合っている各コイル導体21〜26の間において、複数の離間部31b〜34bを有している。各離間部31b〜34bは、Z方向に並んでいる。低透磁率層31は、コイル導体21とコイル導体22との間において、離間部31bと離間部31bとを有している。離間部31bと離間部31bとは、Z方向で隣り合っている。低透磁率層32は、コイル導体22とコイル導体23との間において、離間部32bと離間部32bとを有している。離間部32bと離間部32bとは、Z方向で隣り合っている。
コイル導体24とコイル導体25との間において、低透磁率層33は、離間部33bと離間部33bとを有している。離間部33bと離間部33bとは、Z方向で隣り合っている。コイル導体25とコイル導体26との間において、低透磁率層34は、離間部34bと離間部34bとを有している。離間部34bと離間部34bとは、Z方向で隣り合っている。
素体領域S2は、Z方向に隣り合っている各離間部31b,31b,32b,32b,33b,33b,34b,34bの間に介在している。すなわち、素体領域S1は、離間部31bと離間部31bとの間、離間部32bと離間部32bとの間、離間部33bと離間部33bとの間、及び、離間部34bと離間部34bとの間に形成されている。
境界領域R1では、Z方向に沿った仮想軸線D上において、コイル導体21、素体領域S1、低透磁率層31、素体領域S2、低透磁率層31、素体領域S1、コイル導体22、素体領域S1、低透磁率層32、素体領域S2、低透磁率層32、素体領域S1、及びコイル導体23の順に並んでいる。すなわち、コイル導体21〜23及び低透磁率層31,32と素体2との境界B1が、Z方向に交差する面を有している。一つの低透磁率層31,32と素体2との境界そのものも、Z方向に交差する面を有している。
境界領域R2では、Z方向に沿った仮想軸線D上において、コイル導体24、素体領域S1、低透磁率層33、素体領域S2、低透磁率層33、素体領域S1、コイル導体25、素体領域S1、低透磁率層35、素体領域S2、低透磁率層35、素体領域S1、及びコイル導体26の順に並んでいる。すなわち、コイル導体23〜26及び低透磁率層33,34と磁性体部11との境界B2が、Z方向に交差する面を有している。一つの低透磁率層33,34と素体2との境界そのものも、Z方向に交差する面を有している。
以上、本実施形態に係る積層コイル部品においても、上記実施形態同様、直流重畳特性を向上させつつ、クラックの発生を抑制することができる。
本実施形態に係る積層コイル部品によれば、一つの低透磁率層31〜34と素体2との境界そのものも、Z方向に沿っておらず、Z方向に交差している。これにより、一つの低透磁率層31〜34と素体2との境界そのものも、Z方向に沿ったせん断応力に対する抵抗として作用し、Z方向に沿ったせん断応力をZ方向に交差する方向へ分散する。その結果、Z方向に沿ったせん断応力に対する強度を高めることができ、クラックの発生をより一層抑制することができる。
以上、本発明の種々の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、各請求項に記載した要旨を変更しない範囲で変形し、又は他に適用してもよい。
例えば、素体2内に含まれるコイル導体の数、磁気ギャップ層の数、低透磁率層の数は上記実施形態に限られない。例えば、素体2内には低透磁率層が少なくとも一つ含まれていればよく、素体2内に磁気ギャップ層が複数含まれていてもよい。
上記第4実施形態では、低透磁率層31〜34は、離間部31b〜34bと離間部31b〜34bとを有しているとしたが、これに限られず、低透磁率層31〜34は三つ以上の離間部を有していてもよい。
上記実施形態では、低透磁率層31〜34の厚さTbがコイル導体21〜26の厚さTbよりも小さいとしているが、これに限られない。例えば、低透磁率層31〜34の厚さTbがコイル導体21〜26の厚さTb以上であってもよい。また、上記実施形態において複数のコイル導体21〜26の厚さTaは互いに略同じであるとし、複数の低透磁率層31〜34の厚さTbは互いに略同じであるとしているが、これに限られず、それぞれ互いに異なる厚さを有していてもよい。
上記実施形態では低透磁率層31〜34が非磁性材料によって構成されているとしたが、これに限られず、例えば素体2よりも透磁率が低い弱磁性材料によって構成されていてもよい。
上記実施形態において、低透磁率層31〜34は、枠状を呈しているとしたが、これに限られない。例えば、低透磁率層31〜34の一部が切り欠かれていてもよい。低透磁率層31〜34は、Z方向から見て、コイル導体21〜26の上記非重なり部分には延びていなくてもよい。低透磁率層31〜34は、Z方向から見て、コイル導体21〜26の上記離間領域に重なっていなくてもよい。
1…積層コイル部品、2…素体、20…コイル、21〜26…コイル導体、31〜34…低透磁率層、31a,32a,33a,34a…接触部、31b,32b,33b,34b,31b,31b,32b,32b,33b,33b,34b,34b…離間部、S1,S2…素体領域、41…拡散層、Ta,Tb…厚さ。

Claims (5)

  1. 磁性を有する素体と、
    前記素体内において第一方向から見て互いに重なり合っている部分を有するように第一方向に互いに離間しており且つ互いに電気的に接続されている複数の内部導体を含んでいるコイルと、
    前記第一方向で互いに隣り合っている各前記内部導体の間において、前記重なり合っている部分に沿って配置されていると共に、前記素体よりも低い透磁率を有する少なくとも一つの低透磁率層と、
    を備え、
    前記低透磁率層は、前記隣り合っている各前記内部導体の間において、前記内部導体に接している第一部分と、前記内部導体と前記第一方向で離れている第二部分と、を有し、
    前記素体は、前記第二部分と前記内部導体との間に介在している第一素体領域を有している、積層コイル部品。
  2. 前記低透磁率層の前記第一方向での厚さは、前記内部導体の前記第一方向での厚さよりも小さい、請求項1に記載の積層コイル部品。
  3. 前記第一方向から見て、前記低透磁率層は、前記内部導体よりも内側に位置している、請求項1又は2に記載の積層コイル部品。
  4. 前記低透磁率層の前記第二部分側には、前記素体に含まれている材料が拡散している拡散層が形成されている、請求項1〜3の何れか一項に記載の積層コイル部品。
  5. 前記低透磁率層は、前記隣り合っている各前記内部導体の間において、複数の前記第二部分を前記第一方向に並ぶように有し、
    前記素体は、前記第一素体領域と、前記第一方向に並んでいる各前記第二部分の間に介在する第二素体領域と、を有している、請求項1〜4の何れか一項に記載の積層コイル部品。
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