JP2016510944A - 固体電解コンデンサー及び固体電解コンデンサーを製造する方法 - Google Patents
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本願は、2010年9月21日に出願され、期間が満了している米国特許仮出願第61/384,785号の優先権を主張して2011年9月21日に出願された係属中の米国特許出願第13/238,037号の一部継続(Continuation-ln-Part)出願であり、これら双方の出願の内容は引用することにより本明細書の一部をなす。また、本願は2013年2月19日に出願された米国仮特許出願第61/766,454号の優先権も主張し、この仮出願の内容は引用することにより本明細書の一部をなす。
誘電体上に導電性シード層を適用することと、
導電性シード層と導電性ノードとの間に導電性ブリッジを形成することと、
陽極に電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであって、それにより導電性シード層上にモノマーの導電ポリマーを形成することと、
導電ポリマーと電気的に接触する金属層を電気めっきすることと、
導電性シード層と導電性ノードとの間の導電性ブリッジを分断することと、
を含む。
誘電体上に絶縁体を形成することと、
誘電体上に導電性シード層を適用することと、
導電性シード層と導電性ノードとの間に導電性ブリッジを形成することと、
陽極に電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであって、それにより導電性シード層上にモノマーの導電ポリマーを形成することと、
好ましくは電気めっきによって、導電ポリマーと電気的に接触する金属層を形成することと、
導電性シード層と導電性ノードとの間の導電性を分断することと、
を含む。
プロセスキャリアに取り付けられた陽極を提供することであって、陽極は陽極の上に誘電体を備えることと、
誘電体上に導電性シード層を適用することと、
導電性シード層とプロセスキャリアとの間に導電性ブリッジを形成することと、
プロセスキャリアに電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであって、それにより導電性シード層上にモノマーの導電ポリマーを形成することと、
好ましくは電気めっきによって、導電ポリマーと電気的に接触する金属層を形成することと、
導電性シード層とプロセスキャリアとの間の導電性ブリッジを分断することと、
を含む。
誘電体をその上に備える陽極を準備することと、
誘電体上に導電性シード層を適用することと、
導電性シード層と外部電気的コンタクトとの間に導電性ブリッジを形成することと、
外部電気的コンタクトに電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであり、それによって、導電性シード層上にモノマーの導電ポリマーを形成することと、
導電ポリマーと電気的に接触する金属層を電気化学的に形成することと、
導電性シード層と外部電気的コンタクトとの間の導電性ブリッジの接続を分断することと、
を含む。
誘電体をその上に有する陽極と、陽極と電気的に接触する導電性ノードとを準備することと、
導電性ノードとアクティブ陰極領域との間の導電性経路を形成することであり、そのアクティブ陰極領域は誘電体上にあることと、
陽極に電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであり、それによって、アクティブ陰極領域上にモノマーの導電ポリマーを形成することと、
導電ポリマー上に金属めっき層を形成することと、
導電性ノードとアクティブ陰極領域との間の導電性経路を分断することと、
を含む。
Claims (89)
- 陽極を準備することと、
前記陽極上に誘電体を形成することと、
外部電気接続とアクティブ陰極領域との間に導電性ブリッジを形成することであって、前記アクティブ陰極領域は前記誘電体上にあることと、
前記外部電気的接続に電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであって、それにより前記アクティブ陰極領域上に前記モノマーの導電ポリマーを形成することと、
前記導電ポリマーと電気的に接触する金属層を形成することと、
前記外部電気接続と前記アクティブ陰極領域との間の前記導電性ブリッジを分断することと、
を含む、コンデンサーを形成する方法。 - 前記アクティブ陰極領域は少なくとも部分的に導電性シード層によって覆われる、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性シード層は二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項2に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジは導電性シード層を含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記誘電体上に絶縁体を形成することを更に含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジは前記絶縁体の上方に延在する、請求項5に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジはプロセスキャリアへ電気的に接続される、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジを前記分断することはレーザーアブレーションを含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジは二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジを前記分断することは前記導電性ブリッジの導電性を分断することを含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記陽極は弁作用金属と弁作用金属の導電性酸化物とからなる群から選択される、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記陽極はアルミニウムと、タンタルと、ニオブとNbOとからなる群から選択される、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層を前記形成することは前記導電性ブリッジを通して金属を電気めっきすることを含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルと、銅と、金とからなる群から選択される金属を含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルとからなる群から選択される金属を含む、請求項14に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層を形成することに先立って、カーボン含有層を形成することを更に含む、請求項1に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 陽極を準備することであって、該陽極は該陽極上の誘電体と、該陽極と電気的に接触する導電性ノードとを有することと、
前記導電性ノードとアクティブ陰極領域との間に導電性経路を形成することであって、該アクティブ陰極領域は前記誘電体上にあることと、
前記陽極に電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであって、それにより前記アクティブ陰極領域上に前記モノマーの導電ポリマーを形成することと、
前記導電ポリマーと電気的に接触する金属層を電気めっきすることと、
前記導電性ノードと前記アクティブ陰極領域との間の前記導電性経路を分断することと、
を含む、コンデンサーを形成する方法。 - 前記導電性経路は導電性ブリッジである、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記アクティブ陰極領域は少なくとも部分的に導電性シード層によって覆われる、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性シード層は二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項19に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジは前記導電性シード層を含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ブリッジは前記導電性シード層である、請求項21に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記誘電体上に絶縁体を形成することを更に含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性経路は前記絶縁体の上方に延在する、請求項23に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性経路を前記分断することはレーザーアブレーションを含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性経路は二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性経路を前記分断することは前記導電性経路の導電性を分断することを含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記陽極は弁作用金属と弁作用金属の導電性酸化物とからなる群から選択される、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記陽極はアルミニウムと、タンタルと、ニオブとNbOとからなる群から選択される、請求項28に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ノードは前記陽極と前記導電性経路との間の電気的経路である、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ノードは導電性の非弁作用金属である材料を含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ノードは貴金属と、ステンレス鋼と、炭素とから選択される材料を含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記ノードは半導体と導体とから選択される、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記ノードは102ΩΜ以下の抵抗率を有する、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性経路を前記分断することは前記導電性経路の少なくとも一部分を除去すること又は酸化することを含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記除去すること又は酸化することはアブレーションによって行われる、請求項35に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記除去すること又は酸化することはレーザーアブレーションによって行われる、請求項36に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記除去すること又は酸化することは機械的磨耗によって行われる、請求項35に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記除去すること又は酸化することは熱的劣化によって行われる、請求項35に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルと、銅と、金とからなる群から選択される金属を含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルとからなる群から選択される金属を含む、請求項40に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記電気めっきすることに先立って、カーボン含有層を形成することを更に含む、請求項17に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 陽極と、
前記陽極上の誘電体と、
外部電気的接続とアクティブ陰極領域との間の、分断された導電性ブリッジであって、前記アクティブ陰極領域は前記誘電体上にある、導電性ブリッジと、
前記アクティブ陰極領域上の電気化学的ポリマーと、
前記電気化学的ポリマーと電気的に接触するめっき金属層と、
を備えるコンデンサー。 - 前記アクティブ陰極領域は導電性シード層を含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記導電性シード層は二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項44に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは前記導電性シード層を含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは前記導電性シード層である、請求項46に記載のコンデンサー。
- 前記誘電体上の絶縁体を更に含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは前記絶縁体の上方に延在する、請求項48に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジはプロセスキャリアへ電気的に接続される、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジの前記分断はレーザーアブレーションを含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジの前記分断は前記導電性ブリッジの導電性の分断を含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記陽極は弁作用金属と弁作用金属の導電性酸化物とからなる群から選択される、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記陽極はアルミニウムと、タンタルと、ニオブとNbOとからなる群から選択される、請求項54に記載のコンデンサー。
- 前記金属層は銀と、ニッケルと、銅と、金とからなる群から選択される金属を含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 前記金属層は銀と、ニッケルとからなる群から選択される金属を含む、請求項56に記載のコンデンサー。
- 電気化学的ポリマーと前記めっき金属層との間にカーボン含有層を更に含む、請求項43に記載のコンデンサー。
- 陽極と、
前記陽極上の誘電体と、
前記陽極と電気的に接触する導電性ノードと、
前記導電性ノードとアクティブ陰極領域との間の、分断された導電性ブリッジであって、前記アクティブ陰極領域は前記誘電体上にあり、導電ポリマーとめっき金属層とを備える、導電性ブリッジと、
を備えるコンデンサー。 - 前記アクティブ陰極領域は導電性シード層を更に含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記導電性シード層は二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項60に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは導電性シード層を含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記誘電体上の絶縁体を更に含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは前記絶縁体の上方で分断される、請求項63に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは二酸化マンガンと導電性ポリマーとから選択される材料を含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記陽極は弁作用金属と弁作用金属の導電性酸化物とからなる群から選択される材料を含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記陽極はアルミニウムと、タンタルと、ニオブとNbOとからなる群から選択される、請求項66に記載のコンデンサー。
- 前記導電性ブリッジは前記陽極と前記導電性経路との間の、分断された電気的経路である、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記分断された導電性ノードは導電性の非弁作用金属である材料を含む、請求項59に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性ノードは貴金属と、ステンレス鋼と、炭素とから選択される材料を含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記めっき金属層は銀と、ニッケルと、銅と、金とからなる群から選択される金属を含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 前記めっき金属層は銀と、ニッケルとからなる群から選択される金属を含む、請求項71に記載のコンデンサー。
- 前記陰極領域はカーボン含有層を更に含む、請求項59に記載のコンデンサー。
- 陽極を準備することであって、該陽極は該陽極上の誘電体と、該陽極と電気的に接触する導電性ノードとを有することと、
前記誘電体上に絶縁体を形成することと、
前記誘電体上に導電性シード層を適用することと、
前記導電性シード層と前記導電性ノードとの間に導電性ブリッジを形成することと、
前記陽極に電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであって、それにより前記導電性シード層上にモノマーの導電ポリマーを形成することと、
前記導電ポリマーと電気的に接触する金属層を形成することと、
前記導電性シード層と前記導電性ノードとの間の導電性を分断することと、
を含む、コンデンサーを形成する方法。 - 前記金属層を前記形成することは前記導電性ブリッジを通して金属を電気めっきすることを含む、請求項74に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルと、銅と、金とからなる群から選択される金属を含む、請求項74に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルとからなる群から選択される金属を含む、請求項76に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層を前記形成することに先立って、カーボン含有層を形成することを更に含む、請求項74に記載のコンデンサーを形成する方法。
- プロセスキャリアを準備することと、
陽極を前記プロセスキャリアに取り付けることであって、該陽極は該陽極の上に誘電体を備えることと、
前記誘電体上に導電性層を適用することと、
前記導電性層と前記プロセスキャリアとの間に導電性を形成することと、
前記プロセスキャリアに電圧を印加することと、
モノマーを電気化学的に重合することであって、それにより前記導電性層上に前記モノマーの導電ポリマーを形成することと、
前記導電ポリマー上に金属層を形成することと、
前記導電性層と前記プロセスキャリアとの間の前記導電性を分断することと、
を含む、コンデンサーを形成する方法。 - 前記導電性は導電性ブリッジを通る、請求項79に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層を前記形成することは前記導電性ブリッジを通して金属を電気めっきすることを含む、請求項79に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルと、銅と、金とからなる群から選択される金属を含む、請求項79に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層は銀と、ニッケルとからなる群から選択される金属を含む、請求項82に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記金属層を形成することに先立って、カーボン含有層を形成することを更に含む、請求項79に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 陽極を準備することであって、該陽極は該陽極上に誘電体を備えることと、
前記誘電体上に導電性層を適用することと、
前記導電性層と電気的に接触する導電性ブリッジを形成することと、
前記導電性ブリッジと外部電気的コンタクトとの間に導電性を形成することと、
前記外部電気的コンタクトに電圧を印加することと、
前記導電性層上に前記モノマーの導電ポリマーを形成すること、
前記導電ポリマーと電気的に接触するめっき金属層を形成することと、
前記導電性層と前記外部電気的コンタクトとの間の導電性を分断することと、
を含む、コンデンサーを形成する方法。 - 前記導電ポリマーを形成することは電気化学的重合を含む、請求項85に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性層は導電性シード層を含む、請求項85に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記導電性層は導電性ポリマーを含む、請求項85に記載のコンデンサーを形成する方法。
- 前記めっき金属層を前記形成することに先立って、カーボン層を形成することを更に含む、請求項85に記載のコンデンサーを形成する方法。
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