JP2016001695A - 積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体 - Google Patents
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Abstract
【課題】鳴きおよびESLの両方を低減する。【解決手段】歪み抑制部20の中で最も第2主面112側に位置する有効誘電体層133を挟む1対の内部電極140のうちの第1主面111側に位置する内側指標内部電極142xと第2主面112との間の距離t1は、主静電容量部10の中で最も第2主面112側に位置する内部電極142yと内側指標内部電極142xとの間の距離t2以下である。【選択図】図6
Description
本発明は、積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体に関する。
「鳴き(acoustic noise)」と呼ばれる騒音の低減を図った積層コンデンサの実装構造を開示した先行文献として、特開2013−65820号公報(特許文献1)がある。特許文献1に記載された積層コンデンサの実装構造においては、ランドは、基板本体上に設けられ、外部電極のそれぞれと半田により接続されている。ランド電極から半田の頂上までの高さは、ランド電極から回路基板の最も近くに位置するコンデンサ導体が端面から露出している部分までの高さの1.27倍以下である。
ESL(Equivalent Series Inductance)の低減を図った積層セラミックコンデンサを開示した先行文献として、特開2004−342846号公報(特許文献2)がある。特許文献2に記載された積層セラミックコンデンサにおいては、端子電極は、セラミック基体の長手方向の両端面に備えられている。電極膜は、セラミック基体に埋設され、セラミック層を挟んでセラミック基体の厚さ方向に積層されている。隣り合う電極膜の一方は、一端が端子電極の一方に接続され、隣り合う電極膜の他方は、一端が端子電極の他方に接続されている。セラミック基体の厚さ方向において底面から最上層の電極膜までの距離をeとし、底面から最下層の電極膜までの距離をd1としたとき、d1<e≦400μm、かつ、0<d1≦80μmを満たす。
特許文献1に記載された積層コンデンサの実装構造には、等価直列インダクタンス(ESL)の低減の観点から改善の余地がある。特許文献2に記載された積層セラミックコンデンサには、鳴きの低減の観点から改善の余地がある。
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであって、ESLを抑制しつつ、鳴きをさらに低減できる、積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体を提供することを目的とする。
本発明の第1の局面に基づく積層コンデンサは、誘電体層と内部電極とが交互に積層されて構成され、積層方向において互いに反対側に位置する第1主面および第2主面を有する積層体と、積層体の表面の一部に設けられて内部電極と電気的に接続された1対の外部電極とを備える。積層体は、互いに異なる外部電極に接続された1対の内部電極に挟まれた有効誘電体層およびこの1対の内部電極が積層された主静電容量部と、主静電容量部と第2主面とに挟まれて位置する歪み抑制部とを含む。歪み抑制部は、互いに同じ外部電極に接続された1対の内部電極にそれぞれ挟まれた複数の無効誘電体層、少なくとも1つの有効誘電体層およびこの有効誘電体層の各々を挟む複数の内部電極を含むことにより主静電容量部の有効誘電体層の電歪による積層体の歪みを抑制する。複数の無効誘電体層のうちの1つの無効誘電体層は、主静電容量部と隣接して位置している。主静電容量部に含まれる有効誘電体層の数量は、歪み抑制部に含まれる有効誘電体層の数量より多い。主静電容量部は歪み抑制部より厚い。歪み抑制部の中で最も第2主面側に位置する有効誘電体層を挟む1対の内部電極のうちの第1主面側に位置する内側指標内部電極と第2主面との間の距離は、主静電容量部の中で最も第2主面側に位置する内部電極と内側指標内部電極との間の距離以下である。
本発明の一形態においては、歪み抑制部の中で最も第2主面側に位置する有効誘電体層を挟む1対の内部電極のうちの第2主面側に位置する外側指標内部電極と、内側指標内部電極と接続されている方の外部電極との間の最短距離は、外側指標内部電極と内側指標内部電極との間の最短距離より大きい。
本発明の一形態においては、積層体の積層方向において、主静電容量部の中央は積層体の中央より第2主面から離れている。
本発明の一形態においては、積層体は、主静電容量部と第1主面とに挟まれて位置する他の歪み抑制部をさらに含む。他の歪み抑制部は、互いに同じ外部電極に接続された1対の内部電極にそれぞれ挟まれた複数の他の無効誘電体層および少なくとも1つの有効誘電体層を含むことにより有効誘電体層の電歪による積層体の歪みを抑制する。複数の他の無効誘電体層のうちの1つの他の無効誘電体層は、主静電容量部と隣接して位置している。主静電容量部に含まれる有効誘電体層の数量は、他の歪み抑制部に含まれる有効誘電体層の数量より多い。主静電容量部は他の歪み抑制部より厚い。他の歪み抑制部の中で最も第1主面側に位置する有効誘電体層を挟む1対の内部電極のうちの第2主面側に位置する他の内側指標内部電極と第1主面との間の距離は、主静電容量部の中で最も第1主面側に位置する内部電極と他の内側指標内部電極との間の距離以下である。
本発明の一形態においては、他の歪み抑制部の中で最も第1主面側に位置する有効誘電体層を挟む1対の内部電極のうちの第1主面側に位置する他の外側指標内部電極と、他の内側指標内部電極と接続されている方の外部電極との間の最短距離は、他の外側指標内部電極と他の内側指標内部電極との間の最短距離より大きい。
本発明の一形態においては、積層体は、第1主面と第2主面とを結び互いに対向する第1端面および第2端面、第1主面と第2主面とを結ぶとともに第1端面と第2端面とを結んで互いに対向する第1側面および第2側面をさらに有する。第1側面と第2側面との最短距離は、第1端面と第2端面との最短距離未満である。1対の内部電極のうちの一方は、第1端面にて1対の外部電極のうちの一方と接続されている。1対の内部電極のうちの他方は、第2端面にて1対の外部電極のうちの他方と接続されている。
本発明の一形態においては、積層体は、第1主面と第2主面とを結び互いに対向する第1端面および第2端面、第1主面と第2主面とを結ぶとともに第1端面と第2端面とを結んで互いに対向する第1側面および第2側面をさらに有する。第1側面と第2側面との最短距離は、第1端面と第2端面との最短距離未満である。1対の内部電極のうちの一方は、第1側面にて1対の外部電極のうちの一方と接続されている。1対の内部電極のうちの他方は、第2側面にて1対の外部電極のうちの他方と接続されている。
本発明の一形態においては、主静電容量部と隣接して位置する無効誘電体層は、主静電容量部における各々の有効誘電体層より厚い。
本発明の一形態においては、主静電容量部と隣接して位置する他の無効誘電体層は、主静電容量部における各々の有効誘電体層より厚い。
本発明の一形態においては、歪み抑制部に含まれる各々の有効誘電体層当たりの静電容量は、主静電容量部に含まれる各々の有効誘電体層当たりの静電容量より小さい。
本発明の一形態においては、他の歪み抑制部に含まれる各々の有効誘電体層当たりの静電容量は、主静電容量部に含まれる各々の有効誘電体層当たりの静電容量より小さい。
本発明の一形態においては、歪み抑制部に含まれる有効誘電体層をそれぞれ挟む内部電極同士が互いに対向している面積は、主静電容量部に含まれる有効誘電体層をそれぞれ挟む内部電極同士が互いに対向している面積より小さい。
本発明の一形態においては、他の歪み抑制部に含まれる有効誘電体層をそれぞれ挟む内部電極同士が互いに対向している面積は、主静電容量部に含まれる有効誘電体層をそれぞれ挟む内部電極同士が互いに対向している面積より小さい。
本発明の一形態においては、歪み抑制部に含まれる有効誘電体層の誘電率は、主静電容量部に含まれる有効誘電体層の誘電率より小さい。
本発明の一形態においては、他の歪み抑制部に含まれる有効誘電体層の誘電率は、主静電容量部に含まれる有効誘電体層の誘電率より小さい。
本発明の一形態においては、積層体が、第1主面の最も近くに位置する有効誘電体層を挟む内部電極のうちの第1主面側に位置する内部電極と第1主面との間に位置する内部導体をさらに含む。
本発明の一形態においては、積層体が、第2主面の最も近くに位置する有効誘電体層を挟む内部電極のうちの第2主面側に位置する内部電極と第2主面との間に位置する内部導体をさらに含む。
本発明の第2の局面に基づく積層コンデンサ連は、上記のいずれかに記載の複数の積層コンデンサと、複数の積層コンデンサをそれぞれ収納する複数の凹部が間隔を置いて設けられた長尺状のキャリアテープ、および、このキャリアテープに貼り付けられて複数の凹部を塞ぐカバーテープを含む包装体とを備える。複数の積層コンデンサは、第2主面が複数の凹部の底側に位置した状態で複数の凹部内にそれぞれ収納されている。
本発明の第3の局面に基づく積層コンデンサ実装体は、上記のいずれかに記載の積層コンデンサと、積層コンデンサが実装される被実装体とを備える。積層コンデンサは、第2主面が被実装体側に位置した状態で被実装体に実装されている。
本発明によれば、ESLを抑制しつつ、鳴きをさらに低減できる。
以下、本発明の各実施形態に係る積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体について図を参照して説明する。以下の実施形態の説明においては、図中の同一または相当部分には同一符号を付して、その説明は繰り返さない。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサの外観を示す斜視図である。図2は、図1の積層コンデンサをII−II線矢印方向から見た断面図である。図3は、図2の積層コンデンサをIII−III線矢印方向から見た断面図である。図4は、図2の積層コンデンサをIV−IV線矢印方向から見た断面図である。図5は、図2の積層コンデンサの第2主面側の端部を拡大した断面図である。図1においては、後述する、積層体の長手方向L、積層体の幅方向W、および、積層体の厚さ方向Tを図示している。
図1は、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサの外観を示す斜視図である。図2は、図1の積層コンデンサをII−II線矢印方向から見た断面図である。図3は、図2の積層コンデンサをIII−III線矢印方向から見た断面図である。図4は、図2の積層コンデンサをIV−IV線矢印方向から見た断面図である。図5は、図2の積層コンデンサの第2主面側の端部を拡大した断面図である。図1においては、後述する、積層体の長手方向L、積層体の幅方向W、および、積層体の厚さ方向Tを図示している。
図1〜5に示すように、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサ100は、誘電体層130と内部電極140とが交互に積層されて互いに反対側に位置する第1主面111および第2主面112を有する積層体110と、積層体110の表面の一部に設けられて内部電極140と電気的に接続された1対の外部電極120とを備える。
誘電体層130と内部電極140との積層方向は、積層体110の長手方向Lおよび積層体110の幅方向Wに対して直交している。すなわち、誘電体層130と内部電極140との積層方向は、積層体110の厚さ方向Tと平行である。
積層体110は、第1主面111と第2主面112とを結び互いに対向する第1端面115および第2端面116、第1主面111と第2主面112とを結ぶとともに第1端面115と第2端面116とを結んで互いに対向する第1側面113および第2側面114をさらに有する。第1側面113と第2側面114との最短距離は、第1端面115と第2端面116との最短距離未満である。すなわち、積層体110の幅方向Wの寸法は、積層体110の長手方向Lの寸法より小さい。
第1主面111または第2主面112が後述する被実装体1と対向して、積層コンデンサ実装構造体を構成するためには、主面と側面とを区別するために、積層体110の幅方向Wの寸法と厚さ方向Tの寸法とを20%以上異ならせることが好ましい。この場合において、積層体110の幅方向Wの寸法が0.8mm未満の小型の積層コンデンサ1にあっては、静電容量と後述する歪み抑制部20の厚さとの双方を確保するために、積層体110の高さ方向Tの寸法が幅方向Wの寸法よりも大きいことが好ましい。一方、積層体110の幅方向Wの寸法が0.8mm以上の大型の積層コンデンサ1にあっては、積層コンデンサ実装構造体の高さを抑制するために、積層体110の高さ方向Tの寸法が幅方向Wの寸法よりも小さいことが好ましい。積層体110は、直方体状の外形を有するが、角部および稜線部の少なくとも一方に丸みを有していてもよい。
本実施形態においては、1対の外部電極120は、積層体110の長手方向Lの両側に設けられている。具体的には、1対の外部電極120は、積層体110の長手方向Lの第1端面115側に設けられた第1外部電極121、および、積層体110の長手方向Lの第2端面116側に設けられた第2外部電極122により構成されている。
内部電極140は、第1外部電極121に電気的に接続された複数の第1内部電極141、および、第2外部電極122に電気的に接続された複数の第2内部電極142により構成されている。第1内部電極141および第2内部電極142の各々は、平面視にて略矩形状である。第1内部電極141と第2内部電極142とは、後述する有効誘電体層133を間に挟んで互いに対向するように配置されている。
本実施形態においては、複数の第1内部電極141と第1外部電極121とは第1端面115にて接続されている。複数の第2内部電極142と第2外部電極122とは第2端面116にて接続されている。
誘電体層130は、第1主面111を構成する第1外層131、第2主面112を構成する第2外層132、および、互いに異なる外部電極120に接続された1対の内部電極140に挟まれた有効誘電体層133を含む。具体的には、有効誘電体層133は、第1内部電極141と第2内部電極142とに挟まれている。
誘電体層130は、互いに同じ外部電極120に接続された1対の内部電極140に挟まれた無効誘電体層134をさらに含む。具体的には、無効誘電体層134は、第1内部電極141同士または第2内部電極142同士に挟まれている。
積層体110は、有効誘電体層133が連続して繰り返し積層されて主静電容量を発現する主静電容量部10と、主静電容量部10と第2主面112とに挟まれて位置する歪み抑制部20とを含む。
すなわち、主静電容量部10においては、有効誘電体層133、この有効誘電体層133を互いに挟む第1内部電極141および第2内部電極142の3層からなる単位コンデンサが連続して繰り返し積層されている。主静電容量とは、積層コンデンサ100が有する全静電容量の半分より大きい最も大きな静電容量である。
歪み抑制部20は、互いに同じ外部電極120に接続された1対の内部電極140にそれぞれ挟まれた複数の無効誘電体層134、少なくとも1つの有効誘電体層133、この有効誘電体層133を互いに挟む第1内部電極141および第2内部電極142を含む。複数の無効誘電体層134のうちの1つの無効誘電体層134は、主静電容量部10と隣接して位置している。具体的には、複数の無効誘電体層134のうちの1つの無効誘電体層134は、主静電容量部10の第2主面112側に隣接して位置している。
本実施形態においては、歪み抑制部20において、有効誘電体層133と無効誘電体層134とが1層ずつ交互に積層されている。すなわち、歪み抑制部20の少なくとも1つの有効誘電体層133は歪み抑制部20の無効誘電体層134に挟まれており、歪み抑制部20の少なくとも1つの無効誘電体層134は歪み抑制部20の有効誘電体層133に挟まれている。なお、歪み抑制部20においては、たとえば、有効誘電体層133、有効誘電体層133、無効誘電体層134、無効誘電体層134の順に積層されているように、有効誘電体層133および無効誘電体層134の少なくとも一方が2つ連続して積層されていてもよい。
本実施形態においては、積層体110に含まれる全ての有効誘電体層133および全ての無効誘電体層134の厚さは略均一である。図5に示すように、有効誘電体層133および無効誘電体層134の各々の厚さの寸法はtaである。
主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133の数量は、歪み抑制部20に含まれる有効誘電体層133の数量より多い。主静電容量部10は歪み抑制部20より厚い。すなわち、図2に示すように、主静電容量部10の厚さの寸法をt10、歪み抑制部20の厚さの寸法をt20とすると、t10>t20である。
歪み抑制部20の中で最も第2主面112側に位置する有効誘電体層133を挟む1対の内部電極140のうちの第1主面111側に位置する内側指標内部電極142xと第2主面112との間の距離の寸法t1は、主静電容量部10の中で最も第2主面112側に位置する内部電極142yと内側指標内部電極142xとの間の距離の寸法t2以下である。
本実施形態においては、積層体110の積層方向において、主静電容量部10の中央10cは積層体110の中央110cより第2主面112から離れている。すなわち、主静電容量部10は、積層体110の積層方向において、第1主面111側に偏って位置している。
図5に示すように、歪み抑制部20の中で最も第2主面112側に位置する有効誘電体層133を挟む1対の内部電極140のうちの第2主面112側に位置する外側指標内部電極141xと、内側指標内部電極142xと接続されている方の第2外部電極122との間の最短距離の寸法tcは、外側指標内部電極141xと内側指標内部電極142xとの間の最短距離の寸法taより大きい。
以下、積層コンデンサ100の各々の構成について詳細に説明する。
誘電体層130を構成する材料としては、BaTiO3、CaTiO3、SrTiO3またはCaZrO3などを主成分とする誘電体セラミックスを用いることができる。また、これらの主成分に、副成分として、Mn化合物、Mg化合物、Si化合物、Co化合物,Ni化合物または希土類化合物などが添加された誘電体セラミックスを、誘電体層130を構成する材料として用いてもよい。
誘電体層130を構成する材料としては、BaTiO3、CaTiO3、SrTiO3またはCaZrO3などを主成分とする誘電体セラミックスを用いることができる。また、これらの主成分に、副成分として、Mn化合物、Mg化合物、Si化合物、Co化合物,Ni化合物または希土類化合物などが添加された誘電体セラミックスを、誘電体層130を構成する材料として用いてもよい。
内部電極140を構成する材料としては、Ni、Cu、Ag、Pd、Auなどの金属、または、これらの金属の少なくとも1種を含む合金、たとえばAgとPdとの合金などを用いることができる。内部電極140の各々の厚さは、焼成後において0.3μm以上2.0μm以下であることが好ましい。
外部電極120は、積層体110の両端部を覆うように設けられた下地層と、この下地層を覆うように設けられためっき層とを含む。下地層を構成する材料としては、Ni、Cu、Ag、Pd、Auなどの金属、または、これらの金属の少なくとも1種を含む合金、たとえばAgとPdとの合金などを用いることができる。下地層の厚さは、10.0μm以上50.0μm以下であることが好ましい。
下地層としては、積層体110の両端部に導電性ペーストを塗布して焼き付けたもの、または、内部電極140と同時に焼成したものでもよい。それ以外にも、下地層としては、積層体110の両端部にめっきすることにより形成したもの、または、積層体110の両端部に熱硬化性樹脂を含む導電性樹脂を塗布して硬化させたものでもよい。
めっき層を構成する材料としては、Ni、Cu、Ag、Pd、Auなどの金属、または、これらの金属の少なくとも1種を含む合金、たとえばAgとPdとの合金などを用いることができる。
めっき層は、複数の層から構成されていてもよい。この場合、めっき層としては、Niめっき層の上にSnめっき層が形成された2層構造であることが好ましい。Niめっき層は、半田バリア層として機能する。Snめっき層は、半田との濡れ性が良好である。1層当たりのめっき層の厚さは、1.0μm以上10.0μm以下であることが好ましい。
以下、本実施形態に係る積層コンデンサ100の製造方法について説明する。
まず、セラミック粉末を含むセラミックペーストを、スクリーン印刷法などによりシート状に塗布して乾燥させることにより、セラミックグリーンシートを作製する。
まず、セラミック粉末を含むセラミックペーストを、スクリーン印刷法などによりシート状に塗布して乾燥させることにより、セラミックグリーンシートを作製する。
作製した複数のセラミックグリーンシートのうちの一部において、セラミックグリーンシート上に、スクリーン印刷法またはグラビア印刷法などにより内部電極を形成するための導電ペーストを所定のパターンとなるように塗布する。このようにして、内部電極となる導電パターンが形成されたセラミックグリーンシートと、導電パターンが形成されていないセラミックグリーンシートとを用意する。なお、セラミックペーストと、内部電極を形成するための導電ペーストとには、公知のバインダーおよび溶媒が含まれていてもよい。
第1外層131を形成するために導電パターンが形成されていないセラミックグリーンシートを所定枚数積層し、その上に、主静電容量部10を形成するために導電パターンが形成された複数のセラミックグリーンシートを順次積層し、その上に、歪み抑制部20の有効誘電体層133および無効誘電体層134を形成するために導電パターンが形成された複数のセラミックグリーンシートを順次積層し、その上に、第2外層132を形成するために導電パターンが形成されていないセラミックグリーンシートを所定枚数積層することにより、マザー積層体を作製する。その後、静水圧プレスなどの手段により、マザー積層体を積層方向にプレスする。
ここで、第1内部電極141となる導電パターンが形成されたセラミックグリーンシートをAパターン、第2内部電極142となる導電パターンが形成されたセラミックグリーンシートをBパターンとしたときに、AパターンとBパターンとを重ねることにより各導体パターンに挟まれるセラミックグリーンシートは、有効誘電体層133となる。
一方、Aパターン同士またはBパターン同士を重ねることにより各導体パターンに挟まれるセラミックグリーンシートは無効誘電体層134となる。Aパターン、Bパターン、Aパターン、Bパターンの順に、AパターンおよびBパターンを交互に積層することにより、有効誘電体層133が連続して繰り返し積層された主静電容量部10が形成される。一方、Aパターン、Aパターン、Bパターン、Bパターンの順に、AパターンおよびBパターンをそれぞれ2つずつ繰り返し積層することにより、有効誘電体層133と無効誘電体層134とが交互に積層された歪み抑制部20が形成される。
すなわち、導体パターンが形成されたセラミックグリーンシートについてAパターンおよびBパターンのみを用意することで主静電容量部10と歪み抑制部20とを形成することが可能になり、マザー積層体を容易かつ高速に製造することができる。なお、AパターンおよびBパターンは、1種類の導体パターンが形成されたセラミックグリーンシートを積層時に位置をずらすことにより兼用して使用することができる。したがって、1種類の導体パターンが形成されたセラミックグリーンシートでマザー積層体を製造することができる。
次に、マザー積層体を所定の形状にカットして分割することにより、複数の直方体状の軟質積層体を作製する。なお、直方体状の軟質積層体をバレル研磨して、軟質積層体の角部を丸めてもよい。
軟質積層体を焼成することにより硬化させて、積層体110を作製する。焼成温度は、セラミック材料および導電材料の種類に応じて適宜設定され、たとえば、900℃以上1300℃以下の範囲内で設定される。
次に、外部電極形成用の導電ペーストを積層体110の両端部に各種印刷法またはディップ法などにより塗布し、外部電極形成用の導電ペーストを塗布した積層体110を加熱することにより下地層を設ける。外部電極形成用の導電ペーストを塗布した積層体110を加熱する温度は、700℃以上900℃以下であることが好ましい。
次に、下地層上に、めっき法により金属成分を付着させることによってめっき層を設ける。めっき層を設ける方法としては、電解めっき法が好ましい。
下地層を設ける工程およびめっき層を設ける工程により、内部電極140と電気的に接続されるように積層体110の両端部に外部電極120を設けることができる。上記の工程により、本実施形態に係る積層コンデンサ100を作製することができる。
本実施形態に係る積層コンデンサ100においては、歪み抑制部20が、主静電容量部10に隣接して位置して、互いに同じ外部電極120に接続された1対の内部電極140にそれぞれ挟まれた複数の無効誘電体層134および少なくとも1つの有効誘電体層133を含むことにより有効誘電体層133の電歪による積層体110の歪みを抑制する。
具体的には、積層コンデンサ100に交流電圧または交流成分が重畳された直流電圧が印加された場合、有効誘電体層133に電歪が生ずる。交流電圧または交流成分の周期に合わせて電歪が繰り返し発生することにより、有効誘電体層133を振動源とする振動が発生する。最も多くの有効誘電体層133を含む主静電容量部10において、積層体110における最も大きな歪み振動が発生する。
無効誘電体層134においては電歪がほとんど生じないため、歪み抑制部20が無効誘電体層134を含むことにより積層体110の歪みを抑制することができる。無効誘電体層134を主静電容量部10の第2主面112側に位置させることにより、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動の第2主面112側への伝播を無効誘電体層134によって抑制することができる。
歪み抑制部20は、少なくとも1つの有効誘電体層133を含むため、歪み抑制部20においても積層体110の歪み振動が発生する。それでも、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動と、歪み抑制部20において発生した積層体110の歪み振動とは、無効誘電体層134によって分離された互いに離れた位置で発生するため、連続した位置で発生した場合に比べて、積層体110に生ずる歪み振動の振幅の絶対値が小さくなる。
また、本実施形態における歪み抑制部20においては、複数の有効誘電体層133の各々が互いの間に位置する無効誘電体層134によって分離されている。歪み抑制部20に含まれる複数の有効誘電体層133の各々から発生する歪み振動は、互いの間に位置する無効誘電体層134によって拘束され、さらに互いに干渉し合うため、積層体110に生ずる歪みが抑制される。
以下、本実施形態に係る積層コンデンサ100を被実装体に実装した積層コンデンサ実装体について図を参照して説明する。
図6は、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサ実装体の構成を示す断面図である。図6に示すように、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサ実装体100xは、積層コンデンサ100と、積層コンデンサ100が実装される回路基板などの被実装体1とを備える。積層コンデンサ100は、第2主面112が被実装体1側に位置した状態で被実装体1に実装されている。
具体的には、被実装体1は、互いに間隔を置いて位置する第1ランド21および第2ランド22を表面に有する。積層コンデンサ100の第1外部電極121と第1ランド21とは、接合剤である半田31によって電気的に接続されている。積層コンデンサ100の第2外部電極122と第2ランド22とは、接合剤である半田32によって電気的に接続されている。半田31,32は、リフローにより設けられる。なお、接合剤は半田に限られず、外部電極120と第1および第2ランド21,22とを機械的および電気的に接合できる材料であればよい。
積層コンデンサ100における積層体110の歪み振動が、半田31,32を通じて被実装体1に伝播することにより、被実装体1が可聴周波数域である20Hz〜20kHzの周波数で振動した場合、鳴きと呼ばれる可聴音(騒音)が発生する。
積層コンデンサ実装体100xにおいては、積層コンデンサ100にて歪み抑制部20によって積層体110の歪みを抑制することにより、被実装体1に伝播する歪み振動を低減でき、ひいては鳴きを低減できる。
また、積層コンデンサ実装体100xにおいては、第2主面112が被実装体1側に位置した状態で積層コンデンサ100を被実装体1に実装することにより、積層コンデンサ100の主静電容量部10と被実装体1との間に無効誘電体層134を位置させることができるため、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動の第2主面112側への伝播を無効誘電体層134によって抑制することができる。
さらに、積層コンデンサ100にて主静電容量部10が積層体110の積層方向において第1主面111側に偏って位置しているため、積層コンデンサ実装体100xにおいて、第2主面112が被実装体1側に位置した状態で積層コンデンサ100を被実装体1に実装することにより、積層コンデンサ100の主静電容量部10と被実装体1との間の距離を長くすることができる。これにより、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動の伝播経路を長くして、被実装体1に伝播する歪み振動を低減し、ひいては鳴きを低減できる。
なお、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動の被実装体1への伝播を低減するためには、半田31,32が、積層体110の積層方向において、主静電容量部10より下方に位置することが好ましい。すなわち、積層体110の積層方向において、半田31,32の上端が、主静電容量部10の中で最も第2主面112側に位置する内部電極142yより下方に位置することが好ましい。
図6に示すように、積層コンデンサ実装体100xにおいては、積層コンデンサ100の歪み抑制部20が少なくとも1つの有効誘電体層133を含むことにより、被実装体1の第1ランド21および第2ランド22と、半田31,32と、外側指標内部電極141xと、内側指標内部電極142xとを繋ぐ最短経路の回路ループ40が形成されている。この回路ループ40を小さくするほど、積層コンデンサ実装体100xのESLを低減することができる。
鳴きを低減する観点から、積層コンデンサ100の主静電容量部10と被実装体1との間の距離を長くするためには、歪み抑制部20の厚さの寸法t20が大きいことが好ましい。ESLを低減する観点から、回路ループ40を小さくするためには、内側指標内部電極142xと第2主面112との間の距離の寸法t1が小さいことが好ましい。
上記のように、積層コンデンサ100においては、内側指標内部電極142xと第2主面112との間の距離の寸法t1が、主静電容量部10の中で最も第2主面112側に位置する内部電極142yと内側指標内部電極142xとの間の距離の寸法t2以下である。積層コンデンサ実装体100xから生じる騒音の音圧を低下させるためには、上記寸法t1および上記寸法t2の両方とも大きい方が好ましいが、ESLを抑制しつつ鳴きを低減するには、上記寸法t1を大きくするよりも上記寸法t2を大きくすることの方が望ましい。上記寸法t1が小さくなるほど積層コンデンサ実装体100xから生じる騒音は大きくなるが、上記寸法t2が大きくなることによって騒音を小さくする作用が働く。そのため、上記寸法t1を小さくしつつ上記寸法t2を大きくすることによる積層コンデンサ実装体100xから生じる騒音の音圧の変化幅は圧縮され、上記寸法t1を小さくすることによる鳴きに対する影響が緩和される。よって、t1≦t2の関係を満たすことにより、積層コンデンサ実装体のESLを抑制しつつ鳴きをさらに低減できる。これにより、積層コンデンサ実装体100xにおいて、t10>t20の関係を満たす範囲内で回路ループ40を小さくしてESLを低減しつつ、歪み抑制部20の厚さの寸法t20を大きくして鳴きを低減することができる。
ただし、内側指標内部電極142xと第2主面112との間の距離の寸法t1が小さすぎると積層コンデンサ100の信頼性が低下するため、積層コンデンサ100においては、図5に示すように、外側指標内部電極141xと第2外部電極122との間の最短距離の寸法tcが、外側指標内部電極141xと内側指標内部電極142xとの間の最短距離の寸法taより大きいことが好ましい。
その理由は下記のとおりである。積層コンデンサ実装体100xにおいて被実装体1側に位置する第2主面112を覆っている部分の外部電極120は、外部からもたらされる水分を保持しやすい。
積層コンデンサ100に交流電圧または交流成分が重畳された直流電圧が印加された際、外側指標内部電極141xと内側指標内部電極142xとの間、および、外側指標内部電極141xと第2外部電極122との間の両方において電位差が生じる。第2外部電極122が水分を保持している場合、外側指標内部電極141xと第2外部電極122と間の電位差によって短絡が生じやすくなり、積層コンデンサ100の信頼性が低下する。そのため、tc>taの関係を満たすことにより、積層コンデンサ100の信頼性を維持しつつESLを低減することができる。
外側指標内部電極141xと第2外部電極122との間の間隔が狭すぎる場合、その間の誘電体層で電歪が生じて、鳴きが増大するおそれがある。このような観点からも、tc>taの関係を満たすことが好ましい。
本実施形態においては、積層体110は、第1外層131と接して、静電容量の発現に実質的に寄与しない少なくとも1つの内部導体149を含む。この内部導体149は、主静電容量部10の中で最も第1主面111側に位置する内部電極140と同じ外部電極120に接続している。第1外層131と接する内部導体149は、第1外層131の剛性を上げる機能を有し、主静電容量部10の歪みを拘束する。主静電容量部10の歪みを拘束する観点からは、内部導体149は、主静電容量部10の近くに位置することが好ましく、主静電容量部10の中で最も第1主面111側に位置する内部電極140と内部導体149と間の間隔は、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133の厚さと実質的に同じであることが好ましい。
また、本実施形態においては、積層体110は、第2外層132と接して、静電容量の発現に実質的に寄与しない少なくとも1つの内部導体149を含む。この内部導体149は、歪み抑制部20の外側指標内部電極141xと同じ外部電極120に接続している。第2外層132と接する内部導体149は、第2外層132の剛性を上げる機能を有し、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動の第2主面112側(すなわち、被実装体1)への伝播を抑制する。
以下、本実施形態に係る複数の積層コンデンサ100を含む積層コンデンサ連について図を参照して説明する。
図7は、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサ連の構成を示す平面図である。図8は、図7の積層コンデンサ連をVIII−VIII線矢印方向から見た断面図である。
図7,8に示すように、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサ連100sは、複数の積層コンデンサ100と、複数の積層コンデンサ100をそれぞれ収納する複数の凹部5hが間隔を置いて設けられた長尺状のキャリアテープ5、および、キャリアテープ5に貼り付けられて複数の凹部5hを塞ぐカバーテープ6を含む包装体4とを備える。複数の積層コンデンサ100は、第2主面112が複数の凹部5hの底5b側に位置した状態で複数の凹部5h内にそれぞれ収納されている。
積層コンデンサ連100sに含まれる複数の積層コンデンサ100は、包装体4から1つずつ取り出されて被実装体1に実装される。具体的には、キャリアテープ5からカバーテープ6を剥がした状態で、積層コンデンサ100の第1主面111側を吸着して保持することにより、積層コンデンサ100をキャリアテープ5から1つずつ取り出して被実装体1に実装する。その結果、積層コンデンサ100の第2主面112が被実装体1側に位置した状態で、積層コンデンサ100が被実装体1に実装される。
すなわち、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサ連100sを用いることにより、本発明の実施形態1に係る積層コンデンサ実装体100xを容易に製造することができる。
以下、本発明の実施形態2に係る積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体について説明する。なお、以下の実施形態の説明においては、実施形態1に係る積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体と異なる構成のみ説明し、同様である構成については説明を繰り返さない。
(実施形態2)
図9は、本発明の実施形態2に係る積層コンデンサの構成を示す断面図である。図10は、図9の積層コンデンサの第1主面側の端部を拡大した断面図である。なお、図9においては、図2と同一の断面視にて図示している。
図9は、本発明の実施形態2に係る積層コンデンサの構成を示す断面図である。図10は、図9の積層コンデンサの第1主面側の端部を拡大した断面図である。なお、図9においては、図2と同一の断面視にて図示している。
図9,10に示すように、本発明の実施形態2に係る積層コンデンサ100bは、積層体110は、主静電容量部10と第1主面111とに挟まれて位置する他の歪み抑制部20をさらに含む。他の歪み抑制部20は、互いに同じ外部電極120に接続された1対の内部電極140にそれぞれ挟まれた複数の他の無効誘電体層134および少なくとも1つの有効誘電体層133を含む。複数の他の無効誘電体層134のうちの1つの他の無効誘電体層134は、主静電容量部10と隣接して位置している。具体的には、複数の他の無効誘電体層134のうちの1つの他の無効誘電体層134は、主静電容量部10の第1主面111側に隣接して位置している。
本実施形態においては、積層体110に含まれる全ての有効誘電体層133および全ての他の無効誘電体層134の厚さは略均一である。図10に示すように、有効誘電体層133および他の無効誘電体層134の各々の厚さの寸法はtaである。
主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133の数量は、他の歪み抑制部20に含まれる有効誘電体層133の数量より多い。主静電容量部10は他の歪み抑制部20より厚い。すなわち、図9に示すように、主静電容量部10の厚さの寸法をt10、他の歪み抑制部20の厚さの寸法をt20とすると、t10>t20である。
他の歪み抑制部20の中で最も第1主面111側に位置する有効誘電体層133を挟む1対の内部電極140のうちの第2主面112側に位置する他の内側指標内部電極141xと第1主面111との間の距離の寸法t1は、主静電容量部10の中で最も第1主面111側に位置する内部電極141yと他の内側指標内部電極141xとの間の距離の寸法t2以下である。
本実施形態においては、積層体110の積層方向において、主静電容量部10の中央10cは積層体110の中央110cと重なっている。すなわち、主静電容量部10は、積層体110の積層方向において、積層体110の中央に位置している。
図10に示すように、他の歪み抑制部20の中で最も第1主面111側に位置する有効誘電体層133を挟む1対の内部電極140のうちの第1主面111側に位置する他の外側指標内部電極142xと、他の内側指標内部電極141xと接続されている方の第1外部電極121との間の最短距離の寸法tcは、他の外側指標内部電極142xと他の内側指標内部電極141xとの間の最短距離の寸法taより大きい。
本実施形態に係る積層コンデンサ100bにおいては、他の歪み抑制部20が、主静電容量部10に隣接して位置して、互いに同じ外部電極120に接続された1対の内部電極140にそれぞれ挟まれた複数の他の無効誘電体層134および少なくとも1つの有効誘電体層133を含むことにより有効誘電体層133の電歪による積層体110の歪みを抑制する。
具体的には、積層コンデンサ100bに交流電圧または交流成分が重畳された直流電圧が印加された場合、有効誘電体層133に電歪が生ずる。交流電圧または交流成分の周期に合わせて電歪が繰り返し発生することにより、有効誘電体層133を振動源とする振動が発生する。最も多くの有効誘電体層133を含む主静電容量部10において、積層体110における最も大きな歪み振動が発生する。
他の無効誘電体層134においては電歪がほとんど生じないため、他の歪み抑制部20が他の無効誘電体層134を含むことにより積層体110の歪みを抑制することができる。他の無効誘電体層134を主静電容量部10の第1主面111側に位置させることにより、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動の第1主面111側への伝播を他の無効誘電体層134によって抑制することができる。
他の歪み抑制部20は、少なくとも1つの有効誘電体層133を含むため、他の歪み抑制部20においても積層体110の歪み振動が発生する。それでも、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動とは、無効誘電体層134によって分離された互いに離れた位置で発生するため、連続した位置で発生した場合に比べて、積層体110に生ずる歪み振動の振幅の絶対値が小さくなる。
上記のように、本実施形態に係る積層コンデンサ100bにおいては、主静電容量部10において発生した積層体110の歪み振動の第1主面111側への伝播および第2主面112側への伝播の両方を抑制することができる。そのため、積層コンデンサ100bを被実装体1に実装する際には、積層コンデンサ100bの第1主面111および第2主面112のいずれが被実装体1側に位置していてもよい。
積層コンデンサ100bの第2主面112が被実装体1側に位置している場合、他の歪み抑制部20が、主静電容量部10の歪みを拘束する。また、他の歪み抑制部20の内部電極140が他の歪み抑制部20の剛性を上げ、第1外層131と接する内部導体149が第1外層131の剛性を上げることによって、主静電容量部10の歪みを拘束する効果が増大する。さらに、第2外層132と接する内部導体149が第2外層132の剛性を上げることにより、主静電容量部10において発生した積層体110bの歪み振動の被実装体1への伝播を抑制することができる。
逆に、積層コンデンサ100bの第1主面111が被実装体1側に位置している場合、歪み抑制部20が、主静電容量部10の歪みを拘束する。また、他の歪み抑制部20の内部電極140が他の歪み抑制部20の剛性を上げ、第2外層132と接する内部導体149が第2外層132の剛性を上げることによって、主静電容量部10の歪みを拘束する効果が増大する。さらに、第1外層131と接する内部導体149が第1外層131の剛性を上げることにより、主静電容量部10において発生した積層体110bの歪み振動の被実装体1への伝播を抑制することができる。
したがって、本実施形態に係る複数の積層コンデンサ100bを含む積層コンデンサ連においては、複数の凹部5h内にそれぞれ収納された複数の積層コンデンサ100bの各々は、第1主面111および第2主面112のいずれが複数の凹部5hの底5b側に位置していてもよい。
これにより、キャリアテープ5の複数の凹部5h内に複数の積層コンデンサ100bをそれぞれ収納する際に、積層コンデンサ100bの第1主面111と第2主面112とを区別する必要性をなくすことができる。よって、容易に積層コンデンサ連を製造することができる。
本実施形態においては、他の内側指標内部電極141xと第1主面111との間の距離の寸法t1が小さすぎると積層コンデンサ100bの信頼性が低下するため、積層コンデンサ100bにおいては、図10に示すように、他の外側指標内部電極142xと第1外部電極121との間の最短距離の寸法tcが、他の外側指標内部電極142xと他の内側指標内部電極141xとの間の最短距離の寸法taより大きいことが好ましい。
その理由は下記のとおりである。積層コンデンサ実装体において被実装体1側に第1主面111が位置している場合、第1主面111を覆っている部分の外部電極120は、外部からもたらされる水分を保持しやすい。
積層コンデンサ100bに交流電圧または交流成分が重畳された直流電圧が印加された際、他の外側指標内部電極142xと他の内側指標内部電極141xとの間、および、他の外側指標内部電極142xと第1外部電極121との間の両方において電位差が生じる。第1外部電極121が水分を保持している場合、他の外側指標内部電極142xと第1外部電極121と間の電位差によって短絡が生じやすくなり、積層コンデンサ100bの信頼性が低下する。そのため、tc>taの関係を満たすことにより、積層コンデンサ100bの信頼性を維持しつつESLを低減することができる。
以下、本発明の実施形態3に係る積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体について説明する。
(実施形態3)
図11は、本発明の実施形態3に係る積層コンデンサの構成を示す断面図である。なお、図11においては、図2と同一の断面視にて図示している。
図11は、本発明の実施形態3に係る積層コンデンサの構成を示す断面図である。なお、図11においては、図2と同一の断面視にて図示している。
図11に示すように、本発明の実施形態3に係る積層コンデンサ100cにおいては、主静電容量部10と隣接して位置する無効誘電体層134は、主静電容量部10における各々の有効誘電体層133より厚い。各々の有効誘電体層133の厚さの寸法をta、主静電容量部10と隣接して位置する無効誘電体層134の厚さの寸法をtbとすると、tb>2taである。
主静電容量部10と隣接して位置する無効誘電体層134の厚さの寸法tbが大きいほど、積層体110の歪みを抑制する効果が大きくなる。よって、tb>2taを満たすことにより、鳴きを効果的に低減することができる。
さらに、主静電容量部10と隣接して位置する無効誘電体層134の厚さの寸法tbが、内側指標内部電極142xと第2主面112との間の距離の寸法t1より大きいことが好ましい。内側指標内部電極142xと第2主面112との間の距離の寸法t1が小さいほど、ESLを低減する効果が大きくなる。よって、tb>t1の関係を満たすことにより、鳴きおよびESLを効果的に低減することができる。
なお、実施形態2に係る積層コンデンサ100bに本実施形態を適用した場合には、主静電容量部10と隣接して位置する他の無効誘電体層134は、主静電容量部10における各々の有効誘電体層133より厚い。
具体的には、主静電容量部10と隣接して位置する他の無効誘電体層134は、主静電容量部10における各々の有効誘電体層133より厚い。各々の有効誘電体層133の厚さの寸法をta、主静電容量部10と隣接して位置する他の無効誘電体層134の厚さの寸法をtbとすると、tb>2taである。
以下、本発明の実施形態4に係る積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体について説明する。
(実施形態4)
図12は、本発明の実施形態4に係る積層コンデンサの構成を示す断面図である。図13は、図12の積層コンデンサをXIII−XIII線矢印方向から見た断面図である。図14は、図12の積層コンデンサをXIV−XIV線矢印方向から見た断面図である。
図12は、本発明の実施形態4に係る積層コンデンサの構成を示す断面図である。図13は、図12の積層コンデンサをXIII−XIII線矢印方向から見た断面図である。図14は、図12の積層コンデンサをXIV−XIV線矢印方向から見た断面図である。
図12〜14に示すように、本発明の実施形態4に係る積層コンデンサ100dにおいては、歪み抑制部20に含まれる各々の有効誘電体層133当たりの静電容量は、主静電容量部10に含まれる各々の有効誘電体層133当たりの静電容量より小さい。すなわち、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量は、主静電容量部10の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量より小さい。
本実施形態においては、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量は、主静電容量部10の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量の80%以下である。
ここで、コンデンサの静電容量Cは、有効誘電体層133の誘電率をε、内部電極140同士が互いに対向している面積をs、および、内部電極140同士の間隔をdとすると、C=εs/dを満たす。
上記の式からも分かるとおり、コンデンサの静電容量Cを変更するためには、有効誘電体層133の誘電率ε、内部電極140同士が互いに対向している面積s、および、内部電極140同士の間隔dのいずれかを変更すればよい。
本実施形態においては、内部電極140同士が互いに対向している面積sを変更している。具体的には、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量を、主静電容量部10の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量より小さくするために、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している面積を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している面積の80%以下としている。
さらに具体的には、図12に示すように、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している長さの寸法を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している長さの寸法より小さくしつつ、図3,4,13,14に示すように、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している幅の寸法を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している幅の寸法より小さくしている。
また、内部電極140同士が互いに対向している面積sを変更する代わりに、内部電極140同士の間隔dを変更してもよい。具体的には、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量を、主静電容量部10の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量より小さくするために、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士の間隔の寸法を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士の間隔の寸法の125%以上としてもよい。
さらに、内部電極140同士が互いに対向している面積sを変更する代わりに、有効誘電体層133の誘電率εを変更してもよい。具体的には、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量を、主静電容量部10の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量より小さくするために、歪み抑制部20に含まれる有効誘電体層133の誘電率を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133の誘電率の80%以下としてもよい。
上記のように、歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量を、主静電容量部10の有効誘電体層133をそれぞれ含む単位コンデンサの静電容量より小さくすることにより、歪み抑制部20において発生する積層体110の歪み振動を低減することができる。これにより、被実装体1に伝播する歪み振動を低減でき、ひいては鳴きを低減できる。
なお、実施形態2に係る積層コンデンサ100bに本実施形態を適用した場合には、他の歪み抑制部20に含まれる各々の有効誘電体層133当たりの静電容量は、主静電容量部10に含まれる各々の有効誘電体層133当たりの静電容量より小さい。
具体的には、他の歪み抑制部20に含まれる有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している面積を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士が互いに対向している面積の80%以下とする。または、他の歪み抑制部20の有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士の間隔の寸法を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133をそれぞれ挟む内部電極140同士の間隔の寸法の125%以上とする。または、他の歪み抑制部20に含まれる有効誘電体層133の誘電率を、主静電容量部10に含まれる有効誘電体層133の誘電率の80%以下とする。
以下、本発明の実施形態5に係る積層コンデンサ、これを含む積層コンデンサ連および積層コンデンサ実装体について説明する。
(実施形態5)
図15は、本発明の実施形態5に係る積層コンデンサの外観を示す斜視図である。図16は、本発明の実施形態5に係る積層コンデンサ実装体の構成を図15のXVI−XVI線矢印方向から見た示す断面図である。
図15は、本発明の実施形態5に係る積層コンデンサの外観を示す斜視図である。図16は、本発明の実施形態5に係る積層コンデンサ実装体の構成を図15のXVI−XVI線矢印方向から見た示す断面図である。
図15,16に示すように、本発明の実施形態5に係る積層コンデンサ100eにおいては、1対の外部電極120は、積層体110の幅方向Wの両側に設けられている。具体的には、1対の外部電極120は、積層体110の幅方向Wの第1側面113側に設けられた第1外部電極121、および、積層体110の幅方向Wの第2側面114側に設けられた第2外部電極122により構成されている。
内部電極140は、第1外部電極121に電気的に接続された複数の第1内部電極141、および、第2外部電極122に電気的に接続された複数の第2内部電極142により構成されている。第1内部電極141および第2内部電極142の各々は、平面視にて略矩形状である。第1内部電極141と第2内部電極142とは、有効誘電体層133を間に挟んで互いに対向するように配置されている。
本実施形態においては、複数の第1内部電極141と第1外部電極121とは第1側面113にて接続されている。複数の第2内部電極142と第2外部電極122とは第2側面114にて接続されている。
その結果、本発明の実施形態5に係る積層コンデンサ実装体100yにおいては、実施形態1に係る積層コンデンサ実装体100xに比較して、第1外部電極121と第2外部電極122との間隔が短くなる。それに従い、被実装体1において、第1ランド21と第2ランド22との間隔が短くなる。
積層コンデンサ100eにおける積層体110の歪み振動が被実装体1に伝播することにより被実装体1が振動する際、被実装体1は第1ランド21と第2ランド22との間にて伸縮を繰り返す。そのため、第1ランド21と第2ランド22との間隔を短くすることにより、被実装体1の伸縮長さを短くできるため、被実装体1の振動を抑制でき、ひいては鳴きを低減できる。
また、第1ランド21と第2ランド22との間隔を短くすることにより、被実装体1の第1ランド21および第2ランド22と、半田31,32と、外側指標内部電極141xと、内側指標内部電極142xとを繋ぐ最短経路の回路ループ40を小さくできる。そのため、本実施形態に係る積層コンデンサ実装体100yは、実施形態1に係る積層コンデンサ実装体100xに比較して、ESLをさらに低減することができる。
以下、積層コンデンサの内部の厚さおよび距離の測定方法について説明する。
まず、積層コンデンサを樹脂埋めする。樹脂埋めした積層コンデンサを研磨することにより、積層体の中心を通りかつ積層体の側面に平行なLT断面を露出させる。露出させたLT断面に対してイオンミリングを行ない、研磨によるダレを除去する。その後、露出したLT断面を走査型電子顕微鏡で観察する。
まず、積層コンデンサを樹脂埋めする。樹脂埋めした積層コンデンサを研磨することにより、積層体の中心を通りかつ積層体の側面に平行なLT断面を露出させる。露出させたLT断面に対してイオンミリングを行ない、研磨によるダレを除去する。その後、露出したLT断面を走査型電子顕微鏡で観察する。
図17は、積層コンデンサのLT断面を走査型電子顕微鏡で観察した拡大像の一例を示す図である。図17においては、積層コンデンサにて樹脂9と接している第2主面112側の一部を図示している。
積層コンデンサの内部の厚さまたは距離を測定する際には、まず、図17に示すように、積層コンデンサのLT断面を走査型電子顕微鏡で観察した拡大像において、積層体の積層方向に延びてかつ積層体の長手方向Lの中央を通る直線Lcを引く。次に、直線Lcと平行な複数の直線を等間隔(ピッチS)に引く。ピッチSは、測定しようとする厚さまたは距離の5倍〜10倍程度で決めればよく、たとえば、厚さが1μmの誘電体層を測る場合には、ピッチS=5μmとする。また、直線Lcの両側に同じ本数の直線を引く。すなわち、直線Lcを合わせて奇数本の直線を引く。図17においては、直線La〜直線Leまでの5本の直線を図示している。
次に、直線La〜直線Leの各直線上において、厚さまたは距離を測定する。ただし、直線La〜直線Leの各直線上において、内部電極が欠損して、この内部電極を挟む誘電体層同士が繋がっている場合、または、測定位置の拡大像が不明瞭である場合は、さらに直線Lcから離れた直線上において、厚さまたは距離を測定する。
たとえば、有効誘電体層133の厚さを測定する際には、図17に示すように、直線La上の厚さD1、直線Lb上の厚さD2、直線Lc上の厚さD3、直線Ld上の厚さD4、および、直線Le上の厚さD5を測定し、これらの平均値を有効誘電体層133の厚さとする。
同様に、第2外層132の厚さを測定する際には、図17に示すように、直線La上の厚さE1、直線Lb上の厚さE2、直線Lc上の厚さE3、直線Ld上の厚さE4、および、直線Le上の厚さE5を測定し、これらの平均値を第2外層132の厚さとする。
たとえば、主静電容量部10の複数の有効誘電体層133の平均厚さを算出する際には、主静電容量部10の厚さ方向Tの略中央に位置する有効誘電体層133とその両側にそれぞれ位置する2層ずつの有効誘電体層133とを合わせた5層の有効誘電体層133の各々について上記の方法により厚さを測定し、その平均値を主静電容量部10の複数の有効誘電体層133の平均厚さとする。
なお、有効誘電体層133の積層数が5層未満である場合には、全ての有効誘電体層133について上記の方法により厚さを測定し、その平均値を複数の有効誘電体層133の平均厚さとする。
たとえば、第2主面112から内側指標内部電極142xまでの距離を測定する際には、図17に示すように、直線La上の距離L1、直線Lb上の距離L2、直線Lc上の距離L3、直線Ld上の距離L4、および、直線Le上の距離L5を測定し、これらの平均値を第2主面112から内側指標内部電極142xまでの距離とする。
今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 被実装体、4 包装体、5 キャリアテープ、5b 底、5h 凹部、6 カバーテープ、9 樹脂、10 主静電容量部、20 歪み抑制部、21 第1ランド、22 第2ランド、31,32 半田、40 回路ループ、100,100b,100c,100d,100e 積層コンデンサ、100s 積層コンデンサ連、100x,100y 積層コンデンサ実装体、110 積層体、111 第1主面、112 第2主面、113 第1側面、114 第2側面、115 第1端面、116 第2端面、120 外部電極、121 第1外部電極、122 第2外部電極、130 誘電体層、131 第1外層、132 第2外層、133 有効誘電体層、134 無効誘電体層、140,141y,142y 内部電極、141 第1内部電極、141x 外側指標内部電極,他の内側指標内部電極、142x 内側指標内部電極,他の外側指標内部電極、142 第2内部電極、149 内部導体。
Claims (19)
- 誘電体層と内部電極とが交互に積層されて構成され、積層方向において互いに反対側に位置する第1主面および第2主面を有する積層体と、
前記積層体の表面の一部に設けられて前記内部電極と電気的に接続された1対の外部電極とを備え、
前記積層体は、
互いに異なる前記外部電極に接続された1対の内部電極に挟まれた有効誘電体層および該1対の内部電極が積層された主静電容量を発現する主静電容量部と、
前記主静電容量部と前記第2主面とに挟まれて位置する歪み抑制部とを含み、
前記歪み抑制部は、互いに同じ前記外部電極に接続された1対の内部電極にそれぞれ挟まれた複数の無効誘電体層、少なくとも1つの有効誘電体層および該有効誘電体層の各々を挟む複数の内部電極を含むことにより前記主静電容量部の前記有効誘電体層の電歪による前記積層体の歪みを抑制し、
前記複数の無効誘電体層のうちの1つの無効誘電体層は、前記主静電容量部と隣接して位置し、
前記主静電容量部に含まれる前記有効誘電体層の数量は、前記歪み抑制部に含まれる前記有効誘電体層の数量より多く、
前記主静電容量部は前記歪み抑制部より厚く、
前記歪み抑制部の中で最も第2主面側に位置する前記有効誘電体層を挟む前記1対の内部電極のうちの第1主面側に位置する内側指標内部電極と前記第2主面との間の距離は、前記主静電容量部の中で最も第2主面側に位置する前記内部電極と前記内側指標内部電極との間の距離以下である、積層コンデンサ。 - 前記歪み抑制部の中で最も第2主面側に位置する前記有効誘電体層を挟む前記1対の内部電極のうちの第2主面側に位置する外側指標内部電極と、前記内側指標内部電極と接続されている方の前記外部電極との間の最短距離は、前記外側指標内部電極と前記内側指標内部電極との間の最短距離より大きい、請求項1に記載の積層コンデンサ。
- 前記積層体の積層方向において、前記主静電容量部の中央は前記積層体の中央より前記第2主面から離れている、請求項1または請求項2に記載の積層コンデンサ。
- 前記積層体は、前記主静電容量部と前記第1主面とに挟まれて位置する他の歪み抑制部をさらに含み、
前記他の歪み抑制部は、互いに同じ前記外部電極に接続された1対の内部電極にそれぞれ挟まれた複数の他の無効誘電体層および少なくとも1つの前記有効誘電体層を含むことにより前記有効誘電体層の電歪による前記積層体の歪みを抑制し、
前記複数の他の無効誘電体層のうちの1つの他の無効誘電体層は、前記主静電容量部と隣接して位置し、
前記主静電容量部に含まれる前記有効誘電体層の数量は、前記他の歪み抑制部に含まれる前記有効誘電体層の数量より多く、
前記主静電容量部は前記他の歪み抑制部より厚く、
前記他の歪み抑制部の中で最も第1主面側に位置する前記有効誘電体層を挟む前記1対の内部電極のうちの第2主面側に位置する他の内側指標内部電極と前記第1主面との間の距離は、前記主静電容量部の中で最も第1主面側に位置する前記内部電極と前記他の内側指標内部電極との間の距離以下である、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の積層コンデンサ。 - 前記他の歪み抑制部の中で最も第1主面側に位置する前記有効誘電体層を挟む前記1対の内部電極のうちの第1主面側に位置する他の外側指標内部電極と、前記他の内側指標内部電極と接続されている方の前記外部電極との間の最短距離は、前記他の外側指標内部電極と前記他の内側指標内部電極との間の最短距離より大きい、請求項4に記載の積層コンデンサ。
- 前記積層体は、前記第1主面と前記第2主面とを結び互いに対向する第1端面および第2端面、前記第1主面と前記第2主面とを結ぶとともに前記第1端面と前記第2端面とを結んで互いに対向する第1側面および第2側面をさらに有し、
前記第1側面と前記第2側面との最短距離は、前記第1端面と前記第2端面との最短距離未満であり、
前記1対の内部電極のうちの一方は、前記第1端面にて前記1対の外部電極のうちの一方と接続され、
前記1対の内部電極のうちの他方は、前記第2端面にて前記1対の外部電極のうちの他方と接続されている、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の積層コンデンサ。 - 前記積層体は、前記第1主面と前記第2主面とを結び互いに対向する第1端面および第2端面、前記第1主面と前記第2主面とを結ぶとともに前記第1端面と前記第2端面とを結んで互いに対向する第1側面および第2側面をさらに有し、
前記第1側面と前記第2側面との最短距離は、前記第1端面と前記第2端面との最短距離未満であり、
前記1対の内部電極のうちの一方は、前記第1側面にて前記1対の外部電極のうちの一方と接続され、
前記1対の内部電極のうちの他方は、前記第2側面にて前記1対の外部電極のうちの他方と接続されている、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の積層コンデンサ。 - 前記主静電容量部と隣接して位置する前記無効誘電体層は、前記主静電容量部における各々の前記有効誘電体層より厚い、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の積層コンデンサ。
- 前記主静電容量部と隣接して位置する前記他の無効誘電体層は、前記主静電容量部における各々の前記有効誘電体層より厚い、請求項4または請求項5に記載の積層コンデンサ。
- 前記歪み抑制部に含まれる各々の前記有効誘電体層当たりの静電容量は、前記主静電容量部に含まれる各々の前記有効誘電体層当たりの静電容量より小さい、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の積層コンデンサ。
- 前記他の歪み抑制部に含まれる各々の前記有効誘電体層当たりの静電容量は、前記主静電容量部に含まれる各々の前記有効誘電体層当たりの静電容量より小さい、請求項4または請求項5に記載の積層コンデンサ。
- 前記歪み抑制部に含まれる前記有効誘電体層をそれぞれ挟む前記内部電極同士が互いに対向している面積は、前記主静電容量部に含まれる前記有効誘電体層をそれぞれ挟む前記内部電極同士が互いに対向している面積より小さい、請求項10に記載の積層コンデンサ。
- 前記他の歪み抑制部に含まれる前記有効誘電体層をそれぞれ挟む前記内部電極同士が互いに対向している面積は、前記主静電容量部に含まれる前記有効誘電体層をそれぞれ挟む前記内部電極同士が互いに対向している面積より小さい、請求項11に記載の積層コンデンサ。
- 前記歪み抑制部に含まれる前記有効誘電体層の誘電率は、前記主静電容量部に含まれる前記有効誘電体層の誘電率より小さい、請求項10に記載の積層コンデンサ。
- 前記他の歪み抑制部に含まれる前記有効誘電体層の誘電率は、前記主静電容量部に含まれる前記有効誘電体層の誘電率より小さい、請求項11に記載の積層コンデンサ。
- 前記積層体が、前記第1主面の最も近くに位置する前記有効誘電体層を挟む前記内部電極のうちの第1主面側に位置する内部電極と前記第1主面との間に位置する内部導体をさらに含む、請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の積層コンデンサ。
- 前記積層体が、前記第2主面の最も近くに位置する前記有効誘電体層を挟む前記内部電極のうちの第2主面側に位置する内部電極と前記第2主面との間に位置する内部導体をさらに含む、請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の積層コンデンサ。
- 請求項1から請求項17のいずれか1項に記載の複数の積層コンデンサと、
前記複数の積層コンデンサをそれぞれ収納する複数の凹部が間隔を置いて設けられた長尺状のキャリアテープ、および、該キャリアテープに貼り付けられて前記複数の凹部を塞ぐカバーテープを含む包装体とを備え、
前記複数の積層コンデンサは、前記第2主面が前記複数の凹部の底側に位置した状態で前記複数の凹部内にそれぞれ収納されている、積層コンデンサ連。 - 請求項1から請求項17のいずれか1項に記載の積層コンデンサと、
前記積層コンデンサが実装される被実装体とを備え、
前記積層コンデンサは、前記第2主面が被実装体側に位置した状態で前記被実装体に実装されている、積層コンデンサ実装体。
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CN (1) | CN105280378B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020077842A (ja) * | 2018-11-07 | 2020-05-21 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミック電子部品 |
JP2020166965A (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-08 | 太陽誘電株式会社 | 全固体電池 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6265114B2 (ja) * | 2014-11-28 | 2018-01-24 | 株式会社村田製作所 | 積層コンデンサおよびその製造方法 |
JP6522549B2 (ja) | 2016-06-07 | 2019-05-29 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
JP2018006627A (ja) * | 2016-07-05 | 2018-01-11 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
JP2019083254A (ja) * | 2017-10-30 | 2019-05-30 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
KR20200083023A (ko) * | 2018-12-31 | 2020-07-08 | 삼성전자주식회사 | 주파수 부스터에 기반하여 음향 잡음을 제거하는 전자장치 |
CN115335933A (zh) * | 2020-03-19 | 2022-11-11 | 罗姆股份有限公司 | 层叠型电容器 |
CN115359982B (zh) * | 2022-09-15 | 2023-11-14 | 深圳市韬略科技有限公司 | 一种叠片式静电抑制器及封装方法 |
CN115475797B (zh) * | 2022-09-30 | 2024-04-05 | 肇庆绿宝石电子科技股份有限公司 | 一种叠层电容器及其制造方法、载条清洗液及制备方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007042743A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Tdk Corp | 積層電子部品 |
WO2007080852A1 (ja) * | 2006-01-13 | 2007-07-19 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層コンデンサ |
JP2013251523A (ja) * | 2012-05-30 | 2013-12-12 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 |
JP2014096555A (ja) * | 2012-11-09 | 2014-05-22 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミックキャパシタ、積層セラミックキャパシタの回路基板実装構造及び積層セラミックキャパシタの包装体 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003051423A (ja) * | 2001-08-03 | 2003-02-21 | Tdk Corp | 電子部品 |
US7576968B2 (en) | 2002-04-15 | 2009-08-18 | Avx Corporation | Plated terminations and method of forming using electrolytic plating |
US7307829B1 (en) * | 2002-05-17 | 2007-12-11 | Daniel Devoe | Integrated broadband ceramic capacitor array |
JP2004342846A (ja) | 2003-05-15 | 2004-12-02 | Tdk Corp | 積層セラミックコンデンサ |
JP4270395B2 (ja) | 2005-03-28 | 2009-05-27 | Tdk株式会社 | 積層セラミック電子部品 |
US8446705B2 (en) | 2008-08-18 | 2013-05-21 | Avx Corporation | Ultra broadband capacitor |
JP4905498B2 (ja) | 2009-04-22 | 2012-03-28 | 株式会社村田製作所 | 積層型セラミック電子部品 |
JP2011108966A (ja) * | 2009-11-20 | 2011-06-02 | Murata Mfg Co Ltd | 積層電子部品 |
KR101079464B1 (ko) * | 2009-12-22 | 2011-11-03 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 |
JP5276137B2 (ja) * | 2011-04-13 | 2013-08-28 | 太陽誘電株式会社 | 積層型コンデンサ |
JP5884653B2 (ja) | 2011-09-01 | 2016-03-15 | 株式会社村田製作所 | 実装構造 |
JP2014027255A (ja) * | 2012-06-22 | 2014-02-06 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品及びセラミック電子装置 |
JP5874682B2 (ja) | 2012-08-09 | 2016-03-02 | 株式会社村田製作所 | コンデンサ部品及びコンデンサ部品実装構造体 |
JP2014042743A (ja) | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Sammy Corp | スロットマシン |
JP5811152B2 (ja) * | 2012-11-05 | 2015-11-11 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミック電子部品、その製造方法、テーピング電子部品連、その製造方法、および積層セラミック電子部品の方向識別方法 |
KR101452049B1 (ko) * | 2012-11-09 | 2014-10-22 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터, 적층 세라믹 커패시터의 회로 기판 실장 구조 및 적층 세라믹 커패시터의 포장체 |
KR101412940B1 (ko) * | 2013-03-29 | 2014-06-26 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판 |
-
2014
- 2014-06-12 JP JP2014121606A patent/JP2016001695A/ja active Pending
-
2015
- 2015-05-19 KR KR1020150069491A patent/KR101696287B1/ko active IP Right Grant
- 2015-06-03 US US14/729,239 patent/US9653214B2/en active Active
- 2015-06-09 CN CN201510312409.1A patent/CN105280378B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007042743A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Tdk Corp | 積層電子部品 |
WO2007080852A1 (ja) * | 2006-01-13 | 2007-07-19 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層コンデンサ |
JP2013251523A (ja) * | 2012-05-30 | 2013-12-12 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 |
JP2014096555A (ja) * | 2012-11-09 | 2014-05-22 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミックキャパシタ、積層セラミックキャパシタの回路基板実装構造及び積層セラミックキャパシタの包装体 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020077842A (ja) * | 2018-11-07 | 2020-05-21 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミック電子部品 |
JP7239241B2 (ja) | 2018-11-07 | 2023-03-14 | サムソン エレクトロ-メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミック電子部品 |
JP2020166965A (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-08 | 太陽誘電株式会社 | 全固体電池 |
JP7290978B2 (ja) | 2019-03-28 | 2023-06-14 | 太陽誘電株式会社 | 全固体電池 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105280378A (zh) | 2016-01-27 |
US20150364258A1 (en) | 2015-12-17 |
KR101696287B1 (ko) | 2017-01-13 |
CN105280378B (zh) | 2018-05-22 |
US9653214B2 (en) | 2017-05-16 |
KR20150142592A (ko) | 2015-12-22 |
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