JP2017028173A - インプリント装置およびインプリント方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】実施形態によれば、インプリント装置が提供される。前記インプリント装置は、接触処理部と、異常判定部と、を備えている。前記接触処理部は、テンプレートのおもて面に形成されたテンプレートパターンと、レジストの配置された基板と、を接触させる。これにより、前記接触処理部は、前記レジストを前記テンプレートパターンに充填させる。また、前記異常判定部は、インプリント工程の際に、前記テンプレート、前記レジストおよび前記基板の少なくとも1つから発生する力に基づいて、前記インプリント工程の異常判定を行う。
【選択図】図3
Description
図1は、第1の実施形態に係るインプリント装置の構成を示す図である。図1では、インプリント装置101をY軸方向から見た場合の構成を示している。なお、本実施形態では、ウエハWxの載置される面がXY平面であり、ウエハWxの上面はZ軸と垂直に交わっている。
つぎに、図14を用いて第2の実施形態について説明する。第2の実施形態では、AEセンサをテンプレートに直接配置しておく。そして、テンプレートに配置されたAEセンサからのAE信号に基づいて、インプリント工程の異常判定が行われる。
つぎに、図15を用いて第3の実施形態について説明する。第3の実施形態では、テンプレートの歪みを側面側から補正する側面静電チャックに、AEセンサを配置しておく。また、第3の実施形態では、テンプレートの歪みを上面側から補正する上面静電チャックにAEセンサを配置しておいてもよい。
Claims (6)
- テンプレートのおもて面に形成されたテンプレートパターンと、レジストの配置された基板と、を接触させて、前記レジストを前記テンプレートパターンに充填させる接触処理部と、
インプリント工程の際に、前記テンプレート、前記レジストおよび前記基板の少なくとも1つから発生する力に基づいて、前記インプリント工程の異常判定を行う異常判定部と、
を備えることを特徴とするインプリント装置。 - 前記力は、アコースティックエミッション波である、
ことを特徴とする請求項1に記載のインプリント装置。 - 前記アコースティックエミッション波を検出する第1の検出部と、
前記第1の検出部が配置されるとともに、前記テンプレートを保持する保持部と、
をさらに備える、
ことを特徴とする請求項2に記載のインプリント装置。 - 前記保持部は、前記テンプレートの側面を押すアクチュエータである、
ことを特徴とする請求項3に記載のインプリント装置。 - 前記保持部は、d33モードのピエゾ素子と、d31モードのピエゾ素子と、前記第1の検出部と、が直列に接合されて構成されている、
ことを特徴とする請求項4に記載のインプリント装置。 - テンプレートのおもて面に形成されたテンプレートパターンを、基板上に配置されたレジストに転写するインプリント工程を実行する第1のステップと、
前記インプリント工程の際に、前記テンプレート、前記レジストおよび前記基板の少なくとも1つから発生する力に基づいて、前記インプリント工程の異常判定を行なう第2のステップと、
を含むことを特徴とするインプリント方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190026574A (ko) * | 2017-09-04 | 2019-03-13 | 캐논 가부시끼가이샤 | 임프린트 장치 및 물품 제조 방법 |
JP2020017597A (ja) * | 2018-07-24 | 2020-01-30 | キヤノン株式会社 | 検査方法、インプリント装置、および物品製造方法 |
JP2020072241A (ja) * | 2018-11-02 | 2020-05-07 | キヤノン株式会社 | 成形装置および物品製造方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6875233B2 (ja) | 2017-09-12 | 2021-05-19 | キオクシア株式会社 | テンプレート基板、テンプレート基板の製造方法、及び半導体装置の製造方法 |
KR102406310B1 (ko) * | 2018-10-31 | 2022-06-13 | 마이크로·텍 가부시끼가이샤 | 바이브레이션 장치, 바이브레이션 방법 및 진동 투입 장치 |
JP7401396B2 (ja) * | 2020-06-04 | 2023-12-19 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、物品の製造方法、及びインプリント装置のための測定方法 |
CN117470968A (zh) * | 2023-11-10 | 2024-01-30 | 武汉路通市政工程质量检测中心有限公司 | 一种预应力混凝土结构中预应力钢筋断裂监测方法及系统 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003308670A (ja) * | 2002-04-12 | 2003-10-31 | Hitachi Ltd | 磁気ディスク装置 |
JP2005026462A (ja) * | 2003-07-02 | 2005-01-27 | Canon Inc | 微細加工方法及び微細加工装置 |
JP2007132844A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Toyota Motor Corp | プレス監視システム及びae評価方法 |
JP2008188646A (ja) * | 2007-02-06 | 2008-08-21 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 塑性加工異常検出方法、加工システム及びae検出装置 |
JP2009141328A (ja) * | 2007-10-11 | 2009-06-25 | Asml Netherlands Bv | インプリントリソグラフィ |
US20100044917A1 (en) * | 2008-08-19 | 2010-02-25 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
JP2010069762A (ja) * | 2008-09-19 | 2010-04-02 | Toshiba Corp | パターン形成方法 |
JP2012154866A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | プローブ顕微鏡 |
US20140208850A1 (en) * | 2013-01-29 | 2014-07-31 | Geun-Woo Kim | Apparatus and method of detecting a defect of a semiconductor device |
JP2015023210A (ja) * | 2013-07-22 | 2015-02-02 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、及びそれを用いたデバイス製造方法 |
JP2015077758A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | 大日本印刷株式会社 | インプリント用基板の検査方法、インプリント用基板の製造方法、インプリント方法及びインプリントシステム |
JP2015130448A (ja) * | 2014-01-08 | 2015-07-16 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、インプリント方法及び物品の製造方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62132282A (ja) | 1985-12-03 | 1987-06-15 | Fujitsu Ltd | 浮上型磁気ヘツドの浮上試験方法 |
JP2000121615A (ja) | 1998-10-14 | 2000-04-28 | Sharp Corp | 電子部品の製造方法及びその製造装置 |
US7517211B2 (en) * | 2005-12-21 | 2009-04-14 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
JP2011007750A (ja) | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Kyocera Corp | ウエハのクラックの検出方法及びその検出装置 |
JP2012159448A (ja) * | 2011-02-02 | 2012-08-23 | Toshiba Corp | 欠陥検査方法および半導体装置の製造方法 |
JP5773734B2 (ja) | 2011-05-09 | 2015-09-02 | 株式会社アルバック | 基板事前検査方法 |
-
2015
- 2015-07-24 JP JP2015147153A patent/JP6626283B2/ja active Active
-
2016
- 2016-03-03 US US15/059,625 patent/US10131135B2/en active Active
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003308670A (ja) * | 2002-04-12 | 2003-10-31 | Hitachi Ltd | 磁気ディスク装置 |
JP2005026462A (ja) * | 2003-07-02 | 2005-01-27 | Canon Inc | 微細加工方法及び微細加工装置 |
JP2007132844A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Toyota Motor Corp | プレス監視システム及びae評価方法 |
JP2008188646A (ja) * | 2007-02-06 | 2008-08-21 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 塑性加工異常検出方法、加工システム及びae検出装置 |
JP2009141328A (ja) * | 2007-10-11 | 2009-06-25 | Asml Netherlands Bv | インプリントリソグラフィ |
JP2010080918A (ja) * | 2008-08-19 | 2010-04-08 | Asml Netherlands Bv | インプリントリソグラフィ |
US20100044917A1 (en) * | 2008-08-19 | 2010-02-25 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
JP2010069762A (ja) * | 2008-09-19 | 2010-04-02 | Toshiba Corp | パターン形成方法 |
JP2012154866A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | プローブ顕微鏡 |
US20140208850A1 (en) * | 2013-01-29 | 2014-07-31 | Geun-Woo Kim | Apparatus and method of detecting a defect of a semiconductor device |
JP2015023210A (ja) * | 2013-07-22 | 2015-02-02 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、及びそれを用いたデバイス製造方法 |
JP2015077758A (ja) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | 大日本印刷株式会社 | インプリント用基板の検査方法、インプリント用基板の製造方法、インプリント方法及びインプリントシステム |
JP2015130448A (ja) * | 2014-01-08 | 2015-07-16 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、インプリント方法及び物品の製造方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190026574A (ko) * | 2017-09-04 | 2019-03-13 | 캐논 가부시끼가이샤 | 임프린트 장치 및 물품 제조 방법 |
JP2019047002A (ja) * | 2017-09-04 | 2019-03-22 | キヤノン株式会社 | インプリント装置および物品製造方法 |
KR102397055B1 (ko) * | 2017-09-04 | 2022-05-12 | 캐논 가부시끼가이샤 | 임프린트 장치 및 물품 제조 방법 |
JP2020017597A (ja) * | 2018-07-24 | 2020-01-30 | キヤノン株式会社 | 検査方法、インプリント装置、および物品製造方法 |
JP7129259B2 (ja) | 2018-07-24 | 2022-09-01 | キヤノン株式会社 | 検査方法、インプリント装置、および物品製造方法 |
JP2020072241A (ja) * | 2018-11-02 | 2020-05-07 | キヤノン株式会社 | 成形装置および物品製造方法 |
JP7265824B2 (ja) | 2018-11-02 | 2023-04-27 | キヤノン株式会社 | 成形装置および物品製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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