JP2017067591A - 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 - Google Patents

電子部品搬送装置および電子部品検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017067591A
JP2017067591A JP2015192910A JP2015192910A JP2017067591A JP 2017067591 A JP2017067591 A JP 2017067591A JP 2015192910 A JP2015192910 A JP 2015192910A JP 2015192910 A JP2015192910 A JP 2015192910A JP 2017067591 A JP2017067591 A JP 2017067591A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
electronic component
tray
transport
button
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2015192910A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2017067591A5 (enExample
Inventor
冬生 ▲高▼田
冬生 ▲高▼田
Fuyumi Takada
清水　博之
Hiroyuki Shimizu
博之 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2015192910A priority Critical patent/JP2017067591A/ja
Priority to CN201610832319.XA priority patent/CN106829359A/zh
Priority to TW105131457A priority patent/TWI657253B/zh
Priority to TW107117026A priority patent/TWI657029B/zh
Publication of JP2017067591A publication Critical patent/JP2017067591A/ja
Publication of JP2017067591A5 publication Critical patent/JP2017067591A5/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
JP2015192910A 2015-09-30 2015-09-30 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 Withdrawn JP2017067591A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015192910A JP2017067591A (ja) 2015-09-30 2015-09-30 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
CN201610832319.XA CN106829359A (zh) 2015-09-30 2016-09-19 电子部件输送装置以及电子部件检查装置
TW105131457A TWI657253B (zh) 2015-09-30 2016-09-29 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
TW107117026A TWI657029B (zh) 2015-09-30 2016-09-29 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015192910A JP2017067591A (ja) 2015-09-30 2015-09-30 電子部品搬送装置および電子部品検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017067591A true JP2017067591A (ja) 2017-04-06
JP2017067591A5 JP2017067591A5 (enExample) 2018-10-11

Family

ID=58492249

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015192910A Withdrawn JP2017067591A (ja) 2015-09-30 2015-09-30 電子部品搬送装置および電子部品検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2017067591A (enExample)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019065205A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 日本電産サンキョー株式会社 トレイ配置部および搬送システム
WO2019065202A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 日本電産サンキョー株式会社 搬送システム

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06258386A (ja) * 1992-10-14 1994-09-16 Advantest Corp オートマチックテストハンドラー用アラーム表示システムおよびアラーム表示方法
JPH07239365A (ja) * 1994-02-25 1995-09-12 Advantest Corp 半導体試験装置における自動再検査方法
JPH08184643A (ja) * 1994-12-28 1996-07-16 Advantest Corp Ｉｃテスタ用ハンドラにおける再検査方法
JPH08262102A (ja) * 1995-03-23 1996-10-11 Advantest Corp Ｉｃテスタ用ハンドラにおけるデバイス再検査方法
JPH08262103A (ja) * 1995-03-24 1996-10-11 Ando Electric Co Ltd Ｉｃ搬送器が循環するオートハンドラの再選別方法
WO1997009629A1 (en) * 1995-09-04 1997-03-13 Advantest Corporation Semiconductor device transferring apparatus
JPH09318703A (ja) * 1996-05-31 1997-12-12 Toshiba Corp Ｉｃハンドラ
JP2002196042A (ja) * 2000-10-10 2002-07-10 Mire Kk デバイステストハンドラ及びその作動方法
WO2006009282A1 (ja) * 2004-07-23 2006-01-26 Advantest Corporation 電子部品試験装置
US20070075719A1 (en) * 2005-09-30 2007-04-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of testing semiconductor devices and handler used for testing semiconductor devices

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06258386A (ja) * 1992-10-14 1994-09-16 Advantest Corp オートマチックテストハンドラー用アラーム表示システムおよびアラーム表示方法
JPH07239365A (ja) * 1994-02-25 1995-09-12 Advantest Corp 半導体試験装置における自動再検査方法
JPH08184643A (ja) * 1994-12-28 1996-07-16 Advantest Corp Ｉｃテスタ用ハンドラにおける再検査方法
JPH08262102A (ja) * 1995-03-23 1996-10-11 Advantest Corp Ｉｃテスタ用ハンドラにおけるデバイス再検査方法
JPH08262103A (ja) * 1995-03-24 1996-10-11 Ando Electric Co Ltd Ｉｃ搬送器が循環するオートハンドラの再選別方法
WO1997009629A1 (en) * 1995-09-04 1997-03-13 Advantest Corporation Semiconductor device transferring apparatus
JPH09318703A (ja) * 1996-05-31 1997-12-12 Toshiba Corp Ｉｃハンドラ
JP2002196042A (ja) * 2000-10-10 2002-07-10 Mire Kk デバイステストハンドラ及びその作動方法
WO2006009282A1 (ja) * 2004-07-23 2006-01-26 Advantest Corporation 電子部品試験装置
US20070075719A1 (en) * 2005-09-30 2007-04-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of testing semiconductor devices and handler used for testing semiconductor devices

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019065205A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 日本電産サンキョー株式会社 トレイ配置部および搬送システム
WO2019065202A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 日本電産サンキョー株式会社 搬送システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI657253B (zh) 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
JP4805285B2 (ja) 電子部品を検査し、且つ選別するためのシステム
KR101327455B1 (ko) 테스트 핸들러 및 그 반도체 소자 공급 배출 방법
TWI601965B (zh) Component Processor
KR101496047B1 (ko) 반도체 패키지 분류 장치
JP2018105730A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
KR100914219B1 (ko) 테스트 핸들러
JP5186370B2 (ja) 電子部品移送方法および電子部品ハンドリング装置
JP2017067591A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
KR20060041454A (ko) 칩 외관 자동검사 장치
JP6361346B2 (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
TW201812948A (zh) 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
TW201703951A (zh) 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
JP2017067594A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP2016156715A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP2017015477A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP2016223828A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
TWI649247B (zh) Electronic component operating device and its operation classification device
JP2019164099A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP2017032373A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP2017067593A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP2016222354A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP6593071B2 (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP2017100051A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
JP6536096B2 (ja) 電子部品搬送装置、電子部品検査装置および結露あるいは着霜の検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180903

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180903

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20180906

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20181116

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190607

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190618

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20190819