JP2007132844A - プレス監視システム及びａｅ評価方法 - Google Patents

Abstract

【課題】プレス成形加工において、割れやくびれなどのプレス不良の発生に伴うＡＥの変化を確実に捉える。
【解決手段】プレス装置１０における成形不良を監視するためのプレス監視システム９に、プレス装置１０にて被成形素材Ｗを成形加工する際に生じるＡＥを検出するＡＥセンサ２０と、前記ＡＥを電気的信号に変換するＡＥ計測手段２１と、前記電気的信号の強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形を得る数値処理手段２２と、前記被成形素材Ｗの摩擦係数を測定する摩擦係数測定手段３５と、良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形を、前記摩擦係数にて定まる補正値で補正して、評価基準となるＡＥ波形を決定する評価基準決定手段２４と、前記評価基準と前記数値処理手段にて得られたＡＥ波形とを比較し、プレス不良発生の有無を評価する評価手段２３とを備えた。
【選択図】図１

Description

本発明は、プレス装置において、プレス成形加工時に発生するアコースティック・エミッション（以下、『ＡＥ』と記載する）を検出して、被成形素材又はプレス成形品の成形不良の発生を防止するための技術に関する。

プレス成形加工に際して、被成形素材又はプレス成形品に割れやくびれが生じるというプレス不良は、真因追求や、再発防止対策が実現できていない課題の一つである。
プレス成形加工は、一秒に数枚程度の処理速度で行われるため、この非常に短い加工時間の間の現象を正確に捉えることは非常に難しく、不具合が発生したときに、どのような不具合が、何を原因として発生したのかの情報を、瞬時に得ることは難しい。

プレス成形加工において成形加工時に、被成形素材に割れやくびれなどが発生すると、高レベルのエネルギーが放出される。この高レベルのエネルギーは、振動、音、工具の弾性変形などに変化するため、これらの現象を検出することによって、被成形素材又はプレス成形品の成形不良を検出することが可能である。

そこで、特許文献１では、被成形素材からの加工割れ状態を検出するアコースティック・エミッションセンサ（以下、『ＡＥセンサ』と記載する）をプレス装置に内蔵して、成形加工時に被成形素材から放出されたＡＥを検出して、被成形素材の加工割れ等のプレス不良を検出しながら成形加工を行う技術が提案されている。

しかし、プレス装置において成形加工時には様々な原因によって、ＡＥが放出されるため、プレス不良以外に起因して放出されたＡＥを検出することによる誤判定に繋がっていた。
そこで、特許文献２では、プレス装置の軸受欠陥を高精度で診断するために、プレス装置から検出されたＡＥがノイズであるのか、欠陥部位から検出されたものであるかを、プレス成形加工時に検出されたＡＥと、非加工時に検出されたＡＥとを比較処理することによって、判定する技術が提案されている。
特開平４−７５８００号公報 特開平１０−１９７３６号公報

上記特許文献１に記載の技術のように、ＡＥセンサなどの割れ発生検出手段を備えることにより、インラインで、成形加工時にリアルタイムに全ての被成形素材に対してプレス不良発生の有無の判定を行うことが可能となった。
しかし、上記ＡＥセンサを用いた被成形素材の割れの検出は、比較的小さく形状の単純な製品を成形加工する際には容易に適用することができるが、特に、車輌部品など、巨大な製品においては、被成形素材である鋼板が大きく、また、製品形状が複雑であるため、割れ検出のために取得したＡＥの評価や解析が難しく、実用化が困難となっていた。

そこで、本発明では、プレス成形加工において、割れやくびれなどのプレス不良の発生に伴うＡＥの変化を確実に捉え、被成形素材（又はプレス成形品）のプレス不良を監視するための、プレス成形加工の監視システムを提案する。

本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。

即ち、請求項１においては、プレス装置における成形不良を監視するためのプレス監視システムであって、プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥを検出するＡＥセンサと、前記ＡＥを電気的信号に変換するＡＥ計測手段と、前記電気的信号の強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形を得る数値処理手段と、前記被成形素材の摩擦係数を測定する摩擦係数測定手段と、前記摩擦係数に基づいてＡＥ波形の評価基準を決定する評価基準決定手段と、前記評価基準と前記数値処理手段にて得られたＡＥ波形とを比較し、プレス不良発生の有無を評価する評価手段とを、具備するものである。

請求項２においては、前記評価基準決定手段は、良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形を前記摩擦係数にて定まる補正値で補正して、ＡＥ波形の評価基準を決定するものである。

請求項３においては、プレス装置における成形不良を監視するためのプレス監視システムであって、プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥを検出するＡＥセンサと、前記ＡＥを電気的信号に変換するＡＥ計測手段と、前記電気的信号の強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形を得る数値処理手段と、前記被成形素材を成形加工する際のクッション圧を測定する圧力測定手段と、前記クッション圧に基づいてＡＥ波形の評価基準を決定する評価基準決定手段と、前記評価基準と前記数値処理手段にて得られたＡＥ波形とを比較し、プレス不良発生の有無を評価する評価手段とを、具備するものである。

請求項４においては、前記評価基準決定手段は、良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形を前記クッション圧にて定まる補正値で補正して、ＡＥ波形の評価基準を決定するものである。

請求項５においては、プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥの評価方法であって、成形加工時に生じるＡＥの強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形と、良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形及び前記被成形素材の摩擦係数に基づいて決定されたＡＥ波形の評価基準とを、比較することにより、プレス不良発生の有無を評価するものである。

請求項６においては、プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥの評価方法であって、成形加工時に生じるＡＥの強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形と、良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形及び前記被成形素材を成形加工する際のクッション圧とに基づいて決定されたＡＥ波形の評価基準とを、比較することにより、プレス不良発生の有無を評価するものである。

本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。

請求項１又は請求項２においては、被成形素材の摩擦係数の変動に起因して、計測されるＡＥ波形に変化が生じても、割れやくびれ等のプレス不良に伴うＡＥ波形の変化を確実に捉えることができる。

請求項３又は請求項４においては、クッション圧の変動に起因して、計測されるＡＥ波形に変化が生じても、割れやくびれ等のプレス不良に伴うＡＥ波形の変化を確実に捉えることができる。

請求項５においては、被成形素材の摩擦係数の変動に起因して、計測されるＡＥ波形に変化が生じても、割れやくびれ等のプレス不良に伴うＡＥ波形の変化を確実に捉えることができる。

請求項６においては、クッション圧の変動に起因して、計測されるＡＥ波形に変化が生じても、割れやくびれ等のプレス不良に伴うＡＥ波形の変化を確実に捉えることができる。

次に、発明の実施の形態を説明する。
図１は本発明の一実施例に係るプレス装置の全体的な構成を示した図、図２はＡＥ波形の一例を示す図、図３はＡＥ波形と被成形素材の摩擦係数の関係を説明する図、図４はＡＥ波形とクッション圧の関係を説明する図、図５は原評価基準と評価基準と測定結果の一例を示す図である。

先ず、本実施例に係るプレス監視システムを備えるプレス装置１０について説明する。
なお、本実施例では、プレス装置１０の一例としてクランクプレス式の装置を採用しているが、プレス装置１０の形態はこれに限定されるものではなく、例えば、リンクモーションプレス式、カムプレス式又はねじプレス式等の機械式プレス装置や、油圧プレス式、空圧プレス式などの流体圧式プレス装置等とすることができる。

図１に示すように、プレス装置１０は、加圧力を受けるフレーム１１及びプレス台１２と、下金型１５ａが固定されたボルスタ１３と、上金型１５ｂが取り付けられ上下往復動するスライド１４と、該スライド１４を駆動するスライド駆動機構等で構成される。

前記スライド駆動機構は、モータ（図示略）の動力を受けて回転するフライホイル１９と、該フライホイル１９の回転運動を直線運動に変換するクランクシャフト１８と、該クランクシャフト１８と前記スライド１４とを連結するロッド１７等で構成される。

前記プレス装置１０では、スライド１４を降下させることによって、下金型１５ａと上金型１５ｂとで被成形素材Ｗを成形する。
そして、前記プレス装置１０には、成形加工時に発生するアコースティック・エミッション（以下、『ＡＥ』と記載する）を計測し、該ＡＥから得られる情報に基づいてプレス不良を検出するためのプレス監視システム９が備えられる。
ここで、ＡＥとは、被成形素材Ｗの亀裂の発生や伸展などといった被成形素材Ｗの破壊等に伴って発生する、振動や音波などの弾性波のことをいう。

前記プレス監視システム９は、ＡＥセンサ２０、アコースティック・エミッション計測手段２１（以下、『ＡＥ計測手段２１』と記載する）、数値処理手段２２、評価手段２３、評価基準決定手段２４、圧力測定手段３２、摩擦係数測定手段３５等で構成される。
本実施例において、数値処理手段２２、評価手段２３及び評価基準決定手段２４は、表示部３７や入力部３８が具備された汎用コンピュータ３６にて機能させている。

前記ＡＥセンサ２０の検出信号は、ＡＥ計測手段２１に送信される。
前記ＡＥ計測手段２１では、検出されたＡＥは電気的信号（以下、『ＡＥ信号』と記載する）に変換され、アンプによる信号増幅処理や、ノイズ除去のためのフィルタ処理などが施される。

そして、数値処理手段２２では、ＡＥ計測手段２１にて計測されたＡＥ信号に基づいて、成形加工時に計測されるＡＥ信号の強度の変化を、電圧値の変化として表したアコースティック・エミッション波形（以下、『ＡＥ波形』と記載する）が作成される。
さらに、数値処理手段２２では、前記ＡＥ波形の積分値であるアコースティック・エミッションエネルギー（以下、『ＡＥエネルギー』と記載する）の値が算出される。
なお、図２では、縦軸に電圧値を、横軸に成形加工時のスライド１４の変位を、それぞれ示し、ＡＥ信号の強度が電圧値として断続的にプロットされ、ＡＥ波形が形成されている。そして、ＡＥ波形の断面積（図２の斜線部分）によってＡＥエネルギー値が示されている。

前記数値処理手段２２にて得られたＡＥ波形は、評価手段２３にて評価される。
評価手段２３では、評価基準決定手段２４により定められた評価基準となるＡＥ波形と、計測により得られたＡＥ波形とを、比較演算することにより評価して、プレス不良の有無を判定する。
このとき、評価基準となるＡＥ波形と、計測により得られたＡＥ波形との差異が予め設定された許容値の範囲外であれば、プレス不良と判定し、許容値の範囲内であれば、プレス良と判定する。

なお、評価手段２３にて、ＡＥ波形の評価に加え、ＡＥエネルギー値の評価を行うこともできる。
ＡＥエネルギー値の評価は、評価基準となるＡＥ波形と、計測により得られたＡＥ波形とのそれぞれのＡＥエネルギー値を算出するとともに、これらのＡＥエネルギー値を比較演算し、ＡＥエネルギー値の差異が予め設定された許容値の範囲外であれば、プレス不良と判定し、許容値の範囲内であれば、プレス良と判定する。

続いて、前記評価基準決定手段２４での、評価基準となるＡＥ波形の決定方法について、説明する。
評価基準となるＡＥ波形は、被成形素材Ｗの摩擦係数および成形加工時のクッション圧のいずれか一方又は両方の変動に応じて、決定される。

［被成形素材Ｗの摩擦係数の変動］
成形加工時に測定されるＡＥ波形に基づいて算出されるエネルギー値は、同形状の成形金型を使用して成形加工する場合であっても、被成形素材Ｗの摩擦係数の値によって異なる。
例えば、図３では、（ａ）被成形素材Ｗの摩擦係数がμ_１である場合と、（ｂ）被成形素材Ｗの摩擦係数がμ_２である場合との、それぞれにおいて得られたＡＥ波形を示している（但し、μ_１＜μ_２とする）。図３によれば、摩擦係数がμ_１である場合のＡＥ波形と、摩擦係数がμ_２である場合のＡＥ波形とが異なっている。また、ＡＥエネルギー値も異なっている。

なお、図３に示す、Ｄ_１、Ｄ_２、Ｄ_３の範囲は、被成形素材Ｗが引き延ばされながら成形されている過程を示している。Ｄ_１よりも前の範囲は、スライド１４が降下して上金型１５ｂが被成形素材Ｗに当接し、上金型１５ｂ及び下金型１５ａにて被成形素材Ｗを挟持する迄の過程を示している。また、Ｄ_３よりも後の範囲は、スライド１４が下死点を越えた後の過程を示している。
つまり、図３に示すＤ_１、Ｄ_２、Ｄ_３の範囲のＡＥ波形及びＡＥエネルギー値が、評価対象となる。以下、図４及び図５に示すＡＥ波形においても同様とする。

図３に示すように、摩擦係数が大きな値の被成形素材Ｗを成形加工する場合の方が、ＡＥエネルギー値が著しく増大している。これは、被成形素材Ｗの摩擦係数が大きければ、被成形素材Ｗと下金型１５ａ又は上金型１５ｂとの摩擦により、より大きなＡＥが放出されるからである。

上記のように、被成形素材Ｗの摩擦係数によって、プレス不良の有無に拘わらず、測定されるＡＥエネルギー値が変動する。よって、同じ成形金型を利用して成形加工を施す場合であっても、被成形素材Ｗの摩擦係数に応じて評価基準となるＡＥ波形を変動させることが、プレス不良誤判定を回避するうえで必要となる。

また、上述のように、検出されたＡＥ波形より算出されたＡＥエネルギー値が、評価基準となるＡＥ波形より算出されたＡＥエネルギー値と比較して増大するような特徴を有するＡＥ波形が計測された場合には、成形加工されている被成形素材Ｗの摩擦係数が良品の摩擦係数よりも大きいと、推測可能である。

なお、被成形素材Ｗの摩擦係数が大きいほど、下金型１５ａと上金型１５ｂとにより形成された成形部への素材流入量が、少なくなる。素材流入量が少なくなれば、成形後の製品に薄肉部が生じやすく、この結果、割れ、くびれ又は減肉などのプレス不良が発生し易い状態となる。
従って、成形加工されている被成形素材Ｗの摩擦係数が良品の摩擦係数よりも大きいと推測されるＡＥ波形において、亀裂発生などに起因する異常なピークが表れれば、摩擦係数が増大したことを原因として亀裂などのプレス不良が発生したことを、推測することができる。

［クッション圧の変動］
成形加工時に測定されるＡＥ波形は、同形状の成形金型を使用して成形加工する場合であっても、クッション圧の値によって異なる。クッション圧とは、成形加工時に、被成形素材Ｗに与えられた加圧力を、プレス装置１０が支持する圧力である。
例えば、図４では、（ａ）クッション圧がＰ_１である場合と、（ｂ）クッション圧がＰ_２である場合と、（ｃ）クッション圧がＰ_３である場合との、それぞれにおいて得られたＡＥ波形を示している（但し、Ｐ_１＜Ｐ_２＜Ｐ_３とする）。

クッション圧は、プレス装置１０の稼動時間に伴って上昇する。連続して成形加工を行ううちに、金型等のプレス装置１０の構成要素が、温度上昇し膨張するからである。
図４に示すように、クッション圧が増大するに伴って、ピークの位置が早まる傾向が見られる。つまり、プレス装置１０の構成要素が膨張し大きくなるために、クッション圧の増大により、プレスのタイミングが早くなるのである。

上記のように、クッション圧によって、プレス不良の有無に拘わらず、測定されるＡＥ波形の形状（ピーク位置）が変動する。よって、同じ成形金型を利用して成形加工を施す場合であっても、クッション圧に応じて評価基準となるＡＥ波形を変化させることが、プレス不良誤判定を回避するうえで必要となる。

上記に鑑み、評価基準決定手段２４では、被成形素材Ｗの摩擦係数の変動と、成形加工時のクッション圧の変動のうち、いずれか一方又は両方を加味して、評価基準となるＡＥ波形を決定する。
評価基準となるＡＥ波形を定めるにあたって、先ず、評価基準素材が成形加工されて良品が成形された場合に計測されたＡＥ波形である、原評価基準が予め評価手段２３に設定される。但し、原評価基準となるＡＥ波形は、金型とプレス装置１０の組合せにより異なるので、金型とプレス装置１０の組合せごとに設定する。

評価基準となるＡＥ波形を決定するために、図１に示すように、成形加工される前の被成形素材Ｗの摩擦係数を計測する摩擦係数測定手段３５が備えられ、該摩擦係数測定手段３５にて計測された摩擦係数が評価基準決定手段２４に伝達される。摩擦係数測定手段３５としては、例えば、ピンオンディスク摩擦係数測定装置を使用することができる。
また、成形加工時のクッション圧を計測するために、ボルスタ１３に圧力測定手段３２が備えられ、該圧力測定手段３２にて計測されたクッション圧が評価基準決定手段２４に伝達される。但し、クッション圧はスライド１４やロッド１７に圧力測定手段を備えて計測することもできる。

評価基準決定手段２４は、前記摩擦係数測定手段３５及び圧力測定手段３２からの測定値を受けて、評価基準となるＡＥ波形を決定する。
ＡＥエネルギー値は、被成形素材Ｗの摩擦係数によって、評価基準値が増減し、摩擦係数が大きくなるほど評価基準値が大きくなる。従って、被成形素材Ｗの摩擦係数が増大するに従って、ＡＥとして計測される電圧値が大きくなる結果、ＡＥ波形は全体的に上方にシフトすることとなる。
ＡＥ波形の電圧値の評価基準値は、原評価基準値に、補正値を加えて算出される。前記補正値は、該補正値と被成形素材Ｗの摩擦係数との関係を定めた関数に基づいて算出されるか、又は、予め設定されたマップに基づいて決定される。

また、ＡＥ波形のピークの位置を解析するにあたって、クッション圧の変動によってピーク検出位置が変動し、クッション圧の変動値が大きくなるほどピーク検出位置が早くなる。ピーク検出位置は、原評価基準のピーク位置に、補正値を加えて算出される。前記補正値は、該補正値とクッション圧の変動値との関係を定めた関数に基づいて算出されるか、又は、予め設定されたマップに基づいて決定される。

なお、本実施例では評価基準となるＡＥ波形は、被成形素材Ｗの摩擦係及びクッション圧の変動の双方に基づいて決定しているが、評価基準となるＡＥ波形は、被成形素材Ｗの摩擦係数又はクッション圧の変動のいずれか一方に基づいて、決定するように構成することもできる。
また、上記実施例では、ＡＥ波形を通じてＡＥエネルギー値の評価も行うが、ＡＥ波形とＡＥエネルギー値とをそれぞれ別個に評価するために、それぞれの評価基準を定めることもできる。

評価手段２３での評価の一例として、図５ａに示すＡＥ波形を、評価基準素材Ｗ_０が成形加工されて良品が成形されたときに計測された原評価基準となるＡＥ波形として設定した場合について、説明する。

図５ｂでは、摩擦係数が摩擦係数μ_１である被成形素材Ｗ_１に対する、評価基準となるＡＥ波形を示している。
被成形素材Ｗ_１の摩擦係数μ_１が評価基準素材Ｗ_０の摩擦係数μ_０と比較して大きいため、評価基準となるＡＥ波形のＡＥエネルギー値は、原評価基準となるＡＥ波形と比較して全体的にやや増大している。

また、図５ｃでは、被成形素材Ｗ_２を成形加工した場合の測定結果を示しており、評価基準となるＡＥ波形と比較して全体的にＡＥエネルギー値が増大し、且つ、Ｄ_３の範囲では大きなピークが存在する。このＤ_３の範囲におけるピークは図５ｂに示される評価基準値を大きく超えており、異常なピークとなっている。
なお、被成形素材Ｗ_２の成形加工では、割れのプレス不良が発生している。
評価手段２３では、図５ｃに示すＡＥ波形において、評価基準のＡＥエネルギー値と計測されたＡＥエネルギー値との差異が所定の許容値の範囲外となる箇所が存在し、さらに、図５ｃに示すＡＥ波形に評価基準となるＡＥ波形を超える異常なピークが存在することから、プレスは不良であると判定する。この場合、プレス不良は、被成形素材Ｗ_２の摩擦係数が異常に大きいために生じたと推定される。

また、図５ｄでは、被成形素材Ｗ_３を成形加工した場合の測定結果を示しており、評価基準と比較して一部でＡＥエネルギー値がやや増大しており、且つ、Ｄ_１〜Ｄ_３の範囲では大きなピークが複数存在する。この大きなピークは、図５ｂに示される評価基準値を大きく超えており、異常なピークとなっている。
なお、被成形素材Ｗ_３の成形加工では、金型により押さえられている被成形素材Ｗ_３の周縁部が破断する、所謂「押さえちぎれ」となるプレス不良が発生している。
評価手段２３では、図５ｄに示すＡＥ波形において、評価基準のＡＥエネルギー値と計測されたＡＥエネルギー値との差異が所定の許容値の範囲内であるが、図５ｄに示すＡＥ波形に評価基準となるＡＥ波形を超える異常なピークが存在するので、プレスは不良であると判定される。この場合、プレス不良は、被成形素材Ｗ_３の摩擦係数以外の原因により生じたと推定される。

上述のプレス監視システムによれば、計測されたＡＥ波形と、被成形素材Ｗの摩擦係数と成形加工のクッション圧の変動値とを加味して定めた評価基準となるＡＥ波形とを比較演算して、プレス不良の発生の有無を判定する。
従って、被成形素材Ｗの摩擦係数や、成形加工のクッション圧の変動に起因して、計測されるＡＥ波形やＡＥエネルギーの変化が生じても、割れやくびれ等のプレス不良に伴うＡＥ波形やＡＥエネルギーの変化を確実に捉えることができる。

そして、このプレス不良判定方法を導入することにより、プレス不良可能性の高いプレス成形品とを識別することができるので、大幅な検査工数の削減が可能となり、検査員の見落としによる、プレス不良製品の流出防止を実現できる。

また、各回のプレス成形加工において、ＡＥ波形及びＡＥエネルギー値等の成形加工情報を取得することができるので、該成形加工情報を製品と関連づけて管理することができ、トレーサビリティを確立することができる。
また、プレス成形加工時の、被成形素材Ｗの摩擦係数、成形加工時のクッション圧、ＡＥエネルギーに基づく素材流入量の変化等に関して、割れの真因を究明するために、割れない製造要件、管理要件に関する知見を得ることが可能となる。

本発明の一実施例に係るプレス装置の全体的な構成を示した図。 ＡＥ波形の一例を示す図。 ＡＥ波形と被成形素材の摩擦係数の関係を説明する図。 ＡＥ波形とクッション圧の関係を説明する図。 原評価基準と評価基準と測定結果の一例を示す図。

符号の説明

Ｗ 被成形素材
１０ プレス装置
１５ａ 下金型
１５ｂ 上金型
２０ ＡＥセンサ
２１ ＡＥ計測手段
２２ 数値処理手段
２３ 評価手段
２４ 評価基準決定手段
３２ 圧力測定手段
３５ 摩擦係数測定手段

Claims (6)

1. プレス装置における成形不良を監視するためのプレス監視システムであって、
   プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥを検出するＡＥセンサと、
   前記ＡＥを電気的信号に変換するＡＥ計測手段と、
   前記電気的信号の強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形を得る数値処理手段と、
   前記被成形素材の摩擦係数を測定する摩擦係数測定手段と、
   前記摩擦係数に基づいてＡＥ波形の評価基準を決定する評価基準決定手段と、
   前記評価基準と前記数値処理手段にて得られたＡＥ波形とを比較し、プレス不良発生の有無を評価する評価手段とを、具備することを特徴とする、
   プレス監視システム。
2. 前記評価基準決定手段は、
   良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形を前記摩擦係数にて定まる補正値で補正して、ＡＥ波形の評価基準を決定することを特徴とする、
   請求項１に記載のプレス監視システム。
3. プレス装置における成形不良を監視するためのプレス監視システムであって、
   プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥを検出するＡＥセンサと、
   前記ＡＥを電気的信号に変換するＡＥ計測手段と、
   前記電気的信号の強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形を得る数値処理手段と、
   前記被成形素材を成形加工する際のクッション圧を測定する圧力測定手段と、
   前記クッション圧に基づいてＡＥ波形の評価基準を決定する評価基準決定手段と、
   前記評価基準と前記数値処理手段にて得られたＡＥ波形とを比較し、プレス不良発生の有無を評価する評価手段とを、具備することを特徴とする、
   プレス監視システム。
4. 前記評価基準決定手段は、
   良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形を前記クッション圧にて定まる補正値で補正して、ＡＥ波形の評価基準を決定することを特徴とする、
   請求項３に記載のプレス監視システム。
5. プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥの評価方法であって、
   成形加工時に生じるＡＥの強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形と、
   良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形及び前記被成形素材の摩擦係数に基づいて決定されたＡＥ波形の評価基準とを、
   比較することにより、プレス不良発生の有無を評価することを特徴とする、
   ＡＥ評価方法。
6. プレス装置にて被成形素材を成形加工する際に生じるＡＥの評価方法であって、
   成形加工時に生じるＡＥの強度の変化を電圧値の変化として表したＡＥ波形と、
   良品が得られた成形加工時に計測されたＡＥ波形及び前記被成形素材を成形加工する際のクッション圧とに基づいて決定されたＡＥ波形の評価基準とを、
   比較することにより、プレス不良発生の有無を評価することを特徴とする、
   ＡＥ評価方法。
   
   

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