JP2015219061A - 磁界検出センサ及びそれを用いた磁界検出装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】環境温度の変動による検出精度の低下を防ぎ、製造時の位置ずれや製品の小型化を見据えた形態で微小な磁界の検出が可能な磁界検出センサを提供する。【解決手段】検出磁界の向きに応じて抵抗値が変化する複数の磁気抵抗効果素子10,20,30,40が接続され、所定の接続点間の差動電圧を出力可能なように構成されたブリッジ回路と、ブリッジ回路の中心付近に、検出磁界を集磁するとともに磁界の向きを変化させる磁性体と、磁気抵抗効果素子に検出磁界の向きとは逆方向となる磁界を与える磁界発生導体100と、ブリッジ回路の差動電圧が入力され、磁界発生導体に検出磁界の向きとは逆方向となる磁界を発生させる帰還電流を磁界発生導体に流すための差動演算回路と、帰還電流を電圧値として出力するための電圧変換回路と、を備え、磁界発生導体と磁気抵抗効果素子が同じ積層体1内に形成されている。【選択図】図2

Description

本発明は、磁気抵抗効果素子を用いた微小な磁界を検出する磁界検出センサに関する。
昨今、生体磁場測定、探傷測定や非破壊検査など微弱磁界を測定するニーズが高まっている。
微小な磁界の測定では、検出対象の磁界を効率よく磁気抵抗効果素子の感磁方向に取り込むことが重要であり、また環境温度の変動により当該磁気抵抗効果素子の抵抗変化率が変動し、磁界検出センサの出力が変動する、いわゆる温度ドリフトが問題となってくる。
また、製造コストの削減やセンサの小型化など、一般的な課題も存在する。
特許文献1(特開2009−276159号公報)によれば、入力される磁界の向きに応じて出力する抵抗値が変化する複数の磁気抵抗効果素子が接続され、所定の接続点間の差動電圧を検出可能なよう構成されたブリッジ回路を備えている。そして、上記磁気抵抗効果素子は、当該磁気抵抗効果素子の磁化固定方向が全て同一方向を向いて配置されている。さらに、上記ブリッジ回路の周囲に、磁気抵抗効果素子に入力される磁界の向きを変化させる磁性体を配置している。
具体的には、上記ブリッジ回路が、4つの前記磁気抵抗効果素子を備えると共に、当該ブリッジ回路にて相互に隣り合って接続されていない対となる2つの当該磁気抵抗効果素子をほぼ同一箇所に形成した素子形成部を、当該磁気抵抗効果素子の各対に対応して2箇所に形成し、当該2箇所の素子形成部の間に上記磁性体を配置した、という磁界検出センサの構成を採っている。
上記磁性体の配置により、一方向の検出磁界を、上記磁気抵抗効果素子間で異なる方向に変化させることができ、一方に対しては磁化固定方向に、他方に対してはその反対方向に磁界が入射されるようなっている。これにより、当該ブリッジ回路から大きな差動電圧が出力されるため、一方向の検出磁界の検出精度向上を図ることができるとしている。
また、特許文献2(特開2010−276422号公報)によれば、GMR素子によるブリッジ回路が構成されており、当該GMR素子の磁化固定方向に対して垂直方向の磁界が検出磁界となるように磁性体を配置している。
さらに、検出磁界とは逆方向、すなわち検出磁界を打ち消す方向の他の磁界を発生させるためのソレノイドコイルを備え、当該ソレノイドコイルに他の磁界を発生させるための電流を制御する制御器を備えている。
上記ソレノイドコイルは、上記ブリッジ回路が形成されているセンサを囲み、当該ブリッジ回路が左右の中心に、且つ高さ方向においても中央に位置するように配置される。
上記制御器は、検出磁界の値、すなわち上記ブリッジ回路から出力される差動電圧値が入力され、当該差動電圧値に応じて検出磁界を打ち消す方向の他の磁界を発生させるための電流を制御する。
上記制御器により、上記ブリッジ回路から出力される差動電圧値、すなわち検出磁界の値が零となるように上記ソレノイドコイルに流れる電流は制御される。
また、特許文献3(WO2011/081197号公報)によれば、磁界検出センサは、GMR素子によるブリッジ回路が構成されており、当該GMR素子R1とR3のX軸方向両側に一対のパーマロイヨークが設けられ,また、当該GMR素子R2とR4のX軸方向両側にも一対のパーマロイヨークが設けられ、検出磁界とは逆方向の他の磁界を発生する磁界発生導体として当該GMR素子の下側に平面スパイラルコイルを配置した構成となっている。
上記GMR素子によるブリッジ回路、上記パーマロイヨーク及び上記平面スパイラルコイルは同じ積層体内に形成されている。
特開2009−276159号公報 特開2010−276422号公報 WO2011/081197号公報
一般に、磁気抵抗効果素子は環境温度の変動で抵抗変化率が変わり易いという特徴をもっている。特許文献1のように磁気抵抗効果素子でブリッジ回路を構成し、当該ブリッジ回路から出力される差動電圧を磁界検出センサの出力とした場合、検出精度を低下させてしまうという欠点がある。微小な磁界を検出するためには、このような環境温度の変動による検出精度の低下を防ぐ必要がある。
また、特許文献2のようにブリッジ回路から出力される差動電圧値に応じて検出磁界を打ち消す方向の他の磁界を発生させるためのソレノイドコイルと、当該ソレノイドコイルに他の磁界を発生させるための電流を制御する制御器を備え、検出磁界の値が零となるように電流を制御することで環境温度の変動による検出精度の低下は防げるものの、当該ソレノイドコイルはブリッジ回路が形成されている磁界検出センサを囲む必要があるため、センサの小型化に不利であり、さらには半田コテによる搭載が必要な部品であるため組立時における位置精度にバラつきが発生し、検出精度に製品の個体差が発生してしまうという問題があった。
また、特許文献3によれば、ブリッジ回路を構成するGMR素子のX軸方向両側にパーマロイヨークを設けることで、当該GMR素子の感磁方向に対する集磁効果による検出精度の向上を図っている。
微小な磁界を検出する場合においては、集磁界効果による検出精度の向上が非常に有効である。一般的に、パーマロイヨークなどの磁性体による集磁効果は、磁気抵抗効果素子の感磁方向に対する磁性体の断面積や長さに比例して良くなることが知られている。上記パーマロイヨークの場合、GMR素子の感磁方向に対する断面積は成膜プロセスでの膜厚方向に依存している。しかしながら、成膜プロセスで膜厚を厚くすると、膜応力が強くなり、膜のはがれやクラックなどの品質問題を引き起こすリスクが大きくなる。
そこで、本発明は上述のような課題を鑑みてなされたものであり、磁気抵抗効果素子を用いたブリッジ回路であっても環境温度の変動による検出精度の低下を防ぎ、製造時の位置ずれや製品の小型化を見据えた形態で微小な磁界の検出が可能な磁界検出センサを提供する。
上記目的を達成するために、本発明は、検出磁界の向きに応じて抵抗値が変化する複数の磁気抵抗効果素子が接続され、所定の接続点間の差動電圧を出力可能なように構成されたブリッジ回路と、前記ブリッジ回路の中心付近に、前記検出磁界を集磁するとともに前記検出磁界の向きを変化させる磁性体を配置し、前記磁気抵抗効果素子に前記検出磁界の向きとは逆方向となる磁界を与える磁界発生導体と、前記ブリッジ回路の差動電圧が入力され、前記磁界発生導体に前記検出磁界の向きとは逆方向となる前記磁界を発生させる帰還電流を前記磁界発生導体に流すための差動演算回路と、前記帰還電流を電圧値として出力するための電圧変換回路と、を備え、前記磁界発生導体と前記磁気抵抗効果素子が同じ積層体内に形成されている。
本発明によれば、上記磁界発生導体に検出磁界の向きとは逆方向となる磁界を発生させることで上記磁気抵抗効果素子において磁気平衡の状態となり、環境温度による上記磁気抵抗効果素子の抵抗変化率の変化を抑えることができ、検出精度の低下を防ぐことが可能となる。また、上記磁気抵抗効果素子と上記磁界発生導体が同じ積層体内に形成されることで、ソレノイドコイルを用いる場合よりもセンサ製品の小型化に有利になるほか、製造時における位置精度のバラつきを抑えることが可能となる。
上記磁界発生導体は、上記積層体において上記磁気抵抗効果素子よりも下層に配置されていることが望ましい。
本発明によれば、上記磁界発生導体を上記積層体において上記磁気抵抗効果素子よりも下層に配置することで、当該磁気抵抗効果素子を上記磁性体へ近づけることができ、当該磁性体からの磁束に当該磁気抵抗効果素子が効率よく応答することが可能となる。
また、本発明では、上記磁界発生導体は、成膜プロセスにより形成されてもよい。
微小な磁界を検出する場合において、検出磁界とは逆方向となる帰還電流磁界を発生させる上記磁界発生導体には大きな電流が流れることがないため、当該磁界発生導体の膜厚を薄くしても検出精度に影響がないことが分かっている。
本発明によれば、当該磁界発生導体を、成膜プロセスを用いて膜厚を薄くすることで、当該磁界発生導体が形成される層での平坦度が上がるため、上記積層体において、次の上層部との絶縁を保持するための絶縁層を成膜する工程で、当該絶縁層の平坦度を確保することが容易になり、当該絶縁層における平坦化のための材料や積層工程が必要なくなり、延いては製品の小型化や製造コストの削減が可能になる。
また、本発明の他の形態である磁界検出装置は、前記検出磁界の交流磁界成分を検出する前記磁界検出センサを備えた磁界検出装置であってもよい。上記磁界検出センサと微小信号測定を可能にする計測器を備えて構成される。本発明によれば、微小な磁界を検出できる上記磁界検出センサと微小信号測定を可能にする計測器によって、生体磁気などの微小磁界を被検出部に非接触で検出することが可能となる。
環境温度の変動による磁気抵抗効果素子の抵抗変化率の変化による影響を抑えるとともに、微小な検出磁界の測定を可能にする検出精度が確保でき、製品コストを抑えることが可能である。
実施形態1のブリッジ回路の模式図 実施形態1のブリッジ回路に磁性体を配置した積層体の側面の模式図 実施形態1のブリッジ回路に磁性体を配置した積層体の上面の模式図 実施形態1の磁界発生導体の配線パターンの模式図 実施形態1の磁性体による検出磁界の変化と磁気抵抗効果素子の抵抗変化を表した模式図 実施形態1の電気回路の概要図 実施形態2の脳磁場測定装置の概要図 実施形態2の心磁場測定装置の概要図
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。また以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに以下に記載した構成要素は、適宜組み合わせることができる。なお、図面は、模式的なものであり、説明の便宜上、厚みと平面寸法との関係、及びデバイス相互間の厚みの比率は、本実施形態の効果が得られる範囲内で現実のセンサ構造とは異なっていてもよい。
(実施形態1)
図1は、本実施形態1の磁界検出センサを構成するブリッジ回路の概要図である。ブリッジ回路は、第1の磁気抵抗効果素子10、第2の磁気抵抗効果素子20、第3の磁気抵抗効果素子30、及び第4の磁気抵抗効果素子40を備えている。第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)が有する固定磁化方向は同じである。第1の磁気抵抗効果素子10の一端と第2の磁気抵抗効果素子20の一端は電源供給端子Vcへ接続される。第1の磁気抵抗効果素子10の他端は第4の磁気抵抗効果素子40の一端に接続され、第2の磁気抵抗効果素子20の他端は第3の磁気抵抗効果素子30の一端に接続される。第3の磁気抵抗効果素子30の他端と第4の磁気抵抗効果素子40の他端はGND端子へ接続される。第1の磁気抵抗効果素子10と第3の磁気抵抗効果素子30、第2の磁気抵抗効果素子20と第4の磁気抵抗効果素子40は同一直線上に配置される。また、第1の磁気抵抗効果素子10と第2の磁気抵抗効果素子20、第3の磁気抵抗素子30と第4の磁気抵抗効果素子40においても同一直線上に配置される。
なお、第2の磁気抵抗効果素子20と第3の磁気抵抗効果素子30の接続点に出力される電圧をVaとし、第1の磁気抵抗効果素子10と第4の磁気抵抗効果素子40の接続点に出力される電圧をVbとする。
図2と図3は、本実施形態1の磁界検出センサを構成する上記ブリッジ回路に上記磁性体を配置した積層体1の側面と上面の模式図である。第1の磁気抵抗効果素子10と第3の磁気抵抗効果素子30の配置と、第2の磁気抵抗効果素子20と第4の磁気抵抗効果素子40の配置と、が線対称となるX軸方向の中心線をAとし、第1の磁気抵抗効果素子10と第2の磁気抵抗効果素子20の配置と、第3の磁気抵抗効果素子30と第4の磁気抵抗効果素子40の配置と、が線対称となるY軸方向の中心線をBとすると、当該磁性体は、当該磁性体のX軸方向の中心線とY軸方向の中心線がそれぞれAとBに合致する位置に配置されるのが好ましい。また、当該磁性体のY軸方向の長さは、当該ブリッジ回路のY軸方向の長さよりも長くなっていることが好ましい。さらに、当該磁性体のZ軸方向に対しては、当該ブリッジ回路に最も近づいた位置が好ましい。このように配置にすることで、検出磁界の変化に応じた第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)の抵抗変化が、効率良く、さらに均等に応答することが可能となる。また、磁界発生導体100を形成する層は、第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)が形成される層よりも下層に配置される方が好ましい。磁界発生導体100を第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)が形成される層より下層に配置することで、当該磁性体と第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)のZ軸方向の距離を近づけることができ、これにより当該磁性体からの当該検出磁界の磁束に第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)が効率よく応答することが可能になる。
上記磁性体は軟磁性体であってもよい。また、当該磁性体は、当該ブリッジ回路からみて垂直方向の検出磁界を集磁し、集磁された当該検出磁界を、当該ブリッジ回路を構成する第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)が有する固定磁化方向と概ね平行になる方向へ変化させる。
図4は、本実施形態1の磁界検出センサにおける、磁界発生導体100の配線パターンの模式図である。磁界発生導体100は、第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)と同じ積層体内で、且つ複数の層に跨いで形成されることなく、U字形状が好ましいが、巻線形状でもよい。
図5は、本実施形態1の磁界検出センサにおける、上記磁性体の上記ブリッジ回路に面していない垂直方向から検出磁界が入射した場合の、当該磁性体によって当該検出磁界が変化する方向と、当該ブリッジ回路を構成する第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)が有する固定磁化方向と、当該検出磁界に応じて変化する第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)の抵抗変化を表した模式図である。当該検出磁界は、当該磁性体への入射方向から見て左右の、第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)が有する固定磁化方向と概ね平行になる方向へ変化する。第1の磁気抵抗効果素子10においては、当該検出磁界の方向は固定磁化方向と同一方向となるため、第1の磁気抵抗効果素子10の抵抗値は、無磁界時の抵抗値R0から+ΔR分変化する。同様に、第2の磁気抵抗効果素子20では−ΔR分変化し、また、第3の磁気抵抗効果素子30では+ΔR分変化し、さらに、第4の磁気抵抗効果素子40では−ΔR分変化する。
上記ブリッジ回路を構成する第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)の抵抗変化が上述のように変化した場合、Vaの出力電圧比は、(R0+ΔR)/2*R0であり、Vbの出力電圧比は、(R0−ΔR)/2*R0となるので、無磁界時の出力電圧値をVa、及びVbともにゼロと仮定すると、Vaの出力電圧は正値に変動し、Vbの出力電圧は負値に変動する。ゆえに、当該ブリッジ回路は、検出磁界に応じてVaの電圧とVbの電圧により差動出力が可能となっている。
上記ブリッジ回路から検出磁界の変化に応じて差動電圧が出力される回路であれば、第1から第4の磁気抵抗素子(10、20、30、40)の相互の接続回路と第1から第4の磁気抵抗素子(10、20、30、40)が有する固定磁化方向との組み合わせはこれに限ったものではない。
例えば図5(b)のような構成であってもよい。
図6は、本実施形態1の、磁界検出センサの電気回路の概要図である。検出磁界に応じて変動する、上記ブリッジ回路から出力される電圧Va及びVbは、差動演算回路400の入力端子に接続される。差動演算回路400の出力端子は、検出抵抗300の一端に接続され、検出抵抗300の他端は、第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)に、当該磁性体によって変化した当該検出磁界の向きとは逆方向の帰還電流磁界を発生させる磁界発生導体100の一端に接続され、磁界発生導体100の他端はGNDへ接続される。
検出磁界が変化すると、上記ブリッジ回路から電圧Va及び電圧Vbによって差動電圧が出力され、この差動電圧が差動演算回路400に入力される。差動演算回路400は入力の差動電圧に応じて出力端子から検出抵抗300を介して磁界発生導体100に帰還電流を流す。当該帰還電流によって磁界発生導体100では、当該磁性体によって変化した当該検出磁界の向きとは逆方向の帰還電流磁界が発生する。差動演算回路400は、第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)において、当該検出磁界と当該帰還電流磁界の合成磁界が磁気平衡、すなわちゼロ磁界になるように帰還電流を制御する。この時、当該検出磁界と当該帰還電流磁界は等しくなっており、当該検出磁界の測定は当該帰還電流磁界を発生させる帰還電流を測定することで可能となる。このように、当該帰還電流磁界により磁気平衡を保持することにより、第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)における環境温度による抵抗変化率の変化を抑え、検出精度を維持することが可能となっている。
差動演算回路400が出力する帰還電流の変化は、検出抵抗300の電圧値として出力を可能にしている。
上記ブリッジ回路を構成する第1から第4の磁気抵抗効果素子(10、20、30、40)及び磁界発生導体100は同じ積層体1内に形成されるのが好ましい。同じ積層体1内に形成されることで、別体のソレノイドコイルを用いる場合よりもセンサ製品の小型化に有利になるほか、製造時における位置精度のバラつきを抑えることが可能となる。
また、第1から第4の磁気抵抗素子(10、20、30、40)の検出精度をさらに向上させるために、当該磁性体と第1から第4の磁気抵抗素子(10、20、30、40)の間にヨークを形成してもよい。
微小な検出磁界を検出する場合において、当該検出磁界とは逆方向となる帰還電流磁界を発生させる磁界発生導体100には大きな電流が流れることがないため、磁界発生導体100の膜厚を薄くしても検出精度に影響がないことが分かっている。ゆえに、スパッタリングなどの成膜プロセスにより薄膜化してもよい。
成膜プロセスを用いて薄膜化することで、磁界発生導体100が形成される層での平坦度が上がるため、積層体において、次の上層部との絶縁を保持するための絶縁層を成膜する工程で、当該絶縁層の平坦度を確保することが容易になり、当該絶縁層における平坦化のための材料や積層工程が必要なくなり、延いては製品の小型化や製造コストの削減が可能になる。
(実施形態2)
図7と図8は、本実施形態2の、上記磁界検出センサを用いた磁界検出装置の一例となる生体場測定装置である。上記磁界検出センサを1つないし複数個、被検出部に接触させて配置し、それぞれの出力は微小信号であるため、計測部にはロックインアンプ回路などを用いて測定する。また、外部磁場や自発磁場など不定期な繰り返し信号を除くために、バンドパスフィルタなどのアナログフィルタや加算平均法などのデジタル処理を適宜用いてもよい。
1 積層体
10 20 30 40 50 60 磁気抵抗効果素子
100 磁界発生導体
200 210 端子パッド
300 検出抵抗
400 差動演算回路

Claims (4)

  1. 検出磁界の向きに応じて抵抗値が変化する複数の磁気抵抗効果素子が接続され、所定の接続点間の差動電圧を出力可能なように構成されたブリッジ回路と、前記ブリッジ回路の中心付近に、前記検出磁界を集磁するとともに前記検出磁界の向きを変化させる磁性体を配置し、前記磁気抵抗効果素子に前記検出磁界の向きとは逆方向となる磁界を与える磁界発生導体と、前記ブリッジ回路の差動電圧が入力され、前記磁界発生導体に前記検出磁界の向きとは逆方向となる前記磁界を発生させる帰還電流を前記磁界発生導体に流すための差動演算回路と、前記帰還電流を電圧値として出力するための電圧変換回路と、を備え、前記磁界発生導体と前記磁気抵抗効果素子が同じ積層体内に形成されていることを特徴とする磁界検出センサ。
  2. 前記磁界発生導体は、前記積層体において前記磁気抵抗効果素子よりも下層に配置されていることを特徴とする請求項1記載の磁界検出センサ。
  3. 前記磁界発生導体は、成膜プロセスにより形成されることを特徴とする請求項1または請求項2記載の磁界検出センサ。
  4. 前記検出磁界の交流磁界成分を検出する請求項1乃至3に記載の前記磁界検出センサを備えたことを特徴とする磁界検出装置。

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Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015230211A (ja) * 2014-06-04 2015-12-21 Tdk株式会社 磁気センサ及びその製造方法、並びにそれを用いた計測機器
JP2016170028A (ja) * 2015-03-12 2016-09-23 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2017166921A (ja) * 2016-03-15 2017-09-21 株式会社東芝 磁気センサおよび磁気センサ装置
JP2017211258A (ja) * 2016-05-25 2017-11-30 三菱電機株式会社 生体情報検出装置、生体情報検出センサおよび生体情報検出装置の補正方法
WO2017204151A1 (ja) * 2016-05-24 2017-11-30 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2018046061A (ja) * 2016-09-12 2018-03-22 株式会社デンソー 磁気抵抗素子、磁気検出装置、及び磁気抵抗素子の製造方法
WO2018190261A1 (ja) * 2017-04-12 2018-10-18 Tdk株式会社 磁気センサ
DE112016006631T5 (de) 2016-03-23 2018-12-06 Tdk Corporation Magnetsensor
JP2018197661A (ja) * 2017-05-23 2018-12-13 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019144222A (ja) * 2018-02-21 2019-08-29 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019215311A (ja) * 2018-06-07 2019-12-19 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019219294A (ja) * 2018-06-20 2019-12-26 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2020041869A (ja) * 2018-09-08 2020-03-19 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2020071198A (ja) * 2018-11-02 2020-05-07 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2020085574A (ja) * 2018-11-20 2020-06-04 Tdk株式会社 検波回路
JP2021006813A (ja) * 2018-08-22 2021-01-21 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム
US11815570B2 (en) 2020-03-11 2023-11-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic sensor and diagnostic device

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150038988A (ko) * 2013-10-01 2015-04-09 삼성전기주식회사 터치 센서
US9689903B2 (en) * 2014-08-12 2017-06-27 Analog Devices, Inc. Apparatus and methods for measuring current
CN105954689B (zh) * 2016-04-27 2019-01-29 浙江大学 一种基于安培力的新型微弱磁场传感器及检测方法
CN107167749B (zh) * 2016-11-18 2019-05-14 清华大学 一种中大磁场测量方法及系统
US10788517B2 (en) 2017-11-14 2020-09-29 Analog Devices Global Unlimited Company Current measuring apparatus and methods
US10712369B2 (en) 2018-03-23 2020-07-14 Analog Devices Global Unlimted Company Current measurement using magnetic sensors and contour intervals
WO2020138170A1 (ja) 2018-12-26 2020-07-02 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁場計測装置
US10837753B2 (en) * 2019-01-10 2020-11-17 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor using MR elements for detecting flux line divergence
JP7455511B2 (ja) * 2019-02-25 2024-03-26 Tdk株式会社 磁気センサ及びその製造方法
WO2021102446A1 (en) * 2019-11-24 2021-05-27 Purdue Research Foundation High accuracy non-invasive current sensor system
DE102020130296A1 (de) * 2019-12-11 2021-06-17 Tdk Corporation Magnetfeld-erfassungsgerät und stromerfassungsgerät

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002286822A (ja) * 2001-03-26 2002-10-03 Tama Electric Co Ltd 磁気センサ
US20100033175A1 (en) * 2007-03-30 2010-02-11 Nxp, B.V. Magneto-resistive sensor
JP2010276422A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Sae Magnetics (Hk) Ltd 電流センサ
WO2011111493A1 (ja) * 2010-03-12 2011-09-15 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5831426A (en) * 1996-08-16 1998-11-03 Nonvolatile Electronics, Incorporated Magnetic current sensor
US6232775B1 (en) * 1997-12-26 2001-05-15 Alps Electric Co., Ltd Magneto-impedance element, and azimuth sensor, autocanceler and magnetic head using the same
JP2001091612A (ja) * 1999-09-21 2001-04-06 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 磁界強度センサとセンサが組込まれた非接触磁気式計測装置
JP2006266909A (ja) 2005-03-24 2006-10-05 Alps Electric Co Ltd 磁気検出装置及びそれを用いた電子方位計
JP5165963B2 (ja) * 2007-08-14 2013-03-21 新科實業有限公司 磁気センサ及びその製造方法
US8311637B2 (en) * 2008-02-11 2012-11-13 Cardiac Pacemakers, Inc. Magnetic core flux canceling of ferrites in MRI
US8269491B2 (en) * 2008-02-27 2012-09-18 Allegro Microsystems, Inc. DC offset removal for a magnetic field sensor
JP5500785B2 (ja) * 2008-05-14 2014-05-21 新科實業有限公司 磁気センサ
CN102713654B (zh) * 2009-12-28 2016-08-17 Tdk株式会社 磁场检测装置及电流传感器
KR101831800B1 (ko) * 2011-02-01 2018-02-23 가부시키가이샤 Sirc 전력계측장치
CN203310984U (zh) * 2013-05-03 2013-11-27 中国地震局地球物理研究所 桥式电阻巨磁阻抗效应磁场传感器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002286822A (ja) * 2001-03-26 2002-10-03 Tama Electric Co Ltd 磁気センサ
US20100033175A1 (en) * 2007-03-30 2010-02-11 Nxp, B.V. Magneto-resistive sensor
JP2010276422A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Sae Magnetics (Hk) Ltd 電流センサ
WO2011111493A1 (ja) * 2010-03-12 2011-09-15 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ

Cited By (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015230211A (ja) * 2014-06-04 2015-12-21 Tdk株式会社 磁気センサ及びその製造方法、並びにそれを用いた計測機器
JP2016170028A (ja) * 2015-03-12 2016-09-23 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2017166921A (ja) * 2016-03-15 2017-09-21 株式会社東芝 磁気センサおよび磁気センサ装置
DE112016006631B4 (de) 2016-03-23 2024-02-01 Tdk Corporation Magnetsensor
DE112016006631T5 (de) 2016-03-23 2018-12-06 Tdk Corporation Magnetsensor
US11022660B2 (en) 2016-03-23 2021-06-01 Tdk Corporation Magnetic sensor including a magnetic member offset from a magnetoresistive effect element
US10890630B2 (en) 2016-05-24 2021-01-12 Tdk Corporation Magnetic sensor
WO2017204151A1 (ja) * 2016-05-24 2017-11-30 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7014159B2 (ja) 2016-05-24 2022-02-01 Tdk株式会社 磁気センサ
JPWO2017204151A1 (ja) * 2016-05-24 2019-03-22 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2017211258A (ja) * 2016-05-25 2017-11-30 三菱電機株式会社 生体情報検出装置、生体情報検出センサおよび生体情報検出装置の補正方法
JP2018046061A (ja) * 2016-09-12 2018-03-22 株式会社デンソー 磁気抵抗素子、磁気検出装置、及び磁気抵抗素子の製造方法
JP2018179738A (ja) * 2017-04-12 2018-11-15 Tdk株式会社 磁気センサ
CN110494760A (zh) * 2017-04-12 2019-11-22 Tdk株式会社 磁传感器
WO2018190261A1 (ja) * 2017-04-12 2018-10-18 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2018197661A (ja) * 2017-05-23 2018-12-13 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7119695B2 (ja) 2018-02-21 2022-08-17 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019144222A (ja) * 2018-02-21 2019-08-29 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7115242B2 (ja) 2018-06-07 2022-08-09 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019215311A (ja) * 2018-06-07 2019-12-19 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7119633B2 (ja) 2018-06-20 2022-08-17 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019219294A (ja) * 2018-06-20 2019-12-26 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2021006813A (ja) * 2018-08-22 2021-01-21 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム
JP7402768B2 (ja) 2018-08-22 2023-12-21 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム
JP7286932B2 (ja) 2018-09-08 2023-06-06 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2020041869A (ja) * 2018-09-08 2020-03-19 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7115224B2 (ja) 2018-11-02 2022-08-09 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2020071198A (ja) * 2018-11-02 2020-05-07 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2020085574A (ja) * 2018-11-20 2020-06-04 Tdk株式会社 検波回路
US11815570B2 (en) 2020-03-11 2023-11-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic sensor and diagnostic device

Also Published As

Publication number Publication date
US9983273B2 (en) 2018-05-29
CN105093138B (zh) 2018-11-30
US20150331072A1 (en) 2015-11-19
CN105093138A (zh) 2015-11-25

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